TW202204914A - 顯示裝置及其線缺陷的檢測方法 - Google Patents

Abstract

本發明公開一種顯示裝置及其線缺陷的檢測方法。顯示裝置包括一驅動基板、多個導電件、一驅動檢測晶片及一顯示面板，驅動基板具有一晶片設置區及一面板設置區，晶片設置區具有多個虛設連接墊、一檢測電路及多個輸出連接墊，該些虛設連接墊透過檢測電路與該些輸出連接墊對應連接，驅動檢測晶片設置於晶片設置區，且驅動檢測晶片透過該些輸出連接墊與顯示面板電性連接，該檢測方法包括：由驅動檢測晶片輸出一檢測訊號，該檢測訊號經由該些虛設連接墊及檢測電路傳送至該些輸出連接墊；以及，由驅動檢測晶片從該些輸出連接墊上的導電件檢測該檢測訊號。

Description

顯示裝置及其線缺陷的檢測方法

本發明關於一種裝置及檢測方法，特別關於一種顯示裝置及其線缺陷（Line Defect）的檢測方法。

隨著科技的進步，作為人與機器間溝通介面之平面顯示裝置也持續不斷地進步，並且朝著多元化的方向發展以滿足人類的需求。在現有的平面顯示裝置中，將驅動晶片接合（Bonding）在玻璃基板上通稱為COG（Chip on Glass），以驅動顯示面板產生影像已是相當普遍的製造技術。

在現有技術中，平面顯示裝置使用一段時間後，如果顯示畫面發生暗線的問題時，為了找出暗線的原因及其相關位置，現有的方法需將顯示裝置的模組外觀件折除後才能對顯示模組進行檢查，以確定其原因是因為模組的面內問題、驅動晶片的接合不良問題，或是驅動晶片本身不良所造成。

本發明的目的為提供一種顯示裝置及其線缺陷的檢測方法，可以達到不需拆解顯示裝置即可得知線缺陷發生的相關位置。

為達上述目的，依據本發明之一種顯示裝置，包括一驅動基板、多個導電件、一驅動檢測晶片以及一顯示面板。驅動基板具有一晶片設置區及一面板設置區，晶片設置區具有多個虛設連接墊、一檢測電路及多個輸出連接墊，該些虛設連接墊透過檢測電路與該些輸出連接墊對應連接。該些導電件設置於該些虛設連接墊及該些輸出連接墊上。驅動檢測晶片設置於晶片設置區，並透過該些導電件與該些虛設連接墊及該些輸出連接墊電性連接。顯示面板設置於面板設置區，且驅動檢測晶片透過該些輸出連接墊與顯示面板電性連接；其中，驅動檢測晶片輸出一檢測訊號，該檢測訊號經由該些虛設連接墊及檢測電路傳送至該些輸出連接墊，且驅動檢測晶片由該些輸出連接墊上的該些導電件檢測該檢測訊號。

為達上述目的，依據本發明之一種顯示裝置的線缺陷檢測方法，顯示裝置包括一驅動基板、多個導電件、一驅動檢測晶片及一顯示面板，驅動基板具有一晶片設置區及一面板設置區，晶片設置區具有多個虛設連接墊、一檢測電路及多個輸出連接墊，該些虛設連接墊透過檢測電路與該些輸出連接墊對應連接，該些導電件設置於該些虛設連接墊及該些輸出連接墊上，驅動檢測晶片設置於晶片設置區，並透過該些導電件與該些虛設連接墊及該些輸出連接墊電性連接，顯示面板設置於面板設置區，且驅動檢測晶片透過該些輸出連接墊與顯示面板電性連接，該檢測方法包括：由驅動檢測晶片輸出一檢測訊號，該檢測訊號經由該些虛設連接墊及檢測電路傳送至該些輸出連接墊；以及，由驅動檢測晶片從該些輸出連接墊上的該些導電件檢測該檢測訊號。

在一實施例中，該些虛設連接墊包括一檢測連接墊，檢測電路包括多個開關元件，各開關元件具有一第一端及一第二端，檢測連接墊分別與各開關元件的第一端連接，且各開關元件的第二端分別與各輸出連接墊對應設置且連接。

在一實施例中，檢測訊號包括一檢測電壓，該檢測電壓經由檢測連接墊、該些開關元件傳送至該些輸出連接墊，且驅動檢測晶片由該些輸出連接墊上的該些導電件檢測該檢測電壓。

在一實施例中，該些虛設連接墊具有一第一控制連接墊及一第二控制連接墊，檢測電路包括多個開關元件，各開關元件具有一控制端，第一控制連接墊分別與部分的該些開關元件的該些控制端連接，第二控制連接墊分別與另一部分的該些開關元件的該些控制端連接。

在一實施例中，該檢測訊號包括一控制電壓，該控制電壓經由第一控制連接墊或第二控制連接墊傳送至該些開關元件的該些控制端。

在一實施例中，驅動檢測晶片具有多個電極，該些電極的一部分分別與該些虛設連接墊及該些輸出連接墊對應設置且電性連接。

在一實施例中，晶片設置區更具有多個輸入連接墊，該些電極的另一部分分別與該些輸入連接墊對應設置且電性連接。

在一實施例中，於驅動檢測晶片驅動顯示面板顯示影像時，驅動檢測晶片使該些虛設連接墊浮接。

在一實施例中，驅動檢測晶片包括顯示面板的掃描驅動器及/或資料驅動器。

在一實施例中，顯示面板為電子紙膜、液晶顯示面板、或發光二極體顯示面板。

承上所述，在本發明的顯示裝置及其線缺陷的檢測方法中，驅動基板的晶片設置區具有多個虛設連接墊、檢測電路及多個輸出連接墊，且該些虛設連接墊透過檢測電路與該些輸出連接墊對應連接；另外，驅動檢測晶片設置於晶片設置區，並透過該些導電件與該些虛設連接墊及該些輸出連接墊電性連接，且驅動檢測晶片可輸出檢測訊號，該檢測訊號經由該些虛設連接墊及檢測電路傳送至該些輸出連接墊，且驅動檢測晶片可由該些輸出連接墊上的該些導電件檢測該檢測訊號。藉由上述的設計，使得驅動檢測晶片可由回傳的檢測訊號中得知該些導電件與該些輸出連接墊的接合情況，藉此判斷顯示裝置的線缺陷發生原因及其相關位置。因此，本發明的顯示裝置及其線缺陷的檢測方法可以達到在不需拆解顯示裝置的情況下，藉由系統端直接控制驅動檢測晶片即可得知線缺陷發生的相關位置。

以下將參照相關圖式，說明依本發明較佳實施例之顯示裝置及其線缺陷的檢測方法，其中相同的元件將以相同的參照符號加以說明。

圖1為本發明一實施例之一種顯示裝置的示意圖，圖2為圖1之顯示裝置中，驅動基板的晶片設置區的配置示意圖，而圖3為圖1之顯示裝置中，驅動檢測晶片接合在驅動基板的側視示意圖。

請參照圖1至圖3所示，顯示裝置1包括一驅動基板11、多個導電件12（圖3）、一驅動檢測晶片13以及一顯示面板14。另外，本實施例的顯示裝置1更可包括一連接電路板15及一系統電路板16。

當顯示裝置1為電子紙顯示裝置時，顯示面板14可為電子紙膜；當顯示裝置1為液晶顯示裝置時，顯示面板14可為液晶顯示面板；當顯示裝置1為發光二極體顯示裝置時，顯示面板14可為發光二極體顯示面板（可為有機或無機）。本實施例的顯示面板14例如是以電子紙膜為例。電子紙膜為雙穩態的顯示裝置，因此具有省電特性及寬視角等優點，其可為微膠囊（Microcapsule）型電子紙、微杯（Microcup）型電子紙、或膽固醇液晶（Cholesteric Liquid Crystal）電子紙，但也不限於此。在一些實施例中，電子紙膜為微膠囊型或微杯型電子紙時，其顯示介質可包含電泳物質，電泳物質包含複數帶電荷之淺色顏料微粒以及深色的介質溶液，顏料微粒及介質溶液分別容置於複數微膠囊內，而微膠囊之間則可利用接著劑而結合在一起；或者，電泳物質的內容物也可以是深色的顏料微粒與淺色介質溶液之組合；又或者，電泳物質的內容物也可以是多種顏色的顏料微粒與淺色介質溶液之組合。

驅動基板11包含有多個畫素，該些畫素與顯示面板14的顯示面141對應設置。其中，各畫素可具有至少一個開關，例如為薄膜電晶體（TFT），使驅動基板11為主動矩陣（Active Matrix）驅動式的薄膜電晶體基板，藉此控制各畫素之電場形成與否。驅動基板11的基材可為玻璃基材，並利用例如薄膜電晶體製程將薄膜電晶體及對應的線路、元件等設置在玻璃基材上，藉此控制顯示面板14顯示影像。

驅動基板11具有一晶片設置區A1及一面板設置區A2。顧名思義，晶片設置區A1為設置驅動檢測晶片13的區域（即COG的區域），而面板設置區A2則為設置顯示面板14的區域。如圖2所示，晶片設置區A1具有多個虛設連接墊（Dummy Pad，圖2顯示3個，標示為P0、P1、P2）、一檢測電路DC及多個輸出連接墊O1～On（圖2只顯示O1～O6；n為正整數，其數值依顯示面板14的解析度而定），該些虛設連接墊（P0、P1、P2）透過檢測電路DC與該些輸出連接墊O1～On對應連接，且該些輸出連接墊O1～On分別透過導線L（例如掃描線或資料線）與驅動基板11之畫素的開關電性連接，以將驅動訊號傳送至該些畫素。於此，圖2顯示的3個虛設連接墊分別為檢測連接墊P0、第一控制連接墊P1及第二控制連接墊P2。值得一提的是，除了這三個虛設連接墊（P0、P1、P2）外，在一些實施例中，晶片設置區A1上還可以有另一些虛設連接墊（未繪示），且該另一些虛設連接墊可能會或不會和檢測電路DC及/或輸出連接墊O1～On連接。

本實施例的檢測電路DC包括有多個開關元件T1～Tn（圖2只顯示T1～T6）及對應的連接導路。開關元件T1～Tn例如為TFT，其數量與輸出連接墊O1～On的數量相同，而且是一個開關元件與一個輸出連接墊對應設置且電性連接。各開關元件T1～Tn分別具有一第一端E1、一第二端E2及一控制端C，而檢測連接墊P0分別與各開關元件T1～Tn的第一端E1連接，且開關元件T1～Tn的第二端E2分別與輸出連接墊O1～On對應設置且連接。另外，第一控制連接墊P1分別與部分的開關元件T1～Tn的控制端C連接，第二控制連接墊P2分別與另一部分的開關元件T1～Tn的控制端C連接。本實施例的第一控制連接墊P1例如與奇數的開關元件T1、T3、T5、…的控制端C連接，而第二控制連接墊P2例如與偶數的開關元件T2、T4、T6…的控制端C連接；然並不以此為限，在不同的實施例中，第一控制連接墊P1也可例如與前半部分的開關元件（例如T1～Tn/2）的控制端C連接，第二控制連接墊P2也可例如與後半部分的開關元件（例如Tn/2+1～Tn）的控制端C連接；或者是其他的連接方式。因此，當經由第一控制連接墊P1傳輸的訊號（如控制電壓）使開關元件T1、T3、T5、…導通時，經由檢測連接墊P0傳送的訊號（如檢測電壓）可分別由開關元件T1、T3、T5、…的第一端E1傳送至第二端E2，並傳送至開關元件T1、T3、T5、…對應的輸出連接墊O1、O3、O5…；當經由第二控制連接墊P2傳輸的訊號使開關元件T2、T4、T6、…導通時，經由檢測連接墊P0傳送的訊號可分別由開關元件T2、T4、T6、…的第一端E1傳送至第二端E2，並傳送至開關元件T2、T4、T6、…對應的輸出連接墊O2、O4、O6…。在不同的實施例中，檢測電路DC可能有所不同。

該些導電件12設置於該些虛設連接墊（P0、P1、P2）及該些輸出連接墊O1～On上。導電件12的材料可例如為銀膠、錫膏、或異方性導電膠（ACF），或其組合。

驅動檢測晶片13設置於晶片設置區A1上，並透過該些導電件12與該些虛設連接墊（P0、P1、P2）及該些輸出連接墊O1～On電性連接。在一些實施例中，導電件12材料可為異方性導電膠（ACF），其可全面地塗佈在晶片設置區A1，使驅動檢測晶片13可透過異方性導電膠（ACF）與該些虛設連接墊（P0、P1、P2）及該些輸出連接墊O1～On電性連接。在一些實施例中，驅動檢測晶片13可包括顯示面板14的掃描驅動器（Scan Driver）及/或資料驅動器（Data Driver）。換句話說，驅動檢測晶片13具有顯示面板14的掃描線驅動功能、或資料線驅動功能；或者，同時具有（整合）掃描線驅動功能及資料線驅動功能，本發明並不限制。驅動檢測晶片13具有多個電極E（圖3），該些虛設連接墊（P0、P1、P2）及該些輸出連接墊O1～On分別與驅動檢測晶片13的一部分電極E對應設置且電性連接。於此，驅動檢測晶片13是以COG技術，透過導電件12接合在驅動基板11的晶片設置區A1，使得驅動檢測晶片13的電極E可透過導電件12及輸出連接墊O1～On（及導線L）與顯示面板14電性連接，藉此控制顯示面板14顯示影像。另外，本實施例的晶片設置區A1更可具有多個輸入連接墊I1～Im（圖2只顯示I1～I4；m為正整數，其數值依顯示面板14的解析度而定），而驅動檢測晶片13的該些電極E的另一部分分別透過導電件12與該些輸入連接墊I1～Im對應設置且電性連接（圖3只顯示驅動檢測晶片13的三個電極E、對應的三個導電件12、一個輸入連接墊I1、一個檢測連接墊P0和一個輸出連接墊O1）。

請再參照圖1所示，連接電路板15例如但不限於為軟性電路板，其分別與驅動檢測晶片13及系統電路板16電性連接，使得系統電路板16可以透過連接電路板15傳送控制訊號至驅動檢測晶片13，進而使得驅動檢測晶片13可透過輸出連接墊O1～On傳送驅動訊號至顯示面板14。在驅動檢測晶片13驅動顯示面板14顯示影像時，驅動檢測晶片13可控制而使虛設連接墊（P0、P1、P2）浮接（Floating）。除此之外，系統電路板16還可以透過連接電路板15啟動驅動檢測晶片13的檢測功能，並且透過連接電路板15得知驅動檢測晶片13的線缺陷檢測結果。

為了檢測顯示裝置1發生線缺陷的原因及其相關位置，驅動檢測晶片13內建有線缺陷檢測功能，而系統電路板16可以命令驅動檢測晶片13切換至檢測功能，使驅動檢測晶片13可輸出一檢測訊號DS，檢測訊號DS可以經由該些虛設連接墊（P0、P1、P2）上的導電件12、虛設連接墊（P0、P1、P2）及檢測電路DC傳送至輸出連接墊O1～On，而且驅動檢測晶片13可以由輸出連接墊O1～On上的導電件12檢測出該檢測訊號DS。

具體來說，如圖2及圖3所示，本實施例的驅動檢測晶片13除了具有驅動顯示面板14顯示影像的功能外，還內建有線缺陷檢測功能而可輸出檢測訊號DS，以由對應的輸出連接墊O1～On上的導電件12經由對應的電極E檢測出各導電件12的電連接狀況。在本實施例中，檢測訊號DS可包括一控制電壓CV及一檢測電壓DV（圖2）。當驅動檢測晶片13經由第一控制連接墊P1傳送控制電壓CV至開關元件T1、T3、T5…的控制端C而使開關元件T1、T3、T5…導通時，則驅動檢測晶片13可經由檢測連接墊P0、開關元件T1、T3、T5…將該檢測電壓DV傳送至輸出連接墊O1、O3、O5…，使得驅動檢測晶片13可由該些輸出連接墊O1、O3、O5…上的導電件12檢測出該檢測電壓DV，以得知該些奇數傳輸路徑的狀況。另外，當驅動檢測晶片13經由第二控制連接墊P2傳送控制電壓CV至開關元件T2、T4、T6…的控制端C而使開關元件T2、T4、T6…導通時，則驅動檢測晶片13也可經由檢測連接墊P0、開關元件T2、T4、T6…將該檢測電壓DV傳送至輸出連接墊O2、O4、O6…，使得驅動檢測晶片13可由該些輸出連接墊O2、O4、O6…上的導電件12檢測出該檢測電壓DV，以得知該些偶數傳輸路徑的狀況。

舉例來說，如果包括有輸出連接墊O2的傳輸路徑所感知的檢測電壓DV與其對應輸入的檢測電壓DV有較大差異，例如壓降超過某一閥值時，則可認定包括輸出連接墊O2的傳輸路徑的電連接狀況不佳，例如電極E與輸出連接墊O2之間用以接合的導電件12產生了相應的問題，例如開路（Open）、短路（Short）、或接合不良，藉此可得知包括輸出連接墊O2的該傳輸路徑可能發生開路、短路、或接合不良情況。如果所有的傳輸路徑所得到的檢測電壓DV與輸入的檢測電壓DV差異在合理範圍的話，則表示驅動檢測晶片13的電極E與輸出連接墊O1～On之間的電連接狀況都相當良好，則可斷定線缺陷發生原因可能在其他位置，例如顯示面板14之顯示面141內的缺陷或其他原因所造成。因此，可以達到不需拆解顯示裝置1即可得知線缺陷發生的相關原因及其相關位置。

圖4為本發明一實施例之電子裝置的線缺陷檢測方法的流程步驟示意圖。請參照圖4並配合圖1至圖3所示，本發明之電子裝置1的線缺陷檢測方法可包括：由驅動檢測晶片13輸出檢測訊號DS，該檢測訊號DS經由該些虛設連接墊（P0、P1、P2）及檢測電路DC傳送至該些輸出連接墊O1～O6（圖4的步驟S01）；以及由驅動檢測晶片13從該些輸出連接墊O1～O6上的該些導電件12檢測該檢測訊號DS（圖4的步驟S02）。藉由上述的步驟S01及步驟S02，系統電路板16可以透過連接電路板15得知驅動檢測晶片13的線缺陷檢測結果，因此可以達到不需拆解顯示裝置1即可得知線缺陷發生的相關位置。

此外，顯示裝置1及其線缺陷的檢測方法的其他技術特徵已上述中詳述，在此不再多作說明。

綜上所述，在本發明的顯示裝置及其線缺陷的檢測方法中，驅動基板的晶片設置區具有多個虛設連接墊、檢測電路及多個輸出連接墊，且該些虛設連接墊透過檢測電路與該些輸出連接墊對應連接；另外，驅動檢測晶片設置於晶片設置區，並透過該些導電件與該些虛設連接墊及該些輸出連接墊電性連接，且驅動檢測晶片可輸出檢測訊號，該檢測訊號經由該些虛設連接墊及檢測電路傳送至該些輸出連接墊，且驅動檢測晶片可由該些輸出連接墊上的該些導電件檢測該檢測訊號。藉由上述的設計，使得驅動檢測晶片可由回傳的檢測訊號中得知該些導電件與該些輸出連接墊的接合情況，藉此判斷顯示裝置的線缺陷發生原因及其相關位置。因此，本發明的顯示裝置及其線缺陷的檢測方法可以達到在不需拆解顯示裝置的情況下，藉由系統端直接控制驅動檢測晶片即可得知線缺陷發生的相關位置。

以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發明之精神與範疇，而對其進行之等效修改或變更，均應包含於後附之申請專利範圍中。

1:顯示裝置 11:驅動基板 12:導電件 13:驅動檢測晶片 14:顯示面板 141:顯示面 15:連接電路板 16:系統電路板 A1:晶片設置區 A2:面板設置區 C:控制端 CV:控制電壓 DC:檢測電路 DS:檢測訊號 DV:檢測電壓 E:電極 E1:第一端 E2:第二端 I1~I4:輸入連接墊 L:導線 O1~O6:輸出連接墊 P0:檢測連接墊 P1:第一控制連接墊 P2:第二控制連接墊 S01,S02:步驟 T0~T6:開關元件

圖1為本發明一實施例之一種顯示裝置的示意圖。 圖2為圖1之顯示裝置中，驅動基板的晶片設置區的配置示意圖。 圖3為圖1之顯示裝置中，驅動檢測晶片接合在驅動基板的側視示意圖。 圖4為本發明一實施例之電子裝置的線缺陷檢測方法的流程步驟示意圖。

S01,S02:步驟

Claims (20)

1. 一種顯示裝置，包括： 一驅動基板，具有一晶片設置區及一面板設置區，該晶片設置區具有多個虛設連接墊、一檢測電路及多個輸出連接墊，該些虛設連接墊透過該檢測電路與該些輸出連接墊對應連接； 多個導電件，設置於該些虛設連接墊及該些輸出連接墊上； 一驅動檢測晶片，設置於該晶片設置區，並透過該些導電件與該些虛設連接墊及該些輸出連接墊電性連接；以及 一顯示面板，設置於該面板設置區，且該驅動檢測晶片透過該些輸出連接墊與該顯示面板電性連接； 其中，該驅動檢測晶片輸出一檢測訊號，該檢測訊號透經由該些虛設連接墊及該檢測電路傳送至該些輸出連接墊，且該驅動檢測晶片由該些輸出連接墊上的該些導電件檢測該檢測訊號。
2. 如請求項1所述的顯示裝置，其中該些虛設連接墊包括一檢測連接墊，該檢測電路包括多個開關元件，各該開關元件具有一第一端及一第二端，該檢測連接墊分別與各該開關元件的該第一端連接，且各該開關元件的該第二端分別與各該輸出連接墊對應設置且連接。
3. 如請求項2所述的顯示裝置，其中該檢測訊號包括一檢測電壓，該檢測電壓經由該檢測連接墊、該些開關元件傳送至該些輸出連接墊，且該驅動檢測晶片由該些輸出連接墊上的該些導電件檢測該檢測電壓。
4. 如請求項1所述的顯示裝置，其中該些虛設連接墊具有一第一控制連接墊及一第二控制連接墊，該檢測電路包括多個開關元件，各該開關元件具有一控制端，該第一控制連接墊分別與部分的該些開關元件的該些控制端連接，該第二控制連接墊分別與另一部分的該些開關元件的該些控制端連接。
5. 如請求項4所述的顯示裝置，其中該檢測訊號包括一控制電壓，該控制電壓經由該第一控制連接墊或該第二控制連接墊傳送至該些開關元件的該些控制端。
6. 如請求項1所述的顯示裝置，其中該驅動檢測晶片具有多個電極，該些電極的一部分分別與該些虛設連接墊及該些輸出連接墊對應設置且電性連接。
7. 如請求項6所述的顯示裝置，其中該晶片設置區更具有多個輸入連接墊，該些電極的另一部分分別與該些輸入連接墊對應設置且電性連接。
8. 如請求項1所述的顯示裝置，其中，於該驅動檢測晶片驅動該顯示面板顯示影像時，該驅動檢測晶片使該些虛設連接墊浮接。
9. 如請求項1所述的顯示裝置，其中該驅動檢測晶片包括該顯示面板的掃描驅動器及/或資料驅動器。
10. 如請求項1所述的顯示裝置，其中該顯示面板為電子紙膜、液晶顯示面板、或發光二極體顯示面板。
11. 一種顯示裝置的線缺陷檢測方法，該顯示裝置包括一驅動基板、多個導電件、一驅動檢測晶片及一顯示面板，該驅動基板具有一晶片設置區及一面板設置區，該晶片設置區具有多個虛設連接墊、一檢測電路及多個輸出連接墊，該些虛設連接墊透過該檢測電路與該些輸出連接墊對應連接，該些導電件設置於該些虛設連接墊及該些輸出連接墊上，該驅動檢測晶片設置於該晶片設置區，並透過該些導電件與該些虛設連接墊及該些輸出連接墊電性連接，該顯示面板設置於該面板設置區，且該驅動檢測晶片透過該些輸出連接墊與該顯示面板電性連接，該檢測方法包括： 由該驅動檢測晶片輸出一檢測訊號，該檢測訊號經由該些虛設連接墊及該檢測電路傳送至該些輸出連接墊；以及 由該驅動檢測晶片從該些輸出連接墊上的該些導電件檢測該檢測訊號。
12. 如請求項11所述的檢測方法，其中該些虛設連接墊包括一檢測連接墊，該檢測電路包括多個開關元件，各該開關元件具有一第一端及一第二端，該檢測連接墊分別與各該開關元件的該第一端連接，且各該開關元件的該第二端分別與各該輸出連接墊對應設置且連接。
13. 如請求項12所述的檢測方法，其中該檢測訊號包括一檢測電壓，該檢測電壓經由該檢測連接墊、該些開關元件傳送至該些輸出連接墊，且該驅動檢測晶片由該些輸出連接墊上的該些導電件檢測該檢測電壓。
14. 如請求項11所述的檢測方法，其中該些虛設連接墊包括一第一控制連接墊及一第二控制連接墊，該檢測電路包括多個開關元件，各該開關元件具有一控制端，該第一控制連接墊分別與部分的該些開關元件的該些控制端連接，該第二控制連接墊分別與另一部分的該些開關元件的該些控制端連接。
15. 如請求項14所述的檢測方法，其中該檢測訊號包括一控制電壓，該控制電壓經由該第一控制連接墊或該第二控制連接墊傳送至該些開關元件的該些控制端。
16. 如請求項11所述的檢測方法，其中該驅動檢測晶片具有多個電極，該些電極的一部分分別與該些虛設連接墊及該些輸出連接墊對應設置且電性連接。
17. 如請求項16所述的檢測方法，其中該晶片設置區更具有多個輸入連接墊，該些電極的另一部分分別與該些輸入連接墊對應設置且電性連接。
18. 如請求項11所述的檢測方法，其中，於該驅動檢測晶片驅動該顯示面板顯示影像時，該驅動檢測晶片使該些虛設連接墊浮接。
19. 如請求項11所述的檢測方法，其中該驅動檢測晶片包括該顯示面板的掃描驅動器及/或資料驅動器。
20. 如請求項11所述的檢測方法，其中該顯示面板為電子紙膜、液晶顯示面板、或發光二極體顯示面板。

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