TW550535B - Signal detecting device - Google Patents

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TW550535B
TW550535B TW091100422A TW91100422A TW550535B TW 550535 B TW550535 B TW 550535B TW 091100422 A TW091100422 A TW 091100422A TW 91100422 A TW91100422 A TW 91100422A TW 550535 B TW550535 B TW 550535B
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signal detection
lines
driving circuit
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TW091100422A
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Shoichiro Matsumoto
Ryoichi Yokoyama
Original Assignee
Sanyo Electric Co
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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Description

550535 五、發明說明(1) ~ [發明所屬之技術領域] , 本發明係關於一種信號檢測裝置,尤指,關於一種檢 >測面壓力之面壓力輸入面板或二次元圖像感測器等的信號 _檢測裝置。 [習知技術] 以往作為信號檢測裝置之一例,為人所周知者有使用 薄膜電晶體或薄膜二極體等來檢測如指紋之細微面壓力分 布的有源矩陣型面壓力輸入面板。又,作為信號檢測裝置 之另一例,為人所周知者有使用受光用感測元件來讀取二 4元圖像的二次元圖像感測器。該二次元圖像感測器,已 ,示於例如日本專利特開平6 - 6 2 1 7 5號公報等中。 第9圖係顯示上述公報所揭示之以往二次元圖像感測 器之電路構成的方塊圖。參照第9圖,在該以往之二次元 圖像感測器中,各晝素係配置成矩陣狀。各畫素係由以下 ^所構成:由非晶質矽TFT所構成的晝素開關(TM1 1至 一TMnm) 1 、作為光感測器之非晶質石夕薄膜光感測器2、及蓄 積電容(Cl 1至Cnm)3。 又,畫素開關1之閘極電極,係連接在延伸於主掃描 方向(X方向)之副掃描線(Hi : i = l至η)4上。在各副掃描線 0L,施加有藉由副掃描電路5而依序使畫素開關1導通的 脈衝電壓。又,畫素開關1之汲極電極,係連接在延伸於 副掃描方向(Υ方向)之主掃描線(Vi : i = l至πι)6上。該主掃 :描線6係連接在藉由主掃描電路7而進行驅動的水平開關電 -晶體(TH i : i = 1至m ) 8上。水平開關電晶體8之汲極電極,
313317.ptd 第4頁 550535 五、發明說明(2) 〜....................一"- 係連接在共用的1攸 示主掃描線(V i 一 ^ , 條輪出線9上。另外,CV1至CVm係分別顯 二1至m) 6之電容 [發明所欲解決之問題] 然而’在第9圖所示之以往的二次元圖像感測器(信號 檢測裝置)中’當欲高精確度地進行資料檢測時,就有必 要藉由使各畫素細微化而增加晝素數。如此,當畫素數增 多時,用以驅動主掃描線6及副掃描線4之主掃描電路7及 副掃描電路5等的周邊電路亦會變大。因此,會產生周邊 電路之配置面積變大,而且使周邊電路之成品率降低的問 題。 又,扁篦9圖所示之以往的二次元圖像感測器(信號拾 測裝i)中由於輸出線(㈣讀出線)9只請,所以當檢 畫=多時,亦有取出全部資料時之讀出時間變長的問 題〇 & Y解決上述問題點而開發完成者。 本發明係為1 g的,係在於提供一種可提高資料之巧 本發明之〆g $ T寸< %出 速度的信號檢測装置° 本發明之另/目的,係在於提供一種可使周邊電路之 元件數減少的信號檢/幻裝置 〆目的,係在上述信號檢測裝置中推^ 本發明之另 進仃低 消耗電力化者。 [解決問題之手段] 出& * w # IS第1項之信號檢測裝置’其具備有.啦 申請專利鯽圓 刊巧·配 罢★ kU丨1數個信號轉送用電晶體’連接於各作狀絲 置成矩陣狀的複取 兮L蜣轉
550535 .五、發明說明(3) 送用電晶體之第一端子的信號檢測機構;連接於各信號轉 :送用電晶體之第二端子的資料線;連接於各信號轉送用電 ;晶體之控制端子的控制線;用以驅動控制線的控制線驅動 -電路;藉由開關用電晶體分別連接在預定之複數條的資料 ,線之資料讀出線;以及實質上以相同的時序來驅動對應於 上述預定之複數條資料線的開關用電晶體之開關驅動電 路。 在申請專利範圍第1項中,如上所述,藉由設置實質 上以相同的定序來驅動對應於預定之複數條資料線的開關 j電晶體之開關驅動電路,即可同時讀出預定的複數個資 料。藉此,可進行線狀的資料讀出,同時可實現資料讀出 之高速化。其結果,亦可容易對應於信號轉送用電晶體及 信號檢測機構之增加(檢測部之大型化)。又,以與以往相 同的讀出時間來讀出時,由於可減慢内部動作,所以可實 現低消耗電力化。 - 申請專利範圍第2項之信號檢測裝置,在申請專利範 圍第1項之裝置中,開關驅動電路係相對於預定之複數條 資料線設置1個。在申請專利範圍第2項中,藉由上述之構 成,即可輕易地同時讀出預定的複數個資料,同時可使周 _電路所需的元件數減少。藉此,可實現資料讀出之高速 化,並可使周邊電路之配置面積減少,同時可提高周邊電 路部之成品率。又,由於可使周邊電路所需的元件數減 少,所以可增大包含信號轉送用電晶體及信號檢測機構的 檢測區域,其結果,可進行高精細及高精確度的資料檢
313317.ptd 第6頁 550535 五、發明說明(4) 測。 申請專利範圍第3項之信號檢測裝置,在申請專利範 圍第1或2項之構成中,控制線驅動電路係在每一複數條之 控制線1個1個設置。在申請專利範圍第3項中,藉由上述 之構成,可採用相對於複數條控制線而設置1個的控制線 驅動電路、及相對於複數條資料線而設置1個的開關驅動 電路,以進行面狀的資料讀出。 申請專利範圍第4項之信號檢測裝置,在申請專利範 圍第1至3項中任一項之構成中,以利用從開關驅動電路所 輸出之脈衝的分時方式進行來自信號檢測機構的資料之讀 出。在申請專利範圍第4項中,藉由上述之構成,即使相 對於複數條資料線設置1個開關驅動電路時,亦可輕易地 進行資料之讀出。 申請專利範圍第5項之信號檢測裝置,在申請專利範 圍第3或4項之構成中,藉由同時提昇複數條控制線,以進 行面狀資料之讀出。申請專利範圍第5項中,藉由上述之 構成,能以面狀處理檢測資訊。 申請專利範圍第6項之信號檢測裝置,在申請專利範 圍第1至5項中任一項之構成中,信號轉送用電晶體及開關 用電晶體,係由多晶矽薄膜電晶體所構成。申請專利範圍 第6項中,藉由使用如此製造成本之廉價的多晶矽薄膜電 晶體,即可減低裝置之製造成本。 申請專利範圍第7項之信號檢測裝置,在申請專利範 圍第1至5項中任一項之構成中,信號轉送用電晶體及開關
313317.ptd 第7頁 550535 五、發明說明(5) _用電晶體,係由有機材料或有機材料與無機材料之混成材 :料所製成的薄膜電晶體所構成。 :申請專利範圍第8項之信號檢測裝置,在申請專利範 ,圍第1至7項中任一項之構成中,複數個信號轉送用電晶 體、信號檢測機構、閘極線驅動電路、及開關驅動電路, 係設置在同一基板上。申請專利範圍第8項中,藉由將信 號轉送用電晶體、信號檢測機構、控制線驅動電路、及開 關驅動電路形成於同一基板上,由於無需將驅動用信號取 出至外部,所以沒有必要將與外部連接用的電極設置在基 j上。藉此,由於可刪減基板之電極區域,所以隨著上述 周邊電路之元件數的減少,可更加增大(大型化)包含信號 轉送用電晶體及信號檢測機構的檢測區域。其結果,可進 行更南精細及南精確度的貢料檢測。又’由於無需籍由電 極將驅動用信號取出至外部,所以可刪減連接電極與外部 *的步驟,其結果,可縮短製程。又,可防止因連接電極與 -外部之步驟所造成之組裝成品率之降低。 申請專利範圍第9項之信號檢測裝置,在申請專利範 圍第8項之構成中,用以比較讀出資料與儲存之資料的比 較電路,亦形成於同一基板上。在申請專利範圍第9項 _,藉由上述之構成,即可在基板上進行讀出之資料、與 儲存於外部I C内之資料的一致·不一致之檢測,其結果, 可簡化與外部I C間之介面。 申請專利範圍第1 0項之信號檢測裝置,在申請專利範 圍第1至9項中任一項之構成中,複數條控制線係包含有第
313317.ptd 第8頁 550535 五、發明說明(6) 一控制線與第 線與第二資料 制線; 複數個 相連接 資料線 包含有 二資料 連接於 由同時 動電路 時讀出 及與第 複數條資料線係 信號檢測機構係 的第一信號轉送 相連接的 連接於第 線的第二 第二信 一資料 資料讀 線及第 第一資料 提昇第一控制線 ,並透過第一資 與第一控制線相 二控制線相連接 連接於第 第二控制 狀的資料 之信號檢 成中,控 有第一資 有與第一 測機構; 第一資料 ;開關驅 第10項中,藉由上述之構成,即可使 、和第一資料讀出線及第二資料讀出 控制線的第一信號檢測機 信號檢測機構之資 制線和 第二控 數條資 出線、 電路係 開關驅 且提幵 資料讀 檢測機 機構之 在 用第 線,容 構之資 料。藉 申請專 1至9項 複數條 信號檢 測機構 連接於 線的第 第一資 制線和 料讀出 及連接 包含有 動電路 第一開 出線, 構之資 資料。 申請專 開關驅 易地同 料、及 此,可 利範圍 中任一 資料線 測機構 及第二 第一資 二資料 二控 線; 料線 第二 線係 於第 共同 :藉 關驅 可同 料、 利範圍 動電路 時讀出 連接於 進行面 第11項 項之構 係包含 係包含 信號檢 料線的 讀出線 線的弟 讀出。 測裝置 制線係 料線與 控制線 複數條 讀出線 動電路 包含有 包含有 用電晶 號檢測 線的第 出線, 二資料 與第二 料讀出 連接的 的第二 第一資料 與第一控 體、及與 機構;複 一資料讀 開關驅動 線的第一 控制線, 線與苐>— 第一信號 信號檢測 ,在申請專利範圍第 包含有第一控制線; 第二資料線;複數個 相連接的第一信號檢 資料讀出線係包含有 、及連接於第二資料 係包含有共同連接於 _
313317.ptd 第9頁 550535 昇線第 提出的 由讀接 藉料連 ;資相 路一線 電第制 動過控 驅透一 關並第 開,與 一路出 第電讀 的動時 線驅同 料關可 資開, 二一線 第第出 及與讀 £線線料 明料制資 g資控二 i 一 一第 五第第與 使出 可讀 即料 ,資 成二 。構第 料之及 資述線 之上出 構由讀 機藉料 測,資 檢中一 號項第 信11和 二第、 第圍路 及範電 構利動 機專驅 測請關 檢申開 號在一 信 第 一 用 用線 送行 轉進 號可 信, 一此 第藉 的。 線料 制資 控之 一體 第晶 於電 接用 4gt} ^ il¾ 出轉 讀號 時信 同二 地第 易及 容體 - 晶 線電 配日BB : 電 有用 備送 具轉 其各 ,於 置接 裝連 測·, 檢體 號晶 信電 之用 項送 12轉 第個 圍數 。範複 出利的 讀專狀 料請陣 資申矩 的 成 狀·置 電閘 用的 送極 轉閘 各之 於體 接晶 連電 ; 用 構送 機轉 的各 力於 壓接 面連 測; 檢線 以料 用資 且的 ,極 極汲 源之 之體 體晶 電; 用線 關出 開讀 由料 藉資 •,之 路上 電線 動料 驅資 線的 極條 閘數 的複 線之 極定 閘預 動在 驅接 以連 用別 :分 線體 極晶 個 t i 置 設。 各路 中電 線動 料驅 資關項 條開12 數的第 複極圍 之閘範 之利 體專 晶請 電申 在用在 及關 以開 定 預 述 上 動 驅 以 用 述 所 上 如 中 預 於 對 相 由 藉 此 置藉 設。 線數 料件 資元 條的 數需 複所邊 之路周 定•在 率 品 成 之 路 電 路 電 個 邊 周 少 減 可 即 又 高件 提元 時的 同需 ,所 少路 減電 積邊 面周 置使 配可 使於 可由 壓度置 面確設 測精線 檢高料 以及資 用細條 及精數 體高複 晶行於 電進對 用可相 送,由 轉果藉 有結, 含其又 包 , 〇 大域測 增區檢 可測的 以檢料 所的資 ,構力 少機壓 減之面 數力之
313317.ptd 第10頁 550535 五、發明說明(8) 1個開關驅動電路,即可進行線狀之面壓力資料的讀出。 又,藉由設置複數條之資料讀出線,即可同時讀出複數個 面壓力資料。藉此,可實現資料讀出之高速化,同時可容 易對應於轉送用電晶體之增加(檢測部之大型化)。又,以 與以往相同之讀出時間來讀出時,由於可減慢内部動作, 所以可實現成低消耗電力化。 [發明之實施形態] 以下,係根據圖式說明本發明之實施形態。另外,在 以下之實施形態中,係就將本發明之信號檢測裝置適用於 有源矩陣型面壓力輸入面板時的例子加以說明。 (第一實施形態) 第1圖係顯示本發明第一實施形態之有源矩陣型面壓 力輸入面板之電路構成的方塊圖。第2圖係顯示第1圖所示 之第一實施形態之面壓力輸入面板中之Η開關驅動電路及 周以檢測面壓力的檢測部之内部構成的電路圖。第3圖係 用以說明第1圖所示第一實施形態之有源矩陣型面壓力輸 入面板之動作的時序圖。 首先,參照第1圖及第2圖,就第一實施形態之面壓力 輸入面板的電路構成加以說明。在本第一實施形態中,用 以檢測出面壓力之檢測部(以下,稱為「檢測部」)D 1 1、 D12、D13 ' D14.....D21、D2 2、D 2 3、D2 4、…係配置成 矩陣狀。然後,如第2圖所示,該檢測部D 1 1係包含有作為 檢測出面壓力之機構之一例的感壓膜9、及用以將由該感 壓膜9而檢測出之面壓力轉送至資料線DL 1的Ν通道多晶矽
313317.ptd 第11頁 550535 五、發明說明(9) ^膜電晶體(TFT)所構成的轉送用電 上連接有資料矯ητ ]才線在轉送用電晶體8之汲極 遷接有貝料線D L 1。又,感壓膜q在、去 8之源極上。 这歷膜9係連接在轉送用電晶體 :’轉!用電晶體8之源極、汲極及閘極,係分 本發月之仏號轉送用電晶體之第一端子、第二端j 制端子」之一例 ^,如第1圖所示,在資料線DL1、DL2、DL3及DL4 ^,猎由N通道多晶矽TF1V/t構成的開關用電晶體3a、3b、 •ρ及3d刀別連接有Ϊ料讀出線SIG1、SIG2、SIG3、SIG3 及SIG4。又,在開關用電晶體3a、3b、仏及%之閘極上, 共同連接有作為開關驅動電路之一例的Η開關驅動電路 1 a。又,如第2圖所示,Η開關驅動電路1 a係包含有二個移 位暫存器4及5 ' NAND電路6、以及反相器7。 又,在閘極線G L 1上,連接有由移位暫存器v /尺1所 -構成的閘極線驅動電路2a,在閘極線GL2上連接有由移位 暫存器V-S/R2所構成的閘極線驅動電路2b。以下,同樣 地’在各間極線上1個1個地連接有閘極線驅動電路。另 外’閘極線GL 1係本發明之「控制線」的一例,而閘極線 馨動電路2 a及2 b為本發明之「控制線驅動電路」的一例。 又’在Η開關驅動電路la上,輸入有外部時脈CKH1、 _ CKH2、啟動信號STH及重設信號/RESET。又,在間極線驅 -動電路2a及2b上,輸入有外部時脈CKV1、CKV2 '啟動信號 ’ STV及重設信號/RESET。
313317.ptd 第12頁 550535 五、發明說明(10) ~—' -- 如上所述,在第一實施形態之面壓力輸入脈衝中,係 於4條資料線DL 1至DL4設有1個Η開關驅動電路1 a。又,雖 未圖示,但是第5條之資料線DL5係連接在第丨條之資料讀 出線SIG1上,第6條之資料線DL6係連接在第2條之資料g 出線SIG2上,第7條之資料線DL7係連接在第3條之資料$ 出線SIG3上,第8條之資料線DL8係連接在第4條之資料$ 出線SIG4上。然後,在第5條至第8條之資料線儿5至DLf 上,共同連接有第2個開關驅動電路1 b (未圖示)。以下, 同樣地,4條資料線係依序連接在4條資料讀出線SIGi至 S I G4上,同時在4條資料線上設有1個η開關驅動電路。 其,參照弟1圖至弟3圖,就如上述構成之第一實施 形態之面壓力輸入面板的動作加以說明。 首先,重設信號/REST變成Η位準,而面板整體之重設 狀恶會被解除。其次,藉由閘極線驅動電路2 a之啟動俨號 STV變成Η位準,閘極線驅動電路2a就被活性化。藉此第> 1圖所示之閘極線G L1會上升。由於閘極線G L丨上升,配置 於檢測部D11上的轉送用電晶體8就會導通。藉此,連接於 閘極線GL1的4個檢測部Dll、D12、D13及D14之資料可分別 轉送至資料線DL1 ' DL2、DL3及DL4上。 刀 其次’藉由Η開關驅動電路1 a之啟動信號STH變成η位 準,移位暫存器4及5(參照第2圖)會藉由外部時脈以^、 CKH2而啟動。其結果,當重設信號/RESET、來自移位暫存 器4之輸出信號、及來自移位暫存器5之輸出信號之三個f 號一致為Η位準時,輸出信號“”就會變成η位準。藉此;
313317.ptd 第13頁 550535 _五、發明說明(11) 由N通道TFT所構成的開關用電晶體3a、3b、3(;及3d就被活 :性化。其結果,可分別連接資料線DL1、DL2、DL3及DL4、 >與資料讀出線SIG1、SIG2、SIG3及SIG4。藉此,檢測部 -Dll、D12、D13及D14之貧料可輸出至外部1C。 之後,未圖示之第2個Η開關驅動電路1 b會被活性化, 而來自此第2個Η開關驅動電路lb的輸出信號HSW2會變成Η 位準。藉此,可分別連接第5條至第8條之資料線DL 1 5、 D16、D17 及 D18、與資料讀出線SIG1、SIG2、SIG3 及 S I G4,而連接於閘極線GL 1之第5個至第8個之檢測部d 1 5、 g 6、D1 7及D1 8的資料可輸出至外部I C。以後,依序4個4 ^地讀出連接於閘極線GL1的檢測部D19、D20…之資料。 如以上所述,當最後的H S W η導通,而連接於閘極線 GL 1之最後的檢測部D 1 η之資料輸出至資料讀出線時,丁 1 條閘極線GL2就會上升,並重覆進行與以上說明之讀出動 ‘作相同的讀出動作。 - 在第一實施形態中,如上所述,藉由相對於4條之資 料線DL 1至DL4設置1個Η開關驅動電路1 a,即可使周邊電 路(Η開關驅動電路)所需的元件數減少。藉此,可使周邊 電路之配置面積減少,同時可提高在周邊電路之成品率。 參,由於可使周邊電路所需的元件數減少,所以可增大檢 測部,其結果,可進行高精細及高精確度的資料檢測。 又,藉由相對於複數條資料線(第一實施形態中為4條)設 置1個Η開關驅動電路1 a,即可進行線狀之資料讀出。又 又,在第一實施形態中,藉由設置4條之資料讀出線
313317.ptd 第14頁 550535 五、發明說明(12) SIG1 至 SIG4,gp γ P可同時讀出4個資料。籍此,可實現資料 可容易=應。’而且即使在檢測部之數耋增加的情況下亦 於Ϊ減慢内部^作以與以往同樣的讀出恃間來讀出時,由 又,在第一乍,所以可實現低消耗電力化。 開關驅動電路:形態中,如上所述,11由以利用從Η 測部之資料的读:輪出之脈衝的分時方式進行來自信號檢 關驅動電路U; 則即使相對於4條資料線設置⑷開 又,在第一,亦可容易地進行資料之讀出。 矽TFT構成用以禮實^施形態中,藉由以製造成本低廉之多晶 體3 a至3 d,即~τ成檢測部的轉送用電晶體8及開關用電晶 (第二實施形態)減低裝置之製造成本。 第4圖係顯示士 力輸入面板之電、/發明第二實施形態之有源矩陣型面壓 施形態係盥上述2構成的方塊圖。參照第4圖,本第二實 置1個閘極線驅勒/ 一實施形態不同’在2條間極線上設 駆勤f牧、、’動電路,同時在4條資料線上設置1個Η開關 驅動電路。以下詳細說明之。 ρΤ 9在π本第一實施形態中,如第4圖所示,在閘極線GL 1及 々上設置共用之閘極線驅動電路丨2a。又,相對於第1條 至第4條之資料線Du至DL4設有1個η開關驅動電路丨。 又’相對於第5條至第8條之資料線dl5至j)L8設有第2個Η開 關驅動電路Π b。另外,Η開關驅動電路丨丨a及1 1 b之内部構 ^ ’係與第一實施形態之H開關驅動電路丨&的内部構成(參 妝第2圖)相同。又,閘極線驅動電路丨2 &之内部構成,亦
550535 五、發明說明(13) " --- 與第一實施形態之閘極線驅動電路2 a之内部構成相同。 在此,第二實施形態係在第丨條之資料線DL丨上,連接 有與第1條閘極線GL 1相連接的檢測部D π,而在第2條之資 料線DL 2上,連接有與第2條閘極線(jl 2相連接的檢測部 D21。又,在第3條之資料線DL3上,連接有與第1條閘極線 GL 1相連接的檢測部D 1 2,而在第4條之資料線DL4上,連接 有與第2條閘極線GL 2相連接的檢測部d2 2。又,在資料線 DL1、DL2、DL3及DL4上,藉由開關用電晶體3a、3b '心及 3d,分別連接有資料讀出線81(;1、SIG2、SIG3及SIG4。 φ 又’在第5條至第8條之資料線DL5、DL6、DL7及DL8 ' ’藉由N通道多晶矽τ F T所構成的開關用電晶體3 e、3 f、 3g及3h ’分別連接有資料讀出線8161、SIG2、SIG3及 SIG4。又,在第5條之資料線])1^上,連接有與第工條閘極 線GL 1相連接的檢測部D丨3,在第6條之資料線dl 6上,連接 有與第2條閘極線GL2相連接的檢測部D23。又,在第7條之 •資料線DL7上,連接有與第1條閘極線GL1相連接的檢測部 D14 ’在第8條之資料線DL8上,連接有與第2條閘極線GL2 相連接的檢測部])2 4。 其次’就具有上述構成之第二實施形態之面壓力輸入 _板的動作加以說明。 首先’由於在閘極線GL1上升之後輸出信號HSW1會變 成H位準’因此從檢測部D1 1、D12、D21及D22,經由資料 線DL1至DL4 ’對資料讀出線SIG1至SIG4可讀出資料。此 時’由於可同時讀出來自與第1條閘極線gl丨相連接的檢測
第16頁 550535 五、發明說明(14) 部D 1 1及D 1 2之二個資料、及來自與第2條閘極線GL2相連接 的檢測部D 2 1及D 2 2之二個資料,所以可進行面狀的資料讀 出。亦即,在上述之第一實施形態中,係以線狀讀出與第 1條閘極線G L 1相連接的檢測部d 11、d 1 2、D1 3、D 1 4…之資 料’相對於此,在本第二實施形態中,係以面狀讀出來自 與2條之閘極線G L 1及G L 2相連接的檢測部之資料。因此, 本第二實施形態,在以面狀處理檢測資訊時較為有效。 又,在第二實施形態十,藉由在2條閘極線上設置1個 間極線驅動電路,同時在4條資料線上設置1個η開關驅動 電路’則與在1條閘極線上設置1個閘極線驅動電路,並且 在4條資料線上設置丨個Η開關驅動電路的第一實施形態相 比較,可使周邊電路(閘極線驅動電路)之元件數更減少。 (第三實施形態) 第5圖係顯示本發明第三實施形態之有源矩陣型面壓 力輸入面板之電路構成的方塊圖。參照第5圖,本第三實 施形態係與上述之第一及第二實施形態不同,其係在3條 閘極線上設置1個閘極線驅動電路,同時在9條資料線上設 置1個Η開關驅動電路。以下詳細說明之。 本第三實施形態,係如第5圖所示,在3條之間極線 G L G L 2及G L 3上共同連接1個閘極線驅動電路2 2 a。又, 相對於9條之資料線dl 1至DL 9設有1個Η開關驅動電路2丨a, 亚相對於9條之資料線dlio至DL18設有1個Η開關^動電路 21b、°又,在資料線DL1至DL9上,藉由Ν通道多晶石夕TFT所 構成的開關用電晶體3 a至3 i,分別連接資料讀出線$ I g 1至
550535 f T'^fn明說明(15) 。又,在資料線DL10至DL18上,藉由N通道多晶矽TFT 所構成的開關用電晶體3 j至3r,分別連接資料讀出線s丨G j 至 SIG9。 在資料線DL1上連接有與閘極線GL1相連接的檢測部 1)1 1,在資料線DL2上連接有與閘極線gL2相連接的檢測部 D21,在資料線DL3上連接有與閘極線gL3相連接的檢測部 | D31。又,在資料線DL4上連接有與閘極線GU相連接的檢 測部D12,在資料線DL5上連接有與閘極線gL2相連接的檢 測部D22,在資料線DL6上連接有與閘極線GU相連接的檢 •部D32。以下,同樣地與閑極線GU、GL2及GL3相連接的 檢測部係分別連接在所對應的資料線上。 作為本第三實施形態之資料的讀出動作,係由於閘極 線GL1—、GL2及GL3同時上升之後SHffl會變成H位準,因此可 藉由資料線DL1至DL9對資料讀出線SIG1sSIG9同時讀出檢 測 ϊ0、11、^21、D31、D12 ' D22、D32、D13、D23 及 D33 之 9 -4固資,稭此,就與第二實施形態相同,能以面狀進行資 =之X出因此’本第二實施形態係在欲以面狀處理檢測 =汛時較_為有效。又,在本第三實施形態中,由於可同時 讀^ 9個貧料,所以與同時讀出4個資料之第一及第二實施 籲態之構成相比較,可更加提高讀出速度。 又’在第三實施形態中,藉由在3條閘極線上設置1個 閘極線驅動電路,同時在9條資料線上設置1個1{開關驅動 電路,即可比第一及第二實施形態更能夠使周邊電路之元 件數減少。
313317.ptd 第18頁 550535 五、發明說明(16) (第四實施形態) 第6圖係顯示本發明第四實施形態之有源矩陣型面壓 力輪入面板之電路構成的方塊圖。又,第7圖係用以說明 第6圖所示之第四實施形態之面壓力輸入面板之動作的時 序圖。參照第6圖及第7圖,本第四實施形態係在1條閘極 線上設置1個閘極線驅動電路,同時在9條資料線上設置1 個Η開關驅動電路。以下詳細說明之。 本第四實施形態係如第6圖所示,在閘極線GL 1、GL2 及GL3上,分別連接有間極線驅動電路32a ' 32b及32c。 又,相對於資料線DL 1至DL9設有Η開關驅動電路3 1 a,而且 相對於貧料線DL10至DL18設有Η開關驅動電路31b。又,資 料線DL1至DL9係藉由N通道多晶矽TFT所構成的開關用電晶 體3 a至3 i,分別連接於資料讀出線S I G 1至S I G 9,資料線 DL 1 0至DL 1 8係藉由N通道多晶矽TF T所構成的開關用電晶體 3 j至3 r,分別連接於資料讀出線S I G 1至S I G 9。 又,在資料線DL 1上連接有與閘極線gl 1相連接的檢測 部D1 1,在資料線DL2上連接有與閘極線GL2相連接的檢測 部D 2 1,在資料線D L 3上連接有與閘極線g l 3相連接的檢測 部D31。以下,與閘極線GL1、GL2及GL3相連接的檢測部, 係依序分別連接在所對應的資料線上。 在此,作為具有上述構成之第四實施形態之面壓力 入面板的動作,係如第7圖所示,在箭號所示之期間,η ^ 關驅動電路31a、31b、···分別從HSW1動作至HSWn,以二 資料之讀出。具體而言,首先,以面狀讀出閘極線gli仃
550535 五、發明說明(17) GL2及GL3之資料。其次,以面狀讀出問極線GL2、GL3及 GL4之資料。其次,以面狀讀出閘極線GL3、GL4及GL5之資 料。如此,閘極線GL1、GL2及GL3之下一個可獲得閘極線 GL2、GL3及GL4之資料。藉由進行該種的資料讀出方法, 則與讀出GL1、GL2及GL3之資料之後,讀出間極線GL4、 GL5及GL6之資料的情況相比較,更能檢測出連續的資料。 其結果,可檢測出更平滑的圖像資料。 可進行如上述之連續資料讀出者,係由於在1條閘極 線上設置1個閘極線驅動電路之故。亦即,如第5圖所示之 實施形態,在相對於3條之閘極線GL1、GL2及GL3設置 極線驅動電路22a時,於讀出與GL1 ' GL2及GL3相連 接的資料之後,可讀出下一個3條之閘極線GL4、GL5及GL6 的資料。相對於此,在第6圖所示之第四實施形態中,由 於係相對於一條一條之閘極線G L1、G L 2、G L 3、…’分別 設置1個閘極線驅動電路32a ' 32b、32c、…,所以在讀出 閘極線GL1、GL2及GL3之資料之後,可讀出閘極線GL2、 GL3及GL4之資料。 另外,在第四實施形態中,藉由在9條資料線上設置1 個Η開關驅動電路,則與在4條資料線上設置1個Η開關驅動 0路的第一實施形態相比較,更能夠使周邊電路之元件數 減少。 (第五實施形態) 第8圖係顯示本發明第五實施形態之面壓力輸入面板 之配置關係的平面配置圖。參照第8圖,在本第五實施形
313317.ptd 第20頁 550535 五、發明說明(18) 態中,包含複 驅動電路5 2、 路5 5、及控制 外,包含複數 動電路5 2、閘 述第一 在 之資料 致的電 在 壓力檢 路53形 信號取 置在面 面板5 0 態之電 加增大 精確度 經由電 驟,其 之步驟 再 資料、 的比較 至第四 此,比 、與儲 路。 上述第 測單元 成於同 出至外 壓力輸 之電極 路構成 壓力檢 及高精 極取出 結果, 而造成 者,在 與儲存 電路55 數個檢測部的壓力檢測單元部分5 1、Η開關 閘極線驅動電路5 3、資料讀出線5 4、比較電 電路,係形成於面壓力輸入面板50上。另 個檢測部的壓力檢測單元部分5 1、Η開關驅 極線驅動電路5 3及資料讀出線5 4,係具有上 實施形態中之任一實施形態的電路構成。 較電路5 5係用以檢測由資料讀出線5 4所讀出 存在控制•演算I C6 0内之資料之一致•不一 五實施形態中,藉由將包含複數個檢測部的 部分5 1、Η開關驅動電路5 2及閘極線驅動電 一個面壓力輸入面板50上,則無需將驅動用 部,所以沒有必要將與外部連接用的電極設 入面板50上。藉此,由於可刪減面壓力輸入 區域,所以隨著在由上述第一至第四實施形 所得之周邊電路所需之元件數的減少,可更 測單元部分5 1之面積。其結果,可進行更高 細之資料檢測。又,由於無需將驅動用信號 至外部,所以可刪減連接電極與外部的步 可縮短製程。又,可防止因連接電極與外部 之組裝成品率的降低。 本第五實施形態中,藉由將用以檢測讀出之 在控制•演算I C 6 0内之資料之一致·不一致 ,組入在面壓力輸入面板50内,即可在面壓
313317.ptd 第21頁 550535 發明說明(19) 力輸入面板5 〇上進行讀出之資料、與設在外部之控制•演 异I C 6 0之輸入資料之一致•不一致的檢測。其結果,可簡 致•不 化外部之控制•演算I C 6 0與面壓力輸入面板5 0的介面 另外,此次所揭示的實施形態皆為例示而非限制者, 本發明之範圍並非上述實施形態之說明,而是依申請專利 範圍之所記載的範圍,更包含與申請專利範圍所記載的範 圍均等之意思及範圍内所作的全部變更。 例如,上述實施形態雖係以面壓力輸入面板作為信號 檢測裝置之一例加以說明,但是本發明並非限定於此,亦 f廣泛適用於一次元圖像感測器等的其他信號檢測裝置。 外,在將本發明適用於其他信號檢測裝置時,只要使用 該信號檢測裝置特有的信號檢測機構,來取代作為面壓力 輪入面板之信號檢測機構的感壓膜即可。 又,上述實施形態雖係使用N通道多晶矽TFT以作為檢 測部之轉送用電晶體4及開關用電晶體3a至3d,但是本、發 明並非限定於此,亦可藉由有機材料或有機材料與盔 料之混成材料所製成的薄膜電晶體(TFT),來構 …、、, 電晶體4及開關用電晶體3 a至3 d。此時,可考 L用 ,,可考慮使用例如(C6H5C2H4NH3)2SnIj的材料== 材料與無機材料之混成材料。 為有機 [發明之效果] 如上所述,依據本發明 序來驅動對應於預定之複數 ’藉由設置實質上 條資料線之開關用 以相同的時 電晶體的開
550535
313317.ptd 第23頁 550535 圖式簡單說明 [圖式之簡單說明] 第1圖係顯示本發明第一實施形態之有源矩陣型面壓 力輸入面板之電路構成的方塊圖。 第2圖係顯示第1圖所示第一實施形態之面壓力輸入面 板中之Η開關驅動電路及檢測部之内部構成的電路圖。 第3圖係用以說明第1圖所示第一實施形態之有源矩陣 型面壓力輸入面板之動作的時序圖。 第4圖係顯示本發明第二實施形態之有源矩陣型面壓 力輸入面板之電路構成的方塊圖。 ^ 第5圖係顯示本發明第三實施形態之有源矩陣型面壓 ,輸入面板之電路構成的方塊圖。 第6圖係顯示本發明第四實施形態之有源矩陣型面壓 力輸入面板之電路構成的方塊圖。 第7圖係用以說明本發明第四實施形態之有源矩陣型 面壓力輸入面板之動作的時序圖。 -第8圖係顯示本發明第五實施形態之有源矩陣型面壓 力輸入面板之整體構成的平面配置圖。 第9圖係顯示習知二次元圖像感測器(信號檢測裝置) 之電路構成的方塊圖。 參元件符號說明] 1 畫素開關 la Η開關驅動電路(開關驅動電路) 2 非晶質矽薄膜光感測器 2 a、2 b 閘極線驅動電路(控制線驅動電路)
313317.ptd 第24頁 550535 圖式簡單說明 c、3d開關用 移位暫存器 3 蓄積電容 3a、3b, 4 副掃描線(第9圖)4、5 5 副掃描電路(第9圖) NAND電路 6 主掃描線(第9圖)6 7 主掃描電路(第9圖) 7 反相器 8 水平開關電晶體(第9圖) 8 轉送用電晶體(信號轉送用電晶體) 9 輸出線(第9圖) 9 感壓膜(信號檢測機構) 1 1 a、1 1 b Η開關驅動電路(開關驅動電路) 1 1 b、3 1 b Η開關驅動電路 1 2 a、2 2 a、3 2 a、3 2 b 閘極線驅動電路(控制線驅動電路) 2 1 a、2 1 b Η開關驅動電路(開關驅動電路) 3 1 a、3 1 b Η開關驅動電路(開關驅動電路) 3 2 a、3 2 b、3 2 c 閘極線驅動電路(控制線驅動電路) 50 面壓力輸入面板 51 壓力檢測單元部分 5 2 Η開關驅動電路(開關驅動電路) 53 閘極線驅動電路(控制線驅動電路) 54 資料讀出線 55 比較電路 CKH1、CKH2 外部時脈 D1 1至D 3 6檢測面壓力之檢測部(檢測部) DL1 、 DL2 、 DL3 、 DL4 資料線 GL1、GL2、GL3 閘極線(控制線)
313317.ptd 第25頁 550535 圖式簡單說明 HSW1 輸出信號
IliHl 313317.ptd 第26頁

Claims (1)

  1. …案號91100422_年G月2曰_ifi_ 六、申請專利範圍 1 . 一種信號檢測裝置,其具備有: 配置成矩陣狀的複數個信號轉送用電晶體; 連接於上述各信號轉送用電晶體之第一端子的信 號檢測機構; 連接於上述各信號轉送用電晶體之第二端子的資 料線, 連接於上述各信號轉送用電晶體之控制端子的控 制線; 用以驅動上述控制線的控制線驅動電路; 資料讀出線,藉由開關用電晶體分別連接在預定 之複數條的上述資料線上;以及 開關驅動電路,實質上以相同的時序來驅動對應 於上述預定之複數條資料線的上述開關用電晶體。 2. 如申請專利範圍第1項之信號檢測裝置,其中,上述開 關驅動電路係相對於上述預定之複數條資料線設置1 個。 3. 如申請專利範圍第1項之信號檢測裝置,其中,上述控 制線驅動電路係相對於複數條控制線設置1個。 4. 如申請專利範圍第1項之信號檢測装置,其中,以利用 從上述開關驅動電路所輸出之脈衝的分時方式進行來 自上述信號檢測機構的資料之讀出。 5. 如申請專利範圍第3項之信號檢測裝置,其中,藉由同 時提昇上述複數條控制線,以進行面狀資料之讀出。 6. 如申請專利範圍第1項之信號檢測裝置,其中,上述信
    313317. ptc 第1頁 2003.05.29.026 55Q 535» , _ 案號 91100422_Μ年(;月 2 曰_iMz_ 六、申請專利範圍 號轉送用電晶體及上述開關用電晶體,係由多晶矽薄 膜電晶體所構成。 7. 如申請專利範圍第1項之信號檢測裝置,其中,上述信 號轉送用電晶體及上述開關用電晶體,係由有機材料 或有機材料與無機材料之混成材料所製成的溥膜電晶 體所構成。 8. 如申請專利範圍第1項之信號檢測裝置,其中,上述複 數個信號轉送用電晶體、上述信號檢測機構、上述控 制線驅動電路、及上述開關驅動電路係設置在同一基 板上。 9. 如申請專利範圍第8項之信號檢測裝置,其中,用以比 較讀出資料與儲存之資料的比較電路,亦形成於上述 同一基板上。 1 0 .如申請專利範圍第1至9項中任一項之信號檢測裝置, 其中, 上述複數條控制線,係包含有第一控制線與第二 控制線; 上述複數條資料線,係包含有第一資料線與第二 資料線, 上述複數個信號檢測機構,係包含有與上述第一 控制線和上述第一資料線相連接的第一信號檢測機 構、及與上述第二控制線和上述第二資料線相連接的 第二信號檢測機構; 上述複數條資料讀出線,係包含有連接於上述第
    313317. ptc 第2頁 2003.05.29.027 55ϋ52%^ _-案號 91100422_年 ί 月 2 曰__ 六、申請專利範圍 一資料線的第一資料讀出線、及連接於上述第二資料 線的弟二貢料言買出線, 上述開關驅動電路,係包含有共同連接於上述第 一資料線及上述第二資料線的第一開關驅動電路; 藉由同時提昇上述第一控制線與上述第二控制 線,且提昇上述第一開關驅動電路,並透過上述第一 資料讀出線與上述第二資料讀出線,可同時讀出與上 述第一控制線相連接的第一信號檢測機構之資料、及 與上述第二控制線相連接的第二信號檢測機構之資 料。 1 1.如申請專利範圍第1至9項中任一項之信號檢測裝置, 其中, 上述控制線,係包含有第一控制線; 上述複數條資料線,係包含有第一資料線與第二 資料線; 上述複數個信號檢測機構,係包含有與上述第一 控制線相連接的第一信號檢測機構及第二信號檢測機 構; 上述複數條資料讀出線,係包含有連接於上述第 一資料線的第一資料讀出線、及連接於上述第二資料 線的第二資料讀出線; 上述開關驅動電路,係包含有共同連接於上述第 一資料線及上述第二資料線的第一開關驅動電路; 藉由同時提昇上述第一控制線與上述第一開關驅
    313317. ptc 第3頁 2003. 05.29. 028 55Q535 _:_ 案號 91100422_V 年 6 月 1 曰__ 六、申請專利範圍 動電路,並透過上述第一資料讀出線與上述第二資料 讀出線,可同時讀出與上述第一控制線相連接的第一 信號檢測機構及第二信號檢測機構之資料。 1 2 . —種信號檢測裝置,其具備有: 配置成矩陣狀的複數個信號轉送用電晶體; 連接於上述各轉送用電晶體之源極,並且用以檢 測面壓力的機構; 連接於上述各轉送用電晶體之汲極的資料線; 連接於上述各轉送用電晶體之閘極的閘極線; 用以驅動上述閘極線的閘極線驅動電路; 資料讀出線,藉由開關用電晶體分別連接在預定 之複數條上述資料線上;以及 開關驅動電路,相對於上述預定之複數條資料線 設置1個,且用以驅動上述開關用電晶體之閘極。
    313317. ptc 第4頁 2003.05.29.029
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