TWI360194B - - Google Patents
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1360194 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種測試用單元,特別是指一種用於 半導體測試領域的非對稱彈力之測試單元。 【先前技術】 隨著半導體技術的進步,對於測試機具精密度的要求 大幅提尚,在高頻測試的情況下測試訊號則藉由探針的傳 遞,因此當探針具有許多接觸點時,易產生不連續面而形 成阻抗不連續,造成測試訊號反射損耗失真,並且,過多 的接觸接點亦會使得探針的反應速度較慢,影響測試的正 確性。 參閱圖1,傳統測試用探針丨是可置換地設置於一測試 座1〇〇的一探針孔2〇〇中,用以電連接一測試接點3〇〇以 及一收訊接點400。 該測試用探針1是以導電材料製成,並包括一穿設於 該探針孔200的殼體件u、一上接觸件12、一下接觸件13 ’及一彈性元件14。 該殼體件11具有一中空的底壁m、一由該底壁m 之外周緣向上延伸的圍繞壁112 '一由該圍繞壁112之頂端 徑向向内延伸之中空的頂壁113,及一由該底壁lu與圍繞 壁112及頂壁113所界定的穿孔114。 该上接觸件12是可上下移動地設置於該殼體件u的穿 孔114上半部,並具有一可移動地抵靠該頂壁丨丨3之底面的 抵靠部121、一由該抵靠部ι21向下延伸的連接部122,及 5 1360194 由4抵罪部121向上延伸並穿過該頂壁113而可接觸該待 測接點300的接觸部123。 該下接觸件13是可上下移動地設置於該殼體件1〗的穿 孔二14下半部’並具有—可移動地抵靠該底壁⑴之頂面的 抵靠部131、一由該抵靠部131向上延伸的連接部132,及 由該抵罪邹131向下延伸並穿過該底壁111而可接觸該收 訊接點400的接觸部133。 °
該彈性元件14是可壓縮形變地設置於該殼體件Η之穿 孔U4内,且二端分別連接該上接觸件12的連接部122及 該了接觸件13的連接部132,並用於因應該待測接點· 及该收訊接點400的間距緩衝調變該上、下接觸件ΐ2、η 的距離。该彈性元件Μ是一壓縮彈簧。 / 0 2 ’使用時,將該測試座100設置於該收訊接點
上方’且使該下接觸件13之接觸部133接觸該收訊接 ‘零400’並使該待測接點3〇〇接觸該上接觸们2之接觸部 123 ’依據該待測接點則及該收訊接點彻的間距,該上 :下接觸件12、13相應配合_該彈性元件14,使該彈性 ^牛14偏斜抵#該殼體件u,㈣得該上接觸件η 及該下接觸件13的接觸部133同時偏魏靠該殼 u牛u,而沿該待測接點则、該上接觸件12、該殼㈣ “下接觸件13及該收訊接點_形成電通路。 件:广Λ於使用時,該上、下接觸件12、13及該彈性元 接觸邱疋&者該威體件U運動’僅依靠該上接觸件12的 接觸部⑵及該下接觸件13的接觸部133同時偏斜抵靠該 6 1360194
殼體件11形成電導通,彼此間實際接觸面積並不大,且較 多的接觸點相對會使訊號傳輸時的阻抗加大,而不利半^ 體測試’不僅訊號傳輸速度無法有效提升,另一方面,因 元件表面互相摩擦而刮落的顆粒,將沉積於該殼體件η内 ,影響訊息傳遞的正確性,再者,傳統測試用探針丨的部 品元件多,因此組裝費時且不易,故製造成本較高。。 【發明内容】
因此,本發明之㈣,即錢供一種可有料低阻抗 ,並增加訊息傳遞之正確性的非對稱彈力之測試單元 几 二於是,本發明的非對稱彈力之測試單元是設置於一測 試座的測試孔中,該測言式孔的内周面形成_纟冑—開放部 的溝槽,該非對稱彈力之測試單元是以導電材料製成,i
用以電連接一待測接點及一收訊接點,包含一本體 位件。 R
該本體可形變地設置於該測試孔中,包括一基部、— 由該基部的一端向一第一方向延伸的第一彈性部、—由該 第-彈性部向該測試座頂面方向延伸的第一接觸部、一由 該基部的另_端實質上向該第—方向延伸的第二彈 由該第二彈性部向該測試座底面方向延伸的第二接觸 等中’该第一接觸部的頂端凸伸出該測試座的頂面, >且電連接至該待測接點,該第二接觸部的頂端凸伸出該例 5式座的底面’且電連接至該收訊接點。 、 方向的方向 内’該限位 該限位件自該本體的基部往相反於該第一 體突伸,且可分離地插設於該測試孔的溝槽 7 1360194 件包括一與5玄基部連接的連結部,及一由該限位件側面6 外突伸的限位突塊,其中,當該限位件插設於該溝槽内時 ,該連結部可與該溝槽的開放部相楔合,且該限位突塊可 卡抵於溝槽内,因此可將該本體固定於該測試孔中。 本發明之功效在於:藉由插設於該溝槽中的該限位件 提供一穩固的支點,致使該本體產生彈性回復力,該第_ 接觸部與第二接觸部分別向上與向下頂抵該待測接點與該 收訊接點’形成穩固的電通路,該本體不因受該待測接點 的推擠而搖晃或傾倒,發生訊號不穩定或斷路,增加訊息 傳遞之正確性。 【實施方式】 有關本發明之前述及其他技術内容、特點與功效,在 以下配合參考圖式之四個較佳實施例的詳細說明中,將可 清楚的呈現。 在本發明被詳細描述之前,要注意的是,在以下的說 明内容中’類似的元件是以相同的編號來表示。 參閱圖3,為本發明非對稱彈力之測試單元5的第一較 佳實施例’該非對稱彈力之測試單元5是設置於一測試座6 的測試孔61中,該測試孔61的内周面形成一具有〆開放 部621的溝槽62 ’該非對稱彈力之測試單元5用以電連接 待測接點300及一收訊接點4〇〇。 該非對稱彈力之測試單元5是以導電材料製成包含 一本體51及一限位件52。 該本體51概呈c型且可形變地設置於該測試孔61中 8 1360194 ,包括一基部511、一由該基部511的一端向一第一方向 7〇〇延伸的第-彈性部512、—由該第—彈性部512向該測 試座6頂面方向延伸的第-接觸部513、-由該基部511的 另螭實貝上向該第一方向700延伸的第二彈性部514,及 一由該第二彈性部514向該測試座6底面方向延伸的第二 接觸部515,其中’該第—接觸部513的頂端凸伸出該測試 座6的頂面,且電連接至該待測接點3〇〇,該第二接觸部 515的頂端&伸出該測試座6的底面,且電連接至該收訊接 點400,在此應特別注意的是該第一接觸部$丨3與第二接觸 部515的形式並非僅限於圖式中所繪,舉凡平頭式、尖頭 式、或其他形式皆可,端視該待測接點3〇〇與收訊接點4〇〇 的態樣而有所改變,實際實施時還可以有很多的變化,不 應以本實施例所揭露為限。 該限位件52自該本體51的基部511往相反於該第一方 向700的方向一體突伸,且可分離地插設於該測試孔61的 溝槽62内,該限位件52包括一與該基部511連揍的連結部 52卜及一由該限位件52側面向外突伸的限位突塊522,其 中,當§亥限位件52插设於該溝槽62内時,該連結部521 可與該溝槽62的開放部621相楔合,且該限位突塊522可 卡抵於溝槽62内,因此可將該本體51固定於該測試孔61 中,此外,該限位件52的形式可因應該溝槽62的變化, 以及隨設計的需求而改變,不應以本實施例所揭露的態樣 為限,並且,該限位突塊522的形式可以隨設計的需求而 改變,亦不應以本實施例所揭露為限。 9 ^〇υΐ94 參閱圖4 ’當使用該第一較佳實施例的非對稱彈力之測 。式單7L 5騎半導體測試時,是先將該測試座6設置於該 收訊接點4GG的上方’並使該本體51的第二接觸部515接 觸該收訊接點400,當該待測接點鳩接觸該本體5ι的第 -接觸部513 _,即會將該第一接觸部513向下推擠連 動擠壓該第一彈性部512、基部511,及第二彈性部514產 生形變,並且,插設於該溝槽62中的該限位件52提供—
穩固的支點,致使該本體51產生—彈性回復力該第一接 觸。Ρ 513與第一接觸部515分別向上與向下頂抵該待測接 點300與該收訊接點侧,因此沿該待測接點、該第— ^觸部5Π、該第-彈性部512、該基部5ιι、該第二彈性 4 514、該第一接觸部515,及該收訊接點彻形成一穩固
的電通路’再者,該限位件52將該本體51固定於該測試 孔61中’當該待測接點細向下推撥該第—接觸部⑴時 亥本體51不會因為受推擠而在該測試孔6ι中搖晃或傾 幻因而發生訊號不穩定或斷路的狀況。 參閱圖5 ’為本發明㈣稱彈力之測試單元5的第二較 ,實施例’該第二較佳實施例大致與該第—較佳實施例相 同„不同之處在於:該第二較佳實施例的非對稱彈力之測 試=元5更包含_設置於該本體51的第一彈性部512與第 二彈性部514間的緩衝元件53,當該待測接點300接觸該 、體51的第-接觸部513,該第一接觸部⑴受到推擠, 連動擠[該第-彈性部512、基部511、第二彈性部514, 及該緩衝元件53產生形變,因此該緩衝元件53輔助該本 10 體/1產生—較該第,實施例更大的彈性回復力,因此即使 接觸。p 513文到該待測接點3〇〇較大的向下擠麼力 該本體51不致產生彈性疲乏,該第-接觸部513以及 該弟二接觸部515仍可與該待測接點以及該收訊接點 :〇 '成一穩固的電通路,並且’在本實施例中,該緩衝元 53是一彈性膠條,但不應以本實施例所揭露為限。 /閱Q 6為本發明非對稱彈力之測試單元5之第三較 佳貫施例,該第三較佳實施例大致與該第一較佳實施例相 δ不同之處在於.该第二彈性部514由該基部⑴向該第 方向7〇0延伸與該基部511間形成一角度為90度的夾角 /並且„亥限位件52概呈L型地自該本體^的基部W U目反於4第方向彻的方向一體突伸,因此相較於該 第—實施例而言’該非對稱彈力之測試單元5設置於該測 式孔61内時具有較多的接觸面積因此當第—接觸部M3 受到該待測接‘點_較大的向下擠壓力時,可.產生一較該 第一實施例較大的反作用力,以抵消過大的向下擠壓力, 致使》亥本體51不致產生彈性疲乏該第一接觸部以及 觸部515仍可與該待測接點以及該收訊接點 400形成一穩固的電通路。 參閱圖7 ’為本發明非對稱彈力之測試單元$之第四較 佳實施例’該第四較佳實施例大致與該第三較佳實施例相 同’不同之處在於:該第四較佳實施例的非對稱彈力之測 試單元5更包含一設置於該本體51的第一彈性部512與第 二彈性部514間的緩衝元件53,該緩衝元件”與該第二實 1360194 施例之緩衝元件53相同可輔助該本體51產生一較該第三 實施例更大的彈性回復力,使該本體51不致產生彈性疲乏 以形成一穩固的電通路,在本實施例中,該緩衝元件53是 一彈性膠條’但不應以本實施例所揭露為限。 综上所述’本發明非對稱彈力之測試單元5相較習知 的測試用探針1能有效地減少接觸接點,相對使訊號傳輸 時的阻抗減少,有效提升訊號傳輸的速度,並藉由該限位 件52將s玄本體51固定於測試孔6丨中,且該本體5丨與該 緩衝元件53可形變地產生彈性回復力,使該第一接觸部 513與該第二接觸部515得以穩固地電連接該待測接點· 與該收訊接點_,避免雜訊產生,進而提高訊息傳輸的正 確性,此外,本發明非對稱彈力之測試單元5與傳統習知 的測試用探針1相較具有較少的部品元件,組裝方便省時 ,且可有效減少製造生產的成本,本發明非對稱彈力之測 试單元5故確實能達成本發明之目的。 惟以上所述者,僅為本發明之較佳實施例而已,當不 能以此限定本發明實施之範圍’即大凡依本發明中請專利 範圍及發明說明内容所作之簡單的等效變化與修飾皆仍 屬本發明專利涵蓋之範圍内。 12 1360194 【圖式簡單說明】 圖1是一剖視圖,說明一傳統的測試用探針設置於一 測試座的一探針孔,且尚未電連接一待測接點及一收訊接 點時的狀態; 圖2是一剖視圖,說明圖丨之傳統的測試用探針的二 端分別接觸該待測接點及該收訊接點時的狀態; 圖3是一剖視圖,說明本發明非對稱彈力之測試單元 的第一較佳實施例,並說明其設置於該測試座的探針孔且 尚未電連接該待測接點及該收訊接點時的狀態; 圖4是一剖視圖,配合說明圖3,為該第一較佳實施例 的非對稱彈力之測試單元的第一接觸部與第二接觸分別接 觸該待測接點及該收訊接點時的狀態; 圖5是一剖視圖,說明本發明非對稱彈力之測試單元 的第二較佳實施例; 圖6是一剖視圖,說明本發明非對稱彈力之測試單元 的第三較佳實施例;及 圖7是一剖視圖,說明本發明非對稱彈力之測試單元 的第四較佳實施例。 13 1360194 【主要元件符成说明】 300 待測接點 52 限位件 400 收訊接點 521 連結部 5 非對稱彈力之 522 限位突塊 測試單元 53 緩衝元件 51 本體 6 測試座 511 基部 61 測試孔 512 第一彈性部 62 溝槽 513 第一接觸部 621 開放部 514 第二彈性部 700 第一方向 515 第二接觸部 14
Claims (1)
1360194 十、申請專利範圍: :種非對稱彈力之測試單元,是設置於-測試座的一測 試孔中,該測試孔的内周面形成一具有一開放部的溝槽 ,該非對稱彈力之測試單元是以導電材料製成,包含: —本體,可形變地設置於該測試孔中,包括一基部 由。玄基。卩的一端向一第一方向延伸的第一彈性部、 由*亥第一彈性部向該測試座頂面的方向延伸的第一接 觸邠,一由該基部的另一端實質上向該第一方向延伸的 第一彈性部,及一由該第二彈性部向該測試座底面的方 向延伸的第二接觸部;及 一限位件,自該本體一體突伸且可分離地插設於該 測试孔的溝槽内’用以將該本體固定於該測試孔中。 據申專利範圍第1項所述的非對稱彈力之測試單元 ’其中,該限位件自該本體的基部往相反於該第一方向 的方向一體突伸。 3.依據申請專利範圍第2項所述的非對稱彈力之測試單元 ’其中,該限值件包括一由該限位件側面向外突伸的限 位犬塊’當該限位件插設於該測試孔的溝槽内時,該限 位突塊可卡抵於該溝槽内以供固定。 4·依據申請專利範圍第3項所述的非對稱彈力之測試單元 更包含一設置於該本體的第一彈性部與第二彈性部間的 緩衝元件’該緩衝元件可供增加該本體的彈性回復力。 5.依據申請專利範圍第4項所述的非對稱彈力之測試單元 ’其中’該緩衝元件是一彈性膠條。 15 1360194 6.依據_請專利範圍第5項所述的非對稱彈力之測試單元 ’其中’該限位件更包括一與該基部連接的連結部,當 該限位件插設於該測試孔的溝槽内時,該連結部與該開 放部相換合以供固定。 7·依據中請專利範圍第6項所述的非對稱彈力之測試單元 ,其中,該第一接觸部的頂端凸伸出該測試座的頂面, 且該第二接觸部的頂端凸伸出該測試座的底面。
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW97115271A TW200945466A (en) | 2008-04-25 | 2008-04-25 | Testing unit of non-symmetric elasticity |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200945466A TW200945466A (en) | 2009-11-01 |
TWI360194B true TWI360194B (zh) | 2012-03-11 |
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Country Status (1)
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---|---|
TW (1) | TW200945466A (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI615615B (zh) * | 2016-07-13 | 2018-02-21 | 中華精測科技股份有限公司 | 探針結構 |
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