TWI436046B - 多層膜箱及多層膜箱之洩漏測試方法 - Google Patents

多層膜箱及多層膜箱之洩漏測試方法 Download PDF

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Description

多層膜箱及多層膜箱之洩漏測試方法
本發明係關於一多層膜箱之洩漏測試。特定而言,本發明係關於一種可用於洩漏測試一多層膜箱之次級膜而無需移除初級膜的方法。
在工業上的多種領域中使用多層膜箱來容納多種氣體、液體或固體材料。此類型箱包括一承載結構,其提供機械剛性;一初級膜,其用以與容納於箱內之產品接觸;及一次級膜,其配置於初級膜與承載結構之間。次級膜用以在初級膜中洩漏之情況下容納該產品。
存在用於診斷次級膜之緊密性的多種方法。在測試期間,若證明次級膜非符合規格,則必須修復此膜。目前,定位任何非符合性而無需移除初級膜並非一項簡單的任務且有時不精確。
例如,在文件FR 2 517 802及WO 2007/144458中,係藉由分析氣體組成而偵測非符合性。為了定位非符合性,有必要提供使氣體逸出以在多種點進行分析的許多管子。因此,此需要一複雜、昂貴的結構且該結構之精度有限。
FR 2 531 516描述一種用於偵測液化氣體箱之初級膜中的洩漏,在該液化氣體箱中,因為二氧化碳冰塊之熱慣性,所以在初級膜往回加熱時,在-160℃下已於初級膜之外部面上固化的二氧化碳冰塊被偵測為冷點。但是,很難使一光學相機或一溫度計可在此方法中使用之極低溫度下運作。
本發明意欲解決之一問題係提供一種並不具有至少一些先前技術之前述缺點的測試方法。特定而言,本發明的一目的係容許定位該次級膜的非符合性而無需移除初級膜或承載結構。本發明之另一目的係容許使用簡單的一結構定位次級膜的非符合性且明顯無需許多管子。
由本發明之一實施例提出之解決方法係一種箱之洩漏測試之方法,該箱包括一承載結構;一初級膜,其用以與容納於箱內之產品接觸;及一次級膜,其配置於初級膜與承載結構之間,其中初級膜與次級膜之間的空間稱作初級空間且次級膜與承載結構之間的空間稱作次級空間,初級空間容納係不可冷凝或具有低於初級膜之平均溫度的一冷凝溫度的一第一氣體。此方法包括由以下各項組成之步驟:
-將一第二氣體注入至次級空間中,該第二氣體具有高於初級膜之平均溫度的一冷凝溫度,
- 在該次級空間中產生一相對於該初級空間中之壓力係升高的壓力,及
- 偵測可能出現於該初級膜上之任何熱點,該等熱點相應於在與該初級膜接觸之後已冷凝的該第二氣體的一沈積物。
藉由此等特徵,在次級膜之非符合性的情況下,第二氣體逸入初級空間中且在洩漏附近與初級膜接觸。因為第二氣體具有高於該初級膜之平均溫度的一冷凝溫度,所以該第二氣體冷凝且藉此以熱形式將相應於其狀態變化之潛熱的能量轉移至初級膜。因此,在初級膜上產生一熱點。偵測箱內部的此熱點容許定位次級膜之非符合性。
有利的是,在大體上與產生次級空間中的升高壓力同時的一偵測週期期間,或在此產生之後(但在膜的多種區域之間的溫度已完全均衡之前)立即實行偵測。
可選擇第二氣體,使得其冷凝成一固體或液體形式。然而,一液相之形成的確具有在此沈積物形成於與洩漏氣體相對處時,容許經沈積的冷凝氣體逐漸運行之優點。因此,可藉由維持次級空間中之壓力達到一段明顯長的時間(例如一或更多分鐘)來更容易地持續冷凝反應。隨著時間如此維持源自冷凝反應之熱點的可能性使得偵測此熱點容易得多,尤其當該熱點展現有限之對比時。
根據一實施例,該次級空間中的該升高壓力維持長於10分鐘的一持續時間。
較佳的是,該方法涉及將初級膜冷卻至低於環境溫度的一平均溫度。此容許對冷凝條件的良好控制。
在一有利實施例中,在高於-5℃(較佳的是高於0℃)之一膜平均溫度下執行該方法。因此,可在很少限制及有限能量消耗的實際條件下實行該方法。
有利的是,第二氣體係一混合物,該方法涉及產生具有取決於初級膜之平均溫度之一組成的混合物。此意謂著冷凝溫度可經調適以適應(例如)環境溫度或初級膜之平均溫度。較佳的是,以此方式獲得的第二氣體之冷凝溫度處於平均溫度與環境溫度之間。
根據一實施例,第二氣體係戊烷及/或全氟戊烷及氮氣的一混合物。此等氣體尤其適於其中以次級空間係在環境溫度開始及其中目的係在與初級膜接觸之後獲得一液相的一測試。
較佳的是,使用至少一溫度感測器及/或至少一紅外線偵測器偵測可出現於初級膜上之任何熱點,該至少一溫度感測器及/或至少一紅外線偵測器係配置於該箱之內部。
根據一實施例,用能大體上消除該箱之內部的該初級膜之表面的鏡狀反射性的一塗層暫時性覆蓋該表面,且使用一熱感相機偵測該等熱點。例如,該塗層可包含水滴。
有利的是,該方法包括由以下各項組成之步驟:自初級空間移除第一氣體及自次級空間移除第二氣體;且將該初級膜加熱至環境溫度。此容許修復箱或若已偵測到非符合性,則在測試之後開始維修箱。
本發明亦提出一種箱,該箱包括一承載結構;一初級膜,其用以與容納於該箱中之一產品接觸;及一次級膜,其配置於該初級膜與該承載結構之間,其中該初級膜與該次級膜之間的空間稱作初級空間且該次級膜與該承載結構之間的空間稱作次級空間,該箱的特徵為其包括:
- 一第一注入器,其可將一第一氣體注入至該初級空間中,該第一氣體係不可冷凝或具有低於該初級膜之平均溫度的一冷凝溫度,
- 一第二注入器,其可將一第二氣體注入至該次級空間中,該第二氣體具有高於該初級膜之平均溫度的一冷凝溫度,
- 一加壓裝置,其可在該次級空間中產生一相對於該初級空間中之壓力係升高的壓力,及
- 一偵測器,其可偵測可出現於該初級膜上之任何熱點。
此箱適於實施根據本發明之一實施例的測試方法。
根據一實施例,該第二氣體係一混合物,該第二注入器可產生具有一組成的該混合物,該組成係被決定為該初級膜之平均溫度之一函數。
根據一實施例,該初級空間及該次級空間容納一絕熱材料,其中該箱可容納液化天然氣。例如,該箱可為一陸基箱或併入於一船中的儲存箱。
在下文描述藉由非限制性圖解及參考附圖唯一地給定的本發明之一特定實施例的以下描述之過程期間,將更能理解本發明,且本發明之其他目的、細節、特徵及優點將變得更清晰明白。
圖1描繪一壁1,該壁1之平均溫度係Tm。如箭頭2所描繪,在壓力P下一氣體開始與壁1接觸。若氣體之冷凝溫度Tc高於溫度Tm,則氣體將以一液體或固體沈積物3之方式冷凝。藉此,氣體以相應於其冷凝之潛熱的熱的形式將能量轉移至壁1。藉由箭頭4表示此熱轉移。因此,壁1局部性地具有高於Tm之一溫度T。當控制溫度Tm、壓力P及氣體之本質時,冷凝被認為係強制性冷凝。
氣體可為:
- 一純氣體,該氣體之本質物理性質相應於所期望之冷凝溫度。
- 一不可冷凝氣體及一可冷凝氣體之一混合物,該混合物之濃度係經控制以調適冷凝溫度。明確言之,如圖2之圖所示,具有一冷凝溫度Tp之一純氣體在一不可冷凝氣體中被稀釋成濃度X%之後將具有低於Tp之一冷凝溫度Tc。
- 若干可冷凝氣體之一混合物,該等可冷凝氣體在組合之後具有一期望之冷凝溫度Tc。
現在參考圖3至圖5解釋其中強制性冷凝之原理容許在多層膜箱之次級膜中偵測一洩漏的方式。
箱5包括一承載結構6,其提供機械剛性;一初級膜8,其用以與容納於箱5中之產品接觸;及一次級膜7,其配置於該初級膜8與該承載結構6之間。位於初級膜8與次級膜7之間的空間稱作初級空間10。位於次級膜7與承載結構6之間的空間稱作次級空間9。
將不會詳細描述箱5之製造,因為熟悉此項技術者明白若干選擇。例如,箱可為使用已知技術製造之一LNG箱。若箱為LNG箱,則在初級空間10及次級空間9中存在絕熱材料。
箱5亦包括藉由一管子12連接至初級空間10的一注入器11、藉由一管子14連接至次級空間9的一注入器13、藉由一管子16連接至箱5內部的一冷卻裝置15及分別將箱內部、初級空間10及次級空間9連接至一排氣及壓力管理裝置的管子17。如下文中所描述,前述組件容許偵測及定位次級膜7中之一洩漏18。
根據本發明之一實施例的洩漏測試方法需要依次進行調節該箱用於測試、實際測試、接著解調節該箱。
調節用於測試之箱涉及:
- 調節初級膜之溫度以達成一期望之溫度。此可使用氣候控制裝置或藉由將一液體冷卻劑注入至箱5中來執行。例如,冷卻裝置15將液態氮注入至箱5中。理想的是,在此步驟之後,初級膜之溫度係均勻的。但是,因為多種熱應力,初級膜可具有一略微不均勻的溫度。因此,在下文中,提及初級膜之平均溫度Tm。
- 將一中性氣體注入至初級空間10中。一中性氣體意謂著在溫度Tm下並不冷凝的一氣體,因為其為一不可冷凝氣體或因為其冷凝溫度低於Tm。此可使用注入器11或在環境空氣之案例中,藉由將初級空間放置成與大氣連通來完成。
- 將一反應性氣體注入至次級空間9中。一反應性氣體意謂著在高於Tm之一溫度下冷凝的一氣體。如上文所解釋,此可為一純氣體或一混合物。此可使用注入器13來完成。
可同時或以任何順序連續地執行上文提及之三個步驟。
測試自身涉及增加次級空間9中之反應性氣體的壓力及有利地從箱內部偵測可能出現於初級膜8上之任何熱點。
明確言之,如圖3中更詳細地繪示,若次級膜7具有一洩漏18,則由於次級空間9與初級空間10之間的壓力差,反應性氣體逸出進入至初級空間10中。此藉由雲圖19及箭頭20之符號來表示。
因此,在洩漏18處,反應性氣體開始與初級膜8接觸且形成冷凝物21。藉此,如上文所解釋,反應性氣體將熱轉移至初級膜8,因此該初級膜8的局部溫度比溫度Tm高。藉由偵測此熱點22,可定位洩漏18。可(例如)使用配置於箱內部的一溫度感測器或藉由偵測經發射的紅外線輻射之一感測器來偵測熱點22。
解調節用於測試之箱涉及:
- 自初級空間10移除氣體。此可明顯藉由使用管子17之一者,藉由對此空間抽氣且接著填充該空間(若需要),或藉由用當維修時意欲容納之氣體清掃該空間來完成。
- 自次級空間9移除反應性氣體。此可明顯藉由使用管子17之一者,藉由對此空間抽氣且接著填充該空間(若需要),或藉由用當維修時意欲容納之氣體清掃該空間來完成。
- 升高初級膜之溫度。此可使用氣候控制裝置或藉由與環境溫度下的氣體對流來完成。
可同時或以任何順序連續地執行上述三個步驟。
在一例示性實施例中,中性氣體係氮氣且反應性氣體係體積佔50%之氮氣與體積佔50%之戊烷的一混合物。在大氣壓力及環境溫度下戊烷係液體。該戊烷之汽化溫度係36℃。在上述混合物中,其冷凝成液相的冷凝溫度下降至約18℃。
例如,用於測試之箱5係甲烷或體的一儲存箱,該儲存箱之初級膜8係處於25℃的環境溫度。冷卻儲存箱內部,使得初級膜具有10℃的一平均溫度Tm。因為絕熱,次級空間9中的溫度高於20℃。因此,氮氣/戊烷的混合物可注入至次級空間9中而無需冒著其會冷凝之風險。接下來,產生幾毫巴的一升高壓力。氮氣/戊烷混合物在洩漏18處進入初級空間10且在與初級膜8接觸之後冷凝,產生一熱點。
此外,可修改在氮氣中稀釋戊烷之程度以調適戊烷之冷凝溫度。因此,若環境溫度係(例如)35℃或10℃,可藉由調適溫度Tm及稀釋戊烷之程度來實行測試。
為了完成此,有利地的係注入器13可產生具有所期望比例的一混合物。例如,如圖5中所示,注入器13包括用以容納載體氣體(在上述實例中之氮氣)的一儲氣罐23及用以以液體形式容納可冷凝氣體(在上述實例中之戊烷)的一儲氣罐24。分別藉由一管子25及藉由一管子26將此兩個儲氣罐連接至其中產生混合物的蒸發器30。蒸發器30係藉由管子14連接至次級空間9。一控制裝置29藉由對蒸發器30及對分別配置於管子25及26上之兩個流量計27及28作用來提供對稀釋戊烷之程度的控制。
根據所期望之冷凝溫度,可選擇許多其他氣體。例如,可使用全氟戊烷來至少部分代替上述實例中之戊烷且全氟戊烷因其低可燃性而證明更安全。
在其中初級膜處於正溫度且其中紅外線相機用於偵測熱點之實施例中,有利的是在箱調節階段,用水滴(例如藉由用蒸汽串流清掃膜表面)塗布膜內部,以形成明顯減少表面鏡狀反射性的一擴散層。此一擴散或失透塗層可改良使用一紅外線相機量測膜表面之局部發射性。
雖然已連同一特定實施例描述本發明,但十分清楚的是並不以任何方式限制本發明且本發明涵蓋在本發明範疇內的所描述之方法的所有技術等效例及其等組合。
1...壁
2...箭頭
3...液體或固體沈積物
4...箭頭
5...箱
6...承載結構
7...次級膜
8...初級膜
9...次級空間
10...初級空間
11...注入器
12...管子
13...注入器
14...管子
15...冷卻裝置
16...管子
17...管子
18...洩漏
19...雲圖
20...箭頭
21...冷凝物
22...熱點
23...儲氣罐
24...儲氣罐
25...管子
26...管子
27...流量計
28...流量計
29...控制裝置
30...蒸發器
圖1係圖解說明強制性冷凝之原理的一圖;
圖2係圖解說明成為一氣體混合物中之一氣體濃度的一函數的該氣體冷凝溫度之圖形;
圖3係測試緊密度中的一箱之一壁的一截面圖;
圖4係適於實施根據本發明之一實施例的測試方法的一箱的圖式;及
圖5示意性描繪圖4的諸組件之一。
6...承載結構
7...次級膜
8...初級膜
9...次級空間
10...初級空間
18...洩漏
19...雲圖
20...箭頭
21...冷凝物
22...熱點

Claims (16)

  1. 一種箱之洩漏測試(5)之方法,該箱包括一承載結構(6)、用以與容納於該箱中之一產品接觸的一初級膜(8)及配置於該初級膜與該承載結構之間的一次級膜(7),其中該初級膜與該次級膜之間的空間稱作初級空間(10)且該次級膜與該承載結構之間的空間稱作次級空間(9),該初級空間包含為不可冷凝或具有低於該初級膜之平均溫度的一冷凝溫度的一第一氣體,該方法包括由以下各項組成之諸步驟:將一第二氣體注入至該次級空間中,該第二氣體具有高於該初級膜之該平均溫度的一冷凝溫度,在該次級空間中產生一相對於該初級空間中之壓力為升高的壓力,及偵測可出現於該初級膜上之任何熱點(22),該等熱點相應於在與該初級膜接觸之後已冷凝的該第二氣體的一沈積物。
  2. 如請求項1之洩漏測試的方法,該方法的特徵為該第二氣體在與該初級膜接觸之後冷凝成一液體形式。
  3. 如請求項1或2之洩漏測試的方法,該方法的特徵為在大體上與產生該次級空間中的升高壓力同時的一偵測週期期間實行偵測。
  4. 如請求項3之洩漏測試的方法,其中該次級空間中的該升高壓力係維持長於10分鐘的一持續時間。
  5. 如請求項1之洩漏測試的方法,該方法涉及將該初級膜 冷卻至低於環境溫度的一平均溫度。
  6. 如請求項5之洩漏測試的方法,其中該初級膜之該平均溫度高於-5℃。
  7. 如請求項6之洩漏測試的方法,其中該初級膜之該平均溫度高於0℃。
  8. 如請求項5至7中之任一項之洩漏測試的方法,其中該第二氣體係一混合物,該方法涉及產生具有取決於該初級膜之該平均溫度之一組成的該混合物,使得該第二氣體之該冷凝溫度處於該平均溫度與環境溫度之間。
  9. 如請求項1或2之洩漏測試的方法,其中該第二氣體係戊烷及/或全氟戊烷及氮氣的一混合物。
  10. 如請求項1或2之洩漏測試的方法,其中使用至少一溫度感測器及/或至少一紅外線偵測器偵測可能在該初級膜上之任何熱點,該至少一溫度感測器及/或該至少一紅外線偵測器係配置於該箱之內部。
  11. 如請求項1或2之洩漏測試的方法,其中用能大體上消除該箱之內部的該初級膜之表面的鏡狀反射性的一塗層暫時性覆蓋該表面,且使用一熱感相機偵測該等熱點。
  12. 如請求項11之洩漏測試的方法,其中該塗層包含水滴。
  13. 如請求項11之洩漏測試的方法,該方法包括由以下各項組成之諸步驟:自該初級空間移除該第一氣體及自該次級空間移除該第二氣體,將該初級膜加熱至環境溫度。
  14. 一種箱(5),其包括一承載結構(6)、用以與容納於該箱中之一產品接觸的一初級膜(8)及配置於該初級膜與該承載結構之間的一次級膜(7),其中該初級膜與該次級膜之間的空間稱作初級空間(10)且該次級膜與該承載結構之間的空間稱作次級空間(9),該箱(5)的特徵為其包括:一第一注入器(11),其可將一第一氣體注入至該初級空間中,該第一氣體係不可冷凝或具有低於該初級膜之平均溫度的一冷凝溫度,一第二注入器(13),其可將一第二氣體注入至該次級空間中,該第二氣體具有高於該初級膜之該平均溫度的一冷凝溫度,一加壓裝置,其可在該次級空間中產生一相對於該初級空間中之壓力係升高的壓力,及一偵測器,其可偵測可能出現於該初級膜上之任何熱點(22),該等熱點(22)相應於在與該初級膜接觸之後已冷凝的該第二氣體的一沈積物。
  15. 如請求項14之箱,其中該第二氣體係一混合物,該第二注入器可產生具有被決定為該初級膜之該平均溫度之一函數的一組成的該混合物,使得該第二氣體之該冷凝溫度處於該平均溫度與環境溫度之間。
  16. 如請求項14及15中之一項的箱,其中該初級空間及該次級空間容納一絕熱材料,其中該箱可容納液化天然氣。
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