TWI328931B - Timing generator, testing device, and timing generating method - Google Patents

Timing generator, testing device, and timing generating method Download PDF

Info

Publication number
TWI328931B
TWI328931B TW095132697A TW95132697A TWI328931B TW I328931 B TWI328931 B TW I328931B TW 095132697 A TW095132697 A TW 095132697A TW 95132697 A TW95132697 A TW 95132697A TW I328931 B TWI328931 B TW I328931B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
phase
voltage
signal
timing
value
Prior art date
Application number
TW095132697A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200711314A (en
Inventor
Naoki Sato
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Publication of TW200711314A publication Critical patent/TW200711314A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI328931B publication Critical patent/TWI328931B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • G01R31/31924Voltage or current aspects, e.g. driver, receiver
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • G01R31/31922Timing generation or clock distribution

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)

Description

1328931 21800pif.doc 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是關於生成所需的時序的選通(strobe)信號之 時序產生器及時序產生方法以及對被測試元件進行測試的 測試裝置。本發明申請案與下述的美國專利申請有關。對 藉由文獻的參照來形成的組合所認可之指定國而言,將下 述的申請案所記述的内容藉由參照而組合到本發明申請案 中,以作為本發明申請案的一部分。 US 11/223892申請日2005年9月9日 【先前技術】 作為習知的用於生成所需的相位的時脈信號之方 法’已知有一種利用PLL (Phase Lock Loop ’鎖相回路) 的方法。該方法中藉由在供給到PLL的電壓控制振盪器的 控制電壓上重疊所需的電壓,而使時脈信號的相位對應於 該重疊電壓而偏移。 但是’當利用電壓控制振盪器使時脈信號的相位進行 偏移時’在已設定的位移量和實際的位移量之間有時會產 生誤差。因此’在習知技術中,是藉由預先測定在電壓控 制振盈器的控制電壓上所重疊的電壓和實際的位移量之關 係而進行預置(initialize)。 例如’藉由將2種電壓重疊至電壓控制振盪器的控制 電壓上’並檢測對各個重疊電壓的相位偏移量,則可對重 疊電壓和相位偏移量的關係進行測定。在這種情況下,需 要正確地檢測相位偏移量。但是,在正確地檢測相位偏移 6 21800pif.doc 量的情況下,例如需要利用閉環(1〇〇p ==電路中的延遲等會產生各種測定誤差 產生的目的是提供能夠解決上述課題的時序 、置以及時序產生方法。該目的利用專利申 二本發二 =:合一且’從屬 恶決上述課題,本發明的第1形態提供時序產生 第2 於輸出對第1週期錢具有所㈣相位差之 =二應===:對 括广預=上並供給到電壓控制振盪部;時序控制部包 控對用於表示針對重疊電壓的變化的、電壓 位移二4輸出的振^信號的時序偏移量的比例之時序 信號茲L壓生成部’其根據與第2週期 相ί對另=1週期信號及第2週期信號中的至少一個的 盘第2週期^相位進行位移,以使第1週期信號的相位 下’_生成部供===== 1328931 21800pif.doc ,致糊的相位和第2週期信號的相位再 - 人-致時的重疊電壓的變化量進行檢測;以及增 :第2相位調整裝置所檢測的重疊電“變化 週期信號的相位_化量來計算時序位移號對第 第。2相位調整裝置可以第2週期信號的相位在包含i mi週期的規定的整數倍之變化量之範圍内進行變 :目位成部所生成的重疊電壓依次進行變化。第2 1 ί裝刀別在第1職錢的週期的規定的整數 程中,以在第1週期信號的不足1週 期的範_ ’使第2職錢_位發生變化 使重疊電壓依次進行變化,且增益計算部可 ^ 期信號的週期的規定之整數倍的偏移;J = 變化量,而計算出時序偏移增益。于乂重豎電壓的 辦範圍存儲部,其預先存错著用於表示電壓控 彡動作的重疊電壓的_之資訊;電壓生成 ==一=:下’在範_部所存儲= [的乾圍内,預先生成-種大致是下限的重疊電壓= 1相位調整裝置在將大致是下限的重疊電壓重聶至 壓上的狀態下,使第2週期信號的相位進—步U = 第1週期信號的相位和第2週期信號的相位一致 論值’並使第i週期信號的週期的理論值成為規定 1328931 21800pif.doc •倍的值之後除以”電壓的變化量以算出時序偏移增益。 纟發θ的第2m提供—種測試裝置,為對被測試元 件進行測試的測試褒置,此測試裝置包括: 圖案產生器, 其依據所給予的時序信號,對被測試元件供給測試圖案; 仏?檢測器*利用所給予的選通信號的時序對應於被 測試兀件以對被測試元件所輸出的輸出信號的 信號值進行 檢測’時序產生器’其生成時序信號及選通信號並將這些 ❿健供給及信驗_ ;欺^,其根據信 號檢測器所檢_信號值,對被測試元件的好壞進行判 疋,時序產生11包括:第1電壓控制振盈部,其將-種與 所給予的控制電壓相對應的頻率的減信號作為時序信號 而,出,第2電壓控制振盡部,其將一種與所給予的控制 3相對應的頻率的振盈信號作為選通信號而輸出;以及 時f控制部’其將一種與選通信號和時序信號應具有的相 位所對應的重豐電壓重疊至控制電麗上並供給到第^電 義馳制振盪部或第2電壓鋪振盪部;時序控制部包括: 預置部,其對用於表示針對重疊電壓的變化的、第^電塵 ,制振,部或第2電餘制振盪部所輸出的振Μ信號的時 立偏移里的比例之時序偏移增益進行測定,·以及電壓生成 部,其根據一種與選通信號和時序信號應具有的相位差所 對應的時序位移量和時序偏移增益,以生成該重疊電麗; 預置部包括:第!相位調整裝置,其使時序信號及選通信 號中,至少一個的相位對另一個的相位進行偏移以使時 序信號的相位與選通信號的相位一致;第2相位調整裝 9 21800pif.doc 二,轉著藉由第丨相_整裝置所形成的相位偏移 二狀態下’使電壓生成部供給到電屋控制㈣部的 -电壓依次變化’並對第1週期信號的相位和第2週期信號 ϋ相,再次一致時的重疊_的變化量進行檢測;以及‘ 十,部’其根據第2相位調整裝置所檢測的重疊電壓的 ,化量,和藉由使重疊電壓變化所形成的第2週期信號對 第1週期信號的相位的變化量,而計算時序偏移增益。 、本發明的第3形態提供時序產生方法,為一種用於生 =第1週期信號具有所需的相位差之第2週期信號的時 產生方法,包括:電壓控制振盪階段,其將與施加的押 ^電壓相對應之頻率的振盪_,作為第2週期信號而^ ,以及時序控制階段,其將與第2週期信號對第1週期 仏號應具有_位差所對應之重疊電壓重疊至控制電壓上 =供給到電壓㈣振紐段;時序控麵段包括:預置階 段,其對用於表示針對重疊電壓的變化的、在電壓控制振 盡階段所輸出的缝㈣的時序偏移量的比例之時序 增益進行測定;以及電壓生成階段,其根據-種與第2週 期信號應具有的所需_位差賴應㈣相移量和時序 偏移增益’以生成該重疊電壓;預置階段包括:第1相位 調整階段,其使第丨週期信號及第2職信號中的至少一 個的相位對另—個的相位進行偏移,以使第1週期信號的 相位與,2週期信號的相位一致;第2相位調整階段,其 在保持著第1相位調整階段中的相位偏移量的狀態下,使 電壓生成階段中供給到電壓控制振盪階段的重疊電壓依次 1328931 21800pif.doc 變化,並對第1週期信號的相位和第2週期信號的相位再 次一致時的重疊電壓的變化量進行檢測;以及增益計算階 ^又,其根據第2相位調整階段所檢測的重疊電壓的變化 量,和藉由使重疊電壓變化所形成的第2週期信號對第j 週期彳§號的相位的變化量,而計算時序位移增益。 另外,上述的發明的概要並未列舉本發明的全部的必 要特徵,本發明的特徵群的子集也可又形成發明。 【實施方式】 以下藉由發明的實施形態來對本發明進行說明,但以 下的實知形態並不對申請專利範圍的發明進行限定,而且
實施形態中所說明之特徵的組合的全部也未必是發明的解 決方法所必須者。 X 圖1所示為關於本發明的實施形態之測試裝置100的 構成的一個例子。測試裝置1〇〇為一種對半導體電路等的 被測試元件進行測試的裝置,此測試裝置100包括圖案產 生器10、信號檢測器12、判定器14及時序產生器2〇。 _圖案產生器10對應所給予的時序信號以生成對被測 試元件200進行測試的測試圖案,並供給到被測試元件 200。k號檢測器12對被測試元件200依據測試圖案所輸 出的輸出k號的k號值,在所給予的選通信號的時序下進 行檢測。例如,信號檢測器12可為在被測試元件2〇〇的每 一接腳(pin)上所設置的比較器。 〇時序產生器輸出所需之時序的時序信號及選通信 號。在本例中,時序產生器20生成一種規定此圖案產生器 11 21800pif.doc 生試圖案的輸出時序、週期等用的時序信號。 號的二器2〇依據信號檢測器12應檢測之輸出信 ίΐ時序以輸出上述之選通信號。 啼伯判^ 14根據信號檢測器12所檢測的輸出信號的信 fi 試元件的好壞進行判定。例如,判定器 幸:n 案產生器10根攄測試圖案所生成的期待值圖 it:!!1112所檢測的信號值進行比較,而判定被測 成70件200的好壞。 ,2所示為測試裂置⑽之詳細構成的—個例子。在 》,圖案產生器10具有圖案發送器11及波形產生器
而且時序產生器20具有第1PLL電路U —卜第2PLL ,路21-2及時序控制部4〇。第1Ηχ電路2ι —ι以所給 =基準時脈作為基準’生成所㈣率的時序信號。而且, PLL電路21-2以所給㈣基科脈作絲準,
所需頻率的選通信號。由於第1PLL電路21-1及第2PLL 電路21-2具有相同的構成,所以在本例巾是對第肌^ 電路21 —2的構成來進行說明。第2ρΐχ電路21一2 相位比較部22、$#部24、低通·器26、電壓 盪部28及分頻器30。 电登控制振 相位比較部22、低通濾波器26、電壓控制振盈部28 为頻器30構成所謂的PLL (鎖相回路)。電壓控制振 4 28將與所料的控織黯叙鮮的振餘號,作為 選通信,而輸出。相位比較部22對藉由分頻器3〇所接收 的選通信號的她和所給予絲料脈的相位進行比較, 12 1328931 21800pif.doc 並輸出與相位差對應的控制電壓。 廷裏,基準時脈為週期不變動的時脈。例如, 脈可以是-種為了使職裝置剛的各構成要^“ 配至各構成要素科脈。而且,基科脈_與時 器20所具有的PLL不同的電路來生成。 時序控制部40將應輸出時序信號及選通信 時序所對應之重疊電壓重疊至第lpLL電路2卜Υ = 2PLL電路21:2的各個相位比較部22所輪出的控制電壓 上,並將此重疊電壓供給5彳電壓控制振盪部Μ。在 中’時序控制部4〇將該重疊電壓輸出到重疊部Μ聶 部24被設置在相位比較部22和電塵控制振靈部28之i 並在相位比較部22所輸出的控制電壓上,加上時序 電壓且此重疊電壓經由低通舰器26 而供給到霞控制錢部28。這種構成,可使電壓控 制缝部28所輸出的選龍_相位對應於重疊電壓ς 偏移,以便以所需㈣縣輸㈣序錢及選通信號。 ^進行被測試树勘的測試時,時序信號及選通信 號有時應具有所需_位差而生成嘴序㈣部4()在進行 被測試錯200的測試之前,預先測㈣於表示對重疊電 壓的變化的、電壓㈣健部28所輸出的振餘號的時序 偏移量的比例之時序偏移增益1後,在進行被測試元件 200的測試的情況下,將與時序信號及選通信號應具有的 相位差相對應的重疊電壓,供給到第1ριχ電路2ΐ —ι及 第2PLL電路21 —2。 21800pif.doc 序偏移増i的測定是藉由對圖案產生部10依據 輸出的圖案’在信號檢測器12中對應於選通信 二由H則。在這種情況下,信號檢測器12的檢測結果 可措由判定HU以供給到時序控制部40。 ㈣示树序控购4G之構成的—侧子。時序 5:。預置邱:括預置部56、電壓生成部50及範圍存儲部 定時序偏^ =進订被測試元件勘的測試之前,預先測 ㈣择㈣二其用於顯示對重疊電壓的變化的、電壓 =置出的振a信號的時序偏移量的比例。亦 傾钭量時=鼻重疊電壓變化量—時序偏移量的特性的 制電壓上’並檢測對各個重 :== ::=r變化版重蝴=可: ,屢生成部5G生成-種重疊電壓, 振盪部28的控制電壓上。例如:在二= 二選^ = Ϊ況下’電壓生成部5〇根據對應於應輸 出該賴所需時序之時相移量 = 序偏移增益,以生成該重疊電壓。例如,電壓生^ .P 5〇藉由將時序偏移餘叫相 u 生成 成的重疊電壓的電壓值。在太 si里,计鼻應生 序資料而被供給 在本财,該時序偏移量作為時 預置部56具有相位調整部46辩 調整部46根據來自判定哭14 曰/ ° 。相位 到疋。° 14的域,對圖案信號(時序 21800pif.d〇c 位和選通信號的相位進行比較。相位調整部46 號的相位Π 5〇所生成的重疊電壓進行變化,並對圖案信 和選通信號的相位是否—致進行檢測。在這種情 伯例如判定器14中供給一種被固定為Η位準或[位 為期待值,#判定結果切換時,可對圖案信號 的相位和選通信號的相位是否一致進行判定。 、以亡的實施形態中所提及的圖案信號、選通信號、第 1週期彳。號和帛2週期信號等等,其時脈之間的間隔是^ 奈秒。圖2的基準時脈和波形成形器13的輸出時脈 和振幅分別為12.5 MHz〜125 MHz (1G〜6.5 bps)和0 l〜i V(峰至峰值)。 在對時序偏移增益進行測定的情況下,首先,相位調 整部46使時序信號及選通信號中的至少一個的相位對另 一個相位進行偏移,而使時序信號的相位和選通信號的相 位一致。例如,相位調整部46在如前面所說明的那樣檢測 到相位的一致之前,藉由使供給到第1PLL電路21 —1或 第2PLL電路21 —2的重疊電壓進行變化,使圖案信號的 相位和選通信號的相位一致。 此時’電壓生成部50可在預先所確定的範圍内生成 該重疊電壓。例如,電壓生成部50可生成電壓控制振盪部 28進行線形動作的重疊電壓之範圍的大致是下限的重疊 電壓,相位調整部46可使電壓生成部50所輸出的重疊電 壓徐徐增加。這裏’所說的電壓控制振盪部28進行線形動 作之重疊電壓的範圍’是指對已重疊至電壓控制振盪部28 15 21800pif.doc 叠電壓的變化,電壓控麵部28所輸 電壓的位偏移量進行線形變化的。該重疊 50可依i央6 4 &圍存儲部54預先進行存儲。電壓生成部 電严。鈇m目位調整部46的指示,生成該下限的重疊 二’、、、彳目立調整部46在該大致是下限的重 ^在控㈣壓上的狀態下,使選通信號的相位進行偏 移,而使隨錢的她和選通信號的相位一致。 相位調整# 46可保持著圖案信號的相位和選通信號 =位-致之重疊電壓的電壓值。然後,相位調整部私 使電壓生成部5G供給到電壓控制振蘯部28的重曼電壓依 -人進订變化’並·案信號的相位和選通信號的相位再次 時的重疊電壓的變化量騎檢測。例如,藉由相位調 ^46所保持的電壓值,與圖案信號的相位和選通信號的 ^位再次-致時的重疊電壓的電隸之差分來檢測該變化 篁。而且位調整部46可生成漸增或漸減的電壓。 增益計算部4 8根據相位調整部4 6所檢測的重疊電壓 =變化里’及S1使重覺電壓變化而形成之選通信號的相位 的變化量來計算時序偏移㈣。如上所述,在使重疊電壓 進行變化祕後,由於_信號_位和魏信號的相位 一致’所以因使重疊電壓變化所造成之選通信號的相位的 變化量成為圖案信號的週期的整數倍。 例如,在相位調整部46使重疊電壓逐漸增加,且使 該選通信號的相位連續地進行變化的情況下,在圖案信號 的相位和選通信號的相位再次一致時,可使選通信號的相 1328931 21800pif.doc 位偏移量成為圖案信號的週期的1倍。在這種情況下,增 益計鼻部48藉由將圖案信號的週期除以重疊電壓的變化 可算出時序位移增益。增益計算部48預先存儲圖案信 號的週期的理論值時較佳。
而且,在相位調整部46從最初時圖案信號的相位和 選,信號的相位一致的狀態,使選通信號的相位只在圖案 信號的週期的整數倍之相位偏移的相位附近中,則在選通 信號的相位連續地進行變化的情況下,圖案信號的相位和 2通信號的她的再:欠-断,可使魏信制相位偏移 量^為圖案信號的週期的該整數倍。在這種情況下,增益 «十算4 48藉由將圖案信號的週期之邏輯值的該整數件除 以重疊電壓的變化量,可算出時序偏移增〜、 藉由像上述這樣將圖案信號的已知的週期作為基準 ,測定該選通信號的相位偏移量,可輕鬆地對該相位偏移 量進行測定。因此’能夠輕鬆地計算㈣序偏移增益。
圖4所示為重疊電壓和選通信號的相 的-個例子。在圖4中,縱轴表示:: ,叠電__電壓值。而且,在圖4中’以虛線表示t = ,偏移里特性的理想值,以實線來表示該特性的實測 值。該特性如圖4所示’具有線形區域(νι〜 辑5㈣物為糊區域之^ 該特性的理想值和實測值例如會由 部28的特性等而具有誤差。因此,在為了使例如 17 1328931 21800pif.doc 的相位以位移量A來偏移而根據該特性的理想值以生成此 重疊電壓V2的情況下,選通信號的相位的實際偏移量對 A會具有誤差。因此,如圖3中所說明的那樣,對該特性 進行測定並預先算出時序偏移增益時較佳。 圖5所示為預置部56之動作的一個例子的時序圖。 首先,相位調整部46使圖案信號的相位和選通信號的相位 一致。藉此,如圖5 (a)所示那樣,使圖案信號的上升邊 緣的相位和選通信號的上升邊緣的相位一致。 然後,相位調整部46生成一種與圖案信號的週期的 整數倍的相位偏移量相對應之重疊電壓,此重疊電壓並重 ,至控制電壓上。這裏,對相位調整部46預先供給圖案信 號的週期的設計值以作為圖案信號的週期。藉此,如圖5 (b)所不那樣,使選通信號的上升邊緣的時序位於該整數 倍的週期後的圖案信號之上升邊緣的時序的附近。此時, 如圖4中所說明者,選通信號的相位和圖案信號的相位具 有誤差。 >。然後,如圖5 (b)所示那樣,相位調整部46使選通 ^號1相位在包含圖案信號的週期的該規定的整數倍變化 里之範圍内使重疊電壓依次進行變化並搜索該選通信號 的相位與圖案k號的相位一致時之重疊電壓,而如圖5(c) 所不那樣,使選通信號的相位和圖案信號的相位一致。 ,時,相位調整部46以使選通信號的相位分別在圖 二/號的週期的規定整數倍之變化量的前後期間,在圖案 七號的不足1週期的範圍内進行變化,而使重疊電壓依次 2l80〇pif(joc 時較佳。例如,在圖5㈦中,由於搜索該圖案 “緣二序:選通信號的第7脈波: 小^内進信號的第5脈波上升邊緣的時序還 無誤地檢重曼電麼進行變化。藉此,可 數倍的偏移時相位進行圖案信號的週期的該整 -個=====產生方法的 :=生器2。,以產生所需的===明 :預置階段_〜_和電屋產生 =(S306) ’其中預置階段中須敎—種時序偏移增益, 對重疊電壓的變化的、電力控制振盪部烈所輸出的 輪出序偏移量的比例,電壓產生階段中根據與應 輸出選通化就的所需的時序相對應之時序偏移量和時序偏 移增益,以生成該重疊電壓。 f預置階段中,首先在第丨相位調整階段S3〇〇中使 圖f信號及選通信號的至少—個的相位相對另-個的相位 進行偏移,而使圖案信號的相位和選通信號的相位一致。 第1相位調整階段S300藉由與圖3中所說明的相位調整 部46同樣的方法,使圖案信號的相位和選通信號的相位一 致。 接著,在第2相位調整階段S302中,從在第丨相位 1328931 21800pif.doc 調整階段S300所檢測到的重疊電壓開始使電壓值依次進 行變化,並對圖案信號的相位和選通信號的相位再次一致 時的重疊電壓的變化量進行檢測。第2相位調整階段S302 中藉由與在圖3中所說明的相位調整部46同樣的方法來檢 測該重疊電壓的變化量。 接著’在增益計算階段S304中,根據第2相位調整 階段S302中所檢測到的重疊電壓的變化量,及由於使重 疊電壓變化而形成的選通信號對圖案信號的相位的變化 量’來計算時序偏移增益。增益計算階段S304中藉由與 圖3中所說明的增益計算部48同樣的方法來計算時序偏移 增益。 然後,在上述的電壓產生階段S306中,生成一種與 時序偏移量對應的重疊電壓^利用這種方法,可以所需的 時序輕鬆地生成精度良好地受到控制的選通信號。 如上所述’時序產生器20可在所期望的時序輸出一 種用於供給到測試裝置1〇〇所具有的驅動器(波形成形器 13)的時序信號,且輸出一種用於供給到測試裝置1〇〇所 具有的比較器(信號檢測器12)的選通信號。在這種情況 下,時序信號及選通信號由不同的PLL電路生成。然後, 時序產生器20可利用圖1至圖6中所說明的方法,分別計 算對時序信號的時序偏移增益及對選通信號的時序偏移增 益。 而且,在以上說明中,是使選通信號的相伋進行偏 移,而將時序信號和選通信號的相位差控制為所需的值, 20 1328931 21800pif.d〇c 子中,也可使時序信號的相位進行偏移,而 需?值。在這種情況下,在圖1至圖6 的^理t法中可藉由料序賤的處理和對選通信號 的處理進行切換而輕鬆地進行。 的時上的說明中是對將測試裝置議所使用 的時序域和選通信號的相位差控制在所 序產生方法並不限定於對測試裝置腦 所使用之摘㈣的相位差之控制 第1週期信號和規定頻率的第2獅乂在規疋頻羊的 ㈣帕ΛΛ 士 第週期域之間’也可利用 圖所說月的方法,對第1週期信號和第2週期信號之相 位差輕鬆地進行㈣。 _ = ㈣對本發明贿了說明,但本發明的 的技術人員應該清楚,在一關和丁系 ㈣Μ Μ A ί 述形態上可加以各種各樣 的變更或改良。由申請專利範圍的記述可知,此種加以變 更或改良的形態也可包含在本發明的 【圖式簡單說明】 拔j =二Ϊ關於本發明的實施形態之測試裝置100的 構成的一個例子。 圖2所示為測試裝置1〇〇之詳細構成的一個例子。 圖3所4時序控制部40之構成的—個例子。 圖4所示為重登電壓和選通信號的相位 的一個例子。 作里i關你 圖5所示為預置部56之動作的一個例子的時序圖。 1328931 21800pif.doc 圖6所示為關於本發明的實施形態之時序產生方法的 一個例子的流程圖。 【主要元件符號說明】 10 :圖案產生器 11 :圖案發送器(generator) 12 :信號檢測器 13 :波形成形器 14 :判定器 20 :時序產生器 21 : PLL電路 22 :相位比較部 24 :重疊部 26 :低通慮波器 28 :電壓控制振盪部 30 :分頻器 40 :時序控制部 46 :相位調整部 48 :選通計算部 50 :電壓生成部 54 :範圍存儲部 56 :預置部 100 :測試裝置 200 :被測試元件 22

Claims (1)

1328931 21800pif.doc 十、申請專利範圍: 1.-種時序產生器’用於輸出第i週期 ==週期信號具有以前述“ 期信週 前述時序控制部包括: 且輸出重疊電壓; 參 相位調整裝置,复枯& 偏移而與前述第1週期信:的相位週=信3=連續地 的第鳴、和前述==-致時的重疊電壓 期信號的相位再次-致時的重前述第2週 作為重疊電壓的電壓值 2=第2電壓值的差分 =rr前述第2=::=1週 位偏移量、和前述第丨,位致時的第!相 號的相位再次一致時2,號:相位和前述第2週期信 的變化量而輸出, #位偏移I的差分作為偏移量 增益計算部,依 r變化量、心移==:¾ 的之==述以二目的之相位差,依據前述目 電壓; ❺移增姐,財叙輸出前述重叠 重疊部’其輪入 工制電壓和由前述時序控制部所輪出 23 1328931 21800pif.doc 的前述重疊電壓,對這些電壓進行加算且將顯示此加算的 結果的電壓予以輸出;以及 電壓控制振盪部,其輸入前述重疊部的輸出電壓,且 輸出具有與前述輸出電壓值對應的頻率的振盪信號,以作 為剞述第2週期信號。 2. 如申請專利範圍第1項所述的時序產生器,其中: 1述第2相位調整裝置以前述第2週期信號的相位在 包含前述1週期信號的週期的整數倍變化量之範圍内進行 A化使%述電壓生成部所生成的前述重疊電壓進行變化。 3. 如申請專利範圍第2項所述的時序產生器,其中: ,述相_整裝置分別在前述第丨職錢的週期的 :„之變化量的前後,以在前述第1週期信號的不 足f期的範圍内,使前述第2週期信號的相位進行變化, 以使前述重疊電壓進行變化,且 述整由使前述第1週期信號的週期的前 出前述除以前述重疊電壓的變化量,而計算 4甚如申請專利範圍第3項所述的時序產生器, 還包括範圍存儲部,盆先存 - 控制振盪部呈線形動作的二、=::用於表示前述電壓 舒、. 卿的别述重疊電壓的範圍之資訊; ’迷健生成部在前述第丨相 週期信號的相位和前述$ j裝置使别述第1 下’在前述範圍存儲部所存的c位-致的情況 預先生成下限的前述重疊^的^重疊電_範圍内’ 24 2l800pif.d〇c -步變化,以使刚述第週期信號的相位進 述弟1週期信號的相位和前述第β期 ^如申請專利範圍第2賴賴時序產生n,. 前述增益計算部可藉由使前述第1週期信. 理論值之成為前述整數倍的值之後除以前述 化量,而算出前述時序偏移增^ H壓的變 試裝種對被測試元件進行測試的測 給測生器’其依據時序信號’對前述被測試元件供 元件測J利用選通信號的時序’對前述被測試 檢測,'、、;〜、1 =圖案所輪&的輸出信號的信號值進行 供4==產Ϊ生成前述時序信號及前述選通信號並 U =_產生器及前述信號檢測器, ;、f祜、ΡΙ·^、_ 據刖述仏號檢測器所檢測的信號值,對 則述被測试兀件的好壞進行判定; w生讀4前料序㈣和具有以前述時 私t目的之相位差的選通信號且包括: 相位差以及前述目的之她=序錢和魏選通信號的 重疊部或第2重疊部;位差’且將重疊電壓輸出至第1 25 uzoyji 21800pif,d〇c 前述時序控制部包括·· 相位調整裝置,龙 至少-方的相位相對於選通信號和前逃時序信號的 述選通信號的相位和前述_ 連續地偏移,以使前 通信號的相值和前述 σ唬的相位一致,將前述選 第1電>1值、和前述 %的相位—致時的重疊電歷的 位再次-致時的重叠電“;選通信號的相 屢輸值的變化量而輪分作為賴 前述選通信號的相位一發姓使别述時序信號的相位和 序信號的相位和前述選_21相位偏移量、和前述時 位偏:巧二作為偏移量的輸大出一致時的第2相 的變化量、和前述偏正裝置所輸出的電壓值 電壓生成化量,算出時序偏移增益; 的之相位差和前述時序差,依據前述目 壓; 吟序偏移增益以生成且輸出前述重疊電 前述測試裴置又包括·· 如述第1重疊部,其輸入 部所輸出的前述重w L 4時序控制 此加算的結果的==,進行加算且將顯示 ㈣笛輸出至第1電壓控制振盪部; ;L 且部,其輸入控制電壓和由前述時岸批& 部所^的前述重叠電壓,對這些電壓進行加算且=制 此加=的結果的電壓予以輸出至第2電壓控制振^顯不 1電虔控制振盪部,其輸入前述第1重疊部的輪出 26 1328931 21800pif.doc 將具有與該輪出電壓值相 作為前述時序信號而輪出,以及〜的頻率的振盡信號 電壓第】麵部’其輸八前述第2重, 電屋且將具有與該輪出㈣值 卩的輪出 作為前述選通信號而輪出。 〜的頻率的振盪信號 7.—種時序產生方法, 號具有目的之相位差之第迥;成對第1週期信 括: 弟2獅號的時序產生方法,包 時序控辦段,輪Μ 期信Ϊ的相位差以及前述目的之相第2週 月,J述時序控制階段包括: 輸出重疊電壓,· 相位調整階段,使前述第 移而與前述第1週期信號的相位— ί 連續地偏 的相位和前述第2週期信號的相位一二=:週期信 第1電壓值、和前述第J 致時的重豐電屬的 信號的相位再次一致時的重心=目位和前述第2週期 為重疊電壓的電壓值的變化=山第2電壓值的差分作 :相位和前述第2週=週期 偏移$、和前述第i週期 致時的第1相位 ==時的二 增益計算階段,依播命H 值的變化量、和前述偏移量a目立,整階段所輪出的電壓 電壓生成階段輪入^變^量’算出時序偏移增益; 輸入則迷目的之相位差,且依據前述 27 1328931 21800pif.doc ㈢的之相位至和則述時序偏移增益 疊電壓· 、重豐階H控制電壓和由前述時序控制部 的前述重叠電壓’對這些電壓進行加算且將顯示此加^ 結果的電壓予以輸出;以及 异的 電壓控=振蘯階段,輸入前述重疊部的輸出電壓,且 =與前述輸出電壓值對應的頻率的振盪信號 為〗 述第2週期信號。 μ馬則 於輸出第1週期信號和第2週 為目的之相位差,包括有别述第1週期信號 時序控制部,其輸入前述第丨 a ^ 期信 前信f!相位-致;的重疊2 期信號的相位再次_ 目位和前述第2週 作為^電,電虔值的的第2電塵值的差分 、十算邛預先餘存前述第1週期# 論值,且依據前述相位 ,期U的週期的理 化量、和前述第】週期出的前述電壓值的變 移增益; 4號的週_理論值,算出時序偏 28 1328931 21800pif.doc 的之=以Γ前述目的之相位差,依據前述目 ΐί差和Μ時序偏移料,以生成錢出前述重疊 重豐部’其輪人控制電塵和由 的前述重臺電屋,對這些電壓進行加 ^梢輸出 結果的電壓予以輪出;以及 开將頌不此加算的 輪出部’其輸人前述重疊部的輸出電壓,且 電*值對應的頻率的振㈣號,以作 試裝包:Τ種對被測試元件進行測試的測 給測:’ Μ據時序信號’對前述被測試元件供 元件其利用選通信號的時序,對前述被測試 檢測,… 式圖案所輸出的輸出信號的信號值進行 供給產Jiff述時序信號及前述選通信號並 m^ 、產生器及刖述信號檢測器, 前,二 測器所檢測的信號值’對 序產生器輪出前述時序信號和具有以前述時 ίίΓ之相位差的選通信號且包括: 柏位差以’其輸入前述時序信號和前述選通信號的 柏位差以及㈣目的之相位差,且將重疊電壓輸出至第1 29 1328931 21800pif.doc 重疊部或第2重疊部; 前述時序控制部包括: 相位調整裝置,苴佶兪冰,联,上 至少-方的相位相對:另一方η:前述時序信號的 述選通信號的相位和料時序信二Γ將^ΐ 位:!述時序信號的相位-致二 值、和别料序錄的相位 = ,再次-致時的重疊電壓的第2電壓值的差以= 壓的電壓值的變化量而輪出, 讀為重疊電 的變=計述ST述相位調整裝置所輸出的電壓值 、月'L時序k號的週期,算出時序偏移增益; _ i生成部’其輸人前述目的^ ^相位差和前述時序偏移增益以生成且輪出 刖述測試裝置又包括: 部所上,其輸入控带順和由前述時序控制 的電壓,對這些電魏行加算且 此加亡的結果的,壓相輪出至第丨控制振盡部.〆、 别述第2重疊部’其輸入控制電壓和由前述 销,出的前述重疊電壓,對這些電壓進行加算且將 此加算的結果的電壓^以輸出至第2電壓控制振盡部| 第1電壓控制振料,其輸人前述第丨重疊部的 電壓’且將具有與該輸出電壓值相對應義率的振^ 作為前述時序信號而輸出,以及 。J 1328931 21800pif.doc 第2電壓控制振盪部,其、 電壓’且將具有與該輪出電’壓丄别述第2重叠部的輸出 作為前述選通信號而輪出。4目對應的頻率的振盪信號 一種時序產生方法,為〜 號具有目的之相位差之第2 =於生成對第1週期信 括: 唬的時序產生方法,包 時序控制階段,輸入前述第 期信號的相位差以及前述目的之週J馆號和前述第2週 前述時序控制階段包括··目位差’且輸出重疊電壓; 相位調整階段,使前述第2 移而與前述第1週期信號的相位二致相位連續地偏 號的相位和前述第2週期信號的相位二致1週期信 第1電壓值、和前述第1週期信號的相電壓的 信號的相位再次一致時的重疊電壓的第2電^弟2週期 為重疊電壓的電壓值的變化量而輪出,|壓值的差分作 值的算前述相位調整階段所輪出的電壓 =董和“第1週期信號的週期,算出時序: 電壓生成階段,輸人前述目的之相位差 =相位差和前述時序偏移增益— 重豐階段’輸讀制電壓和由前料 的前述重疊電壓,對這些電壓進行加算 出 結果的電壓料_;以及 |且將知此加算的 31 1328931 21800pif.doc 幹出==皆段,輸入前述重疊部的輸出電壓,且 壓值對應的頻率的振覆信號,以作 為刖述第2週期信號。 如申請專利範圍第8項所述的時序產生器,其中·· 勺= Γ立調整裝置以前述第2週期信號的相位在 使ϋ信制獅職數倍變化量之範圍内進行 變化錢生成部所生成的誠重進行變化。 .如申凊專利範圍第u項所述的時序產生豆 前述相位調整裝置分別在前述第i二,、的 前述整數倍之變化量的前德,#〜遽的週期的 S \ ±後以在刖34第1週期信號的不 週』的乾_’使前 2週膽 以使前述重疊電壓進行變化,且 料仃邊化’ 前述增益計算部藉甴使前述第丨 述整數倍的偏移量,除以义、+、击晶#r 唬的週期的刖 出前述時序偏^益“重疊電壓的變化量,而計算 請專利範圍第12項所述的時序產生器,苴中. 還包括範圍存儲部,其預先存儲著用於表示::、中· 控制^部呈線形動作的前述重疊電 ·' 前述電壓生忐卹& 讯, r:f:^ 預先^下述限的前述重4錢的範圍内, 剛述控麵上的狀態τ’使前述第2週期信 32 1328931 21800pif.doc 一步變化,以使前述第1週期信號的相位和前述第2週期 信號的相位一致。 14.如申請專利範圍第8項所述的時序產生器,其中: 前述增益計算部可藉由使前述第1週期信號的週期的 理論值之成為前述整數倍的值之後除以前述重疊電壓的變 化量,而算出前述時序偏移增益。
33
TW095132697A 2005-09-09 2006-09-05 Timing generator, testing device, and timing generating method TWI328931B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/223,892 US7257508B2 (en) 2005-09-09 2005-09-09 Timing generator, and timing generating method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200711314A TW200711314A (en) 2007-03-16
TWI328931B true TWI328931B (en) 2010-08-11

Family

ID=37835636

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW095132697A TWI328931B (en) 2005-09-09 2006-09-05 Timing generator, testing device, and timing generating method

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7257508B2 (zh)
JP (1) JP5201991B2 (zh)
KR (1) KR101004427B1 (zh)
DE (1) DE112006002404T5 (zh)
TW (1) TWI328931B (zh)
WO (1) WO2007029513A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7624323B2 (en) * 2006-10-31 2009-11-24 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and apparatus for testing an IC device based on relative timing of test signals

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5057771A (en) * 1990-06-18 1991-10-15 Tetronix, Inc. Phase-locked timebase for electro-optic sampling
US6151071A (en) * 1996-02-29 2000-11-21 Eastman Kodak Company Circuit for generating control signals
US6134276A (en) * 1998-03-31 2000-10-17 Lucent Technologies Inc. Timing recovery system
TW468339B (en) * 1998-09-14 2001-12-11 Sony Corp External synchronizing system and camera system using thereof
JP4394788B2 (ja) * 1999-05-10 2010-01-06 株式会社アドバンテスト 遅延時間判定装置
JP4567974B2 (ja) * 2002-01-18 2010-10-27 株式会社アドバンテスト 試験装置
JP4416446B2 (ja) * 2003-07-16 2010-02-17 株式会社アドバンテスト シフトクロック発生装置、タイミング発生器、及び試験装置
JP4339317B2 (ja) * 2003-07-31 2009-10-07 株式会社アドバンテスト クロック乗換装置、及び試験装置
JP2005094282A (ja) * 2003-09-17 2005-04-07 Renesas Technology Corp 通信用半導体集積回路

Also Published As

Publication number Publication date
WO2007029513A1 (ja) 2007-03-15
DE112006002404T5 (de) 2008-06-26
JP5201991B2 (ja) 2013-06-05
JPWO2007029513A1 (ja) 2009-03-19
US7257508B2 (en) 2007-08-14
KR101004427B1 (ko) 2010-12-28
US20070061097A1 (en) 2007-03-15
TW200711314A (en) 2007-03-16
KR20080040009A (ko) 2008-05-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI353454B (en) Testing device and testing method
US7729418B2 (en) Testing circuit for measuring a frequency of signal output from clock generator
JPWO2007099918A1 (ja) 測定装置、試験装置、及び電子デバイス
US7382304B2 (en) Sampling and measurement of periodic signals
BRPI0516607B1 (pt) método e dispositivo para mitigar o efeito de um erro induzido por multi-trajeto em um sistema de satélite de navegação global
TW200931046A (en) Test apparatus, test method, measuring apparatus and measuring method
JP2003130927A (ja) タイミング発生器、半導体試験装置、及びタイミング発生方法
TWI328931B (en) Timing generator, testing device, and timing generating method
TW200902990A (en) Demodulating apparatus, test apparatus, and electronic device
JP4649480B2 (ja) 試験装置、クロック発生装置、及び電子デバイス
TW201013195A (en) Test device, transmitting device, receiving device, test method, transmitting method and receiving method
US8995496B2 (en) Method and device for estimating parameters of a system for spreading the spectrum of a clock signal
TW200829943A (en) Calibration device, calibration method and test equipment
US8782474B2 (en) Advanced converters for memory cell sensing and methods
US7541815B2 (en) Electronic device, testing apparatus, and testing method
US7638997B2 (en) Phase measurement apparatus
TW200530612A (en) Measuring device, measuring method, and test apparatus
JPH08146160A (ja) 時間測定装置
US8310285B2 (en) Process, temperature, part and setting independent reset pulse encoding and decoding scheme
CN102356594B (zh) 时钟生成装置、测试装置及时钟生成方法
CN102422173A (zh) 接收装置、测试装置、接收方法及测试方法
JPS5912148B2 (ja) 距離測定方法並びにその装置
US9654124B1 (en) Coherent signal source
JP4120857B2 (ja) 試験装置
RU2306575C2 (ru) Способ определения погрешности измерения фазовых сдвигов

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees