TW412405B - Device for detecting biological deposits on the surface of a tooth - Google Patents

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TW412405B
TW412405B TW088114948A TW88114948A TW412405B TW 412405 B TW412405 B TW 412405B TW 088114948 A TW088114948 A TW 088114948A TW 88114948 A TW88114948 A TW 88114948A TW 412405 B TW412405 B TW 412405B
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Werner Muller
Michael Schopplein
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Hund Helmut Gmbh
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Description

% 88114948 ^11]¾¾¾ 中文說明書修正頁(89年8月) 五、發明説明(
曰 修正 經濟部中央樣準局黃工消费合作社印製 度為止。如在刷牙程序中使用牙粉,該牙粉最好係不含可 由偵測裝置以熒光放射波長測得之熒光成分。 本發明係僅以參考下述圖式之範例說明,圖式係包括: 圖1係說明無生物沉澱物之牙齒表面自髏熒光放射與一受 測牙齒表面上牙斑沉澱物之波長超過420- 750 nm以上之自體 熒光放射的強度/波長曲線圖。 圖2係說明無生物沉澱物之牙齒表面自體熒光放射與一受 測牙齒表面上波長530 nm以上之自體熒光放射的強度/波長 曲線圖》 圖3係說明牙斑自體熒光放射強度/波長曲線圖。 圖4係說明供照明與偵測裝置用之光纖引光器橫截面圖。 圖5係本發明之該裝置探測頭縱截面圖。 圖6係供本發明裝置用之一光學系統簡易配置圖。 圖7係本發明裝置使用時之簡易配置圖。 圖8係本發明一牙刷之簡圖。 圖9係本發明裝置之一使用模式。 圖1 〇係本發明裝置之另一使用模式。 圖11及圖12係一排牙齒之熒光放射強度曲線圖。 圖1 3係沿牙齒垂直軸線之熒光放射強度曲線圖。 主要元件符號說明 11 放射強度/波長曲線 22 自體熒光強度 12 放射強度/波長 23 自體熒光強度 21 自體熒光強度 24 一段具有清潔琺瑯質表面$ -19 本紙張尺度遑用中困國家標準(CNS ) A4規格(210X:2们公漦) [ n ΙΊΙ I ί ί n ~~ 訂 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 Α7 Β7 五、發明說明h ) 本發明係關於一種用於偵測生物沉澱物,特別關於用於 偵測牙齒表面牙斑之新型裝置β本發明係特別關於以使用 熒光放射測量爲目的之偵測該沉澱物之裝置。本發明係更 特別關於爲達該目的之可配置於手動或電動牙刷内的裝置。 本發明使用之“生物沉澱物,,術語係指如牙斑,細菌,牙 垢,牙石等生物引起之沉澱物而言,該等沉澱物通常係不 合牙齒衛生。牙斑係部份因細菌在牙齒上活動而產生之合 成有機沉澱物或食物沉澱於牙齒上所造成之污染,同時也 係不想預見之牙齒衰退先兆及齲齒之主因。 於去除沉澱物前係應先用’例如用牙刷,偵測牙齒上沉 澱物之所在’並指示應集中清理之區域。該等沉澱物係難 以在牙齒上原有位置偵測到之有機體。故偵測牙斑係特別 重要。就偵測牙斑而言,使用熒光偵測係眾所周知之方法 。在最新技藝中’係有二種常見之使用熒光偵測牙斑方法 ’即二次熒光法及自體熒光法。在二次熒光法中,受懷疑 具有牙斑之牙齒係用一種熒光標示材料處理,該材料係易 凝固於牙斑’及於未凝固之多餘材料自牙齒清洗後,凝固 於牙斑之標示材料回應激勵照射之熒光放射係接受偵測而 顯示牙斑之存在。專利申請書W0 92/〇6671及W0 97/01298係 披露以二次熒光爲基礎之標準方法及執行該方法之裝置。
自體熒光方法係不使用熒光標示,而係另藉激勵照射偵 測牙斑本身對照明所反應之熒光放射。US 5382163,DE 29704185,DE 29705934,ΕΡ 0774235,及WO 97/01298 係披 露該種方法及執行該方法之裝置。通常在該等披露中,牙 本紙張又度適用中國國家標準(CNS)/\4規恪(210 X 297公釐) -------------^ i I--ι!^·!ΊΙ!-線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 412405 第88114948號專利申請案 中文說明書修正頁(89年8月) 五、發明説明(Wa)
經濟部中央標隼局員工消f合作社印装 31 放射峰 76 引光器 32 放射♦ 77 偵測器 41 引光器 78 信號/數據處理裝置 42 導管 79 指示器裝置 43 激勵照射用之光纖 81 牙刷 44 供放射照射用之光纖 82 刷柄 55 探測頭表面 83 刷頭 56 透明探測頭護蓋 84 一簇清潔用刷毛 57 端蓋 85 頸部區域 61 發光二極體 86 連接部位 62 二向色鏡 87 馬達 63 二向色鏡 88 驅動裝置 64 二向色鏡 89 刷頭 65 聚焦鏡頭 91 牙齒 66 引光器 91A 牙齒上具有生物沉澱: 67 牙齒 92 牙齒 68 鏡頭 92A 牙齒上具有生物沉殿: 69 偵測器 93 牙齒 71 發光器 93A 牙齒上具有生物沉澱: 72 引光器 94 牙齒 73 探測頭 96 牙齒間間隙 74 受測牙齒表面 97 牙齒間間隙 74A 牙齒表面 98 牙齒間間隙 75 沉澱物 99 汞合金填料 -19a- -------^----------訂—-----線 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210 X 297公釐) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(2 ) 斑之自體费光放射係以約600 nm以上之波長連同牙斑一起 偵測。 已知光學方法係也用於偵測齲齒,即偵測因牙斑未移除 所導致牙齒疾病之方法。該種方法與裝置係披露於如US 4 290 433 , EP 0 862 897及WO 97/42869中,但該方法係無法偵 測牙斑沉澱物。 以最新技藝披露之用於偵測牙斑方法與裝置係未能證明 爲最佳者’特別於具有相當少牙斑存在時爲然—即良好之 刷牙可使牙斑在構成前即已清除。牙斑沉澱物係具有因人 而異之不同之特性,因此’希望提供一可《人性化”之系統 。以及為塗费光標示材料至牙齒之方法係明顯地不方便。 因此,本發明之第一概念係提供一種裝置與方法,以用 於自活有機體中偵測牙齒上之生物沉澱物,該裝置與方法 係至少可解決部份最新技藝問題。 根據本發明之第一概念,一種用於偵測牙齒表面上生物 沉澱物之裝置係包括: 照明裝置,係供引導激勵照射至一受測牙齒表面上之用; 偵測裝置,係供以一大致無生物沉澱物牙齒表面之自體 熒光放射波長偵測受測牙齒表面熒光放射之用; 裝置,係供以生物沉澱物少於該受測牙齒表面之一大致 無生物沉澱物牙齒表面的自體熒光放射波長使該受測牙齒 表面之熒光放射強度與自體熒光放射強度相比較用; 裝置,係供與比較裝置一同使用,以獲得受測牙齒表面 上生物沉澱物之存在;及 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) I----------- 裝- ------許---1---丨丨|線_ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 第88114¾¾¾身利净請案 中文說明 継¥1 9年8月)
五、發明説明(16b) 101 牙齒 109 探測頭 102 牙齒 110 齒銀 102 A 具有生物沉殿物存在區域 111 齒 103 牙齒 710 電源供應器 103A 具有生物沉澱物存在區域 711 控制器 104 牙齒 810 刷頭 104A 具有生物沉澱物存在區域 910 熒光放射強度 105 汞合金填料 911 低峰及平穩段 107 間隙 912 最低之學 108 探測頭- 參閱圖1知,自體熒光放射之波長(nm)係以水平抽線說明 及強度(任意單位)係以垂直軸線說明》—清潔之受測牙齒表 面,即用已知方法清除生物沉澱物後之無生物沉澱物的牙 齒表面,係用波長< 4 2 0 nm之激勵照射照明,及無生物沉;殿 物牙齒表面之熒光放射強度係用一傳統之外熒光偵測顯 ί Ί 11 Γ"訂 ^ ~I 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中夾標準局貝工消費合作社印製 19b- 本紙乐尺度適用中國國家樣準(CNS ) Μ規格(210X297公釐> 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ----------B7____ 五、發明說明(3 ) 指示裝置,係供向裝置使用者指示該生物沉澱物存在之 用。 爲便利计,一牙齒表面上已知具有之生物沉澱物比該受 測牙齒表面上具有之生物沉澱物少時’係簡稱爲“清潔,,牙 齒表面。一清潔牙齒表面係可能具有生物沉澱物在其上, 仁>於受測牙齒表面上具有之生物沉澱物,清潔牙齒表面 上最好係無或大致無生物沉澱物。 本發明概念之裝置係以發現一無生物沉澱物之牙齒表面 爲基礎,即當該無生物沉澱物之牙齒表面受激勵照射照明 時’其係發射一峰値強度約爲450 nm之強且易測的自體榮 光放射’但其在較大波長時係具有一不可忽視之強度,及 該自體熒光放射係會因即使少量,如牙齒表面牙斑之生物 沉澱物存在時’而骤然衰減,這樣,如生物沉澱物存在於 牙齒表面之上時,該自體熒光放射之強度即會減弱。該裝 置係可發現此種特性之自體熒光放射比較不受牙齒表面上 其他特性如由於年齡,性別,煙垢等自然變化引起之牙齒 顏色及固有反射性之影嚮;這樣,所採用之方法與裝置係 確不受使用該裝置之個人牙齒變化的影嚮。同時,確信大 多數商用牙膏係不發射回應照射之熒光,該照射係致使牙 齒表面或其上之生物沉殿物發射费光,及以光譜與固有|法 瑯質區分,因此不相信其會干擾本發明裝置之操作。 爲達激勵熒光之目的,一慣用之激勵照射波長係約在420 nm以下,該較短波長之照射係會在某些環境中傷及牙齒组 織。因此爲安全計,激勵照射最好係具有一470±40nm之波 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x 297公釐) -----II I ! I ------!贫---Ί I I---線 * (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
412405 第88114948號專利申請案 中文說明書修正頁(89年8月)j-——~· 五、發明説明(2G) 置係由使用者藉控制器711控制,該控制器係包括一簡單之 開/關電門及/或一模式選擇電門,以決定指示器裝置7 9應 供給之信號特性,及/或該裝置之操作模式,即偵測一大致 無生物沉)殿物牙齒表面熒光放射之波長,或沉澱物之熒光 放射之波長,或二者之波長的模式6 使用時’探測頭73係置於鄰近一參考牙齒表面74A之處。 發射器7 1及偵測器77操作係調製成同步。發射器71發射之 激勸照射係經引光器7 2引導至表面7 4,及提光放射照射, 即對應一大致無生物沉澱物牙齒表面熒光放射波長,或生 物沉澱物熒光放射波長之熒光放射,該熒光放射係由探測 頭7 3收集並經引光器7 6引導至偵測器7 7。發射器7 i及偵測 器7 7 2操作係調制成同步B偵測器7 7所發之電子信號係輸 入於信號/數據處理裝置78,及信號/數據處理裝置78回應 之輸出信號係輸入於指示器裝置79,以提供一適當之信號 予使用者。 在一使用模式中,探測頭7 3係置於鄰近—參考牙齒表面 7 4 A之處’即如使用者之無生物沉澱物之門牙處,及熒光 放射,即對應一大致無生物沉澱物牙齒表面熒光放射波長 ,或生物沉澱物如牙斑熒光放射波長之熒光放射,該熒光 放射係以前述之調制方式由探測頭7 3收集並經引光器7 6引 導至偵測器7 7。偵測器7 7所發之電子信號係輸入於信號/數 據處理裝置78,及該信號係用以產生強度參考數據,以供 該裝置後續偵測受測牙齒表面7 5牙斑之生物沉澱物之用, 即在信號/數據處理裝置7 8中與受測牙齒表面7 4熒光放射測 試數據相比較。在該模式中,指示器裝置7 9係指示使 -23 - 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210><297公釐丁 ----------„--裝丨.-------^訂—-----線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
A7 _____B7___ 五、發明說明(4 ) 長。最佳適用之照明装置係於下述作更詳細説明。 一無生物沉澱物之牙齒表面係會發射一波長範園高於420 nm之熒光放射,如圖1所示’其峰値強度約在450 nm以上。 因此,偵測裝置即可以該高於420 nm之波長偵測熒光放射。 爲適於使激勵照射與熒光放射區分,該偵測裝置係以高 於520 nm之波長偵測熒光放射。在該波長時,自無或大致 無生物沉殿物牙齒表面之自體熒光放射係仍強烈。最好係 以咼於530 nm,如以530-630 nm之波長,測量該熒光放射。 供比較受測牙齒表面與清潔牙齒表面相對自體熒光放射 強度用之裝置係可包括一電子信號/數據處理系統,以處理 一對應該自體熒光放射之電子信號。該系統最好係能測量 強度/波長曲線下方之區域。可執行此項工作之適當電子信 號/數據處理系統係相當普遍。 一清潔牙齒表面之自體熒光放射強度係可用多種方法決 定ΰ 在本發明裝置之一結構中,全無或大致無生物沉澱物牙 齒表面之自體癸光放射強度係以前述個人之已知激勵照射 強度常數處理。該一強度係可以經驗決定及以參考標準儲 存於裝置内建之電子及/或軟體中並提供使用者參考。 在另一種結構中,該裝置係首先用於使用者之清潔牙齒 表面,如用於齒冠或門牙,該處通常係不積存或積存相當 少之如牙斑的生物沉;殿物。在大多數情況下,該“清潔,,表 面係當作一大致無生物沉澱物之牙齒表面。一清潔表面之 自體熒光放射強度係可測得,及作爲基準,以供與受測牙 - ----------- 裝—— I — — I 訂- — —1 — !-線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 第88114逆申請案 中文說明年8月) 五、發明説明(21 ) 才!钯)“ 經濟部中央橾準局冕工消費合作,杜印¾ 用者該參考數據已產生。 參考圖8知,係一以簡圖說明之完整牙刷8 1。該牙刷8 j係 包括一刷柄8 2,一具有一簇清潔用刷毛8 4之刷頭8.3,及在 其間之連接頸部區域8 5。刷頭8 3係可自頸部區域8 5之連接 部位8 6拆卸。自刷頭8 3突出且平行於刷毛8 4者係一探測頭 7 3 ’该探測頭係具有如圖5所示之結構,即具有一與刷毛 84之長度,直徑及構造相同之柔軟,可撓曲之光纖束。一 探測頭7 3係示於刷頭8 3中,但刷頭8 3中係可具有二具或以 上之探測頭73。探測頭73係藉引光器72,76連接至刷柄 8 2,在該柄中係具有一發光二極體發光器7 1,偵測裝置7 7 ,信號/數據處理裝置7 8及電源供應器71〇,並在其外側表 面上具有一指示器裝置79及控制奴711 »該連接部份86之結 構係可使探測頭73與刷柄82間具有良好之光學連接。 在使用時,牙刷係由控制鈕71 i控制及作刷牙用。探測頭 7 3係依前述之程序偵測生物沉澱物之存在,及以指示器裝 置7 9指示使用者該沉派物之存在,指示器裝置7 9係也可指 示使用者該裝置之開啟,電池電量低,連接部份86之連接 不當或因刷毛84上之探測頭73磨損需更換等。如牙刷指示 使用者,牙垢係存在,使用者應繼績刷牙直至牙垢清除為 止。該刷柄82係也可包括任意選擇之馬達87及驅動裝置88 ’供作驅動一電動牙刷刷頭8 3之用。 圖8係也說明二具有探測頭73之牙刷刷頭89,81〇。在刷 頭89中,二探測頭73係沿牙刷81之刷頭·刷柄縱向軸線而 分開配置,及在刷頭81〇中,二探測頭73係以橫跨刷牙刷 -24 - ^紙張尺巧用中國國家縣(CNS)A4難( 210X297公釐) ^---- ------Γ-1Τ—-----^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
4^S4〇S A7 ___B7__ ~ "' I 一 五、發明說明(5 ) 齒表面之放射強度比較之用。於裝置用於使用者之一清潔 牙翁表面後,該裝置係繼續用於該受測之牙齒表面,及作 自清潔牙齒表面量得與自受測牙齒表面量得之自體费光放 射之比較。 在另一種結構中,該偵測裝置係可在使用者牙齒表面上 移動,即刷過多顆牙齒之表面,這樣,在該裝置移動中, 激勵照射係引導至相同或不相同之複數牙齒表面上。該等 表面上係可具有不同數量之生物沉澱物,即有些牙齒表面 上具有相當少之生物沉澱物及可達對受測牙齒而言之“清潔 ’’表面。例如,該偵測裝置係可在如前述之大致無生物沉澱 物之牙根與牙冠間運動,或在門牙上運動。“動態”測量一 詞係指裝置在使用者牙齒上之運動而言。 因本發明裝置之結構係在使用者口中牙齒表面上運動, 故其係會遇到受測牙齒上具有生物沉澱物之區域或不具有 生物沉澱物之清潔區域。結果,當該裝置在使用者口中牙 齒表面上運動時所摘測到之费光放射強度係具有不同之變 化,即在具有生物沉澱物之受測牙齒上之強度最小與清潔 牙齒上之強度最大。因此,在使用者口中牙齒表面上運動 時所偵測到之费光放射變化係可能會有—系列之隨時間而 變之強度峰及/或平穩狀態(以下簡稱“峰”),及諸峰係具在 有生物沉殿物之受測牙齒與清潔牙齒之間呈現不同之變化 ’發生於前者之年係相當低’但發生於後者之峰則係相當 高。在高低峰間之高度差係分別代表牙齒上生物沉澱物量 之差。以此結構之裝置’係可偵測一單一牙齒上生物沉澱 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x 297公釐) II-----------裝----- I!17丨丨 T---! ·線 (請先間讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 A7 B7 五、發明說明u ) 物之存在。 於該裝置運動於數顆牙齒或整口牙齒之上時係可交替偵 測熒光放射峰,而測得一顆或多顆牙齒上存在之生物沉澱 物。此一動作係可指示使用者牙齒上有生物沉澱物之存在 ,但不能精密地指出生物沉澱物所在之牙齒。 該裝置係適於増加内建電子及/或軟體之裝置或以其替代 ’以利用脈衝幅度分析(一已知技藝)測量高低峰間之差。 當牙齒清潔過程中,存在之生物沉澱物經清除至牙齒表面 清潔時,該差之改變即會減低。 該裝置係適於利用脈衝幅度分析測量高低峰間之平均値 。當牙齒清潔使存在之生物沉澱物清除,及牙齒表面逐漸 清潔時,該平均値係會增加。 照明裝置未引導激勵照射至牙齒表面及/或偵測裝置未能 置於自牙齒表面債測费光放射之位置時,係可能會有“假” 象之最小熒光放射出現。例如,當照明裝置及/或偵測裝置 瞄準或鄰近牙縫,口中非牙齒之部位,或牙齒填料等時係 可能發生此種“假”象。本發明之裝置係構造得可忽略該任 何低於熒光強度峰値規定標準之“假,,象,即係僅反應在規 定範園内,自牙齒表面之熒光放射係確定會發生之峰値。 因此,根據前述本發明裝置之實例,該偵測裝置之結構 係: 偵測一時段中之熒光放射,即該偵測裝置係自一牙齒區 域運動至另一或更多牙齒區域之時段; 偵測放射強度峰値;及 -9 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝--------訂i — '------線- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 41 »405 A7 __ B7 五、發明說明(7 ) 量取並比較峰之高度。 在本實例中’該裝置係特別構造得可測量極低與極高峰 間之高度差’及同時測量生物沉澱物存在之差異,而顯示 予使用者。例如,一 5 - 9 0 %之差異係可能發生,如5 _ 5 〇 0/〇 。在本實例中’該裝置係可另構造得用以測量最低峰與最 向峰間之鬲度差,及同時計算其平均値,及連同平均値之 增加與生物沉澱物之存在—併顯示予使用者。平均値之增 加通常係5 - 9 0 %,如5 - 5 0 %。 就現代偵測電子及數據處理系統而言,該熒光放射強度 學値之偵測及該峰高度之測量與比較係輕而易舉之事。 在本發明裝置之另一種結構中,係可提供偵測裝置偵測 —相隔牙齒表面區域之熒光放射,及比較二相隔牙齒表面 區域之相對熒光放射強度’及使連同生物沉澱物在牙齒表 面存在之差異以及存在之沉殿物_併顯示予使用者。 如一相隔區域間之距離適當,則一區域係具有生物沉澱 物在其中而另一區域係清潔區域。二區域間之最大間隔係 可達自齒齦(即齒齦邊緣)至與齒冠接合之高度。通常,二 區域之間隔係自約2 mm至一牙齒之高度,即2-1〇 mm。 該種結構之裝置係具有二偵測裝置,該二俱偵測裝置係 以彼此相互對應方式配置,這樣,當該裝置置入口中時, 偵測裝置之一係可置於牙齒附近或接近牙齦之處,而另一 偵測裝置則位於或接近牙冠之處。例如,本發明之裝置係 包括一牙刷頭時,該二偵測裝置則以橫距該牙刷頭寬度(即 其方后垂直於牙刷頭之方向)之方式配置,這樣,該頭部供 -10- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ----I I--Γ I I H 裝---—— — — — 訂---1!!·線 — (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 A7 B7 五、發明說明(8 ) 牙刷使用時,該二偵測裝置即如前述之方式配置。 根據該實例之裝置係可具有至少二偵測裝置,至少二債 測裝置係以前述距離相間隔配置。該二相隔之熒光放射债 測係適於同時完成。在二相隔區域測得之榮光放射強度的 任何差異係會聯想到生物沉澱物之存在。當然該情況係會 發生於使用一相隔區域之時,即二或更多之偵測裝置之一 未在自一牙齒表面偵測熒光放射之位置時,如係在鄰近牙 齒之一間隙,口腔組織’填料等處之時。在此情況下,在 該相隔區域測得之熒光放射強度的任何差異係可能超出希 望在一具有生物沉澱物之受測牙齒表面與_清潔牙齒表面 間所發生之最大差異’及該裝置係可完全忽略該大於特定 値的差異,例如該僅反應特定限制間之差異。 在實作中,可發現即使當整個牙齒表面係“清潔”時,不 同牙齒區域中仍可能有不同之熒光放射。特別係熒光強度 沿牙齒垂直轴線成一梯度’較大梯度係在齒銀邊緣,接近 牙根之區域,而非在門牙外表或齒冠之處。該梯度係受生 物沉澱物存在之影嚮,如牙斑及累積在牙根附近之沉澱物 。因此,具有生物沉澱物存在之牙齒,其梯度係比清潔牙 齒之梯度更陡。因此,當本發明裝置自一牙齒表面移動至 另一牙齒表面時,係可觀察該梯度之存在及/或測量之。例 如,於清潔牙齒之過程中,該裝置係可偵測及/或測量該梯 度之變化,如梯度陡度之遞減;其原因在生物沉澱物已自 牙根清除,故在牙根與齒冠間之熒光放射強度之梯度係會 遞減°該裝置係可用其指至在一受測牙齒表面上生物沉澱 -11- 本紙張又度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x 297公釐) -------J----I · II -----訂·!Ί!--' (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ^tnm A7 — —___B7__ 五、發明說明(9 ) 物的存在。 前述説明實例中之裝置係特別適於偵測一單一牙齒上之 生物沉澱物,及也係適於债測複數牙齒或全口牙齒中何處 具有牙垢之存在用,以指至使用者在其全口牙齒中何處係 具有生物沉澱物存在。 本發明裝置之設定與校正,即偵測與測量及呈現受測牙 齒表面上生物沉澱物熒光放射強度範園及裝置回應強度範 圍之設定係本發明裝置特定之結構設計。使用現代化電子 及软體内建技術係較使用已知技藝之裝置更容易達成。例 如’本發明裝置係可設定,以不同之規定百分比回應清潔 牙齒表面與具有生物沉澱物之受測牙齒表面間之熒光放射 強度。例如’本發明之裝置係可設定,以1 _ 5 %,或1 _丨〇 % 或1 -20%或1 _3 0%之丨_90%百分比範圍回應清潔牙齒表面 與具有生物沉澱物之受測牙齒表面間之熒光放射強度。 可比較受測牙齒上,如牙斑,生物沉澱物存在之裝置係 也可包括一信號/數據處理系統,該系統係以程式結合受測 牙齒表面自體熒光放射強度與無牙斑生物沉澱物存在之牙 齒表面上自體熒光放射強度間的差異。該信號/數據處理系 統係可包括一特殊應用集體電路(ASIC)内建於該裝置中。 例如,數據處理系統係可使任何差異與如牙斑生物沉澱物 之存在結合。另該數據處理系統係可程式化’以僅與大於 預定量之如牙斑生物沉澱物之存在於前述範圍中結合。
本發明之更進一步概念係以一牙斑在一牙齒表面上固有 之自體熒光爲根據,例如,參考前述US 5382163,DE -12- (CNS)A.丨規格(210 X 297 公釐) (請先閱讀背面之沒意事項再填寫本頁) --I -----^ « I I 1 J 1--- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 Α7 Β7 4124〇β 五、發明說明(10 ) 29704185,DE 29705934,EP 0774235,及 WO 97/01298討論 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 之最新技藝,該等係披露該自體熒光放射之波長,該波長 係約600 nm。 當生物沉;殿物在牙齒表面上時,相信自體熒光放射屬牙 斑係可低於500 nm之波長照射時,最好以<450 nm之波長照 射,最大放射係在530 nm及630 nm之間,在特殊情況下, 係具有二最大放射,一爲540- 550 nm,及另一爲610- 620 nm 。二最大放射係最新之發現。 當牙齒上具有少量生物沉澱物,而無或大致無生物沉澱 物之牙齒表面上之自體熒光係甚密集,故沉澱物或沉澱物 所構成之牙斑的自體熒光放射係不予觀察,即其係由牙齒 表面材料本身之自體熒光所掩沒。但當在牙齒表面上生物 沉澱物之量及/或沉澱物隨形成時日増加,該沉澱物或沉澱 物構成之牙斑所放射之自體熒光通常係會增加,直至儘管 牙齒表面上有或無該沉澱物’該強度之自體熒光仍可偵測 得°當沉澱物很厚或已有時曰時,該沉澱物本身或其所構 成之領域係可在儘管自體费光具有牙齒表面材料時仍可測 量。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 因此,當僅少量或一層薄薄之生物沉澱物繼續存在時, 前述之本發明第一概念的裝置與方法係可使用,以偵測該 生物沉澱物,及當貝布大量生物沉澱物存在時,係可測量自 該生物沉澱物或由其構成之牙斑所放射之自體费光放射。 因此’在本發明一最佳實例中,本發明之裝置係更進一 步包括: -13 - 本紙張尺度適用令國國家標準(CNSM4規格(210 X 297公釐) 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 412405 A7 B7 五、發明說明(11 ) 偵測裝置,係以一牙齒表面上生物沉澱物所放射之自體 炎光放射波長彳貞測受測牙齒表面上之自體费光放射;及 裝置,係使該自體熒光放射與受測牙齒表面上之生物沉 澱物相比較;及 指示裝置,係使存在之生物沉澱物顯示予該裝置使用者。 該偵測裝置最好係说以牙齒表面上牙斑之自體费光放射 波長偵測該受測牙齒表面上之自體熒光放射。 债測具有牙斑自體螢光波長之生物沉搬物自體费光放射 之偵測裝置係披露於前述之最新技藝中。該裝置最好係能 偵測前述530 nm及630 nm間最大放射之一或二者皆可偵測。 如前述,使用自牙齒表面上如牙斑沉澱物之生物沉殿物 放射的自體熒光放射,相信係一新發明。因此,在本發明 之一更進一步概念中之供彳貞測一牙齒表面上生物沉澱物, 特別供偵測牙斑用的裝置,係包括: 偵測裝置,係供偵測受測牙齒表面上所存在生物沉殺物 偵測530 nm及630 nm波長間之自體熒光放射用; 裝置,係供以生物沉澱物之自體熒光放射敘述受測牙齒 表面上生物沉澱物之存在用; 指示裝置,係向使用該裝置者指示生物沉澱物存在之用。 自體熒光放射之偵測最好係以前述二最大放射之54〇_ 55〇 mn及610-620 nm波長之一執行或同時以二者執行。 生物沉澱物之自體熒光放射係適於藉直接激勵照射—受 測牙齒表面方式產生。該激勵照射係可使用本發明第—概 念裝置所使用之波長執行激勵照射。 -14- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A-l規格(210 X 297公釐) -------Li 11— 裳--------訂·---------線· (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 412405 a? ______B7__ 五、發明說明(12 ) 適用於則述概念及本發明最佳實例之照明裝置係一如發 光二極體之發光器。該發光器係能發射可見光譜藍色區域 之照射,但以包括430 nm及500 之照射爲最佳。以48〇 rnn±5〇nm發射照射之發光二極體係可自市場購得。該發光 二極體最好係低功率者以減少耗電,及以5_2〇mA操作最爲 適宜。 自孩發光二極體發射之激勵照射係可藉一引光器,如一 束或多束光纖,直接照射於牙齒表面。傳統之商用光纖係 可採用,但爲插入使用者口腔中,最好採用塑膠光纖而非 使用玻璃光纖,以避免刮傷使用者之牙齦或其他口腔组織 。當於激勵照射時’適用於光纖之材料係不得發射任何熒 光。0.25_2.0 mm(25〇微米·2.〇 mm)之光纖係適用於此目的 ’及一束達4 mm之光纖係適用於偵測牙齒表面上之牙斑生 物沉殿物區域。應瞭解,光纖係應位於發光器與受測牙齒 間之光徑中,以確保致使熒光放射之激勵照射波長能引導 至該受測之牙齒表面上。 如照明裝置以低於420 nm波長發射照射時,爲安全計, 最好係包括一截止濾光器,以防止該照射接觸使用者之組 織。適用之此型濾光器係很普遍。一種適用型別之濾光器 係二向色濾光器,即二向色鏡係可反射激勵照射波長及也 可傳遞發射之熒光照射波長,此係截止該低波長照射之低 廉且便利之方式。 該偵測裝置係可包括一普通型別如光電二極管之偵測器 。應瞭解,光纖係應位於偵測器與受測牙齒間之光徑中, -15- ^纸張尺度適用令國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)~~ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) --.--訂!!線_ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制^ A7
41240S B7___ 五、發明說明(13 ) <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 以確保致使熒光放射能引導至該偵測器。也應暸解,如— 具或多具鏡頭之聚光光學構件係應置於偵測器與受測牙齒 間之光徑中以確保致使熒光放射能集中於該偵測器上。偵 測裝置係也可包括一引光器,如前述之一束光纖,以?丨導 牙齒表面之熒光放射至一供熒光放射照射用之偵測器。 雖激勵照射及熒光照射可各自使用獨立之引光器,但也 可用一單一之引光器替代,以供兩引光器及已知型別之— 光束分離器/組合器長度重疊部份分離激勵與照射放射且適 當引光器及該光束分離/組合器引導。例如,該同一光纖係 可同時引導激勵與發射之费光照射,及該激勵與發射之费 光照射係可用二向色濾光器濾光。 最好係調制及/或鎖相該激勵照射於2 0 - 500 Hz以及费光 放射於100- 300 Hz,但以同步調制/或鎖相於2〇〇 Hz爲宜, 這樣’费光放射係很容易與使用者口腔外部光源之未調制 背景照射區分。調制最好係以約5 0 - 60 Hz之平均頻率爲宜 ’及應避免多重調制以免干擾使用者環境中之電氣照明。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在本發明之一取佳實例中’光纖係包括照明裝置引光器 及與該偵測裝置一同束於一適當之導管中,及以光學探測 頭爲末端’如一透明之蓋或一聚焦傳遞/收集探測頭。該探 測頭係可具有一具或多具鏡頭,以使照明裝置之激勵照射 聚焦於受測牙齒表面之上以及使受測牙齒表面上之费光放 射聚焦於引光器中。該光纖係可以隨機方式捆綁在一起。 另一種方式爲包括照明裝置引光器或包括價測裝置引光器 之光纖係可包括以一中央心芯,該心芯係包以分別包括偵 -16- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS>/\4規格(210 X 297公复) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 412405 Δ7 Α7 ___Β7 五、發明說明(14 ) 測裝置引光器或照明裝置引光器之一環狀或多角形之光纖 。如係使用分離光纖作激勵及放射照明之引光器用時,因 熒光放射照射強度低,故放射照明引光器最好係使用較多 之光纖。 指至該裝置使用者如牙斑之生物沉澱物存在之裝置係可 包括一電子裝置,該電子裝置應可提供使用者可目視之光 信號或可聽之聲音信號,以指示該生物沉澱物存在。例如 ’該裝置係僅於生物沉澱物存在量足夠時及存在之生物沉 澱物清除後,方發出信號時,或另一種方式係該裝置於該 生物沉澱物存在時不發出信號,但於生物沉澱物清除後方 發出信號。不同之指示模式係精於此技藝者所明暸。該裝 置之結構係已爲精於電子技藝者所明瞭。 在本發明之一最佳實例中,該裝置係包括—牙刷,如該 牙刷具有裝置以引導激勵照射至受測牙齒表面及裝置以引 導受測牙齒表面之熒光放射進入納於該牙刷頭之一根或多 根光纖中,該光纖係如前述之納於該牙刷頭且具有一光學 探測頭者’這樣,該光學探測頭係方便以正常約1 cm或更 短刷毛長度之距離接近一使用者的該受測牙齒表面。該牙 刷係也包括傳統之清潔用刷毛在其刷頭中,及在—實例中 ’清潔用刷毛係可包括或納有一根或多根具有光學探測頭 之光纖。該牙刷係一手動之牙刷,或係一電户牙刷則更方 便,即具有刷毛之刷頭係用一電動馬達驅動。 具有光學探測頭之刷頭係可爲牙刷之永久部份或最好係 可更換。照明裝置,偵測裝置及各種電子信號/數據處理裝 -17- 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)/\4規格(210x 297公釐) I I I I----r---丨 I I J ! 訂- I!· — !· , ---請先間讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 412405 ' A7 __B7___ 五、發明說明(15 ) 置等以及一如電池或電氣裝置之適當供電器係可配置於牙 刷柄中。如該牙刷係一電動牙刷,其中所有電氣裝置,如 驅動馬達等能配置於該牙刷柄中。 如本發明裝置配置於一牙刷中,該裝置之結構係應能指 示使用者牙齒表面上原始生物沉澱物之存在,以及能指示 牙齒經刷過一段時間後,生物沉澱物量之減少或已清除。 忒裝置之結構係應能指示使用者,生物沉殿物存在於牙齒 之位置’以連續刷牙而清除該沉殿物。 根據本發明係也提供一種牙刷,該牙刷係配置有前述之 裝置。該牙刷之結構最好係具有指示使用者原始存在於牙 齒上之生物沉澱物已清除的裝置,及/或具有指示使用者, 經刷牙後仍有沉澱物存在之裝置,故仍需繼續刷牙。 另外,該裝置係可包括一牙科用工具,如一適於牙科醫 生對病人執行現場檢驗用之工具。 在使用時,牙齒表面係先作初步濾漱洗清潔,以清除可 忐遮蔽爻測牙齒表面之雜物及鬆動之沉澱物與污染,而後 使用該裝置於該受測牙齒之表面。當該裝置指示使用者, 如牙斑之生物沉澱物存在於該受測牙齒時,該牙齒係應予 清洗,例如,用牙刷之毛及視情況用如牙膏之牙粉合成物 ,而後,再使用該裝置於該受測牙齒之表面,以決定何處 仍有沉殿物存在。如沉殿物仍存在時,則應重複前述清洗 步驟直至該裝置指沉殿物已清除爲止。另一特別方式係如 孩裝置包括一牙刷時,該裝置可簡單地以刷牙之程序使用 於該牙齒及連續刷牙直至該裝置指沉澱物清瞭已達滿意程 (諳先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) Ϊ 裝-------|贫---^------
% 88114948 ^11]¾¾¾ 中文說明書修正頁(89年8月) 五、發明説明(
曰 修正 經濟部中央樣準局黃工消费合作社印製 度為止。如在刷牙程序中使用牙粉,該牙粉最好係不含可 由偵測裝置以熒光放射波長測得之熒光成分。 本發明係僅以參考下述圖式之範例說明,圖式係包括: 圖1係說明無生物沉澱物之牙齒表面自髏熒光放射與一受 測牙齒表面上牙斑沉澱物之波長超過420- 750 nm以上之自體 熒光放射的強度/波長曲線圖。 圖2係說明無生物沉澱物之牙齒表面自體熒光放射與一受 測牙齒表面上波長530 nm以上之自體熒光放射的強度/波長 曲線圖》 圖3係說明牙斑自體熒光放射強度/波長曲線圖。 圖4係說明供照明與偵測裝置用之光纖引光器橫截面圖。 圖5係本發明之該裝置探測頭縱截面圖。 圖6係供本發明裝置用之一光學系統簡易配置圖。 圖7係本發明裝置使用時之簡易配置圖。 圖8係本發明一牙刷之簡圖。 圖9係本發明裝置之一使用模式。 圖1 〇係本發明裝置之另一使用模式。 圖11及圖12係一排牙齒之熒光放射強度曲線圖。 圖1 3係沿牙齒垂直軸線之熒光放射強度曲線圖。 主要元件符號說明 11 放射強度/波長曲線 22 自體熒光強度 12 放射強度/波長 23 自體熒光強度 21 自體熒光強度 24 一段具有清潔琺瑯質表面$ -19 本紙張尺度遑用中困國家標準(CNS ) A4規格(210X:2们公漦) [ n ΙΊΙ I ί ί n ~~ 訂 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 412405 第88114948號專利申請案 中文說明書修正頁(89年8月) 五、發明説明(Wa)
經濟部中央標隼局員工消f合作社印装 31 放射峰 76 引光器 32 放射♦ 77 偵測器 41 引光器 78 信號/數據處理裝置 42 導管 79 指示器裝置 43 激勵照射用之光纖 81 牙刷 44 供放射照射用之光纖 82 刷柄 55 探測頭表面 83 刷頭 56 透明探測頭護蓋 84 一簇清潔用刷毛 57 端蓋 85 頸部區域 61 發光二極體 86 連接部位 62 二向色鏡 87 馬達 63 二向色鏡 88 驅動裝置 64 二向色鏡 89 刷頭 65 聚焦鏡頭 91 牙齒 66 引光器 91A 牙齒上具有生物沉澱: 67 牙齒 92 牙齒 68 鏡頭 92A 牙齒上具有生物沉殿: 69 偵測器 93 牙齒 71 發光器 93A 牙齒上具有生物沉澱: 72 引光器 94 牙齒 73 探測頭 96 牙齒間間隙 74 受測牙齒表面 97 牙齒間間隙 74A 牙齒表面 98 牙齒間間隙 75 沉澱物 99 汞合金填料 -19a- -------^----------訂—-----線 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210 X 297公釐) 第88114¾¾¾身利净請案 中文說明 継¥1 9年8月)
五、發明説明(16b) 101 牙齒 109 探測頭 102 牙齒 110 齒銀 102 A 具有生物沉殿物存在區域 111 齒 103 牙齒 710 電源供應器 103A 具有生物沉澱物存在區域 711 控制器 104 牙齒 810 刷頭 104A 具有生物沉澱物存在區域 910 熒光放射強度 105 汞合金填料 911 低峰及平穩段 107 間隙 912 最低之學 108 探測頭- 參閱圖1知,自體熒光放射之波長(nm)係以水平抽線說明 及強度(任意單位)係以垂直軸線說明》—清潔之受測牙齒表 面,即用已知方法清除生物沉澱物後之無生物沉澱物的牙 齒表面,係用波長< 4 2 0 nm之激勵照射照明,及無生物沉;殿 物牙齒表面之熒光放射強度係用一傳統之外熒光偵測顯 ί Ί 11 Γ"訂 ^ ~I 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中夾標準局貝工消費合作社印製 19b- 本紙乐尺度適用中國國家樣準(CNS ) Μ規格(210X297公釐> 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 412405 a? __B7___ 五、發明說明(17 ) 微鏡測量之。該放射強度/波長曲線係以圖1中之線段1 !示 之。一最強放射係在450 nm之處。而後,該牙齒表面係敷 以一層新牙斑及以波長<420 urn激勵照射照明後之該牙齒表 面之自體费光強度係按前述再測量之。其放射強度/波長曲 線係以圖1中之線段1 2示之。可瞭解,該放射強度峰値係 大致衰減至410 nm。 參閱圖2知,自體熒光放射之波長(nm)係以水平料線説明 及強度(任意單位)係以垂直軸線説明。圖1中説明波長530 nm以上自體熒光強度之曲線區域係以放大方式説明。圖2 中之線段2 1係説明一大致無生物沉澱物牙齒表面之自體煢 光強度及圖2中之線段2 2及2 3係説明生物沉澱物繼續增加 時之自體熒光強度。應瞭解,用低於530 nm激勵照射產生 該較高波長時,係易於測得熒光放射強度之衰減。 圖2係也以簡圖説明一段具有清潔琺瑯質2 4表面之牙齒 ,在其上具有如牙斑之生物沉殺物正繼續增加厚度。該牙 齒之熒光放射強度係以I21,I22,及I23分別代表對應之清潔區 域及較厚之牙斑區域。 參閲圖3知,自體熒光放射之波長(nm)係以水平軸線説明 及強度(任意單位)係以垂直軸線説明。具有很厚新牙斑生 物沉澱物之受測牙齒表面係用波長< 420 nm之激勵照射照明 及敷於表面上沉澱物之自體熒光強度係用一傳統外熒光偵 測顯微鏡測量。最大強放射係在530 nm與630 nm之間所觀 察得之二最大放射,一爲圖3中之540- 550 nm峰3 1及另一爲 圖 3 中之 610-620 nm峰 3 2。 -20- 本紙張尺度適用中國國家標準(C1STS)A4規烙(210x 297公釐) (諳先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝--------許------I---線' 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 412405 Α7 Β7 五、發明說明(18 ) 參閲圖4知係一引光器4 1之截面。該引光器4 i係包括一 導管42,在該導管中係一束光纖43,44,光纖43係構成 一供激勵照射用之引光器43及光纖44係構成一供放射照射 用之引光器44。光纖43,44係隨機方式束捆在一起,但因 放射照射強度低,故供放射照射用之光纖4 4數量係多於供 激勵照射用之光纖43。 參閲圖5知,係以縱截面説明一配置於引光器4丨之探測 頭。與圖4相對應之零件係相同之號碼示之。光纖43,44 係終止於一共用探測頭表面55,該探測頭表面係在—透明 探測頭護蓋5 6之後方,並固持於一端蓋5 7中而形成—探測 頭。使用時,表面55之正面係可置於緊鄰該受測牙齒表面之 處。 參閱圖6知,係説明供本發明使用之一光學系統的簡要配 置。波長480 nm 士 50 nm之激勵光係藉發光二極體61產生。 —系列二向色鏡6 2 ’ 6 3 ’ 6 4引導波長480 nm之光至~聚焦 鏡頭65,該鏡頭係使該光線向引光器66聚焦。該等二向色 鏡係防止大量低於波長480 nm之光線導向該牙齒表面,以 減低使用者受光線之傷害。引光器6 6係一束光纖,光即沿 其引導至一牙齒67之表面,及熒光放射也係沿其折回。鏡 頭65係用以使該熒光放射聚焦,及該二向色鏡係僅傳遞波 長530 nm以上之照射至鏡頭6 8,鏡頭6 8係使該照射聚焦於 偵測器6 9。 參閱圖7知’係説明本發明裝置之簡單配置a該裝置係包 括一照明裝置,該照明裝置本身包括一爲發光二極體之發 -21 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇χ 297公釐 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -1 L---.---^ · I J.------. 412405 A7 B7 五、發明說明(19 ) 光器7 1及一聚焦系統,以引導發光二極體發射之激勵照射 ’沿一包括光纖之引光器72使激勵照射自如圖4及圖5所示 之探測頭7 3照射於一受測牙齒表面7 4上,該表面係具有如 牙斑7 5之沉澱物。牙齒表面7 4及/或沉澱物7 5係藉探測頭 7 3收集及由包括光纖之引光器7 6引導至偵測器7 7。此動作 係偵測牙齒表面7 4上之熒光放射。該放射係具有一波長, 該波長係與自一大致無沉殿物牙齒表面及或自沉澱物75之 自體熒光放射所共有。 自偵測器7 7之一電子信號係傳至信號/數據處理裝置7 8 。該裝置7 8係可包括比較器裝置,以供受測牙齒表面之自 體费光放射強度與一無生物沉殿物牙齒表面之自體费光放 射強度比較之用及結合裝置,以供結合自受測牙齒表面沉 澱物所得之比較及/或裝置,以依沉澱物之自體熒光放射敘 述受測牙齒表面沉澱物之存在。信號/數據處理裝置78係適 於包括一微處理器,及可預載標準參考強度數據,即一大 致無生物沉澱物牙齒表面上之自體熒光放射強度及/或牙斑 之自體熒光放射參考強度數據。 信號/數據處理裝置78之電子輸出係傳送至指示器裝置 79 ’以適當之信號指示該裝置使用者該生物沉澱物即牙斑 之存在,例如,指示沉殿物之存在與否,或原有之沉殿物 已清除。 照明裝置71,信號/數據處理裝置78及指示器裝置79係 由一電源供應器710供應電源。電源供應器710可係一調制 電源供應器,如係由信號/數據處理裝置7 8所控制。整套裝 -22- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (諝先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝--------訂----線 < 經濟部智慧財產局員Η消費合作杜印製
412405 第88114948號專利申請案 中文說明書修正頁(89年8月)j-——~· 五、發明説明(2G) 置係由使用者藉控制器711控制,該控制器係包括一簡單之 開/關電門及/或一模式選擇電門,以決定指示器裝置7 9應 供給之信號特性,及/或該裝置之操作模式,即偵測一大致 無生物沉)殿物牙齒表面熒光放射之波長,或沉澱物之熒光 放射之波長,或二者之波長的模式6 使用時’探測頭73係置於鄰近一參考牙齒表面74A之處。 發射器7 1及偵測器77操作係調製成同步。發射器71發射之 激勸照射係經引光器7 2引導至表面7 4,及提光放射照射, 即對應一大致無生物沉澱物牙齒表面熒光放射波長,或生 物沉澱物熒光放射波長之熒光放射,該熒光放射係由探測 頭7 3收集並經引光器7 6引導至偵測器7 7。發射器7 i及偵測 器7 7 2操作係調制成同步B偵測器7 7所發之電子信號係輸 入於信號/數據處理裝置78,及信號/數據處理裝置78回應 之輸出信號係輸入於指示器裝置79,以提供一適當之信號 予使用者。 在一使用模式中,探測頭7 3係置於鄰近—參考牙齒表面 7 4 A之處’即如使用者之無生物沉澱物之門牙處,及熒光 放射,即對應一大致無生物沉澱物牙齒表面熒光放射波長 ,或生物沉澱物如牙斑熒光放射波長之熒光放射,該熒光 放射係以前述之調制方式由探測頭7 3收集並經引光器7 6引 導至偵測器7 7。偵測器7 7所發之電子信號係輸入於信號/數 據處理裝置78,及該信號係用以產生強度參考數據,以供 該裝置後續偵測受測牙齒表面7 5牙斑之生物沉澱物之用, 即在信號/數據處理裝置7 8中與受測牙齒表面7 4熒光放射測 試數據相比較。在該模式中,指示器裝置7 9係指示使 -23 - 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210><297公釐丁 ----------„--裝丨.-------^訂—-----線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 第88114逆申請案 中文說明年8月) 五、發明説明(21 ) 才!钯)“ 經濟部中央橾準局冕工消費合作,杜印¾ 用者該參考數據已產生。 參考圖8知,係一以簡圖說明之完整牙刷8 1。該牙刷8 j係 包括一刷柄8 2,一具有一簇清潔用刷毛8 4之刷頭8.3,及在 其間之連接頸部區域8 5。刷頭8 3係可自頸部區域8 5之連接 部位8 6拆卸。自刷頭8 3突出且平行於刷毛8 4者係一探測頭 7 3 ’该探測頭係具有如圖5所示之結構,即具有一與刷毛 84之長度,直徑及構造相同之柔軟,可撓曲之光纖束。一 探測頭7 3係示於刷頭8 3中,但刷頭8 3中係可具有二具或以 上之探測頭73。探測頭73係藉引光器72,76連接至刷柄 8 2,在該柄中係具有一發光二極體發光器7 1,偵測裝置7 7 ,信號/數據處理裝置7 8及電源供應器71〇,並在其外側表 面上具有一指示器裝置79及控制奴711 »該連接部份86之結 構係可使探測頭73與刷柄82間具有良好之光學連接。 在使用時,牙刷係由控制鈕71 i控制及作刷牙用。探測頭 7 3係依前述之程序偵測生物沉澱物之存在,及以指示器裝 置7 9指示使用者該沉派物之存在,指示器裝置7 9係也可指 示使用者該裝置之開啟,電池電量低,連接部份86之連接 不當或因刷毛84上之探測頭73磨損需更換等。如牙刷指示 使用者,牙垢係存在,使用者應繼績刷牙直至牙垢清除為 止。該刷柄82係也可包括任意選擇之馬達87及驅動裝置88 ’供作驅動一電動牙刷刷頭8 3之用。 圖8係也說明二具有探測頭73之牙刷刷頭89,81〇。在刷 頭89中,二探測頭73係沿牙刷81之刷頭·刷柄縱向軸線而 分開配置,及在刷頭81〇中,二探測頭73係以橫跨刷牙刷 -24 - ^紙張尺巧用中國國家縣(CNS)A4難( 210X297公釐) ^---- ------Γ-1Τ—-----^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ^^2405 A7 _ B7 五、發明說明(22 ) 8 1之寬度軸線(即垂直於刷頭-刷柄縱向軸線之方向)方式分 開配置。牙刷刷頭8 9,810係以適用於圖8所示刷柄8 2之刷 頭更換。使用如圖8所示之多對探測頭73係可同時偵測更 多牙齒區域,或藉裝置之内建電子與軟體係可提供更精確 之生物儿殿物之偵測。另一方式係在牙刷刷頭8 9,8 1 0之 二探測頭7 3係可作二探測頭用,參閱圖1 〇。 參閱圖9知’係説明本發明裝置之一使用方法。圖9 a係 一組自使用者齒齦95伸延之牙齒91,92,93,94之簡視圖 ,及説明橫跨牙齒91,92,93,94之距離。在牙齒上具有 生物沉澱物處之面積係以91A,92A,93A表示及牙齒間之 間隙係以96,97,98表示’以及牙齒94係具有汞合金填料 99。 如圖8所示,一配置於一牙刷刷頭中之探測頭4 i,73係 在刷牙時以橫跨牙齒91-94之不規則路徑A_A運動。在該 路徑中’探測頭4 1 ’ 7 3係相遇具有生物沉澱物處之面積 91A ’ 92A,93A ’間隙96,97 ’ 98及填料99係清潔區域, 因此無生物沉澱物存在,亦即示於牙齒91-94上之清潔區 域。 圖9B係探測頭41,73在路徑Α·Α橫向運動於牙齒9194 上’以“動態”時間偵測得牙齒91-94表面之熒光放射I的曲 線圖。與時間對比之熒光放射強度曲線圖係說明對應牙齒 91-94清潔區域之曲線高峰及平穩段91〇,對應牙齒9194 具有生物沉澱物區域之曲線低峰及平穩段9U,及對應間隙 96,97,98及填料9 9之最小値912。 -25- 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝—--何----------線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 _B7_ 五、發明說明(23 ) 最高高峰910係具有一熒光強度I1,及最低之峰912係具有 —熒光強度12。最低極限IQ係設定於在最小強度値912之上 ,但在I2之下’及該裝置係設定於當使用,j、於一時,可不 考慮熒光放射強度。生物沉澱物之存在係以大於零之11 -I2 示之。該裝置係可設定爲大於一定程度生物沉澱物存在之 I1-〗2大小,及以存在之沉澱物91A,92A,93A爲依據指示 使用者。該裝置係也可計算平均熒光放射強度I» ^ 圖9 C係説明一組牙齒9 1 - 9 4,該組牙齒表面上無生物沉 澱物存在。探測頭4 1,7 3係橫向運動於牙齒9 1 - 94之上及 一對應熒光強度/時間曲線圖係示如圖9D。參閱圖9D知, 差異I1-〗2 ’雖大於零,但係大致小於圖9B所示之値(I1-I2)。圖9D所示減少之(f-l2)値係小於設定於該裝置软體 及/或電子中之一定程度及係可指示使用者牙齒91-94表面 無生物沉澱物存在。圖9 D也説明於沉澱物91 A, 92A,93A清 除後,平均熒光放射強度Ιω係會增加。 如圖9中使用之裝置係一牙刷,即圖8所示之牙刷,其可 設定於f-I2保持一定設定標準以上時,指示使用者應需繼 續刷牙。 參閲圖1 0知,係説明四代表性牙齒101,102,103,104, 其中二顆牙齒102 ’ 103 ’ 104係具有生物沉殿物存在區域 102A ’ 103A ’ 104A在其上,牙齒101係完全清潔,及牙齒 104係具有采合金填料1 〇5 ^在各牙齒間係具有間隙i 〇7。二 41 ’ 73型之探測頭108,1〇9係用於牙齒1〇i,i〇2,1〇3,ι〇4 表面之上。探測頭108,109之間隔“d”大約係自一牙齒齒齦 -26- 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝 ----^---訂 i —.1-----線 41240B A7 B7 五、發明說明(24) 110至齒冠111高度之8 0 %。探測頭108,109各測得之费光 放射強度及其相對之強度係藉該裝置之電子及軟體測量與 比較之。 探測頭108,109在牙齒1〇1上測得之熒光放射強度係大致 相同或僅小於該裝置電子及軟體所設定一定程度極限之不 同。該微小之差異係用以指示使用者該牙齒1〇1清潔而無牙 垢存在。 探測頭108係彳貞測牙齒1 〇2表面上一清潔部份之费光放射 強度’及探測頭109係偵測牙齒1〇2表面上一具有生物沉澱 物存在區域102A之熒光放射強度。探測頭log,109所測得 之熒光放射強度係不相同,探測頭109測得之強度係小於探 測頭10 8測得之強度。該差異係在該裝置内建電子及軟體所 設定一定極限之内,及可用以指示使用者牙齒1〇2上具有生 物沉澱物存在。 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 探測頭108係彳貞測牙齒103表面上一具有生物沉殿物存在 區域103A之熒光放射強度,及探測頭109係定位於牙齒間隙 之處。探測頭108係偵測牙齒104表面上一清潔部份之熒光 放射強度,及探測頭109係鄰近於無熒光放射強度之汞合金 填料110。就牙齒103及104而言,探測頭108,109所測得之 熒光放射強度差係大於該裝置電子及軟體所預設定之極限 及會被該裝置忽略,這樣,即不會得假讀數。 圖8所示牙刷刷頭8 9及810係包括適於圖1 0所述程序使用 之二探測頭= 說明本發明之實驗數據係呈現如下: -27- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ^12405 Λ7 _ Β7 五、發明說明(25 ) 1. 裝置結構 在實驗中’照明源係一發射470 nm ± 40 nm之發光二極體 ,激勵濾光器係允許3 55- 490 nm波長之照射通過而照射於 牙齒表面之上。阻擋濾光器係允許大於52〇 nm波長之照射 通過及二向色鏡係過濾需測定爲熒光放射之51〇 nm以上的 光。 2. 基本數據 一抽樣係由十六名志願者擔任並接受專業澈底之牙齒清 潔。熒光照射數據係記錄至炉象限(上頷之牙齒“至” ,下頷之牙齒41至47)中所有牙齒之口腔景象(準確地在平 分線中心點)。在大多數情況下,堅硬之琺瑯質係予評估, 但在少數情況下,填料係予呈現及在諸情況下,填 光信號係予記綠。 、 ' 發現清潔牙齒之熒光強度係與分別爲牙齒位置及型別之“ 牙齒數量’,俱增,但最後之臼齒(17及47)則屬例外。清潔 牙齒之熒光係存在,但也發現個別之差異係很少提及。也 發現牙齒整補材料之熒光放射強度係非常低(通常爲含^ ,如下述所示: (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) *-------訂---------- 範 圍 0.05—0.05 012-0.15 001-0.14 〇.〇8-0‘ΐ2( —次 1〇4) 1.00->3.4 材料 汞合金 金瓷 複合材料 琺瑯質 測量次數 2 4 13 4 195 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 χ 297公釐 412405 A7 B7 五、發明說明(26 ) 上述現示該等整補材料之熒光放射係無問題。 3 .牙斑偵測 四名志願者係不接受任何機械與化學口腔衛生措施,以 使牙斑形成。熒光放射測量係分別在1 2小時與3 6小時後在 六顆上頷門牙刷牙前後各作二次共四次之測量。 其結果列表如下: 牙斑 牙齒 無牙斑 有牙斑 絕對差異 相對%差異 壽命 型別 平均範圍 平均範園 平均範圍 平均範圍 12h 門牙 5.89-7.82 5,48-6.63 0‘25 至-1.19 4.1 至-15.2 6.52 6.12 -0.41 ~5.6 12h 犬齒 6.92-7.96 6.84-8.27 0.42 至-0.82 6.0 至-10.3 7.56 7.42 -0.14 —1.8 36h 門牙 5.66-7.41 4.46-6.13 -1.06 至-1.66 -1.2 至-16,7 6.23 4.95 -1.28 -11.5 前述數據係説明當清潔牙齒琺瑯質具有牙斑以波長熒光 放射強度之可測量差異。牙斑敷蓋處與清潔牙齒區域間之 相對差異係説明成形且厚之牙斑通常會減少其熒光放射強 度至一較形成12小時後之薄牙斑之更大範園。 4 牙斑之“動態”測量 以自然無沉澱物之牙齒爲樣本,構成一嵌有依齒序成形 之蠟模的人工下頷。該組牙齒係用一探測頭7 3以慢動作刷 牙方式“掃瞒’,。以此方式即囷9所説明之方法,係可獲得 -29- 本纸尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公复 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝-----訂---.---- 經濟部智慧財產局員Η消費合作社印製 412405 A7 B7_____ 五、發明說明(27 ) {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 該組牙齒熒光強度與時間/距離之比,以説明接觸牙齒時之 —高信號及牙齒間隙區域之熒光中斷(低信號),該中斷係 可忽略不計。 在該實驗中發現,係可獲得複製之曲線,相似牙齒(如前 白齒,臼齒等)之熒光峰値係在一相似之高度,藉此係可區 分牙齒琺瑯質與牙齒間隙。當掃瞄牙齒側面時,螢光信號 係低於掃瞄牙錄邊緣鄰近區域所接收之信號,以顯現清潔 牙齒表面強度之固有梯度。 當此實驗成功時,即以三名志願者執行爲期二曰之不作 口腔衛生之實體測試。測試係按前述執行:即小心謹愼之 刷牙前後,在平行於齒齦邊緣,上頷及下頷之門齒表面上 執行。 其結果係示於圖1 1及圖1 2,以説明敷蓋於牙齒之上及刷 牙後之牙斑凡熒光放射強度,圖丨丨係説明於接近牙齒根部 牙斑形成之處所得測量結果,及圖i 2係説明於不易形成牙 斑之齒冠處所得測量結果。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 遠結果説明實體牙齒之發光強度係大於齒齦(見圖11)鄰 近及小於門齒區域(見圖12)處之熒光強度。少有牙斑之門 齒處’牙斑所敷蓋牙齒之強度平均値係幾乎相同於清潔牙 齒之強度平均値,見圖11 ^具有牙斑之齒齦邊緣處’信號 係相對清潔牙齒而減低,見圖1 2。 於移動探測頭掃瞄每一牙齒時,可發現熒光放射強度係 隨牙齒之清潔而增加,鄰近齒齦之牙齒區域的增加則較大 ’如圖1 1所不。參閱圖1 j知,牙齒清潔前,即牙斑存在之 -30- 本張&度適肖中家標準(CNS)A4規恪(210x 297公餐) 412405 Α7 Β7 五、發明說明(Μ ) 時,最1南^最低峰(不考慮齒間之最小“假象”)間之熒光強 度差(1 係約爲17 5強度單位。牙齒清潔後,即牙 斑去除之時,最高與最低峰(不考慮齒間之最小“假象”)間 I熒光強度差(Ι1 —係約爲8強度單位,約減低5〇% 。由圖11可知,因牙齒清潔之結果,峰高平均値係增加約 20 3 0 /〇雖然(I -12)来清*與(1丨-12)已“間之熒光強度差 以及平均値之増加係小於齒齦區域,對門齒區域而言,係 仍可得相似之結果,如圖〖2所示。該數據係説明可提供沉 澱物存在指示之動態測量適用性β 5 .單一牙齒之熒光測量 以實驗可決定“清潔”牙齒琺瑯質之自體熒光在表面上沿 牙齒垂直軸線之不同位置,即自牙齒與齒齦(或齒齦邊緣) 相遇足牙齒頸部至齒冠之變化。該實驗係在具有牙斑之牙 齒表面上執行,但也清潔牙齒表面上執行。三名志願者係 忍受二日不作任何機械或化學口腔衛生。該三名志願者係 分別具有輕度,中度及重度牙斑。因此不同型別牙齒之瑗 瑯質熒光係在牙齒經專業清潔前與清潔後沿垂直軸線之四 處位置記錄之,即頸部,冠部及二中間部位(1低中間部位 ,2高中間部位)。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝—----_---訂-------I — 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 31 - 本纸張义度適用♦國國家標準(CNS)/\4規格(210 X 297公釐) 412405 五 發明說明(29) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 一,型具有重度$斑志願者之記錄气土^下^。 上顎 頸 部 中 間1 —---- 中 1 間2 — 双。 門 牙 牙齒 無牙斑 差異[%] 無牙力 差異[%] 無牙斑 差異[%1 無牙斑 差異[%] 11 35.5 22.5 25.0 26.0 36.5 2.7 22.0 -2.3 22.5 -11.1 23 0 13.0 23 57.0 41.0 23.0 22.0 45.0 34.0 -20.6 22.0 -4.5 20.0 -10 25 69.0 52.0 31,0 23.0 62.0 -11.3 40.0 1 -30.0 29.0 -6.9 20.5 —12 2 26** 86.0 55.0 ♦氺 26.0 54.0 -59.3 32.0 -71.9 23.5 -10 6 下顎 31 33.0 25.0 25.0 29.0 30.0 -10 24.0 -4.2 26.0 3.1 28 〇 ^ C _ 33 79.0* 63.0 29.0 23.5 71.0* -11.3 49.0 28.6 24.0 -20.8 21.5 35 60.0 42.0 29.0 23.5 59.0 -1.7 35.0 -20.0 30.0 3.3 21.5 ο ^ 36 73.0 50.0 伞氺 23.5 60.0 -21.7 31.0 -6U ----- J6,l •扁牙質一琺瑯質交界 .·只有二個值 該三名志願者之結果係摘要如下表’表中係說明於牙 沉澱物清除後,熒光放射強度之變彳匕° -32- 本紙張尺度適用t國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝-!-----訂-------線 412405 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明() 熒光強度變化 志願者 牙斑 頸部 中部 門齒 中部 1 輕度 4.8 至-61.0 -1.8 9.6 至-8.6 ±0 2 中度 7,2 至-26.3 -8.7 5.6 至-9.4 ±1.0 3 重度 2.7 至—59.3 -11.3 16.15.-13.0 -9.7 結果係説明自體熒光強度之梯度,該梯度係沿牙齒垂直 軸線之距離,自齒齦邊緣(頸部)處之高熒光強度起至較低 及更平均分佈之門齒部份(齒冠)止。當探測頭可進入牙齒 琺瑯質結合處時,係特別可獲得高値。 熒光放射強度係可藉牙斑之厚度與位置降低至一較大或 較小之範圍。在門齒部份係無牙斑,及雖發現所有志願者 之熒光放射強度係有變化,牙斑去除之強度變化中間值, 對輕與平均之牙斑資訊而南,係1至〇及對重牙斑資訊而言 係約10 %。反而言之,在牙斑最多之頸部區域之熒光強度 之縮減係最大,重牙斑資訊已有之記綠係約n 0/〇。 該結果係以圖1 3所示曲線表示之,該曲線係説明清潔表 面及具有牙斑沉澱物表面之對應清潔牙齒表面放射波長之 熒光放射強度對距牙齒之垂直距離的變化。於該曲線中可 發現二沿垂直牙齒軸線自齒齦邊緣至門齒部份分開之點, 在这點處,具有牙斑沉搬物牙齒表面之费光放射強度梯度 係較一清潔牙齒之梯度更爲陡峭。該梯度之測量係可作牙 齒表面牙斑偵測之基礙,及在牙齒清潔時之緩和變化係可 於牙斑去除後隨之呈現。 -33 <請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁> 裝---L---訂---,------線 k故張幻A训9晒家辟(CNS)A4職(2H x 297公釐)

Claims (1)

  1. 412405 罘88114948號專利申請案 土 中文申請專利範圍修正本(89年$月) 六、申請專利範園 • 種用以偵測牙齒表面上之生物沉澱物之裝置,該裝置 係包括: 照明裝置,係供引導激勵照射至一受測牙齒表面上之 用; 偵測裝置’係供以一大致無生物沉澱物牙齒表面之自 體费光放射波長偵測受測牙齒表面熒光放射之用; 裝置’係供比較用,即以一牙齒表面上生物沉澱物少 於孩受測牙齒表面上生物沉澱物之一大致無生物沉澱物 牙齒表面的自體费光放射波長使該受測牙齒表面之熒光 放射強度與一自體熒光放射強度相比較; 裝置’係供與比較裝置一同使用,以獲得受測牙齒表 面上生物沉澱物之存在;及 指示裝置’係供向裝置使用者指示該生物沉澱物存在 之用。 2 .根據申請專利範園第1項之裝置,其中該偵測裝置係以 520 nm以上之波長偵測熒光放射。 3 '根據申1青專利範圍第1項之裝置,其中該無或大致無生 物沉澱物牙齒表面之自體熒光放射強度係儲存於該裝置 中作參考標準用。 4 -根據申請專利範圍第1項之裝置,其中該裝置係必須使 用於一使用者之確信為一清潔之牙齒表面,以測量該清 潔表面之自體费光放射強度,及使用該強度作基礎’供 與受測牙齒表面之放射強度相比較之用。 5 -根據申請專利範園第1項之裝置,其中該偵測裝置係可 本紙張尺度適用中國國家梂車(CNS ) A4规格(210X297公釐) (請先聞讀背面之注意事項再填寫本f ) -裝. -·訂 經濟部t央橾隼局負工消費合作社印製
    412405 罘88114948號專利申請案 土 中文申請專利範圍修正本(89年$月) 六、申請專利範園 • 種用以偵測牙齒表面上之生物沉澱物之裝置,該裝置 係包括: 照明裝置,係供引導激勵照射至一受測牙齒表面上之 用; 偵測裝置’係供以一大致無生物沉澱物牙齒表面之自 體费光放射波長偵測受測牙齒表面熒光放射之用; 裝置’係供比較用,即以一牙齒表面上生物沉澱物少 於孩受測牙齒表面上生物沉澱物之一大致無生物沉澱物 牙齒表面的自體费光放射波長使該受測牙齒表面之熒光 放射強度與一自體熒光放射強度相比較; 裝置’係供與比較裝置一同使用,以獲得受測牙齒表 面上生物沉澱物之存在;及 指示裝置’係供向裝置使用者指示該生物沉澱物存在 之用。 2 .根據申請專利範園第1項之裝置,其中該偵測裝置係以 520 nm以上之波長偵測熒光放射。 3 '根據申1青專利範圍第1項之裝置,其中該無或大致無生 物沉澱物牙齒表面之自體熒光放射強度係儲存於該裝置 中作參考標準用。 4 -根據申請專利範圍第1項之裝置,其中該裝置係必須使 用於一使用者之確信為一清潔之牙齒表面,以測量該清 潔表面之自體费光放射強度,及使用該強度作基礎’供 與受測牙齒表面之放射強度相比較之用。 5 -根據申請專利範園第1項之裝置,其中該偵測裝置係可 本紙張尺度適用中國國家梂車(CNS ) A4规格(210X297公釐) (請先聞讀背面之注意事項再填寫本f ) -裝. -·訂 經濟部t央橾隼局負工消費合作社印製 412405 A8 B8 C8 D8 8. 9. 申請專利範圍 移動於使用者牙齒之上,這樣,在移動路線中’該激勵 照射係引至相同或不相同複數牙齒之上,因此,當該裝 置在使用者口中往返移動所偵測得之熒光故射變化係予 測量,及使該測量與該受測牙齒表面之生物沉澱物結合 0 根據申請專利範圍第5項之裝置,其中該裝置係適於測 量熒光放射強度最高峰與最低峰間之差異,以及於受測 牙齒表面生物沉澱物接受牙齒清潔過程中,使所得變化 納於該差異中。 根據申請專利範圍第5項之裝置,其中該裝置係適於測 量费光放射強度瑕南辛與最低學間之平均值,以及於受 測牙齒表面生物沉澱物接受牙齒清潔過程中,使所得之 增加納於該差異中。 根據申請專利範圍第5項之裝置,其中該裝置係可忽略 任何低於一規定最小值以下之癸光強度锋值。 根據申請專利範圍第1項之裝置,其中該裝置係可: 偵測—一熒光放射,即於該偵測裝置自一牙齒區域移至 另一或更多牙齒區域之一時段中偵測該熒光放射; 偵測該放射強度峰持續時間;及 測量與比較該辛之高度。 1 〇.根據申請專利範圍第1 1項之裝置,其中該裝置係可測 量熒光放射強度最高峰與最低峰間高度之差異及使該差 異與生物沉澱物之存在結合並指示予使用者。 11·根據申請專利範圍第1項之裝置,其中該裝置係具有偵 -2 t纸張歧逍用中國國家標率(CNS )人4祕(210X297公釐) , 裝 I訂--—-----線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央梯隼局員工消费合作社印製 經濟部中央標準局負工消費合作社印裝 412405 A8 B8 C8 -------------D8 • _ …__ 、申請專利範囷 -— "、J裝置•偵測一相隔牙齒表面區域之熒光放射’及比較 二相隔牙齒表面區域之相對熒光放射強度,及使相對強 度間之任何差異與牙齒表面存在之生物沉澱物結合並顯 示予使用者。 12.根據申請專利範圍第丨〗項之裝置,其中該二區域之最 大間隔係與齒齦結合處至牙冠之高度。 根據申請專利範圍第11項之裝置,進一步包含二彼此 相對配置之偵測裝置,這樣,當該裝置置入口腔中時, 二偵測裝置之一係可鄰近於一在齒齦處或接近齒齦處之 一牙齒及另一偵測裝置則可鄰近於該牙齒之齒冠或在該 齒冠之上。 W·根據申請專利範圍第13項之裝置,進一步包括一牙刷 刷頭’該二偵測裝置係以橫跨牙刷寬度方式配置其中。 1 5 .根據申請專利範圍第I項之裝置’其中該裝置係於自牙 齒表面一部份移至另一部份時,能觀察跨過一牙齒表面 距離之熒光放射強度的存在及/或測量其梯度。 1 6 根據申-請專利範圍第丨5項之裝置,其中於一牙齒清潔 過程中’該裝置係偵測及/或測量變化之梯度。 1 7 ·根據申請專利範圍第1項之裝置,其中該裝置係更進一 步包括: 偵測裝置,以一牙齒表面生物沉搬物之自體熒光放射 波長偵測受測牙齒表面之自體熒光放射;及 裝置,以該自體熒光放射敘述該受測牙齒表面.生物沉 澱物之存在;及 本紙張尺度適用中國國家梯準(CNS )八4见格(210X29?公釐) „----^--:-----1T--------0 (請先閲讀背面之注意1f項再填寫本頁) A8 B8 C8 D8 19 412405 申請專利範園 指示裝置,向該裝置使用者指示該生物沉澱物之存在 0 8.根據申請專利範圍第17項之裝置,其中該偵測裝置係 可用眾牙齒表面牙斑之自體熒光放射波長偵測該受測牙 齒表面之自體熒光放射。 一種用以偵測一受測牙齒表面上之生物沉澱物之裝置, 特別係偵測該表面上之牙斑,該裝置係包括: 偵别裝置,係供债測約530 nm及約630 nm間之受測牙 齒表面生物沉澱物自體熒光放射用; 裝置’供以該生物沉澱物自體熒光放射敘述該受測牙 齒表面生物沉殿物之存在用;及 指示裝置,向該裝置使用者指示該生物沉澱物之存在 2 0 .根據申請專利範圍第1 9項之裝置,其中該债測裝置係 以分別最大為540- 550 nm及610-620 nm波長之一或二者 皆用執行偵測自體熒光放射。 2 1 根據申飞青專利範圍第1項之裝置,其中該激勵照射係具 有470±40 nm之波長。 2 2 .根據申請專利範圍第1項之裝置,其中該激勵照射係藉 一包括一根或多根光纖之引光器引導至該牙齒表面,及 該偵測裝置係包括一具有一根或多根光纖之引光器,以 引導該牙齒表面之熒光放射至一熒光放射照射偵測裝置 σ 2 3 根據申請專利範圍第2 2項之裝置,其中包括該照明裝 -4 “張纽速财卵家#準(CNS ) A4g ( 210X297公釐) ------^----1¾------1T------^ (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央揉率局貝工消費合作社印製 412405 A8 B8 C8 D8 經濟部t央標準局貝工消费合作社印裝 、申請專利範圍 置與該偵測裝置之引光器之該光纖係捆綁在一起並配置 於一適宜之導管中,而且以一共用之光學探測頭為終點 〇 24. 根據申請專利範圍第22項之裝置,其中用於放射照射 引光器之光纖數係多於用於激勵照射引光器之光纖數, 其原因在熒光放射照射之強度低。 25. 根據申請專利範圍第1項之装置,進一步包含一截止濾 光器係可低於420 nm之波長接觸使用者之组織。 26. 根據申請專利範圍第25項之裝置,進一步包含一二向 色鏡;慮光器。 27. 根據申請專利範圍第1項之裝置,其中該熒光放射之激 勵照射及該偵測係皆予調制及/或鎖相。 2 8 根據申請專利範圍第1項之裝置,其中該裝置係包括一 牙刷,該牙刷係具有導引激勵照射至該受測牙齒表面之 裝置及具有偵測受測牙齒表面熒光放射之裝置納該牙刷 之刷頭中》 2 9,根據申-請專利範圍第2 8項之裝置,其中該裝置係指示 在使用者牙齒表面上初始存在之生物沉澱物及指示該生 物沉澱物於刷牙後減少之量或己不復存在。 3 0 .根據申請專利範圍第2 8項之裝置,其中該裝置係可指 示使用者生物沉澱物之存在區域,及需繼續刷牙以清除 該沉殿物a 本纸張·尺度適用中國®家揉率(CNS ) A4说格(210X297公釐) ------^----¥1:---^----.玎-------^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
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