TW527770B - Method of manufacturing a piezoelectric filter with an acoustic resonator situated on an acoustic reflector layer formed by a carrier substrate - Google Patents
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Description
527770 修正 五、發明說明(1) 本發明關於一方、本 諧振器,含一壓電材=製造一壓電濾波器,其具有聲音 位於在載體基體f g亚備有一電極於二側,該諧振器 此種磨電濟上形成之聲音反射層上。 之大聲波;ί 1^稱,為"薄膜聲波譜振器”或1_固態安裝 電話之裝備中之雷;;々特別適用於個人無線通信,如GSM 之渡波器,具有U f —應用時’最好使用小尺寸 MHz與5 GHz之間。、口數值9超過1 0 0 0,及頻率範圍在500 薄層,其厚;;;:=匕紹ΑΙΝ層或氧化鋅Ζη0。此等層為 料中傳播。諧步ί)波長之一 f,該頻率之聲波即在該材 低聲音阻抗之心::其j層通常由交互高或 古 ' 立π > 数摩、、且成。該專層包含具有約100 Gg/m2s夕 问茸日阻抗之鎢,如氧化矽或綜合樹脂, 阻抗約i"g/m2s及約2 Gg/m2s。此等層之厚^等; ^率>,£電層及反射器之厚度在卜3 範圍。一鎢声 構成遣振器之一電極,及聲音反射器之一層。 美f利5,、8 73, 1 5 4曾揭示一首段所提之方法,首先聲 反射器形成於一載體基體如玻璃,矽或砷化鎵之一面上 幻一「聲η音諸,器在此反射器上形⑨。上述渡波器諧振 頌率為1 GHz。在一例中,一反射器,自載體基體看,包 括約1 · 5 // m厚之氧化矽層或約1 · 3 // m厚之鎢層,在豆他 例中’反射器含約〇 · 5 β Π1厚之聚合體如聚亞硫胺,及約 1 . 3 // m厚之鎢層。在二例中,聲音諧振器包含約丨 之氧化鋅層。 子 527770 案號 90108312 尸/年尸月衫曰 修正 五、發明說明(2) 已知方法 不能自由及 相當低之溫 基體表面上 層係殿積在 °C。事實上 度3 5 0 °C時 成之實際溫 較為理想。 同時,必需 得氮化鋁之 4 0 0 及 8 0 0 〇C 本發明之 器層之材料 為達此目 在輔助基體 ,聲音反射 結構與載體 ,輔助基體 是備成。 之缺點在於,諧振器層及聲音反射器層之材料 獨立選擇。在已知方法中,壓電材料層必須在 度下形成。在層之形成期中,必須不使在載體 之原有層受到損害。在第二例中,其壓電材料 聚亞硫胺層上,載體基體之溫度不能超過3 5 0 ,吾人發現具有上述厚度之嫣層,在加熱至溫 可能自載體基體局部脫落。意即,壓電層形 度被限制在約3 0 0 °C。但以較高溫度澱積此層 在澱積壓電材料之晶體層,而晶體之方向為相 將載體基體加熱至3 0 0 °C以上才能澱積。為獲 晶體層,最理想將載體基體在澱積時,加熱至 之間。 目的為提供一方法,其可使諧振器及聲音反射 自由及獨立選擇。 的,本發明之方法之特徵為,壓電材料層提供 之表面上,之後第一電極在壓電材料層上形成 層提供在第一電極之上並與其相鄰,如此形成 基體上輔助基體面對而遠離之一側固定,之後 被移除,及位於與第一電極對面之第二電極於 溫而在壓電 澱積之後, 成此等層時 音反射器層 一習慣性輔助基體如玻璃或矽化物,可加熱至上述之高 材料層澱積時,不致有任何問題。壓電材料層 一電極及聲音反射器層在此層上形成。實施形 ,不會造成壓電材料層之損害。一般電極及聲 之慣用層,可在不超過3 5 0 °C之辅助基體溫度
O:\70\70433-910923.ptc 第6頁 527770 _案號90108312_f/年^月4曰 修正_ 1 五、發明說明(3) - 下澱積。 較佳為,以條形矽化物之輔助基體型式開始,其在其表 ’ 面備有氧化矽層,之後,壓電材料層澱積在此氧化矽層上 ,第一電極在壓電材料層上形成,一聲音反射器層備於第 · 一電極之上及相鄰處,所形成之結構與面對輔助基體而遠 離之一側,與載體基體固定,之後,輔助基體被移除,曝 露之氧化矽層在第二電極形成之位置上被移除,之後,第 二電極已備妥。由於氧化矽層之存在,晶體壓電材料之適 當方向層可以形成,而輔助基體可被移除,因為,氧化矽 層可用作為#刻程序自動停止之一層。在含氫氧化鉀之# 刻池中,矽化物對氧化矽而言可被選擇性蝕刻。 _ 在移除辅助基體後,第二電極可備於曝露之壓電材料層_ 上。當第二電極在外部接觸時,第一電極即不易接觸;因 此需要經壓電材料層形成一視窗。較佳為,第二電極以二 相鄰子電極方式形成,均位於第一電極之對面,俾具有二 串聯諧振器之壓電濾波器可在二子電極間形成。結果,濾 波器可易於在外部接觸二子電極。第一電極未連接。 如輔助基體以構成聲音反射器層之一部份之黏著層方式 固定在載體基體,一簡單結構可以獲得,特別是,如聲諧 振器之子電極亦構成聲音反射器層之一部份。實際上,此 舉可行,因為黏著層之聲阻甚低,而電極材料之聲阻甚高 。子電極之厚度必須加以選擇,以期根據濾波器之理想諧0 振頻率,黏著層可厚些,因其聲阻甚低。 本發明之此等特性將可自以下實施例之說明而更為明顯
O:\70\70433-910923.ptc 第7頁 527770 _案號90108312_9Y年f月4曰 修正_ . 五、發明說明(4) . 圖中: 圖1 - 6為根據本發明方法製造之聲音濾波器第一例之製 · 造中各級之剖面圖; _ 圖7 - 1 0為根據本發明方法製造之聲音濾波器之第二例之 . 製造中各級之剖面圖; 圖1 1及1 2為將以上各製造舉例簡化之數特殊解決方案之 剖面圖。 各圖式為略圖,並非合乎比例,對應零件均以同一號碼 表之。 圖1 - 6為製造聲音濾波器之第一例之製造中,數級之剖 面圖,濾波器含,如圖6所示,諧振器1、2、3,係由壓電 _ 材料層1組成,該層係備於電極2及3之一側,諧振器1、2 * 、3位於聲音反射器層4上,此例中係以黏著層5固定於載 體基體7之表面6上。 此種壓電濾波器亦稱為π薄膜聲波諧振器”或π固態安裝 大型聲波諧振器π 。此一壓電滤波器可適於用在個人通信 裝備之電子電路,如G S Μ電話。此一應用中,最理想是使 用較小之濾波器,具有品質因數Q超過1 0 0 0,諧振頻率在 5 0 0 MHz 及 5 GHz 之間。 在第一例之聲音濾波器之製造中,壓電材料層1係備於 輔助基體9之表面8之上,此例中,係一具有約5 0 0 // m厚 度之玻璃板。在壓電材料層1之澱積期間,辅助基體可加 b 溫至8 0 0 °C以上,可有澱積溫度之較大選擇。澱積具有相 同方向之晶態層時,其晶態層之澱積溫度宜在4 0 0 - 8 0 0 °C 之間。此例中,一氮化I呂層(A I N )殿積為1 · 3 // m之厚度,
O:\70\70433-910923.ptc 第8頁 527770 _案號90108312 年f月乃日 修正_ , 五、發明說明(5) - 輔助基體加溫至6 5 0 °C。 壓電材料層1澱積之後,第一電極2,此例中為2 0 0 n m厚 ’ 之鋁層,在此層上形成,聲音反射器層4備於第一電極上 ~ 並與其相鄰。此例中,聲音反射器層4係由鎢及氧化石夕層 - 組成;首先,澱積氧化矽層,其次依序,一鎢層,一氧化 矽層,一鎢層及一氧化矽層。此等層之厚度均為1 /zm。 已形成之結構,如圖3所示,有一側面對而遠離輔助基 體至載體基體7區,此例中使用聚亞硫胺黏劑。接著順序 以二步驟將輔助基體9移除。第一步驟中,利用化學機械 拋光處理以除去600 //m厚度之400 #m,及在第二步驟中 ,其餘部份以蝕刻移除至壓電材料層1。 _ 最後,在曝露之壓電材料層1上,第二電極3形成並與第_ 一電極2相對,該第二電極在此例中以2 0 0 n m厚度之鋁層 形成。 圖7至圖1 0為聲音濾波器第二例製造級中之剖面圖,如 圖1 0所示包含諧振器1、2、3,其位於聲音反射器層4上, 係由黏著層5黏接在載體基體7之表面6上。 在第二例中,在壓電材料層1澱積之前,以條形矽化物 1 0方式之輔助基層形成開始,該矽化物1 0備於具有氧化矽 層12之表面11上。該壓電材料層1沈積於這氧化石夕層12上 。按順序根據第一例,第一電極2在壓電材料層1上形成, 聲音反射器層4已備妥,合成結構以黏劑層5黏接在載體基鲁 體7之表面6上。 以下步驟中,矽化物自條形移除,結果,氧化矽層被曝 露。此例中,矽化物以二步驟移除,第一步驟,利用化學
O:\70\70433-910923.ptc 第9頁 527770 _案號90108312_f/年f月4曰 修正_ · 五、發明說明(6) · 機械拋光處理移除條形全部厚度之4 0 0 # m,之後,最後 在含氫氧化_之餘刻池中,^夕氧化物層被曝露。碎化物層 在此步驟中,作為钱刻停止層。在含氫氧化舒之餘刻池中 ,石夕化物對氧化石夕而言,可被選擇性钱刻。氧化石夕層1 2有 -一額外優點,即晶態壓電材料適當方向層可在此材料中形 成。 在移除輔助基體10之後,已曝露之氧化矽層,在第二電 極3之置移除;一視窗1 3在氧化矽層1 2中形成。接著,第 二電極3備於視窗13中。 第二電極3可在所述之例中迅速備妥。第二電極3可與外 部接觸。第一電極2較不易接觸;此需要經壓電材料層形 _ 成一視窗。較佳為,第二電極3如圖1 1所示以二相鄰子電 極1 4及1 5形成。該子電極均位於與第一電極2相對處,俾 具有二串聯諧振器之壓電濾波器可位於二子電極1 4及1 5之 間。結果,濾波器目前可在外部與二子電極1 4及1 5接觸。 第一電極2未連接。第二電極3之區分如第二例中所示;非 常明顯,相似結構亦可優異的應用在第一例中。 如輔助基體1 0以黏劑層方式固定在載體基體7上,一簡 單結構可以獲得,該黏劑層構成聲音反射器層4之一部份 ,如聲音諧振器1、2、3之第一電極2亦構成聲音反射器層 4之一部份更佳。實際上此舉頗為可能,音為黏劑之聲阻 甚低,而電極材料則有較高之聲阻。子電極之厚度必須選ill 擇,以對應濾波器理想諧振頻率;黏劑層可較厚,因其 極低聲阻抗之故。
O:\70\70433-910923.ptc 第10頁 527770 案號90108312 年7月^今日 修正
O:\70\70433-910923.ptc 第11頁
Claims (1)
- 527770 _案號90108312_f/年f月〆曰 修正_' 六、申請專利範圍 1 . 一種用以製造具有諧振器之壓電濾波器之方法,包含 一壓電材料層,備有在任一側之一電極,該譜振器位於在 載體基體表面上形成之聲音反射器層上,其特徵為,該壓 電材料層係備於輔助基體之表面上,之後,第一電極在壓 電材料上形成,聲音反射器層備於第一電極上並與其相 鄰,如此形成之結構以其側面固定在載體基體上,並側面 面對而遠離輔助基體,之後,輔助基體被移除,位於第一 電極對面之第二電極於是備妥。 2 ·如申請專利範圍第1項之方法,其特徵為以矽化物條 形之輔助基體開始,其備於氧化矽層之表面,之後,一壓 電材料層澱積在氧化矽層上,第一電極在壓電材料層上形 成,聲音反射器層備於第一電極上並與其相鄰,如此形成 之結構固定在載體基體上,其一側面對而遠離輔助基體, 之後,輔助基體被移除,曝露之氧化矽層在第二電極形成 之處被移除,之後,第二電極於是備妥。 3 ·如申請專利範圍第1或2項之方法,其特徵為第二電極 以二相鄰子電極形式構成,該二子電極均位於第一電極之 對面,俾具有二串聯諧振器之壓電濾波器在二子電極間構 成。 4.如申請專利範圍第1或2項之方法,其特徵為輔助基體 係以一黏接層固定在載體基體上,該黏接層構成聲音反射 器層之一部份。 5 .如申請專利範圍第1或2項之方法,其特徵為在壓電材 料層上形成之第一電極,構成聲音反射器層之一部份。O:\70\70433-910923.ptc 第12頁
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