CN113990228A - 显示装置及其线缺陷的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种显示装置及其线缺陷的检测方法。显示装置包括驱动基板、多个导电件、驱动检测晶片及显示面板，驱动基板具有晶片设置区及面板设置区，晶片设置区具有多个虚设连接垫、检测电路及多个输出连接垫，这些虚设连接垫通过检测电路与这些输出连接垫对应连接，驱动检测晶片设置于晶片设置区，且驱动检测晶片通过这些输出连接垫与显示面板电性连接，该检测方法包括：由驱动检测晶片输出检测信号，该检测信号经由这些虚设连接垫及检测电路传送至这些输出连接垫；以及，由驱动检测晶片从这些输出连接垫上的导电件检测该检测信号。

Description

显示装置及其线缺陷的检测方法

技术领域

本发明涉及一种装置及检测方法，更具体地涉及一种显示装置及其线缺陷(LineDefect)的检测方法。

背景技术

随着科技的进步，作为人与机器间沟通接口的平面显示装置也持续不断地进步，并且朝着多元化的方向发展以满足人类的需求。在现有的平面显示装置中，将驱动晶片接合(Bonding)在玻璃基板上通称为COG(Chip on Glass)，以驱动显示面板产生影像已是相当普遍的制造技术。

在现有技术中，平面显示装置使用一段时间后，如果显示画面发生暗线的问题时，为了找出暗线的原因及其相关位置，现有的方法需将显示装置的模块外观件折除后才能对显示模块进行检查，以确定其原因是因为模块的面内问题、驱动晶片的接合不良问题，或是驱动晶片本身不良所造成。

发明内容

本发明的目的为提供一种显示装置及其线缺陷的检测方法，可以达到不需拆解显示装置即可得知线缺陷发生的相关位置。

为达上述目的，依据本发明的一种显示装置包括驱动基板、多个导电件、驱动检测晶片以及显示面板。驱动基板具有晶片设置区及面板设置区，晶片设置区具有多个虚设连接垫、检测电路及多个输出连接垫，这些虚设连接垫通过检测电路与这些输出连接垫对应连接。这些导电件设置于这些虚设连接垫及这些输出连接垫上。驱动检测晶片设置于晶片设置区，并通过这些导电件与这些虚设连接垫及这些输出连接垫电性连接。显示面板设置于面板设置区，且驱动检测晶片通过这些输出连接垫与显示面板电性连接；其中，驱动检测晶片输出检测信号，该检测信号经由这些虚设连接垫及检测电路传送至这些输出连接垫，且驱动检测晶片由这些输出连接垫上的这些导电件检测该检测信号。

为达上述目的，依据本发明的一种显示装置的线缺陷检测方法，显示装置包括驱动基板、多个导电件、驱动检测晶片及显示面板，驱动基板具有晶片设置区及面板设置区，晶片设置区具有多个虚设连接垫、检测电路及多个输出连接垫，这些虚设连接垫通过检测电路与这些输出连接垫对应连接，这些导电件设置于这些虚设连接垫及这些输出连接垫上，驱动检测晶片设置于晶片设置区，并通过这些导电件与这些虚设连接垫及这些输出连接垫电性连接，显示面板设置于面板设置区，且驱动检测晶片通过这些输出连接垫与显示面板电性连接，该检测方法包括：由驱动检测晶片输出检测信号，该检测信号经由这些虚设连接垫及检测电路传送至这些输出连接垫；以及，由驱动检测晶片从这些输出连接垫上的这些导电件检测该检测信号。

在一个实施例中，这些虚设连接垫包括检测连接垫，检测电路包括多个开关元件，各开关元件具有第一端及第二端，检测连接垫分别与各开关元件的第一端连接，且各开关元件的第二端分别与各输出连接垫对应设置且连接。

在一个实施例中，检测信号包括检测电压，该检测电压经由检测连接垫、这些开关元件传送至这些输出连接垫，且驱动检测晶片由这些输出连接垫上的这些导电件检测该检测电压。

在一个实施例中，这些虚设连接垫具有第一控制连接垫及第二控制连接垫，检测电路包括多个开关元件，各开关元件具有控制端，第一控制连接垫分别与部分的这些开关元件的这些控制端连接，第二控制连接垫分别与另一部分的这些开关元件的这些控制端连接。

在一个实施例中，该检测信号包括控制电压，该控制电压经由第一控制连接垫或第二控制连接垫传送至这些开关元件的这些控制端。

在一个实施例中，驱动检测晶片具有多个电极，这些电极的一部分分别与这些虚设连接垫及这些输出连接垫对应设置且电性连接。

在一个实施例中，晶片设置区还具有多个输入连接垫，这些电极的另一部分分别与这些输入连接垫对应设置且电性连接。

在一个实施例中，在驱动检测晶片驱动显示面板显示影像时，驱动检测晶片使这些虚设连接垫浮接。

在一个实施例中，驱动检测晶片包括显示面板的扫描驱动器和/或数据驱动器。

在一个实施例中，显示面板为电子纸膜、液晶显示面板、或发光二极管显示面板。

承上所述，在本发明的显示装置及其线缺陷的检测方法中，驱动基板的晶片设置区具有多个虚设连接垫、检测电路及多个输出连接垫，且这些虚设连接垫通过检测电路与这些输出连接垫对应连接；另外，驱动检测晶片设置于晶片设置区，并通过这些导电件与这些虚设连接垫及这些输出连接垫电性连接，且驱动检测晶片可输出检测信号，该检测信号经由这些虚设连接垫及检测电路传送至这些输出连接垫，且驱动检测晶片可由这些输出连接垫上的这些导电件检测该检测信号。通过上述的设计，使得驱动检测晶片可由回传的检测信号中得知这些导电件与这些输出连接垫的接合情况，由此判断显示装置的线缺陷发生原因及其相关位置。因此，本发明的显示装置及其线缺陷的检测方法可以达到在不需拆解显示装置的情况下，通过系统端直接控制驱动检测晶片即可得知线缺陷发生的相关位置。

附图说明

图1为本发明实施例的一种显示装置的示意图。

图2为图1的显示装置中，驱动基板的晶片设置区的配置示意图。

图3为图1的显示装置中，驱动检测晶片接合在驱动基板的侧视示意图。

图4为本发明实施例的电子装置的线缺陷检测方法的流程步骤示意图。

具体实施方式

以下将参照相关附图，说明依本发明优选实施例的显示装置及其线缺陷的检测方法，其中相同的元件将以相同的附图标记加以说明。

图1为本发明实施例的一种显示装置的示意图，图2为图1的显示装置中，驱动基板的晶片设置区的配置示意图，而图3为图1的显示装置中，驱动检测晶片接合在驱动基板的侧视示意图。

请参照图1至图3所示，显示装置1包括驱动基板11、多个导电件12(图3)、驱动检测晶片13以及显示面板14。另外，本实施例的显示装置1还可包括连接电路板15及系统电路板16。

当显示装置1为电子纸显示装置时，显示面板14可为电子纸膜；当显示装置1为液晶显示装置时，显示面板14可为液晶显示面板；当显示装置1为发光二极管显示装置时，显示面板14可为发光二极管显示面板(可为有机或无机)。本实施例的显示面板14例如是以电子纸膜为例。电子纸膜为双稳态的显示器，因此具有省电特性及宽视角等优点，其可为微胶囊(Microcapsule)型电子纸、微杯(Microcup)型电子纸、或胆固醇液晶(CholestericLiquid Crystal)电子纸，但也不限于此。在一些实施例中，电子纸膜为微胶囊型或微杯型电子纸时，其显示介质可包含电泳物质，电泳物质包含多个带电荷的浅色颜料微粒以及深色的介质溶液，颜料微粒及介质溶液分别容置于多个微胶囊内，而微胶囊之间则可利用接着剂而结合在一起；或者，电泳物质的内容物也可以是深色的颜料微粒与浅色介质溶液的组合；又或者，电泳物质的内容物也可以是多种颜色的颜料微粒与浅色介质溶液的组合。

驱动基板11包含有多个画素，这些画素与显示面板14的显示面141对应设置。其中，各画素可具有至少一个开关，例如为薄膜晶体管(TFT)，使驱动基板11为主动矩阵(Active Matrix)驱动式的薄膜晶体管基板，由此控制是否形成各画素的电场。驱动基板11的基材可为玻璃基材，并利用例如薄膜晶体管工艺将薄膜晶体管及对应的线路、元件等设置在玻璃基材上，由此控制显示面板14显示影像。

驱动基板11具有晶片设置区A1及面板设置区A2。顾名思义，晶片设置区A1为设置驱动检测晶片13的区域(即COG的区域)，而面板设置区A2则为设置显示面板14的区域。如图2所示，晶片设置区A1具有多个虚设连接垫(Dummy Pad，图2显示3个，标示为P0、P1、P2)、检测电路DC及多个输出连接垫O1～On(图2只显示O1～O6；n为正整数，其数值依显示面板14的分辨率而定)，这些虚设连接垫(P0、P1、P2)通过检测电路DC与这些输出连接垫O1～On对应连接，且这些输出连接垫O1～On分别通过导线L(例如扫描线或数据线)与驱动基板11的画素的开关电性连接，以将驱动信号传送至这些画素。在此，图2显示的3个虚设连接垫分别为检测连接垫P0、第一控制连接垫P1及第二控制连接垫P2。值得一提的是，除了这三个虚设连接垫(P0、P1、P2)外，在一些实施例中，晶片设置区A1上还可以有另一些虚设连接垫(未绘示)，且该另一些虚设连接垫可能会或不会和检测电路DC和/或输出连接垫O1～On连接。

本实施例的检测电路DC包括有多个开关元件T1～Tn(图2只显示T1～T6)及对应的连接导路。开关元件T1～Tn例如为TFT，其数量与输出连接垫O1～On的数量相同，而且是一个开关元件与一个输出连接垫对应设置且电性连接。各开关元件T1～Tn分别具有第一端E1、第二端E2及控制端C，而检测连接垫P0分别与各开关元件T1～Tn的第一端E1连接，且开关元件T1～Tn的第二端E2分别与输出连接垫O1～On对应设置且连接。另外，第一控制连接垫P1分别与部分的开关元件T1～Tn的控制端C连接，第二控制连接垫P2分别与另一部分的开关元件T1～Tn的控制端C连接。本实施例的第一控制连接垫P1例如与奇数的开关元件T1、T3、T5、…的控制端C连接，而第二控制连接垫P2例如与偶数的开关元件T2、T4、T6…的控制端C连接；然而并不以此为限，在不同的实施例中，第一控制连接垫P1也可例如与前半部分的开关元件(例如T1～Tn/2)的控制端C连接，第二控制连接垫P2也可例如与后半部分的开关元件(例如Tn/2+1～Tn)的控制端C连接；或者是其他的连接方式。因此，当经由第一控制连接垫P1传输的信号(如控制电压)使开关元件T1、T3、T5、…导通时，经由检测连接垫P0传送的信号(如检测电压)可分别由开关元件T1、T3、T5、…的第一端E1传送至第二端E2，并传送至开关元件T1、T3、T5、…对应的输出连接垫O1、O3、O5…；当经由第二控制连接垫P2传输的信号使开关元件T2、T4、T6、…导通时，经由检测连接垫P0传送的信号可分别由开关元件T2、T4、T6、…的第一端E1传送至第二端E2，并传送至开关元件T2、T4、T6、…对应的输出连接垫O2、O4、O6…。在不同的实施例中，检测电路DC可能有所不同。

这些导电件12设置于这些虚设连接垫(P0、P1、P2)及这些输出连接垫O1～On上。导电件12的材料可例如为银胶、锡膏、或异方性导电胶(ACF)，或其组合。

驱动检测晶片13设置于晶片设置区A1上，并通过这些导电件12与这些虚设连接垫(P0、P1、P2)及这些输出连接垫O1～On电性连接。在一些实施例中，导电件12材料可为异方性导电胶(ACF)，其可全面地涂布在晶片设置区A1，使驱动检测晶片13可通过异方性导电胶(ACF)与这些虚设连接垫(P0、P1、P2)及这些输出连接垫O1～On电性连接。在一些实施例中，驱动检测晶片13可包括显示面板14的扫描驱动器(Scan Driver)和/或数据驱动器(DataDriver)。换句话说，驱动检测晶片13具有显示面板14的扫描线驱动功能、或数据线驱动功能；或者，同时具有(整合)扫描线驱动功能及数据线驱动功能，本发明并不限制。驱动检测晶片13具有多个电极E(图3)，这些虚设连接垫(P0、P1、P2)及这些输出连接垫O1～On分别与驱动检测晶片13的一部分电极E对应设置且电性连接。在此，驱动检测晶片13是以COG技术，通过导电件12接合在驱动基板11的晶片设置区A1，使得驱动检测晶片13的电极E可通过导电件12及输出连接垫O1～On(及导线L)与显示面板14电性连接，由此控制显示面板14显示影像。另外，本实施例的晶片设置区A1还可具有多个输入连接垫I1～Im(图2只显示I1～I4；m为正整数，其数值依显示面板14的分辨率而定)，而驱动检测晶片13的这些电极E的另一部分分别通过导电件12与这些输入连接垫I1～Im对应设置且电性连接(图3只显示驱动检测晶片13的三个电极E、对应的三个导电件12、一个输入连接垫I1、一个检测连接垫P0和一个输出连接垫O1)。

请再参照图1所示，连接电路板15例如但不限于为软性电路板，其分别与驱动检测晶片13及系统电路板16电性连接，使得系统电路板16可以通过连接电路板15传送控制信号至驱动检测晶片13，进而使得驱动检测晶片13可通过输出连接垫O1～On传送驱动信号至显示面板14。在驱动检测晶片13驱动显示面板14显示影像时，驱动检测晶片13可控制而使虚设连接垫(P0、P1、P2)浮接(Floating)。除此之外，系统电路板16还可以通过连接电路板15启动驱动检测晶片13的检测功能，并且通过连接电路板15得知驱动检测晶片13的线缺陷检测结果。

为了检测显示装置1发生线缺陷的原因及其相关位置，驱动检测晶片13内建有线缺陷检测功能，而系统电路板16可以命令驱动检测晶片13切换至检测功能，使驱动检测晶片13可输出检测信号DS，检测信号DS可以经由这些虚设连接垫(P0、P1、P2)上的导电件12、虚设连接垫(P0、P1、P2)及检测电路DC传送至输出连接垫O1～On，而且驱动检测晶片13可以由输出连接垫O1～On上的导电件12检测出该检测信号DS。

具体来说，如图2及图3所示，本实施例的驱动检测晶片13除了具有驱动显示面板14显示影像的功能外，还内建有线缺陷检测功能而可输出检测信号DS，以由对应的输出连接垫O1～On上的导电件12经由对应的电极E检测出各导电件12的电连接状况。在本实施例中，检测信号DS可包括控制电压CV及检测电压DV(图2)。当驱动检测晶片13经由第一控制连接垫P1传送控制电压CV至开关元件T1、T3、T5…的控制端C而使开关元件T1、T3、T5…导通时，则驱动检测晶片13可经由检测连接垫P0、开关元件T1、T3、T5…将该检测电压DV传送至输出连接垫O1、O3、O5…，使得驱动检测晶片13可由这些输出连接垫O1、O3、O5…上的导电件12检测出该检测电压DV，以得知这些奇数传输路径的状况。另外，当驱动检测晶片13经由第二控制连接垫P2传送控制电压CV至开关元件T2、T4、T6…的控制端C而使开关元件T2、T4、T6…导通时，则驱动检测晶片13也可经由检测连接垫P0、开关元件T2、T4、T6…将该检测电压DV传送至输出连接垫O2、O4、O6…，使得驱动检测晶片13可由这些输出连接垫O2、O4、O6…上的导电件12检测出该检测电压DV，以得知这些偶数传输路径的状况。

举例来说，如果包括有输出连接垫O2的传输路径所感知的检测电压DV与其对应输入的检测电压DV有较大差异，例如压降超过某一阀值时，则可认定包括输出连接垫O2的传输路径的电连接状况不佳，例如电极E与输出连接垫O2之间用以接合的导电件12产生了相应的问题，例如开路(Open)、短路(Short)、或接合不良，由此可得知包括输出连接垫O2的该传输路径可能发生开路、短路、或接合不良情况。如果所有的传输路径所得到的检测电压DV与输入的检测电压DV差异在合理范围的话，则表示驱动检测晶片13的电极E与输出连接垫O1～On之间的电连接状况都相当良好，则可断定线缺陷发生原因可能在其他位置，例如显示面板14的显示面141内的缺陷或其他原因所造成。因此，可以达到不需拆解显示装置1即可得知线缺陷发生的相关原因及其相关位置。

图4为本发明实施例的电子装置的线缺陷检测方法的流程步骤示意图。请参照图4并配合图1至图3所示，本发明的电子装置1的线缺陷检测方法可包括：由驱动检测晶片13输出检测信号DS，该检测信号DS经由这些虚设连接垫(P0、P1、P2)及检测电路DC传送至这些输出连接垫O1～O6(图4的步骤S01)；以及由驱动检测晶片13从这些输出连接垫O1～O6上的这些导电件12检测该检测信号DS(图4的步骤S02)。通过上述的步骤S01及步骤S02，系统电路板16可以通过连接电路板15得知驱动检测晶片13的线缺陷检测结果，因此可以达到不需拆解显示装置1即可得知线缺陷发生的相关位置。

此外，显示装置1及其线缺陷的检测方法的其他技术特征已上述中详述，在此不再多作说明。

综上所述，在本发明的显示装置及其线缺陷的检测方法中，驱动基板的晶片设置区具有多个虚设连接垫、检测电路及多个输出连接垫，且这些虚设连接垫通过检测电路与这些输出连接垫对应连接；另外，驱动检测晶片设置于晶片设置区，并通过这些导电件与这些虚设连接垫及这些输出连接垫电性连接，且驱动检测晶片可输出检测信号，该检测信号经由这些虚设连接垫及检测电路传送至这些输出连接垫，且驱动检测晶片可由这些输出连接垫上的这些导电件检测该检测信号。通过上述的设计，使得驱动检测晶片可由回传的检测信号中得知这些导电件与这些输出连接垫的接合情况，由此判断显示装置的线缺陷发生原因及其相关位置。因此，本发明的显示装置及其线缺陷的检测方法可以达到在不需拆解显示装置的情况下，通过系统端直接控制驱动检测晶片即可得知线缺陷发生的相关位置。

以上所述仅为举例性而非为限制性。任何未脱离本发明的精神与范畴而对其进行的等效修改或变更均应包含于随附权利要求书中。

Claims (20)

1.一种显示装置，包括：

驱动基板，具有晶片设置区及面板设置区，所述晶片设置区具有多个虚设连接垫、检测电路及多个输出连接垫，所述虚设连接垫通过所述检测电路与所述输出连接垫对应连接；

多个导电件，设置于所述虚设连接垫及所述输出连接垫上；

驱动检测晶片，设置于所述晶片设置区，并通过所述导电件与所述虚设连接垫及所述输出连接垫电性连接；以及

显示面板，设置于所述面板设置区，且所述驱动检测晶片通过所述输出连接垫与所述显示面板电性连接；

其中，所述驱动检测晶片输出检测信号，所述检测信号经由所述虚设连接垫及所述检测电路传送至所述输出连接垫，且所述驱动检测晶片由所述输出连接垫上的所述导电件检测所述检测信号。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述虚设连接垫包括检测连接垫，所述检测电路包括多个开关元件，各所述开关元件具有第一端及第二端，所述检测连接垫分别与各所述开关元件的所述第一端连接，且各所述开关元件的所述第二端分别与各所述输出连接垫对应设置且连接。

3.根据权利要求2所述的显示装置，其中所述检测信号包括检测电压，所述检测电压经由所述检测连接垫、所述开关元件传送至所述输出连接垫，且所述驱动检测晶片由所述输出连接垫上的所述导电件检测所述检测电压。

4.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述虚设连接垫具有第一控制连接垫及第二控制连接垫，所述检测电路包括多个开关元件，各所述开关元件具有控制端，所述第一控制连接垫分别与部分的所述开关元件的所述控制端连接，所述第二控制连接垫分别与另一部分的所述开关元件的所述控制端连接。

5.根据权利要求4所述的显示装置，其中所述检测信号包括控制电压，所述控制电压经由所述第一控制连接垫或所述第二控制连接垫传送至所述开关元件的所述控制端。

6.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述驱动检测晶片具有多个电极，所述电极的一部分分别与所述虚设连接垫及所述输出连接垫对应设置且电性连接。

7.根据权利要求6所述的显示装置，其中所述晶片设置区还具有多个输入连接垫，所述电极的另一部分分别与所述输入连接垫对应设置且电性连接。

8.根据权利要求1所述的显示装置，其中，在所述驱动检测晶片驱动所述显示面板显示影像时，所述驱动检测晶片使所述虚设连接垫浮接。

9.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述驱动检测晶片包括所述显示面板的扫描驱动器和/或数据驱动器。

10.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述显示面板为电子纸膜、液晶显示面板、或发光二极管显示面板。

11.一种显示装置的线缺陷检测方法，所述显示装置包括驱动基板、多个导电件、驱动检测晶片及显示面板，所述驱动基板具有晶片设置区及面板设置区，所述晶片设置区具有多个虚设连接垫、检测电路及多个输出连接垫，所述虚设连接垫通过所述检测电路与所述输出连接垫对应连接，所述导电件设置于所述虚设连接垫及所述输出连接垫上，所述驱动检测晶片设置于所述晶片设置区，并通过所述导电件与所述虚设连接垫及所述输出连接垫电性连接，所述显示面板设置于所述面板设置区，且所述驱动检测晶片通过所述输出连接垫与所述显示面板电性连接，所述检测方法包括：

由所述驱动检测晶片输出检测信号，所述检测信号经由所述虚设连接垫及所述检测电路传送至所述输出连接垫；以及

由所述驱动检测晶片从所述输出连接垫上的所述导电件检测所述检测信号。

12.根据权利要求11所述的检测方法，其中所述虚设连接垫包括检测连接垫，所述检测电路包括多个开关元件，各所述开关元件具有第一端及第二端，所述检测连接垫分别与各所述开关元件的所述第一端连接，且各所述开关元件的所述第二端分别与各所述输出连接垫对应设置且连接。

13.根据权利要求12所述的检测方法，其中所述检测信号包括检测电压，所述检测电压经由所述检测连接垫、所述开关元件传送至所述输出连接垫，且所述驱动检测晶片由所述输出连接垫上的所述导电件检测所述检测电压。

14.根据权利要求11所述的检测方法，其中所述虚设连接垫包括第一控制连接垫及第二控制连接垫，所述检测电路包括多个开关元件，各所述开关元件具有控制端，所述第一控制连接垫分别与部分的所述开关元件的所述控制端连接，所述第二控制连接垫分别与另一部分的所述开关元件的所述控制端连接。

15.根据权利要求14所述的检测方法，其中所述检测信号包括控制电压，所述控制电压经由所述第一控制连接垫或所述第二控制连接垫传送至所述开关元件的所述控制端。

16.根据权利要求11所述的检测方法，其中所述驱动检测晶片具有多个电极，所述电极的一部分分别与所述虚设连接垫及所述输出连接垫对应设置且电性连接。

17.根据权利要求16所述的检测方法，其中所述晶片设置区还具有多个输入连接垫，所述电极的另一部分分别与所述输入连接垫对应设置且电性连接。

18.根据权利要求11所述的检测方法，其中，在所述驱动检测晶片驱动所述显示面板显示影像时，所述驱动检测晶片使所述虚设连接垫浮接。

19.根据权利要求11所述的检测方法，其中所述驱动检测晶片包括所述显示面板的扫描驱动器和/或数据驱动器。

20.根据权利要求11所述的检测方法，其中所述显示面板为电子纸膜、液晶显示面板、或发光二极管显示面板。

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