CN105444674A - 产品检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种产品检测装置,包括:工作台;总装架;检测平台,包括用于承载待检测产品的承载面,该承载面上设置有多个沿Z轴方向竖直向上凸起的定位柱、以及与定位柱分离设置的固定气缸,该承载面上还设置有多个沿Z轴方向竖直向上凸起的立柱,各立柱的顶面设置有与水平面成锐角夹角的倾斜反光镜面;设置在总装架上并位于检测平台上方的CCD检测器及激光检测器;探头检测器,设置在总装架上,所述总装架将探头检测器带动至检测平台上方;控制装置,用于开启并控制激光检测器、探头检测器、CCD检测器。该种产品检测装置具有检测效率高、精度高的优点。
Description
技术领域
本发明涉及产品检测装置,特别是涉及用于检测产品段差、内长、内宽等尺寸以及平面度的产品检测装置。
背景技术
目前手机外壳及小型家电等生产塑件企业,凡是涉及到采用模具注塑制成的产品,都需要进行对产品的段差、内长、内宽等尺寸以及平面度进行检测,以查验产品是否符合预期标准。
传统的检测方法是人工将待检测产品进行固定后使用高度规、塞片等进行测量,但是,随着现代化生产的快速发展,人工操作测量的速度较慢导致测量效率较低,且人工操作的不稳定因素较多容易导致误差大的现象,因此,目前这种低效率、误差大的产品测量方法不符合现代化生产的高效率与高精度要求。
发明内容
基于此,有必要针对现有段差检测工艺中效率低下、误差大的问题,提供一种检测效率高、精度高的产品检测装置。
一种产品检测装置,包括:工作台;总装架,设置在工作台上;检测平台,设置在所述工作台上,所述检测平台包括用于承载待检测产品的承载面,该承载面上设置有多个沿Z轴方向竖直向上凸起的定位柱、以及与定位柱分离设置的固定气缸,该承载面上还设置有多个沿Z轴方向竖直向上凸起的立柱,各立柱的顶面设置有与水平面成锐角夹角的倾斜反光镜面;CCD检测器,设置在总装架上并位于检测平台上方;激光检测器,设置在总装架上并位于检测平台上方;探头检测器,设置在总装架上,所述总装架将探头检测器带动至检测平台上方;控制装置,用于开启并控制激光检测器对待检测产品进行段差检测、开启并控制探头检测器对待检测产品进行尺寸检测、开启并控制CCD检测器进行平面度检测。
在其中一个实施例中,所述倾斜反光镜面与水平面成45度夹角。
在其中一个实施例中,所述CCD检测器包括成像镜头,该成像镜头的光轴垂直于水平面并与Z轴平行。
在其中一个实施例中,所述立柱的顶面为倾斜面且与水平面成45度夹角,所述立柱的顶面上设置有平面反光镜。
在其中一个实施例中,所述立柱的顶面为平面且与水平面平行,所述立柱的顶面上设置有棱柱形反光镜,棱柱形的反光镜面为棱柱的侧面且与水平面成45度夹角。
在其中一个实施例中,所述检测平台包括固定在工作台上的底座、设置在底座顶部的Y轴滑轨、可滑动地设置在Y轴滑轨上的载物台以及设置在载物台上的固定治具,该固定治具的顶面为用于承载并固定待检测产品的承载面,所述立柱设置在固定治具的顶面上。
在其中一个实施例中,所述检测平台包括固定在工作台上的底座、设置在底座顶部的Y轴滑轨、可滑动地设置在Y轴滑轨上的载物台以及设置在载物台上的固定治具,该固定治具的顶面为用于承载待检测产品的承载面,所述定位柱以及固定气缸设置在固定治具的顶面上。
在其中一个实施例中,所述总装架包括固定在工作台上的支撑架、水平设置在支撑架顶部的X轴滑轨,可滑动地设置在X轴滑轨上的水平滑块、固定在水平滑块上的Z轴滑轨、以及可滑动地设置在Z轴滑轨上的竖直滑块,所述CCD检测器固定在第一竖直滑块上。
在其中一个实施例中,所述总装架包括固定在水平滑块上的第二Z轴滑轨、以及可滑动地设置在第二Z轴滑轨上的第二竖直滑块,所述激光检测器固定在第二竖直滑块上。
在其中一个实施例中,所述总装架包括固定在水平滑块上的第三Z轴滑轨、以及可滑动地设置在第三Z轴滑轨上的第三竖直滑块,所述探头检测器固定在第三竖直滑块上。
上述产品检测装置,利用反光镜面将待检测产品的图像反射向位于检测平台上方的CCD检测器,进而利用控制装置开启并控制CCD检测器进行平面度检测,采用固定气缸以及定位柱配合固定待检测产品,同时利用总装架将探头检测器带动至检测平台上方进行内长、内宽等尺寸检测,并利用控制装置开启并控制激光检测器对检测平台上的产品进行段差测量,从而实现待检测产品各项参数(平整度、内长、内宽、段差)的一次性自动化检测,无需人工操作固定及测量,检测效率高且精度高。
附图说明
图1为本发明提供的产品检测装置的整体结构示意图;
图2为本发明提供的产品检测装置的检测平台的结构示意图;
图3为图2中虚线圆内部分结构的放大示意图。
具体实施方式
为了便于理解本发明,下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是,本发明可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。
参见图1,本发明提供的产品检测装置包括工作台10、总装架20、检测平台30、CCD检测器40、控制装置50、探头检测器70以及激光检测器80.
所述工作台10用于提供产品检测的场所,所述总装架20、检测平台30、CCD检测器40、控制装置50、探头检测器70以及激光检测器80均设置在工作台10上。
所述总装架20用于承载CCD检测器40、探头检测器70以及激光检测器80,以将CCD检测器40、探头检测器70以及激光检测器80上方。
请一并参见图2及图3,所述检测平台30包括用于承载待检测产品60的承载面,该承载面上设置有多个沿Z轴方向竖直向上凸起的定位柱31、以及与定位柱31分离设置的固定气缸32,该承载面还上设置有多个沿Z轴方向竖直向上凸起的立柱31’,各立柱31’的顶面设置有与水平面成锐角夹角的倾斜反光镜面32’。
所述CCD检测器40设置在总装架20上并位于检测平台30上方。
所述探头检测器70,设置在总装架20上,所述总装架20可将探头检测器70带动至检测平台30上方。
所述激光检测器80设置在总装架20上并位于检测平台30上方。
所述控制装置50用于开启并控制激光检测器80对待检测产品进行段差检测、开启并控制探头检测器70对待检测产品进行尺寸检测、开启并控制CCD检测器40进行平面度检测。
如此设计,可采用固定气缸32以及定位柱31配合固定待检测产品60,同时利用总装架20将探头检测器70带动至检测平台30上方进行内长、内宽等尺寸检测;可利用反光镜面32’将待检测产品60的图像反射向位于检测平台30上方的CCD检测器40,进而利用控制装置50开启并控制CCD检测器40进行平面度检测;可利用控制装置50开启并控制激光检测器80对检测平台上的产品进行段差测量,从而实现待检测产品各项参数(平整度、内长、内宽、段差)的一次性自动化检测,无需人工操作固定及测量,检测效率高且精度高。
本实施例中,所述工作台10底部可设置有滚轮102以及固定支撑104。将固定支撑104向上收起后,可借由滚轮102的滚动将工作台10移动至任何适合尺寸检测操作的位置,进而提高检测工艺的适应性。将工作台10移动至期望位置后,可放下固定支撑104以架空滚轮102,进而固定好工作台10以防止尺寸检测过程中的工作台移动。
优选的,所述反光镜面32’与水平面成45度夹角,以更利于将来自待检测产品60的光线反射向检测平台30上方的CCD检测器40。
本实施例中,所述CCD检测器40包括成像镜头(图未示)以及设置在成像镜头光轴方向上的CCD传感器(图未示)。为了更利于接收来自反光镜面32’的光线,所述CCD检测器40的成像镜头的光轴可设置成为垂直于水平面并与Z轴平行。
在一可实施的具体实施例中,所述立柱31’的顶面为倾斜面且与水平面成45度夹角,所述立柱的顶面上设置有平面反光镜,平面反光镜的反光面即为所述反光镜面32’。
需要说明的是,所述立柱31’的顶面也可以设置成与水平面平行的平面,而所述立柱31’的顶面上设置有棱柱形反光镜,所述反光镜面32’为棱柱的侧面且与水平面成45度夹角。
为了实现待检测产品60在检测平台30上的位置调整,本实施例中,检测平台30包括固定在工作台10上的底座33、设置在底座33顶部的Y轴滑轨34、可滑动地设置在Y轴滑轨34上的载物台35、以及设置在载物台35上的固定治具36、37及38,该固定治具36、37及38的顶面为用于承载待检测产品60的承载面,所述定位柱31以及固定气缸32设置在固定治具36的顶面上,所述立柱31’则设置在固定治具37、38的顶面上。
如此结构设置,可将所述控制装置50与检测平台30电气连接,从而利用控制装置50控制步进电机等驱动装置以驱使载物台35以及固定治具36、37、38在Y轴滑轨上的往返滑动,进而带动载物台35以及固定治具36、37、38沿Y轴移动,达成待检测产品60在Y轴方向上的位置调整。
优选的,本实施例中,所述固定治具36呈矩形,定位柱31的数量为两个,固定气缸32的数量为一个,所述两个定位柱31和一个固定气缸32依次分布在矩形固定治具36的三个拐角处,以从不同方向对固定治具36顶面上的待检测产品60进行固持。本实施例中,所述控制装置50与固定气缸32电气连接,以控制固定气缸32将待检测产品60顶向定位柱31而达成固定。
为了保证待检测产品60水平放置在检测平台30上,所述载物台35的顶面可以设置成与水平面平行。
为了实现CCD检测器40、探头检测器70、激光检测器80在总装架20上的位置调整,本实施例中,总装架20包括固定在工作台10上的支撑架201、水平设置在支撑架201顶部的X轴滑轨202,可滑动地设置在X轴滑轨202上的水平滑块203、固定在水平滑块203上的第一Z轴滑轨204以及可滑动地设置在第一Z轴滑轨204上的第一竖直滑块205,固定在水平滑块203上的第二Z轴滑轨206以及可滑动地设置在第二Z轴滑轨206上的第二竖直滑块207,固定在水平滑块203上的第三Z轴滑轨208以及可滑动地设置在第三Z轴滑轨208上的第三竖直滑块209,所述CCD检测器40固定在第一竖直滑块205上,所述激光检测器80固定在第二竖直滑块207上,所述探头检测器70固定在第三竖直滑块209上。
如此设置,可将所述控制装置50与总装架20电气连接,从而利用所述控制装置50控制步进电机等驱动装置以驱使水平滑块203在X轴滑轨202上的往返滑动以及第一、第二、第三竖直滑块205、207、209在第一、第二、第三Z轴滑轨204、206、208上的往返滑动,进而带动CCD检测器40、探头检测器70、激光检测器80在XZ平面内移动,达成CCD检测器40、探头检测器70、激光检测器80在总装架20上的位置调整。
在本实施例中,所述控制装置50包括设置在工作台上的控制器51以及显示器52。所述显示器52与控制器51电连接,该显示器52提供操作界面以接收检测操作指令并将操作指令传送给控制器51,控制器51接收到操作指令后对与其电气连接的其他部件进行操作控制。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种产品检测装置,其特征在于,包括:
工作台;
总装架,设置在工作台上;
检测平台,设置在所述工作台上,所述检测平台包括用于承载待检测产品的承载面,该承载面上设置有多个沿Z轴方向竖直向上凸起的定位柱、以及与定位柱分离设置的固定气缸,该承载面上还设置有多个沿Z轴方向竖直向上凸起的立柱,各立柱的顶面设置有与水平面成锐角夹角的倾斜反光镜面;
CCD检测器,设置在总装架上并位于检测平台上方;
激光检测器,设置在总装架上并位于检测平台上方;
探头检测器,设置在总装架上,所述总装架将探头检测器带动至检测平台上方;
控制装置,用于开启并控制激光检测器对待检测产品进行段差检测、开启并控制探头检测器对待检测产品进行尺寸检测、开启并控制CCD检测器进行平面度检测。
2.根据权利要求1所述的产品检测装置,其特征在于,所述倾斜反光镜面与水平面成45度夹角。
3.根据权利要求2所述的产品检测装置,其特征在于,所述CCD检测器包括成像镜头,该成像镜头的光轴垂直于水平面并与Z轴平行。
4.根据权利要求2所述的产品检测装置,其特征在于,所述立柱的顶面为倾斜面且与水平面成45度夹角,所述立柱的顶面上设置有平面反光镜。
5.根据权利要求2所述的产品检测装置,其特征在于,所述立柱的顶面为平面且与水平面平行,所述立柱的顶面上设置有棱柱形反光镜,棱柱形的反光镜面为棱柱的侧面且与水平面成45度夹角。
6.根据权利要求1所述的产品检测装置,其特征在于,所述检测平台包括固定在工作台上的底座、设置在底座顶部的Y轴滑轨、可滑动地设置在Y轴滑轨上的载物台以及设置在载物台上的固定治具,该固定治具的顶面为用于承载并固定待检测产品的承载面,所述立柱设置在固定治具的顶面上。
7.根据权利要求1所述的产品检测装置,其特征在于,所述检测平台包括固定在工作台上的底座、设置在底座顶部的Y轴滑轨、可滑动地设置在Y轴滑轨上的载物台以及设置在载物台上的固定治具,该固定治具的顶面为用于承载待检测产品的承载面,所述定位柱以及固定气缸设置在固定治具的顶面上。
8.根据权利要求1所述的产品检测装置,其特征在于,所述总装架包括固定在工作台上的支撑架、水平设置在支撑架顶部的X轴滑轨,可滑动地设置在X轴滑轨上的水平滑块、固定在水平滑块上的Z轴滑轨、以及可滑动地设置在Z轴滑轨上的竖直滑块,所述CCD检测器固定在第一竖直滑块上。
9.根据权利要求8所述的产品检测装置,其特征在于,所述总装架包括固定在水平滑块上的第二Z轴滑轨、以及可滑动地设置在第二Z轴滑轨上的第二竖直滑块,所述激光检测器固定在第二竖直滑块上。
10.根据权利要求9所述的产品检测装置,其特征在于,所述总装架包括固定在水平滑块上的第三Z轴滑轨、以及可滑动地设置在第三Z轴滑轨上的第三竖直滑块,所述探头检测器固定在第三竖直滑块上。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20160330 |