TW202142890A - 近接感測方法及其應用之電子裝置 - Google Patents

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Abstract

本發明係有關一種近接感測方法及其應用之電子裝置，其藉由一偵測資料、一振盪基線資料與一振盪門檻，產生一振盪訊號，並搭配一近接訊號，以產生一判別訊號，用以辨識人體或物體接近。

Description

近接感測方法及其應用之電子裝置
本發明係有關一種判斷方法及其電路，尤其是一種近接感測方法及其應用之電子裝置。
特定吸收比率（Specific Absorption Rate，SAR）是一項衡量電磁波輻射量的標準，其代表單位質量的人體組織所吸收或消耗的電磁功率。隨著無線通訊技術的飛速發展，通訊電子裝置，例如行動電話，得到廣泛普及和應用。在日常應用中，此類電子裝置和人體的距離越來越小，其帶來的電磁輻射對人體健康的影響成為公眾關心的問題。為了減少電磁輻射對於人體的影響，遂發展出近接偵測機制，以判斷人體是否接近電子裝置，以控制電子裝置的電磁輻射，惟，電子裝置之近接偵測機制，並未能準確判斷是人體接近電子裝置還是物體接近電子裝置。
基於上述之問題，本發明提供一種近接感測方法及其應用之電子裝置，其利用振盪訊號搭配近接訊號進行判斷，以進一步判斷接近電子裝置的是人體或物體，進而避免在物體接近的情況下，降低射頻功率。
本發明之一目的，提供一種近接感測方法及其應用之電子裝置，其利用偵測資料、振盪基線資料與振盪門檻產生振盪訊號並搭配近接訊號，以進一步判斷接近電子裝置的是人體或物體，藉此避免在物體接近的情況下，降低射頻功率，也可避免在人體接近的情況下，未降低射頻功率。
本發明揭示了一種近接感測方法，其依據一偵測資料產生一振盪基線資料；依據該偵測資料、該振盪基線資料與一振盪門檻，產生一振盪訊號；以及依據該振盪訊號與一近接訊號產生一判別訊號，該判別訊號表示一物體或一人體接近，藉此避免在物體接近的情況下，降低射頻功率，也可避免在人體接近的情況下，未降低射頻功率。
本發明揭示了一種電子裝置，其包含一偵測電路、一振盪偵測電路與一近接偵測電路，該振盪偵測電路依據該偵測電路所產生之一偵測資料產生一振盪基線資料，該振盪產生電路依據該偵測資料、該振盪基線資料與一振盪門檻，產生一振盪訊號，該近接偵測電路依據該振盪訊號與一近接訊號產生一判別訊號，該判別訊號表示一物體或者一人體接近，因而避免在物體接近的情況下，降低射頻功率，也可避免在人體接近的情況下，未降低射頻功率。
為使　貴審查委員對本發明之特徵及所達成之功效有更進一步之瞭解與認識，謹佐以實施例及配合說明，說明如後：
有鑑於習知近接偵測機制中，未能判別是物體靠近，而在物體靠近的情況下降低射頻功率，如此即會影響電子裝置通訊的效能，據此，本發明遂提出一種近接感測方法及其應用之電子裝置，可產生一振盪訊號且搭配一近接訊號，辨識為人體靠近而降低射頻功率，並避免物體靠近時降低射頻功率。
在說明書及請求項當中使用了某些詞彙指稱特定的元件，然，所屬本發明技術領域中具有通常知識者應可理解，製造商可能會用不同的名詞稱呼同一個元件，而且，本說明書及請求項並不以名稱的差異作為區分元件的方式，而是以元件在整體技術上的差異作為區分的準則。在通篇說明書及請求項當中所提及的「包含」為一開放式用語，故應解釋成「包含但不限定於」。再者，「耦接」一詞在此包含直接及間接的連接手段。因此，若文中描述一第一裝置耦接一第二裝置，則代表第一裝置可直接連接第二裝置，或可透過其他裝置或其他連接手段間接地連接至第二裝置。
以下，將進一步說明本發明揭示一種近接感測方法及其應用之電子裝置所包含之特性、所搭配之結構：
首先，請參閱第一圖，其為本發明之電子裝置之一實施例之方塊圖。如圖所示，本發明之近接感測方法所應用之電子裝置10包含一偵測電路SEN、一振盪偵測電路18與一近接偵測電路20。偵測電路SEN可包含一感測電路12、一類比數位轉換電路14與一訊號處理電路16，於本發明之一實施例中，感測電路12可為電容感測電路，其包含一感測電極（圖未示）設置於電子裝置，其相當於一電容，感測電極之等效電容量會受人體或者物體影響而改變，例如人體、觸控筆、桌子等，感測電路12可傳輸一訊號至感測電極，感測電極對應此訊號產生電性訊號，例如電壓、電荷，其相關聯於感測電極的等效電容量，感測電路12依據感測電極之電性訊號產生一感測訊號VSEN ，感測訊號VSEN 相關聯於感測電極的等效電容量。於本發明之一實施例中，感測訊號VSEN 為一類比訊號。
復參閱第1圖，類比數位轉換電路14耦接感測電路12，並將感測電路12之感測訊號VSEN 轉換為一數位訊號SD 。訊號處理電路16耦接類比數位轉換電路14，用以對數位訊號SD 運算處理而產生一偵測資料Raw，此偵測資料Raw的數值即表示感應電極的等效電容量。訊號處理電路16耦接振盪偵測電路18與近接偵測電路20，以傳送偵測資料Raw至振盪偵測電路18與近接偵測電路20。於本發明之一實施例中，訊號處理電路16可接收數筆數位訊號SD 再進而求平均，而為偵測資料Raw的一筆數值，亦或者不求平均，一筆數位訊號SD 即為偵測資料Raw的一筆數值，訊號處理電路16亦可對數位訊號SD 濾波，以去除雜訊。振盪偵測電路18耦接於訊號處理電路16與近接偵測電路20之間，並依據偵測資料Raw產生一振盪基線資料MOVE_Base，且依據偵測資料Raw、振盪基線資料MOVE_Base與振盪偵測電路18內之一振盪門檻MOVE_THD產生一振盪訊號Flag至近接偵測電路20。本發明之近接感測電路10更包含一基線產生電路22，亦是耦接於訊號處理電路16與近接偵測電路20之間，並依據偵測資料Raw產生一近接基線資料Baseline，以傳送近接基線資料Baseline至近接偵測電路20。
振盪偵測電路18依據偵測資料Raw、振盪基線資料MOVE_Base與一振盪門檻Move_THD產生振盪訊號Flag；而，上述之近接偵測電路20依據偵測資料Raw、近接基線資料Baseline與一近接門檻Prox_THD產生一近接訊號Prox，近接訊號Prox可表示人體或者物體接近電子裝置。於本發明之一實施例中，近接訊號Prox之數值為1表示人體或物體接近電子裝置，但並不以此為限，亦可數值為0表示人體或物體接近電子裝置；本發明之一實施例中，近接偵測電路20更進一步振盪訊號Flag與近接訊號Prox判別是否人體接近電子裝置而產生對應之人體判別訊號Human，以及判別是否物體接近電子裝置而產生對應之物體判別訊號Object，但不以此為限，更可搭配近接訊號Prox，因而可僅有人體判別訊號Human或物體判別訊號Object，而判別為人體接近或物體接近，例如人體判別訊號Human之數值為1則表示人體接近，物體判別訊號Object之數值為1則表示物體接近，而人體判別訊號Human與物體判別訊號Object之數值皆為0，即表示無近接事件。以下舉例詳細說明本發明之近接偵測方法。
請參閱第二A圖與第二B圖，其為本發明之近接感測方法之一實施例之流程圖。如圖所示，本發明之近接感測方法可應用於電子裝置之近接感測，該近接感測方法之步驟包含： 步驟S10： 接收偵測資料； 步驟S20：依據偵測資料產生振盪基線資料； 步驟S30：比較偵測資料之數值與振盪基線資料之數值，以產生差異數值； 步驟S40：判斷差異數值是否大於振盪門檻，若是執行步驟S42，若否執行步驟S44； 步驟S42：偵測資料之現在數值取代振盪基線資料之現在數值； 步驟S44：產生指示資訊，設定指示資訊為無效資訊； 步驟S46：產生指示資訊，設定指示資訊為有效資訊； 步驟S48：累計指示資訊之數量； 步驟S50：判斷有效資訊之數量是否到達有效門檻，若是執行步驟S52，若否執行步驟S60； 步驟S52：設定振盪訊號為有效； 步驟S54：重置有效資訊之數量； 步驟S60：判斷指示資訊之數量是否到達重置門檻，若是執行步驟S62，若否執行步驟S10； 步驟S62：設定振盪訊號為無效； 步驟S64：重置有效資訊之數量與指示資訊之數量； 步驟S70：判斷是否有近接訊號，若是執行步驟S90，若否執行步驟S100； 步驟S80：判斷是否有近接訊號，若是執行步驟S110，若否執行步驟S100； 步驟S90：人體近接事件； 步驟S100：無近接事件；以及 步驟S110：物體近接事件。
請一併參閱第一圖，執行步驟S10，偵測電路SEN產生偵測資料Raw，以讓振盪偵測電路18、近接偵測電路20與基線產生電路22接收偵測資料Raw，如第三圖所示，偵測資料Raw之數值會對應三種狀態，第一偵測資料V1的數值變化小，即電容量變化小而表示無近接事件，第二偵測資料V2的數值變化略大，即表示電容量變化略大而表示物體近接事件，第三偵測資料V3的數值變化大，即表示電容量變化大而表示人體近接事件，因此偵測該偵測資料Raw的變化可以得知人體接近電子裝置或者物體接近電子裝置。接續，執行步驟S20，振盪偵測電路18可依據偵測資料Raw產生振盪基線資料MOVE_base，例如:依據偵測資料Raw之第n筆數值（現在數值）與振盪基線資料MOVE_base之第n-1筆數值（前數值）產生振盪基線資料MOVE_base之第n筆數值（現在數值）；依據偵測資料Raw之第n+1筆數值與振盪基線資料MOVE_base之第n筆數值產生振盪基線資料MOVE_base之第n+1筆數值；依據偵測資料Raw之第n-1筆數值與振盪基線資料MOVE_base之第n-2筆數值產生振盪基線資料MOVE_base之第n-1筆數值，其可表示為MOVE_Base[n] = Gm*Raw[n] +（1-Gm）* MOVE_Base [n-1]，其中Gm為參數，可為正數且小於1，其可依據需求而設定；執行步驟S30時，振盪偵測電路18比較偵測資料Raw之複數數值與振盪基線資料MOVE_base之複數數值，以產生複數差異數值Q，例如:比較該偵測資料Raw之現在數值（第n筆數值）與該振盪基線資料MOVE_base之前數值（第n-1筆數值），以產生第n筆差異數值Q，比較偵測資料Raw之下一筆數值(第n+1筆數值)與該振盪基線資料MOVE_base之現在數值(第n筆數值)，以產生第n+1筆差異數值Q，以此類推進行比較，而產生複數差異數值Q。上述n為正整數，並大於1。
接續執行步驟S40，振盪偵測電路18判斷步驟S30所產生之差異數值Q是否大於振盪門檻MOVE_THD，其中振盪門檻MOVE_THD如第三圖所示，表示物體近接事件之第二偵測資料V2的變化不會超過振盪門檻MOVE_THD，而表示人體近接事件之第三偵測資料V3的變化會超過振盪門檻MOVE_THD。當該差異數值Q大於該振盪門檻MOVE_THD時，執行步驟S42，依據該偵測資料Raw之該現在數值（該第n筆數值）作為該振盪基線資料MOVE_base之一現在數值（該第n筆數值），在第n+1筆差異數值大於振盪門檻MOVE_THD時，執行步驟S42，依據該偵測資料Raw之第n+1筆數值作為該振盪基線資料MOVE_base之第n+1筆數值。
例如:在第3筆差異數值Q大於振盪門檻MOVE_THD時，依據該偵測資料Raw之第3筆數值作為振盪基線資料MOVE_base之第3筆數值，在第4筆差異數值Q大於振盪門檻MOVE_THD時，依據該偵測資料Raw之第4筆數值作為振盪基線資料MOVE_base之第4筆數值；當差異數值Q小於振盪門檻MOVE_THD，執行步驟S44，產生指示資訊I，其對應於差異數值Q與偵測資料Raw之數值，例如第n筆指示資訊I對應於第n筆差異數值Q與偵測資料Raw之第n筆數值，當第n筆差異數值Q小於振盪門檻MOVE_THD，產生第n筆指示資訊I以及設定該第n筆指示資訊I為一無效資訊。執行步驟S46，在第n筆差異數值Q大於振盪門檻MOVE_THD時，振盪偵測電路18產生第n筆指示資訊I以及設定第n筆指示資訊I為一有效資訊。
復參閱第一圖與第二A圖及第二B圖，執行步驟S48，累積步驟S42與步驟S44中的指示資訊I的數量，同時由振盪偵測電路18統計目前暫存之指示資訊I的總數量作為第一數量NUM1，以及統計暫存之指示資訊I中為有效資訊之數量作為第二數量NUM2；接續執行步驟S50，判斷指示資訊I中的有效資訊之數量(即第二數量NUM2)是否已達到一有效門檻，以判斷是否設定振盪訊號Flag為有效，即振盪偵測電路18依據累積預設資料P中有效資訊之預設數量作為有效門檻，以判斷第二數量NUM2是否已達到累積預設資料P之有效門檻，當第二數量NUM2達到累積預設資料P之有效門檻時，即偵測資料Raw之該些筆數值變化大且頻繁，執行步驟S52，而設定振盪訊號Flag為有效，以表示可能有人體接近事件發生，例如設定振盪訊號Flag之數值為1，當第二數量NUM2未達到累積預設資料P之有效門檻時，接續執行步驟S60；執行步驟S54，隨即在設定振盪訊號Flag為有效後，即重置指示資訊I中有效資訊之數量為0，即第二數量NUM2被重置為0，以接續執行步驟S70。
接續上述，振盪偵測電路18依據累積預設資料P中指示資訊I之預設總數作為重置門檻，而判斷指示資訊I的總數量是否已達到累積預設資料P之重置門檻，當振盪偵測電路18判斷第一數量NUM1未達到累積預設資料P之重置門檻，則接續執行步驟S10，以持續輸入偵測資料Raw至振盪偵測電路18，而持續判斷偵測資料Raw之數值的變化程度，並累積指示資訊I之數量(即第一數量NUM1)，以達到累積預設資料P之重置門檻，例如:設定累積預設資料P之重置門檻為30筆指示資訊I，因此尚未達到30筆，即重複回到步驟S10，直到指示資訊I之筆數達到30筆；而當振盪偵測電路18判斷指示資訊I之數量達到累積預設資料P之重置門檻時，即接續執行步驟S62，設定振盪訊號Flag為無效，例如設定振盪訊號Flag之數值為0，接續執行步驟S64，重置指示資訊I之數量與其有效資訊之數量，並接續執行步驟S80。步驟S60之用意在於偵測一段時間內的偵測資料Raw之複數筆數值，若在這段時間內，偵測資料Raw之該些數值的變化不大，或者變化大的次數未達有效門檻，則判斷這段時間並未有人體接近事件，而可能是有物體接近事件，所以後續設定振盪訊號為無效。
復參閱第一圖與第二B圖，步驟S70與步驟S80實為相同，皆是由近接偵測電路20判斷是否有近接事件且產生近接訊號Prox，其詳細操作如第二C圖所示，其為本發明之判斷是否有近接事件之一實施例之流程圖。如第二C圖所示，本發明判斷是否有近接事件之步驟包含: 步驟S120: 比較偵測資料之數值與近接基線資料之數值，以產生差異數值； 步驟S122: 判斷差異數值是否大於近接門檻，若是接續執行步驟S124，若否接續執行步驟S126； 步驟S124: 產生近接訊號； 步驟S125: 維持近接基線資料之現在數值； 步驟S126: 無近接訊號；以及 步驟S127: 依據偵測資料與近接基線資料修正近接基線資料。
執行上述之步驟S120，即無論振盪訊號Flag是否產生皆需要比較該偵測資料Raw之現在數值與近接基線資料Baseline之前數值，以產生差異數值，基線產生電路22依據偵測資料Raw產生近接基線資料Baseline，例如:依據偵測資料Raw之第n筆數值與近接基線資料Baseline之第n-1筆數值產生近接基線資料Baseline之第n筆數值；依據偵測資料Raw之第n+1筆數值與近接基線資料Baseline之第n筆數值產生近接基線資料Baseline之第n+1筆數值，其可表示為Baseline [n] = G*Raw[n] +（1-G）* Baseline [n-1]，其中G為參數，可為正數且小於1，其可依據需求而設定。於本發明之一實施例中，參數G可小於前述參數Gm；執行步驟S120時，近接偵測電路20比較偵測資料Raw之複數數值與近接基線資料Baseline之複數數值，以產生複數差異數值，例如:比較該偵測資料Raw之現在數值（第n筆數值）與該近接基線資料Baseline之前數值（第n-1筆數值），以產生第n筆差異數值，比較偵測資料Raw之下一筆數值(第n+1筆數值)與該振盪基線資料Baseline之現在數值(第n筆數值)，以產生第n+1筆差異數值；接續執行步驟S122，接續將步驟S120所產生之差異數值對近接門檻Prox_THD進行比較，以判斷差異數值是否大於近接門檻Prox_THD，若是則表示人體或者物體接近電子裝置並執行步驟S124，若否則表示並無人體或者物體接近電子裝置並執行步驟S126。
接續上述，執行步驟S124，由近接偵測電路20產生近接訊號Prox，同時接續執行步驟S125，驅使基線處理電路22維持近接基線資料Baseline之現在數值，即固定基線資料Baseline之數值而不改變，直至後續判斷無近接事件，而執行步驟S126則是不產生近接訊號Prox，並且執行步驟S127，近接偵測電路20驅使基線處理電路22依據偵測資料Raw與近接基線資料Baseline修正近接基線資料Baseline，也就是依據Baseline [n] = G*Raw[n] +（1-G）* Baseline [n-1]之式子修改近接基線資料Baseline，以作為近接基線資料Baseline之現在數值(第n筆數值)。
復參閱第一圖與第二A圖及第二B圖，如步驟S70所示，當判斷有近接訊號Prox時，如步驟S90所示，即發生人體近接事件，因而電子裝置依據判別訊號可驅使電子裝置10降低功率，當判斷尚無近接訊號Prox，即如步驟S100所示，也就是無近事件。如步驟S80所示，當判斷有近接訊號Prox時，如步驟S110所示，即發生物體近接事件，因而電子裝置依據判別訊號可不驅使電子裝置降低功率，且當判斷尚無近接訊號Prox，即無近接事件。在步驟S90至步驟S110完成後，即接續沿著路徑B執行步驟S10。
在以上實施例，於步驟S44與步驟S46中，除了上述累計方式之外，更可讓振盪偵測電路18對步驟S40所產生之差異數值大於振盪門檻的結果直接計數，並可在步驟S40所產生之差異數值小於振盪門檻的結果，一併計數，因此將步驟S30所產生之差異數值大於振盪門檻與小於振盪門檻的結果進行統計，因而相當於利用計數器對大於振盪門檻與小於振盪門檻的結果進行計數，以供判斷設定振盪訊號為有效或者無效，而不需要產生指示資訊。
基於上述之實施例外，本發明之近接感測方法更可不需累計指示資訊之數量，而僅暫存指示資訊，並隨著增加一筆指示資訊即刪除最前一筆指示資訊，以達動態即時偵測之目的。
如第四圖所示，本發明之近接感測方法之另一實施例的流程圖。如圖所示，本發明之近接感測方法包含之步驟: 步驟S210： 接收偵測資料； 步驟S220：依據偵測資料產生振盪基線資料； 步驟S230：比較偵測資料之數值與振盪基線資料之數值，以產生差異數值； 步驟S240：判斷差異數值是否大於振盪門檻，若是執行步驟S242，若否執行步驟S244； 步驟S242：偵測資料之現在數值作為振盪基線資料之現在數值； 步驟S244：產生指示資訊，設定指示資訊為無效資訊； 步驟S246：產生指示資訊，設定指示資訊為有效資訊； 步驟S248：累計指示資訊之數量； 步驟S250：判斷指示資訊之數量是否大於刪除門檻，若是執行步驟S255，若否執行步驟S260； 步驟S255：刪除最前一筆指示資訊； 步驟S260：判斷有效資訊之數量是否到達有效門檻，若是執行步驟S262，若否執行步驟S264； 步驟S262：設定振盪訊號為有效； 步驟S264：設定振盪訊號為無效； 步驟S270：判斷是否有近接訊號，若是執行步驟S290，若否執行步驟S300； 步驟S280：判斷是否有近接訊號，若是執行步驟S310，若否執行步驟S300； 步驟S290：人體近接事件； 步驟S300：無近接事件；以及 步驟S310：物體近接事件。
其中步驟S210至步驟S248相同於上述步驟S10至步驟S48，因此不再贅述，執行步驟S250，依據上述步驟S248中所累計之指示資訊I之數量判斷是否大於累積預設資料P中的一刪除門檻，當指示資訊I之數量大於累積預設資料P中的刪除門檻時，接續執行步驟S255，當小於累積預設資料P中的刪除門檻時，接續執行步驟S260。執行步驟S255，針對暫存之多筆指示資訊I，在第n筆指示資訊I為等於刪除門檻時，且振盪偵測電路18新增一第n+1筆指示資訊I時，振盪偵測電路18會將最前一筆指示資訊I刪除，例如:刪除門檻為30筆指示資訊I，振盪偵測電路18會在新增第31筆指示資訊I後，將原先第1筆指示資訊I刪除，因此相當於對暫存之指示資訊I進行更新的動作，而相當於持續觀察一區間內之該些指示資訊I並即時更新該區間內之該些指示資訊I，且判斷該些指示資訊I有多少筆為有效資料，若有效資訊的數量大於有效門檻則設定振盪訊號為有效，相反地，即設定振盪訊號為無效。步驟S260相當於步驟S50之執行方式，惟，當判斷為是時，接續執行步驟S262，當判斷為否時，執行步驟S264，而步驟S262相當於步驟S52，且步驟S264相當於步驟S62，步驟S290至步驟S310相當於步驟S90至步驟S110，因此不再贅述。
綜上所述，本發明之近接感測方法及其應用之電子裝置，其依據一偵測資料產生一振盪基線資料；依據該偵測資料、該振盪基線資料與一振盪門檻，以產生一振盪訊號；以及依據該振盪訊號與一近接訊號產生一判別訊號，該判別訊號表示一物體或一人體接近，藉此可避免在物體接近的情況下，降低射頻功率。
故本發明實為一具有新穎性、進步性及可供產業上利用者，應符合我國專利法專利申請要件無疑，爰依法提出發明專利申請，祈  鈞局早日賜准專利，至感為禱。
惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，並非用來限定本發明實施之範圍，舉凡依本發明申請專利範圍所述之形狀、構造、特徵及精神所為之均等變化與修飾，均應包括於本發明之申請專利範圍內。
10:電子裝置 12:感測電路 14:類比數位轉換電路 16:訊號處理電路 18:振盪偵測電路 20:近接偵測電路 22:基線產生電路 Baseline:近接基線資料 Flag:振盪訊號 I:指示資訊 Human:人體判別訊號 MOVE_base:振盪基線資料 MOVE_THD:振盪門檻 NUM1:第一數量 NUM2:第二數量 Object:物體判別訊號 P:累積預測資料 Prox:近接訊號 Prox_THD:近接門檻 Q:差異數值 Raw:偵測資料 SEN:偵測電路 SD :數位訊號 VSEN :感測訊號 V1:第一偵測資料 V2:第二偵測資料 V3:第三偵測資料 S10-S310:步驟
第一圖：其為本發明之電子裝置之一實施例之方塊圖； 第二A圖：其為本發明之近接感測方法之一實施例之部分流程圖； 第二B圖：其為本發明之近接感測方法之一實施例之部分流程圖； 第二C圖：其為本發明之產生近接訊號之一實施例之流程圖； 第三圖：其為本發明之偵測訊號之一實施例之示意圖；以及 第四圖：其為本發明之近接感測方法之另一實施例之流程圖。
S210-S310:步驟

Claims (22)

  1. 一種近接感測方法，其包含： 依據一偵測資料產生一振盪基線資料； 依據該偵測資料、該振盪基線資料與一振盪門檻，產生一振盪訊號；以及 依據該振盪訊號與一近接訊號產生一判別訊號，該判別訊號表示一物體或一人體接近。
  2. 如請求項1所述之近接感測方法，更包含： 比較該偵測資料之複數數值與該振盪基線資料之複數數值，以產生複數差異數值；以及 分別判斷該些差異數值是否大於該振盪門檻，以產生該振盪訊號。
  3. 如請求項2所述之近接感測方法，更包含設定複數指示資訊，該些指示資訊對應於該些差異數值，當該差異數值大於該振盪門檻時，設定對應之該指示資訊為一有效資訊，並依據該些有效資訊產生該振盪訊號，當該差異數值小於該振盪門檻，設定對應之該指示資訊為一無效資訊。
  4. 如請求項3所述之近接感測方法，更包含: 比較該些有效資訊之一數量與一有效門檻，當該些有效資訊之該數量到達該有效門檻時，設定該振盪訊號為有效，當該些有效資訊之該數量未到達該有效門檻時，設定該振盪訊號為無效。
  5. 如請求項4所述之近接感測方法，更包含: 比較該些指示資訊之一數量與一重置門檻，當該些指示資訊之該數量到達該重置門檻時，重置該些指示資訊之該數量與該些有效資訊之該數量。
  6. 如請求項4所述之近接感測方法，更包含: 比較該些指示資訊之一數量與一刪除門檻，當該些指示資訊之該數量大於該刪除門檻時，刪除最前一筆指示資訊。
  7. 如請求項2所述之近接感測方法，更包含比較該偵測資料之一第n數值與該振盪基線資料之一第n-1數值，以產生該些差異數值之一第n差異數值，當該第n差異數值大於該振盪門檻時，以該偵測資料之該第n數值作為該振盪基線資料之一第n數值，並比較該偵測資料之一第n+1數值與該振盪基線資料之該第n數值，以產生該些差異數值之一第n+1差異數值，且依據該偵測資料之該第n+1數值與該振盪基線資料之該第n數值產生該振盪基線資料之一第n+1數值，其中n為正整數，且大於1。
  8. 如請求項7所述之近接感測方法，更包含依據該偵測資料之一第n-1數值與該振盪基線資料之一第n-2數值產生該振盪基線資料之該第n-1數值，其中n大於2。
  9. 如請求項1所述之近接感測方法，更包含: 比較該偵測資料之一現在數值與一近接基線資料之一前數值，以產生一差異數值；以及 判斷該差異數值是否大於一近接門檻，以產生該近接訊號。
  10. 如請求項9所述之近接感測方法，其中當該差異數值大於該近接門檻時，維持該近接基線資料之一現在數值；當該差異數值小於該近接門檻時，依據該偵測資料之該現在數值與該近接基線資料之該前數值產生該近接基線資料之一現在數值。
  11. 如請求項1所述之近接感測方法，其中當該振盪訊號為有效時，該判別訊號表示該人體接近；當該振盪訊號為無效時，該判別訊號表示該物體接近。
  12. 一種電子裝置，其包含: 一偵測電路，產生一偵測資料； 一振盪偵測電路，耦接該偵測電路，並依據該偵測資料產生一振盪基線資料，且依據該偵測資料、該振盪基線資料與一振盪門檻，產生一振盪訊號；以及 一近接偵測電路，耦接該偵測電路，並依據該振盪訊號與一近接訊號產生一判別訊號，該判別訊號表示一物體或者一人體接近。
  13. 如請求項12所述之電子裝置，其中該振盪偵測電路比較該偵測資料之複數數值與該振盪基線資料之複數數值，以產生複數差異數值，並分別判斷該些差異數值是否大於該振盪門檻，以產生該振盪訊號。
  14. 如請求項13所述之電子裝置，其中該振盪偵測電路設定複數指示資訊，該些指示資訊對應於該些差異數值，當該差異數值大於該振盪門檻時，設定對應之該指示資訊為一有效資訊，並依據該些有效資訊產生該振盪訊號，當該差異數值小於該振盪門檻時，設定對應之該指示資訊為一無效資訊。
  15. 如請求項14所述之電子裝置，其中該振盪偵測電路比較該些有效資訊之一數量與一有效門檻，當該些有效資訊之該數量到達該有效門檻時，設定該振盪訊號為有效，當該些有效資訊之該數量未到達該有效門檻時，設定該振盪訊號為無效。
  16. 如請求項15所述之電子裝置，其中該振盪偵測電路比較該些指示資訊之一數量與一重置門檻，當該些指示資訊之該數量到達該重置門檻時，重置該些指示資訊之該數量與該些有效資訊之該數量。
  17. 如請求項15所述之電子裝置，其中該振盪偵測電路比較該些指示資訊之一數量與一刪除門檻，當該些指示資訊之該數量大於該刪除門檻時，刪除最前一筆指示資訊。
  18. 如請求項13所述之電子裝置，其中該振盪偵測電路比較該偵測資料之一第n數值與該振盪基線資料之一第n-1數值，以產生該些差異數值之一第n差異數值，當該第n差異數值大於該振盪門檻時，以該偵測資料之該第n數值作為該振盪基線資料之一第n數值，並比較該偵測資料之一第n+1數值與該振盪基線資料之該第n數值，以產生該些差異數值之一第n+1差異數值，且依據該偵測資料之該第n+1數值與該振盪基線資料之該第n數值產生該振盪基線資料之一第n+1數值，其中n為正整數，且大於1。
  19. 如請求項18所述之電子裝置，其中該振盪偵測電路更依據該偵測資料之一第n-1數值與該振盪基線資料之一第n-2數值產生該振盪基線資料之該第n-1數值。
  20. 如請求項12所述之電子裝置，更包含一基線處理電路，其耦接該偵測電路，並依據該偵測資料產生一近接基線資料，該近接偵測電路比較該偵測資料之一現在數值與該近接基線資料之一前數值，以產生一差異數值，而判斷該差異數值是否大於一近接門檻，以產生該近接訊號。
  21. 如請求項20所述之電子裝置，其中當該差異數值大於該近接門檻時，該基線處理電路維持該近接基線資料之一現在數值；當該差異數值小於該近接門檻時，該基線處理電路依據該偵測資料之該現在數值與該近接基線資料之該前數值產生該近接基線資料之一現在數值。
  22. 如請求項12所述之電子裝置，其中當該振盪訊號為有效時，該判別訊號表示該人體接近；當該振盪訊號為無效時，該判別訊號表示該物體接近。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11720161B2 (en) * 2021-06-23 2023-08-08 Dell Products, L.P. Platform framework arbitration

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3613034B2 (ja) * 1998-11-06 2005-01-26 オムロン株式会社 静電容量型近接センサ
US7283034B2 (en) * 2001-12-10 2007-10-16 Omron Corporation Object sensor and controller
JP4912005B2 (ja) 2006-03-23 2012-04-04 オムロンオートモーティブエレクトロニクス株式会社 検出装置および方法
US8054296B2 (en) * 2007-01-03 2011-11-08 Apple Inc. Storing baseline information in EEPROM
US8723833B2 (en) * 2009-07-13 2014-05-13 Microchip Technology Incorporated Capacitive touch system with noise immunity
US9404899B1 (en) 2011-03-14 2016-08-02 Raytheon Company Methods and apparatus for acoustic inspection of containers
TWI503701B (zh) * 2012-07-20 2015-10-11 接近感測方法
TWI488080B (zh) * 2012-10-18 2015-06-11 Sitronix Technology Corp Detection circuit with proximity sensing
WO2014063159A2 (en) * 2012-10-19 2014-04-24 Witricity Corporation Foreign object detection in wireless energy transfer systems
US9740353B2 (en) * 2013-05-07 2017-08-22 The Trustees Of Princeton University System and method for 3D position and gesture sensing of human hand
JP6314570B2 (ja) * 2014-03-19 2018-04-25 三菱電機株式会社 タッチパネル装置
US9977521B2 (en) * 2014-03-24 2018-05-22 Htc Corporation Method for controlling an electronic device equipped with sensing components, and associated apparatus
JP2017518018A (ja) * 2014-05-07 2017-06-29 ワイトリシティ コーポレーションＷｉｔｒｉｃｉｔｙ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ 無線エネルギー伝送システムにおける異物検出
AU2017100061B4 (en) * 2014-07-18 2017-09-28 Apple Inc. Raise gesture detection in a device
US9582111B2 (en) * 2014-10-31 2017-02-28 Semtech Corporation Method and device for improved accuracy of proximity and touch detection in mobile devices
US9871545B2 (en) * 2014-12-05 2018-01-16 Microsoft Technology Licensing, Llc Selective specific absorption rate adjustment
JP6278889B2 (ja) * 2014-12-22 2018-02-14 アルプス電気株式会社 入力装置とその制御方法及びプログラム
TW201643467A (zh) * 2015-06-12 2016-12-16 力智電子股份有限公司 近接感測器及其偵測方法
KR20160002640A (ko) * 2015-12-21 2016-01-08 (주)옵토라인 물체 접근 감지 장치
GB201602319D0 (en) * 2016-02-09 2016-03-23 Elliptic Laboratories As Proximity detection
US10146371B2 (en) * 2016-03-29 2018-12-04 Microchip Technology Incorporated Water robustness and detection on capacitive buttons
JP6734526B2 (ja) * 2016-06-07 2020-08-05 東京パーツ工業株式会社 静電容量式近接センサおよびこの静電容量式近接センサを備えるドアハンドル装置
JP6923849B2 (ja) * 2018-01-29 2021-08-25 オムロン株式会社 近接センサ及び検出距離の変更方法
JP7131131B2 (ja) 2018-06-29 2022-09-06 マツダ株式会社 車両用ライン検出装置および該方法
US11693519B2 (en) * 2018-07-10 2023-07-04 Sensortek Technology Corp. Proximity sensor and proximity sensing method
JP7120725B2 (ja) * 2018-11-14 2022-08-17 アルパイン株式会社 タッチパネルを備えた電子装置、ベースライン値の更新方法および更新プログラム
KR102090016B1 (ko) * 2018-11-23 2020-03-17 황성공업 주식회사 물체 접근 감지 장치, 이를 이용한 물체 접근 감지 방법
CN110045370B (zh) 2019-05-10 2023-11-14 成都宋元科技有限公司 基于毫米波雷达的人体感知方法及其系统
KR20190102147A (ko) * 2019-08-14 2019-09-03 엘지전자 주식회사 사용자 근접 검출 장치 및 방법

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