TW381182B - Testing method of In-circuit testing with image recognition system - Google Patents

Testing method of In-circuit testing with image recognition system Download PDF

Info

Publication number
TW381182B
TW381182B TW87121974A TW87121974A TW381182B TW 381182 B TW381182 B TW 381182B TW 87121974 A TW87121974 A TW 87121974A TW 87121974 A TW87121974 A TW 87121974A TW 381182 B TW381182 B TW 381182B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
image
test
tested
circuit board
image recognition
Prior art date
Application number
TW87121974A
Other languages
English (en)
Inventor
Jian-Ming Jiang
Original Assignee
Test Research Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Test Research Inc filed Critical Test Research Inc
Priority to TW87121974A priority Critical patent/TW381182B/zh
Application granted granted Critical
Publication of TW381182B publication Critical patent/TW381182B/zh

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

經濟部中央標準局貝工消费合作社印狀 Λ7 __________H7 , 五、發明説明(f ) ' — 本發明係關於一種具影像辨識系統之iCT测試方法, 尤指一種可成功辨識組裝電路板上是否出現電容極性或工 C方向反插以提高檢測準確性及在線測試機測試效率之方 法。 此處所謂的I CT(In—Circuit Tester)係指—種名 線測試機,主要係針對印刷電路板上各種錯誤,例如開超 、短路、不正確的零件等狀況加以偵測;在相關專利2愈 中曾有公告第二人-七二三號「印刷電路板測試裝置及方 法」新型專利案(請參閱附件一之專利公報影本),其主 要係結合在線測試機產生的錯誤訊息資料與待測印刷電路 板由電腦輔助設計產生的佈線資料為裝置裝配資料,其中 該佈線資料包含待測印刷電路板的所有零組件、' x c編號 資料與零件接頭座標,並將該印刷電路板所有的零件接ς 圖直接顯示在測m零件標示於螢幕所示之零件接腳圖 。藉此使檢修人員由螢幕上便可迅速地找到被冑印刷電路 板不良所在’以節省檢修不良品之時間。 又前述專利案於其說明書發明說明第2頁第三段起指 出.「目前的印刷電路板在線測試機(in_circuit tester)均是自動測試裝置,其配合著電腦能針對印刷電 路板上各種錯誤,例如開路、短路、不正確的零件等加以 偵測,其自動化治具程式製作的支援提供除錯資訊,然而 ,對於測試中所拒絕之零件(rejected c〇mp〇nents)或不 良接頭的位置,電腦螢幕僅能顯示出概略的區域範圍,而 不能精確地指出該零件在印刷電路板的正確位置。」 本紙張尺度適用相_#準(CNS ) Λ« (210X2^^7 (計先閲讀背而之注意事項再填-巧本頁)
五、發明説明( Λ7 \\1 經濟部中央標尊局只工消f合作社印狀 之,該專利案申請前即有具備自動測試功能之在 ^式機問世’其可配合電腦將印刷電路板上之各種不同 腦螢幕上。而專職與該在線測試機不同 起:.傳統在線測試機之自動測試功能對於受拒零件及 接‘』位置僅此在螢幕上顯示出其概略位置;而專利案 稱可、、”電腦輔助設計而產生之零件接腳圖,在榮幕 上精確^示錯誤科及^接點之位置。 事Λ上剛述專利案主張的專利特徵並非首創,在其 明刖公開的軟體產品已可有效達成前述目的。 附件—所不,係—種C-L1ΝΚ測試軟體之產品型錄 ?、發行日期為一九九四年十月。且具有由零件接線圖上 接顯不接線不良、錯件、誤件狀況之功能,其功能可由 部分内容可知: 〜由於C-LINK已讀入電腦輔助設計(CAD)所產生的電 路板實體與電子佈線資料,並且將這些資料轉換為便於解 讀(mNSPARENTwf料格式,C_UNK可以提供有效的工 具以顯示測試不良的位置與方便維修。C_L服可以結合電 路板自動測試設備(A T E,侧MATIC TEST _ΡΜΕΝΤ )所提供的測試不良資料,以圖型方式將短路、開路(即不 良接點)以及零件不良等的佈線資料顯示出來。J 口又如附件二所示,係一種既有測試軟體FABmaster之 產品型錄’其亦可配合自動在線測試機達成前述專利案主 張之功效’如其内容中指出: 由於FABmaster可以完全讀入電腦輔助設計所產生 ^紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) X 2V7/-> /; (請先間讀背而之注意事項再填寫本頁) io^------訂------ -I I I ί 五、發明説明(5 ) Λ7 117 經濟部中央標準局貝工消伦合作社印製 因此削master可以將包括不良的零件、短路、 開路專錯誤資訊以圖形 不出來,從而加快維修所 南的時間。此功能對於零件密度較高的表面黏 (SMD... SURFACE MOUNT DEVICE) p ~r 件 1 _GE)電路板,更可大量減 哥錯誕所需的時間。」 「由測試機或是品質管理系統所產生包含歷史資料 内的錯誤資料,可以由削master刪IR STAT而、讀入 ,並可幾乎同步顯示不良的零件或是線路。」 貝 由上述可知,既有的測試軟體可配合在線測試機或電 路板自動測試設備(ATE)針對待測電路板之開路、短 路不正確的零件等狀況加以彳貞測。 但前述軟體及測試方法對於電容極性及丨向反插 2況之偵測則顯然束手無策。一般組裝電路板上如出現 谷極性反插時,可能造成電容器爆炸,嚴重影響其安全 。因此,完成組裝後的印刷電路板在測試過程中必須確只 排除電容之反插&況。而既有的電容反插測試方法包括下 列數種’其分別為利用Test;et系統、i c τ系統作自動 測試、影像辨識及人工目測等方式。 有關TestJet系統之相關技術内容請參閱附件四所示 ,該電容極性測試係TestJet系統的主要功能之一,相關 測試方式請參閱附件四第2 3〜2 5頁内容,為方便瞭解 ,謹以第六圖說明其測試方式,其主要係利用一内設測試 電容κΡ、κΝ及兩探針(81) (82)之模具(8〇) 試待測電容c之極性是否反插,其中測試電容Kp、Kn 電 性 實 測 正 本紙張尺度適用中國國家榡隼( (詞先閱讀背面之注意事項再填寫本頁j
CNS ) ( 210X 297,:.>/; 經濟部中央標準局貝工消f合作社印¾ A7 -----------137 五、發明説明(/ ) ~~ 、反不同H又兩探針(81) (δ2)係分別接至待 測電容C兩端之A、Β節點,並分別連接信號源,其首先 由探針(8 1)經節點A送入信號,而由模具(8〇)取 得一組測試信號丁 j i,其以公式表示係如下列:
Vai X Kp + Vbi x Kn = TJi 又以探針(8 2 )經節點B送入信號,而由模具(8 0 )取得-組測試信號T j 2,其以公式表示係如下列:
Va2 X Kp + Vb2 x Kn = TJ2 根據前述兩組測試信號T j i、T ; 2進行分析判斷, 如:
Kn 一 κ^> 表示待測電容C極性正確 表示待測電容C極性反插 以月述的Test Jet系統雖可用於測試電容極性,惟存 在下列缺點: 1 .僅能測試特定形式之電容:具體而言,係指以平 躺方式插件之電容,如SMD鈕質電容,對於其他以直立 方式插件之電容,則無法提供極性測試功能。 2 ·治具多,複雜度高:前述Test Jet系統必須針對 不同電路上的不同電谷分別製作專用之治具,始能針對各 種不同的電容進行測試,故治具繁多,相關測試技術之複 雜度亦高。 3 .測試時間長:前述Test Jet系統係針對每一單顆 電容進行測試’故測試作業時間冗長,效率低。 4 ·測試範圍受限:前述Test Jet系統僅能測試
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) ( 210X2^H (諳先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
五、發明説明( H7 jr =:Λ3電容,當待测電容之“值愈高(如 非二::誤判率即相對提高,故在測試應用上並 又利用i C 丁系統作自動 '、目彳^ # .1,1 # ^ ^ ^ θ 勖劂蜮部分,係採漏電流方式 量H'!!反接,但以該等方式卻存在下列問題: 而μ反向充電’容易造成電容漏電流提升, 而縮短了電容使用壽命。
電容器充電時間係與電容值大小成正比,若W 羋時mmsec,1〇°_的充電時間即為isec,其作 業_長,如待測電路板上電容數量較多,檢測過程即十 分几長而缺乏效率。 3 .又因印刷線路日趨複雜,若於電容旁並聯一個電 卩=將延長充電時間,若並聯—小電阻,則流過電阻之 電流若大於流經電容之漏電流達1 Q倍以上時,則電容極 性即無法被有效的識別,而造成誤判。 4 .若有多個電容並聯,而其中一個電容極性反插, 此種狀況亦無法被有效辨識出來。 經滴部中央標準局只工消f合作社印1i 須將與I C並聯. 再針對I C内部. 因此將大幅延長測! (請先間讀背而之注意事項再填艿本頁)
、1T 5 .又進行I c反向測試時 DECOUPLING電容器充電至飽和: CLAMPING DIODE是否反向加以測試 時間。 由此可知,利用I c T系統之漏電流方式檢測電容 性正確與否’不僅測試時間漫長,且誤判率高,故實際 試過程中,多半不以I c T系統作電容極性測試。 本紙張尺度適用中國國家標專(CNS ) λΤ^, ( 210Χ29~Α ") 五 、發明説明(A ) .Λ7 B7 經 濟 部 中 央 標 準 為 Ά X. 消 合 作 社 印 製 又請參閱附件五所示,係一種日製「基板外觀檢查裝 以測型錄:該裝置實際上即一影像辨識系統’可用 識方^^極性或1 c方向是否反插。主要係利用影像辨 °工,,、首先輪入正確印刷電路板之影像資料,令其學 s印刷電路板上各座桿位 /、 知位置之電路構造及零件種類,隨後 根據疋項學習資料辨別待測電路板各座標 件接點是否良好及極性方向是否反接 =7 統雖可用以辨識電容極性是否反插,惟仍存在下列缺點 ,1 ·難度高測試時間長:前述影像辨識系統係以「 角度取得待測電路板上各座標位置之影像資料作為 =對識別之依據,因此,其必須採料輔助取像設備於任 j標位置移狀機械設備,在此㈣τ,不僅存在造價 叩貝’且因測試精密度高,相對拉長其測試時間 業時間約為十秒)。 乍 2 ·環境條件要求嚴格:由於影像辨㈣統係以取得 影像資料作為比對依據’且因為以微觀角度取得影像,對 外界光線干擾十分敏感,因此,必須在一封閉的空間(如 附件五之深色匣體)中進行,而增加作業的不便性。 3 ’造價昂貴不符-般使用效益:前述影像辨識系統 每部售價均在二佰萬元以上,復以测試時間I,對於精密 度要求低的一般廠商及生產線,顯然不符使用效率及= 效益。 4 .必須在生產線上規劃獨立的空間,供設置該影像 本紙倀尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) m 1* -----
II - - 1 I 經濟部中央標準局貝工消費合作社印裝 Λ 7
---__ _ )V 五、發明説明(夕) ~— ----- 辨識系統,而增加了額外的成本。 由上述可知,前述影像辨識系統係透過微觀角度以影 '弋 檢測元件接線、焊點狀況及電容、.I c等 疋件疋否出現反插情事,因此,其檢測時間冗長,作業效 率極低,故亦不符生產線上之實際需要。 ’、 可知’既有1 影像辨識系統應用於 電谷極性及IC方向反插測試功能,在精確性與效率性上 均未盡理想,故有待進一步檢討,並謀求解決之道。 因此本發明主要目的在提供—種可成功辨識電容極 性及IC方向而有效提高檢測準確性及在線測試機測試效 率之方法。 為達成前述目的所採取的技術手段係令前述方法包括 有: 一輸入待測物正確影像資料並予儲存之學習步驟; 一取得待測物影像之步驟; 一根據輸入待測物原始影像線路資料與所取得待測物 影像進行比對以檢測待測物上電容極性及丨C方向之步驟 一顯示前述檢測結果之步驟; 一利用I C T系統檢測待測物電路接點及各項電氣特 性之步驟; 以前述結合影像辨識功能之測試方法可彌補J C 丁系 統無法有效檢測出電容極性或Ϊ (:方向反插之缺陷,而大 幅增進電路板測試之精確度與準確性。 ______9 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公魈) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
五、發明説明(/) _ ' 前述的I c 丁系統係由一在線測試機(in_Circuit fester)構成,主要由一壓床與一電腦單元組成,該壓床 包括有-模板、—位於模板上方之待測物座板及—位於待 測物座板上方位置且可作升降之壓板;其中: 、 該模板與待測電路板具有相同的線路佈局,其上設有 多數可伸縮之接觸端+,每一接觸端子係分別對應於待測 電路板底面之各個元件焊點,且分別透過適當介面與電腦 單元連線; ' 該待測物座板係供待測電路板放置其上; 該壓板上設有多數壓桿,並由氣壓虹控制其升降動作 二其中每一壓桿係與待測電路板表面之電子元件錯開,當 乳壓缸動作使壓板下降時,其壓桿將同時向下壓制待測電 路板,使其底面之元件焊點與對應的接觸端子接觸,隨即 可透過電腦單元檢測元件之開路、短路及焊點是否完好等 狀況。 而在前述壓床的適當位置設有取像設備,以便在進行 接點測試以前,先取得待測電路板表面之影像資料,經影 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 像介面卡送入電腦單元,與原先取得之正確影像進行比對 利用不同影像產生的灰階差異,以判斷電容極性及工◦ 方向是否正確。 又前述取像設備之較佳設立位置係於壓板周邊位置。 為使貴審查委員進一步瞭解前述目的及本發明之技 術手段,茲附以圖式詳細說明如后: (一)圖式部分: _______ _____ 10 本紙張υϊϊΓ用中國國家標準(CNS ) A4規格(2*1^297公旋) -一--- 五·、發明説明 第一圖 第二圖 第三圖 第四圖 第五圖_ 第六圖 附件 Λ7 B? 係印刷電路板之局部線路示意圖。 係本發明之系統方塊圖。 係本發明所使用I C T系統之外觀示意圖。 係本發明所使用ICT系統之平面構造示意_ 係另一印刷電路板之局部線路示意圖。 係Test Jet測試方式之示意圖。 一.公告第281723號專利公報影本。 二· C-LINK軟體型錄影本。 三. FABmaster軟體型錄影本。 四. TestJet測試機技術手冊相關頁次影本。 五. 豐田通商株式會社銷售型錄相關頁次影本 (一)圖號部分: 、 (1 1 )〜(1 3 )電容(1 4 )〜(i 9 ) ;[ c (1 1 〇 )〜(1 3 0 )深色帶(χ 4 〇 )半圓槽 (1 4 1 )小圓槽 (2 0 )壓板 (1 5 0)〜(1 9 〇)小圓點(2丄)模板 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (2 1〇)接觸端子 (2 3 )壓板 (2 4)待測電路板 (4 0)影像辨識系統 (8 0 )模具 有關本發明之測試方法 T系統負責有關印刷電路板 厂 (2 2 )待測物座板 (2 3 〇 )壓桿 (3 0 )電腦單元 (41)影像介面卡 (8 1 ) ( 8 2)探針 其基本的技術思想係由I c 接點」、「接線」及「功能 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁}
Λ7 Η 7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明( 」之測.式。|^刀’至於i c τ系統檢測效果極差的「電容極 性」及「I C方向」之偵測判別則由影像辨識系統執行, 由於本發明並未利用影像辨識系統深入的一一辨識各個組 成兀件之接點狀況’因此,並不須利用複雜昂貴Η TABLE機械設備輔助取像設備,且因只須判斷特定座標位 置之灰階差異即可判別出電容極性或j c方 二 情事,故可大幅提升辨識速度。 有反插 故以前述設計可大幅增進印刷電路板之測試效率及八 「電容極性」及「1 C方向」之判別正確率達於1 〇 /又關於印刷電路板之元件焊點開、短路及功能測試, 係為ICT系統之原始功能’至於影像辨識系統之 理,謹以下列圖式說明如后: ’、 广圖所示,係一組裝完成之印刷電路板俯視平面 圖,八上包括有數個大小不同的電容(丄丄)〜 、數顆 IC(14)〜^ ; 4) (19)及如電阻之其他電子元件 ,有關電谷(11)〜(13)之極性及各顆^ c )〜(1 9 ) ;$·向的正確與^ ’可由其元件表面之桿 得區別,首先在電容(11)〜(13)部分, 周又 處所標示的深色帶(110)〜(13〇)即表^為負極 ’因此’如圖式中最大的電容(11),其深色帶(u 0 )係位於〇度處,則對應該角度之接腳係為負極腳,又 電容(1 2)之深色帶(i 2 〇 )係位於工8 〇度處故 可知對應於該角度之接腳係為負極腳。 ________12 本紙張尺度適财關緖準(CNS ) A4規格(21〇X 297公潑)— i - I - i HJXj.^ I I _ c (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 Λ7 137 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(/| ) 因此,其經攝取成為影像資料後,將與正確的影像資 料進行纟⑶,由於影像㈣巾之列顏色存在有灰階差異 ’如經比對後在各特定座標的待測元件出現不同灰階 可據以判定為極性反插。 又在1 C ( 1 4)〜(1 9 )方向判別部分,如工c (1 4)為較大型的積體電路,其 r 1 , η X 侧邊中央處形成有 曰 4 〇),又於表面對應半圓槽(1 4 0)左 邊處形成有小圓槽(1 4 ·!),兮丨圓桃/ 以標示以腳位置。 小圓槽(141)係用 又位於同一排之Ic(15)〜( (1 9) \因尺寸較小,故未於—側邊形成半圓槽,惟仍 於表面處形成有一小圓點(15〇) 示第i腳之位置。 ("Ο),以標 因此,進行影像識別時,係以前述半圓槽、小圓槽及 小因點之所在位置,作為丨c插設方向是否正確之判斷依 據。 由上述說明可看出本發明利用影像辨識系刻測電容 極性及I C方向之工作®理,5於士 …一 作原理’至於本發明之基本架構係由 - I CT糸統及-影像辨識系統組成,如第二圖所示,該 1 口系統包括有-黯(2 0)及-電腦單元(3 ’又影像辨識系,統則包括一設於壓床( 上之取像設 備(4 Q )、-藉與電腦單元(3 Q )連線 號傳輸之影像介面卡(4 1 )及γ ^ , 丄)汉於冤知早兀(3 0 )内部 執行的工作流程。 13 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210χ 297公楚 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁)
Λ7 in 其上 五、發明説明(A) 2前述ICT_及影像辨㈣統進 凊參閱第三、四圖所示,有八構以 〇)包括有1板(21^ 系統部分之壓床(2 待測物座板(2 2 )及一立於模板(2 1 )上方之 位於待測物座板(2 2 )上方位 置且可作升降之壓板(23);其中: “上方位 ,其1 )上具有與待測電路板相同的線路佈局 多數可伸縮之接觸端子(2ι〇),每一接 之::0)係分別對應於待測電路板(2 4)底面 )連線几、’點’且分別透過適當介面與電腦單元(3 〇 该待測物座板(22)係供待測電路板(24)放置 該壓板(2 3 )上設有多數屢桿(2 3 ,尸 =其升降動作,其中每一厂„(23〇)係 2 4)表面之電子元件錯開,當氣昼缸作動使磨 3)下降時’其壓桿(2 3 〇)將同時向下麗制待 :電,板(24),使其底面之元件焊點與對應的接觸端 (2 3 〇 )接觸,隨即可透過電腦單元(3 〇 )檢 =之開路、短路及焊點是否完好等狀況,另可進行功能測 又影像辨識系統之取像設備(4 0)係設於! CT系 統之塵床上,於本實施例中,該取像設備(4 〇 )由數組 攝影機組成,其分別固定於前述壓板(2 3 )上之各個角 落,以攝取下方之待測電路板(24)影像。而為碟 本紙張尺度適财標準(CNS )7¾ (21{)x297公楚) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) —訂— 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 Α7 ιυ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(g 像辨識系統完整取得待測電路板(2 4)之影像資料,前 边各組攝職之f彡賴取__分重疊,㈣免 取影像。 辦 經上述說明可看出本發明所應用硬體設備之主要架構 及功能,至於利用前述設備執行之方法係包括有: 一輪入待測電路板正確影像資料並予儲存之「 步驟; 白」 —由取像設備取得㈣電路板影像影像㈣之 影像」步驟; 取 —根據輸人待測電路板正確影像資料與所取得待測恭 路板影像進行比對之「極性方向判別」步驟; —顯示前述檢測結果之「顯示」步驟; 雷魅利用1 口系統之壓床及電腦單元檢測待測電路板 接=及各項電氣特性之「接點、功能測試」步驟。
由前述步驟可知,本發明係於ICT系統進行線路愈 1測試之前,先以影像辨識系統進行「電容極性暨R 2判別」,俟相電容極性及Ic方向均無反插狀況時 以I C 丁系統進行接點及功能測試。 有關前述的「學習」步驟,係先取一塊已由人工或其 完成電容極性及1 c方㈣測之印刷電路板置於前 介面卡)上’由取像設備(4Q)攝取後透過影像 \)送人電腦單元(3 Q)並予儲存,以作為 價測其他待測電路板之比對依據。 又「攝取影像」步驟:與前述「學習」步驟大致相 15 (210乂 297公1) ---------1 H. __ (請先閱讀背面之注意事唄再填蹲本頁} H I - I - I i Λ7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印聚 五、發明説明(,f) ,不同處僅在攝取影像之對象改為待測電路板。 该「極性方向判別」步驟:係由電腦單元(3 〇 )根 據,子習」步驟取得之原始影像資料與待測電路板之影像 資料進行比對,今假設第一圖所示者為原始影像資料,第 五圖所示者為待測電路板之影像資料,則在第五圖中之電 谷(11)深色帶(11〇)位置相反,Ic(14)之 半圓槽(1 40)方向亦由朝上變為朝下,經與第一圖之 影像資料比對時,該反插的元件位置將出現不同灰階,藉 此可作為極性方向反插之判別依據。 該顯示」步驟:係將前述比對結果於電腦單元(3 〇)之螢幕上顯示。 經完成前述步驟後,則由i CT系統對待測電路板進 行接點及功能測試。 、主要係令壓床(2 0 )上之壓板(2 3 )下降,令其 壓柃(2 3 0 )同時向下壓制待測電路板(2 4 ),使待 測電路板(2 4)底面之元件焊點與對應的接觸端子(2 1 ◦)接觸,隨即可透過電腦單元(3 〇 )檢測元件之開 路、短路及焊點是否存在職,隨後並可進行整體功 試。 由上述說明可看出本發明之具體技街内容及詳細步驟 ,以該等設計至少具備下列優點: 1電合極性及I C方向反插之測出率可達丄〇〇% :由於係利用影像辨識系統進行判別,電容極性及工C方 向可透過自動辨識而完全測出,而有效防止電容極性反插 ο ! (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
,1T --------------- 16 本紙依尺料财關緖準(CNS ) A4im ( 2l〇xm^
I I I I 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格 五、發明説明(「厂) 可月b造成之爆炸意外及Ϊ C方向反插之困擾。 2 .限制小、穩定性高:本發明為非侵入性測試,故 =虞影響待測電容本身之特性’且無論待測電路板上之電 备數s多募、容量大小及並聯元件種類等,其測試時間等 均不受影響;而由於係自動化測試,故無人工作 現之誤判疏失。 b 3 .成本低、測試效率高:本發明係採用非微觀之影 像辨識系統’其無須精密複雜之機械設備輔助取像,亦無: 須利用昂費之取料備,故可大幅降低使用成本;而在^ =效率上’相較於單純以i CT系統採漏電流方式測試電 容極性是否反插之方式,在速度上可達丄0〜丄〇 〇倍; 再者,本發明並未利用影像辨識系統辨識待測/路板 上各個組成元件之接點狀況,因此,並不須利用複雜昂貴 X-Y TABLE機械設備辅助取像設備,在此狀況下,不僅可 大幅降低使用成本’而與_般影像辨識系統作電容極性及 I C方向判斷之速度比較,則可加速1 〇倍以上。 4 .無須規劃額外的獨立空間··由於本發明之影像辨 識系統係建構在Ϊ C 丁系統上,其無須另外規劃安裝空間 ’、以既有的硬體設備即可予改裝’藉此可進一步節省使用 成本。 、’T、上所述,本發明確已具備先揭所述之諸項優點,相 較於傳統單純以1 c T系統或影像辨識系關測電容極性 及IC方向,在精確性及效率性上已有顯著增進,遂本發 月應已具備產業上可利用性'新賴性及進步性,並符合發 17__ 「210X2^7公釐)' ~ --- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
、1T 五、發明説明(/ 6 Λ7 B7 明專利要件,爰依法提起申請 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)

Claims (1)

  1. Αδ Β8 C8 D8
    申請專利範圍 其包括有 .一種具影像辨識系統之ICT測試方法, 一輸入待測物原始影像線路 請 先 閱 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 ; H宁储存之學習步驟 一取得待測物影像之步驟; 一根據輸人㈣物原始f彡像祕f 影像進行比對錢階差錢測待測物 待測物 向之步驟; J物上電谷極性及IC方 一顯示前述檢測結果之步驟; -利用ICT系統檢測待測物接點及測試電阻 及電感等容量之步驟。 訂 請專利範圍第1項所述具影像辨識系統之 CT測心法’該,CT系統主要由—魔床與—電觸單元 ,·且成’該壓床包括有-模板、—位於模板上方之待測物座 板及一位於待測物座板上方位置且可作升降之壓板; 該模板與待測電路板具有相同的線路佈局,其上設有 多數可伸、缩之接觸端子,4一接觸端子係分別對應於待測 經濟部中央襟準局員工消費合作社印製 電路板底面之各個元件焊點,且分別透過適當介面與電 單元連線; 該待測物座板係供待測電路板放置其上; 該壓板上没有多數壓桿,並由氣壓缸控制其升降動作 ’其中每一壓桿係與待測電路板表面之電子元件錯開; 前述構造於氣壓缸作動使壓板下降時,其壓桿將同時 向下壓制待測物,使其底面之元件焊點與對應的接觸端子
    A8 B8 C8 D8 經濟部t央標準局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 接觸,隨即透過電腦單元檢測元件之開路、短路及焊點是 否完好,並可進行功能測試; 疋 又壓床於適當位置設有取像設備,以取得待測物表面 之影像資料,經影像介面卡送入電腦單元,與原先取得之 正確影像進行比對,利用不同影像產生的灰階差異,以 斷電容極性及I c方向是否正確。 | 、3 .如申請專利範圍第2項所述具影像辨識系統之 ICT測試方法,該取像設備係設於壓床之壓板周邊位置。 4.如申請專利範圍第2項所述具影像辨識系統之 ICT測試方法,各組取像設備之影像攝取範圍係部分重叠 者0 良紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公董) (請先閩讀背面之注意事頊再填寫本頁〕
TW87121974A 1998-12-31 1998-12-31 Testing method of In-circuit testing with image recognition system TW381182B (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW87121974A TW381182B (en) 1998-12-31 1998-12-31 Testing method of In-circuit testing with image recognition system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW87121974A TW381182B (en) 1998-12-31 1998-12-31 Testing method of In-circuit testing with image recognition system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW381182B true TW381182B (en) 2000-02-01

Family

ID=21632534

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW87121974A TW381182B (en) 1998-12-31 1998-12-31 Testing method of In-circuit testing with image recognition system

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TW381182B (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG101468A1 (en) * 2000-12-20 2004-01-30 Seagate Technology Llc Automatic optical inspection of printed circuit board packages with polarity
US7957578B2 (en) 2006-07-27 2011-06-07 Asustek Computer Inc. Method for automatically inspecting polar directions of polar element
TWI383165B (zh) * 2005-12-16 2013-01-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 電路板在線測試與維修系統及方法
CN103869203A (zh) * 2012-12-07 2014-06-18 财团法人工业技术研究院 中介层测试装置及其方法
TWI549097B (zh) * 2015-10-08 2016-09-11 台達電子工業股份有限公司 電子元件外觀影像檢測方法及其電腦可讀媒體
TWI589199B (zh) * 2014-09-17 2017-06-21 和碩聯合科技股份有限公司 電容器插件系統
WO2019075920A1 (zh) * 2017-10-19 2019-04-25 上海望友信息科技有限公司 元器件极性检测方法、系统、计算机可读存储介质及设备

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG101468A1 (en) * 2000-12-20 2004-01-30 Seagate Technology Llc Automatic optical inspection of printed circuit board packages with polarity
TWI383165B (zh) * 2005-12-16 2013-01-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 電路板在線測試與維修系統及方法
US7957578B2 (en) 2006-07-27 2011-06-07 Asustek Computer Inc. Method for automatically inspecting polar directions of polar element
CN103869203A (zh) * 2012-12-07 2014-06-18 财团法人工业技术研究院 中介层测试装置及其方法
TWI589199B (zh) * 2014-09-17 2017-06-21 和碩聯合科技股份有限公司 電容器插件系統
TWI549097B (zh) * 2015-10-08 2016-09-11 台達電子工業股份有限公司 電子元件外觀影像檢測方法及其電腦可讀媒體
WO2019075920A1 (zh) * 2017-10-19 2019-04-25 上海望友信息科技有限公司 元器件极性检测方法、系统、计算机可读存储介质及设备
US11330705B2 (en) 2017-10-19 2022-05-10 Vayo (Shanghai) Technology Co., Ltd. Method, system and apparatus for detecting polarity of component, and computer-readable storage medium

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI225927B (en) Defect inspection system
TWI744511B (zh) 檢查系統、晶圓圖顯示器、晶圓圖顯示方法及電腦程式
CN104730078A (zh) 一种基于红外热像仪aoi的电路板检测方法
CN101893579A (zh) 目视检查装置和目视检查方法
TW381182B (en) Testing method of In-circuit testing with image recognition system
TW201326740A (zh) Pcb板線路的線寬檢測系統及方法
WO2018028032A1 (zh) 一种半成品触摸屏测试机
TW297097B (zh)
CN112162192A (zh) 一种自动化电子线路参数检测与分析记录系统
TWI310084B (en) Automatic inspecting method for inspecting the polar direction of the polar element
KR102036000B1 (ko) 터치 스크린 패널의 터치 감지용 전극 검사 장치
TWI221260B (en) Inspection status display method
CN207068439U (zh) 点灯机
CN104596578A (zh) 一种基于移动终端的外接件巡检方法、系统及移动终端
CN212301767U (zh) 一种电路板测试装置
JP3784479B2 (ja) 回路基板検査方法
CN220230907U (zh) 一种显示模组检测治具
JPH06230081A (ja) 電子機器ボードの異常個所検出装置及びこれに用いるプローブ
JPS62233746A (ja) チツプ搭載基板チエツカ
JP2001330641A (ja) プリント板の検査方法とその装置
CN213457246U (zh) 一种自动化电子线路参数检测与分析记录系统
JPH10142281A (ja) 回路基板検査方法
JP3337794B2 (ja) 回路基板検査方法およびその装置
TW378272B (en) Detecting the open/grounded /shorted state of each pin on a computer parallel port
CN113900001A (zh) 一种电路板测试装置以及电路板的测试方法

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent