TWI300480B - Apparatus for testing circuit boards - Google Patents

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TWI300480B TW95117721A TW95117721A TWI300480B TW I300480 B TWI300480 B TW I300480B TW 95117721 A TW95117721 A TW 95117721A TW 95117721 A TW95117721 A TW 95117721A TW I300480 B TWI300480 B TW I300480B
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1300480 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種笔路板測试治具,其特別係提供可 固設電路板以及測試電路板之治具者。 【先前技術】 習知電路板測試治具係用以測試各種已經佈置電子 元件以及電氣線路之電路板,並同時提供固設該電路板以 及進行電氣測試等裝置。如中華民國專利公告第M266449 號新型專利所顯示,一般的電路板測試治具,係一框體設 置數個定位組件所構成,其中各個定位組件係可沿著該框 體作位置的平移調整,且各個定位組件具有固鎖螺栓,藉 以壓掣待測的電路板,或是藉以支撐待測的電路板。再 者,其電氣測試之裝置主要係透過一針板設置複數個測試 針,使得該些測試針分別對應該電路板的電氣訊號輸出入 位置,用以輸入訊息至待測電路板或量取該電路板的訊息 輸出。然而,該些定位組件與框體結合的方式係直接透過 螺栓的嫘接或固鎖所達成,會因此導致結合部因為螺栓的 高應力接觸而導致接處位置的機械破壞。 再者,由於習知電路板測試治具中的定位組件結構複 雜,並無考慮方便拆裝的設計,不但操作上會有所不便, 也常常造成定位組件與電路板或是與電氣測試之裝置形 成結構上的干涉問題。 另外,由於現今的電子產品更迭快速,必須不斷進行 新品的開發,減少因為電路板測試治具中不當設計所導致 6 1300480 壓掣部用以固定該電路板,且該框架結構係形成具有調整 該些壓掣部之水平位置以及垂直位置的機構,該框架結構 局部可拆卸之組裝結構,用以選擇該框架結構與該支撐部 形成閉合狀態以及開啟狀態中的任一狀態;以及該固持裝 置之一支撐部係設置於該測試裝置頂部,用以設置該待測 電路板。 另外,該支撐部又具有複數個測試針,且該些測試針 的設置係對應該待測電路板中的待測電氣接點,該些測試 針分別電氣連接至該測試裝置,用以檢測該待測電路板之 電氣功能。其中該支撐部可包括一針板,用以設置該些測 試針;以及該針板係以可拆卸的方式裝設在該測試裝置頂 部。 再者,各個該第一導引桿與該第二導引桿係透過凹槽 與滑塊之具有可相對滑動的機構設計,而達到該第一導引 桿與該第二導引桿的機構連結。 前述之各個該豎桿係以可相對滑動的機構設計,分別 機構連結該第二導引桿;以及前述各個豎桿分別具有一下 壓螺栓,該下壓螺栓係螺接於該豎桿,且該下壓螺栓底端 形成該壓掣部,以及該下壓螺栓的位置調節係用以選擇壓 掣該電路板的作用力。 為使熟悉該項技藝人士瞭解本發明之目的、特徵及功 效,茲藉由下述具體實施例,並配合所附之圖式,詳加說 明如后。 8 1300480 【實施方式】 請參閱圖1以及圖2所示,其分別係顯示本發明電路 板測試治具之具體實施例的第一狀態立體視圖以及第二 狀恕立體視圖。本發明電路板測試治具主要係一固持裝置 (I) 設置於一測試裝置(2)上所構成,該固持裝置(1)係用以 擺置電路板(3)以及固定該電路板(3),且該測試裝置(2)係 用以檢測該電路板(3)之電氣功能。其中,該固持裝置(1) 之局部係形成可拆卸之組裝結構,用以將該局部脫離固設 狀態,而得以裝設或拆卸電路板(3)。 前述本發明之固持裝置(1)係具有第一框架(11)、第二 框架(12)以及支撐部(13),其中該第一框架(11)係設置於該 測試裝置(2)頂部的一框架結構,且該第一框架(11)一端的 兩側具有相對應之樞接部(11a),該第一框架(11)另一端的 兩側具有相對應之卡合部(lib);該第二框架(12)係一框 架結構,並於一端與該第一框架(11)的樞接部(11a)形成樞 接的機構連結,使得該第二框架(12)可相對於該第一框架 (II) 之樞接部(11a)作樞轉,且該第二框架(12)的另一端可 對應嚅合該第一框架(11)之卡合部(lib)並可選擇嗡合或 脫離該卡合部(lib),使得該第二框架(12)與第一框架(11) 分別對應形成閉合狀態以及開啟狀態;以及該支撐部(13) 係一板體結構,且其上表面可用以設置該第一框架(1 1), 以及在該第一框架(11)所包圍的該支擇部(13)上表面局部 區域中設置該電路板(3)。 前述支撐部(13)之局部具有複數個測試針(i3a),該些 測試針(13a)的設置係對應該電路板(3)中的待測電氣接 9 1300480 ”、、 以二踯試針(13a)底端分別雷_ 1# ⑺,用以檢_電路板(3)之電氣$連接至_試裝置 复中二ΐί閱圖^並進—步參閱圖3以及圖4所示, 月圖1之則現圖。前述之固持裝置 ^ 個對應侧分別設置一第一導引 弟-*条(12)的兩 方τ 杯(21),該些第一導引桿
且設置複數個第二導引桿(122),各個第 係以滑動設置方式分別機構連結於 =第一 Η丨桿(121)處,使得各個第二導引桿(122)被限 制為可沿者兩個第—導引桿(121)的延伸方向平移。 上—另外,由於該固持裝置(1)中,該第二框架(12)設置於 該第-框架(11)上,在前端形成鏤空的結構,當操作該第 一^引桿(122)以及豎桿(123)時,可由前端的鏤空部分觀 看該電路板(3)的狀況,因而方便操作者調整各個對應的 機構,且讓該豎桿(123)之壓掣部(123a)能更確實地壓掣兮 電路板(3)。 ~ 請參閱圖5以及圖6所示,其中圖5係顯示本發明電 路板測試治具一具體實施例之第一導引桿機構連結第二 導引桿的局部元件剖視圖,且圖6係顯示本發明圖5之 6-6斷面剖視圖。前述之第一導引桿(121)中具有沿著該此 第一導引桿(121)平行方向延伸之凹槽(l2ia),且前述之第 一導引桿(122)兩端分別透過一螺检(122a)固鎖一滑塊 (12 2 b ),且各個滑塊(12 2 b)係被限制於對應之第一導引桿 (121)的凹槽(121a)中,且使得該些滑塊(122b)被限制為只 能沿著對應之凹槽(121a)的延伸方向移動。 10 1300480 基於前述該第一導引桿(121)機構連結該第二導引桿 (122)之具體實施例,透過調整該些螺栓(122a)的鬆緊度, 可選擇固定該第二導引桿(122)於該第一導引桿(121)上, 或是選擇該第二導引桿(122)沿著該第一導引桿(121)之凹 槽(12la)延伸方向移動,因此,達到該第二導引桿(122) • 的位置調整。再者,因為該第二導引桿(122)透過螺栓(122a) • 固設於對應之滑塊(122b),再透過該滑塊(122b)與該第一 導引桿(121)之凹槽(121a)表面接觸所產生的摩擦力而達 到該第二導引桿(122)之桿端固定,使得機構連結所產生 •的作用力分佈於邊接觸面,而降低局部應力,意即可避免 接觸位置的機械破壞。 請再次參閱圖1、圖3、圖4以及圖7所示,該些第 二導引桿(122)分別設置複數個賢桿(123),各個豎桿(123) 係以滑動設置方式分別機構連結於所對應的第二導引桿 (122),使得各個豎桿(123)被限制為沿著對應的第二導引 桿(122)延伸方向平移。其中各個豎桿(123)底端分別具有 一壓掣部(123a),該些壓掣部(1234係對應該電路板(3)頂 • 端面並用以壓掣該電路板(3)之頂端面。 請參閱圖7所示,其係顯示本發明電路板測試治具一 具體貫施例之第二導引桿與豎桿的局部剖視圖。前述之第 —導引桿(122)中分別具有沿著桿體延伸之等斷面部 (122c),且前述之豎桿(123)頂端具有一夾顎部(123b),該 失号員部(123b)係一 f員狀結構(或稱為c型結構)並配合可容 納該等斷面部(122c),並透過一固定螺栓(123C)螺接於該 夾号員部(123b)同時作用於該等斷面部(122c)上,使得該豎 11 1300480 桿(123)固設於該第二導引桿(122)。再者,該豎桿(123)底 端螺接一下壓螺栓(123d),且該豎桿(123)之壓掣部(123a) 係形成於該下壓螺栓(123d)底端,並透過調節該下壓螺栓 (123d)的位置,而達到調節壓掣該電路板的作用力。其中 該下壓螺栓(123d)之一種較佳設置方式,係該豎桿(123) ’ 底端突出形成一凸緣(123e),該下壓螺栓(123d)透過螺接 • 的方式設置於該凸緣(123e)。因此,透過該第一導引桿 (121)、第二導引桿(122)、豎桿(123)以及該壓螺栓(122a) 的機構操作,可使得該壓掣部(123a)進行三度空間的位置 修 5周卽’並精以配合因為設置許多電子元件而造成上表面輪 廓高低不平的電路板(3)。 基於前述該豎桿之具體實施例,透過調整該豎桿(123) 之固定螺栓(123c)的鬆緊度,可選擇固定該豎桿(丨23)於該 第二導引桿(122)上,或是選擇該豎桿(123)沿著該第二導 引桿(122)之等斷面部(122c)延伸方向移動,因此,達到該 豎桿(123)的位置調整。再者,由於該些豎桿(123)的夾顎 部(123b)的顎狀結構設計,使得該豎桿(123)可以方便地自 • 該第二導引桿(122)上拆卸或裝設至該第二導引桿(122) 上。 因此,在固定該電路板(3)的實際操作中,透過選擇 該第二導引桿(122)固設在該第一導引桿(121)上的位置, 以及選擇該豎桿(123)固設在該第二導引桿(122)上的位 置,可使得該豎桿(123)之壓掣部(123a)在水平平面上的位 置避開該電路板(3)上所設置的電路元件(32)。再者,透過 旋轉該豎桿(123)之下壓螺栓(123d),可選擇該豎桿(123) 12 1300480 之壓掣部(l23a)的垂直高度位置,並藉以提供適當的作用 力壓掣該電路板(3)中設置電路元件(32)以外的區域,而達 到固設該電路板(3)於該支撐部(13)的目的 。其中,該固持 裝置(1)之第二框架(12)中的各個機構構件與該支撐部(13) 係分置於该電路板(3)的上下兩側,使得該第二框架(12) 中的各個機構構件與該支撐部(13)中的測試針(13a)不會 產生機構干涉,因而減少了電路板之適用性限制。另外, 由於戎固持裝置(1)之第一框架(u)與第二框架(12)的框架 設計’使得整體結構不會遮蔽該固持裝置(〇之壓掣部 修 (123a)與該電路板(3)的接觸狀態。 請麥閱圖8所示,其係顯示本發明電路板測試治具一 具體實施例之支撐部結構立體分解視圖。前述支撐部(13) 中的數個測試針(13a)係設置於一針板(i3b)上,且該針板 (13b)係裝設在該測試裝置(2)頂部,該些測試針(13a)係分 別電氣連接至該測試裝置(2)中的測試手段,該測試手段 係用以檢測該電路板(3)上的複數個待測電氣接點(31),並 藉以進行該待測電路板(3)的品管程序。再者,該針板(13 b) 係以可拆卸的方式裝設在該測試裝置(2)頂部,且該些測 試針(13a)係可配合不同的待測電路板(3)而改變設置於該 針板(13b)中的位置。其中該針板(13b)的一種較佳設置方 武,係該針板(13b)透過螺栓螺接在該測試裝置(2)頂部, 而使得該針板(13b)固設在該測試裝置(2)上,並形成一可 柝卸之結構。 雖然本發明已以具體實施例揭露如上,然其並非用以 限定本發明,任何熟悉此技藝者,在不脫離本發明之精神 13 1300480 和範圍内,當可作各種之更動與潤飾,其所作之更動與潤 飾皆屬於本發明之範疇,本發明之保護範圍當視後附之申 請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡单說明】 圖1係顯示本發明電路板測試治具之具體實施例的第一 狀態立體視圖; 圖2係顯示本發明電路板測試治具之具體實施例的第二 狀態立體視圖; 圖3係顯示本發明第1圖之俯視圖; 圖4係顯示本發明第1圖之前視圖; 圖5係顯示本發明電路板測試治具一具體實施例之第一 導引桿機構連結第二導引桿的局部元件剖視圖; 圖6係顯示本發明第5圖之6-6斷面剖視圖; 圖7係顯示本發明電路板測試治具一具體實施例之第二 丨導引桿與豎桿的局部剖視圖; 圖8係顯示本發明電路板測試治具一具體實施例之支撐 部結構立體分解視圖。 【主要元件符號說明】 固持裝置(1) 第一框架(11) 樞接部(11 a) 14 1300480 卡合部(lib) 第二框架(12) 第一導引桿(121) 凹槽(121a) 第二導引桿(122) 螺栓(122a) 滑塊(122b) 等斷面部(122c) 豎桿(123) 壓掣部(123a) 夾顎部(123b) 固定螺栓(123c) 下壓螺栓(123d) 凸緣(123e) 支撐部(13) 測試針(13 a) 針板(13b) 測試裝置(2) 電路板(3) 待測電氣接點(31) 電路元件(32) 15

Claims (1)

1300480 十、申請專利範圍: 1、 一種電路板測試治具,其係用以裝設待測試之電路板並進 行電氣測試,且其包括: 一測試裝置,其係用以檢測該電路板之電氣功能;以及 一固持裝置,其包括: 一框架結構,其包括: 兩個對應平行設置的第一導引桿; 複數個第二導引桿,且各個第二導引桿的兩端係以 滑動設置方式分別機構連結於各個桿端所對應的第 一導引桿,使得各個第二導引桿係被限制為沿著該些 第一導引桿平行方向平移;以及 複數個豎桿,各個豎桿底端分別具有一壓掣部,且 各個豎桿係以滑動設置方式分別對應機構連結於第 二導引桿,使得各個豎桿被限制只能沿著對應的第二 導引桿延伸方向平移; 以及 一支撐部,其係一板體結構; 其中該框架結構局部可拆卸之組裝結構,用以選擇該框 架結構與該支撐部形成閉合狀態以及開啟狀態中的任 一狀態,且該支撐部係設置於該測試裝置頂部,該框架 結構所包圍的該支撐部上表面局部區域中係用以設置 該待測電路板,以及該些壓掣部係對應該待測電路板頂 端面並用以壓掣該電路板之頂端面。 2、 如申請專利範圍第1項所述之電路板測試治具,其中各個 16 1300480 該第一導引桿分別包括一凹槽,該凹槽係沿著該些第一導 引桿平行方向延伸;以及 各個該第二導引桿兩端分別設置一滑塊,且各個滑塊係限 制於對應之第一導引桿的凹槽中,使得該些滑塊被限制沿 著對應之凹槽的延伸方向移動。 3、 如申請專利範圍第1項所述之電路板測試治具,其中該第 二導引桿中分別包括沿著桿體延伸的等斷面部;以及 各個該豎桿分別包括一夾顎部以及一固定螺栓,該夾顎部 丨係配合可容納該等斷面部之一顎狀結構,且該固定螺栓螺 接於該夾顎部並可選擇壓掣該等斷面部表面以及鬆脫自 該等斷面部表面中的任一狀態,使得選擇該豎桿固設於該 第二導引桿以及可相對該第二導引桿滑動中的任一狀態。 4、 如申請專利範圍第3項所述之電路板測試治具,其中各個 該豎桿分別進一步包括一下壓螺栓,該下壓螺栓係螺接於 該豎桿,且該下壓螺栓底端形成該壓掣部,以及該下壓螺 栓的位置調節係用以選擇壓掣該電路板的作用力。 _ 5、如申請專利範圍第1項所述之電路板測試治具,其中該支 撐部進一步包括複數個測試針,該些測試針的設置係對應 該待測電路板中的待測電氣接點,且該些測試針分別電氣 連接至該測試裝置,用以檢測該待測電路板之電氣功能。 6、 如申請專利範圍第5項所述之電路板測試治具,其中該支 撐部進一步包括一針板,且該些測試針係設置於該針板 中。 7、 如申請專利範圍第6項所述之電路板測試治具,其中該針 板係以可拆卸的方式裝設在該測試裝置頂部。 17 如申請專利範圍第 杀結構進一步包括 一第一框架;以及 一第二框架;
1項所述之電路板_治具,其中該框 ^中該框架結構係透過該第—框架設置於關試裝置頂 二,且該第一框架一#的兩側具有相對應之樞接部,該第 一框架另一端的兩側具有相對應之卡合部;以及該第二 框架係一端與該第一框架的樞接部形成樞接的機構連 結’且該第二框架的另一端可對應嚅合該第一框架之卡合 部並可選擇嚅合以及脫離該卡合部中的任一狀態,用以選 擇該框架結構之第二框架與該支撐部形成閉合狀態以及 開啟狀態中的任一狀態。
18
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI464687B (zh) * 2011-12-14 2014-12-11 Fujitsu Ltd 治具之指定支援裝置、治具之指定支援方法、及記錄媒體
TWI724468B (zh) * 2019-05-16 2021-04-11 新煒科技有限公司 測試治具

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