TWI342344B - - Google Patents
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1342344 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於-種導光板模仁製作方法,尤指一種可 製作出-種特徵之斷面呈梯形狀且特徵深度可準禮控制的 導光板模仁’無既有技術所製作之模仁易產生尖端斷裂、 磨耗的情形之控制非箄尚,地μ t 并寻向性蝕刻之蝕刻深度的導光板模仁 製作方法。 【先前技術】 液晶顯示器係為近來蓮勃發展的-種平面顯示裝置, 其可分為被動矩陣驅動式液晶顯示器(包含TN-LCD、 STN-LCD )及主動矩陣驅動式液晶顯示器(包含職⑶、 TFT-LCD ),而其中,又 a Tex τ 一⑶ TFT-LCD (薄膜電晶體液晶顯 不益)為技術發展趨勢主力。 ^FT-LCD並非自發光性顯示裝置其光源係來自其β 所设計的背光模組,一炉而 觳而& ,該背光模組主要係由稜鏡 片、導光板、外部發光源(包括 其 牯知光一極體、冷陰極射線 …、擴放膜、反射膜及外框架等零件組裝而成,其中 ^以導光板為最重要的零組件之―,因為該導光板係 :部發光源的光線均勾地引導到至整個發光面均 勻的平面光源。 捉仏勺 導光板係為具_定;f/f 査,从& 其表…… 為…的材質所製, 、'有光擴散結構,該光擴散結構係可為四角 主狀或圓點狀的擴散點,亦可為凹陷的長形溝槽; 該擴散㈣作用在於散射導光板板體内的入 5 1342344 而長形溝槽則可破壞前述入射光位於導光板板體内的全反 ' 射,使該入射光能夠從導光板的平面導出。 而前述導光板表面的長形溝槽的成形方式,乃藉由一 具v形凸體或凹槽的模仁,配合以射出成形方法即以用 ^於製作導光板的塑料充填入模仁内來達到成形;而就目前 而言,該導光板模仁的製作方法’係可採用高速鑽石刀, 直接在模仁基材上銑削出複數呈v形的溝槽,因而相對於 其表面形成複數V形凸體或凹槽來達到成形,但刀具的磨 損直接影響到V-CUT的製作精度,且機台與加工成本高, 不同的溝槽深度與角度,需要特定的鑽石刀具,最小2寬 雖可達5(μπι),但加工技術困難,不易用在不同溝寬的组 合設計中。 、 或應用類微光刻電鑄模造(LIGA•丨ike)的方式,將網點 或微鏡面圖樣利用類似半導体之光罩曝光顯影方法轉印在 光阻膜上,或者是再加熱至玻璃轉換溫度,使光阻表面熱 鲁⑫形成圓滑之半球狀或半圓柱結構’再濺鐘或蒸鍵—層金 屬作為電铸起始層,以電鑄方式在光阻圖案上沉積出才二仁 薄板取代(Stamper)。以微影㈣製作薄板取代由於導^ 1 ®樣表面光滑具光學鏡面的特性,可以光罩方式設計特徵 ^尺寸與分佈’相當適合配合導光板設計進行輝度與均齊性 的提升。但在形狀上限於二維的圖形,如圓點或環形,無 法衣作V形溝槽與稜鏡面。而光阻網點的幾何曲面受基材 表面特性、光阻表面張力、微影厚度與回熱條件等影響, 不易預測,因此在配合光學模擬軟體進行圖案分佈設計時 6 1342344 誤差大。 若以單晶石夕非等向性濕姓刻技術來製作電铸 純㈣向性㈣製作v形 圓_面_停止的特性,特徵大小由微影的精=晶 米等…: 表面粗糖度也可達到奈 、了製作向重複性與高精度的精密V形溝槽,該
〆 於加工成本低,相去且右庙田紙A 田/、有應用〉曰力。然而,前述模紅 则作及運用上仍然有一定的問題存在:因為模 1凸體的尖端為次微米尺寸等級般模仁製作完成 交口Ρ伤V形凸體尖端往往會有斷裂、脫落的情形產生、, 經瞭解發現—部份原因係因為在模仁製作的電鑄製程中, 由於電鑄的沈積過程ΦI且 大知不易堆積,或因模仁尖端的強度 不足以致應用在在模具成形時,尖端容易變形愈磨耗. 而在元件成形製作過程中,也容易造成塑料充填不、完全;, 是以,如此問題均會使得導光板的微特徵在成形後,產生 ,陷’無法完全反應原先的特徵幾何設計,或造,,成脫模問 j ’而影響到該導光板的導光特性;而所製作的成品㈣ 尖端也易受損壞。 【發明内容】 本發明之目的係在於提供一控制非等向性姓刻之姓刻 深度的導光板模仁製作方法,其可製作出一種導光板模 仁’有效解決現有技術模仁實際製作及運用上所存在的缺 失。 為達Μ目的’本發明之控制非等向性银刻之钱刻深 1342344 度的導光板模仁製作方法係採用矽a 蚀刻深度終止技術來製作導光板模::二生源蝕刻與 -經金屬薄膜沈積及電鑄製,呈,完成 供後 導光板模仁電鑄用基座的製作方法 、一,、中該 〃成巴栝有以下步驟: 準備一單晶妙基材; 於矽基材的上表面形成—蝕刻深度终止層,且 深度終止層表面可形成一單晶矽特徵層; μ姓刻 於該特徵層上表面形成一屏幕層; 再於該屏幕層表面覆蓋一光 術 對該光阻層予以圖案化,以形成圖= 曝先顯影技 刻 以該圖案^阻為㈣罩幕,對下方屏幕層 將圖案化光阻的圖案轉移至該屏蝕 案化屏幕層; 7,、形成一圖 移除圖案化光阻,僅保留該 上; 朱化屏幕層於該特徵層 特徵層進行 邊係形成特 深度終止層 刻面呈一梯 徵可為梯形 積如濺鍵或 以圖案化屏幕層為蝕刻罩幕,對其下方的 $等向性濕蝕刻,令特徵層被蝕刻下凹處的側 疋[in]斜面向下延伸,直到特徵層下方之蝕刻 的部份表面外露而停止’與特徵層的兩相鄰蝕 形斷面;藉由蝕刻屏幕層的圖案設計,完成特 長溝或載頂角錐之圖案化特徵層; 移除屏幕層後該®案化的特徵層表面經沈 蒸鍍—層金屬薄膜後,即為供電铸用之基座。 能在經電鑄 由上可知,本發明藉由該電鑄用基座,即 1342344 :牙王後,成形-具有斷面呈連續梯形凸體的導光板模仁, 疋以,本發明藉由矽晶圓非等向性濕蝕刻與蝕刻深度終止 技術,合易成形一具有斷面呈連續梯形凸體結構特徵的電 ~用基座’令後製出的導光板模仁具有相同的結構特徵, 而此-技仁所加工生產的模仁將不會有一央端結構,因此 本發明同樣配合半導體製程所製出的模仁,在未來導光板 成升/時有效避免尖端斷裂、脫落的情形產生,且便 於脫模4保導光板品質,^成品尖端在運送、㈣也不易 損壞。 又上述達到控制非等向性蝕刻之蝕刻深度的方式,除 於單晶石夕基材上形成-触刻深度終止層外’更可在不增加 半導肚製%步驟的方式且具有控制蝕刻深度的功效前提 下’省略此-敍刻深度終止層的成形,意即,直接於該單 日日:f材上形成一與該單晶石夕基材呈相反載子材料特性之 早a曰矽層’此一層單晶矽層即為特徵層;如此,即可於 特徵層進行非等向性㈣前,令該單W基材與特徵居連 =逆向偏壓源,而等效為—二極體,…砂基㈣ 之間的接面會產生-遂降,令當蝕刻液到達此一接 面時:t破壞該接面結構¥生氧化層,而令蚀刻液停止, 士此以氧化層即#作為控制n罙度停止之用。 【實施方式】 請參看第试·- 之㈣深度的導光板模“:明控制非等向性钱刻 包括有·· W製作方法的較佳實施例,其步驟 1342344 於一 >5夕基材(1 〇 )的表面形成一蚀刻深度終止層(1 1 ),該蝕刻深度終止層(1 1 )可能是高濃度摻雜層、 二氧化矽、氮化矽、富矽氮化矽、聚亞醯胺,甚至是金屬。 可利用熱擴散、離子佈植、熱氧化、化學氣相沉積或物理 氣相沉積的方式,來製作钱刻深度終止層(1 1 );而該 钱刻珠度終止層(1 1 )表面又形成一配合微特徵微幾何 圖形的特定厚度的特徵層(1 2 ),該特徵層(丄2 )材 料係為單晶石夕; 於特徵層(1 2)表面上再形成一屏幕層(1 3), 可以化學氣相沉積方法(CVD)於特徵層(i 2 )表面沉 積一虱化矽薄膜或二氧化矽薄膜,或者以高溫氧化爐 (Oxidation furnace )方法對該特徵層(丄2 )表面進行 氧化作用’而形成二氧化矽薄膜,是以該屏幕I ( 1 3 ) 的材質可為二氧化矽或氮化矽; 於屏幕層(13)表面覆蓋光阻(14),並運用曝 光顯影技術,令光阻(1 4 )轉換為-圖案化光阻(丄 / ^忭兩卜刀屏眷層(1 3 ) 的姓刻罩幕,對屏1 安 ® 1 3 )進行蝕刻,如此即能將圖 立彤)的圖案轉移至該屏幕層(13),令 其形成~圖案化屏幕層(χ 3,). 去除圖案化光阻(14,). 以非等向性濕餘刻之 刻,I田 ]之特性來對特徵層(1 2 )進行蝕 J吊用之钱刻液包含四甲A p , 甲基氣乳化敍(Tetra-methyl- 10 1342344 ammonium hydroxide; ΤΜΑΗ)、氫氧化鉀(p〇iassium hydroxide ; K0H )、乙二胺鄰苯二酚( pyrocatochol ; EDP ) ’蝕刻液之選擇須配合屏幕層(丄3 ) 與蝕刻深度終止層(1 1 )之材料,例如丁MAH蝕刻矽, 則可選擇氧化矽(Si〇2)或氮化矽(SixNy)作為屏幕層(i 3 ) 或钮刻深度終止層(i i ),而K〇H蝕刻則建議採用氮 化矽作為屏幕層(1 3 )或蝕刻深度終止層(丄2 ),令 蝕刻自然停止在[m]晶格面,且蝕刻處側邊形成一斜面, 直到钱刻深度終…丄i )露出…,特徵層即轉化 為一斷面呈梯形狀的圖案化特徵層(丄2,),其兩側斜 面夾角在{100}矽基材(0 )約為7〇·5·;在{11〇}矽基 材(1 0 )約為 109.5。; 去除圖案化屏幕層(13,); 於圖案化特徵層(1 2 ’)表面以濺鍍或蒸鍍方法, 均勻形成一覆蓋於圓案化特徵層(1 2,)的金屬薄膜, 以作為電鑄起始層(15); 置入電解槽中翻鑄,令電鑄起始層(i 5 )表面逐漸 沉積一定厚度的金屬,如Ni (鎳)、NNC()(鎳鈷合金) 或其他合金而形成模體(16); 以濕蝕刻技術去除模體(2 6 )之外的矽基材(丄〇 )、 圖案化特徵層(1 2,)及蝕刻深度終止㉟(丄丄),令 榼體(1 6 )得以脫離成形為模仁(丄7 )(請參看第i K圖所示)。 μ參看第2A至2J圖所示,本發明控制非等向性独刻 1J42344 之餘刻深度的導光板模仁製作方法之另一較佳實施例,其 步驟包括有: 〇在一矽基材(2 〇 )上用磊晶方式成長一層與矽基材 王相反載子摻雜材料之單晶矽作為特徵層(2丄),例如: 、P型之矽基材上磊晶成長一層N型之單晶矽,或於N =之矽基材上磊晶成長一層p型之單晶矽,然後藉由電化 * 接面钱刻終止(electrochemical P-N junction etch 〇P)特徵’在遠石夕基材(2 〇 )與特徵層(2丄)的p_N 接面(2 2 )達成蝕刻深度終止;亦即,將該矽基材(2 〇 )與一不與蝕刻液反應之金屬相接,且p型矽基材(2 0 )則透過此電極連接負極,令N型磊晶特徵層(2丄) 所f之區域變成為正極,造成這個大型的二極體承受逆向 偏^ ’且石夕基材(2 0 )與特徵層(2 1 )之P-N接面(2 2 )之間產生壓降,以致當蝕刻—直進行到該矽基材(2 0 )與特徵層(2 1 )的ρ·ν接面(2 2 )時,該矽基材 (2 0 )與特徵層(2丄)的ρ_Ν接面(2 2 )會被破壞, 而產生氧化層來達到蝕刻停止之目的; 於特徵層(21)表面上再形成一屏幕層(23), 可以:學氣相沉積方法(CVD)於特徵層(2 "表面沉 積氮化矽溥膜或二氧化矽薄膜,或者直接以高溫氧化爐 (Oxidation furnace )方法對該特徵層(2丄)表面進行 氧化作用’而形成二氧化矽薄膜,是以該屏幕層(2 3 ) 的材質可為一乳化石夕或氮化石夕; 於屏幕層(23)表面覆蓋光随(24),並運用曝 12 光顯影技術,今 4 '). 且(2 4 )轉換為一圖案化光阻(2 以該圖案化光 , 的蝕刻罩幕… 作為下方屏幕層(2 3 ) 宰化# 幕層(2 3 )進行蝕刻,如此即能將圖 ^ η, , _ )的圖案轉移至該屏幕層(2 3 ),令 y 一圖案化屏幕層(23,); 去除圖案化光阻(24,); 非寻向性濕蝕刻之特性來對特徵層(2 1 )進行蝕 基、!邊开乂成-斜面,且藉姓刻深度終止而令石夕 露出…與特徵層⑴…屮接面⑴)^ 狀的固疋以’前述特徵層(2 1 )即轉化為一斷面呈梯形 圖案化特徵層(21’),其兩側斜面夹角在(1〇〇}石夕 土材(20)約為财;在(110}石夕基材(2〇)約為ι〇95·; 去除圖案化屏幕層(23,). 於圖案化特徵層(21,)表面以濺鍵或蒸鑛方法, :形成-覆蓋於圖案化特徵層(2 κ )的金屬薄膜, 乍為電鑄起始層(25); ^入電解槽中翻鑄,令電鑄起始層(25)表面逐漸 :-定厚度的金屬’士。Ni (錄)、N“c〇 (錄結合金) 一’、他合金而形成模體(2 6 ); 以濕姓刻技術去除模體(26)之外的石夕基材(2〇) 二案化特徵層(21,),令模體⑴)得以脫離成 4^二(2 7 )(請參看第2K圖所示)。 靖參看第三圖所*,前述製成的模仁(17,27), 1 1342344 ' 可擺設於一模且(q n、 n ( 3 〇 )的模穴 .出成形方法’即以用於製㈣丄1)之中配5以射 、氟作導光板的塑料充填入模穴(Ί 1 )内,而憑藉著模仁 光板的成形4可_㈣印方27 )的梯形凸體而達到導 :其表面可具有斷面呈Μ形’成形後的導光板’ ^ /的長溝槽或截頂角錐,該長% 溝槽或载頂角錐同鞞& 仅心 ,4 门樣月匕夠破壞光線的全反射,使該導光拓 内的入射光由導本此ΛΑ T 干尤叛 而h 導先板的平面導出’或設置在導光板出光 面,取代稜鏡犋片,改變出 出先 φ , L 尤角度,以增加正面出光輝度。 此外’由於本發 導 &制非專向性蝕刻之蝕刻深度的 彳仁製作方法,係於㈣基電鱗用基座之姓刻特 因二技有:幾何形狀精度、重複性與光滑之表面特性;又 I.的%積過程中’由原子逐漸堆積形成模仁(丄Μ ’因此其具有良好的轉寫性,可供操作者依照所需而 X調整模仁(”,”)' 特徵形狀與分佈等設定條件; 古牡其A施所需的設備便宜’可以較低的成本,來製作 參 Π» 4度之導光板模仁,以利導光板的量產。 【圖式簡單說明】 '圖A K係本發明之較佳實施例實施步驟示意圖。 :·圖。第二圖A〜K係本發明之另一較佳實施例實施步驟示意 第三圏係導光板模仁實施狀態示意圖。 【主要元件符號說明】 (1〇)矽基材 (1 1 )蝕刻深度終止層 14 1342344 (1 - (1 (1 (1 . (1 , (1 (1 (1 • ( 1 (2 (2 (2 (2 (2 (2 (2 (2 (3 (3 )特徵層 ’)圖案化特徵層 )屏幕層 ’)圖案化屏幕層 )光阻 ’)圖案化光阻 )電鑄起始層 )模體 )模仁 )$夕基材 )特徵層 ’)圖案化特徵層 )P-N接面 )屏幕層 ’)圖案化屏幕層 ’)圖案化光阻 )電鑄起始層 )模體 )模仁 )模具 )模穴 15
Claims (1)
1342344
十、申請專利範圍: 年1月14 ilf正替‘ 種控制非等向性蝕刻之蝕刻深度的導光板模仁 製作方法,係包括有: 於—具蝕刻深度終止層的矽基材上以微影與非等向濕 I d製作出一圖案化特徵層,該圖案化特徵層斷面呈梯形 狀; 於該圖案化特徵層上形成一電鑄起始層; 冑上—步驟的最終結構置人電鑄槽内,以成形-具特 •定厚度的模體;及 忒杈體予以獨立而為一導光板模仁,該模仁上的特 4 ^面即呈梯形狀上述圖案化特徵層的形成步驟係包括: 於該蝕刻深度終止層表面形成一特徵層; 於特徵層表面形成屏幕層; 於屏幕層表面覆蓋光阻,並運用曝光顯影技術,來形 成圖案化光阻; 以該圖案化光阻為蝕刻罩幕,對下方屏幕層進行蝕 :,將圖案化光阻的圖案轉移至該屏幕層,令其形成一圖 案化屏幕層; 去除圖案化光阻; 對特徵層進行非等向濕敍刻,令對應钮刻處的姓刻深 ;止層予以外路,且蝕刻處的側邊呈一斜面, 一 斷面㈣; 構成 去除屏幕層。 2·如_請專利範圍第1項所述之控制非等向性姓刻 1J4ZJ44 三修正替換I 之蝕刻深度的導光板模仁製作 驟係以蝕刻方式去除模體之…上述獨立出模體的步 及圖荦化料料厗 石夕基材、敍刻深度終止層 及囫案化特徵層,以令模體能 仁。 予以獨立而為一導光板模 3 ·如申請專利範圍第工 触刻之蝕刻深度的導光板模仁 層係為南濃度播雜層、二氧化 聚亞醯胺或金屬。 或2項所述之控制非等向性 製作方法,其蝕刻深度終止 矽、氮化矽、富矽氮化矽、
項所述之控制非等向性 方法’其係以濺鍍或基 、#、、\ 4 .如申請專利範圍第1或2 蝕刻之蝕刻深度的導光板模仁製作 鍵方式來形成電鑄起始層。 5 .如申請專利範圍第1 蝕刻之蝕刻深度的導光板模仁 為金屬薄臈。 或2項所述之控制非等向性 製作方法,其電鑄起始層係 6如申咐專利範圍第丨或2項所述之控制非等向性 ㈣之_深度的導光板模仁製作方法’其模體係為川 (鎳)、N卜Co (鎳鈷合金)或其他合金沉積所形成。 7如申研專利範圍第1或2項所述之控制非等向性 蝕刻之蝕刻深度的導光板模仁製作方法,其進行非等向濕 蝕刻所運用之蝕刻液係為四曱基氫氧化銨 (Tetra-methyl-ammonium hydroxide ; TMAH)、氫氧化鉀 (Potassium hydroxide ; KOH )或乙二胺鄰苯二酚 (Ethyienedamine pyrocatochol ; EDP)。 8 · —種控制非等向性姓刻之触刻深度的導光板模仁 A 17 1342344 ^ 卜〇年1月14曰修正替換 製作方法,係包括有: 於矽基材的表面形成一與矽基材呈相反摻雜載子的 矽材料層,此即為一特徵層; 於特徵層表面形成屏幕層; 於屏幕層表面覆蓋光阻,並運用曝光顯影技術,來形 成圖案化光阻; 以邊圖案化光阻為蝕刻罩幕,對下方屏幕層進行蝕 刻,將圖案化光阻的圖案轉移至該屏幕層’令其形成一圖 響案化屏幕層; 去除圖案化光阻; 將該石夕基持與特徵層連接至一逆向偏壓源,以令其間 接面產生一壓降; 對特徵層進行非等向濕姓刻,當蚀刻液到達此一接面 時,會破壞該接面結構而產生氧化層,而令#刻液停止, 最後令對應蝕刻處氧化層予以外露,且蝕刻處的側邊呈一 斜面,以構成一斷面呈梯形狀的圖案化特徵層; 去除屏幕層; 於該圖案化特徵層上形成一電鑄起始層; • #上一步驟的最終結構置入電鑄槽内,以成形一具特 :定厚度的模體;及 ' 令該模體予以獨立而為一導光板模卩,該帛仁上的特 徵斷面即呈梯形狀。 9.如申請專利範圍第8項所述之控制非等向性蝕刻 之姓刻深度的導光板模仁製作方法,上述獨立出模體的步 1S 1342344 驟係以蝕刻方式去除 以令模體能夠予以獨立、 的石夕基材及圖案化特徵層, 于以獨立而為一導光板模仁。 1〇·如申請專利範圍第8或9 性蝕刻之蝕刻深户的邕丄1 k制非#向 箪曰…度的導先板模仁製作方法,該石夕基板係為N 早曰“夕材枓,而該特徵層則為p單晶”料。 11.如申請專利範圍第8或 性蝕刻之蝕刻深度的導井拓如 π述之&釗非寺向 Ρ單晶矽材料而兮 板杈仁製作方法,該矽基板係為 早夕料,而遠特徵層則為Ν單晶砂材料。 1 2 .如申請㈣範圍第8或9項所述之 性触刻之敍刻深度的導光板模仁製作 Μ向 二氧化石夕或氮化石夕來製作。 / -屏幕層係以 1 3 .如申請專利範圍第 性蝕刻之蝕刻深度的導光板模 蒸鍍方式來形成電鑄起始層。 8或9項所述之控制非等向 4 I作方法,其係以濺鍍或 或9項所述之控制非等向 裝作方法’其電鑄起始層
1 4 .如申請專利範圍第8 性蝕刻之蝕刻深度的導光板模仁 係為金屬薄膜。 1 5 .如申請專利範圍第8或 、 性蝕刻之蝕刻深度的導光板模仁製項所述之控制非等向 (鎳)、Ni-C〇 (鎳鈷合金)卞发 方法,其模體係為Ni σ贪)或其他合 0金沉積所形成。 十一、圖式: 如次頁 A 19
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |