TWI457566B - 檢測裝置 - Google Patents

Description

檢測裝置

本發明係關於一種檢測裝置，特別是一種小型化之檢測裝置。

目前常被使用的檢測裝置多半在X方向與Y方向上分別設有兩導軌(一主動導軌以及一從動導軌)，而待測樣品將放在檢測裝置中平行設置的兩導軌之間的區域或是四個導軌形成的區域內接受檢測。然而此種檢測裝置因為設有四條導軌，使得檢測裝置的體積十分龐大，若是將重量體積輕巧的樣品放在此種檢測裝置進行檢測並不是很合適。

因此有必要提供一種結構簡化的檢測裝置來檢測重量體積輕巧的樣品，同時也可縮小檢測裝置的體積以達到小型化的目的。

本發明之主要目的係在提供一種小型化之檢測裝置。

為達成上述之目的，本發明之檢測裝置包括待測物承載台、第一導引單元、第二導引單元及底座。第一導引單元沿第一方向設置，第一導引單元包括第一導軌結構及第一驅動裝置，第一導軌結構包括第一端及第二端，待測物承載台位於第一端；第一驅動裝置位於第二端，第一驅動 裝置用以驅動待測物承載台在第一導軌結構上沿第一方向往復移動。第二導引單元位於第一導引單元下方並以垂直第一方向之第二方向設置，第二導引單元可移動地與第一導引單元連接，使第一導引單元以及待測物承載台得以第二方向在第二導引單元上沿第二方向往復移動。底座位於第二導引單元下方，且底座與第一導引單元以及第二導引單元平行。

根據本發明之一實施例，其中第二導軌結構更包括第二導軌以及第二驅動裝置，其中第二驅動裝置驅動第一導軌結構以及待測物承載台在第二導軌上沿第二方向往復移動。

根據本發明之一實施例，其中第二導軌結構是矩形導軌結構，且第二驅動裝置設於矩形導軌之長軸側邊。

根據本發明之一實施例，其中第一導軌結構的長度大於第二導軌結構的長度。

根據本發明之一實施例，其中第二導引單元更包括一與第二導軌結構平行之第三導軌結構，且第三導軌結構位於第二導軌結構與第一端之間。

根據本發明之一實施例，其中底座更包括一開孔，其中開孔的位置與待測物承載台相對。

根據本發明之一實施例，其中第一導軌結構與第二導軌結構皆為螺桿結構。

根據本發明之一實施例，其中第一驅動裝置與第二驅動裝置皆為馬達。

根據本發明之一實施例，其中第一驅動裝置與第二驅動裝置皆為線性馬達。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉出本發明之具體實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

以下請參考圖1至圖3關於本發明之檢測裝置1之一實施例，其中圖1係本發明之檢測裝置之結構爆炸圖；圖2係本發明之檢測裝置之立體示意圖；圖3係第一導引單元與待測物承載台在第二導引單元上移動之示意圖。

如圖1與圖2所示，本發明之檢測裝置1是用來檢測如：血液樣本之類的重量較輕的樣品(放入樣品後，樣品盤100的整體重量小於或等於1.5公斤)，而在本實施例中，盛裝待檢測樣品的樣品盤100是一96穴的樣品盤，而每一個空穴內都裝有待測樣品。

如圖1所示，本發明之檢測裝置1包括待測物承載台10、第一導引單元20、第二導引單元30以及底座40，其中樣品盤100放在測物承載台10上。

如圖1所示，第一導引單元20沿第一方向設置，且第一導引單元20更包括第一導軌結構21以及第一驅動裝置22。第一導軌結構21更包括第一端211以及第二端212，其中待測物承載台10設於第一端211；第一驅動裝置22設於第二端212，藉由第一裝置22的驅動讓待測物承載台 10可在第一導軌結構21之第一端211與第二端212之間沿第一方向的往復移動。如圖1所示，本實施例之第一方向定義為Y方向，因此受第一裝置22驅動的待測物承載台10可在第一導軌結構21之第一端211與第二端212之間做Y方向的往復移動，藉以逐個檢測樣品盤100上Y方向的待測樣品(如圖2所示)。

在此需注意的是，根據本發明之一具體實施例，第一導軌結構21為螺桿結構，第一驅動裝置22為馬達，第一驅動裝置22耦接至第一導軌結構21，使螺桿轉動藉以帶動待測物承載台10在第一導軌結構21上沿第一方向往復移動。但本發明不以前述實施例為限，第一驅動裝置22也可以是線性馬達，第一導軌結構21也不侷限於螺桿結構。

如圖1所示，第二導引單元30位於第一導引單元20下方，且第二導引單元30係以垂直第一方向之第二方向設置，並位於第一端211與第二端212之間。此外，第二導引單元30乃可移動地與第一導引單元20連接，使第一導引單元20以及待測物承載台10得以第二方向在第二導引單元30上沿第二方向往復移動(如圖3所示)。而本實施例之第二方向定義為X方向。

在本實施例中，如圖1所示，本發明之第二導引單元30更包括第二導軌結構31、第二驅動裝置32以及第三導軌結構33。如圖1所示，第二導軌結構31在本實施例中是一矩形導軌結構，而第二驅動裝置32設於矩形導軌之長軸側邊311，藉此縮短第二導軌結構31的長度，以實現小型化本發明之檢測裝置1之目的，故此，本發明之檢測裝 置1第一導軌結構21的長度L1大於第二導軌結構31的長度L2。

如圖1所示，本實施例之第三導軌結構33與第二導軌結構31平行且沿第二方向設於底座40上，並且第三導軌結構33位於第二導軌結構31與第一端211之間，而此特徵與先前技術的檢測裝置相比，本發明之檢測裝置1在第一方向少了一條導軌，故可節省導軌的製造成本，同時也縮小本發明之檢測裝置1的體積。

根據本發明之一具體實施例，第二導軌結構31為螺桿結構，第二驅動裝置32為馬達，其中第二驅動裝置32耦接至第二導軌結構31，使螺桿轉動藉以帶動第一導引單元20以及待測物承載台10能在第二導軌結構31及第三導軌結構33上沿第二方向(X方向)往復移動，藉以逐個檢測樣品盤100上X方向的待測樣品。而在本實施例中，第二導軌結構31是第二導引單元30中的主動導軌，第三導軌結構33是從動導軌。在此須注意的是，本發明不以前述實施例為限，第二驅動裝置32也可以是線性馬達，第二導軌結構31也不侷限於螺桿結構。

如圖1所示，底座40設於第二導引單元30下方，且底座40與第一導引單元20以及第二導引單元30平行。在本實施例中，底座40更包括開孔41，開孔41的正下方可放置攝影鏡頭或是顯微鏡等檢視裝置(未繪示)，來拍攝待測物承載台10上樣品盤100內的樣品。在此需注意的是，為讓開孔41的正下方的檢視裝置能清楚地拍攝到樣品盤100內的樣品，開孔41的位置必須與待測物承載台10相 對應。而此特徵與先前技術相比，本發明之檢測裝置1是將樣品盤100的受檢測的區域設在第三導軌結構33的外側，而不是設在第三導軌結構33與第二導軌結構31之間。

以下請繼續參考圖2與圖3，也一併參考圖4與圖5，以了解本發明之檢測裝置1的運作。圖4係待測物承載台在第一導引單元上移動到極限之示意圖；圖5係第一導引單元與待測物承載台在第二導引單元上移動到極限之示意圖。

當樣品盤100至於本發明之檢測裝置1上接受檢測時，本發明之檢測裝置1的作動方式如圖2至圖5所示。透過待測物承載台10在本發明之檢測裝置1上的移動，使得位於開孔41的正下方的檢視裝置(未繪示)能逐個檢測樣品盤100上的所有樣品。

圖2所示之狀態是當本發明之檢測裝置1的待測物承載台10尚未朝向第二端212移動，且第一導引單元20與待測物承載台10也沒有在第二導引單元30上移動的狀態。在此狀態下，樣品盤100上最左上角的樣品可被檢測，隨後只要讓第一導引單元20與待測物承載台10在第二導引單元30上沿X方向移動，就可逐個檢驗樣品盤100上第一排X方向上的每個樣品，直到第一導引單元20與待測物承載台10移動至第二導引單元30的左方極限為止(如圖3所示)。

圖4則顯示，待測物承載台10朝向第二端212移動至Y方向極限的狀態，讓樣品盤100上最後一排的樣品可被檢測。此時再讓第一導引單元20與待測物承載台10在第 二導引單元30上沿X方向移動，就可逐個檢驗樣品盤100上最後一排X方向上的每個樣品，直到第一導引單元20與待測物承載台10移動至第二導引單元30的到左方極限為止(如圖5所示)，使得樣品盤100上的每一個樣品都被檢測到。

綜上所陳，本發明無論就目的、手段及功效，在在均顯示其迥異於習知技術之特徵，為一大突破，懇請 貴審查委員明察，早日賜准專利，俾嘉惠社會，實感德便。惟須注意，上述實施例僅為例示性說明本發明之原理及其功效，而非用於限制本發明之範圍。任何熟於此項技藝之人士均可在不違背本發明之技術原理及精神下，對實施例作修改與變化。本發明之權利保護範圍應如後述之申請專利範圍所述。

1‧‧‧檢測裝置

10‧‧‧待測物承載台

20‧‧‧第一導引單元

21‧‧‧第一導軌結構

211‧‧‧第一端

212‧‧‧第二端

22‧‧‧第一驅動裝置

30‧‧‧第二導引單元

31‧‧‧第二導軌結構

33‧‧‧第三導軌結構

32‧‧‧第二驅動裝置

311‧‧‧長軸側邊

40‧‧‧底座

41‧‧‧開孔

100‧‧‧樣品盤

L1、L2‧‧‧長度

圖1係本發明之檢測裝置之結構爆炸圖。

圖2係本發明之檢測裝置之立體示意圖。

圖3係第一導引單元與待測物承載台在第二導引單元上移動之示意圖。

圖4係待測物承載台在第一導引單元上移動到極限之示意圖。

圖5係第一導引單元與待測物承載台在第二導引單元上移動到極限之示意圖。

1‧‧‧檢測裝置

10‧‧‧待測物承載台

20‧‧‧第一導引單元

21‧‧‧第一導軌結構

212‧‧‧第二端

100‧‧‧樣品盤

22‧‧‧第一驅動裝置

30‧‧‧第二導引單元

31‧‧‧第二導軌結構

33‧‧‧第三導軌結構

32‧‧‧第二驅動裝置

311‧‧‧長軸側邊

40‧‧‧底座

41‧‧‧開孔

Claims (8)

1. 一種檢測裝置，包括：一待測物承載台；一第一導引單元，其係沿一第一方向設置，該第一導引單元包括：一第一導軌結構，包括一第一端以及一第二端，其中該待測物承載台位於該第一端；以及一第一驅動裝置，係位於該第二端，該第一驅動裝置用以驅動該待測物承載台在該第一導軌結構上沿該第一方向往復移動；一第二導引單元，其係位於該第一導引單元下方，並以垂直該第一方向之一第二方向設置，該第二導引單元係可移動地與該第一導引單元連接，使該第一導引單元以及該待測物承載台得以該第二方向在該第二導引單元上沿該第二方向往復移動，其中該第二導引單元更包括一第二導軌結構以及一與該第二導軌結構平行之第三導軌結構，且該第三導軌結構位於該第二導軌結構與該第一端之間；以及一底座，其係位於該第二導引單元下方，且與該第一導引單元以及該第二導引單元平行，該底座更包括一開孔，其中該開孔的位置與該待測物承載台相對，以便一檢視裝置透過該開孔檢視該待測物承載台承載之樣品，而該第三導軌結構設置於該開孔與該第二導軌結構之間。
2. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中該第二導引單元更包括一第二驅動裝置，其中該第二驅動裝置驅動該第一導引單元以及該待測物承載台在該第二導軌結構上沿該第二方向往復移動。
3. 如申請專利範圍第2項所述之檢測裝置，其中該第二導軌結構是一矩形導軌結構，且該第二驅動裝置設於該矩形導軌之一長軸側邊。
4. 如申請專利範圍第3項所述之檢測裝置，其中該第一導軌結構的長度大於該第二導軌結構的長度。
5. 如申請專利範圍第4項所述之檢測裝置，其中該第二導軌結構位於該第一端與該第二端之間。
6. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中該第一導軌結構與該第二導軌結構皆為螺桿結構。
7. 如申請專利範圍第6項所述之檢測裝置，其中該第一驅動裝置與該第二驅動裝置皆為馬達。
8. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中該第一驅動裝置與該第二驅動裝置皆為線性馬達。