TWD195360S - 電性接觸子之部分 - Google Patents

電性接觸子之部分

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TWD195360S
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那須美佳
大喜彦
深津奈美子
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日商日本麥克隆尼股份有限公司
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Abstract

【物品用途】;本設計物品為一種電性接觸子,係作為與被檢測物之電極電性接觸的探針而使用在例如半導體元件或積體電路等電子零件的檢測裝置中。;【設計說明】;本設計物品之設計要點在於物品的形狀。;圖式所揭露之虛線為本案不主張設計之部分;圖式所揭露之一點鏈線為本案所欲主張設計之部分與不主張設計之部分的邊界線,該一點鏈線實際上不可見,為本案不主張設計之部分。;A-A部分放大圖為前視圖中之A-A部分的放大圖。;B-B線剖面圖為A-A部分放大圖中之B-B線處的剖面圖。;C-C線剖面圖為A-A部分放大圖中之C-C線處的剖面圖。

Description

電性接觸子之部分
本設計物品為一種電性接觸子,係作為與被檢測物之電極電性接觸的探針而使用在例如半導體元件或積體電路等電子零件的檢測裝置中。
本設計物品之設計要點在於物品的形狀。
圖式所揭露之虛線為本案不主張設計之部分;圖式所揭露之一點鏈線為本案所欲主張設計之部分與不主張設計之部分的邊界線,該一點鏈線實際上不可見,為本案不主張設計之部分。
A-A部分放大圖為前視圖中之A-A部分的放大圖。
B-B線剖面圖為A-A部分放大圖中之B-B線處的剖面圖。
C-C線剖面圖為A-A部分放大圖中之C-C線處的剖面圖。
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Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4634968A (en) * 1982-12-20 1987-01-06 The Narda Microwave Corporation Wide range radiation monitor
US4740746A (en) * 1984-11-13 1988-04-26 Tektronix, Inc. Controlled impedance microcircuit probe
US4716365A (en) * 1985-10-11 1987-12-29 Lisle Corporation Circuit tester
USD311346S (en) * 1987-09-25 1990-10-16 Q.A. Technology Company Electronic test probe
US5172051A (en) * 1991-04-24 1992-12-15 Hewlett-Packard Company Wide bandwidth passive probe
USD397052S (en) * 1997-04-08 1998-08-18 Societe Chauvin Arnoux Test lead
US7208971B2 (en) * 2002-10-15 2007-04-24 General Electric Company Manual probe carriage system and method of using the same
US9046568B2 (en) * 2009-03-27 2015-06-02 Essai, Inc. Universal spring contact pin and IC test socket therefor
CN102004173B (zh) * 2009-09-01 2014-02-19 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 探针
US9547023B2 (en) * 2010-07-02 2017-01-17 Isc Co., Ltd. Test probe for test and fabrication method thereof
US8912803B2 (en) * 2011-09-19 2014-12-16 Honeywell International, Inc. Electrostatic shielding technique on high voltage diodes
MY176424A (en) * 2012-04-13 2020-08-07 Xcerra Corp Test probe assembly and related methods abstract
JP6011103B2 (ja) * 2012-07-23 2016-10-19 山一電機株式会社 コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット
USD686098S1 (en) * 2012-11-14 2013-07-16 Agar Corporation Ltd. Antenna detection probe for a storage tank
JP6269337B2 (ja) * 2014-06-16 2018-01-31 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを用いた電子デバイス
JP1529607S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529608S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529605S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529612S (zh) * 2014-12-19 2015-07-27
US9810715B2 (en) * 2014-12-31 2017-11-07 Tektronix, Inc. High impedance compliant probe tip
US10241133B2 (en) * 2014-12-31 2019-03-26 Tektronix, Inc. Probe tip and probe assembly

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