TWI257811B - De-interlacing method - Google Patents

Description

1257811 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 尤指一種去交錯方 本發明提供一種視訊處理方法與相關裝置， 法與相關裝置。 【先前技術】 傳統的交錯式掃描（interlacedscan)技

町於顯示一個影傻HI =:e)時，係靖咖影働之奇_線與偶二 杬線所組成之二個圖場（fleld)。 ^ 而循序式掃描（Pn>gressive謂）技術’又稱較錯式掃描（ non-interlaced) ’則是先將兩個圖場合併為一個圖框，再以加倍的 水平掃描鮮依序掃描該_中賴有掃_，俾使晝面的品質 得以提升。 一 口口貝 為了以循序式掃瞄方式來顯示交錯式的影像資料，便需利用去 父錯（deinterlacing)方法於一圖場原有之連續兩掃目苗線間插補出 一新的掃瞄線。 【發明内容】 口此本电明之目的之一在於提供一種去交錯（deinterlacing 1257811 方法，以移動適應性（m〇ti〇nadaptive)方式進行去交錯處理， 以提升晝面的影像品質。 依據本發明之實施例，鋪露―種去交錯方法，用來對一視訊 資料進行去3C錯操作以產生—輸出圖框中—目標位置之像素值， 賊訊資料中包含有依序相鄰之—第-圖場、-第二圖場I、及一 第二圖％’該方法包含有··對應於該輸出圖框之該目標位置，檢 測該場與該第二圖場之間之差異量；對胁該輪出圖框之 β味位置’檢測該第二圖場與該第三圖場之間之差異量；以及 依據所檢測出之該第—圖場與該第二圖場之間之差異量、以及該 第二圖場_第三圖場之間之差異量，產生該目標位置之像素值。 【實施方式] 第1 _示包含有四相鄰圖場㈤d)之-視訊資料觸與相 對應之-輸出_ (ftame) 15()之示意圖。去交錯後之輸出圖框 150係對應於時間τ，而視訊資料_中的四個相鄰圖場⑽、⑽ 、130以及14〇，齡騎應於_ τ_2、τ]、τ以及τ+卜在第 圖中掃目田、、泉112、122、132及142分別為圖場11〇、12〇、13〇 及140中之第則條掃瞒線；掃目苗線114、ΐ24、134及⑷分別 為圖場110、120、請及⑽中之第Ν條掃瞒線；而掃猫線116 、126、136及146則分別為圖場⑽、120、m及14〇中之第N+1 1257811 條掃猫線。 於本㈣之實施射的去絲村細縣素 _i_by_pixeIbasis)來產生聽⑼， 工 P本务明之去交錯方法 Θ種移動適應性去交錯方法。 影傻木將可依不同位置之 如像· ‘輪_針個別像素之 影像品質。 珂以獲仔取佳的 _=言’圖框150中_線152、156及160可直接使用 同樣對應於時間了之_⑽t、姆應位置上之縣線132、 134及136之像素來產生，但並不侷限於此。圖輕⑼中的掃瞒線 及158係以去父錯方式所產生。以下將以不同實施例說明本發 產生圖t 15G巾-目標位置1G之像素值之方法與相關裝置。 口月蒼考第2圖’第2圖係顯示本發明一實施例之去交錯裝置的 不思圖。如第2圖所示錢錯裝置·包含有—低通滤波器 210、-儲存媒體220、-圖場間差異檢測裝置㈤er-fidd碰⑽咖 detector) 230 圖框間差異檢測裝置（inter-frame difference detector) 240 、 一決定電路 25〇 、 以及一像素插補電路 26〇 。 於本實 施例中，低通濾波器210係用來對輸入之視訊資料10〇進行低通 濾波處理，以使影像較為平順（sm〇〇th)，然而視訊資料1〇〇亦可 1257811 在未經低通濾波處理的情形下直接輸入後續電路中。儲存媒體22〇 係用來暫存進行去交錯過程中所需的像素資料，可用一緩衝器（ buffer)或一記憶體來實現。圖場間差異檢測裝置23〇係用來對應 於上述目標位置10，檢測出相鄰二圖場之間之差異量（如组沈Μ difference)(例如目前圖場13〇與其前一圖場12〇、及/或目前圖場 13〇與其後一圖場HO之間之差異量）。圖框間差異檢測裝置24〇 係用來對應於上述目標位罝10，檢測出相鄰二圖框之間之差異量 (例如後一圖場140與前一圖場120、及/或目前圖場13〇與其前 一圖场11〇之間之差異量）。決定電路250可選擇性地依據圖場間 差異檢測裝置230及/或圖框間差異檢測裝置240所檢測出之結果 ，來控制像素插補電路260對所輸入及儲存之像素進行插補的方 式’例如圖場間插補法（inter-field interpolation )、或圖場内插補法 (intra-fieldinterpolation)等，以產生圖框150之目標位置1〇之 像素值。 於本實施例中，圖場間差異檢測裝置230係包含有一第一圖場 位移檢測裝置（field motion detector) 232、一第二圖場位移檢測 裝置234、一第一影像鋸齒檢測裝置（sawtoothdetector) 236、以 及一第二影像鋸齒檢測裝置238。第一圖場位移檢測裝置232係用 來對應於目標位置10，檢測目前圖場130與前一圖場120之間之 差異量，於本實施例中此一差異量可以使用二圖場於相對應位置 1257811 上之複數個像素值之誤l SAD) , , ^ 〇^bs〇Iute fences, 相對雍於日* 此一差異夏可以使用於目前_ 130中 相對應於目；^位置10之俊音 相鄰之像素）所組成之二!圍複數個像素（例如左右 …’（PlXelset)、與於前一圖場120中 Z應;^目_ η之像素12及細_轉雜組成之像 …、且之:的SAD值來代表。當然，兩圖場間相對應於目標位置⑺ 之差異量亦可以其他熟習此項技術者所熟知的數縣代表，並不 限於本實施例中所舉出之方法。 第二圖場位移檢測裝置234係用來對應於目標位置1〇，檢測 目前圖場13G與後-圖場14〇之間之差異量，此—差異量亦可如 前所述，以SAD值或其他數值來代表。第一影像鑛齒檢測裝置现 係用來對應於目標位置10，檢測目_場13G與前—圖場⑽之 間之鑛齒現㈣贿，而第二影像_檢_置238係用來對應 於目標位置10，檢測目前圖場130與後一圖場14〇之間之錫齒現 象的程度。如熟習此項技術者所廣泛悉知，於實作上鋸齒現象的 程度亦可使用如像素之SAD值縣紐來代表，故不在此資述。 於本實施例中，圖框間差異檢測裝置240係包含有一第一圖框 及一第二圖框位移檢 位移檢測裝置（frame motion detector) 242、 測裝置244。第一圖框位移檢測裝置242係用來對應於目標位置 1257811 10，檢測後一圖場140與前一圖場120之間之差異量。第二圖框 位移檢測裝置244係用來對應於目標位置10，檢測目前圖場13〇 與前二圖場11〇之間之差異量。如熟習此項技術者所廣泛悉知， 前述之差異量亦可使用如像素之SAD值等數值來代表，故不在此 贅述。 需注意的是，雖然於本發明上述之實施例中去交錯裝置2〇〇包 含有二圖場位移檢測裝置、二影像鋸齒檢測裝置、及二圖框位移鲁 檢測裝置，但是於實際應用上決定電路25〇可以僅參考其中任一 組合所產生的結果來對像素插補電路26〇進行控制，而不需參考 上述所有檢測裝置之檢測結果。又於其他實施例當中，亦可將上 述檢測裝置中之-部份移除，亦不違背本發明之精神。又，上述 違些檢測裝置雖以不同魏方塊付區別，但是於實作上係可包 含於同一積體電路當中。 另外亦需注意的是，上述各個檢測裝置於計算其侧之差異量 時所選狀各雜素域可域_之卿顧，亦可依據不同 的選擇酬，也就是說，其所選用之各個像素組可以是相同的也 可以是不同的。 第3圖麟示為依據本發明—實施例，去交錯裝置產生 11 1257811 輪出圖框150中目標位置l〇之像素值的流程圖3〇〇。流程圖3〇〇 包含有以下步驟： 步驟302 : 利用圖場間差異檢測裝置230檢測圖場120中 步驟304 : 對應目1位置1〇之一像素組（pixel set)與圖 場130中對應目標位置1〇之一像素組間之像素 值差異，以計算一第一差異值PD1。 比較第一差異值PD1與一第一臨界值TH1。 步驟306 : 利用圖場間差異檢測裝置23〇檢測圖場13〇中 對應目標位置1〇之一像素組與圖場14()中對應 目標位置10之-像素組間之像素值差異，以計 算一第二差異值PD2。 步驟308 : 比較第一差異值PD2與一第二臨界值丁犯。 步驟310 : 利用決疋電路250依據步驟304與308的比較 結果’控制像素插補電路26〇使用圖場12〇、13〇 、及/或140之像素的像素值來產生圖框150中 目標位置10之像素值。 —實作上，步驟綱及308可由圖場間差異檢測裝置230來進 行’亦可由決定電路250來進行。 12 1257811 前述步驟302至308之丨脂广w 、序僅為本發明之一實施例，並非限 疋^月之貫施順序。為方便以下說明，在此假設前述之步_ —圖場位移檢測裝置攻來進行，而步驟306係由第二圖 %位移檢測裝置234來進行。 壯在為310中’決定電路250會依據步，驟304與308的檢測 1產生一控制訊號，以控制像素插補裝置260之運作。例如 田口亥第-差異值PD1小於該第_臨界值迎，且該第二差異值· 腿大於該第二臨界值ΤΗ2時，圖場13〇中對應目標位置ι〇之 像素組與前-圖場120中對應目標位置1〇之像素組之間會被視為 /又有圖場位移，但與後一圖場14〇中對應目標位置1〇之像素組之 間則會被視為有圖場位移。因此，決定電路25〇會控制像素插補 裝置260依據前一圖場12〇中對應於目標位置1〇之像素值來產生 圖框150中目標位置1〇之像素值。例如，在一實施例中，像素插 補裝置260可直接以圖場120中對應於目標位置之像素I)的 ® 像素值，作為圖框150中目標位置10之像素值。 反之，偶若該第一差異值PD1大於該第一臨界值THi，而該 第二差異值PD2小於該第二臨界值ΤΗ2，則圖場13〇之像素組與 前一圖場120之像素組之間會被視為有圖場位移發生，但與後一 圖場140之像素組之間則會被視為無圖場位移。故決定電路25〇 13 1257811 此時會控制像素插補裝置260依據後一圖場140中對應於目標位 置10之像素值來產生圖框150中目標位置10之像素值。例如， 在一實施例中，像素插補裝置260可直接以圖場140中對應於目 標位置10之像素丨4的像素值，作為圖框150中目標位置10之像 素值。 另一種情形是該第一差異值PD1大於該第一臨界值TH1，且 該第二差異值PD2亦大於該第二臨界值TH2。此時，圖場13〇之φ 像素組不但會被視為與前一圖場12〇之像素組之間有圖場位移， 且與後一圖場140之像素組之間亦會被視為有圖場位移。因此， 決定電路250會控制像素插補裝置26〇,依據圖場13()之既有像素 ’以圖場内插補法（intra_fleldinterp〇lati〇n)來產生圖框15〇中目 標位置10之像素值。在實作上，圖場内插補法有許多不同的實施 方法，本發明並不限定於任何特定之圖場内插補運算方式。 此外，倘若該第一差異值pdi小於該第一臨界值Tm，且該 第二差異值PD2亦小於該第二臨界值TH2，則圖場13〇之像素組 會被視為與前一圖場120及後一圖場14〇中對應目標位置1〇之兩 像素組之間都沒有圖場位移。換言之，此時圖場12〇、13〇及140 中’在目標位置10附近的影像會被視為是一靜止的物件（still object)。在此情形下，像素插補裝置26〇可僅依據圖場12〇或圖 14 1257811 琢MO之者中’與目標位置1〇相對應之像素的像素值來產生圖 框150中目標位置10之像素值，或同時參考圖場12〇及刚中對 應目標位置1G之像素的像素值來產生圖框⑽中目標位置10之 像素值’亦即進行圖場間插補運算〇齡脇&鄉。祕η)。 上述實施例係以圖場位移檢測裳置232及234㈣進行步緊 302及306之動作，然而，步驟3〇2及步驟3〇6亦可分別利用第一

影像鑛齒檢測裝置236及第二影像鑛齒檢測裝置238來進行，來 判斷目前圖場請之像素組與前一圖場12〇之像素组或後—圖塌 刚之像素組之間是否有影像麵現象發生，以控制像素插補& 26〇之運作。其控制方式與前述相似，故在此不予贅述。而孰習迫 項技術者應可理解，步驟观及篇之動作亦可综合圖場位移檢 測裝置與影像__裝置之檢灌果，來作為控娜素插補裝 置260之依據。例如，於步驟3〇2中使用第_圖場位移檢臀置

232而於步驟3G6中使用第二影賴齒檢观置挪；或者財驟 3〇2中使用第-影像鑛齒檢測褒置236而於步驟3〇6中使用第二圖 場位移檢測裝置234;甚至可於步驟搬中—併使用第一圖場= 檢測裝置232及第-影像鑛齒檢測裝置236，而於步驟施中—併 使用第二圖場位移檢測裝置234及第二影像鑛齒檢測裝置攻，= 符合本發明之精神。 = 15 1257811 〜步提升去交錯後所輸出之圖_f彡像品f，於另— '瓣她縣異轉 4結果’來控制像素插補裝置260產生目標位置1〇之 <曰、值。例如在—實施例中，第一圖框位移檢測裝置搬會檢測 圖劳巾對應目標位置10之-像素組與圖場120中對應目標位 置10之—像素_之像素值差異，喊生之-第五差異值PD5。 第-圖框位移檢測裝置242會比較第五差異值簡與一第五臨界 值TH5之大小。而決定電路25〇會依據此一比較結果以及上述其 他檢測裝置之結絲控娜素插觀置26〇。 於此-實施例中，當該第一差異值pm小於該第一臨界值 ΤΉ1且孩第一差異值pd2大於該第二臨界值丁時，圖場13〇中 對應目標位置10之像素組與前一圖場12〇中相對應之像素組之間 ，會被視為沒有圖場位移發生，但與後一圖場14()中相對應之像 素組之間，則會被視為存在有圖場位移。在此情況下，若該第五 差異值PD5大於該第五臨界值TH5，則圖場120與140中對應目 標位置10之兩像素組間會被視為有圖框位移發生。很明顯地，圖 框間差異檢測裝置240的檢測結果與圖場間差異檢測裝置23〇的 檢測結果相吻合’故決定電路250會控制像素插補裝置260依據 圖場120中對應目標位置1〇之像素的像素值來產生圖框150中目 標位置10之像素值。反之，若此時該第五差異值PD5小於該第五 16 1257811 臨界值TH5，則圖場12〇與14〇中對應目標位置1〇之兩像素組間 ’會被視為沒有圖框位移發生。由於圖框間差異檢測裝置240的 檢測結果與圖場間差異檢測裝置230的檢測結果互相矛盾。故決 定電路250會控制像素插補裝置26〇依據圖場13〇之既有像素以 圖％内插補運异來產生圖框15〇中目標位置1〇之像素值。 另一方面，若該第一差異值PD1大於該第一臨界值TH1且該 第二差異值PD2小於該第二臨界值TH2，表示圖場13〇中之像素鲁 組與前-’ 12G中對應目標位置1G之像素組之間有圖場位移， 但與後-圖場140中之像素組之間沒有圖場位移發生。此時，若 該第五差異值PD5大於該第五臨界值TH5，表示圖姻差異檢測 裝置240的檢測結果與圖場間差異檢測裝置23〇的檢測結果相吻 合，故決定電路250會控制像素插補裝置260依據圖場140中對 應於目心位置10之像素的像素值來產生圖框15〇中目標位置1〇 之像素值。反之，若此時該第五差異值PD5小於該第五臨界值TH5 · ’表不圖框間差異檢測裝置的檢測結果與圖場間差異檢測裝 置230的檢測結果互相矛$，故決定電路25〇倾制像素插補裝 置260依據圖場130之既有像素以圖場内插補運算來產生圖框15〇 中目標位置10之像素值。 換吕之’在本實施例中，唯有圖框間差異檢測裝置24〇的檢 17 1257811 測結果與圖場異檢測裝置23G的檢戦果相吻合時，像素插 補裝置⑽才會依據圖場，或刚中與目標位置ig相對應之像 素的像素值來產賴框丨对目標位置1G之像素值。—旦圖框位 移仏測衣i 240與像素檢測裝置230兩者的檢測結果不吻合時， 本發明之像素插補裝置260會直接利用圖場130之既有像素，以 圖場内插補運算來產生圖框中目標位置1G之像素值。如此_ 來，便可避免使用前-圖場或後—圖場中錯誤的像素來插補圖框 ⑼中目標位置1〇之像素值，故可進一步提升去交錯化後所輸出鲁 之影像的品質。 在另一實施例中，決定電路250更會參考第二圖框位移檢測 衣置244仏測圖场13〇中對應目標位置之一像素組與圖場n〇 中對應目標位置1G之—像素組間之像素值差異所產生之一第六差 異值PD6 ’並比較第六差異值PD6與一第六臨界值TH6，來作為 控制像素插補裝置260之依據。 孀 於此一實施例中，當前述之第一差異值PD1大於該第一臨界 值ΤΙΠ、该第二差異值pD2大於該第二臨界值ΤΗ2、該第五差異 值PD5小於該第五臨界值ΤΗ5、且該第六差異值pD6小於該第六 5⑽界值TH6時’不僅表示圖場11〇、12〇、削及14〇在目標位置 1〇附近的影像是靜止的（stm)，且存在有僅出現於奇圖場或偶圖 18 1257811 場兩者之-中的水平靜止線條（_斗在此情形下，決定電路 250會控制像素插補褒置26〇僅依據圖場12〇與14〇兩者之一當中 ”目‘位置10對應之像素的像素值來產生圖框⑽中目標位置 〇之像素值，而不會同時彻兩者巾對應目標位置之像素來運 算。在另一實施例中，除了上述條件外，另需該第-差異值PD1 …亥第一差異值pD2的差異小於—預定臨界值，決定電路⑽才 會判斷有水平靜止線條的存在。 如上所述’本發明之去交錯方法可於步驟搬或施中，進 仃-種以上之像素檢測。例如，在步驟搬中，去交錯裝置勘 可利用第-圖場位移檢測裝置232檢測圖場13〇之像素組與圖場 120之像素組之間之差異，以計算_第一差異值咖，並利用第一 影像鑛齒檢測裝置236，檢測圖場13〇中對應目標位置1〇之一像 餘與圖場12G中對應目標位置1()之_像素組之間之差異，以計 异一第三差異值PD3。接著，於步驟3〇4中，利用決定電路25〇 # 比較該第-差異值PD1與-第一臨界值Tm，以判斷上述像素組 之間有無圖場位移’並比較該第三差異值咖與一第三臨界值 TH3 ’以判㈣上述像素組之間有無影彳_齒現象。 場 在步驟306中’則可利用第二圖場位移檢測裝置说檢測圖 130之像素組與圖場刚之像素組之間之差異，以計算一第二 19 1257811 ' 並_第-影像鑛齒檢測裝置238，檢測圖場13〇 中對應目標位置10之—像素組與圖場14〇巾對應目標位置1〇之 像素組之間之H以計算—第四差異值PD4。接著，於步驟 308中’利用決定電路25()比較該第二差異值咖與—第二臨界 值TH2 ’抑崎上鱗素組之财無圖場位移，並啸該第四差 異值PD4與-第喊界值，關斷上述像素組之財無影像 日在本實施例中，唯有當圖場12〇及圖場13〇之像素組之間沒有 圖场位移’且沒有影像鑛齒現象時，像素差補裝置綱才可能參考 圖場120中對應目標位置1()之像素的像素值，來產生圖框⑼中 目“位置10之像素值。同理，唯有當圖場13〇及圖場⑽之像素 組之間沒有®場位移，且沒有影像_現_，像素差補裝置· 才可此 > 考圖场M0中對應目標位置1〇之像素的像素值。倘若步 驟310判斷的結果，是像素插補裝置26〇不能參考參考圖場m或 140中對應目標位置10之像素的像素值，則像素插補裝置，便 έ依據圖# 13〇之既有像素以圖場内插補運算來產生圖框⑽中目 標位置10之像素值。如此—來，便可避免使㈣_圖場或後一圖 場中錯誤的像素來插_框⑼巾目標位置⑴之像素值。 士月'J所述去父錯裂置2〇〇亦可利用第一圖框位移檢測裝置 20 1257811 242檢測’12〇中對應目標位置1〇之一像素組與圖場刚中對 應目標位置10之一像素組間之像素值差異，以計算一第五差異值 PD5。決定電路45〇可利用該第五差異值pD5與一第五臨界值耶 的比較結果，來確認圖場間差異檢測裝置23()的檢測結果。其運 作方式與前述實施例實質上相同，故在此不再贅述。 同理，去交錯裝置200更可利用第二圖框位移檢測裝置244 4欢測圖场130中對應目標位置1()之一像素組與圖場削中對應目_ 標位置ίο之-像素組間之差異，以計算一第六差異值pD6。依據 該第六差異值PD6與一第六臨界值遍的比較結果，以及前述各 檢測之結果，決定電路250可判斷圖場11〇、12〇、13〇及14〇在 目標位置10附近的影像巾，是否存在僅出現於相場或偶圖場兩 者之一中的水平靜止線條（still line)。例如，當該第一差異值pDi 大於該第-臨界值Tin、該第二差異值舰大於該第二臨界值 TH2、該第三差異值PD3大於該第三臨界值TH3、該第四差異值 _ PD4大於該第四臨界值TH4、該第五差異值pD5小於該第五臨界 值TH5、且該第六差異值PD6小於該第六臨界值TH6時，表示前 述四圖場在目標位置1〇附近的影像中，存在有僅出現於奇圖場或 偶圖場兩者之一中的水平靜止線條。因此，決定電路25〇會控制 像素插補裝置260僅依據圖場120與140兩者之一中，與目標位 置10對應之像素的像素值來產生圖框150中目標位置1〇之像素 21 !257811 值，而不會同時利用兩者中對應目標位置ι〇之像素來運算。 在另—實施例中’決定電路，係於該第—差異值則大於 界值Tm、该第二差異值PD2大於該第二臨界值TH2、 7第Γ差異值PD3大於該第三臨界值TH3、該第四差異值PD4大 於該f喊界值™4、該第五差異值PD5小於該第五臨界值郡 1六|異值PD6小於該第六臨界值通、該第—差異值 s”亥弟異值酸之差異小於—第七臨界值TH7，且該第三差# 了值與該第四差異值PD4之差$小於一第八臨界值漏時 才判疋刖述四圖場在目標位置j 〇附近的影像中，存在有僅出現 於奇圖場或偶圖場兩者之—中的水平靜止線條。 由上述可知’本發明之去賴方法細逐像素（pixel-by-pixel )方式產生圖框150中的像素資料，故可依據不同位置的影像特 性，採取最佳的去交錯方式。另外，本發明的去交錯方法可以僅· 依據河-圖場_-圖場兩者之一的像素來產生圖框15〇中目標 位置1〇的像素值。因此，不論原先交錯摘視訊資料係為NTSC 規格或PAL規格’本發明之去交錯方法均能適用。 以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範 圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。 22 1257811 【圖式簡單說明】 第1圖為包含有四相鄰交錯式圖場（fleld) J之一視矾貧料與相對鹿 之一去交錯圖框（frame)之示意圖。 第2圖為本發明一實施例之去交錯裝置之示咅圖。 第3圖為本發明-實施例之交錯襄置產生輪出圖框中目標位置之 像素值的流程圖。 【主要元件符號說明】 100 ~~—— 視訊資料— ' 〜 110、120、130、140 圖場 .............................................................................. 150 輸出圖框 112、114、116、122、124、126、132 掃瞄線 、134、136、142、144、146、152、 154、156、158、160 10 .......................................... 像素位置 1 卜 12、13、14 ............................................................ 像素 ......................................................... 200 ........................................ 去交錯裝置 210 低通濾波器 220 儲存媒體 230 ................................................................................................ 圖場間差異檢測裝置 232、234 圖場位移檢測裝置 23 1257811 236、238 影像鋸齒檢測裝置 240 圖框間差異檢測裝置 242 、 244 圖框位移檢測裝置 250 決定電路 260 像素差補裝置

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Claims (1)

1257811 十、申請專利範圍： 1· 一種去父錯（de-interlacing)方法，用來對一視訊資料進行去 交錯操作以產生一輸出圖框（frame)中一目標位置之像素值 ，該視訊資料中包含有依序相鄰之一第一圖場（field)、一第 二圖場、及一第三圖場，該方法包含有： 對應於該輸出圖框之該目標位置，檢測該第一圖場與該第二 圖場之間之差異量（degree of difference ) ; · 對應於該輸出圖框之該目標位置，檢職第二圖場與該第三 圖場之間之差異量；以及 依據所檢測出之該第-圖場與該第二圖場之間之差異量、以 及該第二圖場與該第三圖場之間之差異量，產生該目標 位置之像素值。 如申請專利範圍第】項所述之去交錯方法，其中檢測該第一· 圖場與該第二圖場之間之差異量的步驟另包含有： 檢測該第-圖場中對應該目標位置之一第一像素組（pixdset )與該第二圖場中對應該目標位置之—第二像素組之間 之像素值差異，以計算一第一差異值。 25 1257811 3. 如申請專利範圍第2項所述之去交錯方法，其中檢測該第一 圖場與該第二圖場之間之差異量的步驟另包含有： 比較該第一差異值與一第一臨界值。 4. 如申請專利範圍第1項所述之去交錯方法，其中檢測該第二 圖場與該第三圖場之間之差異量的步驟另包含有： 檢測該第二圖場中對應該目標位置之一第二像素組與該第三 圖場中對應該目標位置之一第三像素組間之像素值差 異，以計算一第二差異值。 5. 如申請專利範圍第4項所述之去交錯方法，其中檢測該第二 圖場與該第三圖場之間之差異量的步驟另包含有： 比較該第二差異值與一第二臨界值。 6. 如申請專利範圍第1項所述之去交錯方法，其中檢測該第一 圖場與該第二圖場之間之差異量的步驟係包含有： 檢測該第一圖場與該第二圖場之間之圖場位移程度。 7. 如申請專利範圍第1項所述之去交錯方法，其中檢測該第一 圖場與該第二圖場之間之差異量的步驟係包含有： 檢測該第一圖場與該第二圖場之間之影像鋸齒現象。 26 1257811 8. 如中請專利範圍第！項所述之去交錯方法，其中檢測 圖場與該第三圖場之間之差異量的步驟係包含有. 檢測該第二圖場與該第三圖場之間之圖場位移程度。 9. 如中請專利範圍第】項所述之去交錯方法，其中檢測該第一 圖場與該第三圖場之間之差異量的步驟係包含有： 檢測該第二圖場與該第三圖場之間之影像鑛歯現象。 川.如帽專利範圍第i項所述之去交錯方法，其中檢測該第一 圖场與销二圖場之間之差異量的步驟、以及檢測該第二圖 場與該第三圖場之間之差異量的步驟係包含有： 計算複數個像素值之誤差絕對值總和（Sad)。 U.如申請專利範圍第1項所述之去交錯方法，另包含有： · 對應於該輸出圖框之該目標位置，檢測該第—圖場與該第三 圖場之間之差異量。 以如申請專利範圍第η項所述之去交錯方法，另包含有： 除了依據所檢測出之該第—圖場與該第二圖場之間之差異量 、以及該第二圖場與該第三圖場之間之差異量之外，亦 27 !257811 依據所檢測出之該第一圖場與該第三圖場之間之差異 ， 量，產生該目標位置之像素值。 3·如申請專利範圍第11項所述之去交錯方法，其中檢測該第一 圖場與該第三圖場之間之差異量的步驟係包含有·· 檢測該第-圖場所屬之圖框與該第三圖場所屬之圖框之間之 圖框位移程度。 14.如申請專利範圍第η項所述之去交錯方法，其中該視訊資料 中包含有-第四_ ’位於該第—圖場之前，財法另包含 有： 對應於該輸_框之該目標位置，檢測該第二圖場與該第四 圖場之間之差異量。 15. 如申請專利侧第14項所述之去交錯方法，另包含有： 除了依據所檢測出之該第—圖場與該第二圖場之間之差異量 、以及該第二圖場與該第三圖場之間之差異量之外，亦 四圖場之間之差異量，產生 =據所檢测出之該第一圖場與該第三圖場之間之差異 買、以及該第二圖場與該第 該目標位置之像素值。 28 1257811 16.如申請專利範圍第I4項所述之去交錯方法，其中檢測該第二 圖場與該第四圖場之間之差異量的步驟係包含有： 檢測該第二圖場所屬之圖框與該第四圖場所屬之圖框之間之 圖框位移程度。 17·如申請專利範圍第14項所述之去交錯方法，另包含有： 依據所檢測出之該第一圖場與該第二圖場之間之差異量、該 第二圖場與該第三圖場之間之差異量、該第一圖場與該_ 第三圖場之間之差異量、以及該第二圖場與該第四圖場 之間之i異量’決定該視訊·是否具有水平靜止線條 (still line)之特性。 18.如申請專利範圍第1項所述之去交錯方法，另包含有： 對該視訊資料進行低通濾波處理。 19· 如申請專利細第丨項所述之去交錯方法， 位置之像素值的步驟係包含有·〜素值，計算 其中產生該目標 ❿ %如申物陶_叫物，斜產生該目標 29 1257811 位置之像素值的步驟係包含有： 利用該第一圖場中之像素值或該第三圖場中之像素值，作為 該目標位置之像素值。 十一、圖式：

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