TW432032B - Preparation of 6-aminocapronitrile - Google Patents

Description

M432032 五、新型說明： 【新型所屬之技術領域】 本創作係有關於測定透光率之機構與技術，尤其是 一種透光率檢測系統。 【先前技術】 科技發展’觸控式的螢幕面板已逐漸應用於於各項 科技產’像是智慧型手機、平板電腦或顯示器等。在 各式觸控螢幕上方’有一玻璃面板，該玻璃面板之透光 率必須良好，才不會造成其下方觸控螢幕所顯示的影像 模糊，或影響其觸㈣效能，若是錢面板的透光能力 不佳’不僅使用者觀看顯示影像時會不清冑，觸控面板 感應的能力也會下降，變的較為遲鈍。因此，如何測定 並分析各式用於觸控螢幕下方之玻璃面板的透光能力輿 狀態，為現今一項重要的技術。 市面上已有許多測定分析透光率的相關儀器但專 =測量與分析用於觸控螢幕上方的玻璃面板透光狀態 的儀器與技術尚需加強與開發。 以上為關於透光率分析與測量儀器的缺點，本創作 之發明人亟需構思一種新技術以改善其問題。 【新型内容】 斤乂本幻作的目的係為解決上述習知技術上的問 3 M432032 題，本創作中提.出一種透光率檢測系統，利用各式不同 的光源，檢測與分析各式物品的透光能力，尤其是應用 於觸控螢幕上方的玻璃面板。本創作將光源穿透待測物 後之光譜能量分布與未穿透待測物時的光譜能量分布， 利用光譜儀進行分析，如此可得知待測物之透光率，且 利用不同光譜之光源，也可得到待測物在不同光源下所 擁有之透光率。 φ 為達到上述目的，本創作中提出一種透光率檢測系 統，包含：一光源，利用該光源檢測一待測物的透光效 果，一光源導光光纖，該光源導光光纖用於將該光源的 光傳導至後方的元件，透過該光源導光光纖，該光源處 的光會以點光源的形式傳遞至後方；一聚焦系統，當該 光線離開該光源導光光纖時會發散，所以該聚焦系統將 來自該光源導光光纖而來的點光源聚焦使其成為直線光 束並垂直照射至該待測物上；一光接收器，可用於接 鲁收來自該聚焦系統的光線，並將光適當的導引到後級裝 置；一光譜儀導光光纖’該光譜儀導光光纖一端位在該 光接收器内部，用於接收光接收器中的光線，並連接該 光接收器與後方元件，將來自該積分球之出口端的光束 傳送至後方元件進行分析；以及一光譜儀，該光譜儀將 該光譜儀導光光纖傳遞的光束進行分析，以得知該光源 經過該待測物後所產生的光譜，並將通過該待測物的光 譜與未通過該待測物的光譜做分析以求得待測物的透光 率。 4 M432032 由下文的說明可更進一步瞭解本創作的特徵及其優 點’閱讀時並請參考附圖。 【實施方式】 兹謹就本案的結構組成，及所能產生的功效與優 點’配合圖式’舉本案之一較佳實施例詳細說明如下。 鲁請參考圖一，本創作之透光率檢測系統，包含： 一光源10 ’該光源1 〇較佳者為一含有紅外光譜的光 源’利用該光源1 〇檢測待測物的透光效果。 一光源導光光纖20，該光源導光光纖20用於將該光 源10的光傳導至後方的元件，透過該光源導光光纖2〇， 該光源10處的光會以點光源的形式傳遞至後方。 一聚焦系統30’當該光線離開該光源導光光纖2〇 時，該光線有如一點光源，因此會發散，所以該聚焦系 統30係利用一凸透鏡31將來自該光源導光光纖2〇而來 的點光源聚焦使其成為直線光源，並垂直照射至待測物 40上。本實施例中，利用玻璃作為待測物40，但本創作 不侷限於測定玻璃的透光率。 一套筒50’該套筒50之兩端呈開口，而令從一套筒 進入端51進入之偏向於準直之光線可通過套筒50内部 而由套筒出口端52傳送出來，如圖二所示。所以可以遮 蔽由旁侧進入之具干擾性的光線，而避免此干擾性光線 slUir誤差。其中該套筒50内部有數個套筒檔板 光由^卷^板53可阻擋斜射的偏光’只令偏近準直的 尤由該套疴出口端52傳出。 套筒50積的刀tVl ’該積分球6〇之接收端61接收通過該 兮積八M ft/ ’並使其於該積分球6G内部不斷反射。 的體積自内部往該積分球之出口端62方向 該出口端則位於體積最小之處，為—微小的出口， 球^該直線光經過積分球60内部後會自該積分 内部不斷反Γ 6 2得到―光束’該光束因在該積分球6 0 得到一#Φ ’會擁有平均的物理性質，不會因為只有 摘^成結果誤差°該積分球60的出口端62 ;積八玻^Γ與該積分球60内部總面積的比例，只佔 份’可藉由該出口端62摘取光束 w 積刀球60的内部總面積以得到通過該套 疴50的光束總能量。 * 積八導光光纖7g’該光譜儀導光光纖7G連接該 積刀求6 0與後方元件，將今籍八社β n a b 束傳送至後方元件進行= 之出口端62的光 光谱儀80,該光譜儀8〇將該光 傳遞的光束進行分#，,田料九先纖70 徭所U 析得光源10經過待測物40 =: 並將通過待測物4〇的光譜與未通過待 ^勿40的㈣做分析以求得待測物4()的透光率。 透過不同的光j；片，#止_、 同頻譜下之透光率 儀8〇可分析出待測物40於不 M432032 ，參考圖四，其㈣本創作之第二實關在本實 用；I：1 F1同於上述實例的几件以相同的編號顯示，因其功 =同所以其細部並不在文中重複說明，本例中僅說明 一隹IS之處。其中’該套筒50與該積分球60可改為 90#於错該集光器9〇較佳者為一凸透鏡’該集光器 而姦广套琦5〇之後’令通過該套筒50的直線光聚隹 光纖70聚Λ效果’因而得到一光束再藉由該光譜儀導光 九纖70傳遞至該光譜儀80進行分析。 本創作係用於測定物品的透光率，所以必須先得到 j源10未通過物品時的光譜’再與通過待測物4〇的 先；曰進行分析以求得待測物40的透光.率。應用時，先啟 =光源1G’並透過光源導光光纖2Q將光傳至該聚焦系 統3〇，當該光源10離開該光源導光光纖2〇時，該光源 ίο有如-點光源，因此會發散，所以該聚焦系統3〇係利 凸透鏡31將來自該光源導光光纖2〇而來的點光源 /…、使其成為直線光源，並垂直傳送至該套筒5〇，該積 分球60之接收端61接收通過該套筒6〇的直線光並使 其於該積分球60内部不斷反射，便會自該積分球6〇的 出口端62得到-光束’該光束因在該積分球6〇内部不 斷反射’會擁有平均的物理性質，不會因為只有得到一 光束而造成結果誤差，且可將出口端62得到之光束能量 乘以該積分球60的内部總面積，以求得經過該套筒5里〇 後光線的總能量。該積分球6〇將收集到的光束透過一光 .譜儀導光光纖70傳遞至該光譜儀‘80進行而得到該光源 M432032 10之光譜。本實施例中，以玻璃製的觸控面板為待測物 40 °同上述步驟，但此次必須令通過該聚焦系統30所得 之直線光源，垂直穿透玻璃樣片。玻璃樣片後方的套筒 50使該積分球60所接收的光，為透過該玻璃樣片的直線 光。該積分球60之接收端61接收通過該套筒50的直線 光’並使其於該積分球6〇内部不斷反射，便會自該積分 球60的出口端62得到一光束。該積分球6〇將收集到的 光束透過一光譜儀光纖線路7〇傳遞至該光譜儀⑼進行 而得到該光源10通過玻璃樣片後的光譜。該光譜儀8〇 再$析兩次動作的光譜能量分佈，透過兩結果的比較來 測量玻璃樣月的光譜透光率。#中，利用不同的光源， 即可得知待測物4〇在不同頻譜下的透光率。 本創作_利用各式不同的光源， ’檢測輿分妍夂夫私^

上列詳細說明係針對本發明 f 可行實施例之具體 8 M432032 說明，惟該實施例並非用以限制本發明之專利範圍，凡 未脫離本發明技藝精神所為之等效實施或變更，均應包 含於本案之專利範圍中。 M432032 【圖式簡單說明】 圖一為本創作示意圖 圖二為套筒之剖面示意圖 圖三為積分球之剖面示意圖 圖四為本創作之第二實施例 【主要元件符號說明】

10 光源 53 套筒檔板 20 光源導光光纖 60 積分球 30 聚焦系統 61 接收端 31 凸透鏡 62 出口端 40 待測物 70 光譜儀導光光纖 50 套筒 80 光諸儀 51 套筒進入端 90 集光器 52 套筒出口端

Claims (1)

1. M432032 六、申請專利範圍： 1. 一種透光率檢測系統，包含: 一光源’剎用該光源檢測一待測物的透光效果； 一光源導光光纖’該光源導光光纖用於將該光源的 光傳導至後方的元件，透過該光源導光光纖，該光源處 的光會以點光源的形式傳遞至後方； 一聚焦系統，當該光線離開該光源導光光纖時會發 散所以該聚焦系統將來自該光源導光光纖而來的點光 源聚焦使其成為直線光束’並垂直照射至該待測物上； 一光接收器，可用於接收來自該聚焦系統的光線， 並將光適當的導引到後級裝置； —一光譜儀導光光纖，該光譜儀導光光纖一端位在該 ^接收器内邛，用於接收光接收器中的光線並連接該 光接收器與後方元件，將來自該積分球之出口端的光束 傳送至後方元件進行分析；以及 、儀，該光譜儀將該光譜儀導光光纖傳遞的光 参進仃分析，以得知該光源經過該待測物後所產生的光 曰並將通過該待测物的光譜與未通過該待測物的光譜 做分析以求得待測物的透光率。 2·如申請專利範圍第1項之透光率檢測 該光接收器包含： 套筒該套ΐ之兩端呈開口，而令從一套筒進入 M432032 : = 於準直之光線可通過套筒内部而由套筒出 光線，而硝’所以可以遮蔽由旁側進入之具干擾性的 光線而避免此干擾性光線造成測量上的誤差；以及 本：ί分球，該積分球之接收端接收通過該套筒的 部後會自^料斷反射該光經過積分球内 猜八出口端得到H該光束因在該 :内⑷不斷反射’會擁有平均的物理性質，不會因 為只有得到-光束而造成結果誤差。、不會因 請專利範圍第1項之透光率檢㈣統，其中 該先接收器包含： 集光器，令通過該套筒的直線光聚焦而產生聚光 而侍到一光束再藉由該光譜儀導光光纖傳遞至 該先谱儀進行分析。 4’如申請專利範圍第1項之透光率檢測系統，盆中 該光源為—含有紅外光譜、雷㈣譜或—般光譜的光源。 5.如申請專利範圍第1項之透光率檢測系統，其中 該聚焦系絲凫—儿、头k , 尤马凸透鏡，將來自該光源導光光纖而來的 點先源聚焦使其成為直線光源。 6·如申請專利範圍帛1項之透光率檢測系統，其中 該待測物為破璃。 rj “雄申請專利範圍第1項之透光率檢測系統，其中 該光Μ儀可分析出待測物於不同頻譜下之透光率。 12 1V1H-JZUJZ 8 如申姓 該積分厂甲=專利範圍第2項之透光率檢測系統，其中 端值1球内部有—擋板，防止光源進入後會直接自出口 傳出’而無法在内部進行反射。 哕籍八t申請專利範圍第2項之透光率檢測系統’其中 内\:二出口端所擷取之光束能量’乘以該積分球的 P總面積可得到通過該套筒光束的總能量。 申請專利_第2項之透光率檢測系統，其中 :光只㈣板’該套筒標板可阻擋斜射的 、·？偏近準直的光由該套筒出口端傳出。 11·如申請專利範圍第3項之透光 中該集光器為一凸透鏡。 d系統，其