TWI474002B - 水平對臥式動態測試機及使用該測試機之動態測試設備 - Google Patents

Description

水平對臥式動態測試機及使用該測試機之動態測試設備

本發明係關於一種水平對臥式動態測試機及使用該測試機之動態測試設備，尤指一種適用於測試動態感應器之水平對臥式動態測試機及使用該測試機之動態測試設備。

近幾年來，隨著微機電系統的日新月異，各種小型化、高性能且成本低廉之感應器紛紛問世，使得感應器由關鍵元件進一步提升成為產生創新價值的主要元件，例如：蘋果公司的iPhone、新世代iPod、任天堂的Wii所使用的三軸加速度感應器，大部分採用微機電系統技術運用在感測器上，加速度感應器之運作原理為感應出加速度方向的XYZ三軸成分，從而得出物體在三度空間中的運動向量。

請參閱圖1係習知之直線往復動態測試機之示意圖，其直線往復裝置具有一滑設於承載台91上之往復滑塊95、一偏心輪92及一連桿93，其偏心輪92並具有一配重塊94，連桿93的二端分別樞接往復滑塊95與偏心輪92上相對於配重塊94之一側，配重塊94主要用以平衡二端受力，以維持整體運轉的穩定性。另，測試座96則設置於往復滑塊95上，測試座96上容設有複數待測感應器97。

前述習知直線往復動態測試機是利用曲柄滑塊機構的加速度特性，作用於動態感測裝置，來達到高G力(G-force)之測試條件，然此種單邊直線往復之設計於測試時，整體 裝置之震動頗大，機台本體會晃動過大，影響測試品質，且其測試G力頂多為4G，並非十分理想，尚有改善之空間。

發明人緣因於此，本於積極發明之精神，亟思一種可以解決上述問題之水平對臥式動態測試機及使用該測試機之動態測試設備，幾經研究實驗終至完成本發明。

本發明之主要目的係在提供一種水平對臥式動態測試機，俾能經由水平對臥式之雙邊往復結構設計，而達到有效抑制震動之功能，進而可提高G力至12G之加速度測試。且平衡軸與減重塊之設計，也可提升測試時整體機台之穩定度。

本發明之另一目的係在提供一種水平對臥式動態測試機，俾能藉由分設於承載台相對二邊之測試裝置，同時測試二邊測試座上之待測感應器，可大幅擴大測試待測感應器之數量，以節省成本。

為達成上述目的，本發明之水平對臥式動態測試機包括有：一承載台、一第一往復裝置、一第二往復裝置、一主旋轉馬達、一第一測試座、一第二測試座、及一平衡軸。其中，第一往復裝置具有一滑設於承載台上之第一往復滑塊、一第一偏心板及一第一連桿，第一連桿之二端分別樞接第一往復滑塊及第一偏心板。另，第二往復裝置也包括有一滑設於承載台上之第二往復滑塊、一第二偏心板及一第二連桿，第二連桿之二端分別樞接第二往復滑塊及第二 偏心板；且第一偏心板與第二偏心板係相對偏差180°旋轉角度。

上述主旋轉馬達上套設有一主旋轉軸，第一偏心板及第二偏心板皆連接於主旋轉軸上。亦即，主旋轉軸、第一偏心板及第二偏心板三者皆藉由主旋轉馬達帶動而一起旋轉連動，主旋轉軸上並且套設有一主動齒輪。

上述第一測試座設置於第一往復滑塊上，而第二測試座則設置於第二往復滑塊上。另，平衡軸上套設有一被動齒輪及一配重塊，被動齒輪與主旋轉軸上之主動齒輪相互嚙合。

上述第一往復裝置與第二往復裝置可分別位於主旋轉軸之相對側，俾可相互抵消運轉時往復裝置之作用力，進而減低機台之震動力。當然，上述往復裝置亦可為氣壓缸裝置、油壓缸裝置、導螺桿裝置、或其他等效裝置。

上述每一偏心板可包括有一上偏心板及一下偏心板，相對應之連桿則位於上偏心板及下偏心板之間。藉由連桿夾設於二片偏心板之間，可增加連桿於往復運動時之平穩度。

本發明可更包括有一第一副旋轉馬達，第一副旋轉馬達上套設有一第一副旋轉軸，第一往復滑塊則連接於第一副旋轉軸上，一起連動。藉此，第一往復滑塊可經由第一副旋轉馬達帶動而與第一副旋轉軸一起旋轉連動，故第一往復滑塊上之第一測試座也一起旋轉，可對待測感應器進行二維運動之測試。

本發明可更包括有一第二副旋轉馬達，第二副旋轉馬達上套設有一第二副旋轉軸，第二往復滑塊則連接於第二副旋轉軸上，一起連動。同樣地，第二往復滑塊可經由第二副旋轉馬達帶動而與第二副旋轉軸一起旋轉連動。故第二往復滑塊上之第二測試座也一起旋轉，可對待測感應器進行二維運動之測試。

本發明可更包括有一下板及固設於下板上之複數直立壓缸，複數直立壓缸係頂抵於承載台之底面。藉此，承載台可藉由複數直立壓缸而上昇或下降，俾使測試設備於動態測試或分料之作業方便。

本發明可更包括有複數彈性件，其固設於下板上，俾可確保承載台與測試設備對位的精密度，進而提昇待測感應器測試之效率與品質。

本發明之動態測試設備包括有：一動態測試機、一旋轉機構及一進出料裝置。其中，動態測試機包括有一承載台、一第一往復裝置、一第二往復裝置、一主旋轉馬達、一第一測試座、一第二測試座、及一平衡軸；第一往復裝置具有一滑設於承載台之第一往復滑塊、一第一偏心板及一第一連桿，第一連桿之二端分別樞接第一往復滑塊及第一偏心板；第二往復裝置具有一滑設於承載台之第二往復滑塊、一第二偏心板及一第二連桿，第二連桿之二端分別樞接第二往復滑塊及第二偏心板；主旋轉馬達套設有一主旋轉軸，第一偏心板及第二偏心板連接於主旋轉軸上一起連動，且主旋轉軸套設有一主動齒輪；第一測試座設置於 第一往復滑塊上，第二測試座設置於第二往復滑塊上；平衡軸套設有一被動齒輪及一配重塊，被動齒輪與主動齒輪相互嚙合。

旋轉機構係用以旋轉動態測試機一預定角度。進出料裝置包括有一旋轉輪、及至少一升降吸取頭，至少一升降吸取頭係固設於旋轉輪上，並可選擇式移動於動態測試機之第一測試座或第二測試座上方，用以吸取第一測試座或第二測試座上之待測感應器，旋轉輪則會帶動升降吸取頭旋轉移動，以利檢測之進行。

上述進出料裝置可更包括有一進料平台、及一機器手臂，至少一升降吸取頭可選擇式移動至進料平台上方，機器手臂可選擇式移動於進料平台、第一測試座與第二測試座之間。其中，升降吸取頭係用以取放待測感測器於進料平台上，而機器手臂再將待測感測器從進料平台取出並置於第一測試座或第二測試座內。此外，進料平台可為旋轉平台、輸送帶、或其他等效裝置。

本發明之動態測試設備可更包括有一分料裝置，分料裝置具有至少一晶片承載盤及至少一取放裝置，取放裝置係可選擇式移動於至少一晶片承載盤、第一測試座與第二測試座之間。亦即，至少一取放裝置主要係將待測感測器從晶片承載盤中取出置於第一測試座或第二測試座內。另外，於檢測完畢後至少一取放裝置又將待測感測器從第一測試座或第二測試座中取出並置放於晶片承載盤內。據 此，本發明之動態測試設備可依據實際需求使用不同之進料裝置或分料裝置，以達到最佳之測試產能。

上述旋轉機構可用以旋轉動態測試機之預定角度可為180°，俾第一測試座或第二測試座之位置互換，以利進出料裝置取出或置放第一測試座或第二測試座上之待測感測器。

請參閱圖2與圖3，其分別為本發明第一較佳實施例之動態測試設備及動態測試機之立體圖。本實施例之動態測試設備8主要利用一控制器6來動態測試機1作測試，在本實施例中，控制器6係指設於動態測試設備8外部之電腦，當然控制器6其也可設於動態測試設備8內部。本實施例之動態測試設備8內部詳細構造容後詳述。而本實施例之動態測試機1係採水平對臥式之結構設計。

請再參閱圖4~圖6，其分別為本發明一較佳實施例之動態測試機部分下視立體圖及不同角度之部分上視立體圖，並請一併參閱圖3。本實施例之動態測試機1主要包括有：一承載台10、一第一往復裝置20、一第二往復裝置30、一主旋轉馬達40、一第一測試座2、一第二測試座4、一平衡軸50、一第一副旋轉馬達46、一第二副旋轉馬達48、以及一下板12。

第一往復裝置20及第二往復裝置30係組設於承載台10之相對應側，第一往復裝置20具有一滑設於承載台10上之 第一往復滑塊21、一第一偏心板22及一第一連桿23，第一測試座2設置於第一往復滑塊21上，第一連桿23之二端分別樞接第一往復滑塊21及第一偏心板22。在本實施例中，第一偏心板22係由一第一上偏心板221及一第一下偏心板222所組成，而第一連桿23則位於第一上偏心板221及第一下偏心板222之間，因此可增加第一連桿23於往復運動時之平穩度。

同樣地，第二往復裝置30也具有一滑設於承載台10上之第二往復滑塊31、一第二偏心板32及一第二連桿33，第二測試座4設置於第二往復滑塊31上，第二連桿33之二端分別樞接第二往復滑塊31及第二偏心板32。

在本實施例中，第二偏心板32也是係由一第二上偏心板321及一第二下偏心板322所組成，第二連桿33則位於第二上偏心板321及第二下偏心板322之間，因此可增加第二連桿33於往復運動時之平穩度。

主旋轉馬達40上套設有一主旋轉軸41，第一偏心板22及第二偏心板32皆連接於主旋轉軸41上。亦即，主旋轉軸41、第一偏心板22及第二偏心板32三者皆藉由主旋轉馬達40帶動而一起旋轉連動，且主旋轉軸41上套設有一主動齒輪42。

平衡軸50上套設有一被動齒輪52及一配重塊51，被動齒輪52與主旋轉軸41上之主動齒輪42相互嚙合。當主旋轉馬達40旋轉時，主動齒輪42可帶動被動齒輪52一同旋轉， 進而配重塊51也跟著旋轉，本實施例藉由平衡軸50與減重塊51之設計，可提升測試時整體機台之穩定度。

在本實施例中，第一往復裝置20與第二往復裝置30分別位於主旋轉軸41之相對側，且第一偏心板22與第二偏心板32係相對偏差180°旋轉角度，故當測試時，第一往復裝置20之第一往復滑塊21與第二往復裝置30之第二往復滑塊31係同時遠離或是同時靠近主旋轉軸41。因此，本實施例能經由水平對臥式之雙邊往復結構設計，而達到有效抑制震動之功能，且因同時測試第一測試座2及第二測試座4上之待測感應器，可大幅擴大測試待測感應器之數量，節省成本。

此外，第一副旋轉馬達46套設有一第一副旋轉軸47，第一往復裝置20之第一往復滑塊21連接於第一副旋轉軸47上，使第一副旋轉軸47與第一往復滑塊21可一起旋轉連動，藉此可對第一測試座2上之待測感應器(圖未示)進行二維運動之測試。

同樣地，第二副旋轉馬達48也是套設有一第二副旋轉軸49，第二往復裝置30之第二往復滑塊31連接於第二副旋轉軸49上，使第二副旋轉軸49與第二往復滑塊31可一起旋轉連動，藉此可對第二測試座4上之待測感應器(圖未示)進行二維運動之測試。在本實施例中，第二副旋轉軸49、第一副旋轉軸47及主旋轉軸41係平行設置。

如圖3所示，並請一併參閱圖2，動態測試機1之下板12固設於承載台10下方，且下板12上固設有複數直立壓缸 13，複數直立壓缸13係頂抵於承載台10之底面，可使承載台10藉由複數直立壓缸13而上昇或下降，俾方便動態測試設備8於動態測試或分料時之作業。且下板12上並固設有複數彈性件15，也可確保承載台10與動態測試設備8對位的精密度，進而提昇待測感應器測試之效率與品質。

藉此，本發明之動態測試機1能經由水平對臥式之雙邊往復結構設計，可提高所需加速度測試之G力，而達到有效抑制震動之功能。且本發明藉由平衡軸50與減重塊51之設計，也可提升測試時整體機台之穩定度。又，藉由分設於承載台10上相對二邊之測試裝置，可同時測試第一測試座2及第二測試座4上之待測感應器(圖未示)，也可大幅擴大測試待測感應器之數量，節省成本。

請參閱圖7與圖8，其分別為本發明第一較佳實施例動態測試設備之示意圖及系統架構圖，並請一併參閱圖2~6。本實施例之動態測試設備8包括有：一動態測試機1、一控制器6、一旋轉機構60、及一進出料裝置70。

動態測試機1主要包括有一承載台10、一第一往復裝置20、一第二往復裝置30、一主旋轉馬達40、一第一測試座2、一第二測試座4、一平衡軸50、一第一副旋轉馬達46、一第二副旋轉馬達48、以及一下板12。另，第一往復裝置20及第二往復裝置30係組設於承載台10之相對應側，第一往復裝置20具有一滑設於承載台10上之第一往復滑塊21、一第一偏心板22及一第一連桿23，第一測試座2設置於第一往復 滑塊221上，第一連桿23之二端分別樞接第一往復滑塊21及第一偏心板22。

同樣地，第二往復裝置30也具有一滑設於承載台10上之第二往復滑塊31、一第二偏心板32及一第二連桿33，第二測試座4設置於第二往復滑塊31上，第二連桿33之二端分別樞接第二往復滑塊31及第二偏心板32。又，主旋轉馬達40上套設有一主旋轉軸41，第一偏心板22及第二偏心板32皆連接於主旋轉軸41上。另，平衡軸50上套設有一被動齒輪52及一配重塊51，被動齒輪52與主旋轉軸41上之主動齒輪42相互嚙合。在本實施例中，第一往復裝置20與第二往復裝置30分別位於主旋轉軸41之相對側，且第一偏心板22與第二偏心板32係相對偏差180°旋轉角度。

進出料裝置70具有一旋轉輪71、固定輪74、複數氣壓缸73、及複數升降吸取頭72。升降吸取頭72組設於旋轉輪71上，並藉由旋轉輪71的帶動可選擇式地移動至動態測試機1之第一測試座2或第二測試座4上方或其他位置。其中，升降吸取頭72在本實施例中為一真空吸取頭，其可取放第一測試座2或第二測試座4上之待測感測器79(繪於圖9)。另外，固定輪74上又組設有複數氣壓缸73，當升降吸取頭72移動到預定位置時，氣壓缸73會驅動升降吸取頭72進行升降取放動作。

旋轉機構60可旋轉動態測試機1一預定角度，在本實施例中，該預定角度係為180°，可使動態測試機1之第一測試座2與第二測試座4之位置可以互換，以利升降吸取頭72可 吸取動態測試機1之第一測試座2或第二測試座4上之待測感應器79(繪於圖9)。

請參閱圖9係本發明第二較佳實施例動態測試設備之示意圖，本實施例之動態測試設備與第一實施例大致相同，其差異僅在於本實施例之進出料裝置700另具有一進料平台75、及一機器手臂76，至少一升降吸取頭72選擇式移動至進料平台75上方。其中，進料平台75可為旋轉平台或輸送帶，其主要用以將升降吸取頭72傳送過來之待測感測器79提供給機器手臂76。亦即，升降吸取頭72將待測感測器79置於一側，而進料平台75則以旋轉或輸送帶手段移到另一側。另外，機器手臂76可選擇式地移動於進料平台75與動態測試機1之第一測試座2或第二測試座4之間，將待測感測器79從進料平台75上一一吸取至第一測試座2或第二測試座4內。而當待測感測器79全部置放完成後，便可開始進行直線往復式動態測試。

請再參閱圖10與圖11，其分別為本發明第三較佳實施例動態測試設備之示意圖與內部俯視圖，並請一併參閱圖3。於本實施例中，動態測試機1之第一往復裝置20與第二往復裝置30係直接整合於分料裝置80(Handler)中，以節省空間及其他多餘之搬運手段。其中，分料裝置80包括有四個晶片承載盤81(tray)、及二個取放裝置82。取放裝置82可選擇式地移動於晶片承載盤81與動態測試機1之第一測試座2與第二測試座4之間。其中，四個晶片承載盤81分包括二進料承載盤811、及二出料承載盤812。進料承載盤811係 承載未經測試之待測感測器79，而出料承載盤812則承載經測試過後之待測感測器79。

在本實施例中，出料承載盤812可分別包括合格、及不合格之出料承載盤812，用以分辨經測試後之合格感測器、及不合格感測器。同樣地，本實施例包括有二套取放裝置82，其分別為進料取放裝置821、出料取放裝置822。其中，進料取放裝置821負責將進料承載盤811上的待測感測器79搬運至動態測試機1之第一測試座2與第二測試座4上。而待測試完畢後，出料取放裝置822再將第一測試座2與第二測試座4上的待測感測器79裝載至出料承載盤812內。據此，本發明之動態測試設備可依據實際需求使用不同之進料裝置或分料裝置，以達到最佳之測試產能。

上述實施例僅係為了方便說明而舉例而已，本發明所主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準，而非僅限於上述實施例。

1‧‧‧動態測試機

2‧‧‧第一測試座

4‧‧‧第二測試座

6‧‧‧控制器

8‧‧‧動態測試設備

10‧‧‧承載台

12‧‧‧下板

13‧‧‧直立壓缸

15‧‧‧彈性件

20‧‧‧第一往復裝置

21‧‧‧第一往復滑塊

22‧‧‧第一偏心板

221‧‧‧第一上偏心板

222‧‧‧第一下偏心板

23‧‧‧第一連桿

30‧‧‧第二往復裝置

31‧‧‧第二往復滑塊

32‧‧‧第二偏心板

321‧‧‧第二上偏心板

322‧‧‧第二下偏心板

33‧‧‧第二連桿

40‧‧‧主旋轉馬達

41‧‧‧主旋轉軸

42‧‧‧主動齒輪

46‧‧‧第一副旋轉馬達

47‧‧‧第一副旋轉軸

48‧‧‧第二副旋轉馬達

49‧‧‧第二副旋轉軸

50‧‧‧平衡軸

51‧‧‧配重塊

52‧‧‧被動齒輪

60‧‧‧旋轉機構

70,700‧‧‧進出料裝置

71‧‧‧旋轉輪

72‧‧‧升降吸取頭

73‧‧‧氣壓缸

74‧‧‧固定輪

75‧‧‧進料平台

76‧‧‧機器手臂

79‧‧‧待測感應器

80‧‧‧分料裝置

81‧‧‧晶片承載盤

811‧‧‧進料承載盤

812‧‧‧出料承載盤

82‧‧‧取放裝置

821‧‧‧進料取放裝置

822‧‧‧出料取放裝置

91‧‧‧承載台

92‧‧‧偏心輪

93‧‧‧連桿

94‧‧‧配重塊

95‧‧‧往復滑塊

96‧‧‧測試座

97‧‧‧待測感應器

圖1係習知之直線往復動態測試機之示意圖。

圖2係本發明第一較佳實施例動態測試設備之立體圖。

圖3係本發明一較佳實施例之動態測試機之立體圖。

圖4係本發明一較佳實施例之動態測試機部分下視立體圖。

圖5係本發明一較佳實施例之動態測試機部分上視立體圖。

圖6係本發明一較佳實施例之動態測試機另一部分上視立體圖。

圖7係本發明第一較佳實施例動態測試設備之示意圖。

圖8係本發明第一較佳實施例動態測試設備之系統架構圖。

圖9係本發明第二較佳實施例動態測試設備之示意圖。

圖10係本發明第三較佳實施例動態測試設備之示意圖。

圖11係本發明第三較佳實施例動態測試設備之內部俯視圖。

1‧‧‧動態測試機

2‧‧‧第一測試座

4‧‧‧第二測試座

10‧‧‧承載台

12‧‧‧下板

13‧‧‧直立壓缸

15‧‧‧彈性件

21‧‧‧第一往復滑塊

31‧‧‧第二往復滑塊

33‧‧‧第二連桿

40‧‧‧主旋轉馬達

41‧‧‧主旋轉軸

47‧‧‧第一副旋轉軸

49‧‧‧第二副旋轉軸

50‧‧‧平衡軸

51‧‧‧配重塊

Claims (19)

1. 一種水平對臥式動態測試機，包括：一承載台；一第一往復裝置，包括有一滑設於該承載台之第一往復滑塊、一第一偏心板及一第一連桿，該第一連桿之二端分別樞接該第一往復滑塊及該第一偏心板，該第一偏心板包括有一第一上偏心板及一第一下偏心板，該第一連桿位於該第一上偏心板及該第一下偏心板之間；一第二往復裝置，包括有一滑設於該承載台之第二往復滑塊、一第二偏心板及一第二連桿，該第二連桿之二端分別樞接該第二往復滑塊及該第二偏心板；一主旋轉馬達，套設有一主旋轉軸，該第一偏心板及該第二偏心板連接於該主旋轉軸上，一起連動，該主旋轉軸套設有一主動齒輪；一第一測試座，設置於該第一往復滑塊上；一第二測試座，設置於該第二往復滑塊上；以及一平衡軸，套設有一被動齒輪及一配重塊，該被動齒輪與該主動齒輪相互嚙合。
2. 如申請專利範圍第1項所述之水平對臥式動態測試機，其中，該第一往復裝置與該第二往復裝置分別位於該主旋轉軸之相對側。
3. 如申請專利範圍第1項所述之水平對臥式動態測試機，其中，該第二偏心板包括有一第二上偏心板及一第二 下偏心板，該第二連桿位於該第二上偏心板及該第二下偏心板之間。
4. 如申請專利範圍第1項所述之水平對臥式動態測試機，其更包括有一第一副旋轉馬達，套設有一第一副旋轉軸，該第一往復滑塊連接於該第一副旋轉軸上，一起連動。
5. 如申請專利範圍第4項所述之水平對臥式動態測試機，其更包括有一第二副旋轉馬達，套設有一第二副旋轉軸，該第二往復滑塊連接於該第二副旋轉軸上，一起連動。
6. 如申請專利範圍第5項所述之水平對臥式動態測試機，其中，該第二副旋轉軸、該第一副旋轉軸及該主旋轉軸係平行設置。
7. 如申請專利範圍第1項所述之水平對臥式動態測試機，其更包括有一下板及固設於該下板上之複數直立壓缸，該複數直立壓缸頂抵於該承載台之底面。
8. 如申請專利範圍第7項所述之水平對臥式動態測試機，其更包括有複數彈性件，固設於該下板上。
9. 如申請專利範圍第1項所述之水平對臥式動態測試機，其中，該第一偏心板與該第二偏心板係相對偏差180°旋轉角度。
10. 一種使用水平對臥式動態測試機之動態測試設備，包括：一動態測試機，包括有一承載台、一第一往復裝置、一第二往復裝置、一主旋轉馬達、一第一測試座、一第二測試座、及一平衡軸，該第一往復裝置具有一滑設於該承 載台之第一往復滑塊、一第一偏心板及一第一連桿，該第一連桿之二端分別樞接該第一往復滑塊及該第一偏心板，該第一偏心板包括有一第一上偏心板及一第一下偏心板，該第一連桿位於該第一上偏心板及該第一下偏心板之間，該第二往復裝置具有一滑設於該承載台之第二往復滑塊、一第二偏心板及一第二連桿，該第二連桿之二端分別樞接該第二往復滑塊及該第二偏心板，該主旋轉馬達套設有一主旋轉軸，該第一偏心板及該第二偏心板連接於該主旋轉軸上一起連動，該主旋轉軸套設有一主動齒輪，該第一測試座設置於該第一往復滑塊上，該第二測試座設置於該第二往復滑塊上，該平衡軸套設有一被動齒輪及一配重塊，該被動齒輪與該主動齒輪相互嚙合；一旋轉機構，用以旋轉該動態測試機一預定角度；以及一進出料裝置，包括有一旋轉輪、及至少一升降吸取頭，該至少一升降吸取頭係固設於該旋轉輪上，用以吸取該第一測試座或第二測試座上之待測感應器。
11. 如申請專利範圍第10項所述之動態測試設備，其中，該進出料裝置更包括有一進料平台、及一機器手臂，該至少一升降吸取頭選擇式移動至該進料平台上方，該機器手臂選擇式移動於該進料平台、該第一測試座與該第二測試座之間。
12. 如申請專利範圍第10項所述之動態測試設備，其更包括有一分料裝置，該分料裝置具有至少一晶片承載盤及 至少一取放裝置，該至少一取放裝置選擇式移動於該至少一晶片承載盤、該第一測試座與該第二測試座之間。
13. 如申請專利範圍第10項所述之動態測試設備，其中，該第一往復裝置與該第二往復裝置分別位於該主旋轉軸之相對側。
14. 如申請專利範圍第10項所述之動態測試設備，其更包括有一第一副旋轉馬達，套設有一第一副旋轉軸，該第一往復滑塊連接於該第一副旋轉軸上，一起連動。
15. 如申請專利範圍第14項所述之動態測試設備，其更包括有一第二副旋轉馬達，套設有一第二副旋轉軸，該第二往復滑塊連接於該第二副旋轉軸上，一起連動。
16. 如申請專利範圍第10項所述之動態測試設備，其更包括有一下板及固設於該下板上之複數直立壓缸，該複數直立壓缸頂抵於該承載台之底面。
17. 如申請專利範圍第16項所述之動態測試設備，其更包括有有複數彈性件，固設於該下板上。
18. 如申請專利範圍第10項所述之動態測試設備，其中，該預定角度係為180°。
19. 如申請專利範圍第10項所述之動態測試設備，其中，該第一偏心板與該第二偏心板係相對偏差180°旋轉角度。