KR101729583B1

KR101729583B1 - Pcb회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀

Info

Publication number: KR101729583B1
Application number: KR1020170025025A
Authority: KR
Inventors: 한영희
Original assignee: (주)테스트테크
Priority date: 2017-02-24
Filing date: 2017-02-24
Publication date: 2017-04-25

Abstract

본 발명은 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 PCB의 전기 오프/쇼트를 테스트하기 위한 전기 검사 설비(1)에서, 프로브 바디가 탄성에 의하여 휘어져 PCB회로기판의 전기 검사를 실시할 시, 프로브 바디의 휘어짐 정도를 가이드하도록 구성되는 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)가 파손되어 PCB회로기판에 충격이 가해져 PCB회로기판이 파손될 수 있는 문제를 해결하기 위하여, 프로브 바디에 가이드돌출부를 구성하여 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)를 대체할 수 있도록 구성되어, 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)가 파손된다 하여도 PCB회로기판의 파손을 방지할 수 있으며,
종래의 전기 검사용 테스트 프로브 핀의 검출핀은 프로브와 일체형으로 형성되어 있지 않아, PCB회로기판 전기 검사 과정에서 검출핀이 프로브로부터 탈락하는 문제가 있고,
프로브에 검출핀을 결합하여 형성함으로써, 검출핀과 PCB회로기판과의 위치를 정확하게 위치하는것이 어려워 검사 과정에서 PCB회로기판에 충격을 가하여 파손되는 문제가 있는데,
사출성형으로 검출핀과 프로브 바디, 프로브 헤드를 일체형으로 구성하여 프로브 헤드로부터 검출핀이 탈락되는 것을 방지하고, 검출핀과 PCB회로기판과의 위치를 정확하게 할 수 있어 PCB회로기판의 파손을 방지할 수 있는 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀에 관한 것이다.

Description

PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀{Test probes for PCB electrical testing}

본 발명은 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 PCB의 전기 오프/쇼트를 테스트하기 위한 전기 검사 설비(1)의 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀에 관한 것이다.

일반적으로, 전자제품의 개발이나 생산 시, 전자제품의 성능을 측정하거나, 전자제품의 고장 수리시 고장 원인을 찾기 위하여, 전자제품의 인쇄회로기판에 실장된 콘덴서 등의 각종 전기소자에 대한 상태, 예컨대 전기소자에 흐르는 전류 또는 전기소자에 인가되는 전압 등을 측정하게 된다.

이와 관련된 기술로는 '특허문헌 1'이 있다.

'특허문헌 1'은, 검사를 받는 전기 회로에 시변성 전압을 가하도록 하고, 전기 회로 내 여러 다른 잠정적 결함 위치에서 전기적상태 차이를 감지하기 위해, 결함 검사 서브시스템 그리고 검사 중이 아닌 때 동작하는 추가의 서브시스템을 포함하는 전기 회로 검사 시스템에 관한 것이다.

이와 관련하여, 종래의 PCB회로기판 전기 검사 설비의 구성 중, 도 1과 같은 프로브 핀에 대하여 설명하면,

전기 검사 설비(1)의 구성 중, 전기 검사용 테스트 프로브 핀을 이용하여 PCB회로기판의 전기 검사 테스트를 실시하게 되는데, 이 과정에서 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)가 프로브의 움직임(휘어짐)을 가이드하여 PCB회로기판에 충격이 가해지는것을 방지하게 된다.

이때, 가이드바(A)가 파손될 시, PCB회로기판에 충격이 가해져 PCB회로기판이 파손되는 문제가 발생되며, PCB회로기판을 생산하는데 있어, 생산률을 저하시키는 문제가 있다.

또한, 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)를 수리(보수)하여 재공정을 들어간다 하여도, 수리하는 과정에서 시간이 소요되므로 작업률이 현저하게 떨어지는 문제가 있다.

프로브에 검출핀을 조립하여 사용할 수 있도록 구성함으로써, 검출핀과 PCB회로기판과의 이격거리를 정확하게 설정하는것(프로브에 검출핀을 결합할 시, 검출핀이 프로브의 일측으로 돌출되는 길이의 조절)이 어려워, 검사 과정에서 PCB회로기판에 충격을 가하게 되어 PCB회로기판에 파손이 발생될 수 있는 문제가 있고,

프로브에 검출핀을 조립할 시, 검출핀과 PCB회로기판과의 이격거리를 정확하게 설정한다 하여도, 전기 검사용 테스트 프로브 핀의 검출핀은 프로브와 일체형으로 형성되어 있지 않아, 검출핀에 잦은 충격이 가해져, PCB회로기판 전기 검사 과정에서 검출핀이 프로브로부터 탈락하는 문제가 발생된다.

한국공개특허 제10-2013-0012920호(2013.02.05.)

본 발명은 상기 서술한 문제를 해결하기 위한 것으로,

PCB회로기판의 전기 검사를 실시 할 시, 프로브 바디가 탄성에 의하여 휘어지는 반경을 제한하도록 구성되는 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)가 파손되어 프로브 바디의 휘어짐 반경을 제한하지 못하여 PCB회로기판에 데미지가 가해져 PCB회로기판이 파손되는 문제를 방지하기 위하여 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)의 역할을 대체할 수 있는 구성을 포함하는 PCB회로기판 전기 검사용 프로브 핀을 제공하는데 목적이 있다.

또한, 프로브 바디, 프로브 헤드, 검출핀을 사출성형을 이용하여 일체형으로 구성함으로써, 프로브 헤드로부터 검출핀이 탈락되는 것을 방지하고, 검출핀과 PCB회로기판과의 위치를 정확하게 할 수 있어 PCB회로기판의 파손을 방지할 수 있는 PCB회로기판 전기 검사용 프로브 핀을 제공하는데 목적이 있다.

본 발명은 상기 서술한 문제를 해결하기 위하여 고안된 것으로서,

PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀에 있어서,

전기 검사 설비(1)에 결합될 수 있도록 결합프레임(120)에 결합홈(121)을 형성하고,

상기 결합프레임(120)의 일측단에 연결되어 프로브바디(100)의 외각을 형성하도록 구성되며, 상기 결합프레임(120)이 전기 검사 설비(1)에 결합될 시, 결합프레임(120)을 중심으로 상하 탄력되도록 구성되는 외각프레임(110)과,

상기 결합프레임(120)의 일면에 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)와 평행선상에 구성되어, 외각프레임(110)이 탄력 반경을 제한하도록 구성되는 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)가 파손될 시, 가이드바(A)의 역할을 수행하도록 구성되어, 외각프레임(110)의 탄력 반경을 제한하도록 구성되는 스톱부재(122)를 포함하여 구성되는 프로브바디(100),

상기 프로브바디(100) 일측면에 연결되어 구성하며, 상기 프로브바디(100)의 외각프레임(110)의 휘어지는 방향으로 같이 움직이도록 구성되고,

일측단에 검출핀(300)이 결합되도록 구성되는 프로브헤드(200),

상기 프로브헤드(200)의 일측단에 결합되도록 구성되어, PCB의 오프/쇼트를 검출하도록 구성하는 검출핀(300),

상기 검출핀(300)의 일단부에 결합되도록 구성되어, 상기 검출핀(300)에서 PCB의 오프/쇼트를 검출한 전기신호를 획득하여 전기 검사 설비(1)로 전송하도록 구성되는 케이블(400)을 포함하여 구성하되,

상기 프로브바디(100), 프로브헤드(200), 검출핀(300)은 사출성형을 이용하여 일체형으로 구성하되,

상기 검출핀(300)은,

사출성형을 이용하여 프로브바디(100), 프로브헤드(200), 검출핀(300)을 일체형으로 구성될 시, 검출핀(300)이 프로브헤드(200)의 일측단에 결합되도록 구성하되, 검출핀(300)이 프로브헤드(200)와의 결합력을 높이고 검출핀(300)과 PCB회로기판과의 정확한 접촉간격을 위하여 검출핀(300) 중앙 적정한 위치에 거칠면(310)을 포함하여 구성한다.

본 발명은 상기 서술한 구성에 따라,

PCB회로기판의 전기 검사를 실시 할 시, 프로브 바디가 탄성에 의하여 휘어지는 반경을 제한하도록 구성되는 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)가 파손되어 프로브 바디의 휘어짐 반경을 제한하지 못하여 PCB회로기판에 충격이 가해져 PCB회로기판이 파손되는 문제를 방지하기 위하여 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)의 역할을 대체할 수 있는 효과가 제공된다.

또한, 프로브 바디, 프로브 헤드, 검출핀을 사출성형을 이용하여 일체형으로 구성함으로써, 프로브 헤드로부터 검출핀이 탈락되는 것을 방지하고, 검출핀과 PCB회로기판과의 위치를 정확하게 할 수 있어 PCB회로기판의 파손을 방지할 수 있는 효과가 제공된다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀의 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀과 전기 검사 설비(1)의 결합 상태 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 검출핀(300)의 상세 구조 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 사출성형판(1000)의 구조 도면이다.
도 5는 종래의 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀의 도면이다.

이하, 본 발명의 실시예에 따른 도면을 참조하여 설명하도록 한다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀의 도면이다.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀과 전기 검사 설비(1)의 결합 상태 도면이다.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 검출핀(300)의 상세 구조 도면이다.

도 1 내지 도 3을 참조하여 설명하면, 도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이, 본발명인 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀은,

PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀에 있어서,

일측단에 검출핀(300)이 결합되도록 구성되는 프로브헤드(200);

상기 검출핀(300)은,

프로브바디(100)의 결합프레임(120)은, 결합프레임(120)의 일단부에 구성되어, 가이드바(A)의 역할을 수행하도록 구성되는 스톱부재(122)가 파손될 시, 스톱부재(122)의 역할을 대체 및 보조하도록 구성되어 PCB회로기판에 탐침에 의한 충격이 가해져 PCB회로기판의 파손을 방지하도록 구성되는 단턱부(123)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

이에 따라, 본 발명은 가이드바(A)를 대체할 수 있는 구성인, 스톱부재(122)를 테스트 프로브 핀 자체에 구성함으로써, 1차적으로 가이드바(A)가 외각프레임(110)의 휘어짐 반경을 제한하되, 가이드바(A)가 파손될 시, 2차로 가이드바(A)의 역할을 수행할 수 있는 스톱부재(122)를 구성함으로써, 가이드바(A)가 파손된다 하여도 테스트 중, PCB회로기판의 파손을 방지할 수 있어, PCB회로기판의 손상률을 감소시키게 되며, 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)를 수리할 수 있는 시간을 확보하며 전기 검사 설비(1)의 가동률을 저하시키지 않을 수 있는 효과가 제공된다.

또한, 추가적으로 결합프레임(120)의 일단부에 단턱부(123)를 포함하여 구성함으로써, 가이드바(A)의 대체 구성인 스톱부재(122)가 파손될 시, 스톱부재(122)를 대체할 수 있도록 하여, 단턱부(123)가 3차로 가이드바(A)의 역할을 수행할 수 있도록 구성하게 되는데, 이에 따라 가이드바(A) 및 스톱부재(122)가 파손된다 하여도 PCB회로기판 전기 검사 테스트 중, PCB회로기판에 충격이 가해지는것을 방지하여 PCB회로기판의파손을 방지할 수 있어, PCB회로기판의 손상률을 감소시키게 되며, 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)를 수리할 수 있는 시간을 확보하며 전기 검사 설비(1)의 가동률을 저하시키지 않을 수 있는 효과가 제공된다.

검출핀(300)은, 사출성형을 이용하여 프로브바디(100), 프로브헤드(200), 검출핀(300)을 일체형으로 구성될 시, 검출핀(300)이 일측단에 결합되도록 구성하되, 검출핀(300)이 프로브헤드(200)와의 결합력을 높이기 위하여 검출핀(300) 일 둘레면에 거칠면(310)을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하여 구성하게 되는데,

이에 따라, 전기 검사용 테스트 프로브 핀이 PCB회로기판의 전기 검사를 실시할 시, 검출핀(300)이 PCB회로기판에 접촉하면서 검출핀(300)에 잦은 충격이 가해져, 검출핀(300)과 프로브헤드(200) 간의 결합관계가 탈락되는 문제가 다수 발생하게 되는데, 본 발명의 검출핀(300)은 일둘레면에 거칠면(310)을 포함하여 구성함으로써, 프로브헤드(200)와 검출핀(300)과의 결합력을 향상시켜 검출핀(300)이 탈락되는 문제를 방지하게 되며,

추가적으로 본원 발명은 사출성형으로 프로브바디(100), 프로브헤드(200), 검출핀(300)이 일체형으로 결합되어 사출되어 결합력을 향상시킴으로, 검출핀(300)이 프로브헤드(200)에서 탈락되는 문제를 추가적으로 방지하게 되는 효과가 제공된다.

본원 발명은, 상기 서술한것과 같이 프로브바디(100), 프로브헤드(200), 검출핀(300)이 사출성형을 이용하여 일체형으로 구성하게 되는데,

일체형으로 사출성형하기 위하여, 도 4에 도시한 바와 같이,

본 발명인 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀은, 사출성형판(1000)을 이용하여 일체형으로 제조하게 되는 것을 특징으로 하며,

사출성형판(1000)은, 프로브틀(F)을 포함하여 구성되는 성형틀(H)을 포함하여 구성하게 된다.

상기 프로브틀(F)은, 수지가 주입되어 프로브의 형상을 취하도록 구성되는 프로브형상틀(C)과 프로브헤드(200)의 일측단에 검출핀(300)이 위치할 수 있도록 핀결합홈(B)을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

이에 따라, 상기 프로브틀(F)에 구성되는 핀결합홈(B)에 검출핀(300)을 위치하여 결합시킨 후, 프로브형상틀(C)에 수지를 주입하여 프로브의 형상을 취하도록 하되, 검출핀(300)이 프로브헤드(200)의 일측단에 고정되어 일체형으로 구성되게끔 본 발명인 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀을 제조하게 되는 것이다.

이에 따라, 프로브바디(100), 프로브헤드(200), 검출핀(300)이 일체형으로 제조되어, 누적된 충격(PCB회로기판과의 접촉에 의한 충격)에 의하여 검출핀(300)이 프로브헤드(200)로부터 탈락되는 문제를 방지하고, 프로브바디(100) 및 프로브헤드(200)의 내구도를 향상시킬 수 있게 되는 것이다.

본 발명은 상기 서술한 구성에 따라,

100 : 프로브바디
200 : 프로브헤드
300 : 검출핀
400 : 케이블

Claims

PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀에 있어서,
전기 검사 설비(1)에 결합될 수 있도록 결합프레임(120)에 결합홈(121)을 형성하고,
상기 결합프레임(120)의 일측단에 연결되어 프로브바디(100)의 외각을 형성하도록 구성되며, 상기 결합프레임(120)이 전기 검사 설비(1)에 결합될 시, 결합프레임(120)을 중심으로 상하 탄력되도록 구성되는 외각프레임(110)과,
상기 결합프레임(120)의 일면에 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)와 평행선상에 구성되어, 외각프레임(110)이 탄력 반경을 제한하도록 구성되는 전기 검사 설비(1)의 가이드바(A)가 파손될 시, 가이드바(A)의 역할을 수행하도록 구성되어, 외각프레임(110)의 탄력 반경을 제한하도록 구성되는 스톱부재(122)를 포함하여 구성되는 프로브바디(100);
상기 프로브바디(100) 일측면에 연결되어 구성하며, 상기 프로브바디(100)의 외각프레임(110)의 휘어지는 방향으로 같이 움직이도록 구성되고,
일측단에 검출핀(300)이 결합되도록 구성되는 프로브헤드(200);
상기 프로브헤드(200)의 일측단에 결합되도록 구성되어, PCB의 오프/쇼트를 검출하도록 구성하는 검출핀(300);
상기 검출핀(300)의 일단부에 결합되도록 구성되어, 상기 검출핀(300)에서 PCB의 오프/쇼트를 검출한 전기신호를 획득하여 전기 검사 설비(1)로 전송하도록 구성되는 케이블(400)을 포함하여 구성하되,
상기 프로브바디(100), 프로브헤드(200), 검출핀(300)은 사출성형을 이용하여 일체형으로 구성하는 것을 특징으로 하는 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브핀.
제 1항에 있어서,
상기 검출핀(300)은,
사출성형을 이용하여 프로브바디(100), 프로브헤드(200), 검출핀(300)을 일체형으로 구성될 시, 검출핀(300)이 프로브헤드(200)의 일측단에 결합되도록 구성하되, 검출핀(300)이 프로브헤드(200)와의 결합력을 높이고 검출핀(300)과 PCB회로기판과의 정확한 접촉간격을 위하여 검출핀(300) 중앙 적정한 위치에 거칠면(310)을 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는 PCB회로기판 전기 검사용 테스트 프로브핀.