TWI275802B - Test probe for a finger tester, and finger tester - Google Patents

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TWI275802B
TWI275802B TW091133428A TW91133428A TWI275802B TW I275802 B TWI275802 B TW I275802B TW 091133428 A TW091133428 A TW 091133428A TW 91133428 A TW91133428 A TW 91133428A TW I275802 B TWI275802 B TW I275802B
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Description

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、發明説明() (請先閲背面之注意事項再填寫本頁) 本發明係有關於指狀測試器A其測試探針,該測試探 針係用於測試非構件型(n〇n_c〇mp〇nented)電路。 基本上,測試電路板時所使用的測試裝置可區分為兩 類即指狀測試器及平行測試器。平行測試器係一種利用 配接器同時接觸待測電路板上全部或大部分接點的測試 装置。指狀測試器係一種用於測試非構件型或構件型電路 板之測試裝置,其以兩個或兩個以上的試電指(test finger) 依序掃瞄各個接點。 相較於構件型電路板測試,非構件型電路板測試必須 接觸非常多的測試點。因此,對非構件型電路板所用指狀 測試器而s,成功銷售之主要條件在於預定時間内接觸電 路板測試點之產能。 試電指通常固定在滑動件上;滑動件能沿著交又條移 動’而交又條另經導引而沿著導軌移動。因此,滑動件能 被定位在測試區上的任一點;測試區的形狀通常為矩形。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 當接觸接受測試的電路板接點時,滑動件能在交又條上垂 直移動’使試電指可從電路板上方或下方放置在電路板接 點上。 歐洲專利EP 0 468 153 A1描述一種指狀測試器;歐 洲專利EP 0 853 242 A1則描述一種使用指狀測試器來測 試電路板的方法。歐洲專利99〇 9丨2 a描述一種指狀測試 第4頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X 297公釐) 1275802 A7
發明説明( 器之測试探針’其中測試針 過導引移動,並可從測試探 針伸出而接觸電路板之測詁 測忒點。若接觸到電路板之測試 點,測試針能偏向側邊而得 侍以限制電路板測試點上的機械 應力。在此情況下,測試斜在A, ’、由電磁驅動器加以驅動。習 知技術亦有採用彈性測試針的 一 %对的測试探針。若測試針相對於 受測電路板垂直裝設,則缺點 、 μ你%熬法接觸到兩緊鄰的電 路板測試點;此係由於彈姓 评性測忒針的大小無法將其探針尖 端依需要儘量靠近。 右要避免此缺點’測試針之襞設(在適合的測試器内 需相對於受測電路板成一角度。 月度如此即可將兩測試針之探 針尖端儘量靠近。然而’此作法之缺點在於:當壓下彈性 測試針時,探針㈣會沿著受測電路板之表面㈣。在高 速接觸下,此作法會刮傷雷故4 ° 曰J傷電路板。&外,由於測試針處於 傾斜位置之緣故’電路板上接觸位置會不準媒—因為探針 尖端沿著平行於電路板表面的方向移動。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 為避免發生此等問題’測試探針被製成具備較長且呈 水平設置的彈簧臂;測試針形成在其端冑。在此長形彈簧 臂上,小角度的偏向即造成較大的彈性移動為其缺心 此作法可以儘量減少平行於受測電路板表面的移動但^ 法完全避免。使用此種測試探針時,亦㈣傷受測電路板 表面的危險。此外,彈簧臂的大小會使測試探針較重;若 探針尖端在高速下放置在電路板上方,則將會損壞電路 板。為降低此類損m,光電開關設於彈簧臂區域;此光電 開關能摘測彈簧臂之偏移《若彈簧臂發生偏移,測試探針 第5頁 1275802 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明() 會被減速,以儘量避免進一步破壞電路板。 由於彈簧臂尺寸很大,所以在保護其避免受到電子輕 射時的成本很高;就高頻訊號測量而言,此為權宜的作法。 在另一種習知的測試探針中,其測試針有一堅硬針, 此堅硬針藉著平行操縱元件固定於底座。平行操縱元件係 由兩塑膠製定位臂組成,其一端接於底座,另一端則接於 堅硬針。當平行操縱元件旋轉時,此針可沿垂直方向向上 移動。▲攜帶探針尖端的測試針末端會相對於測試針的其餘 部分彎曲,使探針尖端從測試探針稍微突出。藉此作法, 緊鄰的電路板測试點即有可能由兩測試探針予以接 觸。一平行操縱元件之定位臂尺寸設計方式,係使得平行操 縱元件之疑轉運動在平行於電路板表面的方向上產生最 小的移動。 此種測试探針之缺點在於:當測試探針快速衝撞電路 板時由於傳送測量訊號所用的纜線(接於測試針)之強度 及重S的緣故而產生大量脈衝,進而破壞受測電路板。此 作法特別應用在兩測試探針接於平行操縱元件的實施 例,其中纜線接於各測試針,以便能進行四導線測量。 美國專利第5,804,982號揭露一種用於測試積體電路 接點的測試探針。此種探針有兩彈性定位臂,其一端固定 在測忒裔之座架。兩定位臂彼此平行排列,且在遠離座架 端上有一非磁性體;此非磁性體設於定位臂兩端點之 間。測試針安裝在非磁性體之下部。磁性線圈設於定位臂 之間其與另一磁鐵之共同運作方式可使兩者能垂直向下 第6頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇><297公爱) ' .....................、耵.........麻 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 1275802 A7
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇χ 297公爱)
(請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 1275802 A7 B7 五、發明説明() 第1 3圖為本發明之指狀測試器概要圖。 圖號對照說明: 1 測試探針 2 測試針 3 針狀物 4 防護層 5 探針尖端 6 定位臂 7 定位臂 8 定位臂 9 定位臂 10 座架 11 接觸面 12 栓 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 13 插槽 15 測試頭壁 16a 基部 17 測量片 19 接觸之移動方向 21 電路板 22 電路板測試點 24 電流源 26 電壓計 28 基部 29a 橫網 31 磁通量元件 33 基部 35 永久磁鐵 37 基部 14 穿孔 16 光電開關元件 16b 突出部 18 測量邊緣 2 0 測試針之移動方向 21a 導體路徑 23 導體 25 導體 27 槽 29 側壁 3 0 線型馬達 32 磁通量元件 34 突出部 36 極部 38 極壁 第10頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X 297公釐) 2 12758〇
43 電樞板 45 命 丄 電樞元件 47 罐通量元件 49 基部 1 核壁 53 , 礤通量元件 55 ^ 寺灵網 5?基片 59 板 61 , 接觸栓 63導體 65 . 交又條 67 連接網 44 非磁性材料 46 移動方向 4 8 磁通量元件 50 突出部 5 2 磁通量元件 54 線圈 5 6 測量板 5 8 間隔套管 60 壁 62 接觸片 64 定位臂 66 傳送帶 68 測試頭 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} ▼裝· -、\叮· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
Jp說篮 第1圖與第2圖繪出本發明之測試探針 例。剛試探針有一測試針2 ;在此實施例中,測試針2 以直徑d為0·3至0.5mm的針狀物3所構成。針狀物3 由鋼或鱗製成。針狀物3塗佈有一絕緣層,此絕緣層可 鐵氧龍(Teflon)。此塗層另以導電層覆蓋。此導電塗層 成一防護層4,其能使針狀物3與電場隔離。針狀物3 兩端從防護層4延伸,其中一端逐漸縮小形成探針尖 1的第一實 麻· 第11頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) 1275802 A7 五、發明説明() 5。在探針尖端之另一端,測試針2或針狀物3連接兩定 位臂6和7 ;以下將稱其為上部定位臂。另兩定位臂8和 9固疋在防護層4,其在上部定位臂6和7與測試針2之 間’並與相接處相距一小段距離。以下將稱定位臂8和9 為下部定位臂。定位臂6、7與定位臂8、9分別由中間彎 曲的導線元件形成;測試針2藉導電連接(例如焊接點)固 定於彎曲點。定位臂6、7與定位臂8、9各形成一等腰三 角形;各測試針2位在該等腰三角形之頂點。 疋位’ 6至9在其距離測試針2的最遠端點固定於座 架1〇。座架10為一電性絕緣塑膠件,在其上配置有一列 接觸面11a至llh。各上部定位臂6、7經由導體路徑分別 電性連接接觸面11a及llh。下部定位臂8、9各經由導電 金屬栓12(第4圖)及一導體路徑分別連接接觸面Ub和 llg,其中導電金屬栓12垂直延伸通過座架1〇。 接觸面11a至llh經由其它導體路徑(圖中未顯示)連 接形成於座架10上的電插頭連接器(圖中未顯示)。座架 10為插座型元件,其可插入指狀測試器之測試頭。在本實 施例中,座架1〇有一插槽13,此插槽導至位在測試針2 之遠端的座架10側面。座架1〇亦有一穿孔14,其配置方 式與插槽13形成一直角。利用上述插槽,座架1〇即能壓 在測試頭之薄壁1 5上,並藉著通過座架内之穿孔14的栓 梢與薄壁15内的對應穿孔加以固定。當座架1〇壓在剛試 頭之薄壁15上或插入薄壁15時,連接於接觸面至^ 的導體路徑會電性連接測試頭之對應導體路徑。 第1頂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇χ 297公楚) ........·裝· « (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} 訂· 麻· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1275802 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明( 光電開關元件1 6在测試針2之相鄰側面配接於座架 10。平面圖上的光電開關元件16為山字形,其有一基部 16a及兩突出部16b。光源配置在其中一突出部之内 部端面上;光感應器用於接收光訊號,其配置在另一突出 4 1 6b上。藉此,光源及光感應器即構成一個光學測量件。 在水平面上,光源及光感應器有一特定縱長,例如lmm。 測量片17 ϋ定在測試針2上,其可由薄金屬片製成。測 量片Π位在測試探針!之縱向中心面,彡垂直排列並分 別形成定位臂6、7與8、9之對稱面。測量片17之上緣 設計成為一測量邊緣18,其由第i圖所示原始位置(其中 定位# 6至9沿直線行進)行進而與水平面形成一角度, 並位在光學測量件之正下方。 將測試探針放置在受測電路板上時,測試針2會受到 力量作用而致使定位臂從原始位置旋轉至轉出位置(第i 圖與第2圖上方)。藉此方式,測量邊緣18被導入光學測 ϊ件内。由於配置有傾斜的測試邊緣丨8,光學測量件測試 針被岔斷的距離正比於相對於座架1〇的移動距離;因此, 光電開關所測量到的訊號與測試針的移動距離成正比。 光電開關元件1 6藉由四個導體路徑連接其中一個接 觸面11c至Ilf;如同其它接觸面,此接觸面經由電插頭 連接器連接至測試頭。 第7圖呈現本發明之測試探針1之側視圖,其具備座 架10、上部定位臂6和7、下部定位臂8和9,以及測試 針2。當測試探針被帶至與受測電路板接觸時,具備探針 第1頂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X 297公釐) I«t:•訂 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本買) 1275802 A7 B7 五、發明説明( 此公式之適用角度範圍為〇《α<π/2 此公式亦可以下列級數展開: \3
L 15 對測試探針之微小移動而言,此公式可化 簡為 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1-A、 、LJ 因此,上述公式係描述探針尖端大致沿垂直方向移動 的實施例。此公式適用於第12圖所示之梯形配置。 由第2圖與第7圖可看出,在放置測試探針1時,測 試針2從第i圖所示原始位置相料錢1Q沿方向2〇彈 性偏移’並以定位臂6至9作為伸縮彈箸元件。《結果為: 當測試料!置於受測電路板上時,只有測試針2之移動 脈衝與定位臂6至9所施加的彈力會作用在受測電路板。 由於測試針之重量小於公克(小於7Q毫克更佳),因此 脈衝非常少;施加在電路板上的力 f硬度來決定。 大體H定位臂之彈 *於傳遞的脈衝很少,使得此種測試探針能在高速移 動下於受測電路板上加以引導而不會破壞電路板。 以較佳實施例而言,測試探針1之移動係由光電開關 所偵測到的訊號予以控制。若測試針 /〇者方向20移動, 第15頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210χ 297公着) .............·裝--......訂.........· (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 1275802 A7 五 -I 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 、發明説明()
則測量片17會進入本I 、 先予測量件’並由對應的電子訊號加 • : *於此訊號與測試針2之路徑長成正比,因此測 δ號可用來決疋測試針已從原始位置移動多少距離。測 試探針1偏移某段距離(例如lmm)時即可減速。 <藉此方式’測試針2相對於座架i 0的最大偏移量即 會又到限制,進而限制定位臂經由測試針2施加在電路板 上的彈力因此’施加在電路板上的力會保持在很小的狀 …即使測忒探針1在受測電路板上進行高速移動,受測 電路板之表面亦不會遭受破壞一因為傳遞的„移動脈衝很 少且彈力已受到限制。 第8圖呈現用於測量受測電路板21導體路徑21 a之 電阻所採用的架構簡化形式。導體路徑2以在其兩端有一 電路板測试點22。備有測試針2的測試探針1置於兩電路 板測試點22上。兩測試針2各經由導體路徑23連接至電 流源24。測試針2亦經由導體路徑25連接至高阻抗電壓 计26。此電路即所謂的四導線電路,其有兩具備電流源與 電壓計的電路。此種電路能以非常準確的方式測量電阻, 因為流過電壓計26的電流非常少。根據本發明之測試探 針實施例’上部定位臂6和7其中之一連接導體2 3,另一 定位臂則連接導體25。因此,受測電路板之電阻只會受到 測試針2之電阻以及測試針2與電路板測試點之間的接觸 電阻之影響。 第3圖與第4圖呈現第二實施例,其中定位臂6至9 位在導電槽27之内;導電槽27能防護作為電子導線的定 第16頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) 1275802 A7 B7 五、發明説明() 位臂而免於受到電子輻射的影響。導電槽27有一基部28 及兩側壁29。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 如同下部定位臂8和9,導電槽27電性連接至接地栓 12 &網29a與基部28上的測試針2相鄰;橫網限制下 部疋位臂8和9向下移動,其中橫網29a在座冑1〇之裝 設點高於下部定位臂8和9之固定點。藉此,㈣試針2 與定位臂7至9所組成的元件會從第i圖所示原始位址稍 微上升,且定位臂6至9處於預張力狀態。 此預張力能確保當測試探針丨快速加速時,加速期間 所產生的力不會造成測試針2相對於座架丨〇發生移動, 並可以測量片依需要啟動光電開關。 在本發明之範圍内亦可以管狀防護元件來取代導電 槽,管狀防護元件亦能從上方保護定位臂。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 測試探針之第三實施例(第5圖與第6圖)大致等同於 上述兩實施例;因此,相同部件將以相同的參考圖號來標 示。上部定位臂6和7以及下部定位臂8和9均藉由蝕刻 薄銅/鈹片或彈性鋼而製成,厚度約5〇微米至2〇〇微米。 任何導電性及彈性良好的金屬片均適用。因此,各定位臂 組均為窄金屬片條;由上往下看,該等定位臂排列成V字 ^ 松網5 5大致形成於上部定位臂6和7之間的縱向中 心;測量片56接於該橫網55並向下彎曲。橫網位在定位 臂之曲度方向改變的點上(即反曲點第7圖)。 測量片56另有一測量邊緣(圖中未顯示),此邊緣與光 電開關元件16嚙合。然而此測量邊緣沿水平方向排列; 第17頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇χ 297公董) 1275802
發明説明( 访原與光感應器沿垂直方向延伸,使光電開關元件^ 6能 放=與測量片56插人深度成正比的訊號。定位臂6至9 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 之端邛為板片59,其藉由如黏合、螺栓或鉚釘連接固定於 座架10。 下部定位臂8和9位在基片57上;基片由非導電性 料t成。由上往下看,基片57從座架10至測試針2處 予形,亦即從座架i 0向測試針2逐漸縮小。基片5 7 限制定位臂向下移動。· 一如^述兩實施例,測試針2設有針狀物3及防護層扣 隔套管58配置在下部定位臂8和9與上部定位臂6和7 =間的區域;間隔套管58自電性絕緣材料製成,並環繞 疋位臂8 ^ 9與定位臂6和7之間的防護層4。間隔套管 58實體接觸定位臂6至9,並使定位臂固定在距離座架10 最遠之處。上部定位臂6和7電性連接針狀物3;下部定 位臂8和9電性連接防護層4。 在此實施例中,座架10大致為一方形體其適接於 土片57’下邛疋位臂8和9位在座架與基片η之間。 座架1〇面向測試針2的壁⑼之底邊緣為斜面,使下部定 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 位臂6和7能稍微露出,並能自由地從壁60之後方區域 向上移動。 在面向測試針2之相反面上,基片57從座架1〇稍微 向外延伸。在此區域内,接觸點排列在…7上;接觸 栓61從該等接觸點向上延伸而達接觸片電導線〇 固定於後者’並電性連接接觸栓61;測試探針ι|§由接觸 第18頁 本紙張尺度適用中國國豕標準(CNS)A4規格(210X297公爱) 1275802
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 發明説明( 检61電性連接測試器。在此區域内,基片57亦實體連接 測試頭之壁面i 5。 光電開關元件16與上部定位臂6、7經由基片57上 的導體路徑電性連接接觸栓61,同時連接網67從上部定 位’之板片59下向延伸到基片57,並與對應的導體路徑 接觸。 在操作模式中,測試探針之第三實施例相當於上述兩 個實施例。 在另一實施例中,每一測試探針使用一個測試針以 外,亦可使用兩彼此相鄰平行排列的測試針,並以定位臂 加以支擔’以便能進行四導線測量,其中此種電路包含電 、源且’、有在電路板測試點2 2上包含電壓源。 本發明之測試探針的另一項優點在於:若測試探針發 生碰撞一指狀測試器程式設定錯誤時即可能會發生此種 情況,定位臂可當作預設的減速•點,因❿本發明之測試探 針1只有較小的測試頭模組會損壞,並可透過更換新的測 試針及新的定位臂加以修復。 如第9圖至第U圖所示,以較佳實施例而言,本發 明之測試探針由線型馬達加以驅動。 第9圖所示線塑馬達30有兩個磁通量元件3} · 由側邊看時呈u字型,各磁通量元件有一基部33及3排2列 在基部33端點的突出部34。在各實施例中,, 、 丞邵由軟性 磁性物質製成。各突出部34有一個與基部 齊I砟33相鄰的永久 磁鐵35。磁通量元件31及32之永久磁鐵 μ兵磁南極 第19頁
請 先 閲 讀 背 之 注 意 事 項 再 填禽搜Γ 本裝 I 訂 i 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X 297公釐) I 篇 1275802 A7 ---—__B7_ 五、發明説明() (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 或磁北極相鄰於基部3 3交錯排列。永久磁鐵3 5背對基部 的一面設有一極部3 6 ;由側邊看時呈U字形。此等極部 36有一基部37及兩極壁38;極部之排列方式使其基部37 與永久磁鐵35相鄰。在各實施例中,極壁由驅動線圈39 構成。各驅動線圈39在極部36之兩極壁38上延伸。 驅動線圈(在極壁3 8上延伸)之區段彼此相對纏繞。其 中一驅動線圈39處於激態時,永久磁鐵所產生的磁通量 會在極壁區域内增強,並在同一極部之另一極壁區域内變 弱。以較佳實施例而言,激態電流設定為磁通量能完全藉 其中一極壁3 8變弱而抵銷,並在另一極壁區域内倍增。 在第9圖所示實施例中,上極部3 6之驅動線圈3 9處於激 態’因此能集中通過兩相對極部3 6(請參照磁通量線42) 之上極壁的磁通量。下極部36之驅動線圈並未處於激態, 因而磁通量均勻分佈在極部36之兩極壁38。 導板40設於兩磁通量元件3丨和32之極部36的極壁 38未固定端,其中氣喷嘴41等間隔予以配置。此等氣喷 嘴41之設計能使空氣由氣噴嘴41從極部36適接於導板 40之側邊處吹入,並在導板40之另一側邊離開。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 配有導板40的磁通量元件3 1和32兩者彼此相對排 列,使得永久磁鐵3 5與其磁極交錯排列,讓磁通量線42 通過磁通量元件31和32兩者。 磁通量元件3 1和32兩者之導板40彼此平行相距預 設距離D。 電樞板43位在兩導板40之間,其由非磁性材料製 第20頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X 297公釐) I2758〇2
、發明說明( (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 狀電例如陶瓷材料、塑膠或非磁性金屬(例如鋁或銅卜條 件45拖疋件45以等間隔d插入電樞板43 U狀電樞元 磁丨生材料製成’例如鐵。兩相鄰電樞元件4 5之距 選疋為d,以使下列情況成立: 右電樞元件45位在兩相對極部36之兩極壁38之 間,111 tti =it 一红 卜、性材料44所製成的電樞板43區段排列在同 極部36之另兩極壁38間的區域。 另一〜在任一實施例中,電樞元件45與線型馬達30之 極部36之極壁38組間的非磁性材料區段之間存在一 邊界區。 本發明之測試探針i接附在電樞板43之一端。 以下將詳細解說線型馬達30之操作模式。 在操作過料,^氣由氣噴嘴41吹至電樞板43 ,使 :插板43與導板4〇之間維持一段距離,因而電樞板43 與導板之間沒有機械摩擦。在此,空氣吹入壓力約為 2-6W,產生厚度約5_1〇微米的氣墊。此種氣塾能自我集 平衡,亦即,若電樞板43經外界影響而擠壓其中一導 板’則縮短的距離會使壓力增加,進而重新回到原來的距 離。 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 磁通量元件31和32之驅動線圈39會交替被激發。 藉此,永久磁鐵35之磁通量會集中在極部“之一極壁Μ 内’並在極部之另一極帛38内縮減。在第9圖中,兩個 上極部之驅動線圈39被激發’目而磁通量集中通過上極 壁。下極# 36之驅動線圈並未處於激態,因而磁通量線 第21頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X 297公釐) 1275802 A7 B7 五、發明説明() 42均勻分佈在兩極壁38。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 在對側極壁38區域内(磁通量集中通過其間),當距離 最近的電柩元件45被吸引時,會導致電樞板43沿移動方 向46移動(向下或向上)。驅動線圈39藉著相當於正弦曲 線之激發電流模式加以驅動,電樞板43即能均勻向下或 向上移動;兩驅動線圈各由磁通量元件驅動3 1和32予以 驅動’且相位移9〇。。相對排列的驅動線圈同步加以驅動。 此驅動模式符合習知的線型馬達。 本發明之線型馬達原理在於:電樞板及其電樞元件4 5 依線性方式沿預定方向排列,並藉精巧的磁性驅動而在由 數個電槐元件所構成的區域上方移動;此等固定點之間隔 相當於相鄰電樞元件之間的一半距離。 本發明之線型馬達的主要優點在於電樞板43非常 輕°在本發明之線型馬達原型中,電樞板之重量為10克。 此電拖板為陶瓷板;由軟性鐵質材料所製成的電樞元件插 入電插板内。 經濟部智慧«產局員Μ消養会竹妇邱$ 由於本發明之電樞板及測試探針1之重量輕,藉少量 的力即能被快速地加速及減速。此外,由於在電樞板移動 過程中不存在機械摩擦力,所以出現的運動力很小。如此 能以非常快的速度接觸受測電路板之測試點;運動力較小 即表示造成電路板受損的風險很低。本發明之原型能獲得 8 00公尺/秒平方的加速度及負加速度。 第1 〇圖呈現第9圖所示線型馬達之簡化實施例,其 中仍有兩磁通量元件47和48;磁通量元件47等同於第9 第2頂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) A7 1275802 五、發明説明() 圖中的磁通量元件3 1,所以等效的部件以相同參考圖號予 以標不。 磁通量元件48僅包含基部49及兩突出部50。基部 49及兩突出部50均由磁性材料製成。由側邊觀看時,磁 通量元件48呈現為u字形。由側邊觀看時,突出部5〇亦 為U字形;極壁51成雙相對磁通量元件48之極壁38。 磁通量元件48另有一導板40,該導板配有接附於極壁 之未固定端的氣喷嘴41。 因此’磁通量元件48形成與主動式磁通量元件47相 反的被動式磁通量元件。 相較於第9圖所示實施例,第1〇圖所示線型馬達實 施例較為簡易且成本較低。 第11圖顯示線型馬達之第三實施例。第i i圖亦有兩 磁通量元件52和53。磁通量元件53等同於第1〇圖之被 動式磁通量元件48。等效部件係以相同參考圖號予以標 示。磁通量元件52之形式大致等同於磁通量元件53 ;極 部包含基部49及兩突出部50,且各極部有兩極壁51。用 於驅動電樞板43的驅動線圈39設於極壁上,所以極壁略 長。線圈54取代上述實施例當中所使用的永久磁鐵,其 排列在磁通量元件之基部49四周;靜磁場藉此線圈施加 於磁通量元件52和53。改變靜磁場即能改變支樓電拇板 43的力。因此,靜磁場為可變的.然而,靜磁場的變化率 遠小於驅動線圈39所產生的磁場變化率;驅動線圈39能 以較高頻率開啟及關閉或反轉。 第23頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) (請先閱flf背面之注意事項再填寫本頁} 訂· 麻· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1275802 A7 五、發明説明( 由於透過驅動線®之激發可使靜磁隸照帛9圖所示 實施例之方式集中在極壁38上,所以磁場之改變亦能控 制促使電枢板移動的力。故此能達到輕微接觸的功效;使 用此種線型馬達時,原則上亦可利用配有不具彈赞測試針 的測試探針。 第13圖顯示用來測試非構成件電路板21的測試器概 要圖,該測試器為指狀測試器。指狀測試器有數個測試頭 68,各測試頭由本發明之測試探針丨及上述其中一種線型 馬達30所構成。 指狀測試器設有用來支撐受測電路板21的區域,且 該區域藉由定位臂64支撐。至少一交叉條65位在支撐區 之上方區域,且在支撐區上方延伸。以較佳實施例而言, 有數個交又條65固定在指狀測試器上,或可在指狀測試 器上移動。#交叉#65固定在指狀測試器i而不能移動, 則測試頭設有-旋轉元件;至少一測試探針ι能藉旋轉元 件繞著垂直軸旋轉。 各測試頭68耦合一傳送帶66,藉此傳送帶能自動沿 著個別的交叉條65往返移動。以較佳實施例而言,兩個 測試頭68裝設在交又條上,以使兩傳送帶66適接於交又 條6 5 〇 在操作中,測試探針丨及其探針尖端5係藉著在平行 於電路板21所在平面上的移動而定位在受測電路板之測 試點22上方。然後利用㈣馬達3()使接觸尖端下降到電 路板之測試點22,直到探針尖端5接觸到電路板之測試點 第24頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 、一一-口 麻_ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1275802
發明説明( 為止。接著進行電子測量;測量完成後,蜊試 升並移到下—個電路板測試點。 又上 本發明之線型馬達能獲得高達80g的加速度。 利用本發明之指狀測試器,可進行高速(例如15八 /秒)垂直運動’且施加在電路板測試點上的機械脈衝= 小。在測試當中已得到證明:將彈性塑膠材料(例如 環氧化物薄臈等)之塑膠薄膜插入指狀測試器來 板時,即使測試探針以最高速度在薄膜上移冑,探針 仍不會在薄膜上留下接觸壓痕。 ’、 第13圖所示指狀測試器只在受測電路板21之其中 面上有測試頭。在本發明之範圍内,當然可將指狀測: 設計成在受測電路板兩面上均有測試頭、交又條等。 尺 最 4 路 端 器 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本Ϊ m·裝· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第25頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210χ 297公釐)

Claims (1)

  1. 煩 製 I2_802六、申請專利範圍 第中丨衫斗球號專利案和年月修正
    丨·::不具獨立驅動器且含有-測試針之用於反 =㈣試器之測試探針,該測試針含有—探針尖端可 被帶至接觸一雷敗 位臂而樞…於::點並可透過至少兩對彈性定 ;座架,其中至少一定位臂係由導電 性電性材料製成並電性連接至該測試針:纟中每組定 ^係㈣㈣-平面’其含有—端㈣於該測試針 並且另-端固定於該座架,當自上而下觀看時,每組定 位臂展開呈一個三角形。 2.如:定1=圍:1項所述之測試探針,其特徵在於兩 ί疋位漳至少包含由導電性電材料所製成的一定位臂 且電性連接至該測試針。 3· 士如申請專利範圍第!項所述之測試探針,其特徵在於 „針係由一防護層所環繞,該防護層係電性連接至 疋位臂’該定位臂具導電性且接地。 4·,如申請專利範圍第2項所述之測試探針,其特徵在於 :測試針係由一防護層所環繞,該防護層係電性連接至一 定位臂’該定位臂具導電性且接地。 5·如申請專利範園帛i項所述之測試探針,其特徵在於當 由側面觀看時,該定位臂展開呈一梯形。 田 第26頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 x 297公釐) 請 先 閲讀 背 面 之 注 項 再 填 寫 本 頁 f I I I I I I 訂 B8 C8 D8 1275802 六、申請專利範圍 6·如申請專利範圍第3所述之測試 甘扯孤^ 針,其特徵在於當由 •側面觀看時,該定位臂展開呈一梯形。 '如申請專利範圍帛5項所述之測試探針,其特徵在於較 接近該探針尖端之定位臂或該等定位臂的長度較長於 較遠離該探針尖端之定位臂或該等定位臂的 8·如申請專利範圍第6項所述之測試探針,其特徵在於較 接近該探針尖端之定位臂或該等笔位臂的:長度較長於 較遠離該探針线之定位臂或該等定位臂的長度。、 9.如申請專利_ i項所述之測試探針其特徵在於由 侧面觀看’較遠離該探針尖端的定位臂(“ 7)之長度標 示為變數a’較接近該探針尖端的定位臂(Μ)之長度 標示為變數b,測試針(2)之長度標示為變數l,測試針 ⑺介於各定位臂之間的區段標示為變數L。,且此等長 度滿足以下關係式: ί-tan^-j 〇 «. .. -------^--------- (請先¾讀背面之注意事項再填窝本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 如申請專利範圍第8項所述之測試探針其特徵在 由侧面觀看,較遠離該探針尖端的定位臂(6、7)之長 標示為變數a,較接近該探針尖端的定位臂(8、9)之 度標示為變數b,測試針(2)之長度標示為變數L,測 針(2)介於各疋位臂之間的區段標示為變& 且此 第27頁 於 度 長 等 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規冬釐) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 Β8 1275802 vs 六、申請專利範圍 長度滿足以下關係式: 11 ·如申請專利範圍第1項所述之測試探針,其特徵在於該 等定位臂至少部分被一防護層環繞。 1 2 ·如申請專利範圍第1 〇所述之測試探針,其特徵在於該 等定位臂至少部分被一防護層環繞。 . · * - 13. 如申請專利範圍第丨項所述之測試探針,其特徵在於提 供一預張力元件(29a),以一特定量沿接觸之相反方向預 拉該等定位臂。 14. 如申請專利範圍第12項所述之測試探針,其特徵在於 提供一預張力元件(29a),以一特定量沿接觸之相反方向 預拉該等定位臂。 15·如申請專利範圍第丨項所述之測試探針,其特徵在於提 供一定位感應器以決定該測試針相對於該座架之位置。 16·如申請專利範圍第14項所述之測試探針,其特徵在於 提供一定位感應器以決定該測試針相對於該座架之位 置。 第28頁 本紙張尺度適用中國ΐ家標準(CNS)A4 &格(210 X 297公釐〉^-----—______ i •譚tr---------f 瓣-----丨!! (請先-M讀背面之注意事項再填窝本頁) ▲ AW B8 C8 D8 1275802 六 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制机 、申請專利範圍 .該位置感應器具有一光電開關,含一光學測量件設於驾 座架上,且該位置感應器有一測量片以岔斷設於該測智 針上的光學測量件。 18•如申請專利範圍第16項所述之測試探針其特徵在东 該位置感應器具有一光電開關,含一光學測量件設於絮 座架上,且該位置感應器有一測量片以舍斷設於該測^ 針上的光學測量件。 19.如申請專利範圍第17項所述之測試探針,其特徵在方 該光學測量件具有-預設延伸方向大致與該測試針毛 動方向成直角,且該測量片有一t斷邊緣,其與該光与 測量件之延伸方向成一角度。 1 20·如申請專利範圍第18項所述之測 式探針,其特徵在方 s亥光學測量件具有一預設延伸方. τ々句大致與該測試針考 動方向成直角,且該測量片有一今H ‘ :另贫斷邊緣,其與該光^ 測量件之延伸方向成一角度。 2 1. —種用於測試非構件型電路板 . 傲 < 粕狀測試器,其至少爸 含:一線型馬達,其設有兩靜磁% 叹蕙 7C 件(31、32 ; 47 48 ; 52、53)彼此相對排列;以及一 電·樞板(43),其以 移動方式裝設於該等靜磁通量元彳 4 件之間,並由非磁性法 第29頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規袼(210 X 297公爱 1275802六、申請專利範圍 B8 C8 D8 料製成,且在等距間隔上有條狀電樞元件(45),該等電 樞元件由磁性材料製成,其中一測試探針(1)係被裝設在 該電樞板(43)上,並且提供作為一指狀測試器用於測試 電路板,該測試探針不具獨立驅動器且含有一測試針, 而该測試針含有一探針尖端可被帶至接觸一電路板測 試點並且其可藉由至少兩對彈性定位臂而樞轉接合於一座架,其中至少一定位臂係由導電性材料製成且電 性連接至該測試針。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 22. 如申請專利範圍第2ι項所述之指狀測試器,其特徵在於該測試探針係根據申請專利範圍第1 -2〇項任一項所述之測試探針來實施。 23. 如申請專利範圍第2 1項所述之指狀測試器,其特徵在 於該等磁通量元件(31、32; 47)至少其中之一者具有一 或多個永久磁鐵,且在面向該電樞板(43)之端部上有數 個極壁(38),而驅動線圈(39)係被裝設於該等極壁上。 24·如申請專利範圍第21項所述之指狀測試器,其特徵在 於該等磁通量元件(52)具有至少一用以產生靜磁場的一 線圈(5 4)且在面向該電樞板(43)之端部上有數個極壁 (3 8),而驅動線圈(3 9)係被裝設於該等極壁上。25.如申請專利範圍第2卜23或24項所述之指狀測試器·, 第30頁 (請先-M讀背面之注意事項再填寫本頁) r MW-------^---------^ — ------^---.---------- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 1275802 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 申請專利範圍 其特徵在於氣喷嘴設於兩磁通量元件(31、32; 47、48 ; • 52、53)上,各氣喷嘴導接至該電樞板而在該電樞板(43) 與該磁通量元件(31、32 ; 47、48 ; 52、53)之間形成一 氣墊。 第31頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) f-4K (請先·κ讀背面之注意事項再填寫本頁) 一 δ' a n flu n la 11 ϋ I I 1 一 ^ ϋ -I n n n ·
    第φ丨33 Θ嫩專利案炉年士月修王 Η 户一少# :ι !
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