TW463144B - Record strategy of record carrier - Google Patents

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TW463144B
TW463144B TW088117198A TW88117198A TW463144B TW 463144 B TW463144 B TW 463144B TW 088117198 A TW088117198 A TW 088117198A TW 88117198 A TW88117198 A TW 88117198A TW 463144 B TW463144 B TW 463144B
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Meng-Shin Yan
Chi-Hung Chen
Shr-Jie Li
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Acer Peripherals Inc
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Description

46314 4 經濟部中央標準局員Η消費合作社印製 A7 _______B7 五、發明説明（/ ) 發明領域 本發明係關於一 έ己錄載體（rec〇rtJ carrier)之寫錄策略 (record strategy)，該記錄載體可以是例如一可寫式光碟 (如CD-R、CD-RW)，或是磁性光碟（M〇_disk)等。特別 地，本發明所提供之寫錄策略係應用預形成溝槽内的絕對 時間（absolute time in pregroove, ATIP)碼所發生之 ATIP碼錯誤率以及反射信號的谷值號作為判定，來決定可 寫錄與否，以及於寫錄時所需之最佳寫錄設定（〇pUmum record setting) 0 發明背景 現今記錄载體，例如可寫式光碟（如CD-R、CD-RW)、 磁性光碟（MO-disk)等，其寫錄策略通常係先在該記錄載體 上形成一搖擺溝槽（wobbled groove)，藉由該漢槽來提供 一資料記錄较置（information record device)(例如光碟燒 錄機）對該記錄載體進行讀取或寫錄資料之依據。關於記錄 載體（如可寫式光碟片）應用預形成溝槽（pregroove)及ATIP 碼之寫錄策略的相關前案請參考美國專利第.5,226,027號， 以及Philip公司於1997年所出版之”Compact Disc Recordable System Description’’（橘皮書，第三版），其 詳細技術内容在此不作贅述。 然而，先前技術應用預形成溝槽及ATIP碼等技術作為 4API/199917TW, A88066 1 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4規格（210X 297公釐） (請先閏讀背面之注.意事項再填寫本頁) ..訂 4 6 314 4 A7 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 B7 五'發明説明（厶） 寫錄策略參考之3己錄載體，其在寫錄時仍常發生錯誤中斷 的情形，致使該記錄載體於寫錄後其部份存有資料之儲存 單元甚至整個記錄載體無法使用。 記錄載體之儲存單元無法寫錄成功之原因經歸納多為該 記錄載體本身具有缺陷或其遭受刮傷、污染等，而於寫錄 程序之前未能將造成無法寫錄之因素事先成功地檢測出 來。記錄載體（如可寫式光碟；i)讀存單元無法成功寫錄之 原因兹提列如下： 於該记錄載體製造時：（ι)ΑΤΙΡ碼標記錯誤；（2)發生 不符合橘皮書規範之錯誤；於該記錄載體製造完成之後： (3)用來製造該記錄載體之基板遭受刮傷；（4)記錄載體遭受 指印（finger print)、灰塵、污跡等污染：（5)記錄载體之反 射層遭受刮傷。 上述原因（1)及原因（2)係為影響記錄載體製造品質的良 窳之主要原因。其中造成記錄載體缺陷之原因（2)，主要係 記錄載體於製造時其材料及程序控制上的問題’於記錄載 體製造完後較不易由記錄載體表面的反射信號將其判斷出 來。然而以檢測ATIP碼之錯誤率之方法，將可檢測出涵笨 上述原因（1)及原因（2)造成之缺陷，而且ATIP碼之錯誤率 的檢測很容易由現行的系統稍作改善即可達成，故可作為 應用ATIP碼之記錄載體品質的指標。 4API/199917TW, A88066 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS〉A4規格（210X297公釐） ---------f^------.訂丨-----Μ. I ί ^- (請先閏讀背面之注意事項.再填寫本頁) 46 314 4 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 ---------B7 五、發明説明（5 ) 上述於記錄載體製造完成後因刮傷、污染等造成記錄載 體之儲存單元無法寫錄成功之原因（（3)、（4)及（5))，則可 藉由讀取記錄載體表面之反射信號來將其檢測出來。 因此本發明之一目的係提供應用預形成溝槽及ATIP碼 技術之記錄載體一種寫錄策略。該寫錄策略可以事先成功 地檢測出造成記錄載體之儲存單元無法寫錄之原因，進而 避開造成無法寫錄之缺陷、刮傷、污染等區域，以達成記 錄栽體之儲存單元的完善寫錄規劃。 本發明之另一目的係在不更動現行用以讀/寫一記錄載 體之 > 料記錄裝置之架構的前提下，應用檢測ATIp碼之錯 誤率及檢測記錄載體表面之反射信號，即可提供記錄載體 一具高可靠度之寫錄策略。 發明概述 先前技術應用預形成溝槽及Ατιρ碼等技術作為寫錄策 略參考之記錄載體，其在寫錄時仍常發生錯誤中斷的情 形，致使該記錄載體於寫錄後其部份存有資料之儲存單元 甚至整個記錄載體無法使用。 本發明之一目的係提供應用預形成溝槽及ΑΤΙρ碼技術 之記錄載體一種寫錄策略。該寫錄策略可以事先成功地檢 測出造成圮錄載體之儲存單元無法寫錄之原因’進而避開 4API/199917TW, Α88066 ^紙張尺度適用中國國家標準(~CNS > Α4規格~Γ2Τ〇χ297公釐) ---I n - -- n I ^ 《11 (請L閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -訂 功I. 經濟部中央榡率局貝工消費合作.杜印^ 4 6314 4 A7 _ B7 五、發明説明（午） 造成無法寫錄之缺陷、到傷、污染等區域，以達成記錄載 體之儲存單元的完善寫錄規劃。 本發明之另一目的係在不更動現行用以讀/寫一記錄載 體之資料記錄裝置之架構的前提下，應用檢測ATIP碼之錯 誤率（或錯誤數目）及檢測釔錄載體表面之反射信號，即可提 供記錄載體一具高可靠度之寫錄策略。 根據本發明之一第一較佳具體實施例，一種應用檢測 ATIP碼出現之錯誤數目來規劃多個儲存單元中之一特定儲 存軍元的方法係被提供，該多個儲存單元係格式化於一記 錄載體上，並且該記錄載體係具有一預先形成之溝槽。該 資料記錄裝置之寫錄設定係被區分為第一至第N共N個接績 階段’ N係為一自然數。該n個階段中之每一階段皆提供該 資料記錄裝置一參考寫錄速度（S,〜SN)以及一參考寫錄功率 (P广PN)。N個依序分別對應至該N個階段之接續的錯誤數 目範圍係被設立，以提供該資料記錄裝置決定寫錄速度及 寫錄功率之用。判斷關於該特定儲存單元之ATIP碼發生錯 誤石馬之數目若落於該N個接續錯誤數目範圍中對應至第^階 段之範圍内’則決定該資料記錄裝置將形成資料圖案於該 特定儲存單元上所需之寫錄速度（S)及寫錄功率分別為 該第I階段所提供之參考寫錄速度（S[)及參考寫錄功率 (P,)。 根據本發明之一第二較佳具體實施例，一種應用檢測 4API/199917TW, A88066 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4現格（210X297公釐） I--------Ο------訂一------Μ I (諳1閱讀背面之注「意事項，再填寫本頁} ' 發明說明（r) 五 _ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 46314 4 A7 137 ATIP碼出現之錯誤數g以及檢測記錄載體表面之反射信號 來規劃多個儲存單元中之一特定儲存單元的方法係被提 供，該多個儲存單元係格式化於一記錄載體上，並且該記 錄載體係具有一預先形成之溝槽。該資料記錄裝置之寫錄 設定係被區分為第一至第N共N個接續階段，N係為一自然 數《該N個階段中之每一階段皆提供該資料記錄裝置一參考 寫錄速度（S,〜SN)以及一參考寫錄功率（P,〜PN)。N個依序分 別對應至該N個階段之接續的錯誤數目範圍以及N個依序分 別對應至該N個階段之接續的反射信號範圍係被設立，以提 供該資料記錄裝置決定寫錄速度及寫錄功率之用。判斷關 於該特定儲存單元之ATIP碼發生錯誤碼之數目若落於該N 個接續錯誤數目範圍中對應至第I階段之範圍内，並且關於 該特定儲存單元之反射信號的谷值若落於該N個接續反射信 號範圍中對應至第J個階段之範圍内，則選擇該第I階段及該 J階段中較高之階段，並且決定該資料記錄裝置將形成資料 圖案於該特定儲存單元上所需之寫錄速度（S)及寫錄功率（P) 分別為該所謂較高階段所提供之參考寫錄速度及參考寫錄 功率。 根據本發明之一第三較佳具體實施例，一種應用檢測 ATIP碼出現之錯誤率（E)來規劃多個儲存單元中之一特定 儲存單元的方法係被提供，該多個儲存單元係格式化於一 記錄載體上，並且該記錄載體係具有一預先形成之溝槽。 該資料5己錄裝置之寫錄設定係被區分為第一至第N共N個接 續階段，N係為一自然數。該N個階段中之每一階段皆提供 4API/199917TW, A88066 本纸張尺度適用中丨規格⑵ 請 先 閱 讀 -背 之 \ 事 項 b !裝 頁1 -訂 463144 Δ7 B7 五、發明說明（έ ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 该資料記錄裝置—參考寫錄速度（S i〜SN)以及一參考寫錄功 率（P广Pn)。從第一至第N階段，每一階段係給定一隨階段 逐漸升高的錯誤率閥值（thresh〇ld error rate)。該方法係 將關於該特定儲存單元之ATIP碼所發生之ATIP碼錯誤率 與從第一階段至第N階段之錯誤閥值作比較，直到關於該特 定儲存單元之ATIP碼所發生之ATIP碼錯誤率低於該N個階 段中於第I階段之錯誤率閥值，其中j係為〗至N範圍中之一 整數指標。如果該第^階段不成立，則標示該特定儲存單元 為不可寫錄。如果該第1階段成立，則決定該資料記錄裝置 將形成該組資料圖案於該特定儲存單元上所需之寫錄速度 及寫錄功率分別為該第I階段所提供之參考寫錄速度（S,)及 參考寫錄功率（pj。 根據本發明之一第四較佳具體實施例，一種應用檢測 ATIP碼出現之錯誤率（E)來規劃多個儲存單元中之一特定 储存單元的方法係被提供，該多個儲存單元係格式化於一 記錄載體上，並且該記錄載體係具有一預先形成之溝槽。 邊資料記錄裝置之寫錄設定係被區分為第一至第N 個接 續階段，N係為一自然數.該N個階段中之每一階段皆提供 该資料記錄裝置一參考寫錄速度（s广％)以及一參考寫錄功 率（P 1〜PN)。從第一至第N階段，每一階段係給定—隨階段 逐漸升咼的錯誤率閥值（threshold error rate)以及一隨階 段逐漸降低的反射信號閥值（thresh〇ld reflecUd signal)。該方法係將關於該特定儲存單元之ATIp碼所發生 之AT IP碼錯誤率與從第一階段至第N階段之錯誤閥值作比 4API/199917TW, A88066 本紙張尺度適用中國因家標準（CNS)A-丨规格（210 X 297公堃）
請 先 閱 讀 -背 it 之 ；i ’意 事 項 再 — 填，I裝 頁I t I訂 線 46 314 4 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 Λ7 B7 五、發明說明（7 ) 較’直到關於該特定儲存單元之ATIP碼所發生之ATIP碼 錯誤率低於該N個階段中於第I階段之錯誤率閥值，其中工係 為1至N範園中之一整數指標。如果該第〗階段不成立，則標 示該特定儲存單元為不可寫錄。如果該第丨階段成立，則將 關於該特定儲存單元之反射信號的谷值與從第j階 段至第N階段之反射信號閥值作比較，直到關於該特定儲存 單元碼之反射信號的谷值高於第j階段之反射信號閥值，其 中J係為I至N範圍中之一整數指標。如果該第j階段不成 立，則標示該特定儲存單元為不可寫錄。如果該第j階段成 立’則決定該資料記錄裝置將形成該組資料圖案於該特定 儲存單元上所需之寫錄速度及寫錄功率分別為該第j階段所 提供之參考寫錄速度（S』）及參考寫錄功率。 關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所 附圖式得到進一步的瞭解。 圖式之簡易說明 第一圊係揭示可應用本發明之一用以讀/寫一記錄載體 之資料記錄裝置的架構。 第二圊係揭示根據本發明之第一較佳具體實施例之流程 圓。 第三圖係揭示根據本發明之第二較佳具體實施例之流程 4API/199917TW, A88066 本紙張尺度適用中國Θ家標準（Ci\S)A4規格（210 X 297公釐） ------------裝·！ (請先閱讀背面之汪I意事"項再填寫本頁) 訂---------線h 463144 A7 B7 五、發明說明（# 圖 四圖係揭示根據本發明之第三較佳具體實施例之流程 第五圖係揭示«本發狀第四較佳具體實施例之流程 發明之詳細親.明 清參見第-圖所示，於第_圖中所揭露的係為—可應用 本發明之資料記錄裝置丨之機造與電子元件示意圖。在此說 明例中，該記錄裝置i所屬之型態係為可將一具備標準cD 格式或是RDAT格式之信號以光學方式記錄在一光學記錄載 體11 6上之型態。这光學記錄載體丨丨6可以為提供例如由一 相位變化材料或是-染料所组成之賴射感應層的型態，該 光學記錄載體116並已提供一伺服循軌（861^〇忱3(；1〇’用以 協助記錄資料圖案。 ------I------I 1 I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂- --線- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印裂 上述記錄載體通常具有一循軌調變（track· moduluation)，而該循軌調變經常係以一搖擺循軌（irack· wobble)的形式執行，亦即於該記錄載體上預先形成一搖擺 溝槽作為忒搖擺猶軌之用。於該搖擺循軌中，頻率係被調 變成與一位址信號一致，該位址信號係代表ATIP碼形式之 位址》—慣用型態之光學讀/寫頭1 〇5係被安置於該記錄載 4API/199917TW, A88066 本紙張尺度適用中®因家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 46314 4 A7 ___B7____ 五、發明說明（？） 體116的反面，該記錄載體116係繞著一軸102旋轉，而該 讀/寫頭10 5係可藉由一慣用型態的定位裝置沿著相對該記 錄載體11 6之一徑向移動。如第一圖所示，該定位裝置之施 實例可以由一馬達103以及一主軸1 04所組成。如果功能上 需要’該讀/寫頭1 05可以被用來記錄資料圓案，並且可以 被用來讀取資料圖案。為了達成上述該讀/寫頭105所需之 功能，該讀/寫1 05包含一半導體雷射，用以產生一輻射束 107a ’該輻射束l〇7a之強度可藉由一驅動器電路i〇7a作改 變。在習知的方法中，該輻射束1 〇7a係瞄準該記錄載體 116之伺服循轨。該輻射束1 〇7a會被該記錄載體116部份反 射回來’被反射的輻射束被調變成與該搖擺循軌一致，並 且如果一資料圖案存在’亦調變成與該信號圖案一致。被 反射的輕射束被直接傳送至一對輻射感應的偵測器1 〇ga， 該债測器10 8 a產生一對應該賴射調變的讀取信號v 1。該讀 取信號VI包含一由該搖擺循軌所產生的分量並且具有幾近 22kHz理論掃描速度的頻率《藉由一馬達控制電路1〇8來控 制該馬達100之馬達速度’致使該讀取信號V1由搖擺循軌 所產生之分量的頻率大體上維持在22kHz。該讀取信號v 1 並且被加載至一偵測電路109，該偵測電路1〇9係從該讀取 信號VI由搖擺循軌所產生之分量推導出ATIP碼，並且加載 ATIP碼至一控制單元。在一實施例中，該控制單元包含一 微處理器110。並且，該讀取信號V1被加載至一放大電路 111，該放大電路111具有一南通（high pass)之特徵，以便 拒絕該取信號VI中由搖擺循軌所產生之信號分量。低頻分 量已經被移除後之讀取信號v 1隨即被加載至該分析電路 4API/199917TW, A88066 0 本紙張疋度適用中0 0家標準（CNS)A.l規格（210 >^97公釐） (請先間讀背面之汪急事項再填寫本頁) L裝--------訂--------線i
五、發明說明（π) 65 ’該分析電路65則指出被讀取的資料圖索之品質的好 壞。該分析電路之一實例將於下文中作一詳細描述。在該 分析電路6 5之輸出上的分析信號ν a亦被加載至該微處理器 no。該記錄裝置進一步包含一慣用的CIRC(cross interleaved Reed-Solomon codes)編碼電路 112，該欲被 記錄之信號Vi可藉由一開關1 1 5加載至該CIRC編碼電路 112。s亥開關π 5係由該微處理器1 1 〇所控制。該circ編碼 電路112係被安置與一傳統的EFM調變器113串聯。該EFM 調變器113本身具有連接至該驅動器電路1〇7的輸出。該驅 動器電路10 7係為一慣用的並且可控制的型態，藉由該驅動 25電路1 07 ’影響被記錄資料圖案品質的參數可以被調整。 舉例來說，上述的參數之一可以是在資料圖案形成期間該 輻射東之強度。在上述所舉之例子中’該資料圖案隨後被 以具有固定持續時間之輻射脈衝來形成，而輻射脈衝之持 續時間可以是一影響資料圖案品質重要的參數。在以磁光 方式記錄的例子中，產生於被輻射束掃描之記錄載體區域 内的磁場強度可以是一重要的參數。為了達成產生一測試 圖案的目的’該記錄裝置1可以包含一測試信號產生器 114，測试彳g说產生器114產生例如一隨機數位信號或是 產生一對應數位信號值為零（數位沈靜）的信號。然而，原則 上須注意該資料信號亦可以被用來形成測試圖案。由該信 號產生器114所產生的信號係被藉由該開關u 5加載至該 CIRC編碼電路112 ^該開關115係為一慣用型態之開關， 其依據來自該控制單元110之控制信號，或傳送信號vi去記 錄’或傳送該信號產生器114之輸出信號。 4API/199917TW, A88066 本紙張又度適用中國國家標準（CNS)A-l规格（2】ϋ X 297公釐） ---------------— (請先閱讀背面之泫意事項再填寫本頁) 訂· -線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本發明係應用檢測ATIP碼之錯誤率（或錯誤數目）來事 先成功地檢測出造成記錄載體之儲存單元無法寫錄之原 因，進而避開造成無法寫錄之缺陷、刮傷、污染等區域， 以達成記錄載體之儲存單元的完善寫錄規劃。進一步，為 了提升檢測出造成記錄載體之儲存單元無法寫錄之原因的 成功率，並且提升於可寫錄之儲存單元區域所寫錄資料圖 案於讀取時之可靠度，除了應用檢測ATIp碼之錯誤率（或錯 拼數目）外，本發明並且應用檢測記錄載體表面之反射信號 來檢測出造成記錄載體之儲存單元無法寫錄之原因。以下 將以規格化於記錄載體上之多個儲存單元當中之一特定儲 存單元作為說明實施例時之參考標的，以便清楚地指出本 發明之精神與特徵。 根據本發明之第一較佳具體實施例的步驟流程揭示於第 二圖。該第一較佳具體實施例係應用檢測八711)碼之錯誤數 目來規劃多個儲存單元中之一特定储存單元’該多個儲存 單元係格式化於一具有一預先形成之溝槽的記錄載體上。 藉此，或是決定一資料記錄裝置將形成一組資料圖案於該 特疋健存早元上所需之取佳寫錄設定，或將該特定儲存單 元標示為不可寫錄。其中該資料記錄裝置之寫錄設定依照 寫錄速度被區分為第一至第N*N個接續階段（stage) , 1^係 為一自然數。該N個階段中之每一階段皆提供該資料記錄裝 置一參考寫錄速度（s】〜sN)以及一參考寫錄功率（Pi〜Pn)。 隨著階段升高，該記錄裝置之寫錄速度隨之調降，以嘗試 提高該資料記錄裝置成功寫錄資料圖案之機率^該方法之 4API/199917TW, A88066 本紙張疋度通用中舀固家標準（CN'S)Al規格（210 X 297 H ) f請先聞讀背面之法意事項再填寫本頁) 訂---------線k A7 4 6 3 14 4 ____B7____ 五、發明說明（/> ) 流程步驟詳述如下。 步驟20為開始。接續之步驟21係對該特定儲存單元進 行掃描。步驟22係讀取標記於該溝槽位於該特定儲存單元 内的部份之預形成溝槽内的ATIP碼，並且對該ATIP碼中 所出現的錯誤碼進行計數。接續之步驟23係藉由N個接續並 且依序分別對應至該N個階段之錯誤數目範圍的設定，來判 斷關於該儲存單元之ATIP碼發生錯誤碼之數目是否落 個接續錯誤數目範圍中對應至第〗階段之範圍内，其中丨係為 1至Ν範圍中之一整數指標，並且該!^個錯誤範圍係被適當 地選擇，致使當忒第I階段不成立時，關於該特定健存單元 之ATIP碼發生錯誤碼的數目即是高過該]^個接續錯誤數目 範圍中之最高的範圍。 若步驟2 3之判斷結果為肯定時，亦即該第^階段成立 時，則執行步驟24。步驟24係將於該資料記錄裝置中，形 成該組資料圖案於該特定館存單元上所需之寫錄速度及寫 錄功率，力別決定為該第I階段所提供之參考寫錄速度（D 及參考寫錄功率（Pl)。若步驟23之判斷結果為否定時，亦即 當關於該特定儲存單元之紹卩碼所發生錯誤碼的數目高過 該N個接續錯誤數目範圍中之最高範圍時，則執行步驟仏 步驟2 5係將該特定儲存單元標示為不可寫錄。 根據本發明之第二難具體實施例的步驟流程揭示於第 三圆。該第二較佳具體實施例係應用撿_Ατιρ碼之錯誤數 4API/1999I7TW, Α88066 12 本纸張又度適用中國國家標準（CNSMJ規格（2Ιϋ X 297公坌） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) — I — — — — — — ^ 11111111 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 6314 4 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明（/多） 目以及檢測記錄載體表面之反射信號來規劃多個儲存單元 中之-特定储存單元’該多個儲存單元係格式化於一具有 一預先形成之溝槽的記錄载體上。藉此，或是決定一資料 記錄裝置將形成一組資料圖案於該特定儲存單元上所需之 最佳寫錄設定，或將該特定儲存單元標示為不可寫錄。其 中該資料記錄裝置之寫錄設定依照寫錄速度被區分為第一 至第N共N個接續階段（stage)，N係為一自然數。該1^個階 段中之每一階段皆提供該資料記錄裝置一參考寫錄速度 (s广sN)以及一參考寫錄功率（Ρι〜ρΝ)。隨著階段升高，該 記錄裝置之寫錄速度隨之調降，以嘗試提高該資料記錄裝 置成功寫錄資料圊案之機率。該方法之流程步驟詳述如 下。 步驟30為開始。接續之步驟3丨係對該特定儲存單元進 行掃描。步驟3 2係讀取標記於該溝槽位於該特定儲存單元 内的部份之預形成溝槽内的Ατιρ碼，並且對該Ατιρ碼中 所出現的錯碼進行計數。步驟3 3係讀取關於該特定儲存單 元之反射信號。接續之步驟34係藉由N個接續並且依序分別 對應至該N個階段之錯誤數目範圍的設定，來判斷關於該儲 存單元之ATIP碼發生錯誤碼之數目是否落於n個接續錯誤 數目範圍中對應至第I階段之範圍内，其中I係為1至2^範圍 内之一整數指標，並且該N個錯誤範圍係被適當地選擇，致 使當關於該特定儲存單元之ATIP碼發生錯誤碼的數目未落 於該N個接續錯誤數目範圍中之一個範圍内時，該ATIP碼 發生錯誤碼的數目即是高過該N個接續錯誤數目範圍中之最 4API/199917TW, A88066 13 本紙張又度適用中舀0家標準（CNS)A-丨現格⑵〇 X 297公;ίέ ) ----I---I i I I I · --------訂---------線 — (請先閱讀脅面之注咅？事項再填寫本頁)
五、發明說明（/f) 經濟部智慧財1局員工消費合作社印製 向的範圍。 若步驟34之判斷結果為肯定時，亦即該第I階段成立 時’則執行步驟35。步驟35係藉由Ν個接續並且依序分別 對應至該Ν個階段之反射信號範圍的設定，來判斷關於該特 定儲存單元之反射信號的谷值（Rvaney)是否落於該Ν個接續 反射信號範圍中對應至第j階段之個範圍内，其中j係為1至 Ν範圍中之一整數指標，並且該1^個反射信號範圍係被適當 地選擇’致使當關於該特定儲存單元之反射信號的谷值未 落於該Ν個接續反射信號範圍中之一個範圍内時，關於該特 定儲存單元之反射信號的谷值即是低於該Ν個接續反射信號 範圍中之最低的範圍。若步驟34之判斷結果為否定時，亦 即當關於該特定儲存單元之ΑΤΙΡ碼所發生錯誤碼的數目高 過該Ν個接續錯誤數目範圍中之最高範圍時，則執行步驟 38。步驟38係將該特定儲存單元標示為不可寫錄。 若步驟35之判斷結果為肯定，則執行步驟36。步驟36 係選擇該第I階段以及該第j階段當中較高的階段（第H階 &，Η係為於I與j兩數值中取最大之值）。接續步驟％執行 的步驟37係將於該資料記錄裝置中，形成該組資料圖案於 該特定儲存單元上所需之寫錄速度及寫錄功率，分別決定 為该所謂較高的階段（第Η階段）所提供之參考寫錄速度（Sj 及參考寫錄功率（ΡΗ)。若步驟35之判斷結果為否定，則執 行步驟38，將該特定錯存單元標示為不可寫錄^ 4API/199917TW, Α88066 本紙張尺度適用中國S家標準（CNS)A4規格（10x297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
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、發明說明（汐) ，由於記錄裁體之表面或多或少會對騎束I生吸收或偏 射而&成反射信號的降低。若僅以既定的參考功率為記 綠貝料圖㈣之功率，會造成最終形成之資料ϋ案的可靠 度降低°為了提升最終形成之資料圖案具有高可靠度，在 另-具體實施例中，於上述步驟流程中之步驟37係將該資 料。己錄裝置將形成該組㈣圖案於該特㈣存單元上所需 之寫錄速度決定為參考寫錄速度，而其寫錄功率則決定為 :隨反射信號之實質情況作ά調整的最佳寫錄功率(ρ η，)。 4資料記錄裝置之最佳寫錄功率（ΡΗ’）係經由下列公式計算 請 先 閱 讀 背 Φ 之 .注 項 再 — 填1 %裝 本衣 頁 Ρη.
Rvalley 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 其中U為’該特定儲存單元之反射信號的平均值。由 ,述公式中可清楚看出，該最佳最佳寫錄功率(p，)係依照 该反射信號之谷值（Rva|uy)及平均值作财，經此因應實際 情況調整之最佳寫錄功率所形成之資料圖案在被讀取時將 更具可靠度。 根據本發明之第三較佳具體實_的步料程揭示於第 四圖。s玄第二較佳具體實施例係應用檢測ΑΤίρ碼之錯誤率 (Ε)來規财個儲存單元巾之-特定儲存單元，該多個储存 單元係格式化於一具有一預先形成之溝槽的記錄載體上。 藉此，或是決定一資料記錄裝置將形成一組資料圖案於該 特定儲存單元上所需之最佳㈣設定m特定储存單 4API/199917TW, A88066 15 訂 線 Μ氏張尺度適用中國國家標準（CNS)/y規格（210 β97公釐） 46314 4 A7 ——--— ---—- 五、發明說明（/〇 元標示為不可寫錄。其中該資料記錄裝置之寫錄設定依照 寫錄速度被區分為第一至第N共N個接續階段，為一自 然數。該N個階段中之每一階段皆提供該資料記錄裝置一參 考寫錄速度（si〜SN)以及一參考寫錄功率（P|〜pN) p從第一 至第N階段，每一階段係給定一隨階段升高而增加的錯誤率 閥值（threshold error rate)(E广En)-該方法之流程步驟詳 述如下。 步驟40為開始。接續之步驟41係對該特定儲存單元進 行掃描。步驟42係讀取標記於該溝槽位於該特定儲存單元 内的部份之預形成溝槽内的ATIP碼，並且計算出對該 心!>碼'發生之-ATIP碼錯誤率⑻。步驟㈣將關於= 特定儲存單元之ATIP碼所發生之ATIp碼錯誤率（e)與從第 -階段至第N階段之錯誤間值(Ei〜En)作比較，直到關於該 特定儲存單元之ATIP碼所發生之ΑΤΪρ碼錯誤率⑻低於該 Ν個階段中於第㈣段之錯誤率閥值（Ε|)，其中！係為αχ範 圍中之一整數指標。如果該第1階段不成立，則執行步驟 4 5 ’將遺特定儲存單元標示為不可寫錄。 如果4第IS #又成立，則執行步驟44，決定該資料記錄 裝置將形成該組資料圖案於該特定赌存翠元上所需之寫錄 功率⑺及寫錄速度⑻係分別為該第m段所提供之參考功 率（Pi)及參考寫錄速度（St)。 在-具體實施例中’ tnTIP碼錯誤率係經由下列公式 4API/199917TW, A88066 衣紙張义度適用中國國家標率（CNS)A'l現格（210 X 297公,g ) ' --------------裝--- <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 'II. -線- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 6 3 14 4 A7 B7 五、發明說明（/7 ) 計算所得： <請先閱讀背面之注音？事項再填寫本頁) - ATIP碼錯誤率（E) = ATIP碼中所發生之錯誤碼數目 储存單元 在另一具體實施例中，該ATIP碼錯誤率係經由下列公 式計算所得： ΛΤΙΡ碼錯誤率（E) = ATIP碼中所發生之錯誤碼數目 單元時間 經濟部智慧財產局員Η消費合作社印t 根據本發狀第四錢具體實補的步職程揭示於第 五圖。該第四較佳具體實施例係應用檢測Ατιρ碼之錯誤率 (Ε)以及檢測記錄龍表面之反射信號（R)來規劃多個餘存 草7C中之-特定储存單元，該多個儲存單元係格式化於一 具有一預先形成之溝槽的記錄載體上。藉此，或是決定一 資料記錄裝置將形成-組資料圖案於該特定儲存單元上所 需之最佳寫錄設定，或將該特定儲存單元標示為不可寫 錄。其中該資料記錄裝置之寫錄設定依照寫錄速度被區分 為第-至第N共N個接續階段，N係為—自然數α該1^個階 段中之每-階段皆提供該資料記錄裝置一參考寫錄速度 (S ,~ SΝ·)以及參考寫錄功率（ρ|〜％卜從第—至第Ν階 段，每一階段係給定一隨階段升高而增加的錯誤率閥值 (threshold error rate)(E|〜EN)以及—隨階段升高而減少的 反射化號閥值（threshold reflected signal)(R丨〜RN)。該方 法之流程步驟詳述如下。 4API/199917TW, A88066 本紙張尺度適用中國因家桴準（CNS)Ai規格（210 X 297公釐） 46314 4 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明（π ) 步驟50為開始。接續之步驟5 1係對該特定儲存單元進 行掃描。步驟5 2係讀取標記於該溝槽位於該特定儲存單元 内的部份之預形成溝槽内的ATIP碼，並且計算出對該 ATIP碼所發生之一ATIP碼錯誤率（E)。步驟53係讀取關於 該特定储存單元之反射信號（R)。步驟54係將關於該特定儲 存單元之ATIP碼所發生之AT IP碼錯誤率（E)與從第一階段 至第N階段之錯誤閥值（e ,〜EN)作比較，直到關於該特定儲 存單元之ATIP碼所發生之ATIP碼錯誤率（E)低於該N個階 段中於第I階段之錯誤率閥值（E〗），其中j係為1至N範圍中 之一整數指標。如果該第i階段不成立，則執行步驟57，將 該特定儲存單元標示為不可寫錄。 如果該第I階段成立，則執行步驟55，將關於該特定儲 存單元之反射化號的谷值（Rvaiiey)與從第J階段至第^^階段之 反射彳§號閥值（R,〜RN)作比較，直到關於該特定儲存單元碼 之反射彳S號的谷值（Rva||ey)高於第J階段之反射信號閥值 (Rj)，其中J係為I至N範園中之一整數指標。如果該第；階 段不成立，則執行步驟57，將該特定儲存單元標示為不可 寫錄。如果該第J階段成立，則執行步驟5 6，決定該資料記 錄裝置將形成該組資料圖案於該特定儲存單元上所需之寫 錄功率（P)及寫錄速度（S)係分別為該第j階段所提供之參考 功率（Pj)及參考寫錄速度（s;)。 於步驟54至步驟57之判斷路徑可藉由第五圖中所示之 路徑1及路徑2作進一步的解說。路徑〗經由步驟“判斷，於 4APr/1999I7TW, A88066 本纸張叉度適用中國因家標準（CN、)A.丨規格丨ϋ x 297公餐） -------I I ---裝--- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ，訂 線· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 6 3 14 4
AT _____B7____ 五、發明說明（) 第3階段，關於該特定儲存單元之ATIP碼所發生之ATIP碼 錯誤率（Ε)始低於第3階段之錯誤率閥值（Ε3)，遂進入步驟 55從第3階段起進行判斷，又於第4階段，關於該特定儲存 單元碼之反射信號的谷值（Rva]ley)始高於第4階段之反射信 號閥值（R4)，遂進入步驟56，並決定該特定儲存單元上所 需之寫錄功率（P)及寫錄速度（S)分別為該第4階段所提供之 參考功率（I%)及參考寫錄速度（S4)。路徑2經由由步驟54判 斷，於第2階段，關於該特定儲存單元之ATIP碼所發生之 ATIP碼錯誤率（E)始低於第2階段之錯誤率閥值（e2)，遂進 入步驟5 5從第2階段起進行判斷，又關於該特定儲存單元碼 之反射信號的谷值（RvalUy)皆未高於第2階段至第1>[階段之反 射信號閥值（R_2〜RN)，遂進入步驟57 ,將該特定儲存單元標 示為不可寫錄。 同樣為了提升最终形成之資料圖案具有高可靠度，在另 具體“e例中’於上述步驟流程中之步驟％係將該資料 記錄裝置將形成該组資料圖案於該特定儲存單元上所需之 寫錄速度⑻衫為參考寫錄速度（&)，而其寫錄功率則決 疋為最L寫錄功率（P小該資料㈣裝置之最佳寫錄功 率（Pj ’）係經由下列公式計算所得： 其中Rav係為關於該特㈣存單元之反射㈣的平均 4APF199917TW, A88066 19 ^紙張尺度適用中國因家標準（CNS)A4規格（2丨〇 -___ (請先閱讀f面之注意事項再填寫本頁) 裝 -線
A7 B7 在一具體實施例中，該ATIP碼錯誤率係經由下列公式 計算所得： ATIP碼錯誤率（E) ATIP碼中所發生之錯誤碼數目 儲存單元 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在另一具體實施例中，該ATIP碼錯誤率係經由下列公 式計算所得： ATIP碼錯誤率（E) = ATIP碼中所發生之錯誤碼數目 單元時間 在實際應用上，記錄載體在寫錄資料之前可採用本發明 對其所有的儲存單元進行規劃，亦即進行所謂的測試模式 (test mode)，將其本身具有缺陷、刮傷、污染等無法寫錄 之區域檢測出來並將其標示為不可寫錄，進一步並決定該 資料記錄裝置將形成資料圖案於可寫錄之儲存單元上所需 之寫錄設定（寫錄速度及寫錄功率）。規劃結果可記錄於形成 在該記錄載體上之一表格之内’例如内容表格（T 〇 C )，以 便利隨後將資料記錄於該記錄載體上。 在實際應用上，格式化於該記錄載體上之儲存單元的儲 存尺寸係依照資料記錄裝置之執行功能而定，例如可以與 資料記錄裝置中依照c IR C碼可修正之最小尺寸相等。 综合以上之發明詳細說明，即可清楚看出本發明所提供 之方法，在不變更現行實料記錄裝置之架構下，並且與先 4API/199917TW, A88066 20 -------------裳-— —-----·ιτ---------線 (請先閱讀免面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國固家標準（CNS)士]規格（2HJ X 297公釐） 4 6 3 14 4 A7 B7 五、發明說明（V ) 前技術相較下，確實可提供可靠度較高的寫錄策略。 藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描 述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體 實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希 望旎涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之 專利範圍的範_内。因此，本發明所申請之專利範圍的範 t應該根據上述的說明作最寬廣的解釋，以致使其涵蓋所 有可能的改變以及具相等性的安排。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) k. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4API/199917TW, A88066 21 本紙張&度適用中國國家標準（CNS)A·】規格（21ϋ - 297 ^^·

Claims (1)

  1. 8 8 8 8 ABCD f 紂// 修"4·?./丫七 J〆： 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 S314 4 六、申請專利範圍 i 、用以規劃多個儲存單元中之一特定儲存單元的方 法，該多個儲存單元係格式化於一記錄載體（record )上，藉此，或一資料記錄裝置將形成一组資料圖 案於該特U存單元上所f之最佳寫錄設定可被決定， 或該特定儲存單兀被標示為不可寫錄，其中該資料記錄 裝置之寫錄設定係被區分為第一至第N共N個接續階段’ N係為一自然數，該N個階段中之每一階段皆提供該資料 P已錄裝置一特定寫錄速度（Sl〜SN)以及—特定寫錄功率 (Ρ^Ρν) ’並且其中該記錄載體係具有—預先形成之溝 槽’該方法包含下列步驟： 對該特定儲存單元進行掃描； 讀取標記於該溝槽位於該特定儲存單元内的部份之預形 成溝槽内的絕對時間（absolute time in pregroove，ΑΤΙΡ) 碼’並且對該ATIP碼中出現的錯誤碼計數； 判斷關於該儲存單元之ATIP碼發生錯誤碼之數目是否落 於N個接續錯誤數目範圍中對應至第I階段之範圍内，其 中該N個接續錯誤數目範圍係依序分別對應至該n個階 段，I係為1至N範圍中之一整數指標， 若该第I階段不成立，則標示該特定储存單元為不可寫 錄， 若該第I階段成立’則將該資料記錄裝置將形成該組資料 圖案於該特定儲存單元上所需之寫錄速度（s)及寫錄功率 (P)分別決定為該第1階段所提供之特定寫錄速度（SJ及特 定寫錄功率（p,)。 本紙張尺度適用中國國家梯準（CNS ) A4規格（21 OX 297公釐) ----Γ — L----裝------訂------，線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 進一步包含下列步 4 46314 4 k 六、申請專利範圍 '—一 2、如中料職圍第i項所述之方法，其中㈣個接續階段 中’隨者階段升高，其所提供之特定寫錄速度(s「s。亦 隨之減慢’對應不同寫錄速度（S】〜SN)之情況N個參考功率 (p’prN)係被設立，以提供該資料記錄裝置決定寫錄功率 用並且其中該N個特定寫錄功率(Ά)即為該〜個 考功率（prl〜prN)。 如申請專利範圍第2項所述之方法 驟： 將規劃該特定儲存單元之結果記錄於形成在該記錄載體 上之一表格之内。 、種用以規劃多個儲存單元中之一特定儲存單元的方 法該多個儲存單元係格式化於一記錄載體（rec〇rd earner)上’藉此，或一資料記錄裝置將形成一組資料圖 案於該特定儲存單元上所需之最佳寫錄設定可被決定， 或該特定儲存單元被標示為不可寫錄’《中該資料記錄 置之寫錄汉疋係被區分為第一至第N共N個接續階段， ^係為一自然數，該N個階段中之每一階段皆提供該資料 ^錄裝置—特定寫錄速度（S,〜SN)以及一特定寫錄功率 ，並且其中該記錄載體係具有一預先形成之溝 槽’該方法包含下列步驟： 對該特定儲存單元進行掃描； η貪取標記於該溝槽位於該特定儲存單元内的部份之預形 '''薄槽内的絕對時間（absolute time in pTegroove, ΑΤΙΡ) 碼並且對該ATIP碼中出現的錯誤碼計數； 肩取—關於該特定儲存單元之反射信號； ^斷關於該儲存單元之ATIP碼發生錯誤碼之數目是否落 ---------^------1T------^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 8 8 8 8 ABCD 463丨 4 4 六、申請專利範圍 於N個接續錯誤數目範圍中對應至第I階段之範圍内，其 中該N個接續錯誤數目範圍係依序分別對應至該N個階 段’ I係為1至N範圍中之一整數指標， 去該第I階段不成立’則標示該特定儲存單元為不可寫 錄， 若該第I階段成立，則判斷關於該特定儲存單元之反射信 號的谷值（Rvalley)是否落於N個接續反射信號範圍中對應 至第J階段之範圍内’其中該N個接續反射信號範圍係依 序分別至對應至該N個階段’ J係為1至n範圍中之一整數 指標* 若該第J階段不成立，則標示該特定儲存單元為不可寫 錄， 若該第J階段成立，則選擇該第I階段及第j階段當中較高 的階段（第Η階段），並將該資料記錄裝置將形成該組資料 圖案於該特定儲存單元上所需之寫錄速度（s)及寫錄功率 (P)分別改變為該所謂較高的階段所提供之特定寫錄速度 (SH)及特定寫錄功率（PH)。 5、 如申請專利範圍第4項所述之方法，進一步包含下列步 驟： 將規劃該特定健存單元之結果記錄於形成在該記錄載體 上之一表格之内。 6、 如申請專利範圍第5項所述之方法，其中㈣個接續階段 中’隨著階段升高’其所提供之特定寫錄速度（ϋ)亦 隨之減慢/對應不同寫錄速度（S广之情況Ν個參考功率 (PM〜U係被設立，以提供該資料記錄裝置決定寫錄功率 之用’並且其中該N個特定寫錄功率（p广pN)即為該1^個參 ---------裝------訂-----J線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經'濟部智慧財產局員工消費合作社印製 46314 4 A8 ΰ8 C8 D8 申請專利範圍 考功率（Pr,~PrN) 7、^請專利範圍第5項所述之方法，其中㈣個接續階段 (請先閲讀背面之注愈事項再填寫本頁) I’隨著階段升高’其所提供之特定寫錄速度^〜亦 隨之〜減慢，對應不同寫錄速度（H)之情況N個參考功率 (Ρ"Ό係被設立’以提供該f料記錄裝置決定寫錄功率 ? ’並且其中該N個特定寫錄功率(Μ)係經由下列公 式計算所得： \ RvaUey Rav係為關於該特定儲存單元之反射信號的平均值，】係為 1至N範圍中之一整數指標。 ^種用以規劃多個儲存單元中之—特定儲存單元的方 法該多個儲存單元係格式化於一記錄載體（rec〇rd 經濟部智慧时產局員工消費合作社印製 Camer)上，#此，或—資料記錄裝置將形成-組資料圖 案於該特定储存單元上所需之最佳寫錄設定可被決定， 或該特定儲存單元被標示為不可寫錄，其中該資料記錄 裝置之寫錄設定係被區分為第—至第N個接續階段’ N係為一自然數，該N個階段中之每一階段皆提供該資料 記錄裝置一特定寫錄速度（s广Sn)以及一特定寫錄功率 (P1 PN)，從第一至第N階段’每一階段係給定一隨階段逐 漸升高的錯誤率閥值（threshold err〇r rate)，並且其中該 v己錄載體係具有一預先形成之溝槽（pregroove)，該方法包 含下列步驟： 對該特定儲存單元進行掃描； 讀取標記於該溝槽位於該特定儲存單元内的部份之預形 成溝槽内的絕對時間（absolute time in pregroove，ATIP) 本紙張尺度適用巾賴家縣（CNS) A4ii# (21GX297公#) 4 6 3 1 4 4 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六、申請專利教圍 碼，並且依據ATIP碼中所出現的錯誤碼計算出—ATIP碼 錯誤率； 將關於該特定儲存單元之ATIP碼所發生之ATIP碼錯誤率 與從第一階段至第N階段之錯誤閥值作比較，直到關於該 特定儲存單元之ATIP碼所發生之ATIP碼錯誤率低於該N 個階段中於第I階段之錯誤率閥值，其中t係為1至N範圍中 之一整數指標， 如果該第I階段不成立，則標示該特定儲存單元為不可寫 錄， 如果該第I階段成立，則決定該資料記錄裝置將形成該組 資料圓案於該特定儲存單元上所需之寫錄速度及寫錄功 率分別為該第I階段所提供之特定寫錄速度（Si)及特定寫 錄功率。 9、 如申請專利範圍第8項所述之方法，其中該n個接續階段 中’隨著階段升高，其所提供之特定寫錄速度（s广SN)亦 隨之減慢’對應不同寫錄速度（S^Sn)之情況N個參考功率 (Prl〜PrN)係被設立’以提供該資料記錄裝置決定寫錄功率 之用’並且其中該N個特定寫錄功率（P广PN)即為該N個參 考功率（PmU。 10、 如申請專利範圍第9項所述之方法，進一步包含下列步 驟： 將規劃該特定儲存單元之結果記錄於形成在該記錄載體 上之一表格之内。 11、 如申請專利範圍第丨〇項所述之方法’其中該ATIP碼錯誤 率係經由下列公式計算所得： 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS > A4規格（210X297公釐） I (~ I— n u 11 I I .~ 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 463144 A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 ATIP碼錯誤率 ATIP碼中所發生之錯誤碼數目 儲存單I 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 12、 如申請專利範圍第10項所述之方法，其中碼錯誤 率係經由下列公式計算所得： ATIP碼錯誤率=ATIP碼中所發生之錯誤碼數目 單元時間 13、 一種用以規劃多個儲存單元中之一特定儲存單元的方 法，該多個儲存單元係格式化於一記錄載體 earner)上.藉此，或一資料記錄裝置將形成一組資料圖 案於該特定儲存單元上所需之最佳寫錄設定可被決定， 或該特定儲存單元被標示為不可寫錄，#中該資料記錄 裝置之寫錄設定係被區分為第一至第N個接續階段， N係為-自然丨，該N個階段中之每—階段皆提供該資料 記錄裝置-特定寫錄速度（ϋ)以及_特定寫錄功率 (P广PJ，從第一至第N階段，每一階段係給定一隨階段逐 漸升rj的錯誤率閥值（thresh〇id err〇r rate)以及一隨階段 逐漸降低的反射信號閥值（thresh〇ld reflected signa丨），並 且其中該記錄載體係具有一預先形成之溝槽 (pregroove) ’該方法包含下列步驟： 對該特定儲存單元進行掃描； 讀取己於該溝槽位於該特定儲存單元内的部份之預形 成溝槽内的絕對時間（abs〇lute time in pregr〇〇ve，ATIp) 碼並且依據ATIP碼中所出現的錯誤碼計算出一人丁1?碼 錯誤率； 讀取一關於該特定儲存單元之反射信號； 將關於該特疋儲存單元之ATIp碼所發生之Αήρ錯誤 本紙張尺度適财關家操準T^Ts ) A4规格（21()><297公着） ^I I— H ^ I n — ^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 4 63M4 A8 B8 C8 D8 經齊部智慧財產局員工消費合作钍印製 六、申請專利範圍 與從第一階段至第N階段之錯誤閥值作比較，直到關於該 特定儲存單元之ATIP碼所發生之ATIP碼錯誤率低於該N 個階段中於第I階段之錯誤率閥值，其中I係為1至N範圍中 之一整數指標， 如果該第I階段不成立，則標示該特定儲存單元為不可寫 錄， 如果該第I階段成立，則將關於該特定儲存單元之反射信 號的谷值（Rva]ley)與從第I階段至第N階段之反射信號閥值 作比較’直到關於該特定儲存單元碼之反射信號的谷值高 於第J階段之反射信號閥值，其中J係為I至N範圍中之一整 數指標， 如果該第J階段不成立，則標示該特定儲存單元為不可寫 錄， 如果該第J階段成立’則決定該資料記錄裝置將形成該組 資料圖案於該特定儲存單元上所需之寫錄速度及寫錄功 率分別為該第J階段所提供之特定寫錄速度及特定寫 錄功率（PJ - 14、 如申請專利範圍第13項所述之方法，進一步包含下列步 驟： 將規劃戎特定儲存單元之結果記錄於形成在該記錄載體 上之一表格之内。 15、 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中該\個接續階段 中，隨著階段升高，其所提供之特定寫錄速度（Si〜Sn)亦 隨之減慢，對應不同寫錄速度（Si〜Sn)之情況N個參考功率 (prl〜PrN)係被設立，以提供該資料記錄裝置決定寫錄功率 之用，並且其中該N個特定寫錄功率（p pN)即為該N個參 本紙張尺度適用中國國家標隼（CNS ) M現格（21〇><297公釐） ---------1------訂-------^ (請先閲讀背面之注f事項再填寫本頁) 46314 4 A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 考功率（Prl〜PrN)。 16、如申請專利範圍第 φ〆丄 項所迷之方法，其中該ΑΤΙΡ碼 率係經由下列公式計算所得： ΑΤΙΡ碼錯誤率=$03¾中所發生之錯誤碼數目儲存單元 錯誤 17、如申請專利範圍第i 5箱 項所述之方法，其中該ATIP碼錯誤 率係經由下列公式計算所得： ATIP碼錯誤率=碼中所發牛之錯謀m斛曰 單元時間 18 如申請專利範圍第14項所述夕古.土 丄,^ 巧所述之方法，其中該N個接續階段 中，隨著階段升高，其所扭 ^ 特定寫錄速度（Si〜Sn)亦 、 』舄錄迷度（S1〜SN)之情況N個參考功率 (Prl〜U係被設立，以提供緣咨Μ *：> at 、 促W及貝枓汜錄裝置決定寫錄功率 之用’並且其中該N個特定窝链从专nM 式計算所得： 肖-寫錄功率(Pl〜PN)係經由下列公 Prl Rav VR .valley ---------^------、玎------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作钍印製 = :::=:元之反射信號的平均值， 19、如申請專利範圍第18項所述之方法，其中^τιρ碼錯誤 率係經由下列公式計算所得： ΑΤΙΡ碼錯誤率=ΑΤΙΡ碼中所發生之錯叙目 標 i (cNS) μ 規格(210x297公釐 4 4 if 3 6 4
    8 8 ύο 8 ABCD 、申請專利範圍 20、 如申請專利範圍第1 8項所述之方法’其中該ATIP碼錯誤 率係經由下列公式計算所得： (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ATIP碼錯誤率=ATIP碼中所發生之錯誤碼數目 單元時呀" 21、 一種控制一資料記錄裝置將一輸入資訊寫錄到一記錄栽 體的複數個儲存單元之一的方法’其中於該記錄載體上 預設有一伺服軌道，沿著該伺服軌道編置一預設控制資 訊碼於該伺服軌道上，1該複數個儲存單元係沿著該伺 服軌道排列’該方法包含下列步驟： (a) 定義一寫錄階段表，該寫錄階段表中係依據某一特定 之該複數個儲存單元之該預設控制資訊碼發生錯誤的數 目，來決定該資料記錄裝置在寫錄該特定储存單元時所 需的一特定寫錄速度； (b) 讀取該某一特定之該複數個儲存單元對應該伺服執 道上之該預設控制資訊； (e)計算步驟（b)中，該某一特定之該複數個儲存單元中， 該預設控制資訊碼出現錯誤的次數； 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (d)依據該某一特定之該複數個儲存單元之該預設控制 資訊碼錯誤之次數，對照該寫錄階段表以調整該資料記錄 裝置之該特定寫錄速度，使該資料記錄裝置以該特定寫錄 速度將該輸入資m寫錄到該某-肖定之該複數個儲存單 ⑷若該某-較之該複數個儲存單元之該預設控制資 訊竭錯誤次數超出該线階段表之錯誤次數範圍，則標示 該某一特定之該複數個儲存單元為不可寫 本紙張尺度逋用中國國家榡準（CNS ) A4规格（210X297公釐） 4 4 4 1/ 3 6 ABCD 申請專利範圍 22、如申請專利範圍 該寫錄階段表係 該預設控制資訊 錄裝置在寫錄該 一特疋寫錄功率 時調整該資料記 功率，使該資料 錄功率將該輸入 單元上。 第21項所述之方法，其中於步驟⑷中， 依據該某一特定之該複數個儲存單元之 碼發生錯誤之數目，同時決定該資料記 某一特定之該複數個儲存單元時所需的 ;且於步驟（d)中’依據該寫錄階段表同 錄裝置之該特定寫錄速度與該特定寫錄 記錄裝置以該特定寫錄速度及該特定寫 資訊寫錄到該某一特定之該複數個儲存 23、如申請專利範圍第21項所述之方法，其中該預設控制資 ill瑪係為對該伺服執道作FM調變以指示該伺服轨道絕對 時間位置之ATIP碼。 (請先閩讀^:'®之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局S工消費合作社印製 本紙張尺度逋用中國國家標準（CNS 規格（2丨〇 X邛7公釐）
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