TWI447396B - 導電性測試棒 - Google Patents
導電性測試棒 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI447396B TWI447396B TW098142802A TW98142802A TWI447396B TW I447396 B TWI447396 B TW I447396B TW 098142802 A TW098142802 A TW 098142802A TW 98142802 A TW98142802 A TW 98142802A TW I447396 B TWI447396 B TW I447396B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- contact
- connector
- pin
- conductive test
- test bar
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
本發明涉及一種導電性測試棒。
隨著科技的進步,電子設備愈來愈趨向高精度及微型化,故電路板上出現了大量的插針式引腳,用於傳遞各元件之間的訊號。習知的用於測試電路板電氣特性的設備,如萬用表等,其探頭為一尖狀的金屬針體。測試時,需要測試人員一直按住該探頭使得該探頭緊貼待測的插針式引腳,比較麻煩。另,由於各插針式引腳排列緊密,該探頭容易接觸到其他插針式引腳導致各插針式引腳短路,造成測試失誤甚至電路板燒毀。
鑒於以上內容,有必要提供一種方便測試人員進行測試的導電性測試棒。
一種導電性測試棒,包括:
一觸頭,其為金屬材質且一端設一開口,該開口向內凹陷形成一軸向孔,該觸頭的中部向該軸向孔的中心軸凹陷形成一彈性的卡固部;
一連接頭,其固定連接於該觸頭遠離該開口的一端,該連接頭透過一導線與一測試裝置相連;及
一絕緣外殼,該絕緣外殼包覆在該觸頭及連接頭的外表面。
本發明導電性測試棒透過該卡固部卡住該插針式引腳,不需要測試人員一直按住該導電性測試棒。該觸頭外部的絕緣外殼使得各插針式引腳之間不會短路。
請參閱圖1,本發明導電性測試棒10用於接觸一電路板20上的插針式引腳30以測試電路板20的電氣特性。
請一併參閱圖2及圖3,本發明導電性測試棒10的較佳實施方式包括一觸頭100、一連接頭200、一導線300及一絕緣外殼400。
該觸頭100為金屬材質,其一端設一開口120。該開口120向內凹陷形成一軸向孔130,該觸頭100的中部向該軸向孔130的中心軸140凹陷形成一彈性的卡固部110。
該連接頭200固定連接於該觸頭100遠離該開口120的一端,該連接頭200與該導線300焊接並透過該導線300與一測試裝置(圖未示),如一萬用表相連。
該絕緣外殼400包覆在該觸頭100及連接頭200的外表面。該絕緣外殼400與該卡固部110之間形成一間隙420。該絕緣外殼400上於該間隙420對應處開設有複數小孔430。該絕緣外殼400靠近該連接頭200的一端設一通孔440,該導線300穿過該通孔440與後端的測試裝置相連。
本發明導電性測試棒10使用過程如下:
測試人員首先握住導電性測試棒10的絕緣外殼400,使該導電性測試棒10的開口120對準該插針式引腳30,然後按壓該導電性測試棒10使該插針式引腳30從該開口120處插入到該軸向孔130中,該導電性測試棒10的卡固部110卡住該插針式引腳30。該導電性測試棒10卡住該插針式引腳30後,工作人員不需要再按住該導電性測試棒10即能使得該導電性測試棒10與插針式引腳30固定相連。複數小孔430用於使得該間隙420內壓強與外界大氣壓相等,從而使得當插針式引腳30插入軸向孔130時,該卡固部110能輕易變形,其他實施方式中亦可省略複數小孔430。
另,由於該導電性測試棒10的外部為該絕緣外殼400,從而可以避免測試時該導電性測試棒10與其他的插針式引腳30相連通。
本發明導電性測試棒10透過該卡固部110卡住該插針式引腳30,不需要測試人員按住該導電性測試棒10。而該觸頭100外部的絕緣外殼400使得各插針式引腳30之間不會短路。
綜上所述,本發明符合發明專利要件,爰依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施例,舉凡熟悉本案技藝之人士,於爰依本發明精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
10‧‧‧導電性測試棒
20‧‧‧電路板
30‧‧‧插針式引腳
100‧‧‧觸頭
200‧‧‧連接頭
300‧‧‧導線
400‧‧‧絕緣外殼
120‧‧‧開口
130‧‧‧軸向孔
110‧‧‧卡固部
420‧‧‧間隙
430‧‧‧小孔
440‧‧‧通孔
圖1係本發明導電性測試棒的使用狀態圖。
圖2係本發明導電性測試棒的立體圖。
圖3係本發明導電性測試棒的較佳實施方式剖視圖。
10‧‧‧導電性測試棒
120‧‧‧開口
300‧‧‧導線
400‧‧‧絕緣外殼
430‧‧‧小孔
Claims (4)
- 一種導電性測試棒,包括:
一觸頭,其為金屬材質且一端設一開口,該開口向內凹陷形成一軸向孔,該觸頭的中部向該軸向孔的中心軸凹陷形成一彈性的卡固部;
一連接頭,其固定連接於該觸頭遠離該開口的一端,該連接頭透過一導線與一測試裝置相連;及
一絕緣外殼,該絕緣外殼包覆在該觸頭及連接頭的外表面。 - 如申請專利範圍第1項所述之導電性測試棒,其中該絕緣外殼與該卡固部之間形成一間隙。
- 如申請專利範圍第2項所述之導電性測試棒,其中該絕緣外殼上於該間隙對應處開設有複數小孔。
- 如申請專利範圍第1項所述之導電性測試棒,其中該絕緣外殼靠近該連接頭的一端設一通孔,該導線穿過該通孔與該測試裝置相連。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW098142802A TWI447396B (zh) | 2009-12-15 | 2009-12-15 | 導電性測試棒 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW098142802A TWI447396B (zh) | 2009-12-15 | 2009-12-15 | 導電性測試棒 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201120455A TW201120455A (en) | 2011-06-16 |
TWI447396B true TWI447396B (zh) | 2014-08-01 |
Family
ID=45045183
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW098142802A TWI447396B (zh) | 2009-12-15 | 2009-12-15 | 導電性測試棒 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI447396B (zh) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW213983B (en) * | 1992-07-02 | 1993-10-01 | Ind Tech Res Inst | Electronic testing device |
US5391995A (en) * | 1994-02-01 | 1995-02-21 | Everett Charles Technologies, Inc. | Twisting electrical test probe with controlled pointing accuracy |
TW200634314A (en) * | 2005-03-30 | 2006-10-01 | Mitac Int Corp | Apparatus for preventing ground wire radiation noise from electrical signal measurement probe |
TWM309671U (en) * | 2006-08-18 | 2007-04-11 | Jing-Feng Chen | Conductive probe device |
TWM326154U (en) * | 2007-08-02 | 2008-01-21 | Lung-Sheng Chen | Universal probe signal adapter |
CN101311732A (zh) * | 2007-05-23 | 2008-11-26 | 王松 | 测量用途的电表的表棒 |
-
2009
- 2009-12-15 TW TW098142802A patent/TWI447396B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW213983B (en) * | 1992-07-02 | 1993-10-01 | Ind Tech Res Inst | Electronic testing device |
US5391995A (en) * | 1994-02-01 | 1995-02-21 | Everett Charles Technologies, Inc. | Twisting electrical test probe with controlled pointing accuracy |
TW200634314A (en) * | 2005-03-30 | 2006-10-01 | Mitac Int Corp | Apparatus for preventing ground wire radiation noise from electrical signal measurement probe |
TWM309671U (en) * | 2006-08-18 | 2007-04-11 | Jing-Feng Chen | Conductive probe device |
CN101311732A (zh) * | 2007-05-23 | 2008-11-26 | 王松 | 测量用途的电表的表棒 |
TWM326154U (en) * | 2007-08-02 | 2008-01-21 | Lung-Sheng Chen | Universal probe signal adapter |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201120455A (en) | 2011-06-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9535093B2 (en) | High frequency probe card for probing photoelectric device | |
JP2009537828A (ja) | マルチ・チャネル信号取込みプローブ | |
US20080180120A1 (en) | Probe card | |
TWI541512B (zh) | Use a probe card with a coaxial pin | |
KR101057371B1 (ko) | 검사용 탐침 장치 | |
US20090085591A1 (en) | Probe tip including a flexible circuit board | |
JP6706494B2 (ja) | インターフェース構造 | |
US20190157780A1 (en) | Electrical conductor connection | |
TWI522623B (zh) | Probe module (1) | |
JP5095204B2 (ja) | プローブ収納ボードと、コンタクト機 | |
JP3878578B2 (ja) | コンタクトプローブ、これを用いた半導体及び電気検査装置 | |
TWI506280B (zh) | Probe module (2) | |
TWI447396B (zh) | 導電性測試棒 | |
JP5064522B2 (ja) | 半導体チップ検査用ソケット | |
TWI564567B (zh) | Probe card and its probe module and signal probe | |
JP2007192554A (ja) | 四探針測定用同軸プローブ及びこれを備えたプローブ治具 | |
KR20170066007A (ko) | 포고핀 | |
TW201928356A (zh) | 具有壓縮性彈簧組件的接觸探針 | |
KR20100095142A (ko) | 검사용 소켓 | |
KR20080018520A (ko) | 포고핀 및 이를 이용한 테스트 소켓 | |
KR101160684B1 (ko) | 휴대용 단말기의 알에프 컨넥터 장치 | |
KR101069523B1 (ko) | 회로보드와 회로보드에 구비된 프로브 카드 | |
TWI592077B (zh) | Probe card and its probe module and power probe | |
JP2002333453A (ja) | プローブコンタクタ | |
JPH0648422Y2 (ja) | プローブ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |