CN114593697A - 一种检测产品缝隙和平面度的装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种检测产品缝隙和平面度的装置，其包括：定位机构，其包括底板、定位治具及若干个发光板；第一检测机构，其设置于定位机构的四周，其包括第一滑轨结构、第一支架、第一传感器及第一电机；第二检测机构，其设置于定位机构的上方，其包括固定块、第二滑轨结构、第三滑轨结构、第二支架、第二传感器、第二电机和第三电机；控制单元，控制单元、第一电机、第二电机、第三电机、第一传感器及第二传感器电性连接。利用本发明的检测产品缝隙和平面度的装置，不仅解决不良品增多、检测时间长和人工成本高的问题，还大大提高产品的检测效率，实现缝隙和平面度检测的一体化作业。

Description

一种检测产品缝隙和平面度的装置
【技术领域】
本发明涉及一种检测装置，具体是涉及一种检测产品缝隙和平面度的装置。
【背景技术】
平面度是指基片具有的宏观回凸高度相对理想平面的偏差，平面度测量是指被测实际表面对其理想平面的变动量，平面度误差是将被测实际表面与理想平面进行比较，两者之间的线值距离即为平面度误差值。
量块是一种无刻度的标准端面量具。其制造材料为特殊合金钢,形状为长方体结构,六个平面中有两个相互平行的、极为光滑平整的测量面，两测量面之间具有精确的工作尺寸，量块主要用做尺寸传递系统中的中间标准量具,或在相对法测量时作为标准件调整仪器的零位，也可以用它直接测量零件。
目前，车间生产了一些笔记本电脑外壳，这些笔记本电脑外壳在成型开模后需要进行缝隙和平面度的检测，现阶段检测笔记本电脑外壳的缝隙和平面度的方式为采用单独的量测机台对其进行量测，当检测笔记本电脑外壳的缝隙后，再去进行平面度的检测，然而，这种方式容易导致笔记本电脑外壳的不良品增多，还需要员工再次对余下的不良品进行二次量测，造成检测时间增长和人工成本增加，从而产生检测效率降低的问题，并且，该方式无法实现缝隙和平面度检测的一体化作业。
有鉴于此，实有必要提供一种检测产品缝隙和平面度的装置，以解决现阶段的检测方式存在的不良品增多、检测时间长、人工成本高、检测效率降低以及无法实现缝隙和平面度检测的一体化作业的问题。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种检测产品缝隙和平面度的装置，以解决现阶段的检测方式存在的不良品增多、检测时间长、人工成本高、检测效率降低以及无法实现缝隙和平面度检测的一体化作业的问题，所述检测产品缝隙和平面度的装置包括：
定位机构，所述定位机构包括底板、定位治具及若干个发光板，所述定位治具设置于所述底板上，所述若干个发光板分别设置于所述定位治具上且位于所述定位治具的四周；
第一检测机构，所述第一检测机构设置于所述定位机构的四周，所述第一检测机构包括第一滑轨结构、第一支架、第一传感器及第一电机，所述第一滑轨结构设置于所述定位治具的外围，所述第一支架设置于所述滑轨结构上，所述第一传感器设置于所述第一支架上，所述第一电机连接所述第一滑轨结构；
第二检测机构，所述第二检测机构设置于所述定位机构的上方，所述第二检测机构包括固定块、第二滑轨结构、第三滑轨结构、第二支架、第二传感器、第二电机和第三电机，所述固定块设置于所述定位治具的一侧，所述第二滑轨结构设置于所述固定块上，所述第三滑轨结构垂直设置于所述第二滑轨结构上，所述第二支架设置于所述第三滑轨结构上，所述第二传感器设置于所述第二支架上，所述第二传感器具有检测产品平面度的作用，所述第二电机连接所述第二滑轨结构，所述第三电机连接所述第三滑轨结构；
控制单元，所述控制单元、所述第一电机、所述第二电机、所述第三电机、所述第一传感器及所述第二传感器电性连接。
可选的，所述检测产品缝隙和平面度的装置使用量块检测产品的缝隙。
可选的，所述量块根据产品的尺寸进行不同规格的设置，所述量块为使用标准缝隙的量块。
可选的，所述第一传感器检测量块于所述定位治具上的高度为标准高度，所述第一传感器检测产品于所述定位治具上的高度为实际高度，比较实际高度与标准高度的差值，该差值即为产品的缝隙值。
可选的，所述第一传感器为CCD取像机，所述第二传感器为激光传感器。
可选的，所述固定块为U型固定块。
可选的，所述第二滑轨结构为X轴方向的滑轨结构，所述第三滑轨结构为Y轴方向的滑轨结构，即所述第二传感器于所述第二滑轨结构上进行X轴方向移动，所述第二传感器于所述第三滑轨结构上进行Y轴方向移动。
可选的，所述第一支架和所述第二支架均为可调节高度的支架。
可选的，所述定位治具固定产品的底面作为一基准面，所述定位治具的上表面为一光滑平面。
相较于现有技术，本发明的检测产品缝隙和平面度的装置首先将量块放置于定位治具上，控制单元控制第一传感器检测量块于定位治具上的高度，该高度为标准高度，其次，将产品放置于定位治具上，控制单元控制第一电机带动第一滑轨结构上的第一传感器检测产品于定位治具上的高度，该高度为实际高度，比较实际高度与标准高度的差值，该差值即为产品的缝隙值，其中，第一支架上第一传感器的高度根据产品的尺寸进行调节，量块根据产品的尺寸进行不同规格的设置，接着，控制单元控制第二电机或第三电机带动第二传感器于X轴或Y轴方向上移动，第二传感器进行检测产品的平面度，并且，第二传感器于第二支架上进行高度调节，第二传感器于Z轴方向移动，实现了全方位对产品表面上任一点的平面度检测，最后，完成检测作业，取出产品。利用本发明的检测产品缝隙和平面度的装置，不仅解决不良品增多、检测时间长和人工成本高的问题，还大大提高产品的检测效率，实现缝隙和平面度检测的一体化作业。
【附图说明】
图1是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置的结构示意图。
图2是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置的另一角度的结构示意图。
图3是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置的俯视图。
图4是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置的第一检测机构的结构示意图。
图5是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置的第二检测机构的的结构示意图。
图6是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置于一较佳实施例中第一工作状态的示意图。
图7是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置于一较佳实施例中第二工作状态的示意图。
图8是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置于一较佳实施例中第三工作状态的示意图。
图9是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置于一较佳实施例中第四工作状态的示意图。
【具体实施方式】
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的一较佳实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图1、图2、图3、图4及图5所示，图1是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置的结构示意图，图2是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置的另一角度的结构示意图，图3是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置的俯视图，图4是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置的第一检测机构的结构示意图，图5是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置的第二检测机构的的结构示意图，所述检测产品缝隙和平面度的装置100包括：
定位机构110，所述定位机构110包括底板111、定位治具112及若干个发光板113，所述定位治具112设置于所述底板111上，所述若干个发光板113分别设置于所述定位治具112上且位于所述定位治具112的四周，所述底板111用于固定所述定位治具112，所述定位治具112用于固定产品，所述发光板113用于提供光源，便于检测，从而使第一传感器123更好地取像检测；
第一检测机构120，所述第一检测机构120设置于所述定位机构110的四周，所述第一检测机构120包括第一滑轨结构121、第一支架122、第一传感器123及第一电机124，所述第一滑轨结构121设置于所述定位治具112的外围，所述第一支架122设置于所述第一滑轨结构121上，所述第一传感器123设置于所述第一支架122上，所述第一电机124连接所述第一滑轨结构121，所述第一滑轨结构121和所述第一电机124用于带动所述第一传感器123移动，所述第一支架122用于固定所述第一传感器123；
第二检测机构130，所述第二检测机构130设置于所述定位机构110的上方，所述第二检测机构130包括固定块131、第二滑轨结构132、第三滑轨结构133、第二支架134、第二传感器135、第二电机136和第三电机137，所述固定块131设置于所述定位治具112的一侧，所述第二滑轨结构132设置于所述固定块131上，所述第三滑轨结构133垂直设置于所述第二滑轨结构132上，所述第二支架134设置于所述第三滑轨结构133上，所述第二传感器135设置于所述第二支架134上，所述第二传感器135具有检测产品平面度的作用，所述第二电机136连接所述第二滑轨结构132，所述第三电机137连接所述第三滑轨结构133，所述固定块131用于固定所述第二滑轨结构132，所述第二滑轨结构132和所述第二电机136用于带动所述第二传感器135于X轴移动，所述第三滑轨结构133和所述第三电机137用于带动所述第二传感器135于Y轴方向移动，所述第二支架134用于固定所述第二传感器135；
控制单元(图未视)，所述控制单元(图未视)、所述第一电机124、所述第二电机136、第三电机137、所述第一传感器123及所述第二传感器135电性连接，所述控制单元(图未视)控制所述第一电机124带动所述第一传感器123移动，对产品进行取像并检测产品的缝隙，所述控制单元(图未视)控制所述第二电机136或所述第三电机137带动所述第二传感器135于X轴或Y轴移动，对产品进行平面度检测。
其中，所述检测产品缝隙和平面度的装置100使用量块(图未视)检测产品的缝隙。
其中，所述量块(图未视)根据产品的尺寸进行不同规格的设置，所述量块(图未视)为使用标准缝隙的量块，所述量块(图未视)放置于所述定位治具112上。
其中，所述第一传感器113检测量块(图未视)于所述定位治具112上的高度为标准高度，所述第一传感器113检测产品于所述定位治具112上的高度为实际高度，比较实际高度与标准高度的差值，该差值即为产品的缝隙值。
其中，所述第一传感器123为CCD取像机，所述第二传感器135为激光传感器，所述CCD取像机取像检测产品与定位治具112之间的高度，所述激光传感器对产品的表面采用激光取点，进而检测产品的平面度。
其中，所述固定块131为U型固定块。
其中，所述第二滑轨结构132为X轴方向的滑轨结构，所述第三滑轨结构133为Y轴方向的滑轨结构，即所述第二传感器135于所述第二滑轨结构132上进行X轴方向移动，所述第二传感器135于所述第三滑轨结构133上进行Y轴方向移动。
其中，所述第一支架122和所述第二支架134均为可调节高度的支架，由于所述第一支架122和所述第二支架134均为可调节高度的支架，使得所述第一传感器123和所述第二传感器134的高度能够根据产品的尺寸进行调节，并且所述第二传感器135于所述第二支架134上进行高度调节，实现了所述第二传感器135于Z轴方向移动，以及该检测产品缝隙和平面度的装置100能够全方位对产品表面进行平面度检测。
其中，所述定位治具112固定产品的底面作为一基准面，所述定位治具112的上表面为一光滑平面，由于所述定位治具112固定产品的底面作为一基准面，所述定位治具112的上表面为一光滑平面，使得所述第一传感器123检测高度更加准确，从而避免误差。
请参阅图6和图7所示，图6是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置于一较佳实施例中第一工作状态的示意图，图7是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置于一较佳实施例中第二工作状态的示意图，于本实施例中，首先将量块(图未视)放置于定位治具112上，控制单元(图未视)控制第一传感器123检测量块(图未视)于定位治具112上的高度，该高度为标准高度，其次，将产品10放置于定位治具112上，控制单元(图未视)控制第一电机124带动第一滑轨结构121上的第一传感器检测产品10于定位治具112上的高度，该高度为实际高度，接着，比较实际高度与标准高度的差值，该差值即为产品10的缝隙值，其中，第一支架122上的第一传感器123高度根据产品10尺寸进行调节，量块(图未视)根据产品10尺寸进行不同规格的设置，此时，控制单元(图未视)没有控制第二电机136或第三电机137带动第二传感器135于X轴或Y轴方向上移动，第二传感器135也没有进行产品10的平面度检测作业。
请参阅图8和图9所示，图8是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置于一较佳实施例中第三工作状态的示意图，图9是本发明的检测产品缝隙和平面度的装置于一较佳实施例中第四工作状态的示意图，于本实施例中，当控制单元(图未视)控制第一传感器123检测产品10的缝隙时，控制单元(图未视)控制第二电机136或第三电机137带动第二传感器135于X轴或Y轴方向上移动，第二传感器135进行检测产品10的平面度，并且，第二传感器135于第二支架上进行高度调节，第二传感器135于Z轴方向移动，从而实现了全方位对产品10表面上任一点的平面度检测，最后，完成检测作业，取出产品10。
其中，所述检测产品缝隙和平面度的装置100实现了一体化检测产品10的缝隙和平面度，所述第一传感器123和所述第二传感器135一体化作业的方式增大了产品10的检测效率，也减少了不良产品10的数量，并且，所述第一传感器123与所述第二传感器135在各自移动作业过程中互不干涉。
其中，所述检测产品缝隙和平面度的装置100利用激光传感器的激光头部位对被量测物体进行平面度检测，该平面度检测原理：是以实际被量测物体的表面的最小二乘法平面作为评定基准面，以平行于最小二乘法平面，且具有最小距离的两个包容平面间的距离作为平面度误差值。
相较于现有技术，本发明的检测产品缝隙和平面度的装置100首先将量块(图未视)放置于定位治具112上，第一传感器123检测量块(图未视)于定位治具112上的标准高度，其次，将产品10放置于定位治具112上，第一传感器123检测产品10于定位治具112上的实际高度，比较实际高度与标准高度的差值，该差值即为产品10的缝隙值，接着，第二电机136或第三电机137带动第二传感器135于X轴或Y轴方向上移动，第二传感器135进行检测产品10的平面度，并且，第二传感器135于第二支架134上进行高度调节，第二传感器135于Z轴方向移动，实现了全方位对产品10表面上任一点的平面度检测，最后，最后，完成检测作业，取出产品10。利用本发明的检测产品缝隙和平面度的装置，不仅解决不良品增多、检测时间长和人工成本高的问题，还大大提高产品10的检测效率，实现缝隙和平面度检测的一体化作业。
需指出的是，本发明不限于上述实施方式，任何熟悉本专业的技术人员基于本发明技术方案对上述实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，都落入本发明的保护范围内。

Claims (9)

1.一种检测产品缝隙和平面度的装置，其特征在于，包括：
定位机构，所述定位机构包括底板、定位治具及若干个发光板，所述定位治具设置于所述底板上，所述若干个发光板分别设置于所述定位治具上且位于所述定位治具的四周；
第一检测机构，所述第一检测机构设置于所述定位机构的四周，所述第一检测机构包括第一滑轨结构、第一支架、第一传感器及第一电机，所述第一滑轨结构设置于所述定位治具的外围，所述第一支架设置于所述滑轨结构上，所述第一传感器设置于所述第一支架上，所述第一电机连接所述第一滑轨结构；
第二检测机构，所述第二检测机构设置于所述定位机构的上方，所述第二检测机构包括固定块、第二滑轨结构、第三滑轨结构、第二支架、第二传感器、第二电机和第三电机，所述固定块设置于所述定位治具的一侧，所述第二滑轨结构设置于所述固定块上，所述第三滑轨结构垂直设置于所述第二滑轨结构上，所述第二支架设置于所述第三滑轨结构上，所述第二传感器设置于所述第二支架上，所述第二传感器具有检测产品平面度的作用，所述第二电机连接所述第二滑轨结构，所述第三电机连接所述第三滑轨结构；
控制单元，所述控制单元、所述第一电机、所述第二电机、所述第三电机、所述第一传感器及所述第二传感器电性连接。
2.根据权利要求1所述的检测产品缝隙和平面度的装置，其特征在于，所述检测产品缝隙和平面度的装置使用量块检测产品的缝隙。
3.根据权利要求2所述的检测产品缝隙和平面度的装置，其特征在于，所述量块根据产品的尺寸进行不同规格的设置，所述量块为使用标准缝隙的量块。
4.根据权利要求2所述的检测产品缝隙和平面度的装置，其特征在于，所述第一传感器检测量块于定位治具上的高度为标准高度，所述第一传感器检测产品于定位治具上的高度为实际高度，比较实际高度与标准高度的差值，该差值即为产品的缝隙值。
5.根据权利要求1所述的检测产品缝隙和平面度的装置，其特征在于，所述第一传感器为CCD取像机，所述第二传感器为激光传感器。
6.根据权利要求1所述的检测产品缝隙和平面度的装置，其特征在于，所述固定块为U型固定块。
7.根据权利要求1所述的检测产品缝隙和平面度的装置，其特征在于，所述第二滑轨结构为X轴方向的滑轨结构，所述第三滑轨结构为Y轴方向的滑轨结构，即所述第二传感器于所述第二滑轨结构上进行X轴方向移动，所述第二传感器于所述第三滑轨结构上进行Y轴方向移动。
8.根据权利要求1所述的检测产品缝隙和平面度的装置，其特征在于，所述第一支架和所述第二支架均为可调节高度的支架。
9.根据权利要求1所述的检测产品缝隙和平面度的装置，其特征在于，所述定位治具固定产品的底面作为一基准面，所述定位治具的上表面为一光滑平面。
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