TWI453415B - 利用超寬頻雷達偵測物體之運動狀態之成像方法及系統 - Google Patents

利用超寬頻雷達偵測物體之運動狀態之成像方法及系統 Download PDF

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Description

利用超寬頻雷達偵測物體之運動狀態之成像方法及系統
本發明係關於一種利用超寬頻雷達偵測物體之運動狀態之成像方法及系統，尤其是指一種藉由訊號延遲時間，解析物體之被偵測位置與量測位置間之量測距離，比對基礎距離與量測距離隨著時間變化之距離變異量，在基準灰階影像中呈現物體之運動狀態之方法及系統。
以往偵測物體運動狀態時，裝置需碰觸到物體表面才能進行偵測，然而此種傳統偵測方式，無法應用於物體表面係無法接觸狀態時，例如觀察燒燙傷患者之生理現象，或是搜救位於瓦礫堆下之傷者，因此便有利用超寬頻雷達偵測物體運動的研究提出。
以往利用超寬頻雷達偵測物體運動時，係利用發射模組發送超寬頻微波訊號發送至物體，當物體呈運動狀態時，由物體表面反射回接收模組之超寬頻微波訊號在接收時間上會有變化。因此，過去提出之研究皆係分析超寬頻微波訊號在接收時間是否有變化，進而得知該距離是否有物體運動，但此些研究僅能得知物體與超寬頻雷達間之距離，無法得知物體在空間中之二維位置，進而也無法分辨與超寬頻雷達之間有相同距離但位於不同位置之二物體，且此些研究需比較第一張影像及第二張影像之差異，才能得知物體之運動狀態。
鑒於上述之問題，習知偵測方式僅能得知物體與超寬頻雷達間之距離，無法得知物體在空間中之二維位置，進而也無法分辨與超寬頻雷達之間有相同距離但位於不同位置之二物體，且需比較第一張影像及第二張影像之差異，才能得知物體之運動狀態。
為了得知物體在空間中之二維位置，以及即時得知物體之運動狀態，本發明之目的係提供一種利用超寬頻雷達偵測物體之運動狀態之成像方法及系統，係藉由訊號延遲時間，解析物體之被偵測位置與量測位置間之量測距離，比對基礎距離與量測距離隨著時間變化之距離變異量，在基準灰階影像中呈現物體之運動狀態。
本發明為解決習知技術之問題所採用之必要技術手段係提供一種利用超寬頻雷達偵測物體之運動狀態之成像方法，包含以下步驟：在一初始狀態下，於複數個量測位置將至少一第一超寬頻微波訊號沿一方向發送至一物體之複數個第一被偵測位置，第一被偵測位置與量測位置相對應；在量測位置接收至少一第二超寬頻微波訊號，第二超寬頻微波訊號係自物體之第一被偵測位置所反射出；解析在量測位置接收之第二超寬頻微波訊號所需之複數個 基準訊號延遲時間，據以解析出第一被偵測位置與所對應之量測位置間之複數個基準距離，藉以產生物體之一基準灰階影像。
接著在一量測狀態下，於量測位置將第一超寬頻微波訊號沿同方向發送至物體之複數個第二被偵測位置，第二被偵測位置與量測位置相對應；在量測位置接收至少第二超寬頻微波訊號，第二超寬頻微波訊號係自物體之第二被偵測位置所反射出；解析在量測位置接收之第二超寬頻微波訊號所需之複數個量測訊號延遲時間，據以解析出第二被偵測位置與所對應之量測位置間之複數個量測距離；在基準灰階影像中，於量測位置比對所對應之基準距離與量測距離隨著時間變化之距離變異量；以及依據距離變異量，在基準灰階影像上呈現物體之運動狀態。
本發明更提供一種超寬頻雷達偵測物體之運動狀態之成像系統，其包含一發射模組、一接收模組以及一訊號處理模組。發射模組係用以於初始狀態，於量測位置對物體之第一被偵測位置發送第一超寬頻微波訊號，並且用以於量測狀態，於量測位置對物體之第二被偵測位置發送第一超寬頻微波訊號。接收模組係用以於初始狀態，於量測位置接收自第一被偵測位置所反射出之第二超寬頻微波訊號，並且用以於量測狀態，於量測位置接收自第二被偵測位置所反射出之第二超寬頻微波訊號。
訊號處理模組係電性連接於發射模組以及接收模組，用以於初始狀態，解析在量測位置接收之第二超寬頻微波 訊號所需之基準訊號延遲時間，據以解析出第一被偵測位置與所對應之量測位置間之基準距離，藉以產生物體之基準灰階影像，並用以於量測狀態，解析在量測位置接收之第二超寬頻微波訊號所需之量測訊號延遲時間，據以解析出第二被偵測位置與所對應之量測位置間之量測距離。其中，訊號處理模組依據基準距離以及量測距離解析出距離變異量，據以依據距離變異量於基準灰階影像呈現物體之運動狀態。
較佳者，訊號處理模組包含一處理單元，處理單元係用以產生並傳送一數位方波。發射模組包含一發射單元以及至少一發射天線，發射單元係電性連接於處理單元，用以接收數位方波，藉以將數位方波調製成第一超寬頻微波訊號，據以傳送第一超寬頻微波訊號。發射天線係電性連接於發射單元，用以接收第一超寬頻微波訊號，藉以將第一超寬頻微波訊號發送至物體。發射天線係一維陣列以及二維陣列排列中之其中一種。發射天線係設置於一機械掃描裝置，機械掃描裝置係沿一一維方向以及一二維方向中之其中一種方向移動，藉以使該發射天線於量測位置發送第一超寬頻微波訊號。
較佳者，接收模組包含一接收單元以及至少一接收天線，接收單元係電性連接於接收天線，接收天線係用以接收第二超寬頻微波訊號，藉以將第二超寬頻微波訊號傳送至接收單元，據以使接收單元將第二超寬頻微波訊號傳送至訊號處理模組。接收天線係一維陣列以及二維陣列排列 中之其中一種。接收天線係設置於一機械掃描裝置，機械掃描裝置係沿一一維方向以及一二維方向中之其中一種方向移動，藉以使發射天線於量測位置接收第二超寬頻微波訊號。
相較於習知技術，習知偵測方式僅能得知物體與超寬頻雷達間之距離，無法得知物體在空間中之二維位置，進而也無法分辨與超寬頻雷達之間有相同距離，但位於不同位置之二物體，且需比較第一張影像及第二張影像之差異，才能得知物體之運動狀態。
為了得知物體在空間中之二維位置，以及即時得知物體之運動狀態，本發明所採用之技術手段，係藉由訊號延遲時間，解析物體之被偵測位置與量測位置間之量測距離，比對基礎距離與量測距離隨著時間變化之距離變異量，在基準灰階影像中呈現物體之運動狀態。
本發明所採用的具體實施例，將藉由以下之實施例及圖式作進一步之說明。
由於本發明所提供之超寬頻雷達偵測物體運動之成像方式，其相關之組合實施方式更是不勝枚舉，故在此不再一一贅述。然熟習此項技藝者皆知此僅為舉例，並非用以限定發明本身。有關本發明之較佳實施例之內容詳述如下。
請參閱第一圖，第一圖係顯示本發明第一較佳實施例之超寬頻雷達成像系統之系統架構示意圖。
如第一圖所示，超寬頻雷達成像系統1包含一發射模組11、一接收模組12以及一訊號處理模組13，訊號處理模組13係電性連接於發射模組11以及該接收模組12。訊號處理模組13包含一訊號處理器131以及一處理單元132，訊號控制器131係電性連接於處理單元132。
發射模組11係用以於一初始狀態，於複數個量測位置對一物體之複數個第一被偵測位置發送一第一超寬頻微波訊號，並且用以於一量測狀態，於量測位置對物體之複數個第二被偵測位置發送第一超寬頻微波訊號。
接收模組12係用以於初始狀態，於量測位置接收自第一被偵測位置所反射出之至少一第二超寬頻微波訊號，並且用以於量測狀態，於量測位置接收自第二被偵測位置所反射出之第二超寬頻微波訊號。
訊號處理模組13係用以於初始狀態，解析在量測位置接收之第二超寬頻微波訊號所需之複數個基準訊號延遲時間，據以解析出第一被偵測位置與所對應之量測位置間之複數個基準距離，藉以產生物體之一基準灰階影像，並用以於量測狀態，解析在量測位置接收之第二超寬頻微波訊號所需之複數個量測訊號延遲時間，據以解析出第二被偵測位置與所對應之量測位置間之複數個量測距離。依據基準距離以及量測距離解析出複數個距離變異量，據以依據距離變異量於基準灰階影像呈現物體之運動狀態。其中， 處理單元132係用以產生並傳送一數位方波。
請進一步參閱第二圖，第二圖係顯示本發明第二較佳實施例之超寬頻雷達成像系統之系統架構示意圖。
如第二圖所示，超寬頻雷達成像系統1包含一發射模組11、一接收模組12以及一訊號處理模組13，訊號處理模組13係電性連接於發射模組11以及該接收模組12。訊號處理模組13包含一訊號控制器131以及一處理單元132，發射模組11包含一發射單元111以及至少一發射天線112，發射單元111係電性連接於處理單元132，發射天線112係電性連接於發射單元111，接收模組12包含一接收單元121以及至少一接收天線122，接收單元121係電性連接於接收天線122。也就是說，第二較佳實施例與第一較佳實施例不同的地方係在於發射模組11以及接收模組12之組成元件。
發射單元111係用以接收處理單元132產生並傳送之數位方波，藉以將數位方波調製成第一超寬頻微波訊號，據以傳送第一超寬頻微波訊號。發射天線112係電性連接於發射單元111，用以接收第一超寬頻微波訊號，藉以將第一超寬頻微波訊號發送至物體，並於初始狀態，於複數個量測位置對物體之複數個第一被偵測位置發送第一超寬頻微波訊號，且於量測狀態，於量測位置對物體之複數個第二被偵測位置發送第一超寬頻微波訊號。
發射天線112可為一維陣列以及二維陣列排列中之其中一種，或可設置於一機械掃描裝置，機械掃描裝置係沿 一一維方向以及一二維方向中之其中一種方向移動，藉以使發射天線112於量測位置發送第一超寬頻微波訊號。
接收單元121係電性連接接收天線122，接收天線122係用以接收第二超寬頻微波訊號，藉以將第二超寬頻微波訊號傳送至接收單元121，據以使接收單元121將第二超寬頻微波訊號傳送至訊號處理模組13。接收天線122於初始狀態，於量測位置接收自第一被偵測位置所反射出之至少一第二超寬頻微波訊號，並且於量測狀態，於量測位置接收自第二被偵測位置所反射出之第二超寬頻微波訊號。
接收天線122可為一維陣列以及二維陣列排列中之其中一種，或可設置於一機械掃描裝置，機械掃描裝置係沿一一維方向以及一二維方向中之其中一種方向移動，藉以使接收天線122於量測位置接收第二超寬頻微波訊號。
訊號處理模組13係用以於初始狀態，解析在量測位置接收之第二超寬頻微波訊號所需之複數個基準訊號延遲時間，據以解析出第一被偵測位置與所對應之量測位置間之複數個基準距離，藉以產生物體之一基準灰階影像，並用以於量測狀態，解析在量測位置接收之第二超寬頻微波訊號所需之複數個量測訊號延遲時間，據以解析出第二被偵測位置與所對應之量測位置間之複數個量測距離。
在初始狀態之第一被偵測位置以及在量測狀態之第二被偵測位置，皆係發射天線112在相同量測位置沿相同方向發送第一超寬頻微波訊號至物體，兩者可在相同或相異位置，視物體之運動狀態而定。訊號處理器131依據基準 距離以及量測距離解析出複數個距離變異量，據以依據距離變異量於基準灰階影像呈現物體之運動狀態。
請一併參閱第二圖以及第三圖，第三圖係顯示本發明較佳實施例之超寬頻雷達偵測物體之運動狀態之成像方法流程示意圖。
如第三圖所示，本發明超寬頻雷達偵測物體之運動狀態之成像方法步驟如下：步驟S1：在一初始狀態下，發射至少一第一超寬頻微波訊號至一物體；步驟S2：接收由物體所反射出之至少一第二超寬頻微波訊號；步驟S3：藉由訊號延遲時間，解析基準距離以產生物體之一基準灰階影像；步驟S4：在一量測狀態下，發射至少一第一超寬頻微波訊號至物體；步驟S5：接收由物體所反射出之至少一第二超寬頻微波訊號；步驟S6：藉由訊號延遲時間，解析量測距離；步驟S7：在基準灰階影像中，比對隨著時間變化之距離變異量；以及步驟S8：依據距離變異量，在基準灰階影像上呈現物體之運動變化。
在初始狀態下執行步驟S1，於複數個量測位置將至少一第一超寬頻微波訊號沿一方向發送至物體與量測位置相 對應之複數個第一被偵測位置。接著執行步驟S2，在量測位置接收自物體之第一被偵測位置所反射出至少一第二超寬頻微波訊號。
繼續執行步驟S3，解析在量測位置接收之複數個基準訊號延遲時間，據以解析出第一被偵測位置與量測位置間之複數個基準距離，藉以產生物體之一基準灰階影像。
在量測狀態下執行步驟S4，於複數個量測位置將至少一第一超寬頻微波訊號沿步驟S1相同方向發送至物體與量測位置相對應之複數個第二被偵測位置。接著執行步驟S5，在量測位置接收自物體之第二被偵測位置所反射出至少一第二超寬頻微波訊號。
繼續執行步驟S6，解析在量測位置接收之複數個基準訊號延遲時間，據以解析出第二被偵測位置與量測位置間之複數個量測距離。
執行步驟S7，在基準灰階影像中，於量測位置比對基準距離與量測距離隨著時間變化之距離變異量，最後執行步驟S8，藉由傅立葉轉換，將距離變異量轉換為能量形式。影像因子以能量形式定義，並可為同調性因子(Generalized Coherence Factor,GCF)、非同調性因子(Generalized Incoherence Factor,GICF)及濾波器同調性因子(Filter Bank Based Generalized Coherence Factor,FBGCF)中之至少其中一種。在基準灰階影像上呈現物體之運動狀態。灰階影像深淺係與接收之能量強度有關。
藉由分析影像成像同調性並利用一非同調性因子方法 以及一濾波器同調性因子方法，偵測物體之運動位置及運動頻率。其中，由於非同調性因子在物體於一位置有運動狀態時數值會上升，因此可利用非同調性因子方法偵測而呈現物體之空間位置。而由於濾波器同調性因子在物體有對應相同頻率之運動時，濾波器內的數值會上升，因此可使用濾波器同調性因子方法偵測而呈現該物體之空間位置及運動頻率。
上述步驟S1以及步驟S4中，係藉由發射模組11發送第一超寬頻微波訊號。更進一步來說，發射單元111係用以接收一訊號處理模組13之處理單元132所產生並傳送之一數位方波，藉以將數位方波調製成第一超寬頻微波訊號，據以傳送第一超寬頻微波訊號。發射天線112係可為一維陣列以及二維陣列排列中之其中一種，或可設置於一機械掃描裝置，機械掃描裝置係沿一一維方向以及一二維方向中之其中一種方向移動，用以接收第一超寬頻微波訊號，藉以使發射天線112於量測位置發送第一超寬頻微波訊號至物體。另外，上述步驟S3、步驟S6、步驟S7以及步驟S8中，係藉由訊號處理模組13之訊號處理器131執行。
上述步驟S2以及步驟S5中，係藉由接收模組12接收第二超寬頻微波訊號。更進一步來說，接收模組12之接收天線122係用以接收第二超寬頻微波訊號，藉以將第二超寬頻微波訊號傳送至接收單元121，據以使接收單元121將第二超寬頻微波訊號傳送至訊號處理模組13。
接收天線122可為一維陣列以及二維陣列排列中之其中一種，或可設置於一機械掃描裝置，機械掃描裝置係沿一一維方向以及一二維方向中之其中一種方向移動，藉以使接收天線122於量測位置接收第二超寬頻微波訊號。
請參閱第四圖，第四圖係顯示本發明第一較佳實施例之超寬頻雷達成像系統之訊號取樣示意圖。
如第四圖所示，假設物體呈運動狀態，量測位置接收之第二超寬頻微波訊號會產生訊號延遲時間，因此初始狀態之第一被偵測位置以及量測狀態之第二被偵測位置可在相同或相異位置，視物體是否呈運動狀態。藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。舉凡所屬技術領域中具有通常知識者當可依據本發明之上述實施例說明而作其它種種之改良及變化。然而這些依據本發明實施例所作的種種改良及變化，當仍屬於本發明之創作精神及界定之專利範圍內。
1‧‧‧超寬頻雷達系統
11‧‧‧發射模組
111‧‧‧發射單元
112‧‧‧發射天線
12‧‧‧接收模組
121‧‧‧接收單元
122‧‧‧接收天線
13‧‧‧訊號處理模組
131‧‧‧訊號處理器
132‧‧‧處理單元
第一圖係顯示本發明第一較佳實施例之超寬頻雷達成像系統之系統架構示意圖；第二圖係顯示本發明第二較佳實施例之超寬頻雷達成像系統之系統架構示意圖；第三圖係顯示本發明較佳實施例之超寬頻雷達偵測物體之運動狀態之成像方法流程示意圖；以及 第四圖係顯示本發明第一較佳實施例之超寬頻雷達成像系統之訊號取樣示意圖。

Claims (24)

  1. 一種利用超寬頻雷達偵測物體之運動狀態之成像方法，包含以下步驟：(a)在一初始狀態下，於複數個量測位置將至少一第一超寬頻微波訊號沿一方向發送至一物體之複數個第一被偵測位置，該些第一被偵測位置與該些量測位置相對應；(b)在該些量測位置接收至少一第二超寬頻微波訊號，該第二超寬頻微波訊號係自該物體之該些第一被偵測位置所反射出；(c)解析在該些量測位置接收之該第二超寬頻微波訊號所需之複數個基準訊號延遲時間，據以解析出該些第一被偵測位置與所對應之該些量測位置間之複數個基準距離，藉以產生該物體之一基準灰階影像；(d)在一量測狀態下，於該些量測位置將至少一第一超寬頻微波訊號沿該方向發送至該物體之複數個第二被偵測位置，該些第二被偵測位置與該些量測位置相對應；(e)在該些量測位置接收至少一第二超寬頻微波訊號，該第二超寬頻微波訊號係自該物體之該些第二被偵測位置所反射出；(f)解析在該些量測位置接收之該第二超寬頻微波訊號所需之複數個量測訊號延遲時間，據以解析出該些第二被偵測位置與所對應之該些量測位置間之複數個量測距離；(g)在該基準灰階影像中，於該些量測位置比對所對應之該 些基準距離與該些量測距離隨著時間變化之該些距離變異量；以及(h)依據該些距離變異量，在該基準灰階影像上呈現該物體之運動狀態。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之成像方法，其中，上述步驟(h)係藉由傅立葉轉換，將該些距離變異量轉換為一能量形式，一影像因子係以該能量形式定義，並可為同調性因子(Generalized Coherence Factor,GCF)、非同調性因子(Generalized Incoherence Factor,GICF)及濾波器同調性因子(Filter Bank Based Generalized Coherence Factor,FBGCF)中之至少其中一種，並藉由一非同調性因子方法及一同調性因子方法呈現該物體之運動狀態，且更呈現該物體之運動頻率。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之成像方法，其中，該非同調性因子方法係用以偵測而呈現該物體之空間位置。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之成像方法，其中，該同調性因子方法係用以偵測而呈現該物體之空間位置及運動頻率。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之成像方法，其中，上述步驟(a)以及步驟(d)係藉由一發射模組發送該第一超寬頻微波 訊號。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之成像方法，其中，該發射模組包含一發射單元以及至少一發射天線，該發射單元係電性連接於一處理單元，用以接收一訊號處理模組之該處理單元所產生並傳送之一數位方波，藉以將該數位方波調製成該第一超寬頻微波訊號，據以傳送該第一超寬頻微波訊號。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之成像方法，其中，該訊號處理模組更包含一訊號處理器，該訊號處理器係電性連接於該處理單元，用以執行上述步驟(c)、步驟(f)、步驟(g)以及步驟(h)。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之成像方法，其中，該發射天線係電性連接於該發射單元，用以接收該第一超寬頻微波訊號，藉以將該第一超寬頻微波訊號發送至該物體。
  9. 如申請專利範圍第6項所述之成像方法，其中，該發射天線係一維陣列以及二維陣列排列中之其中一種。
  10. 如申請專利範圍第6項所述之成像方法，其中，該發射天線係設置於一機械掃描裝置，該機械掃描裝置係沿一一維方向以及一二維方向中之其中一種方向移動，藉以使該發 射天線於該些量測位置發送該第一超寬頻微波訊號。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之成像方法，其中，上述步驟(b)以及步驟(e)係藉由一接收模組接收該第二超寬頻微波訊號。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之成像方法，其中，該接收模組包含一接收單元以及至少一接收天線，該接收單元係電性連接於該接收天線，該接收天線係用以接收該第二超寬頻微波訊號，藉以將該第二超寬頻微波訊號傳送至該接收單元，據以使該接收單元將該第二超寬頻微波訊號傳送至該訊號處理模組。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之成像方法，其中，該接收天線係一維陣列以及二維陣列排列中之其中一種。
  14. 如申請專利範圍第12項所述之成像方法，其中，該接收天線係設置於一機械掃描裝置，該機械掃描裝置係沿一一維方向以及一二維方向中之其中一種方向移動，藉以使該接收天線於該些量測位置接收該第二超寬頻微波訊號。
  15. 如申請專利範圍第1項所述之成像方法，其中，該些第一被偵測位置係相同或相異於該些第二被偵測位置。
  16. 一種利用超寬頻雷達偵測物體之運動狀態之成像系統，包含：一發射模組，係用以於一初始狀態，於複數個量測位置對一物體之複數個第一被偵測位置發送一第一超寬頻微波訊號，並且用以於一量測狀態，於該些量測位置對該物體之複數個第二被偵測位置發送該第一超寬頻微波訊號；一接收模組，係用以於該初始狀態，於該些量測位置接收自該些第一被偵測位置所反射出之至少一第二超寬頻微波訊號，並且用以於該量測狀態，於該些量測位置接收自該些第二被偵測位置所反射出之該第二超寬頻微波訊號；以及一訊號處理模組，係電性連接於該發射模組以及該接收模組，用以於該初始狀態，解析在該些量測位置接收之該第二超寬頻微波訊號所需之複數個基準訊號延遲時間，據以解析出該些第一被偵測位置與所對應之該些量測位置間之複數個基準距離，藉以產生該物體之一基準灰階影像，並用以於該量測狀態，解析在該些量測位置接收之該第二超寬頻微波訊號所需之複數個量測訊號延遲時間，據以解析出該些第二被偵測位置與所對應之該些量測位置間之複數個量測距離；其中，該訊號處理模組依據該些基準距離以及該些量測距離解析出複數個距離變異量，據以依據該些距離變異量於該基準灰階影像呈現該物體之運動狀態。
  17. 如申請專利範圍第16項所述之成像系統，其中，該訊號處理模組包含一處理單元，該處理單元係用以產生並傳送一數位方波。
  18. 如申請專利範圍第17項所述之成像系統，其中，該發射模組包含一發射單元以及至少一發射天線，該發射單元係電性連接於該處理單元，用以接收該數位方波，藉以將該數位方波調製成該第一超寬頻微波訊號，據以傳送該第一超寬頻微波訊號。
  19. 如申請專利範圍第18項所述之成像系統，其中，該發射天線係電性連接於該發射單元，用以接收該第一超寬頻微波訊號，藉以將該第一超寬頻微波訊號發送至該物體。
  20. 如申請專利範圍第18項所述之成像系統，其中，該發射天線係一維陣列以及二維陣列排列中之其中一種。
  21. 如申請專利範圍第18項所述之成像系統，其中，該發射天線係設置於一機械掃描裝置，該機械掃描裝置係沿一一維方向以及一二維方向中之其中一種方向移動，藉以使該發射天線於該些量測位置發送該第一超寬頻微波訊號。
  22. 如申請專利範圍第16項所述之成像系統，其中，該接收模組包含一接收單元以及至少一接收天線，該接收單元係電 性連接於該接收天線，該接收天線係用以接收該第二超寬頻微波訊號，藉以將該第二超寬頻微波訊號傳送至該接收單元，據以使該接收單元將該第二超寬頻微波訊號傳送至該訊號處理模組。
  23. 如申請專利範圍第22項所述之成像系統，其中，該接收天線係一維陣列以及二維陣列排列中之其中一種。
  24. 如申請專利範圍第22項所述之成像系統，其中，該接收天線係設置於一機械掃描裝置，該機械掃描裝置係沿一一維方向以及一二維方向中之其中一種方向移動，藉以使該發射天線於該些量測位置接收該第二超寬頻微波訊號。
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