TWI334145B - A computing method, computing apparatus, and machine readable medium - Google Patents
A computing method, computing apparatus, and machine readable medium Download PDFInfo
- Publication number
- TWI334145B TWI334145B TW095111043A TW95111043A TWI334145B TW I334145 B TWI334145 B TW I334145B TW 095111043 A TW095111043 A TW 095111043A TW 95111043 A TW95111043 A TW 95111043A TW I334145 B TWI334145 B TW I334145B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- self
- memory
- power mode
- memory unit
- renewing
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40626—Temperature related aspects of refresh operations
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40615—Internal triggering or timing of refresh, e.g. hidden refresh, self refresh, pseudo-SRAMs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/04—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store with means for avoiding disturbances due to temperature effects
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2211/00—Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C2211/401—Indexing scheme relating to cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C2211/406—Refreshing of dynamic cells
- G11C2211/4061—Calibration or ate or cycle tuning
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2211/00—Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C2211/401—Indexing scheme relating to cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C2211/406—Refreshing of dynamic cells
- G11C2211/4067—Refresh in standby or low power modes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Description
1334145 , (1) _ 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明有關於電腦系統中之電源消耗,更詳而言之, ' 控制固態記憶體庫之再新率。 【先前技術】 隨著固態RAM (隨機存取記憶體)之溫度增加,記 φ 憶體以更快速的速度失去電荷。若記憶體失去電荷,則會 失去儲存於其記憶體單元中之資料。RAM晶片具有於週期 性的間隔復原失去的電荷之自行再新電路》間隔係選擇爲 夠短以使資料幾乎沒有失去或惡化的危險。 RAM之溫度大部分取決於它的主動級(讀取與寫入 至記憶體單元之速率)以及它的環境。增加電荷失去的速 率會產生更多的熱,而增加的熱會增加電荷失去的速率。 此外,每一個自行再新循環需要電力。對於在待機狀態中 # 的電腦,自行再新記憶體所需的電力爲總消耗電力之一大 部分。當電腦系統中的系統記憶體量增加時,自行再新電 力佔總系統電力消耗更大的部分。對於電池供電之系統, 諸如筆記型電腦、PDA (個人數位助理)、平板電腦、音 樂播放器以及可攜式電話,記億體再新循環會對電池壽命 造成顯著的影響。對於插入主電流之系統,再新循環增加 系統之操作成本。 此外,較新的記億體晶片設計需要甚至更短的自行再 新間隔。針對DDR2以及DDR3 (雙倍資料率)晶片,於 -5- 1334145 - (5) - 更多可合倂爲單一單元。MCH可包含於CPU或ICH中並 且所有三個裝置的功能可結合至單一晶片。當在喚醒狀態 中時,自ICH感應之溫度可發送至MCH或CPU,其可接 著調整再新率。於低功率狀態,可不供電至MC Η與CPU 。ICH,典型耦接到鍵盤、網路介面以及其他裝置,等待 將喚醒系統之中斷。 第2圖顯示第1圖之組態的替代例,雖然可結合這兩 • 種方式。於第2圖中,與記憶體單元10類似的記憶體模 組1 1具有一組DRAM晶片12A-I2N (僅顯示四個)或其 他記憶體以及溫度感應器〗8,其可包含一SPD。記憶體模 組經由記憶體匯流排耦合至記憶體控制器23。於第2圖中 ,MCH包含可擁有自己的電源井(power well)之自行再 新管理電路27。於第2圖之範例中,自行再新管理電路耦 合至個別的STR電源供應器38。於STR模式中,雖然供 應給大部分組件之正常電源(VCC )爲關閉,仍供應來自 ® STR電源供應器之電源。STR電源供應器可用以供電給除 了自行再新管理單元之外的記憶體模組以及其他組件。 溫度感應器耦合於諸如I2C或SMBus之事件匯流排 3】上至自行再新管理單元,以發送溫度資訊至自行再新管 理電路。由於兩組件皆於STR模式期間維持有電,即使其 他組件爲不活動的,仍可通訊。當系統於諸如STR之低功 率狀態時,溫度感應器以及自行再新管理單元能夠執行自 行再新管理功能。惟,與第1圖之範例相比,自行再新管 理電路直接耦合至其所處之MCH之自行再新控制電路( -9 - - (7) 1334145 、 可防止CPU將MCH編程並防止MCH接收命令而改變自 行再新率。亦關閉用以控制自行再新率之匯流排上的通訊 ,諸如記憶體匯流排以及MCH和CPU之間的匯流排。如 第4圖中所示,熱感應器以及SPD可組態成繼續操作。於 區塊341,檢查溫度》這可在爲了此目的而維持有電之系 統管理介面中進行。系統管理介面可接著於區塊343檢查 以判斷是否溫度低於熱臨限値。若溫度維持爲高,則於一 φ 段時間之後可重複溫度之檢查。 若溫度低於臨限値,則於區塊345檢查目前的自行再 新率。若它已設爲IX,則程序稍後可再返回檢查溫度。 若自行再新率設定爲2X,則系統管理介面可於區塊347 產生中斷至ICH。於區塊349,ICH接收中斷並喚醒CPU 。於區塊351,CPU接著命令MCH設定自行再新率至IX 。這需要MCH的一些部分被喚醒或MCH已經在部份或完 全喚醒狀態。於區塊3 53,曾喚醒之任何組件可返回到待 # 機或低功率狀態,諸如STR。 第4圖之程序允許系統在記億體冷卻後將記憶體自行 再新率變慢。即使當控制自行再新率之組件沒電或於待機 狀態中,仍允許自行再新率從2X改變至]X。可藉由增加 額外的溫度臨限値來變更程序以適應更多的自行再新率^ 因此’記憶體可以從4X到2X、到1X、到〗/2X、到]/4X 等等,以及任何介於其之間的希望的速率。類似地,若欲 增加記憶體溫度亦可使用溫度比較來增加自行再新率。 當命令系統進入STR模式後亦可執行額外的操作。 -11 - . (11) 1334145 ' 因此’例如軟體程式、參數或使用者資料可存於硬碟機或 其他驅動器上》PCI (週邊組件互連)匯流排691耦合至 ICH並允許各種裝置與埠耦合至ICH。第6圖之範例中包 含WAN (廣域網路)埠693、無線埠695、資料卡連接器 697以及視頻轉接卡699。可有更多連接至PCI埠之裝置 以及更多可能的功能。PCI裝置允許至區域設備或鄰近電 腦之連結。它們亦允許至各種週邊裝置之連結,如印表機 9 、掃描器、紀錄器、顯示器以及更多。它們亦允許至更遠 端之設備或數個不同介面之任一的有線或無線連結。 任何附接之裝置的特定本質可適應裝置之所希望有的 用途。可從此系統刪除或增加裝置、匯流排或互連之任一 或更多。例如,視頻可經由PCI Express匯流排或經由主 控制器的整合圖形部分提供於PCI匯流排上、AGP匯流排 上。 應了解到針對某些實施較佳有比上述範例之更多或更 • 少裝設之記憶體單元、記億體模組、熱感應器、熱管理或 電腦系統。因此,上述提供之範例的組態在不同實施中變 化,其取決於各種因素,如價格限制、性能要求、技術改 良或其他條件。本發明之實施例亦可適應與上述範例以外 之其他種類之記億體系統以及其他熱環境。亦可調整在此 所述之特定類型之待機以及電源模式以適應不同之應用》 本發明之實施例可以電腦程式產品的方式提供,其可 包含於上儲存有指令之機器可讀取媒體,指令可用以編程 一般目的之電腦、模式分散邏輯、記憶體控制器或其他電 -15- - (12) 1334145 子裝置以執行一程序。機器可讀取媒體可包含,但不限於 ,軟碟、光碟' CD-ROM以及光磁碟、R〇M、RAM、 EPROM、EEPROM、磁或光卡、快閃記億體或其他類型的 媒體或適合儲存電子指令之機器可讀取媒體。此外,本發 明之實施例亦可以電腦程式產品的方式下載,其中程式可 以體現於載波或其他傳播媒體中之資料信號的方式經由通 訊鏈結(如數據機或網路連結)自遠端電腦或控制器傳送 # 至請求之電腦或控制器。 於上述說明中,已提出各種特定細節。惟,應了解到 本發明之實施例可不以這些特定細節實施。例如,眾所週 知的等效材料可取代上述者,且類似地,眾所週知的技術 可取代揭露之特定處理技術。於其他例子中,眾所週知的 電路、結構以及技術並未詳細顯示以避免模糊對本發明之 理解。 雖以藉由數個範例描述本發明之實施例,熟悉該項技 Φ 藝者可體認本發明不限於上述之實施例,但可以落入所附 之申請專利範圍之精神與範圍內的變更與修改實施。因此 ,說明僅應視爲例示性而非限制性者。 【圖式簡單說明】 本發明之實施例的各種優點將於熟悉該項技藝者閱讀 說明以及所附之申請專利範圍並參照附圖後變得明顯,圖 中: 第】圖爲根據本發明之一實施例的電腦系統的一部分 (13) (13)1334145 之方塊圖; 第2圖爲根據本發明之另一實施例的電腦系統的一部 分之方塊圖; 第3圖爲根據本發明之一實施例的根據溫度調整記憶 體單元之自行再新率之程序流程圖; 第4圖爲根據本發明之一實施例於對RAM暫停之狀 態中根據溫度調整記億體單元之自行再新率之程序流程圖 » 第5圖爲根據本發明之一實施例於對RAM暫停之狀 態中根據溫度調整記憶體單元之自行再新率之程序流程圖 ;以及 第6圖爲適合實施本發明之實施例的電腦系統之方塊 圖。 【主要元件符號說明】 1 〇 :記憶體單元 π :記憶體模組 1 2 :記憶體裝置 1 2a~l 2d : SDRAM 裝置 1 2A〜1 2N : DRAM 晶片 1 4 :溫度測量模組 1 5 :溫度感應器 ]8 :序列存在偵測(SPD)裝置 22 :記億體控制器集線器(MCH ) -17- (14) (14)1334145 23 :記憶體控制器 24 :記憶體匯流排 2 6 :系統管理介面 27:自行再新管理電路 28 :系統管理匯流排(SMBus ) 3 0 :中斷線 3 1 :事件匯流排 32 :輸入/輸出控制器集線器(ICH ) 34 : ICH (輸入/輸出控制器集線器) 35 :輸入/輸出控制器集線器(ICH ) 36 :中央處理單元(CPU ) 38 : STR電源供應器 613, 615:中央處理單元(CPU ) 617:傳輸控制協定/網際網路協定(TCP/IP)卸載引擎 6] 9 : I/O處理器節點 621 :儲存裝置
62 3 : PCI轉譯集線器 625 : PCI-X 627 : PCI 裝置 63 7 :顯示器 63 9 :十億位元乙太網路控制器 641 :圖形控制器 663 :主控制器 665 :輸入/輸出控制器集線(ICH ) (15)1334145 667 :系統記憶體 669 :區域網路(LAN )埠 671 : USB集線器 (BIOS )快閃記憶體 673:區域基本輸入/輸出系統 675 :超輸入/輸出(SIO )埠 677 :前端面板 679 :鍵盤
6 8 1 :滑鼠 6 8 5 :紅外線裝置 6 8 7, 6 8 9 :碟機 6 9 1 : P CI匯流排 693 : WAN (廣域網路)埠 695 :無線埠 697 :資料卡連接器 699 :視頻轉接卡
Claims (1)
1334145 厂?V· ^ 十、申請專利範圍 附件4 A : • 第95Π 1 043專利申請案 Ψ文申請專利範圍替換本 民國97年9月18日修正 1-一種計算方法,包含: '測量記憶體單元之溫度,該記憶體單元具有自行再新 φ 率以維持資料之完整性,該記憶體單元係包含在具有高功 率模式以及低功率率式的系統中,該記憶體於該高功率模 式期間被存取’以及該記憶體於該低功率模式期間不被存 取; 比較該已測量之溫度與臨限値;以及 該系統於該低功率模式中時,根據該比較將該記億體 單元之該自行再新率調整成較慢的自行再新率。 2. 如申請專利範圍第1項之方法,其中測量包含讀取 φ 嵌入在該記憶體單元之隨機存取記憶體模組中之熱二極體 的電壓。 3. 如申請專利範圍第1項之方法,其中測量包含自該 記憶體單元之溫度電路接收溫度値。 4. 如申請專利範圍第3項之方法,其中比較包含比較 該已接收之溫度與於在低功率模式期間可操作的自行再新 管理電路中儲存的溫度。 .5.如申請專利範圍第4項之方法,其中該自行再新管 理電路係包含在該低功率模式期間爲不活動的且驅動該記 1334145 HI 憶體單元之該自行再新率的記億體控制器中。 6. 如申請專利範圍第1項之方法,其中調整包含產生 * 中斷至驅動該記憶體單元之該自行再新率的記憶體控制器 〇 7. 如申請專利範圍第1項之方法,其中調整包含產生 事件至驅動該記憶體單元之該自行再新率的記憶體控制器 〇 Φ 8·如申請專利範圍第1項之方法,進一步包含在測量 '比較以及調整之前設定該記憶體於待機低功率模式中。 9 -如申請專利範圍第1項之方法,其中比較與調整係 藉由具有不依賴待機狀態之自己的電源井(p0Wer well) 之電路於待機低功率模式中執行。 10·—種含有資料之機器可讀取媒體,當由該機器執 行媒體時會令該機器執行包含下列之操作: 測量記憶體單元之溫度,該記憶體單元具有自行再新 Φ 率以維持資料的完整性,該記憶體單元係包含在該機器中 ’該機器具有高功率模式及低功率模式,該記憶體於該高 功率模式期間被存取,以及該記憶體於該低功率期間不被 存取; 比較該已測量之溫度與臨限値;以及 該系統於該低功率模式中時,根據該比較將該記憶體 單元之該自行再新率調整成較慢的自行再新率。 11.如申請專利範圍第1 0項之媒體,其中測量包含讀 取嵌入在該記憶體單元之隨機存取記憶體模組中之熱二極 -2- 1334145 t_——________ ' 體的電壓。 1 2 .如申請專利範圍第1 0項之媒體,其中測量包含自 * 該記憶體單元之溫度電路接收溫度値。 I3·如申請專利範圍第1〇項之媒體,其中調整包含產 生中斷至驅動該記憶體單元之該自行再新率的記憶體控制 器。 14.如申請專利範圍第10項之媒體,其中調整包含產 φ 生事件至驅動該記憶體單元之該自行再新率的記憶體控制 器。 1 5 .如申請專利範圍第1 0項之媒體,進一步包含在測 量、比較以及調整之前設定該記憶體於待機低功率模式中 〇 16. —種計算裝置,包含: 記憶體控制器,以根據記憶體單元的已測量之溫度決 定該記憶體單元的自行再新率,該記憶體單元自行再新以 φ 維持資料的完整性,該記億體控制器具有高功率模式及低 功率模式,該記憶體控制器於該高功率模式中係可操作的 ,以及該記憶體控制器在該低功率模式中係暫停的;以及 自行再新管理電路,以根據該已測量之溫度於該低功 率模式中將該記憶體單元之該自行再新率調整成較慢的自 行再新率。 17. 如申請專利範圍第16項之裝置,進一步包含熱感 應器,該熱感應器係位在該記憶體單元上以測量該記憶體 單元之溫度,以及其中該自行再新管理電路係在該記憶體 -3- I,…, * 1334145 ί " 單元之外,該裝置進一步包含連接該熱感應器以及該記憶 體單元之匯流排,以允許該熱感應器發送該溫度資訊至該 • 自行再新管理電路。 18. 如申請專利範圍第17項之裝置,其中該自行再新 管理電路係包含在該記憶體控制器中,以及其中該匯流排 連接該記億體單元至該記憶體控制器。 19. 如申請專利範圍第16項之裝置,其中該自行再新 φ 管理電路係耦合至於該低功率模式期間供電之電源井。 2〇.—種計算裝置,包含: 記憶體控制器; 耦合至該記憶體控制器之處理器,該處理器及該記憶 體控制器具有高功率模式及低功率模式,該處理器及該記 憶體控制器於該高功率模式中係可操作的,以及操作於該 低功率模式中係暫停的; 耦合至該記億體控制器之記憶體單元,該記億體單元 # 具有由該記憶體控制器控制的自行再新率以維持資料的完 整性; 在該記憶體單元內之熱感應器,以測量該記憶體單元 之溫度;以及 耦合至該熱感應器之自行再新管理電路,以根據該已 測量之溫度於該記憶體控制器於該低功率模式中時將該記 憶體單元之該自行再新率調整成較侵的自行再新率。 21_如申請專利範圍第20項之裝置,其中該自行再新 管理電路藉由產生中斷至驅動該記憶體單元之該自行再新 -4- 1334145 ίΐ年1月卩略(更)正$換頁I 率的該記憶體控制器,以調整該自行再新率。 22.如申請專利範圍第20項之裝置,進一步包含當該 記憶體控制器以及該處理器在該低功率模式中時,供電該 記憶體單元以及該自行再新管理電路之待機電源井。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/093,706 US20060236027A1 (en) | 2005-03-30 | 2005-03-30 | Variable memory array self-refresh rates in suspend and standby modes |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200707450A TW200707450A (en) | 2007-02-16 |
TWI334145B true TWI334145B (en) | 2010-12-01 |
Family
ID=36838699
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW095111043A TWI334145B (en) | 2005-03-30 | 2006-03-29 | A computing method, computing apparatus, and machine readable medium |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20060236027A1 (zh) |
CN (1) | CN101133459A (zh) |
DE (1) | DE112006000792T5 (zh) |
TW (1) | TWI334145B (zh) |
WO (1) | WO2006105546A1 (zh) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9384818B2 (en) * | 2005-04-21 | 2016-07-05 | Violin Memory | Memory power management |
US7441949B2 (en) * | 2005-12-16 | 2008-10-28 | Micron Technology, Inc. | System and method for providing temperature data from a memory device having a temperature sensor |
US20080100636A1 (en) * | 2006-10-31 | 2008-05-01 | Jiin Lai | Systems and Methods for Low-Power Computer Operation |
US20080317086A1 (en) * | 2007-06-22 | 2008-12-25 | Santos Ishmael F | Self-calibrating digital thermal sensors |
US7886103B2 (en) * | 2008-09-08 | 2011-02-08 | Cisco Technology, Inc. | Input-output module, processing platform and method for extending a memory interface for input-output operations |
WO2010076828A1 (en) * | 2008-12-30 | 2010-07-08 | Emanuele Confalonieri | Non-volatile memory with extended operating temperature range |
US9658678B2 (en) | 2011-03-31 | 2017-05-23 | Intel Corporation | Induced thermal gradients |
US9490003B2 (en) | 2011-03-31 | 2016-11-08 | Intel Corporation | Induced thermal gradients |
US10817043B2 (en) * | 2011-07-26 | 2020-10-27 | Nvidia Corporation | System and method for entering and exiting sleep mode in a graphics subsystem |
CN103035282B (zh) * | 2011-09-30 | 2016-01-20 | 群联电子股份有限公司 | 存储器储存装置、存储器控制器与温度管理方法 |
DE112011105998T5 (de) | 2011-12-23 | 2014-09-18 | Intel Corporation | Speicheroperationen unter Verwendung von Systemtemperatursensordaten |
JP6101047B2 (ja) * | 2012-11-07 | 2017-03-22 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置及びその制御方法、並びにプログラム |
US9159397B2 (en) | 2012-12-04 | 2015-10-13 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatuses for refreshing memory |
US20150363261A1 (en) * | 2013-01-31 | 2015-12-17 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Ram refresh rate |
US9390785B2 (en) | 2014-03-27 | 2016-07-12 | Intel Corporation | Method, apparatus and system for determining a write recovery time of a memory based on temperature |
US9292210B1 (en) | 2014-08-29 | 2016-03-22 | International Business Machines Corporation | Thermally sensitive wear leveling for a flash memory device that includes a plurality of flash memory modules |
US9905199B2 (en) * | 2014-09-17 | 2018-02-27 | Mediatek Inc. | Processor for use in dynamic refresh rate switching and related electronic device and method |
US9653144B1 (en) | 2016-06-28 | 2017-05-16 | Intel Corporation | Apparatuses, methods, and systems for package on package memory refresh and self-refresh rate management |
US10062453B1 (en) * | 2017-03-09 | 2018-08-28 | Toshiba Memory Corporation | Calibrating I/O impedances using estimation of memory die temperature |
US9857978B1 (en) | 2017-03-09 | 2018-01-02 | Toshiba Memory Corporation | Optimization of memory refresh rates using estimation of die temperature |
CN107393577B (zh) * | 2017-08-21 | 2018-06-08 | 睿力集成电路有限公司 | 应用于半导体存储器的zq校准控制 |
US10169030B1 (en) * | 2017-09-13 | 2019-01-01 | International Business Machines Corporation | Refreshing a software component without interruption |
US20190378564A1 (en) * | 2018-06-11 | 2019-12-12 | Nanya Technology Corporation | Memory device and operating method thereof |
JP6709825B2 (ja) * | 2018-06-14 | 2020-06-17 | 華邦電子股▲ふん▼有限公司Winbond Electronics Corp. | Dram及びその操作方法 |
CN110739013B (zh) * | 2018-07-18 | 2021-08-10 | 华邦电子股份有限公司 | 动态随机存取存储器 |
US11321008B2 (en) | 2018-11-15 | 2022-05-03 | Micron Technology, Inc. | Temperature-based memory management |
US11100972B2 (en) * | 2019-02-12 | 2021-08-24 | Micron Technology, Inc. | Refresh rate control for a memory device |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1992007317A1 (en) * | 1990-10-12 | 1992-04-30 | Intel Corporation | Slow memory refresh in a computer with a limited supply of power |
US5937170A (en) * | 1997-02-21 | 1999-08-10 | Vlsi Technology, Inc. | Data communications with processor-assertable addresses mapped to peripheral-accessible-addresses-times-command product space |
US6134167A (en) * | 1998-06-04 | 2000-10-17 | Compaq Computer Corporation | Reducing power consumption in computer memory |
US6021076A (en) * | 1998-07-16 | 2000-02-01 | Rambus Inc | Apparatus and method for thermal regulation in memory subsystems |
US6453218B1 (en) * | 1999-03-29 | 2002-09-17 | Intel Corporation | Integrated RAM thermal sensor |
JP2001052476A (ja) * | 1999-08-05 | 2001-02-23 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
US6515896B1 (en) * | 2001-07-24 | 2003-02-04 | Hewlett-Packard Company | Memory device with short read time |
US6937958B2 (en) * | 2002-02-19 | 2005-08-30 | Sun Microsystems, Inc. | Controller for monitoring temperature |
JP4462528B2 (ja) * | 2002-06-24 | 2010-05-12 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
KR100532448B1 (ko) * | 2003-07-12 | 2005-11-30 | 삼성전자주식회사 | 메모리의 리프레시 주기를 제어하는 메모리 컨트롤러 및리프레시 주기 제어 방법 |
-
2005
- 2005-03-30 US US11/093,706 patent/US20060236027A1/en not_active Abandoned
-
2006
- 2006-03-29 TW TW095111043A patent/TWI334145B/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-03-30 WO PCT/US2006/012987 patent/WO2006105546A1/en active Application Filing
- 2006-03-30 DE DE112006000792T patent/DE112006000792T5/de not_active Ceased
- 2006-03-30 CN CNA2006800064558A patent/CN101133459A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE112006000792T5 (de) | 2008-01-31 |
US20060236027A1 (en) | 2006-10-19 |
CN101133459A (zh) | 2008-02-27 |
WO2006105546A1 (en) | 2006-10-05 |
TW200707450A (en) | 2007-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI334145B (en) | A computing method, computing apparatus, and machine readable medium | |
EP2853984B1 (en) | Constraining processor operation based on power envelope information | |
TWI818592B (zh) | 用於通用快閃記憶體儲存(ufs)的降電模式 | |
US9575677B2 (en) | Storage system power management using controlled execution of pending memory commands | |
TWI464571B (zh) | A power saving electronic device for a computer motherboard in a standby dormant state and a computer motherboard | |
US7412614B2 (en) | Power management using a pre-determined thermal characteristic of a memory module | |
TWI417740B (zh) | 用於在獨立的頻率及/或電壓操作積體電路之組件之系統及方法 | |
US7174471B2 (en) | System and method for adjusting I/O processor frequency in response to determining that a power set point for a storage device has not been reached | |
US7664970B2 (en) | Method and apparatus for a zero voltage processor sleep state | |
TWI341969B (en) | Method for causing a memory to enter self refresh, memory apparatus that can enter a self refresh, and coumputing system | |
US10891062B2 (en) | Managing host communication with a regulator in a low power mode | |
KR101485274B1 (ko) | 저장 드라이브 관리 | |
TWI597597B (zh) | 用於有效能源耗用之積體電路裝置、處理器及方法 | |
US20080288798A1 (en) | Power management of low power link states | |
TW201812513A (zh) | 積體電路裝置及電子裝置 | |
WO2009158096A1 (en) | Solid-state disk with wireless functionality | |
KR20210110071A (ko) | 스토리지 장치 및 상기 스토리지 장치의 동작 방법 | |
JP2015203995A (ja) | 不揮発性メモリのデータ消失を防止する方法、コンピュータおよびホスト装置。 | |
US9612652B2 (en) | Controlling power consumption by power management link | |
JP5179454B2 (ja) | コンピュータおよび電源装置 | |
US8138929B2 (en) | Method for protecting data in non-volatile storage device and computer thereof | |
JP2014075015A (ja) | 不揮発性記憶装置のデータを保護する方法 | |
CN102594575A (zh) | 控制服务器休眠与唤醒的系统及方法 | |
TW201405298A (zh) | 記憶體裝置及其控制方法 | |
JP3769541B2 (ja) | コンピュータ装置、miniPCIカード、自動電源オン回路、および自動立ち上げ方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |