TW584955B - Method and apparatus for controlling current demand in an integrated circuit - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 10
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 23
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 14
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 claims description 12
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 claims description 8
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 8
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 6
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 5
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 3
- 241000700605 Viruses Species 0.000 claims 6
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims 5
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 claims 3
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 claims 2
- PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N Glycerine Chemical compound OCC(O)CO PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 208000025174 PANDAS Diseases 0.000 claims 1
- 208000021155 Paediatric autoimmune neuropsychiatric disorders associated with streptococcal infection Diseases 0.000 claims 1
- 240000004718 Panda Species 0.000 claims 1
- 235000016496 Panda oleosa Nutrition 0.000 claims 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 claims 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 claims 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 1
- 239000000047 product Substances 0.000 claims 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 claims 1
- 239000013589 supplement Substances 0.000 claims 1
- 230000003466 anti-cipated effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 230000002496 gastric effect Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 210000002784 stomach Anatomy 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/30—Means for acting in the event of power-supply failure or interruption, e.g. power-supply fluctuations
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/30—Means for acting in the event of power-supply failure or interruption, e.g. power-supply fluctuations
- G06F1/305—Means for acting in the event of power-supply failure or interruption, e.g. power-supply fluctuations in the event of power-supply fluctuations
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Description
玖、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明一般關於積體電路,及特別關於控制一積體電路 中之電流需求。 【先前技術】 一微處理器,微控制器或任何其他形式的積體電路或晶 片的電源供應電壓隨著其電能需求之改變所造成的電壓過 低及過高而損壞。電能需求之改變可能發生在一積體電路 所執行的不同指令流具有不同電能需求時,且在某些狀況 下,該改變是劇烈的,如當積體電路離開或進入靜止狀態 時。此導致一問題,因為若電源供應電壓改變超過可接受 範圍,積體電路會不正常動作。 在電流劇烈改變期間的大的電壓變化主要由封裝、接 線、一晶片上互連線中的寄生電感所產生。因此,電源供 應電壓之過高或過低之量則直接正比於dl/dt · L/C,其中 L是封裝及晶片上互連線的電感及C是積體電路(或晶片上) 去耦合電容。 一個解決此問題的方案係增加積體電路去耦合電容,使 得電壓過低或過高的量減少。然而,由於在積體電路内需 要大面積以置放該等去耦合電容,以較大積體電路分離電 容作為解決方案的可行性受到限制。而且,因為電源供應 電壓的過多或過低的量是正比於去耦合電容的增加的平方 根,去耦合電容的任何增加量的效果則被減少。此外,當 微處理器,微控制器,或其他積體電路變得更快且電流消 耗增加時,電源供應電壓過多及過低的問題更加惡化。因 此’需要監視和控制電源供應電壓的過多及過低問題以保 持在可接受範圍。 【發明内容】 如在此所述,術語”匯流排”指的是多個用於傳送一個或 夕個不同形式資訊,如資料、位址、控制、或狀態的訊號 或導體。’,有效”及”無效”(或”失效”)則用於表示一訊號、狀 態位元、或相似裝置各別在其邏輯為真或邏輯為偽的狀 匕、若邏辑真狀版為一邏輯壹,則邏輯偽狀態為一邏輯零。 及若邏輯真狀態為一邏輯零,則邏輯偽狀態為一邏輯壹。 本金明的具體貪施例一般關於監視和控制電能消耗電路 (如一積體電路)的電能消耗(如電流需求)以防止供給電壓 過低、過高及振盪所導致的破壞。例如,本發明的一方面 是關於-種控制積體電路内電流需求的方法,該積體電路 具有電能消耗電路。該方法包括檢測是否至少一預定過高 及一預定過低之-出現或如所預測在—電源供應電壓内, 及如果在胃電能供應電壓内檢測到—職過高ϋ定過 低,則控制由該電能消耗電路所消耗的電流以確保電源供 應電壓將保持在-預定電源供應電壓位準之—預定邊界 内。 1 本發明的另一方面是關於一包各 G ο私备去牵馬合結構的積 電路,以在電源供應電壓位準 战」時棱供電流及用以在 源供給電壓位準增大時消耗雷& 一 千曰人1鳥。孩積體電路也包含用 消耗電能的電能消耗電路及用 用以控制至少電能消耗電路 584955 電壓而提供或消耗電流 〜、知髌電路電容分離結構18 般A系統10内不執行供應或消 巧耗私,鳥以外的其他功能)。 了以理解的是,圖!的系統1〇只 奋攸4 ΗΓ日 疋間早的一個固有電答或 5際相關元件的概圖。因此,熟知本技藝之人士可瞭解一 耦合至一電路板的封裝積體 胃、 上 _ ^ J Μ不冋形式呈現。例 口 ’系統10可使用一更複雜或更簡單的表達方式。 若板位階分離結構16提供W電容,則板位階去耗合結 構16可有效使封裝6屏蔽而免於板電能互連線η導入的電 感’使得-標稱怔定電壓出現在節點24。然而,即使板位 階,路4的電感可以由足夠高水準的板位階分離結構“所 屏蔽,寄生電感會在節點24後由封裝相互連接丨4導入。因 此’電源供應電壓過高及過低係直接正比於di/dt · l/c, /、中L疋封裝6(亦即,封裝互連線14)及積體電路電能互連 線22的電感,且c是經由積體電路電容分離結構^所提供, 及di/dt指的是電能消耗電路2〇所需求的電流的改變率。 因此,如上所述,為了減少供應電壓過高及過低的振幅, 孩封裝電感(L)可被減少或者是積體電路去耦合電容(c)可 以增加。然而,如上所述,增加c值及減少L值存有限制。 例如,如上所述,為了增加c,積體電路8内需要更多面積。 而且’當科技進步及要製造更複雜的積體電路時,封裝的 寄生電感就不可能減少。例如,因為封裝互連線14及積體 電路電能互連線22的寄生電感是與積體電路及封裝的實際 尺寸有關,其對減少L而超過一特定位準以上即存在有限 制。此外,增加C或減少L的效果變小,因為L/C是在平方 -10- 高的增加閥限值,且電壓波形67將最後穩定在一低電能標 稱Vdd位準附近。因此,電能間歇性增加將增加整個轉換時 間,因此使得整個dt 83現在大於dt81而不會有電能的間歇 性增加,因此導致dl/dt減少且一控制的電壓供應過高。 相似地,為說明圖3所示的問題,如參考圖5和圖6所示 者,電能消耗可能間歇地中斷或間歇地增加,,端視是否 電流轉換從部份電能操作至全電能操作或全電能操作至部 份電能操作而定。經由斷續中斷或增加電能消耗,在低電 能指令流和高電能指令流之間或高電能指令流和低電能指 令流之間的轉換時間(如dt)則分別增加,因此減少整體的 dl/dt。如圖5和6所示,這可控制因為在電能位階之間較快 電流轉換所造成的的減幅振盪效應。 圖7說明電能中斷電路的間歇中斷以說明圖4所述問題。 為防止匹配系統10的電源供給網路共振頻率的週期性高電 能及低電能指令所造成的破壞性電壓過高或過低,電能消 耗可以被中斷(如部分48和52)此造成最終相位偏移,該最終 週期型態與共振頻率不匹配。此外,電能消耗可以間歇地 增加(部分50和54),其與間歇中斷(部分48和52)—同控制 Vdd的所有減幅振盪。每當Vdd到達一對應閥限時,電能會 被減少、增加或返回至正常電能消耗。當電流轉換從部份 電能操作至全電能操作(如轉換從執行低電能作動至高電 能操作)時,Vdd減少直至到達較低減少的閥限(在點71)為 止,在此點正常電能消耗被中斷(如部分48)。Vdd接著增加 直至到達較高的減少閥限(在點73)為止,在此點電能消耗電 -17- 584955 及一閥限值並提供一控制訊號至電能消耗減少控制電路64 或電能消耗增加控制電路66。例如,比較器68和70每個皆 提供一控制訊號至減少控制電路64,且比較器72和74每個 則提供一控制訊號至增加控制電路66。當對應閥限到達時 這些控制訊號則因此確定執行。
減少控制電路64提供一控制訊號84至時脈調整電路78。 控制訊號84則執行以響應送至減少控制電路64的輸入。例 如,當較低減少閥限達到時,控制訊號84可以執行。時脈 調整電路78也接收CLK(一時脈訊號)並輸出ADJUSTED CLK(調整後的時脈訊號)。例如,在一具體實施例中,時脈 調整電路78可為時脈閘控電路,其中ADJUSTED CLK為閘 控時脈訊號。CLK可為電能消耗電路20中的任何閘控時脈 訊號。例如,其可以是一全區或局部時脈。而且,時脈調 整電路78可將電能消耗電路20内的所有時脈訊號調整進一 步向下。例如,時脈調整電路78可致動電能消耗電路20内 既有電能管理電路以調整時脈。此外,時脈調整電路78可 替換為其他電能中斷電路,如管路停止電路,其係導致電 能消耗電路内管路線停止而非中斷任何時脈訊號。此外, 其他電能中斷電路延遲或停止所有可能的架構電路而非管 路的可被使用。在替代具體實施例中,所有其他電路可使 用來取代時脈調整電路78以中斷電能消耗電路20的電能消 耗(如電流需求)。 增加控制電路66提供一控制訊號82至一電能消耗電路 80。電能消耗電路80 ’則搞合在Vdd和地之間及被模擬為一 -19- 584955 二Γ較高增加閥限達到時。當控制訊號82被執行時, =耗電⑽被致能以增加㈣_路2㈣電 (如^需求)。電能消耗電⑽可以是電能消耗電路2〇的— 既有邵分,其可用以依需要消耗電能。例如,電能消耗電 二。:包括被增加電能以增加電能消耗的電路閒置區塊。 在曰代具體實施例中,電能消耗電路8〇可以是 路20内可用來只增加電能消耗的電路。 匕y私 圖8可參考圖5-7而更進—步瞭解。例如,如圖μ所示, 當vdd到達較低減少閥限值時,比較器7g執行其控制訊號至 減少控制電賴,其響應接收來自比較器Μ的執行控訊 號,而執行控制訊號84。時脈調整電路78接著致能電能消 耗中斷直至比較器68檢測到較高減少閥限已到達為止,在 該較高減少闕限點’控制訊號84被抑能且正常電能消耗再 繼續。:相似地,如圖5_7所示,當Vdd到達較高閥限值時, 匕較m 72執行其控制訊號至增加控制電路,其響應而執 仃控制訊號82。電能消耗電路8〇接著使電能消耗增加,直 到比較器74偵測到已達到較低增加閥限為止,在此點,控 制訊號82被抑能且正常電能消耗再繼續。 二 雖然-四點控制系統利用兩組較高及較低閥限說明,但 =於一般控制原理的替代方法可被使用。例如,電能控制 包各62可被„又汁以不僅監控絕對電壓值也監視電壓改變 率。或者,替代控制系統可增量地改變任何分佈電路,例 如電能消耗電路80的電能消耗,同樣的會以電能消耗電 -20- 效益、其他優點和問題解答已參考特定具體實施例如上 所馬述》而,效益、優點、問題解答及所有可能導致上 ’義K兀件並非解釋為本發明中請專利範圍之一關鍵、 必需或基本之特徵或元件。如在此使用的術語,,,包含",” :有或“可其他芡化係用以涵蓋-非除外的包含,使得包 7、、且70件的—程序、方法、物件或裝置並不僅包括該等 /件而疋可以包括其他未明確列於或固有於此種程序、方 法、物件或裝置的元件。 【實施方式】 【圖式簡單說明】 α本發明隸由範例及未限於之該㈣圖說明,其中相同 號碼表示相同元件,及其中: 圖1說明根據本發明的一具體實施例之系統的部份方塊 圖及部份示意圖; 圖2說明對應於電能管理暫態之電流和電壓波形,· 圖3說明對應於流入電能暫態的電流和電壓波形; 圖4說明對應於週期電能暫態的電流和電壓波形; 圖5-7說明根據本發明的具體實施例之電流和電壓波形,· 圖8說明根據本發明的具體實施例,圖1的電能消耗電路 之一部份之方塊圖。 習知本技者瞭解附圖之元件僅為簡單及清楚之說明目的 及並非70全等比例畫出。例如,附圖内元件的部份尺寸可 相對其他元件予以放大以協助增加瞭解本發明的具體實施 -22- 584955 例。 【圖式元件符號說明】 4 板 6 封裝 8 積體電路 10 系統 11 板電能互連線 12 電源供應 14 封裝互連線 16 板去耦合結構 18 積體電路電容性去耦合結構 20 電能消耗電路 22 積體電路電能互連線 24 節點 30 電流波形 31 平坦部分 32 波形 33 部分 34 電壓波形 36 點 37 點 38 電壓波形 39 點 41 暫態時間
-23 - 波形 暫態時間 波形 中斷的電能消耗部分 間歇性增加的電能消耗部分 上升部分 中斷的電能消耗部分 增加的電能消耗部分 間歇性增加的電能消耗部分 點 點 監視電路 點 電能消耗控制電路 電能消耗減少控制電路 電壓波形 電能消耗增加控制電路 電壓波形 比較器 電流波形 比較器 點 比較器 點 -24- 比較器 點 點 時脈調整電路 波形 電能消耗電路 暫態時間 控制信號 暫態時間 控制信號 -25 -
Claims (1)
- 執行提供給該電能消耗電路的至少一部分之一時脈的 停止和開始之一。 6. —種積體電路,包含: 一種電容性去耦合結構(18),用以在電源供應電壓位準 減少時提供電流,及在電源供應電壓增加時消耗電流; 電能消耗電路(20),用以消耗電能;及 電能消耗控制電路(62),用以控制該電能消耗電路的至 少一部分所消耗的電流, 該電能消耗控制電路耦合至該電能消耗電路。 7. 如申請專利範圍第6項之積體電路,其中該電能消耗控制 電路包含: 電能消耗減少控制電路(64),用以減少由該電能消耗電 路的至少一部分所消耗的電流; 電能消耗增加控制電路(82),用以增加由該電能消耗電 路的至少一部分所消耗的電流;及 監視電路(60),用以比較一電源供應電壓與一預定電 壓,該監視電路耦合至該電能消耗減少控制電路及至該 電能消耗增加控制電路。 8. 如申請專利範圍第7項之積體電路,另包含: 電能消耗電路(80),被耦合以從該電能消耗增加控制電 路接收至少一控制訊號,該電能消耗電路選擇性地消耗電 能。 9. 如申請專利範圍第6項之積體電路,另包含: 時脈調整電路,被耦合以從該電能消耗增加控制電路接 584955 收至少一控制訊號,該時脈調整電路調整一提供至該電 能消耗電路之至少一部分的時脈訊號,其中該時脈調整 電路選擇性地中斷該提供至該電能消耗電路之至少一部 分的時脈訊號。 10. —種積體電路,包含: 電能消耗電路(20),用以消耗電能; 電能消耗控制電路(62),用以控制該電能消耗電路的至 少一部分所消耗的電流,該電能消耗控制電路耦合至該 電能消耗電路,其中該電能消耗控制電路包含監視電路 (60),用以比較一電源供應電壓與一預定電壓;及 時脈調整電路(78),耦合至該電能消耗控制電路,該時 脈調整電路調整一提供至該電能消耗控制電路之至少一 部分的時脈訊號。(本說明書格式、順序及粗體字,請勿任意更動,※記號邵分請勿填窝) ※申請案號:、斤/ ※申請θ期:炎\代㈣丨小丨L下斗 壹、發明名稱:(中文/英文) 於積體電路中控制電流需求之方法與裝置 METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING CURRENT MAND IN AN INTEGRATED CIRCUIT C、申請人··(共1人) 姓名或名稱:(中文/英文) 美商摩托羅拉公司/MOTOROLA INC. 代表人:(中文/英文) 派翠西亞 S.高達/PATRICIAS. GODDARD 住居所或營業所地址:(中文/英文) 美國伊利諾州史勘伯市東阿崗崑路1303號摩托羅拉中心 CORPORATE OFFICES51303 EAST ALGONQUIN ROAD?SCHAUMBURG5ILLINOIS 60196?U.S.A. 國籍:(中文/英文) 美國/U.S.A. 參、發明人:(共5人) 姓名:(中文/英文) 1·大衛 T.布勞/DAVIDT.BLAAUW 2·瑞傑專 V.潘達/RAJENDRANV.PANDA 3. 拉傑修瑞/RAJATCHAUDHRY 4. 佛拉迪米爾P.索洛托/VLADIMIR P. ZOLOTOV 5. 拉文卓拉拉瑪瑞裘/RAVINDRARAJRAMARAJU 轉 中丨號專利申請案 書替換頁(93年1月) 邪^所4耗的電流的電能消耗控制 控制雷致鈿人 布」包路,其中該電能消耗 %路耦合至該電能消耗電路。 本發明的另一方面是關於一積體 泰处AA A %合具包含用以消耗 %此的電能消耗電路及耦合至該電能 自耗 該雷处、%把,肖耗電路,用以控制 兒此消耗電路至少一部份所消耗 雷致。彳、_ 和日^ %机的電能消耗控制 、及徂/Μ消耗控制電路包含監控電路,用以比較-電 源供應電壓與一預定電龎令籍 沪'、… 4 4積體電路也包含耦合至該電 月匕/肖耗fe制電路的時脈調整電路, 供至一 % m寺脈_整電路調整提 /、 %此肩耗電路的一邵分之一時脈訊號。 圖1說明根據本發明的一具體實施例之系統1()。圖i是系 ㈣的-簡化及概約電路模型。在—具體實施例,系統1〇 電源供應龍系統。因此4統1G可包括其他或不同 ^圖1所不者的固有或寄生元件。系統1〇包括一電源供應 ,其輕合至板位階電路4,該電路4則搞合至一連結一積 體電路8的封裝6。板位㈣路4包_合至板絲合結構16 的板電能互連線u。封裝6包括封裝相互連接線14,且積體 2 = 8包括搞合至積體電路電容去耦合結構“的積體電路 電能互連線22 ’以及電能消耗電路2〇。積體電路去耦合結 構18及電能消耗電路2〇也搞合至電源供應12及板去搞合結 構 16。 σ 系統10說明從電源供應12流至電能消耗電路2〇的電流。 電源供應12則供給一恆定電壓。例如電源供應12可以是電 源調整器,電池或其他類似者。也請注意,電源供應。也 可被包括成為電路板,例如板位階電路4的部份,或可 O:\77\77830-930109.doc -8 - 赛專利申請案 , ί文ϋ書替換頁(93年1月) 以是如圖1所示的外部電源供應(如在汽車應用中)。電流從 電源供應1 2流經板位階電路4。板位階電路4包括代表電路 板電能線路的固有和寄生電感的板電能相互連線11。而 且,板位階電路4可包括板去耦合結構16,其在一具體實施 例(圖1所示者)為一去耦合電容元件。此去耦合電容元件包 括固有電阻和電感,如圖1的板去耦合結構16所示。電流接 著從板位階電路4流經封裝6内的封裝接線。該等封裝接線 也包括一如封裝互連線電感14。電流接著在到達電能消耗 電路20内裝置前流經積體電路電能互連線22。積體電路電 能互連線22則經由系統10内一電阻和電感所形成。 在流經積體電路互連線22後,電流到達電能消耗電路 20,其在圖1内由一可變電阻(如可變負載)所表示。例如, 電能消耗電路20可包括操作電路,例如微處理器核心的邏 輯閘。然而,在替代具體實施例中,電能消耗電路20可包 括所有涉及積體電路8的操作及需要電流的電路。亦即’電 能消耗電路20—般執行某種功能而非僅提供及接收電流。 平行於電能消耗電路20的是積體電路電容去耦合結構 18。該等分離結構18可以多種不同方式形成。例如,在一 具體實施例中,這些結構可以是被動元件,例如電容,或 在替代具體實施例中,可以是主動裝置,例如組態成為電 容元件的MOS電晶體。在電源供應電壓位準降低時,積體 電路電容分離結構1 8提供電流至電能消耗電路20,且同樣 地,當電源供應電壓位準減少時消耗電流。因此積體電路 電容分離結構18的功能是響應來自電源供應12的電源供應 O:\77\77830-930l09.doc -9- 號專利申請案 第(Μ] 中文說明書替換頁(93年i月) 根内(如經由增加C或減少L所得到的9的減少轉換成實際減 少只有3)。本發明的具體實施例因此提供解答是集中在減 V dl/dt以減少供應電壓過多或過少的量。例如,為減少 dl/dt,dl可被減少或七可被增加,或兩者之結合,以協助控 制供應電壓過多或過低。因此,一種用以監視該供應電壓 及控制電能消耗電路20的電流需求可有效地減少dI/dt,並 將於下面更進一步討論。(而且請注意當時脈被調整以減少 需求電流時,本發明的具體實施例也可增加有效去耦合電 容(C)) 〇 圖2-4說明各種的電流⑴及電壓(Vdd)波形,其中〗指的是 電能消耗電路20所消耗的電流,Vdd則為電能消耗電路2〇 可看到的供給電壓。請注意電壓波形係在時間上對應電流 波形及說明當電能消耗電路2〇的電流消耗改變時,vdd對電 流的響應。圖2-4的波形說明說明導致供給電壓過多和過低 的電流改變的範例。 圖2說明對應於電能管理暫態的電流和電壓波形。例如, 圖2的波形對應於從一低電能狀態轉移至完全電能操作的 電能消耗電路20。(請注意雖然圖2未示,電能管理暫態在 完全電能操作的轉移回至低電能狀態時也可能發生。)因 此,在一電能管理暫態期間,電能消耗電路2〇在一低電能 狀態下操作,且該供給電壓(vdd)則位於一低電能標稱位 準。該電能管理狀態可指的是在一關閉狀態、一低電能狀 態(如在一靜止或暫停模式等)或其他類似者的電能消=電 路20田私把上升、重置或從睡眠狀態恢復等等時,電汸 O:\77\77830-930109.doc -11 - 第0911074^56號專利申請案 中文說明書替換頁(93年1月) 在一轉移時間會回升到影響Vdd電壓位準的完全電能操作 (至少部分是由於存在於低電能狀態及全電能狀態之間之 大的dl)。 例如,在一電能管理狀態期間,當電流位準位於低電能 狀態位準時,Vdd則在其低電能標稱Vdd位準。在轉換時間 的期間,當電流暫態從低電能狀態轉換至全電能操作(例如 當重置或電能上升時)時,Vdd低於低電能標稱Vdd位準之 下。在穩定於一全電能標稱Vdd位準之前(對應於全電能操 作),Vdd接著持續振盪(過低或過高)。相同地也發生在從 全電能操作到低電能狀態(未顯示)的轉移,其中Vdd首先超 過全電能標稱Vdd之上,接著在穩定於低電能標稱Vdd之前 持續振盪或減幅振盪。 供應電壓過高或過低都會破壞電能消耗電路20。例如, 過低會負向地影響到速度路徑因而導致效能損失。過低也 可使電能消耗電路20無法保持諸狀態,因而損壞到電能消 耗電路20。相同地,過高可能導致某些路徑執行太快,因 而破壞到電能消耗電路20所界定之保持時間,或可能引發 可靠度的問題,例如電晶體的薄氧化物的劣化。因此,任 何位準的過低和過多必須被控制以防止對電能消耗電路20 的損傷並確保電能消耗電路20的操作正常。 圖3說明對應於流入電能暫態的電流和電壓波形。例如, 當執行消耗電能低的資源的指令時,電能消耗電路20是位 於要求部份電能操作。然而,在指令流内,電能消耗電路 2 0可執行要求消耗較高電能的資源的指令。在該等高 O:\77\77830-930109 doc -12- 第O9U074%號專利申請案 中文說明書替換頁(93年1月) 電能指令期間,電能消耗電路20以高或全電能操作。在部 份電能操作和全電能操作間的電流轉移是小於圖2在低電 能狀態和全電能狀態之間(因此導致較低之dl);然而,該轉 移時間在低電能指令流和一高電能指令流間是比較快的, 也表示較小的dt。因此,因為Vdd是正比於電流對時間(dl/dt) 的改變率,在穩定於全電能標稱Vdd處或附近之前,短的轉 移時間對應於較小dt值,其同樣導致Vdd振盪(亦即減幅振 盪)於其部分電能標稱Vdd位準附近。再次,此減幅振盪動 作導入電壓供應過低和過高,其可能損壞電能消耗電路20。 圖4說明對應於週期性電能暫態的電流和電壓波形。例 如,電能消耗電路20可能重覆地執行一系列可能包括高電 能指令和低電能指令的指令。該等指令可能導致一重覆性 週期樣型,交替於以全電能操作的高電能指令及以低電能 操作的低電能指令之間,因此導致一如圖4所示的週期性電 流消耗波形。此週期樣型可能符合系統10的電源供應網路 的共振頻率,造成Vdd在每一週期内以一持續增加比率過高 或過低。這將導致如圖4所示的電能消耗電路20内之毀滅性 的電壓過高和過低。(請注意系統10的電源供應網路指的是 由電源供應12、板電能互連線11、板去耦合結構16、封裝 互連線14,積體電路電容性去耦合結構1 8以及積體電路互 連線22所形成的電氣網路。在替代性具體實施例,該電源 供應網路可包括比上述所列更多或更少的元件。) 在圖2 - 4所不的母個問題都可能造成電能消耗電路2 0的 破壞性影響,且需要說明每個狀況。此外,許多問題性暫 O:\77\77830-930109.doc -13- 第0911074为(號專利申請案 中文說明書替換頁(93年1月) 態會不可預期地發生在電能消耗電路2〇内,因此無法事先 防止。例如,圖3和4可能是一指令流内無預先通知而發生 的一特別序列指令所造成的。而且,因為各種不同指|流 可能造成這些問題,所以可以認知的是,吾人可以故意設 計該等指令流並藉此產生破壞性電腦病毒。此外,並不需 要特定指令以產生破壞性指令流,其意味著大量不同的$ 計選擇皆可用來產生會攻擊任何型式的電能消耗電路2 〇的 病毒。因此,微處理器、微控制器或其他積體電路等非負 責或控制該等電壓過低及過高者(可預測及不可預測者)會 受到該等危險的電腦病毒的影響。 例如,孩等病毒(亦即危險的碼段)可能被傳送到一個人電 腦(PC)處理器,其中它們可以反覆地嘗試且最後成功地造 成電流以PC處理器的共振波頻率來振盪,因而導致破壞性 過多或過低而摧毁PC處理器。此外,該等病毒也可能被寫 入以產生快或大的電能暫態,造成供應電壓的危險性過高 或過低而無法彌補地損壞PC處理器。因此單單一個人即可 以全球地散布一電腦病毒至任何直接至網際網路的電腦而 可此造成典法彌補地損壞。此外,在時脈速度變高時,該 等電壓供應的過高及過低所造成的問題的程度即會增加。 (例如,當時脈速度變高時,共振頻率大致會因為使用更多 去輕合裝置而減少。這使得一指令流内的電能轉換更容易 過多、過低以及共振頻率振盪。) 為說明圖2所導致的問題,電能消耗電路20的電能消耗可 、門歇丨生地被中辦以藉由增加以來減少以/以。電能消耗可 O:\77\77830-930109.doc -14- 第09110才\56號專利申請案 中文說明書替換頁(93年1月) 藉由仔止全區或任何局部時脈,停住電能消耗電路汕内的 處理器流,中斷發出新的指令,或減少部份電能消耗電路 20的電能來中斷。因此,可使用任何減少電能消耗的裝置 以中斷兒成消耗並控制電能消耗電路的冑流需求。 圖5說月⑼一低電能狀態至一包括中斷電能消耗的全 私把彳不作的|怨。忒等電流的改變造成vdd的改變。電流波 形30及電壓波形34對應於圖2的電能管理暫態。利用本發明 中斷電能消耗電路20的f能消耗的具體實施例,最終的電 流波形是波形32及對應電壓波形38。請注意,電壓波形% 不再包括和電壓波形34相同量的過低及過高。亦即,電壓 波形38造成一保持在一預定容限範圍内的受控制的減幅振 盪,如同電能消耗電路2〇所容許的。 圖5也說明Vdd的一較高減少閥限及一較低減少閥限。因 此,如圖5所tjt,當電壓波形38從低電源標稱vdd降至較低 的減少閥限(在點36處)時,每當Vdd低於較低減少閥限(以 響應增加的I),電能消耗被中斷(藉此減少電流需求)。電能 如示波形32的平坦部分(部分31)所示保持中斷直至電壓波 形增加並觸及較高減少閥限(在點37處)。當到達較高閥限 時,標稱電能消耗再繼續並從電能消耗中斷前掉落的相同 €把位準轉移至全電此操作,如波形3 2的上升部分所示(緊 接部分3 1之後)。Vdd再次減少直至到達較低減少閥限(在點 39),在此處電能消耗將再度中斷(部分33)。最後,Vdd將 不再減少並超過閥限值,且該電壓波形將最後穩定在一全 電能標稱Vdd位準附近。因此,電能消耗中斷偏移每一 O:\77\77830-930109.doc -15- 第091107456號專利申請案 中文說明書替換頁(93年1月) 中斷期間的暫態且整個dt43現在大於dt41而無中斷,因此造 成一 dl/dt減少及一受控制的電壓供應過低。 圖6說明電能消耗電路20從全電能操作轉移降至低電能 狀態。請注意波形單純為圖5的波形的反轉。電流波形69及 電壓波形65對應於上述討論的電能管理暫態問題(請注意 該等波形69和65為圖2的電流和電壓波形反轉)。利用本發 明間歇地增加電能消耗電路20電能消耗的具體實施例,最 終的電流波形是波形79且對應的電壓波形67。因此,為減 少dl/dt,電能消耗可能間歇地增加,下文將更進一步討論。 電能消耗電路20的電能消耗(例如電流需求)可以經由開啟 (如增加電能)電能消耗電路20的閒置區塊,發出高電能指 令,開啟電能消耗負載或相似者而增加。因此,di/d〖經由 增加dt而增加,增加wdI/dt有助於控制電壓減幅振盪。 圖6也說明Vdd的一較高增加閥限及一較低增加閥限。因 $ ,如圖6所示,當電壓波形67從高電能標稱vdd上升至較 高增加閥限(在點57)時,每當Vdd上升到較高增加間限(以 響應I減少),電能消耗被增加(藉此增加電流需求)。電能如 波形79的上升部分(部分51)所示地保持增加直至電壓波形 67減少並觸及較低增加閥限(在點59)。當到達較低的增加闕 限時’ %電能消耗再繼續且從如波形79(緊接著部分⑴ 的減少部分所示’從如果電能消耗已持續而無間歇性斷續 增加,電能消耗會到達的點轉移至低電能狀態。㈣再次增 :直較高的增加閥限(點61)為止,在此點電能消耗則 再/人增加(邵分53)。最後,州將不再增加並超過較 O:\77\77830-930l09.doc -16- 號專利申請案 中文說明書替換頁(93年1月) 路20的標稱電能消耗再繼續。當電流持續轉換至全電能操 作時,Vdd持續正常響應電能消耗電路20所消耗的電流直至 較高的增加閥限或較低的減少閥限之一達到為止。 在圖7所示的具體實施例中,導致電流需求改變的Vdd所 觸及下一閥限是較高增加閥限(在點75),在此點電能消耗增 加(部分50)。當Vdd觸及較低增加閥限(在點77)時,該電能 的增加被中斷,在該較低增加閥限,標稱Vdd響應再繼續。 請注意在該等電能消耗被中斷部分期間(如部分48和52),該 最終的波形42則被相等於中斷期間的量所偏移,因此持續 地對波形42進行相位偏移。電能消耗增加(如部分50和54) 的期間不可能導致該波形的進一步相位偏移;然而,它們 以有助於控制如波形46所示的電壓減幅振盪效應。因此, 電能中斷部分48和52及電能增加部分50和54的結合有助於 確保電流波形在延伸的週期時間不會匹配共振頻率及藉由 確保位準保持在可接受的範圍内而有助於控制Vdd的減幅 振盪效應。請注意,雖然圖7僅說明在每一部分電能/全電 能暫態期間的一中斷或增加,該等電壓閥限可以被設計以 產生任何數量的電能消耗的中斷或增加。 圖8說明電能消耗電路20的一部分之方塊圖,包括具監視 電路60、電能消耗減少控制電路64及電能消耗增加控制電 路66的電能消耗電路62。電能消耗控制電路62接收較高減 少閥限、較低減少閥限、較高增加閥限及較低增加閥限以 依所需地中斷或增加電能消耗(如參考圖5-7所述)。因此, 監視電路60内比較器68、70、72和74,每個皆接收Vdd O:\77\77830-930109doc -18- 584955 補^* Ιό號專利申請案 —中叉說明書替換頁(93年1月) 路,例如電能消耗電路20逐量地減少電能消耗。因此,更 多智慧型控制電路可使用以獲致更多控制。替代地,圖㈣ 電流控制可藉由結合部份閥限電壓位準及使用一單值來簡 化。例如,不使用一單獨的較高減少閥限及較低減少閥限, 他們可被結合成一單一減少閥限值。相似地,較高增加閥 限及較低增加閥限也可結合為一單一增加的間限值。因 此,圖8的方塊圖為一具體實施例的—簡單說明,但可以更 間化或更複雜,端视控制期《量而<。而丨,在替代具體 實施例中,所有使用在電能消耗電路2〇的間限值可以為= 用者所可程式化而非固定。這樣容許使用者有-更大程产 的彈性。 & 在先前說明中,本發明已參考特定具體實施例予以說 明。無論如何,習知本技藝者瞭解到,在不恃離如申請專 利範圍所述之本發明的範脅下可以進行不同改良和變化。 例如、:雖然本發明的具體實施例已大致參考微處理器而說 ,月〜月匕消耗控制電路可使用以控制任何積體電路的電 “求-且不限制於微處理器。而且雖然電能控制電路a如 圖8所不為直接檢測電源供應電壓,可使用其他例如藉由咸 測電源供應電流、電能、訊號延遲及訊號頻率之至少一: t決定電源供應電壓⑽)的裝置。因此,該等說明和圖或 的範圍内。而非限制’且所有該等改良皆可包含在本發明 C本發明已針對特定傳電位 習知技藝者知道這些傳導型式和電位極性可被迷’ O:\77\77830-930I09.doc -21 - 584^5*5: 年 拾、申請專利範固: L 一種用以控制一具有電能消耗 求乏女氺二、、丄^ 包路<積體電路内電流需 K万法,孩万法包含下列步驟: 檢測是否一預定過高及一 如所箱细/十 ,、疋過低的至少一個出現或 所了員々月在一電源供應電壓中· 1 ? 如果該預定過高及預定過低之— 被檢測到,控制由該電能消耗:::電源供應電壓中 該電源供給電壓將保持在—預定:所消耗之電流以確保 預定範圍内。 ^電源供應電壓位準白卜 2. 如申請專利範圍第丨項之方法, 驟: ,、中孩檢測步騾包含一步 比較該電源供應電壓與一參考雨 含下列步驟: 考^’其中該比較步驟包 比較該電源供應電壓與一第一參考電壓,·及 如果該電源供應電壓低於該第—三 預定過低已發生; 參考電壓,則檢測出該 比較該電源供應電壓與—第二參考電壓;及 如果該電源供應電壓高於該第二參^厭^, 預定過高已發生。 土,刈檢測出該 3 ·如申請專利範圍第1项之方法,貧 蚀w… 法其中Μ控制步驟並不需要 使用去李馬合電客。 1而責 4.如申請專利範圍第0之方法,其中該控制步 選擇地相位移該電能消輕電路内電流。 匕含. 5 ·如申请專利範圍弟1项之方、、夫,觉士七4、;〇· 万法其中⑽制步驟另包含:
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/858,126 US6819538B2 (en) | 2001-05-15 | 2001-05-15 | Method and apparatus for controlling current demand in an integrated circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW584955B true TW584955B (en) | 2004-04-21 |
Family
ID=25327547
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW091107456A TW584955B (en) | 2001-05-15 | 2002-04-12 | Method and apparatus for controlling current demand in an integrated circuit |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6819538B2 (zh) |
EP (1) | EP1390834A2 (zh) |
JP (1) | JP2005514800A (zh) |
KR (1) | KR20030094418A (zh) |
CN (1) | CN1509431A (zh) |
AU (1) | AU2002303263A1 (zh) |
TW (1) | TW584955B (zh) |
WO (1) | WO2002093341A2 (zh) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7035785B2 (en) * | 2001-12-28 | 2006-04-25 | Intel Corporation | Mechanism for estimating and controlling di/dt-induced power supply voltage variations |
FI115256B (fi) * | 2002-11-08 | 2005-03-31 | Nokia Corp | Suljetun järjestelmän toimintotietojen määrittäminen |
US7137081B2 (en) * | 2003-12-17 | 2006-11-14 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for performing density-biased buffer insertion in an integrated circuit design |
US7483248B1 (en) * | 2005-05-19 | 2009-01-27 | Sun Microsystems, Inc. | Method and apparatus for detecting current changes in integrated circuits |
US7607028B2 (en) * | 2006-05-30 | 2009-10-20 | International Business Machines Corporation | Mitigate power supply noise response by throttling execution units based upon voltage sensing |
US7467050B2 (en) * | 2006-05-30 | 2008-12-16 | International Business Machines Corporation | Method for detecting noise events in systems with time variable operating points |
US7532003B1 (en) * | 2006-06-12 | 2009-05-12 | Sun Microsystems, Inc. | Method and apparatus for setting VDD on a per chip basis |
US7502719B2 (en) * | 2007-01-25 | 2009-03-10 | Monolithic Power Systems, Inc. | Method and apparatus for overshoot and undershoot errors correction in analog low dropout regulators |
US7720621B2 (en) * | 2007-08-30 | 2010-05-18 | International Business Machines Corporation | Application of multiple voltage droop detection |
US7599808B2 (en) * | 2007-08-31 | 2009-10-06 | International Business Machines Corporation | Application of multiple voltage droop detection and instruction throttling instances with customized thresholds across a semiconductor chip |
US7818599B2 (en) * | 2007-10-09 | 2010-10-19 | International Business Machines Corporation | Statistical switched capacitor droop sensor for application in power distribution noise mitigation |
US8145923B2 (en) * | 2008-02-20 | 2012-03-27 | Xilinx, Inc. | Circuit for and method of minimizing power consumption in an integrated circuit device |
KR101249886B1 (ko) * | 2010-01-11 | 2013-04-03 | 서울시립대학교 산학협력단 | 주파수 보상기, 이를 이용하는 주파수 보상 방법 및 이를 포함하는 dc-dc 변환기 |
WO2012061769A2 (en) | 2010-11-04 | 2012-05-10 | Cirrus Logic, Inc. | Controlled power dissipation in a switch path in a lighting system |
WO2012061782A2 (en) | 2010-11-04 | 2012-05-10 | Cirrus Logic, Inc. | Thermal management in a lighting system using multiple, controlled power dissipation circuits |
US8539262B2 (en) * | 2010-12-09 | 2013-09-17 | Intel Corporation | Apparatus, method, and system for improved power delivery performance with a dynamic voltage pulse scheme |
US9520794B2 (en) | 2012-07-25 | 2016-12-13 | Philips Lighting Holding B.V | Acceleration of output energy provision for a load during start-up of a switching power converter |
US20150244189A1 (en) * | 2012-10-24 | 2015-08-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Balancer circuit and battery unit using same |
US9454196B2 (en) * | 2013-06-27 | 2016-09-27 | Apple Inc. | Active peak power management of a high performance embedded microprocessor cluster |
JP2019114011A (ja) | 2017-12-22 | 2019-07-11 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置及び半導体装置の制御方法 |
US11444210B2 (en) | 2018-06-21 | 2022-09-13 | Drexel University | On-chip power supply noise suppression through hyperabrupt junction varactors |
CN108983074A (zh) * | 2018-08-09 | 2018-12-11 | 珠海格力智能装备有限公司 | 电路板的检测方法和装置 |
CN108983005A (zh) * | 2018-08-09 | 2018-12-11 | 珠海格力智能装备有限公司 | 手操器的检测方法和装置 |
CN114815952B (zh) * | 2021-01-18 | 2024-03-01 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 能应用于通过动态电压改变来进行系统保护的集成电路 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0724209A1 (en) | 1995-01-25 | 1996-07-31 | International Business Machines Corporation | Power management system for integrated circuits |
US5838145A (en) | 1996-05-30 | 1998-11-17 | Poon; Franki Ngai Kit | Transient load corrector for switching converters |
US6028417A (en) | 1997-06-27 | 2000-02-22 | Sun Microsystems, Inc. | Voltage regulator circuit for attenuating inductance-induced on-chip supply variations |
US6069521A (en) | 1997-06-27 | 2000-05-30 | Sun Microsystems | Voltage regulation method for attenuating inductance-induced on-chip supply variations |
US5963023A (en) * | 1998-03-21 | 1999-10-05 | Advanced Micro Devices, Inc. | Power surge management for high performance integrated circuit |
JP2001101364A (ja) | 1999-10-01 | 2001-04-13 | Fujitsu Ltd | 非接触icカード用lsi |
-
2001
- 2001-05-15 US US09/858,126 patent/US6819538B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-04-05 CN CNA02809963XA patent/CN1509431A/zh active Pending
- 2002-04-05 WO PCT/US2002/010872 patent/WO2002093341A2/en not_active Application Discontinuation
- 2002-04-05 KR KR10-2003-7014877A patent/KR20030094418A/ko not_active Application Discontinuation
- 2002-04-05 EP EP02731280A patent/EP1390834A2/en not_active Withdrawn
- 2002-04-05 AU AU2002303263A patent/AU2002303263A1/en not_active Abandoned
- 2002-04-05 JP JP2002589951A patent/JP2005514800A/ja active Pending
- 2002-04-12 TW TW091107456A patent/TW584955B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20030094418A (ko) | 2003-12-11 |
WO2002093341A2 (en) | 2002-11-21 |
US6819538B2 (en) | 2004-11-16 |
EP1390834A2 (en) | 2004-02-25 |
JP2005514800A (ja) | 2005-05-19 |
AU2002303263A1 (en) | 2002-11-25 |
US20020171407A1 (en) | 2002-11-21 |
WO2002093341A3 (en) | 2003-10-09 |
CN1509431A (zh) | 2004-06-30 |
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