TW471002B - Micro-mechanical components with closed membrane-openings - Google Patents
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Description
471002 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(/ ) 本發明僳關於一種微機槭元件之製造方法,特別是一 、種微機械鉞測器,本發明亦涉及一種撤機槭元件,其包 括:一個晶圓;一個位於晶圓上方之空腔,該薄膜位於 空腔之上方;至少一層犧牲層,其偽作為薄膜用之支承 面和至少一個位於空腔區域内之薄膜開口,該開口以 一密封蓋來封閉,且本發明亦涉及此元件在感測器中之 應用,例如應用在麥克風中之壓力感測器中或加速度感 Μ器中。 從歐洲專利Ε Ρ - A 0 7 8 3 1 0 8中已知一種作壓力測量用 之在薄膜層中具有開口的微機械感測器。這種壓力感測 器具有一空腔,此種壓力感測器之空腔上方基本上是藉 由一由導電層而形成之薄膜所限制。薄膜層例如可由摻 雜之多晶矽或金屬所構成,此薄膜層通常和一設置在空 腔下側上的及電極一起構成一電容,該電容可用來測量 空腔容積隨時間之變化情形。及電極例如可藉由一摻雜 之區域而形成在基底的晶圓中。使壓阻元件安裝於薄膜 材料中亦是可能的,此種壓阻元件可記錄薄膜面之移動。 習知的微機械感測器基本上由此種通常在半導體製造 時被使用之材料所構成。因此,感測器通常可和積體電 子控制器或電子計算器一種配置在感測器晶片上。 依據歐洲專利E P A 0 7 8 3 1 0 8,為了製造微機槭感測 器首先須在一適當的晶圔材料上沈積一種犧牲層。然後 使用一種遮罩而以薄膜材料來進行一種塗層。由於此遮 罩而可在薄膜面中形成一些開口,在隨後之步驟中經由 ----------裝-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -訂 -線- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2!0'〆297公釐) 471002 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明 ( ) 1 1 這 些 開 □ 而 以 選 擇 性 地 對 基 板 材 料 和 薄 膜 材 料 之 方 式 來 1 1 對 此 空 腔 進 行 蝕 刻 0 相 對 於 經 由 横 向 之 通 道 來 對 空 腔 進 1 I 行 蝕 刻 而 古 > 則 此 種 由 上 側 來 進 行 之 蝕 刻 方 法 由 於 蝕 刻 請 I 時 間 較 少 而 較 有 利 0 在 空 腔 製 成 之 後 必 須 再 將 薄 膜 中 之 先 閱 1 開 口 封 閉 0 於 是 沈 積 一 層 由 硼 磷 矽 酸 鹽 玻 璃 (BPSG)所 構 背 面 1 | 之 1 成 之 層 9 須 選 取 該 層 的 厚 度 t 使 薄 膜 開 Π 上 方 在 沈 積 之 注 意 1 I 後 至 多 只 保 留 一 狹 窄 的 裂 縫 〇 在 上 逑 過 程 之 後 % 緊 接 著 事 項 1 I 再 1 在 溫 度 大 約 為 1 0 0 0 °c 時 進 行 一 種 溫 度 處 理 過 程 其 中 上 楼 化 本 逑 之 BPSG 層 會 融 而 使 各 孔 被 封 閉 0 在 薄 膜 之 上 側 和 下 頁 1 1 側 保 留 一 種 由 此 種 密 封 材 料 所 構 成 之 皮 懦 形 式 之 層 0 經 1 1 由 上 逑 過 程 會 産 生 一 種 由 二 種 不 同 材 料 所 構 成 之 膜 連 結 1 | 〇 由 於 不 同 的 薄 膜 材 料 所 具 有 之 不 同 之 材 料 特 性 f 因 此 I 訂 會 産 生 機 槭 性 負 載 且 會 使 撤 機 槭 感 测 器 有 不 可 再 生 之 特 性 〇 其 他 缺 點 為 封 閉 薄 膜 開 Π 所 用 之 氧 化 物 材 料 對 外 部 1 | 璟 境 影 響 之 敏 感 度 > 外 部 環 境 例 如 可 為 空 m 濕 度 〇 1 I 本 發 明 之 的 為 藉 由 薄 膜 面 中 一 些 封 閉 之 開 P 來 克 服 1 1 習 知 撤 機 槭 元 件 (特別是撤機槭威測器) 之 缺 點 〇 本 發 明 I 之 另 一 目 的 為 提 供 一 種 對 外 部 環 境 影 響 具 有 較 佳 穩 定 性 1 1 1 之 微 機 槭 元 件 i 特 別 是 一 種 撤 機 槭 感 測 器 〇 1 1 本 發 明 之 這 些 巨 的 依 申 請 專 利 範 圍 第 1 項 之 微 機 械 元 1 I 件 之 製 造 方 法 即 可 達 成 〇 1 1 1 當 第 一 薄 膜 層 上 側 上 之 材 料 去 除 時 > 較 佳 是 將 此 種 製 1 1 造 上 逑 封 閉 蓋 時 所 需 之 材 料 去 除 〇 1 開 Π 的 裸 露 較 佳 是 藉 由 4 些 區 域 在 薄 膜 製 造 時 去 除 趣 1 1 1 1 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 471002 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(々) 罩而達成。 因此開口的形狀為任意的且侬據所使用之微機械$ # 來調整這些區域,例如可為圓形,多角形或條g 些區域亦可具有一種環形封閉條形區之形式。 犧牲層材料之去除較佳是以一種習知之蝕刻方 行,該方法是選擇性地對薄膜和晶圓來進行。 沈積第二薄膜層於第一薄膜層上以便保護此種B封閉 的第一薄膜層來對抗外界之影響。特別是設置在第^薄 膜層中之封閉蓋可藉由第二薄膜層而針對外部影繼來受 到保護。 本發明之有利的實施形式如申請專利範圔各附層項所 逑〇 此外,本發明之目的亦可藉由申請專利範圍第4項之 微機槭元件,特別是撤機槭感測器,而達成。 依本發明之較佳實施例,封閉蓋依據一種方法而被封 閉,該方法包括:步驟a )施加一種氧化物材料於第一薄 膜層上,和b)增高溫度,以使所沈積的氧化物材料溶化 而將開口封閉。依據封閉開口所使用之材料,則在進行 溫度處理時會由於表面效應而使此種與所沈積之材料本目 接觸之表面被沾濕。此種沾濕可導致氣化物材料所形成 之膜。 依本發明,在第一薄膜層上不會有這種氧化膜形成。 此外,本發明亦涉及上逑撤機械元件作為感测器時之 應用,特別是用作壓力感測器,麥克風和加速度感測器。 I---------^—— (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 -線· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210x297公釐) 471002 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明 ( 4 ) 1 1 封 閉 之 薄 膜 之 製 造 依 歐 洲 專 利 EP -A 783 108較 佳 是 藉 由 1 1 I 一 種 摻 雜 之 玻 璃 所 製 成 之 覆 蓋 層 之 沈 積 而 達 成 或 藉 由 適 1 當 材 料 之 蒸 發 或 蒸 鍍 而 達 成 〇 製 造 封 閉 之 薄 膜 所 用 之 層 請 I 先 之 蒸 發 或 蒸 鑛 方 法 已 在 德 國 專 利 DE -A 4 3 32 8 4 3中 提 及。 聞 讀 1 依 本 發 明 之 微 機 槭 元 件 也 可 具 有 一 種 已 結 構 化 於 薄 膜 背 1 | 之 1 中 之 移 動 式 配 置 9 在 加 速 度 時 該 配 置 作 為 信 號 接 收 之 用。 注 意 1 1 相 關 結 構 在 習 知 技 藝 中 已 為 人 所 知 0 事 項 再 1 1 在 本 發 明 之 另 一 較 佳 之 實 施 例 中 > 第 二 薄 膜 層 較 第 一 寫 本 1 ¥- 薄 膜 層 薄 很 多 0 第 二 薄 膜 層 之 厚 度 特 別 為 從 約 3 奈 米 至 頁 1 | 約 1 微 米 的 範 圍 中 0 1 1 本 發 明 之 方 法 和 本 發 明 之 撤 機 槭 元 件 之 結 構 以 下 將 以 | 第 1 和 第 2 圖 中 所 示 之 實 施 例 而 作 更 詳 細 的 閫 釋 〇 ] 訂 圖 式 簡 單 說 明 如 下 : 第 1 圖 顯 示 感 測 器 用 之 半 製 成 的 微 擁 微 槭 元 件 > 其 在 1 I 第 一 薄 膜 層 5 中 具 有 未 封 閉 之 開 口 4〇 1 1 第 2 圖 顯 示 本 發 明 感 測 器 用 的 微 機 槭 元 件 其 具 有 一 1 1 種 封 閉 之 薄 膜 結 構 〇 \ I 第 1 圖 中 所 顯 示 之 半 兀 成 之 微 機 械 tUo 測 器 可 依 歐 洲 專 1 1 I 利 EP 匕A L 0 7 8 3 丨108之 方 法 來 製 造 I 或 依 微 機 槭 感 測 器 製 1 1 造 時 所 用 之 其 它 在 先 刖 技 m 中 已 為 人 知 之 般 方 法 來 製 1 I 造 5 其 中 該 感 測 器 具 有 些 設 置 在 薄 膜 面 中 之 開 口 4〇 1 1 首 先 在 晶 圓 1 上 沈 積 種 特 別 是 由 矽 氣 化 物 所 構 成 之 1 犧 牲 層 〇 接 箸 以 多 晶 砂 來 對 此 犧 牲 層 進 行 塗 層 > 其 中 在 1 1 開 P 4 的 區 域 内 施 加 - 種 6 蝕 刻 iric Μ 罩 0 於 是 在 薄 膜 中 形 成 1 1 1 1 1 1 準 標 家 國 國 中 用 適 度 尺 張 紙 公 7 9 2 471002 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明 ( r ) 1 i 所 諝 裸 露 之 蝕 刻 孔 〇 第 — 薄 膜 層 5 之 厚 度 為 1 微 米 〇 第 I 1 一 薄 膜 層 另 方 式 是 也 可 由 tit» 早 晶 矽 構 成 0 藉 由 等 向 性 之 1 蝕 刻 程 序 此 時 對 犧 牲 層 2 進 行 蝕 刻 直 至 晶 圓 1 為 止 使 請 ! 先 1 得 在 第 一 薄 膜 層 下 方 産 生 — 空 腔 3〇 閲. 讀 1 V 此 外 此 時 以 一 般 的 方 法 沈 積 一 種 BPSG 層 於 第 薄 膜 背 面 1 I 之 1 面 上 〇 除 了 BPSG 之 外 , 也 可 使 用 其 他 各 種 適 當 的 材 料 $ 注 意 I I 然 而 較 佳 是 使 用 氣 化 物 材 料 ί 特 別 是 摻 雜 之 玻 璃 、 二 氧 事 項 再 1 1 化 矽 或 以 硼 及 / 或 以 磷 來 摻 雜 之 玻 璃 〇 接 著 大 約 在 80 0 寫 本 1 裝 到 1 1 0 0 °c 時 進 行 種 熱 熔 化 過 程 該 熱 熔 化 過 程 可 使 —» 頁 V_^ 1 I 層 膜 形 成 在 第 一 薄 膜 層 5 上 〇 在 此 種 熔 化 過 程 之 後 以 1 1 由 BPSG 所 構 成 之 封 閉 蓋 7 來 封 閉 此 開 P 4 0 然 而 f 開 □ 1 1 在 無 上 述 熔 化 m 程 的 情 況 下 已 被 充 分 的 封 閉 亦 是 有 可 能 1 訂 的 y 例 如 在 開 口 很 小 時 或 此 層 有 足 夠 之 厚 度 時 即 有 此 可 1 能 〇 須 選 取 開 P 4 的 大 小 使 開 Ρ 的 封 閉 是 藉 由 BPSG 材 料 1 1 來 達 成 0 若 進 行 一 種 熔 化 過 程 , 則 開 η 的 最 大 尺 寸 基 本 1 1 上 是 在 所 使 用 之 熔 化 溫 度 中 及 第 一 薄 膜 面 之 厚 度 時 依 據 1 1 塗 靥 材 料 之 表 面 張 力 來 修 正 0 由 於 表 面 效 應 > 則 會 在 第 線 1 一 薄 膜 面 上 形 成 一 種 由 封 閉 材 料 所 構 成 之 膜 且 此 膜 之 厚 1 I 度 較 佳 為 白 大 約 0 . 1微米至大約1 .撤米的範圍中。 ,如第 1 1 2 圖 所 示 > 現 在 進 行 一 種 回 蝕 刻 過 程 > 其 中 以 封 閉 材 料 1 1 製 成 之 存 在 於 第 薄 膜 層 上 的 膜 將 彼 兀 全 去 掉 9 於 是 産 1 1 生 平 面 狀 的 第 一 薄 膜 層 5 c ,封閉材料只殘存在開口 4 [中 1 1 0 此 種 回 (t )a c ik) 蝕 刻 過 程 可 以 濕 化 學 方 式 或 乾 燥 方 式 進 1 | 行 5 其 中 蝕 刻 時 間 依 據 封 閉 時 7 所 沈 積 之 膜 的 厚 度 來 調 整。 1 1 1 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
Claims (1)
- 471002 扣年γ月w曰條正/承 / A7 B7 祁年if月?f; 修正 呤广_ 双面影印 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(& ) ' 如果蝕刻時間選擇太長,就不會形成平面狀的第一薄 膜層。反之,如果上述過程之蝕刻期間選擇太短,則封 閉時所使用的材料之不期望的殘餘物會殘留在薄膜上。 在回蝕刻之後使第二薄膜層6沈積於第一薄膜層上。須 較佳的選擇第二薄膜靥所用之材料使該薄膜層之機槭特 性和第一薄膜層之機械特性盡可能一致。第二薄膜層之 材料以多晶矽恃別好。然而第二薄膜層以一種金屬來構 成亦是可考慮的。 本發明之微機槭元件對外部影纆(例如,空氣濕度)所 具有之特性是中性的,g卩,其特性,例如感測器恃性和 感測器特性曲線,在較長使用期間之後實際上不會改變。 本潑明之微機械元件之另一優點是:由第一和第二薄 膜面所構成的微膜結構-之表面可以平面方式構成。這特 別在安裝此微機械元件於感測器外殼中時是有利的。 本發明之方法可有利的自由選擇第二薄膜層。在和第 一薄膜層連結之狀態下因而可適當地調整些薄膜結構之 材料特性。 符號之說明 1 ......晶圓 2 ......犧牲層 3 ----…空腔 4 ......開口 5 ......第‘一薄膜層 6 ......第二薄膜層 7 ......封閉 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2IOX297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 六、申請專利範圍 第88 1 14253號「具有閉鎖式薄膜開口之微機械元件」專利 案 (90年4月修正) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) - 六申請專利範圍: 1. 一種微機械元件之製造方法,其特徵爲包括下列步驟: -以習知方式製成一種半完成之微機械元件,其包含: 一晶圓(1),一第一薄膜層(5),一空腔(3)—層或多 層作爲第一薄膜層之支承面之犧牲層, -在塗佈第一薄膜層之後或期間製成一種開口(4), -淸除犧牲層(2)之材料以便經由開口(4)而形成一空腔 (3), -以封閉蓋(7)來封閉開口(4)和 -淸除第一薄膜層上側上的材料,其中第一薄膜層之 表面須裸露且被整平,其中在第一薄膜層裸露及整 平之後使第二薄膜層(6)沈積於第一薄膜層上。 2·如申請專利範圍第1項之微機械元件之製造方法,其 中封閉材料之去除是藉由回蝕刻而達成,且以溼化爲 方式或乾燥方式來進行蝕刻。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 3_如申請專利範圍第1或第2項之微機械元件之製造 方法,其中封閉蓋之製造是在第一薄膜層上藉由氧化 物材料之沈積,在一溫度(在該溫度時所沈積之氧化物 材料須熔化且使開口被封閉)中加熱,且在另一溫度(在 該溫度時氧化物材料變硬)中冷卻而達成。 4· ~種微機械元件’其包括:一晶圓(丨),一種位於該晶 圓上的空腔(3),一設置於該空腔上的第一薄膜層(5), 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 471002 Λ8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 至少一層作爲第一薄膜層之支承面用之犧牲層(2),至 少一個位於空腔區域內之薄膜開口(4),該開口以+封 閉蓋來,該封閉蓋之材料與第一薄膜層之材料不同, 其特徵爲:在第一薄膜層之上側上基本上不設置由一 種材料所製成之膜,此種材料即爲封閉蓋(7)之材#且 直接在第一薄膜層(5)上存在著第二薄膜層(6)。 5. 如申請專利範圍第4項之微機械元件,其中封閉蓋係 由一種氧化物所構成。 6. 如申請專利範圍第4或第5項之微機械元件,其中 第一薄膜層通常和封閉蓋一起至少在第一薄膜層上側 上形成一種盡可能平坦之面。 7·如申請專利範圍第6項之微機械元件,其中在組件之 晶片上有一種控制電路及/或計算電路。 8_如申請專利範圍第6項之微機械元件,其中第一薄膜 層之厚度是在從約0.2至約20微米的範圍內。 9_如申請專利範圍第4項之微機械元件,其中第一和第 二薄膜層係由相同材料構成。 10·如申請專利範圍第4或第9項之微機械元件,其中第 二薄膜層之厚度是在自約0_01微米至10微米之範圜 內。 ----------衣-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家椋準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI458671B (zh) * | 2007-04-26 | 2014-11-01 | Bosch Gmbh Robert | 微機械構件及相關製造方法 |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10022266B4 (de) * | 2000-05-08 | 2005-02-24 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Herstellen und Verschließen eines Hohlraums für Mikrobauelemente oder Mikrosysteme und entsprechendes Mikrobauelement |
GB0107404D0 (en) | 2001-03-23 | 2001-05-16 | Koninkl Philips Electronics Nv | Display substrate and display device |
US6825127B2 (en) * | 2001-07-24 | 2004-11-30 | Zarlink Semiconductor Inc. | Micro-fluidic devices |
DE10160830A1 (de) * | 2001-12-11 | 2003-06-26 | Infineon Technologies Ag | Mikromechanische Sensoren und Verfahren zur Herstellung derselben |
US20030210799A1 (en) * | 2002-05-10 | 2003-11-13 | Gabriel Kaigham J. | Multiple membrane structure and method of manufacture |
JP3778128B2 (ja) * | 2002-05-14 | 2006-05-24 | 株式会社デンソー | メンブレンを有する半導体装置の製造方法 |
US6790699B2 (en) | 2002-07-10 | 2004-09-14 | Robert Bosch Gmbh | Method for manufacturing a semiconductor device |
DE102006008584A1 (de) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Atmel Germany Gmbh | Fertigungsprozess für integrierte Piezo-Bauelemente |
DE102007005630B4 (de) * | 2007-02-05 | 2019-08-08 | Infineon Technologies Ag | Sensorchip-Modul und Verfahren zur Herstellung eines Sensorchip-Moduls |
US20110284995A1 (en) * | 2010-05-21 | 2011-11-24 | Sand9, Inc. | Micromechanical membranes and related structures and methods |
JP5668664B2 (ja) * | 2011-10-12 | 2015-02-12 | 船井電機株式会社 | マイクロホン装置、マイクロホン装置を備えた電子機器、マイクロホン装置の製造方法、マイクロホン装置用基板およびマイクロホン装置用基板の製造方法 |
US9926187B2 (en) | 2013-01-29 | 2018-03-27 | Nxp Usa, Inc. | Microelectromechanical system devices having crack resistant membrane structures and methods for the fabrication thereof |
US8921952B2 (en) * | 2013-01-29 | 2014-12-30 | Freescale Semiconductor Inc. | Microelectromechanical system devices having crack resistant membrane structures and methods for the fabrication thereof |
DE102018201358A1 (de) | 2018-01-30 | 2019-08-01 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zum Verschließen von Öffnungen in einer flexiblen Membran eines MEMS-Elements |
JP6922788B2 (ja) * | 2018-03-05 | 2021-08-18 | 三菱電機株式会社 | 半導体圧力センサ |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4665610A (en) * | 1985-04-22 | 1987-05-19 | Stanford University | Method of making a semiconductor transducer having multiple level diaphragm structure |
GB2198611B (en) * | 1986-12-13 | 1990-04-04 | Spectrol Reliance Ltd | Method of forming a sealed diaphragm on a substrate |
US5177661A (en) | 1989-01-13 | 1993-01-05 | Kopin Corporation | SOI diaphgram sensor |
US5316619A (en) | 1993-02-05 | 1994-05-31 | Ford Motor Company | Capacitive surface micromachine absolute pressure sensor and method for processing |
US5427975A (en) * | 1993-05-10 | 1995-06-27 | Delco Electronics Corporation | Method of micromachining an integrated sensor on the surface of a silicon wafer |
DE4332843C2 (de) | 1993-09-27 | 1997-04-24 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung einer mikromechanischen Vorrichtung und mikromechanische Vorrichtung |
US5759870A (en) * | 1995-08-28 | 1998-06-02 | Bei Electronics, Inc. | Method of making a surface micro-machined silicon pressure sensor |
DE19600400C2 (de) | 1996-01-08 | 2002-05-16 | Infineon Technologies Ag | Mikromechanisches Bauteil mit planarisiertem Deckel auf einem Hohlraum und Herstellverfahren |
DE19608370A1 (de) | 1996-03-05 | 1996-07-25 | Josef Dr Lechner | Verfahren zur Herstellung mikromechanischer Kanäle mit Anschluß an die Umgebungsatmosphäre |
DE19820758C1 (de) * | 1998-05-08 | 1999-12-30 | Siemens Ag | Herstellverfahren für mikromechanische Bauelemente |
-
1999
- 1999-08-20 DE DE59914408T patent/DE59914408D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-08-20 TW TW088114253A patent/TW471002B/zh not_active IP Right Cessation
- 1999-08-20 JP JP2000571044A patent/JP2002525213A/ja active Pending
- 1999-08-20 WO PCT/DE1999/002625 patent/WO2000012428A1/de active IP Right Grant
- 1999-08-20 EP EP99953559A patent/EP1115649B1/de not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-02-27 US US09/794,663 patent/US6541833B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI458671B (zh) * | 2007-04-26 | 2014-11-01 | Bosch Gmbh Robert | 微機械構件及相關製造方法 |
Also Published As
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