TWI447396B - 導電性測試棒 - Google Patents

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TWI447396B
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yue-jiao Li
Chao Wang
Yan Chen
Tai Chen Wang
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Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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Description

導電性測試棒
本發明涉及一種導電性測試棒。
隨著科技的進步，電子設備愈來愈趨向高精度及微型化，故電路板上出現了大量的插針式引腳，用於傳遞各元件之間的訊號。習知的用於測試電路板電氣特性的設備，如萬用表等，其探頭為一尖狀的金屬針體。測試時，需要測試人員一直按住該探頭使得該探頭緊貼待測的插針式引腳，比較麻煩。另，由於各插針式引腳排列緊密，該探頭容易接觸到其他插針式引腳導致各插針式引腳短路，造成測試失誤甚至電路板燒毀。
鑒於以上內容，有必要提供一種方便測試人員進行測試的導電性測試棒。
一種導電性測試棒，包括：
一觸頭，其為金屬材質且一端設一開口，該開口向內凹陷形成一軸向孔，該觸頭的中部向該軸向孔的中心軸凹陷形成一彈性的卡固部；
一連接頭，其固定連接於該觸頭遠離該開口的一端，該連接頭透過一導線與一測試裝置相連；及
一絕緣外殼，該絕緣外殼包覆在該觸頭及連接頭的外表面。
本發明導電性測試棒透過該卡固部卡住該插針式引腳，不需要測試人員一直按住該導電性測試棒。該觸頭外部的絕緣外殼使得各插針式引腳之間不會短路。
請參閱圖1，本發明導電性測試棒10用於接觸一電路板20上的插針式引腳30以測試電路板20的電氣特性。
請一併參閱圖2及圖3，本發明導電性測試棒10的較佳實施方式包括一觸頭100、一連接頭200、一導線300及一絕緣外殼400。
該觸頭100為金屬材質，其一端設一開口120。該開口120向內凹陷形成一軸向孔130，該觸頭100的中部向該軸向孔130的中心軸140凹陷形成一彈性的卡固部110。
該連接頭200固定連接於該觸頭100遠離該開口120的一端，該連接頭200與該導線300焊接並透過該導線300與一測試裝置（圖未示），如一萬用表相連。
該絕緣外殼400包覆在該觸頭100及連接頭200的外表面。該絕緣外殼400與該卡固部110之間形成一間隙420。該絕緣外殼400上於該間隙420對應處開設有複數小孔430。該絕緣外殼400靠近該連接頭200的一端設一通孔440，該導線300穿過該通孔440與後端的測試裝置相連。
本發明導電性測試棒10使用過程如下：
測試人員首先握住導電性測試棒10的絕緣外殼400，使該導電性測試棒10的開口120對準該插針式引腳30，然後按壓該導電性測試棒10使該插針式引腳30從該開口120處插入到該軸向孔130中，該導電性測試棒10的卡固部110卡住該插針式引腳30。該導電性測試棒10卡住該插針式引腳30後，工作人員不需要再按住該導電性測試棒10即能使得該導電性測試棒10與插針式引腳30固定相連。複數小孔430用於使得該間隙420內壓強與外界大氣壓相等，從而使得當插針式引腳30插入軸向孔130時，該卡固部110能輕易變形，其他實施方式中亦可省略複數小孔430。
另，由於該導電性測試棒10的外部為該絕緣外殼400，從而可以避免測試時該導電性測試棒10與其他的插針式引腳30相連通。
本發明導電性測試棒10透過該卡固部110卡住該插針式引腳30，不需要測試人員按住該導電性測試棒10。而該觸頭100外部的絕緣外殼400使得各插針式引腳30之間不會短路。
綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，舉凡熟悉本案技藝之人士，於爰依本發明精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
10‧‧‧導電性測試棒
20‧‧‧電路板
30‧‧‧插針式引腳
100‧‧‧觸頭
200‧‧‧連接頭
300‧‧‧導線
400‧‧‧絕緣外殼
120‧‧‧開口
130‧‧‧軸向孔
110‧‧‧卡固部
420‧‧‧間隙
430‧‧‧小孔
440‧‧‧通孔
圖1係本發明導電性測試棒的使用狀態圖。
圖2係本發明導電性測試棒的立體圖。
圖3係本發明導電性測試棒的較佳實施方式剖視圖。
10‧‧‧導電性測試棒
120‧‧‧開口
300‧‧‧導線
400‧‧‧絕緣外殼
430‧‧‧小孔

Claims (4)

  1. 一種導電性測試棒，包括：
    一觸頭，其為金屬材質且一端設一開口，該開口向內凹陷形成一軸向孔，該觸頭的中部向該軸向孔的中心軸凹陷形成一彈性的卡固部；
    一連接頭，其固定連接於該觸頭遠離該開口的一端，該連接頭透過一導線與一測試裝置相連；及
    一絕緣外殼，該絕緣外殼包覆在該觸頭及連接頭的外表面。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之導電性測試棒，其中該絕緣外殼與該卡固部之間形成一間隙。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之導電性測試棒，其中該絕緣外殼上於該間隙對應處開設有複數小孔。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之導電性測試棒，其中該絕緣外殼靠近該連接頭的一端設一通孔，該導線穿過該通孔與該測試裝置相連。
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