TWI380289B - Method for detecting blank area of power calibration area - Google Patents

Description

九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於-種光學儲存媒體（opticaI st。叫

Med…技術’且特別是有關於一種偵測功率校正區之 空白區域的方法。 【先前技術】 現在的燒錄技術中’為了減少燒錄失敗，並使燒錄的 貪料更加穩定，通常在燒錄之前會先作最佳功率校正 (Optimum P〇wer Canbrati〇n，〇pc )。透過執行最佳功率 控制程序，得以找出-組適合此張光碟片燒錄的最佳雷射 功率，使得燒錄後刻在光碟片上的射頻抖動 值（jme"alue)或解碼錯誤率都可獲得較佳的抑制，進 而達成最佳燒錄品質。 —但是’於光碟片上執行最佳功率控制程序的位置係在 母-種光碟片的規格書上都有詳細的規範，並非任意的位 置都可執行i於可錄式光碟片（re_dab|edis〇而古， 例如：CD_R、DVD + R、DVD β 垃味 口 D~R…寻4 ’因只能燒錄一次， 右在貢料區（dataarea)劫； ，執仃取佳功率控制程序，之後， 便無法將正式的資料正確地 ^, 也乂錄下去。而對於可覆寫式光 啼朽(rewriteable disc)而士 ,., ^ π 5 ，例如 CD_RW、DVd + rw、 DVD-RW、DVD RAM...等茸，LL 從i 此種光碟片雖可重複燒錄’ 但若每—次燒錄皆在資料 a r' ^ 執仃一次取佳功率控制程序 广就會大大地增加燒錄所需的時間。雖然光 夕不同的規格，但規定執行最佳㈣校正的區域稱為功率 1380289 校正區（power calibration area，Ργα、 A ) ’大致可以分在兩 個位置：導入區（丨ead-inarea)與導出區（丨ea“utarea)， 亦即是光碟片的最内圈與最外圈。 -般規格書定義最佳功率控制程序有兩種方法1方 法與7方法m主要是應用在-次可錄式光碟片，而 主要是應用在可覆寫式光碟片。以下簡略地介紹万 方法與T方法的原理。 第以〜1(：圖分別是利用三種不同雷射功率燒錄 後’再將資料讀回時所呈現的三種 ' :二】C圖，不同功率的雷射光會造成不同深淺的 :頻訊號，尤其是對較短的射頻訊號（如3Τ)的 即是利用幾個不同功率的雷射光燒錄:j試 广丨功率板正區4里，接著’再利用射頻訊號的對稱性來 p〇werpw〇)〇 曰内也同時定義了卜(A1+A2)/(A1傅因此 於零時，射頻訊號最對稱，亦即抖動值或解碼 决车為敢小。如第1Α圖中，丨A1丨 < 丨Α2丨^ 表示所使用的雷射功”係小於最 <〇’ 第1B圖中，！ A1 |二| ， 刀丰Pwo。而在 射功率P的〃 ’ 1，石与〇，表示所使用的雷 A1| >丨’八寻於最佳燒錄功率〜。至於第1C圖中，丨 於最佳燒錄功率表示所使用的雷射光功率p係大 計心= 的方式與…相似但測量與 佳功率的！弟2…6圖分別是利用…定義最 力革的不意圖。請參考第2A圖與第2" 7 1380289 義Μ為調變振幅（m〇dl^ati〇nampiitude)，其數學气定義 如下： ~ EQ1 EQ2 M = I14/I14H............... 另外， 了的數學式定義如下：

dm P

γ =-.........

接下來，請參考第2B圖，第2B圖是r與寫入功率的 關係圖。而最佳寫入功率的決定如下：

Ptarget = PW (位於 T Iargei 的功率）。

Pw〇= p xPlarget，其中，Pw〇為最佳寫入功率，p為乘 積因子（multiplication factor)。 PE0= £ xPW0，其中，Pe〇為最佳抹除功率，已為比例 因子（erase/write power ratio)。 其中r ,arget、。與£之值可以藉由讀取導入區内預製 螺旋溝漕的絕對時間資訊（ATIP )取得。 、、 第3圖是習知最佳功率校正的示意圖。請參考第3 圖’在進行最佳功率校正，大致上包括下列幾個步驟： 第一步驟：首先從光碟片的導入區内預製螺旋溝清的 絕對時間2訊（ATIP)取得一些參數如^r__.. 等’並計算出應試寫的雷射功率範圍。 第一步驟.產生隨機的八變換成十四調變（Eight to Fourteen M〇dulation，EFM)訊號並以如圖所示的15階梯 試寫功率P01〜P15在導入區内的功率校正區（p〇wer Calibration Area，PCA)中試寫。 8 1380289 區中的上述隨機的八 —次可錄式光碟片） 出最佳的寫入功率 第三步驟：將已記錄在功率校正 變換成十四調變訊號讀回，並由石（ 或r (可覆寫式光碟片）法則計算 Pwo。在第3圖中以点法作為舉例。 第四步驟：結束最佳功率校正的程序 〜以目前的光碟燒錄技術來說，早已經有多次燒錄的技 術，因此，當碟片仍有未寫入的空白區且該

結，則可以進行接續燒錄。也因此，需要對該碟片重新2 行最佳功率校正的程序。進行第二次最佳功率校正的程序 需要在導入區或導出區重新搜尋一個空白的區域，以作為 新的功率校正區，並在此新的功率校正區重新進行上面4 個步驟。然而，進行第二次最佳功率校正的程序常會遇到 下列兩個缺點： (1 )由於前次最佳功率校正與最佳聚焦位置校正時 飼服狀態不佳、施打的功率過小或聚焦位置偏離最佳聚焦 點’造成射頻訊號的成形不佳’或射頻訊號的振幅過小， 進而造成當進行空白區域偵測（B 1 a n k D e t e c t: i ο η )時，將 已經燒錄過的區域（也就是已經被用來進行最佳功率校正 後的區域）誤判成空白區域。 (2 )因為空白區域偵測電路的效能或參數的設計值 不佳’造成將已經燒錄過的區域（也就是已經被用來進行 最佳功率校正後的區域）誤判成空白區域。 由上述（1 )與（2 )可以知道，若是將燒錄過的區域 誤判成空白區域，接著實施的最佳功率校正與最佳聚焦位 置校JL，則會重複燒錄於這段已燒錄過的區域，造成最佳 9 1380289 功率校正與最佳聚焦位置校正的結果有所偏差或校正程 序失敗’進而造成於資料區（Data Area )燒錄時所使用的 燒錄功率或聚焦位置不佳，最終導致燒錄品質不佳或難以 回讀等後果。而此可知，空白區域偵測的正確性與最佳功 率校正與最佳聚焦位置校正息息相關，所以正確與穩定的 空白區域偵測相當重要。 【發明内容】 有鑒於此，本發明之一目的就是在提供—種功率校正 =:空白區域的摘測方法’可以有效增加空白區域偵測的 〜疋度，並且減少空白區域偵測的時間。 為達上述或其他目的’本發明提出一種功率校正區之 = = = :法，此方法包括下列步驟:在光碟片之 二：4疋一測試燒錄區域;對測試燒錄區域進行 = = = =—，其…檢測 燒錄區塊;接T來，判斷此：測:::::少-單位之已 域，則重複上述步.驟=之；燒錄區塊中具有非空白區 區塊之未燒錄區塊皆為空白^曰=復流程。若上述檢測 空白區域。 &域，則判定測試燒錄區域為 本發明另外福Φ « 方法，此方法包括T q /功率扠正區之空白區域的偵測 匕枯下列步驟：在#紲μ 定-測試燒錄區域；用複數個正“、之功率校正區中選 在測試燒錄區域中U ^ ;率以及檢測功率施打 形成複數個正常區塊與複數個檢測 10 1380289 區塊’其中每一檢測區塊包含一單位之未燒錄區塊與一單 位之已燒錄區塊，並且利用施打具有相同刻錄功率之上述 正常功率並藉由每次改變一單位的聚焦位置，而形成複數 個正常區塊；捿下來，判斷上述檢測區塊之未燒錄區塊是 否為空白區域。若上述檢測區塊之未燒錄區塊中具有非空 • 白區域’則重複上述步驟或進入一錯誤恢復流程。若上述 . 檢測區塊之未燒錄區塊皆為空白區域，則判定上述所選定 之測试燒錄區域為空白區域。 # 為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯 易懂’下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說 明如下。 【實施方式】 本發明利用簡易的二分法方式（binary search)先選定 測試燒錄區域後，再利用本發明的方法去進一步確認此次 所尋找的區域為完整的空白區域。若上述尋找的區域非完 ^ 整的空白區域’則再次移動光學頭以尋找另一空白區域， 並再次利用本發明的方法以進一步確認上述區域是否為 . 凡整的空白區域，若確認上述搜尋的區域為完整的空白區 域’則進一步利用回讀在此測試燒錄區域中的資訊以作為 最佳功率校正與最佳聚焦位置校正的依據。因此，利用本 啦明偵測功率校正區之空白區域的方法，可準確偵測空白 區域’以確保所施行的最佳功率校正或最佳聚焦位置校正 是可信的。以下便以實施例以說明本發明的精神。 第4圖是根據本發明實施例之流程圖。第$圖是根據 1380289 本發明實施例之施加丨5階 力率的示思圖。請同時來考望 4圖以及第5圖，在說明壯古.+ " ^ 月此方法之前，假設利用此方法的 光碟片為已經燒錄過，作β „ ^ 疋仍未完結的光碟片。此種光磾 片的特性為，在導入區戋導 系 曰u M古 次導出區的某一些區域已經進行過 取佳功率校正的燒錄，因 、 ± 备品要再次利用功率校正p· 後續最佳功率校正或最佳！t為完整的空白區域’以確保 發明之空白區域的…：焦位置校正的準確性。使用本

包士 貞測方法於光學頭之最佳功率校正裎 序時，包含下列步驟： 1仅止矛王 步驟S 4 0 1 :開始。 步驟S402:對光碟片進行一簡易的空白區塊搜尋。 ::光碟片可進行最佳功率校正與最佳聚焦位置的位置 在導入區或導出區，因此僅Α μ 山方 僅在上述功率校正區域進行簡易 空白區塊搜尋。 步驟S403:在簡易搜尋後，選定一測試燒錄區域。 步驟S404 :以複數階功率對測試燒錄區域進行燒錄。 請參考第5圖，以進行最佳功率校正程序為例，用由正常 功率與檢測功率所組成@15階功率施加在測試燒錄區域 上亚相應形成正常區塊與檢測區塊。依據本發明的實施 例’係在燒錄過程時，插入幾個檢測功率來進行燒錄，以 在則·>式燒錄區域形成檢測區塊5 〇 1、5 〇2、53。換句話說， 右上述步驟S403所選定的測試燒錄區域是完全空白的’ 城幾個檢測區塊50丨、502、503應當也是空白的。 依照本發明較佳實施例，形成檢測區塊的步驟包含·· (a) Γ將每階檢測功率設定為由—單位的讀取功率以 12 1380289 及一早位的刻錄功率所組成，當施加在測試燒錄區域上會 相應產生檢測區塊； s (b)可將每階的檢測功率設定成一單位為刻錄功率以 及另I單位的功率則利用降低各組類比通道的功率輸出 使此單位之總輪出功率施加在測試燒錄區域上時，不足以 形成坑洞或刻痕（Pit/Mark)，以相應產生檢測區塊；或者 ^ (c)在施加檢測功率時，可在施打其中一單位功率時將 聚焦位置或光學頭傾斜角度偏離到不足以在碟片上妒 坑洞或刻痕的程Η施打另一單位日寺，則維持正常的取 焦位置與光學頭傾斜角度，以相應產生檢測區塊。永 由上述可知，每一檢測區塊中會有一單位長度為已 錄區塊，另一單位長度為未燒錄區塊。因此，根據本發： 的另-實施例可進一步利用此檢測區塊中未燒錄區塊 對應的貧訊作為判斷所選之測試燒錄區域是否為空白。 域的依據；而檢測區塊中已燒錄區塊以及上述正常=區 對應的資tfl ’則作為計算最佳功率的依據。 …鬼所 在 舉例來說，當運用本發明於最佳功率校正程序時，A 打階功率至測試燒錄區域。其中，第一階功率設施 14 mW ’在區塊A50l施打2單位的功率，：：為 個2單位長度的正常區塊；第五階功率設定為】2謂成〜 區塊A505的後段施打一單幻2 _的功率，另—。 則例如可設定為讀取功率，故區塊5〇1構成—檢^ 塊。如圖5"斤示可知，碟片上之每一檢測區塊中，龙區 之-的單位長度係未燒錄的區塊。所屬技術領域:;中 知識者應當知道’此種最佳功率校正程序中的燒錄方 13 1380289 燒錄時間以及燒錄的功率大小，一般都已經預設在韌體 中。另外’施打檢測功率的位置與數量係可視需要而改 變’或可隨機選取，上述功能皆可預設在韌體中。 步驟S405 :檢查檢測區塊中未燒錄的區塊5〇1、502、 5 03是否為空白區塊。由於在步驟S403特別在區塊501、 502、503用桧測功率進行，因此，若步驟S403所選定的 測試燒錄區域為完全空白的區域，則每個檢測區塊50 1、 5 02 ' 5 03中的未燒錄區塊應當為空白，因此，就表示此 次的最佳功率校正為可信的，此時便進行下一步驟S408。 右檢測區塊之未燒錄區塊501、502、503其中任何一個被 判疋為非空白區域’則則回到步驟S4〇2，重新選定另一 ’則试燒錄區域並重複上述步驟或進入錯誤恢復流程。 在本發明的實施例中’其中，藉由回讀該些檢測區塊 中未燒錄區塊的資訊’可判定該些檢測區塊是否為空白區 塊，其中吓利用的資訊包含：射頻訊號（RF Signal)、波峰 (I eak II〇ld Value )、波谷值（Bottom Hold Value )、抖 力（ Jitter Value )、錯誤率（£rr〇r Rate VaIue )以及空 白偵測電路的刻錄指標（Rec〇丨F丨叫），將上述回讀之 資1預。又值（1 hresh〇ld Value )相比，以判定該些檢 'J區塊疋否為空白區塊。以射頻訊號為例，若回讀該些檢 測區塊中未燒錄區塊所對應的RF訊號皆大於—預設值， 則表不依據本發明步驟所選取的空白區域為完整的空白 區域’右β些Rl·汛號其中之一小於該預設值，則表示該 ~ ^測區塊之十具' 有非空白區域，那麼則再次尋找空白區 域或進入錯誤恢復（Error Recovery)流程。 !380289 步驟S406 :回讀上诚τ $ ^ 一 上这正*區塊以及檢測區塊中p掉 錄區塊的資訊’並根據β .本目丨丨, 70 业根據Ρ法則（一次可錄式光碟 法則（可覆寫式光碟片）計曾 ）戈γ Ρ法則是將上述區塊的射頻 中 中，找出對稱性較佳的―:二：7’再由_射頻訊號 '人力革《的，γ法則的作法與β法則相近。 則與β法則在先前技術中已經有$全& ^ έ77 、' 贅述。 τ巳^有。手盡的介紹，故在此不予 镰 步驟S407 :結束。 。由上述實施例可以看出，本發明的空白區域偵測方法 可運用在最佳功率校正程序時，簡、 牛眇* 間化5式寫刖的空白區測試 乂…至痛去反覆破認的保護機制。也就是說，本旅明 可以使步驟_簡化。而習知為了確保最佳功率校:的 須用許多複雜的手段或方法，並且-再的確認 “呆坎錄的測試燒錄區為空白區域。因此，利用本發明 砷所實施的較佳實施例可以快速確認試寫燒錄的區 或為元整的空白區而節省最佳功率校正的時間。 另外，雖然上述實施例的步驟S4〇6配置於步驟 之後，所屬技術領域具有通常知識者應當知道，乂先進行步 驟S406以確定最佳功率校正為可信的，再進行㈣= ^^進行步驟S4〇5才進行步驟S傷以確定最佳功率， ” Λ*疋5泛計上的選擇。故本發明並不以此為限。 第6圖是運用本發明方法於光學頭之最佳聚焦位置於 ^二實施例。請參考第6圖’由於在繞錄前’:除了： 対九+碩作最佳功率校正之外，還要對光學頭作最佳聚焦 1380289 位置校正，以使燒錄的品質穩因此亦可應用本發明的 方法判定所尋找的空自區是正確，以確保聚焦位置校正是 可信的。此發明運用於最佳聚焦位置校正時，包含下列步 驟： 步驟S601 :開始。 步驟S6〇2:對光碟片進行一簡易空白區塊搜尋。 步驟S603 :根據上述簡易空白區塊搜尋，選定一測 試燒錄區域以進行最佳聚焦位置校正程序。 “

步驟S604 :用光學頭分別對上述測試燒錄區域進行 燒錄以形成複數個正常區塊與測試區塊。其中，在本實施 例中係藉由施打固定的燒錄功率（包含兩單位長度二 功率）但改變聚焦位置以形成正常區塊；另外’藉由上述 在第一實施例中所提及之方法以形成檢測區塊。^中，形 成檢測區塊的步驟包含： (a)可將每階檢測功率設定為由一單位的讀取功率 及一單位的刻錄，力_所組成，當施加在測試燒錄區域上 相應產生檢測區塊； ㈦可將每階的檢測功率設定成一單位為刻錄功率，以 及另：單位的功率則利用降低各組類比通道的功率輸出 使此早位之總輸出功率施加在測試燒錄區域上時，不足以 形成坑洞或刻痕（Pit/Mark),以相應產生檢測區塊丨或者 # (c)在施加檢測功”寺，可在施打其中H力率時將 水焦位置或光學頭傾斜角度偏離到不足以在碟片上形成 坑洞或刻痕的程度；而施打另一單位時，則維持正常的聚 焦位置與光學頭傾斜角度，以相應產生檢測區塊。 16 丄柳289 由上述可知，每—檢測區塊中會有一單位長度為已燒 錄區塊’另—單位長度為未燒錄區塊。因&，根據本發明 的另w她例叮進一步利用此檢測區塊中未燒錄區塊所 =應的資訊作為判斷是否為空白區域的依據；而檢測區塊 已:^錄區塊以及上述正常區塊所對應的資訊，則作 算最佳聚焦位置的依據。 ...叶 ^ ·檢查上述檢測區塊之未燒錄區塊是否

:白區塊。利用前述回讀檢測區塊之未燒錄區塊的資訊的 #, 、否為工白區塊。若上述特定聚焦校正區塊 /、中任何一個被判定中允 " 出非·^白，則很有可能是步驟S603 所這疋的特定測試燒锌 -欠的，… 塊疋有缺陷的，Λ時，便表示此 -人的取佳聚焦位置校正有 大的可邊疋不可信的，則必須 回到步驟S602，重新读卞2 、 牛# ^ 'r、疋另一測試燒錄區塊並重複上述 v w或者進入錯誤恢復程序。 步驟S606 :回讀上述 λ. ^ . 止㊉£塊以及檢測區塊中已燒 錄區塊的貧訊，並根據ρ ^ 沬目丨丨r -「炉十 貝丨（—次可錄式光碟片）或γ 法則（叮覆寫式光碟片） ^ γ η ·, g|| θ ^ 4 ^出敢佳的聚焦位置。其中’ β法則疋將上述區塊的射頻 中，找出對稱性較佳的…“回’再由該些射頻訊就 入功率。同樣的”法則號以決定該最佳的寫 則與β法則在先前技術中已έ::、ρ法則相近。由於γ法 贅述。 、坐有詳盡的介紹，故在此不予 步驟S607 :結束。 雖然上述實施例的步 所屬技術領域具有通常 驟S605配置於步驟 知識者應當知道， S606之前， 先進行步驟 17 °^89 :60二：進行步驟s6〇5以確定最佳聚焦位置校正為可信 • ，$者先進行步驟S6〇5才進行步驟1 1 上的選擇。 《疋έ又计 校正之精神是在於功率校正與聚焦位置 測區塊二Γ 的測試燒錄區域中形成複數個檢 喟— w —上述檢測區塊是否為空白區塊，以確保上 佳二的：Γ堯錄區域為完整的空白區，以提供準確的最 可讓心2最佳聚焦位置校正。根據本發明的實施例， 空白校正與最佳聚焦位置校正程序於試寫前的 偵测可以簡化，或不需要繁複的保護機制，進而 功率校正與最佳聚焦位置校正程序的時間。 此外’根據本發明的實施例，八 最佳令隹彷^ U例^在最佳功率校正或 …、r k正程序中，形成檢測區塊的位置與數量可 視需要決定並可隨機@# 艰機璉取形成的位置，例如：根據重複次 —_/euy tlmes) ’適時增加檢測功率的數量；若本次或同 功：：：：：但不巧次最佳功率校正程序前或實施最佳 ^ °本機制，且確認當次試寫區域是 二白區域後，則適時減少檢 Μ Μ _Γ _ ^ ^ 則功率的數莖，上述相關的參 教都。Γ S又&在光碟機的韌體當中。 在較佳實施例之詳細筇 m ^ 、.况月中所提出之具體實施例僅 fl, ^ L + . ;1句谷，而非將本發明狭義地限 ^上述貧施例’在不超出本發明之精神及以下申請專利 圍。因此本發明之保護範圍4: 發明之範 定私* > S田視後附之申請專利範圍所界 ^有為准。 18 1380289 【圖式簡單說明】 第1 A〜1C圖分別是利用三種不同雷射功率燒錄資料 後，再將資料讀回時所呈現的三種不同射頻訊號波形。 第2A與2B圖分別是利用τ方法定義最佳功率的示 意圖。 第3圖是習知最佳功率校正的示意圖。 第4圖是根據本發明實施例所繪示的光學頭之最佳功 率校正方法的流程圖。 第5圖是根據本發明實施例所繪示的光學頭之最佳功 率校正方法的示意圖。 第6圖是根據本發明實施例所繪示的光學頭之最佳聚 焦位置校正方法的流程圖。 【主要元件符號說明】

Al、A2 :射頻訊號的振中I

S4Ο 1〜S407 、 S60 1〜S607 :本名务明實施例白勺步.驟 501 、 502 、 503 ：檢測區塊 A501、A505 :測試燒錄區塊

Claims (1)

1380289 十、申請專利範圍·· 1 · 一種功率校正區之空白區域的偵測方法，包括： 在一光碟片之一功率校正區中選定一測試燒錄區域； 對該測試燒錄區域進行燒錄以形成複數個正常區塊 與複數個檢測區塊，其中該每_檢測區塊包含一單位之未 燒錄區塊與一單位之已燒錄區塊； 。 判畊°亥些揼測區塊之未燒錄區塊是否為空白區域； 若該些檢測區塊之未燒錄區塊中具有非空白區域，則 • ®複上述步驟或進入-錯誤恢復流程；以及 若炫些檢測區塊之未燒錄區塊皆為空白區域，則確定 遠測試燒錄區域為空白區域。 2.如申請專利範圍第丨項所記載之功率校正區之空 白區域的偵測方法，其中對該測轼燒錄區域進行燒錄的之 步驟包括： 以由複數階正常功率以及複數階檢測功率所組成之 # 功率對該測試燒錄區域進行燒錄，其中每階正常功率係由 —單位之刻錄功率所組成，以及當利用該正常功率進行燒 • 錄時係形成該正常區塊。 3 ·如申請專利範圍第2項所記載之功率校正區之空 白區域的偵測方法，其中形成該些檢測區塊之步驟包括： 設定該每階檢測功率為一單位的讀取功率以及一單 位的刻錄功率所組成；以及 利用該檢測功率進行燒錄，以形成具有一單位之已燒 20 1380289 錄區塊以及一單位之未燒錄區塊的該檢測區塊。 4.如申請專利範圍第2項所記載之功率校正區之空 白區域的偵測方法，其中形成該些檢測區塊之步驟包括· 將。該每階的檢測功率中的一單位設定為刻錄功率，而 另一早位功率則利用降低每個類比通道的輸出功率以使 一總輸出功率施加在該測試燒錄區域時，不足以形成坑洞 或刻痕’進而形成具有-單位之已燒錄區塊與一單位之未 燒錄區塊的該檢測區塊。 。5.如申請專利範圍第2項所記載之功率校正區之空 白區域的偵測方〉去，其中，形成該些檢測區塊之步驟包括： 。在施打該檢測功率之其中之一單位時，將一聚焦位置 或光干碩傾斜角度偏離到不足以在該光碟片上形成坑 洞^刻痕；而施打該檢測功率之另，單位時，則維持正 的T焦位置與光學頭傾斜角度，以形成具有一單位之已燒 錄區塊與—單位之未燒錄區塊的該檢測區塊。 。6.如申請專利範圍第丨項所記載之功率校正區之空 白區域的相方法’其中，可任意立隨;機決定形成該些檢 測區塊的位置與數量。 。7’如申請專利範圍第1項所記載之功率校正區之空 7區域的偵測方法，其令判斷該些檢測區塊之未燒錄區塊 疋否為空白區區域的步驟，包括： 回讀該些檢測區塊之 資訊與一預設值 燒錄區塊的一資訊，並將該些 F m权；以及 當該些資訊中至少其中— 該些檢測區塊之未燒錄。。。之—小於該預設值時，則判斷 皆大於該預設值時，則判=鬼4為非空白區域，而當該些資訊 空白區域。 6玄些檢測區塊之未燒錄區塊為 8 ·如申请專利範圍第7 白區域的偵測方法，复 貝所記載之功率校正區之空 __ 6+ ^ 。亥些資訊包括： 射頻讯唬、一波峰值、— 誤率以及-空白偵測 —波谷值、-抖動量、-錯 电路的刻錄指標。 9 ·如申请專利範圍第1 白區域的偵測方法，更包括、§己載之功率校正區之空 回讀該些正常區塊 的—訊號，以作為記/ X —栝測區塊之已燒錄區塊 ^最佳功率的依據。 10.如申請專利範圍第9項所 白區域的偵測方法，发 戟之功率杈正區之空 Z、戶该訊號包含射頰訊號。 11 ·—種功率校正區 在一光碟片之-功,·/ 的偵測方法’包括： 以複數個正常功率中選定—測試燒錄區域; 區域中以形成複數個正常：：,:力辜施打在該測試燒錄 早位之未燒錄區塊與一單位之已燒 22 1380289 錄區塊，以及其中利用施打具有相同刻錄功率之該些正常 功率並藉由每次改變一聚焦位置，而形成複數個正常區 塊； 判斷該些檢測區塊之未燒錄區塊是否為空白區域， 若該些檢測區塊之未燒錄區塊中具有非空白區域，則 重複上述步驟或進入一錯誤恢復流程；以及 若該些檢測區塊之未燒錄區塊皆為空白區域*則確定 所選定之S玄測S式燒錄區域為空白區域。 1 2 .如申請專利範圍第1 1項所記載之功率校正區之 空白區域的偵測方法，其中形成該些檢測區塊之步驟包 括： 設定該每階檢測功率為一單位的讀取功率以及一單 位的刻錄功率所組成；以及 利用該檢測功率進行燒錄，以形成具有該已燒錄區塊 以及該未燒錄區塊之該檢測區塊。

1 3 ·如申請專利範圍第1 1項所記載之功率校正區之 空白區域的 貞測方法’其中形成該些檢測區塊之步驟包 括： 將該每階的檢測功率中的一單位設定為刻錄功率，而 另一單位功率則利用降低每個類比通道的輸出功率以使 一總輸出功率施加在該測試燒錄區域時，不足以形成坑洞 或刻痕，進而形成具有該已燒錄區塊與該未燒錄區塊之該 檢測區塊。 1380289 1 4.如申請專利範圍第1 1項所記載之功率校正區之 空白區域的偵測方法，其中，形成該些檢測區塊之步驟包 括： 在施打該檢測功率之其中之一單位時，將一聚焦位置 或一光學頭傾斜角度偏離到不足以在該光碟片上形成坑 洞或刻痕；而施打該檢測功率之另一單位時，則維持正常 的聚焦位置與光學頭傾斜角度，以形成具有該已燒錄區塊 與該未燒錄區塊之該檢測區塊。 1 5 .如申請專利範圍第11項所記載之功率校正區之 空白區域的偵測方法，其中，可任意且隨機決定形成該些 檢測區塊的位置與數量。 1 6.如申請專利範圍第1 1項所記載之功率校正區之 空白區域的偵測方法，其中判斷該些檢測區塊之未燒錄區 塊是否為空白區區域的步驟，包括：

回讀該些檢測區塊之未燒錄區塊的一貧訊，並將.該些 資訊與一預設值作比較；以及 當該些資訊中至少其中之一小於該預設值時，則判斷 該些檢測區塊之未燒錄區塊為非空白區域’而霄該些資訊 皆大於該預設值時，則判斷該些檢測區塊之未燒錄區塊為 空白區域。 1 7.如申請專利範圍第1 6項所記載之功率校正區之 A 24 1380289 空白區域的偵測方法，其中該些資訊包括： 一射頻訊號、一波峰值、一波谷值、一抖動量、一錯 誤率以及一空白偵測電路的刻錄指標。 1 8.如申請專利範圍第1 1項所記載之功率校正區之 空白區域的偵測方法，更包括： 回Ί買該些正常區塊以及該些檢測區塊之已燒錄區塊 的一訊號，以作為記算最佳聚焦位置的依據。 1 9.如申請專利範圍第1 8項所記載之功率校正區之 空白區域的偵測方法，其中該訊號包含射頻訊號。

25