TWI442064B - 電波暗室 - Google Patents

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TWI442064B
TWI442064B TW101111978A TW101111978A TWI442064B TW I442064 B TWI442064 B TW I442064B TW 101111978 A TW101111978 A TW 101111978A TW 101111978 A TW101111978 A TW 101111978A TW I442064 B TWI442064 B TW I442064B
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0807—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
    • G01R29/0814—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
    • G01R29/0821—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning rooms and test sites therefor, e.g. anechoic chambers, open field sites or TEM cells

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Description

電波暗室
本發明涉及電磁測試領域，尤其涉及一種電波暗室。
一般的電磁相容（Electromagnetic Compatibility，EMC）測試需要使用電波暗室作為測試場地進行測試。習知的電波暗室一般包括一暗室、一設於該暗室內的測試轉臺及一設有天線的接收機。習知的電波暗室的測試流程：將第一台待測物安裝於測試轉臺上，開啟該第一台待測物並對其進行調試；對該第一台待測物進行測試，天線接收該第一台待測物產生的工作訊號並轉換為電訊號，供接收機讀值，檢測出第一台待測物對空間輻射出的工作訊號強度；將該第一台待測物撤離電波暗室；再將第二台待測物安裝於該測試轉臺上，調試，測試，撤離；再測試第三待測物，依次進行。然而，待測物於安裝、調試及撤離需要用大量的時間，在此期間內，該電波暗室及接收機等設備處於閒置狀態從而導致電波暗室的使用率低。
鑒於以上內容，有必要提供一種能提高使用率的電波暗室。
一種電波暗室，包括一箱體及一支撐架，該箱體的一側壁開設一開口，該支撐架包括一旋轉地裝設於該開口內的遮罩板，該遮罩板的內外兩側壁分別設有一可安裝一待測物的安裝台，當其中一安裝台的待測物於該箱體內進行測試時，另一安裝台的待測物位於該箱體外。
相較習知技術，該電波暗室藉由旋轉遮罩板使設於該遮罩板內外側壁的兩安裝台交替地位於電波暗室內，當一安裝臺上的一待測物位於電波暗室內測試時，另一安裝台位於該電波暗室外可安裝另一待測物，提高了該電波暗室的使用率。
請參閱圖1至圖3，本發明電波暗室100包括一箱體10、一支撐架30及一接收機50。該接收機50設有一用於接收訊號的天線52。
該箱體10內形成一容置空間15，該箱體10的內表面設有吸波材料17。該箱體10的一側壁14開設一方形的開口16。該開口16的左右兩側壁分別設有一彈性的橫截面呈弧形的凸條142。該開口16的頂壁及底壁的中部相對地分別開設一軸孔144。
該支撐架30包括一方形的遮罩板32及兩分別垂直設於該遮罩板32內外側壁的支撐板34。每一支撐板34呈半圓形，設有可承載一待測物500的安裝台345。該遮罩板32的內側及外側分別設有吸波材料17。該遮罩板32的左右側壁自上而下分別設一弧形的定位槽325。該遮罩板32的頂壁及底壁對應地分別突設一可轉動地收容於箱體10的軸孔144內的轉軸327。
使用時，將一待測物500安裝於該支撐架30的其中一安裝台345並進行調試，旋轉該支撐板34使該遮罩板32沿轉軸327旋轉，至凸條142卡入遮罩板32對應的定位槽325內。此時，該待測物500位於箱體10的容置空間15內並正對天線52以使接收機50對其進行測試，位於箱體10外部的安裝台345可安裝另一待測物500。當箱體10內的待測物500測試完成後，將該遮罩板32旋轉180度，使箱體10外的另一待測物500旋入箱體10內進行測試。如此，使得該電波暗室100的閒置時間大大減少，提高了該電波暗室100的使用率。
綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，舉凡熟悉本案技藝之人士，於爰依本發明精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
100．．．電波暗室
10．．．箱體
30．．．支撐架
14．．．側壁
15．．．容置空間
17．．．吸波材料
16．．．開口
142．．．凸條
144．．．軸孔
50．．．接收機
52．．．天線
32．．．遮罩板
34．．．支撐板
325．．．定位槽
327．．．轉軸
500．．．待測物
345．．．安裝台
圖1係本發明電波暗室較佳實施方式的立體分解圖。
圖2係圖1的組裝圖。
圖3係圖2中沿III-III方向的剖視圖。
14．．．側壁
15．．．容置空間
17．．．吸波材料
142．．．凸條
50．．．接收機
52．．．天線
34．．．支撐板
325．．．定位槽
500．．．待測物
345．．．安裝台

Claims (6)

  1. 一種電波暗室，包括一箱體及一支撐架，該箱體的一側壁開設一開口，該支撐架包括一旋轉地裝設於該開口內的遮罩板，該遮罩板的內外兩側壁分別設有一可安裝一待測物的安裝台，當其中一安裝台的待測物位於該箱體內進行測試時，另一安裝台的待測物位於該箱體外。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之電波暗室，其中該遮罩板的內外兩側壁分別設一用於固定對應的安裝台的支撐板。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之電波暗室，其中該遮罩板的內外兩側壁分別設有吸波材料。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之電波暗室，其中該遮罩板的頂壁及底壁的中部樞接於該開口的頂壁及底壁。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之電波暗室，其中該開口的頂壁及底壁分別開設一軸孔，該遮罩板的頂壁及底壁分別設有一可旋轉地收容於對應的軸孔內的轉軸。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之電波暗室，其中該開口左右側壁分別向該開口內延伸一彈性的凸條，該遮罩板的左右側壁分別設一收容對應凸條的定位槽。
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