TWI468694B - 面板測試系統、面板測試筆及其操作方法 - Google Patents
面板測試系統、面板測試筆及其操作方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI468694B TWI468694B TW101120267A TW101120267A TWI468694B TW I468694 B TWI468694 B TW I468694B TW 101120267 A TW101120267 A TW 101120267A TW 101120267 A TW101120267 A TW 101120267A TW I468694 B TWI468694 B TW I468694B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- panel
- tested
- panel test
- test pen
- light
- Prior art date
Links
Landscapes
- Position Input By Displaying (AREA)
- Push-Button Switches (AREA)
Description
本發明是有關一種面板測試系統、面板測試筆及其操作方法。
當液晶面板於模組段(LCM)時,通常面板需經過按壓測試,以確認面板是否存在亮暗點與亮暗線。當亮暗點與亮暗線的數目符合客戶的要求時才可出貨,否則可能需用修補的方式來降低亮暗點與亮暗線的數目。此外,亮暗點與亮暗線數目過多的面板也有可能直接報廢。
一般而言,面板在按壓測試時,會於面板上先顯示一待按壓的發光圖案,測試人員可能將無塵布捲成一捆後直接以無塵布按壓此發光圖案。當按壓時若未發現亮暗點與亮暗線,則按壓鍵盤的一按鈕使面板上的原發光圖案消失,且於面板上顯示另一待按壓的發光圖案。其中,上述二發光圖案的位置不同。發光圖案於面板上的位置通常為9宮格或12宮格,且每次僅顯示一個發光圖案。如此一來,測試人員可藉由按壓面板上不同位置的發光圖案來確認面板是否正常。
然而,由於發光圖案的切換是藉由鍵盤的按鈕控制,測試人員可在未用無塵布按壓發光圖案的情況下直接切換發光圖案,因此易產生面板漏檢的風險,使亮暗點與亮暗線因人為疏失而無法檢出。此外,由於無塵布的硬度不佳,於按壓發光圖案後容易扭曲,使測試人員需時常捲塵布以
求較佳的硬度,不僅降低面板測試時的準確度,也會增加測試的時間。
本發明之一技術態樣為一種面板測試筆,用於按壓一待測試面板。
根據本發明一實施方式,一種面板測試筆包含殼體、繼電器與按壓裝置。殼體具有容置空腔與開口,其中容置空腔連通於開口。繼電器位於容置空腔中。按壓裝置包含導電部與光感應開關。導電部可伸縮地設置於容置空腔中且凸出於開口。當導電部被按壓時,導電部朝一方向移動並電性耦接於繼電器。光感應開關設置於導電部上。當光感應開關感測待測試面板上之發光圖案且導電部同步被按壓於待測試面板時,光感應開關、導電部與繼電器形成迴路,且輸出按壓訊號。
在本發明一實施方式中,其中上述按壓裝置更包含緩衝部位於導電部上,用以接觸待測試面板。
在本發明一實施方式中,其中上述緩衝部具有透光孔對齊於光感應開關,使光感應開關藉由透光孔感測發光圖案。
在本發明一實施方式中,其中上述緩衝部的材質包含橡膠或塑膠。
在本發明一實施方式中,其中上述緩衝部係一透明體。
在本發明一實施方式中,其中上述容置空腔具有第一空間與第二空間,第二空間連通於開口,且繼電器位於第
一空間中,導電部位於第二空間中。
在本發明一實施方式中,其中上述面板測試筆更包含按壓開關電性耦接於導電部與繼電器之間,且露出於殼體。
在本發明一實施方式中,其中上述導電部包含二第一接點分別設置於導電部上。
在本發明一實施方式中,其中上述面板測試筆更包含二第二接點分別設置於容置空腔中,用以電性耦接二第一接點與繼電器。
在本發明一實施方式中,其中上述面板測試筆更包含彈簧連接於導電部與殼體之間。
本發明之另一技術態樣為一種面板測試系統。
根據本發明一實施方式,一種面板測試系統包含電腦與上述之面板測試筆。電腦具有圖形產生器,用以顯示發光圖案於待測試面板上。面板測試筆電性耦接於電腦,用以感測發光圖案與按壓待測試面板。
在本發明一實施方式中,其中上述面板測試系統更包含鍵盤。鍵盤具有至少一按鈕,其中按鈕電性耦接於電腦與面板測試筆之間。
本發明之另一技術態樣為一種面板測試筆的操作方法。
根據本發明一實施方式,一種面板測試筆的操作方法包含下列步驟:
(a)提供待測試面板與電腦。
(b)藉由電腦的圖形產生器顯示第一發光圖案於待測試面板上。
(c)提供上述之面板測試筆。
(d)將面板測試筆之光感應開關感測第一發光圖案且同步於待測試面板按壓面板測試筆之導電部。
(e)第一發光圖案消失於待測試面板上且第二發光圖案顯示於待測試面板上,其中第二發光圖案與第一發光圖案的位置不同。
在本發明一實施方式中,其中上述面板測試筆的操作方法更包含按壓面板測試筆的按壓開關,使第一發光圖案保留於待測試面板上。
在本發明上述實施方式中,當光感應開關感測待測試面板上之發光圖案且導電部同步被按壓於待測試面板時,光感應開關、導電部與繼電器才會形成迴路,並輸出按壓訊號給電腦。之後,電腦的圖形產生器使待測試面板上的原發光圖案消失,並於待測試面板的其他位置產生另一發光圖案。也就是說,發光圖案的切換需光感應開關感測發光圖案且導電部同步被按壓時才可達成。
此面板測試筆可避免測試人員利用鍵盤直接切換發光圖案的情形,使測試人員無法在光感應開關未感測到發光圖案時或未按壓導電部時跳過按壓發光圖案的步驟,以確保待測試面板不會有漏檢的區域。此外,面板測試筆於按壓發光圖案後並不會如無塵布般的扭曲,且面板測試筆可重複使用,因此可提高測試時的準確度。再者,還可節省無塵布的花費與捲塵布所花的時間。
以下將以圖式揭露本發明之複數個實施方式,為明確說明起見,許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而,應瞭解到,這些實務上的細節不應用以限制本發明。也就是說,在本發明部分實施方式中,這些實務上的細節是非必要的。此外,為簡化圖式起見,一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。
第1圖繪示根據本發明一實施方式之面板測試系統100的立體圖。如圖所示,面板測試系統100應用於一待測試面板300。面板測試系統100包含電腦400與面板測試筆200。電腦400具有圖形產生器410,用以顯示發光圖案310於待測試面板300上。面板測試筆200電性耦接於電腦400,用以感測發光圖案310與按壓待測試面板300。在本實施方式中,面板測試系統100更包含鍵盤500。其中,鍵盤500具有至少一按鈕510,且按鈕510電性耦接於電腦400與面板測試筆200之間。此外,發光圖案310可由圖形產生器410顯示於九宮格或12宮格的位置,但不以此為限。需注意的是,於本實施方式中,係設計將面板測試筆200透過鍵盤500之按鈕510電性耦接於電腦400,但不限於此,例如,亦可直接將面板測試筆200電性耦接於電腦400,直接利用面板測試筆200來切換發光圖案310。
在使用時,面板測試筆200需於感測並按壓發光圖案310後,圖形產生器410才會使發光圖案310消失並於待測試面板300的其他位置產生另一發光圖案310。也就是說,面板測試筆200與電腦400的圖形產生器410可建立互鎖機制(Interlock),使測試人員無法直接從按鈕510來切
換發光圖案310而跳過按壓發光圖案310的檢測步驟,避免人為疏失而漏檢待測試面板300。
在以下敘述中,將詳細說明面板測試筆200的結構與面板測試筆200的操作方法。
第2圖繪示第1圖之面板測試筆200沿線段2-2’的剖面圖。同時參閱第1圖與第2圖,面板測試筆200用於按壓待測試面板300。面板測試筆200包含殼體210、繼電器220與按壓裝置230。殼體210具有容置空腔212與開口214,且容置空腔212連通於開口214。此外,繼電器220位於容置空腔212中。按壓裝置230包含導電部232與光感應開關234。導電部232可伸縮地設置於容置空腔212中且凸出於開口214。光感應開關234設置於導電部232上。當光感應開關234未感測到發光圖案310時,光感應開關234於導電部232上形成斷路。
當導電部232被按壓時,導電部232可朝一方向D1移動並電性耦接於繼電器220,方向D1例如係為自開口214朝向容置空腔212內部之方向,但不限於此。當光感應開關234感測待測試面板300上之發光圖案310且導電部232同步被按壓於待測試面板300時,光感應開關234、導電部232與繼電器220便可形成迴路(將於後述),且輸出一按壓訊號使電腦400的圖形產生器410切換發光圖案310於待測試面板300的位置。
在本實施方式中,按壓裝置230更包含緩衝部236位於導電部232上,用以接觸待測試面板300,使待測試面板300不會被導電部232刮傷。此外,緩衝部236還可具
有透光孔238對齊於光感應開關234,使光感應開關234可藉由透光孔238感測發光圖案310。其中,導電部232的材質可以包含金屬如金、銀、銅或鐵而具有導電性,但不限於此,導電部232亦可包含其他非金屬材料,只要是具有導電性的材料即可。緩衝部236的材質可以包含橡膠或塑膠,且當緩衝部236為一透明體時,緩衝部236可不具有透光孔238便能感測到發光圖案310。
更具體地說,容置空腔212具有第一空間216與第二空間218。其中,第二空間218連通於開口214,且繼電器220位於第一空間216中,導電部232位於第二空間218中。此外,導電部232還包含二第一接點242分別設置於導電部232上。面板測試筆200更包含二第二接點244與彈簧250。在本實施方式中,二第二接點244分別設置於容置空腔212的第二空間218中,用以電性耦接二第一接點242與繼電器220。彈簧250連接於導電部232與殼體210之間且位於第二空間218中。
此外,面板測試筆200具有電線222與電線224。其中,電線222電性耦接於電腦400以取得面板測試筆200所需的電源。電線224電性耦接於鍵盤500的按鈕510,使面板測試筆200可輸出按鈕510的按壓訊號。面板測試筆200還可選擇性地包含按壓開關240電性耦接於導電部232與繼電器220之間,且露出於殼體210。按壓開關240以方向D2被按壓時可於電線224上形成斷路,使圖形產生器410不切換發光圖案310的位置,方向D2例如係垂直於D1之方向,但不限於此。按壓開關240可方便測試
人員用面板測試筆200重複按壓一固定位置的發光圖案310。
應瞭解到,已經在上述實施方式中敘述過的元件連接關係將不再重複贅述。在以下敘述中,僅詳細說明面板測試筆200按壓發光圖案310時的迴路,合先敘明。
第3圖繪示第2圖之面板測試筆200被按壓時的剖面圖。第4圖繪示第3圖之面板測試筆200產生的迴路C示意圖。同時參閱第3圖與第4圖,當光感應開關234感測待測試面板300上之發光圖案310且導電部232同步被按壓於待測試面板300時,光感應開關234、導電部232與繼電器220會形成迴路C。
同時參閱第1圖,當迴路C形成時,耦接於按鈕510的電線224可輸出按壓訊號給電腦400。之後,電腦400的圖形產生器410使待測試面板300上的原發光圖案310消失,並於待測試面板300的其他位置產生另一發光圖案310。也就是說,發光圖案310的切換需光感應開關234感測發光圖案310且導電部232同步被按壓時才可達成。此面板測試筆200可避免測試人員利用鍵盤500直接切換發光圖案310的情形,使測試人員無法在光感應開關234未感測到發光圖案310時或未按壓導電部232時跳過按壓發光圖案310的步驟,以確保待測試面板300不會有漏檢的區域。
第5圖繪示第2圖之面板測試筆200的另一實施方式。面板測試筆200包含殼體210、繼電器220與按壓裝置230。與上述實施方式不同的地方在於緩衝部236為一
透明體,因此緩衝部236即使不具有透光孔238也可感測到發光圖案310(見第1圖)。
第6圖繪示第1圖之待測試面板300顯示的第一發光圖案312。同時參閱第2圖與第6圖,虛線區域意指待測試面板300在測試步驟中除了第一發光圖案312以外需被按壓的位置。當導電部232按壓於第一發光圖案312時會往方向D1移動並電性耦接於繼電器220。此時,光感應開關234感測第一發光圖案312,因此光感應開關234、導電部232與繼電器220形成迴路C(見第3圖),且藉由電線224輸出按壓訊號至圖形產生器410(見第1圖)。接著,第一發光圖案312會消失並產生第二發光圖案(將於後述)。
第7圖繪示第1圖之待測試面板300顯示的第二發光圖案314。同時參閱第2圖與第7圖,當第一發光圖案312消失且第二發光圖案314顯示時,導電部232可按壓於第二發光圖案314並產生第三發光圖案(例如第二發光圖案314下方的虛線區域)。
在本實施方式中,面板測試筆200按壓第二發光圖案314時,亮點316與亮線318顯示於第二發光圖案314附近的位置。如此一來,測試人員可判斷待測試面板300於第二發光圖案314的附近區域顯示不良。此外,由於亮點316與亮線318顯示於第二發光圖案314附近,因此測試人員可以方向D2按壓按壓開關240,使電線224上暫時形成斷路,並使圖形產生器410暫不切換發光圖案310的位置。也就是說,按壓開關240可方便測試人員用面板測試筆200重複按壓第二發光圖案314,以確保沒有其他未被
檢測到的亮暗點線。
第8圖繪示第2圖之面板測試筆200操作時的流程圖。首先在步驟S1中,提供待測試面板與電腦。接著在步驟S2中,藉由電腦的圖形產生器顯示第一發光圖案於待測試面板上。之後在步驟S3中,提供上述之面板測試筆。接著在步驟S4中,將面板測試筆之光感應開關感測第一發光圖案且同步於待測試面板按壓面板測試筆之導電部。之後在步驟S5中,第一發光圖案消失於待測試面板上且第二發光圖案顯示於待測試面板上,其中第二發光圖案與第一發光圖案的位置不同。
此外,面板測試筆200的操作方法還可包含按壓面板測試筆的按壓開關,使第一發光圖案保留於待測試面板上。
本發明上述實施方式與先前技術相較,具有以下優點:
(1)當光感應開關感測待測試面板上之發光圖案且導電部同步被按壓於待測試面板時,光感應開關、導電部與繼電器才會形成迴路,並輸出按壓訊號給電腦。可避免測試人員利用鍵盤直接切換發光圖案的情形。
(2)面板測試筆於按壓發光圖案後並不會如無塵布般的扭曲,且面板測試筆可重複使用,因此可提高測試時的準確度。此外,還可節省無塵布的花費與捲塵布所花的時間。
雖然本發明已以實施方式揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧面板測試系統
200‧‧‧面板測試筆
210‧‧‧殼體
212‧‧‧容置空腔
214‧‧‧開口
216‧‧‧第一空間
218‧‧‧第二空間
220‧‧‧繼電器
222‧‧‧電線
224‧‧‧電線
230‧‧‧按壓裝置
232‧‧‧導電部
234‧‧‧光感應開關
236‧‧‧緩衝部
238‧‧‧透光孔
240‧‧‧按壓開關
242‧‧‧第一接點
244‧‧‧第二接點
250‧‧‧彈簧
2-2’‧‧‧線段
300‧‧‧待測試面板
310‧‧‧發光圖案
312‧‧‧第一發光圖案
314‧‧‧第二發光圖案
316‧‧‧亮點
318‧‧‧亮線
400‧‧‧電腦
410‧‧‧圖形產生器
500‧‧‧鍵盤
510‧‧‧按鈕
C‧‧‧迴路
D1‧‧‧方向
D2‧‧‧方向
S1‧‧‧步驟
S2‧‧‧步驟
S3‧‧‧步驟
S4‧‧‧步驟
S5‧‧‧步驟
第1圖繪示根據本發明一實施方式之面板測試系統的立體圖。
第2圖繪示第1圖之面板測試筆沿線段2-2’的剖面圖。
第3圖繪示第2圖之面板測試筆被按壓時的剖面圖。
第4圖繪示第3圖之面板測試筆產生的迴路示意圖。
第5圖繪示第2圖之面板測試筆的另一實施方式。
第6圖繪示第1圖之待測試面板顯示的第一發光圖案。
第7圖繪示第1圖之待測試面板顯示的第二發光圖案。
第8圖繪示第2圖之面板測試筆操作時的流程圖。
200‧‧‧面板測試筆
210‧‧‧殼體
212‧‧‧容置空腔
214‧‧‧開口
216‧‧‧第一空間
218‧‧‧第二空間
220‧‧‧繼電器
222‧‧‧電線
224‧‧‧電線
230‧‧‧按壓裝置
232‧‧‧導電部
234‧‧‧光感應開關
236‧‧‧緩衝部
238‧‧‧透光孔
240‧‧‧按壓開關
242‧‧‧第一接點
244‧‧‧第二接點
250‧‧‧彈簧
D1‧‧‧方向
D2‧‧‧方向
Claims (14)
- 一種面板測試筆,用於按壓一待測試面板,包含:一殼體,具有一容置空腔與一開口,其中該容置空腔連通於該開口;一繼電器,位於該容置空腔中;以及一按壓裝置,包含:一導電部,可伸縮地設置於該容置空腔中且凸出於該開口,當該導電部被按壓時,該導電部朝一方向移動並電性耦接於該繼電器;以及一光感應開關,設置於該導電部上,當該光感應開關感測該待測試面板上之一發光圖案且該導電部同步被按壓於該待測試面板時,該光感應開關、該導電部與該繼電器形成一迴路,且輸出一按壓訊號。
- 如請求項1所述之面板測試筆,其中該按壓裝置更包含:一緩衝部,位於該導電部上,用以接觸該待測試面板。
- 如請求項2所述之面板測試筆,其中該緩衝部具有一透光孔對齊於該光感應開關,使該光感應開關藉由該透光孔感測該發光圖案。
- 如請求項2所述之面板測試筆,其中該緩衝部的材 質包含橡膠或塑膠。
- 如請求項2所述之面板測試筆,其中該緩衝部係一透明體。
- 如請求項1所述之面板測試筆,其中該容置空腔具有一第一空間與一第二空間,該第二空間連通於該開口,且該繼電器位於該第一空間中,該導電部位於該第二空間中。
- 如請求項1所述之面板測試筆,更包含:一按壓開關,電性耦接於該導電部與該繼電器之間,且露出於該殼體。
- 如請求項1所述之面板測試筆,其中該導電部包含:二第一接點,分別設置於該導電部上。
- 如請求項8所述之面板測試筆,更包含:二第二接點,分別設置於該容置空腔中,用以電性耦接該二第一接點與該繼電器。
- 如請求項1所述之面板測試筆,更包含:一彈簧,連接於該導電部與該殼體之間。
- 一種面板測試系統,包含:一電腦,具有一圖形產生器,用以顯示一發光圖案於一待測試面板上;以及一如申請專利範圍第1至8項所述之面板測試筆,電性耦接於該電腦,用以感測該發光圖案與按壓該待測試面板。
- 如請求項11所述之面板測試系統,更包含:一鍵盤,具有至少一按鈕,其中該按鈕電性耦接於該電腦與該面板測試筆之間。
- 一種面板測試筆的操作方法,包含下列步驟:(a)提供一待測試面板與一電腦;(b)藉由該電腦的一圖形產生器顯示一第一發光圖案於該待測試面板上;(c)提供一如申請專利範圍第1至8項所述之面板測試筆;(d)將該面板測試筆之一光感應開關感測該第一發光圖案且同步於該待測試面板按壓該面板測試筆之一導電部;以及(e)該第一發光圖案消失於該待測試面板上且一第二發光圖案顯示於該待測試面板上,其中該第二發光圖案與該第一發光圖案的位置不同。
- 如請求項13所述之面板測試筆的操作方法,更包含:按壓該面板測試筆的一按壓開關,使該第一發光圖案保留於該待測試面板上。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201210121829.8A CN102621724B (zh) | 2012-04-17 | 2012-04-17 | 面板测试系统、面板测试笔及其操作方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201344198A TW201344198A (zh) | 2013-11-01 |
TWI468694B true TWI468694B (zh) | 2015-01-11 |
Family
ID=46561730
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW101120267A TWI468694B (zh) | 2012-04-17 | 2012-06-06 | 面板測試系統、面板測試筆及其操作方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN102621724B (zh) |
TW (1) | TWI468694B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109883552B (zh) * | 2019-02-19 | 2021-11-12 | 苏州佳世达电通有限公司 | 光学检测装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1846886A1 (de) * | 2005-02-08 | 2007-10-24 | Christoph Tiede | Verfahren und einrichtung zur energie- und medienverbrauchserfassung und nutzerspezifischen umlage bei gemeinschaftlich genutzten raumlufttechnischen anlagen |
CN101566743A (zh) * | 2009-05-25 | 2009-10-28 | 友达光电股份有限公司 | 压力点测试棒 |
TW201039183A (en) * | 2009-04-22 | 2010-11-01 | Kye Systems Corp | Optical input device, electronic device and optical input system |
JP2011043380A (ja) * | 2009-08-20 | 2011-03-03 | Mitsubishi Electric Corp | 液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置の検査装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999004274A1 (en) * | 1997-07-14 | 1999-01-28 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact |
JP2007178913A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Sharp Corp | 異物検出方法及び異物検出装置 |
CN101865737A (zh) * | 2009-04-15 | 2010-10-20 | 友达光电(厦门)有限公司 | 压力测试装置及方法 |
-
2012
- 2012-04-17 CN CN201210121829.8A patent/CN102621724B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2012-06-06 TW TW101120267A patent/TWI468694B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1846886A1 (de) * | 2005-02-08 | 2007-10-24 | Christoph Tiede | Verfahren und einrichtung zur energie- und medienverbrauchserfassung und nutzerspezifischen umlage bei gemeinschaftlich genutzten raumlufttechnischen anlagen |
TW201039183A (en) * | 2009-04-22 | 2010-11-01 | Kye Systems Corp | Optical input device, electronic device and optical input system |
CN101566743A (zh) * | 2009-05-25 | 2009-10-28 | 友达光电股份有限公司 | 压力点测试棒 |
JP2011043380A (ja) * | 2009-08-20 | 2011-03-03 | Mitsubishi Electric Corp | 液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置の検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201344198A (zh) | 2013-11-01 |
CN102621724B (zh) | 2014-06-11 |
CN102621724A (zh) | 2012-08-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10539502B2 (en) | Moisture measurement device with thermal imaging capabilities and related methods | |
JP4673280B2 (ja) | 固体撮像素子の検査用プローブカード | |
TWI435093B (zh) | 顯示面板的檢測電路 | |
JP2014215843A (ja) | 電子機器、及びそのタッチパネル検査方法とプログラム | |
US20170038419A1 (en) | Apparatus and Method for Inspecting Electrical Equipment of Vehicle | |
US20090021276A1 (en) | Probe or Measuring Head with Illumination of the Contact Region | |
TWI468694B (zh) | 面板測試系統、面板測試筆及其操作方法 | |
CN209878830U (zh) | 显示模组精密检测压接探针及其检测治具 | |
CN106132071B (zh) | 印制电路板及移动终端 | |
WO2017135107A1 (ja) | 結線検査作業支援システム | |
CN201772879U (zh) | 按键检测装置 | |
US8873030B2 (en) | Testing device, detection system, and automatic detection method thereof | |
JP3121203U (ja) | スクリーン付き電子装置の実装用載置具 | |
WO2015123143A1 (en) | Measurement device with thermal imaging capabilities and related methods | |
JP2013101118A (ja) | 目視検査治具及びこれを用いた目視検査システム | |
JP4355729B2 (ja) | 表示装置 | |
CN102520538B (zh) | 焊点测试治具 | |
JP2008218737A (ja) | 画像処理装置 | |
TWI464653B (zh) | 光學觸控系統與光學觸控方法 | |
KR200456988Y1 (ko) | 스마트키용 터치센서모듈의 결합구조 | |
KR101465589B1 (ko) | 프로브 카드 핀 검사 시스템 및 그 방법 | |
CN203732504U (zh) | 一种带声光报警的支柱绝缘子振动声学检测装置 | |
KR20140111540A (ko) | 돔 스위치 검사 지그 | |
JP2001108404A (ja) | ワイヤハーネス外観検査装置 | |
TW201843438A (zh) | 組裝電路板檢測系統及組裝電路板檢測方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |