TWD194906S - 導通檢查用探針接腳 - Google Patents
導通檢查用探針接腳Info
- Publication number
- TWD194906S TWD194906S TW107301316F TW107301316F TWD194906S TW D194906 S TWD194906 S TW D194906S TW 107301316 F TW107301316 F TW 107301316F TW 107301316 F TW107301316 F TW 107301316F TW D194906 S TWD194906 S TW D194906S
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- inspection
- case
- design
- contact
- substrate
- Prior art date
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title abstract description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 6
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract 1
Abstract
【物品用途】;本案設計之物品係導通檢查用探針接腳，如「顯示使用狀態之參考剖視圖1」所示，為使用於導通檢查器具者，且收納於殼體而使用。該導通檢查器具如「顯示使用狀態之參考剖視圖2」所示，固定於檢查裝置之檢查用基板而使用。檢查裝置使導通檢查器具移動至檢查對象物品(例如，基板對基板接合連接器)之電極部分與本物品之接點接觸為止，從而判定與本物品之接點接觸之檢查對象物品是否與檢查用基板電性連接。;【設計說明】;圖式所揭露之虛線部分，為本案不主張設計之部分。 圖式中一點鏈線所圍繞者，係界定本案所欲主張之範圍，該一點鏈線本身為本案不主張設計之部分。 本案設計係新穎獨特之樣式，藉由獨特地設計導通檢查用探針接腳，可顯現出先前技藝所未有之視覺效果。
Description
本案設計之物品係導通檢查用探針接腳，如「顯示使用狀態之參考剖視圖1」所示，為使用於導通檢查器具者，且收納於殼體而使用。該導通檢查器具如「顯示使用狀態之參考剖視圖2」所示，固定於檢查裝置之檢查用基板而使用。檢查裝置使導通檢查器具移動至檢查對象物品(例如，基板對基板接合連接器)之電極部分與本物品之接點接觸為止，從而判定與本物品之接點接觸之檢查對象物品是否與檢查用基板電性連接。
圖式所揭露之虛線部分，為本案不主張設計之部分。 圖式中一點鏈線所圍繞者，係界定本案所欲主張之範圍，該一點鏈線本身為本案不主張設計之部分。 本案設計係新穎獨特之樣式，藉由獨特地設計導通檢查用探針接腳，可顯現出先前技藝所未有之視覺效果。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017-029354 | 2017-12-27 | ||
| JPD2017-29354F JP1613019S (zh) | 2017-12-27 | 2017-12-27 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWD194906S true TWD194906S (zh) | 2018-12-21 |
Family
ID=63451735
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW107301316F TWD194906S (zh) | 2017-12-27 | 2018-03-07 | 導通檢查用探針接腳 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP1613019S (zh) |
| TW (1) | TWD194906S (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWD212041S (zh) | 2020-07-31 | 2021-06-11 | 旺矽科技股份有限公司 | 探針卡 |
| TWD214871S (zh) | 2021-01-11 | 2021-10-21 | 旺矽科技股份有限公司 | 探針頭之導板組 |
-
2017
- 2017-12-27 JP JPD2017-29354F patent/JP1613019S/ja active Active
-
2018
- 2018-03-07 TW TW107301316F patent/TWD194906S/zh unknown
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWD212041S (zh) | 2020-07-31 | 2021-06-11 | 旺矽科技股份有限公司 | 探針卡 |
| TWD214871S (zh) | 2021-01-11 | 2021-10-21 | 旺矽科技股份有限公司 | 探針頭之導板組 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP1613019S (zh) | 2018-09-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| PH12017501807A1 (en) | Vertical contact probe and corresponding testing head with vertical contact probes, particularly for high frequency applications | |
| PH12016501480B1 (en) | Integrated circuit (ic) test socket using kelvin bridge | |
| TWD177826S (zh) | 積體電路插座用探針引腳 | |
| TWD194906S (zh) | 導通檢查用探針接腳 | |
| TWD198746S (zh) | 導通檢查用探針接腳 | |
| TWD177827S (zh) | 積體電路插座用探針引腳之部分 | |
| TWD197914S (zh) | 導通檢查用探針接腳 | |
| TWD194904S (zh) | 導通檢查用探針接腳 | |
| TWD194907S (zh) | 導通檢查用探針接腳 | |
| TWD194905S (zh) | 導通檢查用探針接腳 | |
| TWD194619S (zh) | 導通檢查用探針接腳 | |
| TWD194618S (zh) | 導通檢查用探針接腳 | |
| TWD194185S (zh) | 導通檢查用探針接腳 | |
| TWD198745S (zh) | 導通檢查用探針接腳 | |
| TWD198902S (zh) | 導通檢查用探針接腳 | |
| TWD194908S (zh) | 導通檢查用探針接腳 | |
| CN107727994B (zh) | 轨道车辆电气连接器专用测试笔 | |
| TWD173714S (zh) | 積體電路插座用探針引腳之部分 | |
| TWD177829S (zh) | 積體電路插座用探針引腳之部分 | |
| TWD201503S (zh) | 導通檢查具本體 | |
| TW201144814A (en) | Probing apparatus for integrated circuit testing | |
| TWD195583S (zh) | 電性接觸子之部分 | |
| TWD201502S (zh) | 導通檢查具 | |
| TWD175553S (zh) | 積體電路插座用探針引腳之部分 | |
| TWD197820S (zh) | 電性接觸子之部分 |