CN103575324A - 检测装置 - Google Patents

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CN103575324A CN201210296548.6A CN201210296548A CN103575324A CN 103575324 A CN103575324 A CN 103575324A CN 201210296548 A CN201210296548 A CN 201210296548A CN 103575324 A CN103575324 A CN 103575324A
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Abstract

一种检测装置包括待测物承载台、第一导引单元、第二导引单元及底座。第一导引单元沿第一方向设置，第一导引单元包括第一导轨结构及第一驱动装置，第一导轨结构包括第一端及第二端，待测物承载台位于第一端；第一驱动装置位于第二端，第一驱动装置用以驱动待测物承载台在第一导轨结构上沿第一方向往复移动。第二导引单元位于第一导引单元下方并以垂直第一方向的第二方向设置，第二导引单元可移动地与第一导引单元连接，使第一导引单元以及待测物承载台得以第二方向在第二导引单元上沿第二方向往复移动。底座位于第二导引单元下方。本发明的检测装置结构简化，达到小型化的目的。

Description

检测装置
技术领域
本发明关于一种检测装置，特别是一种小型化的检测装置。
背景技术
目前常被使用的检测装置多半在X方向与Y方向上分别设有两导轨(一主动导轨以及一从动导轨)，而待测样品将放在检测装置中平行设置的两导轨之间的区域或是四个导轨形成的区域内接受检测。然而此种检测装置因为设有四条导轨，使得检测装置的体积十分庞大，若是将重量体积轻巧的样品放在此种检测装置进行检测并不是很合适。
因此有必要提供一种结构简化的检测装置来检测重量体积轻巧的样品，同时也可缩小检测装置的体积以达到小型化的目的。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种小型化的检测装置，结构简化，使检测装置达到小型化。
为达成上述的目的，本发明的检测装置包括：
一待测物承载台；
一第一导引单元，其沿一第一方向设置，该第一导引单元包括：
一第一导轨结构，包括一第一端以及一第二端，其中该待测物承载台位于该第一端；以及
一第一驱动装置，位于该第二端，该第一驱动装置用以驱动该待测物承载台在该第一导轨结构上沿该第一方向往复移动；
一第二导引单元，其位于该第一导引单元下方，并以垂直该第一方向的一第二方向设置，该第二导引单元可移动地与该第一导引单元连接，使该第一导引单元以及该待测物承载台以该第二方向在该第二导引单元上沿该第二方向往复移动；以及
一底座，其位于该第二导引单元下方，且与该第一导引单元以及该第二导引单元平行。
本发明的检测装置包括待测物承载台、第一导引单元、第二导引单元及底座。第一导引单元沿第一方向设置，第一导引单元包括第一导轨结构及第一驱动装置，第一导轨结构包括第一端及第二端，待测物承载台位于第一端；第一驱动装置位于第二端，第一驱动装置用以驱动待测物承载台在第一导轨结构上沿第一方向往复移动。第二导引单元位于第一导引单元下方并以垂直第一方向的第二方向设置，第二导引单元可移动地与第一导引单元连接，使第一导引单元以及待测物承载台得以第二方向在第二导引单元上沿第二方向往复移动。底座位于第二导引单元下方，且底座与第一导引单元以及第二导引单元平行。
根据本发明的一实施例，其中第二导轨结构更包括第二导轨以及第二驱动装置，其中第二驱动装置驱动第一导轨结构以及待测物承载台在第二导轨上沿第二方向往复移动。
根据本发明的实施例，其中第二导轨结构是矩形导轨结构，且第二驱动装置设于矩形导轨的长轴侧边。
根据本发明的一实施例，其中第一导轨结构的长度大于第二导轨结构的长度。
根据本发明的一实施例，其中第二导引单元更包括一与第二导轨结构平行的第三导轨结构，且第三导轨结构位于第二导轨结构与第一端之间。
根据本发明的一实施例，其中底座更包括一开孔，其中开孔的位置与待测物承载台相对。
根据本发明的一实施例，其中第一导轨结构与第二导轨结构皆为螺杆结构。
根据本发明的一实施例，其中第一驱动装置与第二驱动装置皆为马达。
根据本发明的一实施例，其中第一驱动装置与第二驱动装置皆为线性马达。
借此，本发明的检测装置为一种结构简化的检测装置，用以检测重量体积轻巧的样品，同时也缩小检测装置的体积以达到小型化的目的。
附图说明
图1为本发明的检测装置的结构爆炸图；
图2为本发明的检测装置的立体示意图；
图3为第一导引单元与待测物承载台在第二导引单元上移动的示意图；
图4为待测物承载台在第一导引单元上移动到极限的示意图；
图5为第导引单元与待测物承载台在第二导引单元上移动到极限的示意图。
主要元件标号说明：
1检测装置         10待测物承载台
20第一导引单元    21第一导轨结构
211第一端         212第二端
22第一驱动装置    30第二导引单元
31第二导轨结构    33第三导轨结构
32第二驱动装置    311长轴侧边
40底座       41开孔
100样品盘    L1、L2长度
具体实施方式
为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本发明的具体实施方式。
以下请参考图1至图3关于本发明的检测装置1的一实施例，其中图1为本发明的检测装置的结构爆炸图；图2为本发明的检测装置的立体示意图；图3为第一导引单元与待测物承载台在第二导引单元上移动的示意图。
如图1与图2所示，本发明的检测装置1是用来检测如：血液样本的类的重量较轻的样品(放入样品后，样品盘100的整体重量小于或等于1.5公斤)，而在本实施例中，盛装待检测样品的样品盘100是一96穴的样品盘，而每一个空穴内都装有待测样品。
如图1所示，本发明的检测装置1包括待测物承载台10、第一导引单元20、第二导引单元30以及底座40，其中样品盘100放在测物承载台10上。
如图1所示，第一导引单元20沿第一方向设置，且第一导引单元20更包括第一导轨结构21以及第一驱动装置22。第一导轨结构21更包括第一端211以及第二端212，其中待测物承载台10设于第一端211；第一驱动装置22设于第二端212，藉由第一装置22的驱动让待测物承载台10可在第一导轨结构21的第一端211与第二端212之间沿第一方向的往复移动。如图1所示，本实施例的第一方向定义为Y方向，因此受第一装置22驱动的待测物承载台10可在第一导轨结构21的第一端211与第二端212之间做Y方向的往复移动，藉以逐个检测样品盘100上Y方向的待测样品(如图2所示)。
在此需注意的是，根据本发明的一具体实施例，第一导轨结构21为螺杆结构，第一驱动装置22为马达，第一驱动装置22耦接至第一导轨结构21，使螺杆转动藉以带动待测物承载台10在第一导轨结构21上沿第一方向往复移动。但本发明不以前述实施例为限，第一驱动装置22也可以是线性马达，第一导轨结构21也不局限于螺杆结构。
如图1所示，第二导引单元30位于第一导引单元20下方，且第二导引单元30以垂直第一方向的第二方向设置，并位于第一端211与第二端212之间。此外，第二导引单元30乃可移动地与第一导引单元20连接，使第一导引单元20以及待测物承载台10得以第二方向在第二导引单元30上沿第二方向往复移动(如图3所示)。而本实施例的第二方向定义为X方向。
在本实施例中，如图1所示，本发明的第二导引单元30更包括第二导轨结构31、第二驱动装置32以及第三导轨结构33。如图1所示，第二导轨结构31在本实施例中是一矩形导轨结构，而第二驱动装置32设于矩形导轨的长轴侧边311，藉此缩短第二导轨结构31的长度，以实现小型化本发明的检测装置1的目的，故此，本发明的检测装置1第一导轨结构21的长度L1大于第二导轨结构31的长度L2。
如图1所示，本实施例的第三导轨结构33与第二导轨结构31平行且沿第二方向设于底座40上，并且第三导轨结构33位于第二导轨结构31与第一端211之间，而此特征与先前技术的检测装置相比，本发明的检测装置1在第一方向少了一条导轨，故可节省导轨的制造成本，同时也缩小本发明的检测装置1的体积。
根据本发明的一具体实施例，第二导轨结构31为螺杆结构，第二驱动装置32为马达，其中第二驱动装置32耦接至第二导轨结构31，使螺杆转动藉以带动第一导引单元20以及待测物承载台10能在第二导轨结构31及第三导轨结构33上沿第二方向(X方向)往复移动，藉以逐个检测样品盘100上X方向的待测样品。而在本实施例中，第二导轨结构31是第二导引单元30中的主动导轨，第三导轨结构33是从动导轨。在此须注意的是，本发明不以前述实施例为限，第二驱动装置32也可以是线性马达，第二导轨结构31也不局限于螺杆结构。
如图1所示，底座40设于第二导引单元30下方，且底座40与第一导引单元20以及第二导引单元30平行。在本实施例中，底座40更包括开孔41，开孔41的正下方可放置摄影镜头或是显微镜等检视装置(未绘示)，来拍摄待测物承载台10上样品盘100内的样品。在此需注意的是，为让开孔41的正下方的检视装置能清楚地拍摄到样品盘100内的样品，开孔41的位置必须与待测物承载台10相对应。而此特征与先前技术相比，本发明的检测装置1是将样品盘100的受检测的区域设在第三导轨结构33的外侧，而不是设在第三导轨结构33与第二导轨结构31之间。
以下请继续参考图2与图3，也一并参考图4与图5，以了解本发明的检测装置1的运作。图4待测物承载台在第一导引单元上移动到极限的示意图；图5第一导引单元与待测物承载台在第二导引单元上移动到极限的示意图。
当样品盘100至于本发明的检测装置1上接受检测时，本发明的检测装置1的作动方式如图2至图5所示。通过待测物承载台10在本发明的检测装置1上的移动，使得位于开孔41的正下方的检视装置(未绘示)能逐个检测样品盘100上的所有样品。
图2所示的状态是当本发明的检测装置1的待测物承载台10尚未朝向第二端212移动，且第一导引单元20与待测物承载台10也没有在第二导引单元30上移动的状态。在此状态下，样品盘100上最左上角的样品可被检测，随后只要让第一导引单元20与待测物承载台10在第二导引单元30上沿X方向移动，就可逐个检验样品盘100上第一排X方向上的每个样品，直到第一导引单元20与待测物承载台10移动至第二导引单元30的左方极限为止(如图3所示)。
图4则显示，待测物承载台10朝向第二端212移动至Y方向极限的状态，让样品盘100上最后一排的样品可被检测。此时再让第一导引单元20与待测物承载台10在第二导引单元30上沿X方向移动，就可逐个检验样品盘100上最后一排X方向上的每个样品，直到第一导引单元20与待测物承载台10移动至第二导引单元30的到左方极限为止(如图5所示)，使得样品盘100上的每一个样品都被检测到。
以上所述仅为本发明示意性的具体实施方式，并非用以限定本发明的范围。任何本领域的技术人员，在不脱离本发明的构思和原则的前提下所作出的等同变化与修改，均应属于本发明保护的范围。

Claims (10)

1.一种检测装置，其特征在于，该检测装置包括：
一待测物承载台；
一第一导引单元，其沿一第一方向设置，该第一导引单元包括：
一第一导轨结构，包括一第一端以及一第二端，其中该待测物承载台位于该第一端；以及
一第一驱动装置，位于该第二端，该第一驱动装置用以驱动该待测物承载台在该第一导轨结构上沿该第一方向往复移动；
一第二导引单元，其位于该第一导引单元下方，并以垂直该第一方向的一第二方向设置，该第二导引单元可移动地与该第一导引单元连接，使该第一导引单元以及该待测物承载台以该第二方向在该第二导引单元上沿该第二方向往复移动；以及
一底座，其位于该第二导引单元下方，且与该第一导引单元以及该第二导引单元平行。
2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，该第二导引单元更包括一第二导轨结构以及一第二驱动装置，该第二驱动装置驱动该第一导引单元以及该待测物承载台在该第二导轨结构上沿该第二方向往复移动。
3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，该第二导轨结构是一矩形导轨结构，且该第二驱动装置设于该矩形导轨的一长轴侧边。
4.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于，该第一导轨结构的长度大于该第二导轨结构的长度。
5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于，该第二导轨结构位于该第一端与该第二端之间。
6.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于，该第二导引单元更包括一与该第二导轨结构平行的第三导轨结构，且该第三导轨结构位于该第二导轨结构与该第一端之间。
7.如权利要求6所述的检测装置，其特征在于，该底座更包括一开孔，其中该开孔的位置与该待测物承载台相对。
8.如权利要求7所述的检测装置，其特征在于，该第一导轨结构与该第二导轨结构皆为螺杆结构。
9.如权利要求8所述的检测装置，其特征在于，该第一驱动装置与该第二驱动装置皆为马达。
10.如权利要求7所述的检测装置，其特征在于，该第一驱动装置与该第二驱动装置皆为线性马达。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020147444A1 (zh) * 2019-01-16 2020-07-23 苏州精濑光电有限公司 一种检测台

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101162498A (zh) * 2007-11-09 2008-04-16 中国物品编码中心 条码识读设备检测装置
JP2009053210A (ja) * 2008-12-02 2009-03-12 Sumitomo Heavy Ind Ltd ステージ装置及び半導体検査装置
JP2009241192A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Sumitomo Heavy Ind Ltd Ｘｙステージ装置
CN101819157A (zh) * 2010-04-27 2010-09-01 东华大学 一种喷丝板检测仪
CN202066940U (zh) * 2010-12-16 2011-12-07 江阴格朗瑞科技有限公司 半导体测试仪及其半导体测试台

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3616543B2 (ja) * 1999-09-10 2005-02-02 日本電気株式会社 Ｘｙステージ

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101162498A (zh) * 2007-11-09 2008-04-16 中国物品编码中心 条码识读设备检测装置
JP2009241192A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Sumitomo Heavy Ind Ltd Ｘｙステージ装置
JP2009053210A (ja) * 2008-12-02 2009-03-12 Sumitomo Heavy Ind Ltd ステージ装置及び半導体検査装置
CN101819157A (zh) * 2010-04-27 2010-09-01 东华大学 一种喷丝板检测仪
CN202066940U (zh) * 2010-12-16 2011-12-07 江阴格朗瑞科技有限公司 半导体测试仪及其半导体测试台

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020147444A1 (zh) * 2019-01-16 2020-07-23 苏州精濑光电有限公司 一种检测台

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SE01 Entry into force of request for substantive examination
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