TWI302304B - Record carrier, device and method for scanning the record carried - Google Patents

Description

1302304 ⑴ (發明說明應敘明：秦明所屬之技術領域、先前技術、内容、實施方式及圖式簡單說明) 技術領域 本發明係關於一種用於掃描記錄載體之裝置，該記綠载 體有一軌道用於記錄由標記表示的資訊；該裝置包括：一 掃描單元’其包含用於產生一輻射光束的輻射源及光學元 件’该無射光束從該輕射源經過軌道上的一掃描點至偵測 至少一個讀取信號的偵測器；一感測器用於從該光束偵測 一感測信號；以及一控制單元，其根據該感測信號將輻射 源功率控制到理想值。 本發明還係關於一種藉由輻射光束掃描一記錄載體的軌 道時從輻射源經過該軌道上的一掃描點至偵測器的過程中 從偵測器產生信號之方法，該軌道是用來記錄由標記表示 的資訊；該方法包括藉由感測器從該光束偵測一感測信 號，以及根據該感測信號將輻射源功率控制到理想值。 本發明還係關於在資訊記錄中一種控制輕射源（具體而 吕係一雷射）功率之方法。 本發明還係關於一種可錄式記錄載體，其有一軌道用於 記錄由標記表示的資訊，該記綠載體包含控制記錄過程的 預錄控制資訊。 先前技術 從US5,303,217(PHN12994)中獲知_種記錄載體及掃描該 記錄載體之方法及裝置。該記錄載體有一軌道用於記錄由 標記表示的資訊，如一碟形載體上藉由一擺動的預刻溝槽 (wobbled pregroove)表示螺旋形軌道。標記有不同的長度且 (2) 1302304

"己錄在轨遒上，其係藉由輻射源（具體係指雷射）提供輻射 ’ 綠層’如可燒錄式光碟（CD-Recordable)中的一染料 層 ▲装置包含一掃描單元，其具有雷射及光學元件用來 從雷射產生輻射光束，該光束從輻射源經過軌道上的一掃 描點到達偵測讀取信號的偵測器。該裝置包含用來旋轉該 口己錄載隨的驅動單元。為了掃描軌道，在該記錄載體旋轉 時利用一定位單元將藉由上述元件組成的光學頭與該軌道 相對放置。該裝置包含一感測器，其從該光束偵測一感測 信號；以及一控制單元，其根據該感測信號將雷射功率控 鲁 制到理想值。該感測器係一監控二極體，其接收由雷射^ 生的部分輻射光束。此外，該控制單元包含一計算單元， 其根據與D C信號相對的讀取信號的正負峰值來計算不對 稱信號。不對稱信號係標記與其理想長度之對應度。 根據不對稱信號設置雷射功率的理想值以產生具有預設 長度比的記錄標記及中間未記錄部分，該比率等於表示^ · 訊的信號比率。複製此種碟片時，偵測到的信號需要具^ 此種比率。問題是複製該記錄載體時，偵測到的S號會偏 離期望值。 _ 發明内容 本發明之一目的即提供一種掃描裝置及相應方法使偵測 到的信號與期望值較好地一致。 為此，如開頭段所述之裝置的特徵為該奘 衣置包含量測構 件，其根據在掃描點附近的至少一部分軌攢μ从τ τ 現上偵測到的至 少一個感測信號產生代表記錄載體局部光舉姓 u予W徵的校正信 K25188 8337〇 ΟΟ6179879 -6- (3) 13023〇4 號· 、 ------- ,,以及校正構件，其根據該校正传#尸 偵剛到的俨骑』 Q唬权正至少一個上述 1口號。如開頭段所述之 括：根據在播P m· 万去的特徵為該方法包 個感測作號Γ生广近的至少—部分軌道上侦測的至少一 號；丄=記錄載體局部光學特徵的校正信 久根據孩杈正信號校正至 ， 號。如開I Μ、+、 個上述偵測到的信 I員段所述之記錄載體的 一個參數，並你主 、 待徵為控制資訊包含至少 少一部 、種杈正’即根據在-掃描點附近的至

載髀的二、上偵測到的至少-個感測信號來校正該記錄 钱把的局部光學特徵。 本發明係基於對下列事實之勃 測 j爭貫义⑽嘁。罘一，發明者明白偵 置、號在複製中發生偏離係由於記錄中功率的錯誤設 工X例如，雖然在記錄中根據不對稱性的量測將輻射源的 力率铨制到理想值，但得到的記錄載體證明其不對稱性會 發生偏離。第二，發明者明白偵測到的信號會由於雷射功 率的意外變化而發生偏離。記錄載體的局部光學特徵會使 田射功率發生變化，這證明雷射功率在通過記綠載體時姐

非固足不變。例如，局部光學特徵會使輻射發生光回饋， 將韓射從記錄載體反射回到雷射源，這使得雷射功率增 加。第三，發明者明白在軌道選定部分偵測感測信號時， 該感測信號具有代表局部光學特徵的成分，且校正信號可 得自於該感測信號。校正信號係用來校正偵測到的信號。 在該裝置的一具體實施例中，量測構件包含：在讀取軌 道沒有標記的部分時藉由偵測感測信號而產生一空值FSE 及謂取軌道有標記的部分時藉由侦測該感測k號而產生一 K25188 83370 ΟΟ6179879 -7-

1302304,) 寫入值FSW之構件；以及將該空值與該寫入值合併以產生 校正信號之構件。其結果是局部光學特徵對空軌道的感測 信號及已寫入軌道的感測信號有不同影響。因此，校正信 號根據上述差異有一校正成分。 實施方式 圖1概略地顯示一光學記錄裝置，其包含轉盤1及驅動馬 達2在箭頭5所示方向上繞軸3旋轉碟形記錄載體4。該記錄

載體4包含一輻射感測記錄層，其在極高強度輻射的照射下 極易受到光學可偵測變化（諸如為了形成表示反射率發生 變化，資訊的標記）的影響。該輻射感測記錄層可為（例如） 一薄薄的金屬層，藉由較高強度的雷射束進行照射可使其 局部移除。或者，該記錄層可由另一材料組成，如輻射感 測染料或相位變化材料，其結構在輻射的影響下可從無定 形變化至水晶形，反之亦然。該記錄載體包含用於記綠標 記的軌道1 1，該軌道係藉由伺服圖案表示以產生伺服追縱 信號使光學頭與該軌道相對。伺服圖案可係（例如）一漫擺 動溝槽’一般稱為預刻溝槽（pre_gr〇〇ve)及/或一据齒狀圖 案，一般稱為預刻坑（pre_p⑴或伺服坑（servo_pit)。光學窝入 頭6係配置成與旋轉的記錄載體相對。光學寫入頭6包含— 輻射源（例如一固態雷射），其產生窝入光束13。可根據控 制信號Vs以傳統方式調變該寫入光束丨3的強度〗。寫入光束 1 3的強度I在使輻射感測記錄載體的光學特徵發生可偵剛 變化的寫入強度Iw及不會發生任何可偵測變化的強度^ 之間變化。在該裝置的替代具體實施例中實施更複雜的窝 κ25ΐ88 8337〇 〇〇6i7987 1302304 (5) 入策略，如 束1 3掃描該 後的記綠區 特徵未改進 由強度不變 低以避免光 反射的讀取 式藉由轉射 感測偵測器 圖2顯示> 掃描裝置， CD-RW。該 該構件包含 及額外電路 頭的定位單 型的光學系 元件並聚焦 頭及額外電 的信號。藉 光學頭包含 32。該光學 24的焦距沿 軌道中心的 線圈，其用 根據要窝入標記的長度來控制寫入功率。用光 記錄層時，光束強度因此調變，光學特徵改進 8的資訊圖案在記綠層上形成，該記錄區與光學 的Ψ間區域相叉瞀 π ^ . 的讀取光束來掃描該圖案，該光束的強度足务 學特徵發生可偵測變化。掃描中，從記錄載鬅 光束根據掃描的資訊圖案進行調變。以傳統2 感測偵測器可偵測到讀取光束的調變，該輻身 產生一讀取信號代表該光束的調變。 用於在一種記錄載體4上寫入及/或讀取資訊ό彳 該冗錄載體為可窝入式或可複寫式，如CD 裝置具有掃描構件用於掃描記錄載體的軌道， •旋轉該記錄載體4的驅動單元21;包含光學蜀 的掃描單元22;在軌道徑向上粗略定位該光弯 几25，以及控制單元20。該光學頭包含已知粦 統：其產生輻射光束24，引導該光束穿過光尋 至s己錄載體資#麻#、苦 、讯層軌道上的輻射光點2 3。光辱 路組成一播;fe g , ^ 、 早儿，其產生從輻射光束偵測至丨 由輻射源（如雷射二極體 感測器33, ：生㈣先束“。努 ”從該軲射光束偵測出一 頭還包本f去％ ^ ^ m 0 (未顯示）聚焦驅動哭 甘&士 荽哕朵杏μ 其使輻射光摩 者这先束的光軸移動； , , 及遠縱驅動器，並名 徑向上精確定位光點23。 八 於在徑向上移叙出與_ ^這蹤驅動器可包含 動光子7C件或去 &者孩追蹤驅動器係

Κ25188 83370 006179870 !3〇2304

(6) 配置成可改變反射元件的角度。為了寫入資訊，將輻射控 制到可在記錄層上產生光學可偵測標記。為了讀取資訊， 在光學頭中藉由普通類型的偵測器（如四象限的二極體）偵 ’則資訊層反射的輻射，以產生讀取信號；及其他包括追蹤 吳差彳》戒與I焦误差信號的偵測器信號’以控制上述追縱 及聚焦驅動器。藉由普通類型的讀取處理單元3 〇來處理讀 取信號，該類處理單元包含解調器、解格式器及輸出單元 用以取得資訊。因此用於讀取資訊的檢索構件包含驅動單 元21、光學頭、定位單元25及讀取處理單元30。該裝置包 含窝入處理構件，其處理輸入資訊以產生驅動光學頭的一 寫入信號；該構件包含輸入單元27及調變構件，其包含格 式器28及調變器29。控制單元20控制資訊的記錄與檢索， 且可將其配置成用以檢索使用者或主電腦的命令。該控制 單元2〇藉由控制線26(例如系統匯流排）連接至上述輸入單 兀27、格式器28及調變器29、讀取處理單元30、驅動單元 2 1及定位單元2 5。該控制單元2 〇包含控制電路，（例如）微 處理器、程序記憶體及控制閘，用來執行寫入及/或讀取功 能。該控制單元20在邏輯電路中也可作為狀態機使用。在 寫入作業中，代表資訊的標記在記錄載體上形成。該等標 冗可為任何的光學可讀式標記，如反射係數異于周園的區 域形式，其係藉由在諸如染料、合金或相變化材料（phase change material)上記錄獲得；或磁化方向異于周圍的區域形 式，其係藉由在磁性光學材料上記錄獲得。為了將資訊記 錄在光碟上，對資訊的窝入及讀取及對其格式化、錯誤校 K25188 8337〇 -10- 006179879

1302304 ⑺ 正及頻道編碼的規則為本技藝所熟知，如在CD系統中。標 記可根據光點2 3來形成，該光點係藉由電磁輻射（通常係一 雷射二極體）的光束24在記錄層上產生。使用者資訊在輸入 單元27中出現 訊及/或視訊或數位不壓縮聲訊/視訊的輸入信號。用於聲訊 及MPEG2標準视訊的適當壓縮構件在WO 98/16014-A1 (PHN 16452)中均有說明。輸入單元27將聲訊及/或視訊處理成資 訊單元’將資訊送至格式器2 8以增加控制資料並根據記錄 格式將該資料格式化，如藉由添加錯誤校正碼（err〇r ⑶rrection code ; ECC)及/或交錯（interleaving)。對於電腦應用 而言，資訊單元可直接與格式器28相連。將格式器28輸出 的格式化資料傳送至調變單元29，其產生調變信號以驅動 光學頭，該調變單元包含（例如）頻道編碼器。此外，該調 變單元29包含同步構件’其用以在調變信號中包含同步圖 案。作為調變單元29的輸人，該格式化單元包括位址資訊， ㈣制單元20的控制下將資訊單元寫入記錄載體的相應可 疋址位置。該裝置還包括校 ^ ^ 、 仅止早兀31，其產生代表該記錄 载隨局邵光學特徵的校正 w 一 彳°號34。將感測信號32輸入校正 早疋3 1。將校正信號3 4連 w 一 铦主凋邊早兀29以校正寫入信號 及/或連接至掃描單元以 取處理--μ 1、測到的信號及/或連接至讀 取處理早兀3 0以校正讀孢彳丄咕 ^ u 5 ^ ^ 5唬。例如，追蹤交叉信號係光 子頑跳至另一軌遒時由掃 校正為ρ"、έ ㈣早70產生的信號之-，可將其 仪止為已校正這縱交叉 道。兮γ不π - " ’/、更能有效地說明交叉軌 ^ 藏杈正早70 31係配置成力搞》 成在知撝光點附近的至少一部分 Κ25188 83370 006179879 -11-

1302304 軌道上量測感測信號。 圖3係說明記錄的資訊圖案與相關讀取信號間的關係來 闡明本發明。圖3 a顯示用最佳寫入強度記錄的資訊圖案。 圖3 b及3 c顯示相同的資訊圖案，而它們的記錄係分別用太 低及太高的寫入位準。從圖3可明白，在最佳寫入強度狀況 時讀取信號V 1的位準DC實質上位於最大信號值（A 1)與最 小信號值（A2)的中間值；而在寫入位準太低或太高的狀況 下，位準D C分別高於或低於上述中間值。圖3所示的資訊 圖案僅為可能的資訊圖案之一，該類資訊圖案可包括較多 的由短區域組成的子圖案（subpattern)，即標記（8)及中間區 域；以及少量的由長區域組成的子圖案。非常合適的子圖 案係與標準EFM信號相似的圖案。這種圖案包括長度至少 等於3位元（結果13)且至多等於11位元（結果111)的區域。在 該類EFM圖案中所有的結果中有大約三分之一係][3 ;而僅有 4%的結果係111。由於13個結果的維數如此，以致僅僅是這 些結果的基頻低於該光學讀取系統的光學截止頻率。而n i 個結果的較南讀波也低於該光學截止頻率。因此，〗3及I i i 可得到不同的回應。 在該裝置中應在開始記錄前設置最佳寫入功率。為了較 佳地設置該寫入功率，需執行一最佳功率控制（〇ptimum

Power Control ; OPC)程序。對於 cd-R及 DVD+/-R系統而言， 需足義一所謂的β OPC程序。在該程序中，參數p作為不對 稱性的量測係雷射功率的函數。在Us 5,303,217中詳細地說 明β的計算及決足β的電路。ρ之值係由Α丨及Α2之值（見圖3 Κ25188 83370 006179879 -12- (9) 1302304

方的負值）決定如下： 並注意A 2係在D C位準下 β = (Α1+Α2)/(Α1-Α2)。在眷你 ^ 臀代性具體實施例中使用了不對稱 信號的不同定義。在該記絲恭 ，丄、 己綠栽體的一具體實施例中說明瞭 最佳的β值，且在一確定的兩ό 0田射功率下偵測到的β等於（產生 最佳窝人性能的）碟片所需之值。藉由設置窝人功率的理想 值來獲得該值，因此獲得最佳寫人狀況的最佳不對稱性。

要#到較佳的OPC結果’至關重要的是準確量測參數ρ。已 知在實際情況中β的測量值與ρ的實際值偏離。例如，在寫 :器中將資訊寫入碟片’並藉"參數將不對稱性控制為固 :。在該碟片窝入資訊後在另一寫入器或讀取器中讀回。 I測〜果顯不在另一系統中讀回冑，經該碟片轉讀的不對 稱性並非固定不變。這意味著雖然在初始寫人器假定窝入 的不對稱性固定不變，但實際並非如此。現在可知β出現量 測誤差。 在該裝置的一具體實施例中，對β量測誤差的校正如下。 使用一正向感測二極體在不同位置監控雷射功率。看上去 雷射光數量的變化係根據該碟片的半徑及窝入位置。窝入 軚圮的雙折射及去極化效應極易引起這些變化。在相同碟 片上雙折射率係作為半徑的函數而變化。從雙折射率可知 Ρ «部刀回饋至雷射。光回饋至雷射會增加雷射的光輸 在正向感測信號中也會產生光輸出功率。在使用已部 ，記錄的碟片_試驗中，由於有空軌道使這種關係更為明 ’、、、員。雖然窝入溝槽上的雷射輸出高於空軌遒上的雷射輸 出，但在雷射光的回饋中卻得到一較低的輸出，因為窝入 Κ25188 83370 006179879 -13 - 1302304 (10) 溝槽的反射低於空執道的反射。較高功率位準與雙折射率 的關係不十分清楚，但產生該種較声功率位準的原因可能 是由於寫入標記產生的偏極化效應。因此雷射輸出的變化 係碟片寫入狀態的函數。試驗中，内徑上的變化小而外徑 上的變化大。光學回饋機構可非常快地改變雷射輸出，因 此在讀回資訊標記的過程中，該雷射的強度也被調變。因 此，在不對稱性上也會產生量測誤差。試驗中，内徑上不 對稱性的量測誤差較小。此時的雷射輸出變化較小，因此 不會產生量測誤差。該試驗中，不對稱性在外徑上的變化 大因此雷射輸出的變化也大，從而產生量測誤差。 不同驅動器對雷射回饋會有不同的感測度，因此在量測 的不對稱性上會產生不同誤差。使用感測信號量測該回鑽 時，可預知β的量測誤差。在一驅動器中其取決於（例如）钱 取空軌道的正向感測信號相料讀取寫人軌道的感測^ 的變化。這兩個偵測到的正向感測信號之間的差異即了 的量測誤差…測中不應將雷射輸出控制為固定不變 或者’可將雷射功率控制為固定不變而該雷射控制參數可

作為量測。在一寫入區中，矣；γ上A ^ J

表面正向感測信號與溝槽正A 感測信號間的差異也會產生此種量測。 正向 圖4顯示為寫入負載循環函數 泰山致的正向感測信號。 示正向感測信號之值，及、、儿γ ^ Υ轴顯 及/口 x軸顯示窝入標記的自載 已偵測到高頻（HF)的寫人自 -、循％。 〇入員载循環與雷射輸出的關 證明係粗略的線性關係。畲 1保’並 員载循環為0相當於一全空勒、& 而負载循環為1相當於且右—「 王工軌遒， /、 無窮長」標記的寫入軌道 Ϊ302304

負載循環為0.21相當於在II1空白之間具有13標記的軌遒， ， 而負載循環為0.79相當於在13個空間之間具有111個標記的 執道。負載循環為0.5，則寫入13-13及111-111圖案，兩者的 結果相同。該等結果顯示藉由粗略估計可假定線性行為。 為了权正β之值，需要一種模型以轉變感測信號的量測。量 測顯示線性模型適合於該類記錄載體。因此，使用線性模 蜇來進行校正。應注意，感測信號的量測值根據記錄載體 的局部光學特徵（如雙折射率）會有不同。因此應在掃描點 必須寫入新標記的位置附近實施局部量測以得到實際的校 _ 炎值。 在記錄裝置的一具體實施例中，由於該裝置必須等新資 料到達（如在編碼视訊資料的狀況下），記錄過程經常中 斷。用一種所謂「步行〇pc」的方法來量測參數p。在此方 法中’當碟片進行窝入時，藉由在每次寫入碟片的一特定 部分持I測β來實施窝入功率控制。如果P偏離理想值，則 調整寫入功率以再次獲得最佳的β值。在該類中斷期間，利 用閒置時間來執行局部光學特徵的量測，其係藉由在軌道 _ 的適當部分（如寫入部分及空間部分）偵測感測信號。以此 方式，可在孩記錄載體的任何位置校正局部光學特徵。 在該記錄載體的—具體實施例中預錄控制資訊以控制記 錄過稃。例如’將控制資訊編碼成伺服圖案（如擺動式或預 刻坑式）’或者成為碟片上具有預錄資訊的區域。為了應用 上述权 在技制奢訊中至少應包含一個代表校正類型的 參數。例如’藉由該控制參數可在記錄載體上表示即將使 Κ25188 83370 006179879 •15-

1302304 (12) 用的权正模型。在記綠載體的控制資訊中也可包含其他的 校正參數，以便將校正調整至特定的記錄載體，如代表空 溝槽及窝入溝槽之間反射率變化的因數。考慮到其他類型 記錄載體的線性模型會有不同，如在記錄載體上作為控制 參數的模型或校正因數，在該裝置的一具體實施例中使用 了變動的校正模型。 圖5顯示記綠裝置的雷射控制。該記錄裝置包含光學頭 50，其具有第一半導體雷射51用於產生寫入光束13。該裝 置具有弟一半導體雷射52用於產生具有不同雷射光波長的 第二光束53，如第一雷射51的波長用於CD，而第二雷射的 波長用於DVD。根據記錄载體的類型可將第二寫入光束53 控制成與弟一窝入光束I 3相似。此外，圖中並未顯示dvd 電路的零件，而關於CD元件的說明也可應用於相應的dVD 元件。將寫入光束1 3引至記錄載體4，其係藉由包含物鏡5 4 的光學系統，該記錄載體在箭頭5 5所示的方向上移動過光 學頭5 0。其係藉由傳統方式。控制寫入光束1 3的強度I以假 定由信號V s指定的值。為此，該記錄裝置包含輻射感測二 極體5 6，其係配置以偵測光束1 3的部分5 7，該部分從半導 體雷射51的背後發出，且其強度與窝入光束的強度成正 比。於是該輻射感測二極體5 6產生感測信號3 2與偵測到的 強度成正比。在比較電路5 8中比較信號 v s與上述信號# 流。將代表比較結果的信號應用於可控制的電流源5 9，其 產生控制電流用於半導體雷射5 1，方式為藉由二極體56產 生信號電流，因此控制窝入光束1 3的強度以假定由寫入竹 K25i88 8337〇 ΟΟ6179879 -16-

1302304 (13) 號Vs指定的值。該記錄裝置還包含傳統的CIRC編碼電路60 與EFM調變器6 1的串聯配置，用以將應用的資訊信號Vi轉換 成根據CD標準調變的EFM信號Vefm。將信號Vefm應用於一 種可控制轉換器6 2的控制輸入，該種可控制轉換器將兩個 輸入信號中的其中一個is或il根據應用於控制輸入的信號 的邏輯閥傳送至其輸入。將轉換器62輸出的信號應用於比 較電路58作為信號Vs。信號is定義理想的寫入強度Is，而信 號II定義不會影響記錄層的低強度。代表信號Vi的資訊圖案 的記錄如下。CIRC編碼電路60及EFM調變器61將信號Vi轉 換成EFM調變二階信號Vefm。該信號控制該轉換器62的方 式係將信號Π及is交替應用於比較電路58，其結果為寫入光 束的強度在由信號is定義的窝入強度Is與由信號ii定義的 寫入強度II之間轉換，因此在該記錄載體上記錄下與信號 Vefm相對應的資訊圖案。讀取時，產生一低強度光束且其 從記錄載體4反射’反射光束根據正在掃描的資訊圖案進行 調變。將調變後的讀取光束穿過半透明的鏡面63引至輕射 感測偵測器64，該偵測器產生代表光束調變的讀取信號 V 1。將讀取信號V 1加諸於分析電路6 5，其產生信號va，該 信號代表d.c.位準DC與最佳窝入強度的相應值之間的偏離 程度。將信號Va加諸於積分電路66。將該積分電路的輸出 信號Ais加諸於加法電路67的輸入。將與固定強度相對應的 信號i〇加諸於該加法電路67的其他輸入。將代表信號i〇及作 號Ais總和的輸出信號應用於轉換器62作為信號is。如果在 圖5所示的記錄裝置中，窝入強度Is與最佳值偏離，則將由 K25188 83370 006179879 -17- 1302304 (14) [5¾¾- B ----- 具有非零信號值的分析信號Va代表。其結果係，積分電路 66輸出的信號將發生改變’以便將寫入強度。控制^最 佳值。其導致對窝入強度18的不間斷控制，因此實質上將 窝入強度Is控制為最佳值。該裝置包含校正單元3丨，其將 感測信號32作為輸入接收。該校正電路31計算校正信嬈μ 以校正讀取信號VI的量測值，說明如下。 ) 該裝置的一具體實施例包含一正向感測二極體，其係作 為產生感測信號32的感測器，該感測器位於光學頭5〇内光 束的主光轴旁，因此其可接收一部分光束13或第二光束 53，該部分光束不會進入下面的光學元件，如物鏡。（與監 控二極體相比）該種正向感測二極體可提供被引向記錄載 體的光束的實際雷射功率的更精確量測。應注意的係，所 用的正向感測二極體較大，因此對於由單個標記引起的光 束強度的變化回應較慢。在一具體實施例中將一小且快的 二極體作為類外感測器來使用。使用此種感測器，藉由控 制快速控制迴路中的電功率可保持雷射的光學輸出功率保 持不變’或者可測得各種變更且校正係基於快速量測。 圖6顯示用於計算一不對稱信號的分析電路。分析電路包 含低通濾、波器7〇，其決定讀取信號VI的d.c.位準DC。該分 析電路6 5還包含正峰值偵測器7丨，其決定讀取信號VI的最 大值A1 ;以及負峰值偵測器72，其決定讀取信號VI的最小 值A2 °將♦值偵測器7丨及72的輸出信號應用於加法電路73 的#反相輪入（non_inverting input)，同時將低通濾波器7〇的 輸出信號在其值增大兩倍後應用於該加法電路73的反相輸 K25188 83370 006179879 -18-

1302304 (15) 入（inverting input)，因此組成分析信號Va的該加法電路73的 輸出信號等於Va=Al+A2-2DC ;因此該值代表信號值DC的位 置與理想值偏離的範圍，如最大信號值A 1與最小信號值A2 的中間值。加法電路7 3有另外的輸入以提供校正信號3 4給 A1及A2的量測值。

圖7顯示已偵測信號的量測值及校正值。在圖中間，所示 的D C位準8 1在量測狀況及校正狀況中均相同。圖左侧部分 顯示依照本發明校正後的實際信號位元準8 2的範例；從上 至下依次為 I14hcorr、I13hcorr、DC位準 81、I131corr及 I141corr 〇 圖右侧部分顯示量測位元元準8 3的相同信號之範例；從上 至下依次為 I14hmeas、I13hmeas、DC位準 81、I131meas及 11 4 1。 位準的計算（I13h + 1131)/2係參考DC位準81。實際信號位準 Alcorr及A2corr係將量測值A1及A2校正後的結果，說明如 下。在量測11 4 h的位準時由於雷射功率減少，則在該狀況 下測得的位準I14hmeas太低。因此，應將該值校正為一較高 值。為此，在量測寫入（FSW)軌道及空（FSE)軌道時可使用 感測信號。在上述裝置中量測A 1及A2的值；應注意 A2為 負值。將A 1及A2的值校正如下：

Alcorr=Al *(1+((FSW-FSE)/ FSW)) A2corr=A2*(l+((FSW-FSE)/ FSW)* A2/A1) 因此得到β的校正值為：

Pcorr=(A 1 corr+A2corr)/(Al corr-A2corr). β的值在校正後大大接近於實際的β值。這係校正實際β 值之範例。也可使用更複雜的方法，例如將非線性結果考 Κ25188 8337〇 006179879 -19-

1302304 慮進來。在窝入軌道及未寫入軌道藉由使用（例如）正向感 測二極體來校正偵測到的不對稱性（P)之方法尤其可應用 於CD-R及DVD+/-R系統。由於雷射功率變化造成的量測誤 差在CD-RW及DVD+/-RW的伽碼〇pc程序中也會產生。然而， 由於這些媒體上發生的反射/偏極化效應較小，因此量測誤 差也較小。 雖然本發明主要係根據使用CD-R的具體實施例來進行 說明’但是相似的具體實施例也適用於其他的光學記錄系 統，如DVD-R或DVD+RW。此外，說明的資訊載體為一光碟， 但是也可使用其他媒體，如磁片或磁帶。應注意，在本文 中辭令「包含」並不排除所列之外的元件或步驟；而在元 件如的「一」並不排除複數個此種元件的存在；任何參考 符號並非限制申請專利範圍；本發明可藉由硬體及軟體實 施，且部分「構件」可由相同專案的硬體代表。此外，本 發明的範圍不受具體實施例的限制，且本發明的精神存在 於每個新穎特點及上述特點之各組合當中。 圖示簡單說明 參考所述的具體實施例即可明白本發明的這此 二久具它方 面，具體實施例藉由範例並參考所附圖面說明如上，其中· 圖1概略地顯示一傳統的光學記錄裝置； 圖2顯示一掃描裝置； 圖3係說明記錄資訊圖案與相關讀取信號間的關係來門 明本發明； * 圖4顯示作為窝入負載循環（如以CyCle)函.數的正向感則（

K25188 8337。 006179879 -20-

1302304 (17) 號； 圖5顯示一記錄裝置的雷射控制； 圖6顯示計算不對稱信號的分析電路，以及 圖7顯示偵測到的信號的量測值及校正值。 圖式代表符號說明 1 轉盤 2 驅動馬達 3 轴 4 記錄載體 5 箭頭 6 光學窝入頭 8 記錄區 11 軌道 13 寫入光束 20 控制單元 21 驅動單元 22 掃描單元 23 掃描點 24 光束 25 定位單元 26 控制線 27 輸入單元 28 格式器 29 調變器

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1302304 (18) 30 處理單元 3 1 校正單元 3 2 感測信號 33 感測器 3 4 校正信號 50 光學頭 5 1 第一半導體雷射 5 2 第二半導體雷射 53第二光束 _ 54 物鏡 5 5 箭頭 56 輻射感測二極體 5 8 比較電路 - 5 9 電流源 _ 60 CIRC編碼電路 61 EFM調變器 6 2 可控制轉換器 鲁 63 鏡面 64 輻射感測偵測器 65 分析電路 6 6 積分電路 67 加法電路 70 低通濾波器 7 1 正峰值偵測器 -22-

1302304 (19) 72 負峰值偵測器 73 加法電路

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Claims (1)

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第092101820號專利申請案 中文申請專利範圍替換本(96年10月) 拾、申請專利範圍 1. 一種掃描具有記錄由標記（8)表示資訊的一軌道（11)的一 記錄載體（4)之裝置，該裝置包含： 一掃描單元（22)，其有一輻射源及光學元件用於產生 一輻射光束，該輻射光束從該輻射源經過該軌道上的一 掃描點至用於偵測至少一讀取信號的一偵測器； 一感測器（33)，其從該輻射光束（24)偵測一感測信號 (32); 一控制單元，其根據該感測信號將該輻射源功率控制 到一理想值；及 一校正構件（31)，其根據在該掃描點（23)附近的至少一 部分該軌道上偵測到的至少一感測信號，以產生一代表 該記錄載體局部光學特徵的一校正信號（34)，以及根據 該校正信號校正至少一個上述偵測到的讀取信號，該校 正構件耦合至該控制單元以校正該輻射源功率之該理想 值， 其特徵在於該掃描單元包含產生一不對稱信號β之構 件，該不對稱信號係當掃描該軌道包含標記的一部分 時，根據該偵測器的一讀取信號產生，該不對稱信號係 該等標記與其理想長度對應之量測， 該不對稱信號β係藉由量測與該讀取信號的一 DC位準 相對的一正峰值位準A1及一負峰值位準A2而產生；並根 據該校正信號藉由一第一校正計算將該讀取信號的該正

1302304 峰值位準A1校正為實際信號位準Aicorr，及根據該校正 信號藉由一第二校正計算將該讀取信號的該負峰值位準 A2校正為A2corr ，及計算該不對稱信號p ， p = (Alcorr + A2corr)/(Alcorr_A2corr) 〇 2.如申凊專利範圍第1項之裝置，其中該校正構件包含一產 生構件，用於在讀取該執道沒有標記的一部分時，係藉 由偵測該感測信號而產生一空值FSE，及讀取該軌道有標 記的一部分時，係藉由偵測該感測信號而產生一寫入值 FSW，以及執行 Alcorr=Al*(l+((FSW-FSE)/FSW))，以及 A2corr=A2*(l+((FSW-FSE)/FSW)*A2/Al) 〇 3· —種掃描具有記錄由標記表示資訊的一執道（u)的一 記錄载體（4)之裝置，該裝置包含： 一掃描單元（22)，其有一輻射源及光學元件用於產生 一輕射光束，該輻射光束從該輻射源經過該執道上的一 掃描點至用於偵測至少一讀取信號的一偵測器； 一感測器（33)，其從該輻射光束（24)偵測一感測信號 (32); 一控制單元，其根據該感測信號將該輻射源功率控制 到一理想值；及 一校正構件（3 1)，其根據在該掃描點（23)附近的至少一 部分該軌道上偵測到的至少一感測信號，以產生一代表 該記錄載體局部光學特徵的一校正信號（3 4)，以及根據 該校正信號來校正至少一個上述偵測到的讀取信號， 1302304

其特徵在於該校正構件包含用於當讀取該軌道沒有標 記的一部分時，藉由偵測該感測信號而產生一空值FSE， 及當讀取該軌道有標記的一部分時，係藉由偵測該感測 信號而產生一寫入值FSW之構件，以及一用於將該空值 及該寫入值合併以產生該校正信號的構件。 4.如申請專利範圍第3項之裝置，其中該校正構件包含一選 擇構件（20)，其用於選擇該軌道的一部分，使該偵測到 的感測信號具有代表該記錄載體局部光學特徵的局部雙 折射或去極化效應之組件。