TW202140573A - 聚合物組成物之製造方法 - Google Patents

Abstract

一種包含銀奈米線之高分子聚合物之製造方法，其特徵係包含準備包含銀奈米線之單體組成物之準備步驟，使前述包含銀奈米線之單體組成物聚合之聚合步驟，於前述準備步驟及前述聚合步驟之間包含使前述單體組成物靜置之靜置步驟，前述聚合步驟之開始係以前述靜置步驟中前述單體組成物中之銀奈米線之垂直方向之配向狀態為指標而決定。

Description

聚合物組成物之製造方法

本發明係有關聚合物組成物之製造方法。 本申請案主張基於2019年12月20日於日本提出申請之特願2019-230500號之優先權，其內容援用於本文。

將銀奈米線混練、分散於樹脂及凝膠等之材料中，而使用於例如以透明觸控面板為代表之光學材料等。作為決定該等光學材料等之物性之特性舉例為銀奈米線之配向。作為前述光學材料等之物性，具體舉例有力學強度、拉伸強度、光學異向性、雙折射率、導電異向性、電熱異向性等物性。

作為含有經配向之奈米線之樹脂及凝膠之製造法，係使用旋轉塗佈或利用剪切應力等之方法。

於非專利文獻1，藉由控制朝設置凹凸之基材之噴霧方向而製作配向奈米線薄膜。

又，於非專利文獻2，利用棒塗時之剪切應力所致之配向製作配向奈米線薄膜。 [先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本特開2019-168386號公報 [非專利文獻]

[非專利文獻1] Probst, P. T. et al. ACS Applied Materials & Interfaces 10, 2018, 3046-3057

[非專利文獻2] Byoungchoo Park et al. Scientific Reports volume 6, 2016, Article number: 19485

[發明欲解決之課題]

藉由非專利文獻1及2之方法，由於奈米線之配向依存於噴霧方向或棒塗佈之方向，故配向方向受限制。專利文獻1中僅記載配向性之測定方法。

本發明之第一之態樣，係鑒於上述之情況，目的為提供可自由控制銀奈米線之配向方向及配向程度之包含銀奈米線之高分子聚合物之製造方法。 [為解決課題之手段]

亦即，本發明之第一之態樣係具備以下所示之構成者。

[1] 一種包含銀奈米線之高分子聚合物之製造方法，其特徵係包含： 準備包含銀奈米線之單體組成物之準備步驟， 使前述包含銀奈米線之單體組成物聚合之聚合步驟， 於前述準備步驟及前述聚合步驟之間包含使前述單體組成物靜置之靜置步驟， 前述聚合步驟之開始係以前述靜置步驟中前述單體組成物中之銀奈米線之垂直方向之配向狀態為指標而決定。 本發明之第一態樣較佳包含以下之[2]~[8]之特徵。該等特徵可較佳地組合2個以上。 [2] 如[1]之高分子聚合物之製造方法，其中前述靜置步驟係於前述單體組成物中之銀奈米線於垂直方向配向後，開始前述聚合步驟。 [3] 如[1]或[2]之高分子聚合物之製造方法，其中前述高分子聚合物為薄片。 [4] 如[1]或[2]之高分子聚合物之製造方法，其中前述高分子聚合物為凝膠。 [5] 如[1]或[2]之高分子聚合物之製造方法，其中前述靜置步驟包含確認前述銀奈米線之配向的次步驟。 [6] 如[5]之高分子聚合物之製造方法，其中前述次步驟係將前述單體組成物配置於光源與偏光濾光片之間，以來自前述光源之光軸為軸，使前述偏光濾光片旋轉而進行觀察之步驟。 [7] 如[5]之高分子聚合物之製造方法，其中前述次步驟係於光源正前設置總是配置為正交偏光狀之2片偏光濾光片，將前述單體組成物配置於前述2片偏光濾光片之間，以來自前述光源之光軸為軸，使前述偏光濾光片旋轉而進行觀察之步驟。 [8] 如[7]之高分子聚合物之製造方法，其中前述次步驟係於前述2片偏光濾光片之任一者與前述單體組成物之間配置敏銳色板之步驟。 [發明效果]

可自由控制包含銀奈米線之高分子聚合物中之銀奈米線之配向方向及配向程度。

以下，舉例本發明實施形態之較佳例加以說明，但本發明可於不變更其要旨範圍適當變更並實施。 本實施形態係為了更好理解發明要旨而具體說明者，只要無特別指定，則不限定本發明。針對位置、角度、數值、材料、量、構成等，於不脫離本發明主旨之範圍，可變更、附加、省略、置換等。

(高分子聚合物之製造方法) 本實施形態之高分子聚合物之製造方法包含：使包含銀奈米線之單體組成物聚合之聚合步驟，於前述聚合步驟之前設置使前述單體組成物靜置之靜置步驟，前述聚合步驟之開始係以前述靜置步驟中前述單體組成物中之銀奈米線之垂直方向之配向狀態為指標而決定。 前述靜置步驟亦可包含確認前述銀奈米線之配向的次步驟。作為前述次步驟，以例如下述次步驟A~D為例加以舉例，可為該等之任一者。 次步驟A：將前述單體組成物配置於光源與偏光濾光片之間，以來自前述光源之光軸為軸，使前述偏光濾光片旋轉而進行觀察之步驟。 次步驟B：將前述單體組成物配置於總是配置為正交偏光狀之2片偏光濾光片之間，以來自光源之光軸為軸，使前述2片偏光濾光片旋轉而進行觀察之步驟。 次步驟C：與次步驟B同樣，配置單體組成物與偏光濾光片，於單體組合物與2片偏光濾光片之任一者之間進而配置敏銳色板，使2片偏光濾光片與敏銳色板一起旋轉而進行觀察之步驟。 次步驟D：針對前述單體組成物，測定小角X射線散射(SAXS)之步驟(作為較佳例舉例為專利文獻1揭示之測定方法。又測定方法及條件亦可參考文獻1之記載)。 上述次步驟中，偏光濾光片與測定試料(單體組成物)可相互平行配置。且偏光濾光片、敏銳色板及測定試料亦可相互平行配置。且偏光濾光片、敏銳色板及測定試料可具有板狀形狀。前述板狀的板及試料可配置為其主面相對於來自光源之光軸為垂直。 且聚合前之單體組成物為液狀等之情況，可於根據需要選擇之容器中靜置，亦可直接進行觀察。亦可為放入容器之狀態進行聚合。作為容器雖舉由石英或玻璃等之透明材料形成者為例，但並非僅限定於該等例。容器之形狀可任意選擇，雖舉箱型或槽(cell)型等為例，但並非僅限定於該等例。

理由尚不清楚，但分散於水溶液或有機溶劑等之液中之銀奈米線顯示若靜置則於垂直方向(重力方向)配向之性質。因此，為了獲得欲得到之目的之高分子聚合物，藉由使銀奈米線之配向方向成為垂直方向之方式配置，進行前述高分子聚合即可。亦即，藉由使高分子聚合物之前述配置根據需要而變化，可使銀奈米線之配向方向相對於所得高分子聚合物之形狀自由變化。 又銀奈米線可僅由銀形成。且銀奈米線之尺寸可任意選擇，但可為例如其直徑為20~28nm，其長度為12~16μm等。

準備包含銀奈米線之單體組成物並靜置後，所得高分子聚合物中之銀奈米線之配向可對其切片進行顯微鏡觀察且以一般方法測定。此亦可認為係銀奈米線配向之確認步驟。銀奈米線於本實施形態所得之聚合後之高分子聚合物中若經配向，則認為於前述靜置步驟結束時之聚合前之單體組成物中亦已配向。前述步驟亦可如後述，將前述單體組成物配置於光源與偏光濾光片之間，以來自前述光源之光軸為軸，亦即以自光源入射之光的光軸為軸，使前述偏光濾光片旋轉而進行觀察之步驟。前述確認步驟，基於觀察容易性，較佳亦可將前述單體組成物配置於總是配置為正交偏光狀之2片偏光濾光片之間，以來自前述光源之光軸為軸，使前述2片偏光濾光片旋轉而進行觀察之步驟。又進而更佳亦可於前述單體組成物與配置為正交偏光狀之前述2片偏光濾光片之任一者之間配置敏銳色板。又所謂正交偏光狀態係僅以2片偏光濾光片觀察時，觀察為光線經遮斷之暗黑。且敏銳色板係具有快軸與慢軸方向，配置於組合為正交位置之2片偏光濾光片之間時，作為干涉色顯示鮮明顏色之板，即使相位差稍有變化，干涉色即敏感變化。且準備前述單體組成物之前，亦可具有將銀奈米線、單體即根據需要添加之成分混合之步驟。

準備包含銀奈米線之單體組成物後，所得前述單體組成物與前述高分子聚合物若該等為透明，則可利用偏光，測定該等中之銀奈米線之配向。若舉例具體例，則舉例為例如前述次步驟A。該情況下，例如如圖1所示，將透明之聚合前的前述單體組成物和透明之聚合後的前述高分子聚合物作為測定試料2予以配置，接著使來自光源之光1通過前述測定試料2及偏光濾光片3而觀察。此時，將偏光濾光片3以光軸為軸進行旋轉。接著將與光成為最暗時之偏光濾光片3之偏光軸平行之方向判斷為銀奈米線之配向方向。由於偏光濾光片於特定方向僅使偏光或極化之光通過，故適合使用於上述判斷。 作為其他具體例，舉例為例如次步驟C。該情況下，例如如圖2所示，於總是配置為正交偏光狀之2片偏光濾光片3及4之間，將可插入及脫附之相位差530~580nm之敏銳色板(相位差板)5以使敏銳色板之慢軸與偏光濾光片之偏光軸成45°之角度之方式設置。而且於敏銳色板5與任一偏光濾光片3或4之間，配置透明之聚合前的前述單體組成物和透明之聚合後的前述高分子聚合物作為測定試料2。接著以來自前述光源之光軸為軸，使前述偏光濾光片3及4以及敏銳色板5一體同時旋轉並觀察。又所謂正交偏光狀意指2片偏光濾光片之偏光軸正交而配置。又該步驟中，首先最初可以去除敏銳色板之狀態(相當於次步驟B)，僅以偏光濾光片3及4觀察測定試料2，使偏光濾光片3及4以光軸為軸旋轉。若如此，則於銀奈米線配向之情況，以45°之間隔重複亮暗。將與光成為最暗時之偏光濾光片3之偏光軸平行或垂直之方向判斷為銀奈米線之配向方向。進而，為了區別配向方向是平行或垂直之哪一者，而插入敏銳色板5，進行上述旋轉。取透過光之可見光區域之透過極大之波長成為波長最長波長時之作為典型例係藍綠~綠~黃綠之範圍內之顏色時之與前述敏銳色板5之慢軸垂直之方向可判斷為銀奈米線之配向方向。敏銳色板由於即使為微小配向度亦敏銳以色反應，故適合使用於上述判斷。 又所謂組成物及聚合物為透明亦可意指以本實施形態之測定系可測定程度之光能透過之材料。上述測定試料2及偏光濾光片3亦可相互平行配置。 包含銀奈米線之單體組成物亦可於靜置步驟之間，以一定時間間隔設置1次以上之前述確認步驟，進行配向狀態之觀察。上述間隔亦可任意設定，舉例為例如3分鐘、5分鐘、10分鐘、15分鐘、30分鐘或1小時等。觀察次數可任意選擇，舉例為例如1~10次、1~5次、或1~3次等。較佳於觀察到期望狀態後，停止觀察，進行至聚合步驟。

以上述狀態使用次步驟A時，銀奈米線之配向度越高，所觀察之光變越暗，使用次步驟B時，銀奈米線之配向度越高，每45°旋轉之亮暗差變越大。因此，以亮暗程度亦可同時判斷配向程度。又使用次步驟C時，銀奈米線之配向度越高，顏色變化越大。使用次步驟D時，銀奈米線之配向度越高，所得之配向函數S值(亦即專利文獻1所示之近似單軸配向之際的配向函數S之值)越大，越趨近於1之值。次步驟D中，銀奈米線之配向性可藉由測定測定材料之小角X射線散射，自所得散射向量之數據求出。 針對如次步驟A~C觀察所得之亮暗或色，亦可藉以事先判知配向度之試料作成校正線。該等亮暗或色之判斷可以肉眼進行，但為獲得更佳精度較佳以光度計或色度計測定。又，針對銀奈米線使用次步驟D測定時，配向度高亦可意指配向函數S值為0.2以上之狀態。

又，經確認之上述配向方向為與光軸垂直之平面上之方向。確認測定試料2中之3次元配向方向時，藉由自不同方向，較佳自90°不同方向觀察試料，可求出配向方向。

次步驟A亦可於將圖1中之測定試料2與偏光濾光片3前後對調，該情況下亦可獲得同樣結果。 次步驟C如圖2所示，亦可使用感度高的敏銳色板法進行配向方向之測定。圖2中之測定試料2與敏銳色板5之位置亦可於前後對調，該情況下亦可獲得同樣結果。

為了獲得更高配向度，只要將前述靜置步驟之時間更拉長即可。但時間若過長則生產效率降低。因此，以即使更長時間靜置，配向度亦不怎麼變高之時間作為標準進行選擇即可。

若使用利用前述次步驟A~D之任一步驟之方法，則前述單體組成物中之銀奈米線之配向可即時測定。該情況下，並非以時間管理前述靜置步驟之結束(亦即前述聚合步驟之開始)，而可將銀奈米線以期望程度配向於垂直方向亦即垂直之縱向作為指標。又，所謂以期望程度配向亦可意指例如落於步驟管理上容許之配向度之上限與下限之間之狀態。

前述單體組成物之聚合方法並未特別限制。例如於聚合中不易產生對流之方法者由於能確保銀奈米線之配向故而較佳。作為較佳之聚合方法舉例為陰離子聚合、陽離子聚合、錯合物觸媒聚合等，但舉例利用紫外線等之光之光起始自由基聚合為更佳之例。

所得高分子聚合物只要聚合後保有銀奈米線之配向狀態即可，不限定於樹脂等之硬化物，亦可為凝膠。所得高分子聚合物可為硬的物質，或亦可具有某程度之柔軟性。又作為單體組成物所含之單體之例，舉例N,N-二甲基丙烯醯胺、N,N’-異丙基丙烯醯胺、丙烯醯胺、N-乙烯基丙烯醯胺等為例，但並非僅限定於該等例。作為單體組成物之單體以外之成分之例，舉例N,N’-亞甲基雙丙烯醯胺等之交聯劑等為例，但並非僅限定於該等例。此外，根據需要亦可包含分散劑等，但並非僅限定於該等例。單體組成物所含之奈米線之量可任意選擇，但可為例如500質量ppm~2000質量ppm，但並非僅限定於該等例。

前述高分子聚合物之形狀或所含之銀奈米線之配向方向並未特別限定。例如前述高分子聚合物之形狀為薄片(亦包含薄膜及板)狀時，所含之銀奈米線之配向方向舉例薄片之面內方向、厚度方向及其他方向等為例。前述薄片為捲筒薄片時，前述薄片之面內方向之配向方向舉例捲取方向、捲取之軸方向等為例。

前述薄片內，配向於面內方向配向度高者，可較佳地適用於例如偏光濾光片等之用途。又，前述薄片中，配向為厚度方向且配向度不是那麼高，具有銀奈米線彼此交纏者，可較佳地適用於異向性導電薄片等之用途。 [實施例]

以下，藉由實施例及比較例更具體說明本發明，但本發明並非僅限定於以下實施例者。

(實施例1) 將含有8質量%之N,N’-二甲基丙烯醯胺、0.1質量%之N,N’-亞甲基雙丙烯醯胺、0.1質量%之2,2-二乙氧基苯乙酮之0.1質量%銀奈米線(平均直徑28nm)水分散液作為單體組成物。將該組成物滴下至底面保持水平之石英槽(尺寸：長(厚)1mm，寬10mm，高30mm)中而充滿並靜置。

其次以前述次步驟A之方法進行石英槽中之銀奈米線之配向確認。亦即，將燈箱配置於石英槽之厚度方向背面，亦即後面，將偏光濾光片配置於石英槽之前面。接著，自左右45°之方向，通過偏光濾光片，觀察前述石英槽。前述靜置步驟開始後立即使偏光濾光片旋轉，未確認到亮暗差。然而，繼續觀察之結果，隨著時間經過，偏光濾光片之偏光軸漸漸垂直時，漸漸變暗。該結果於自與水平方向相差90°之方向觀察亦同樣。因此，可知銀奈米線配向於垂直方向。

其結果，可知單體組成物中之銀奈米線於垂直方向(高度方向)配向，自單體組成物充滿於石英槽起約10分鐘後，未見到配向進一步變化。其次，對前述石英槽中之單體組成物，以250WUV燈(濱松光子製L10852)照射紫外線10分鐘，而開始聚合。觀察所得凝膠(包含銀奈米線之高分子聚合物)之結果，即使成為凝膠，銀奈米線之配向亦保持於同方向。

又，前述偏光濾光片之偏光軸垂直時，幾乎未觀察到透過前述凝膠之光，可知所得凝膠本身作為偏光濾光片之角色。

所得凝膠(包含銀奈米線之高分子聚合物)亦以其他方法進行銀奈米線配向之確認。

使用前述次步驟D之方法，對前述凝膠之厚度方向照射X射線進行確認。其結果，配向函數S為0.20，確認銀奈米線於垂直方向配向。

又，取出前述凝膠，於前述凝膠製作時之水平方向切出，以共焦雷射掃描型顯微鏡觀察其剖面。其結果，觀察奈米線剖面，確認前述奈米線之垂直方向之配向。

(實施例2) 將含有8質量%之N,N’-二甲基丙烯醯胺、0.1質量%之N,N’-亞甲基雙丙烯醯胺、0.1質量%之2,2-二乙氧基苯乙酮之0.1質量%銀奈米線(平均直徑28nm)水分散液作為單體組成物。將該組成物滴下至底面(10mm×30mm)保持水平之石英槽中至深度1mm並靜置。

其次以前述次步驟A之方法進行石英槽中之銀奈米線之配向確認。亦即，將燈箱配置於石英槽之下部，將偏光濾光片配置於石英槽之上部。接著，自石英槽之斜上方45°，通過偏光濾光片，觀察石英槽中之單體組成物。前述靜置步驟開始後立即使偏光濾光片旋轉，未確認到亮暗差。然而，隨著時間經過，偏光濾光片之偏光軸漸漸垂直時，漸漸變暗。該結果於自與水平方向相差90°之方向觀察亦同樣。因此，可知銀奈米線配向於垂直方向。

前述滴加後經過約10分鐘後，前述觀察中未見到進一步變化。其次，對前述石英槽中之單體組成物，以250WUV燈(濱松光子製L10852)照射紫外線10分鐘進行聚合，獲得凝膠(高分子聚合物)。

通過偏光濾光片與前述同樣觀察所得凝膠(大小約長10mm×寬約30mm×厚約1mm)後，銀奈米線於凝膠厚度方向配向。

所得凝膠(包含銀奈米線之高分子聚合物)亦藉其他方法進行銀奈米線之配向確認。

使用前述次步驟D之方法，對前述凝膠之厚度方向照射X射線進行確認。其結果，配向函數S為0.00，觀察到並未於面內方向配向。亦即若有配向，亦於厚度方向配向。換言之，確認於厚度方向配向。

又，切出前述凝膠，以共焦雷射掃描型顯微鏡觀察前述凝膠之厚度方向之剖面。其結果，觀察到配向於厚度方向之奈米線。由此，顯示前述奈米線朝厚度方向配向(垂直配向)。

(實施例3) 除了作為石英槽中之銀奈米線之配向確認，替代前述次步驟A之方法而使用前述次步驟C之方法以外，與實施例1同樣，進行實驗及觀察。其結果獲得與實施例1同樣的結果。 又，所用之次步驟C的方法具體例如下般進行。 首先將燈箱設於包含單體組成物之石英槽之厚度方向背面。其次於該等之間，對於光軸(厚度方向)垂直地設置一偏光濾光片，於前述石英槽之正前，以對於光軸垂直地配置另一偏光濾光片。該等2片偏光濾光片可以光軸為軸進行旋轉，且保持為總是相互成為正交偏光狀。 前述靜置開始後立即使2片偏光濾光片旋轉，全體變暗，未確認到亮暗差。進而，於一偏光濾光片與石英槽之間，將敏銳色板以慢軸與一偏光濾光片之偏光軸成45°之角度的方式插入，以光軸為軸，使2片偏光濾光片與敏銳色板一體旋轉。然而藉由前述旋轉亦確認到色的變化。此處卸除敏銳色板。 然而，每一段時間持續觀察之結果，觀察到隨著時間經過，配置為正交偏光狀之前述另一偏光濾光片之偏光軸逐漸為水平方向時變暗，自水平方向成為45°時變亮。此等結果顯示銀奈米線分散液中之銀奈米線隨著時間經過，而於水平或垂直配向。 其次，再度同樣插入敏銳色板，以光軸為軸使2片偏光濾光片與敏銳色板一體旋轉。其結果敏銳色板之慢軸成為水平方向時見到黃綠色之干涉色。因此，判知銀奈米線於垂直方向配向。

由以上結果，可知前述單體組成物中之銀奈米線於垂直方向(高度方向)配向。於石英槽中充滿單體組成物後，約10分鐘後，未見到配向之進一步變化。隨後，以與實施例1同樣方法進行聚合，獲得凝膠。

針對所得凝膠(包含銀奈米線之高分子聚合物)，與上述同樣進行銀奈米線之配向確認。其結果，確認到銀奈米線於與聚合前相同方向配向。且，卸除敏銳色板，觀察前述凝膠後，配置為正交偏光狀之前述一偏光濾光片之偏光軸為水平時前述凝膠變暗，自水平方向成45°時前述凝膠變亮。因此亦確認所得凝膠亦具有相位差板之機能。

(實施例4) 除了作為石英槽中之銀奈米線之配向確認，替代前述次步驟A之方法而使用前述次步驟C之方法以外，與實施例2同樣，進行實驗及觀察。其結果獲得與實施例2同樣的結果。 又，所用之次步驟C的方法具體例如下般進行。 首先將燈箱設於前述石英槽之下部。接著於該等之間，設置一偏光濾光片，於前述石英槽上，配置另一偏光濾光片。該等2片偏光濾光片以對於光軸垂直地配置，可以光軸為軸進行旋轉，且保持為總是相互成為正交偏光狀。 其結果，光軸成垂直之觀察，於靜置剛開始後、及靜置後經過10分鐘後，即使前述偏光濾光片旋轉，所有角度均變暗。此顯示銀奈米線不具有向面內方向(水平方向)配向。又另一方面，光軸自垂直斜向45°觀察而看時，於前述靜置剛開始後、即使前述偏光濾光片旋轉，全體變暗，未確認到亮暗差。然而，隨著時間經過，配置為正交偏光狀之前述另一偏光濾光片之偏光軸逐漸為水平方向時變暗，自水平方向成為45°時變亮。於一偏光濾光片與石英槽之間，將敏銳色板以慢軸與一偏光濾光片之偏光軸成45°之角度的方式插入，以光軸為軸，使2片偏光濾光片與敏銳色板一體旋轉。其結果敏銳色板之慢軸成為水平方向、偏光濾光片之偏光軸自水平方向成45°時見到黃綠色之干涉色。因此，觀察到銀奈米線於膜厚方向亦即垂直方向配向。

自前述靜置開始後經過約10分鐘後，前述觀察中未見到進一步之顏色變化。 [產業上之可利用性]

本發明提供可自由控制銀奈米線之配向方向的包含銀奈米線之高分子聚合物之製造方法。藉由本發明亦可提高製造效率。 以本發明之方法所得之高分子聚合物可利用於偏光濾光片或相位差板等之光學材料或異向性導電薄片等之電子材料等。

1:來自光源之光方向(光軸方向) 2:測定試料 3:偏光濾光片 4:偏光濾光片 5:敏銳色板

[圖1]係示意性顯示本實施形態之配向的測定方法之例的概略圖，圖中之箭頭表示來自光源之光的方向，且為光軸方向。 [圖2]係示意性顯示本實施形態之另一配向的測定方法之例的概略圖，圖中之箭頭表示來自光源之光的方向，且為光軸方向。

Claims (8)

1. 一種包含銀奈米線之高分子聚合物之製造方法，其特徵係包含： 準備包含銀奈米線之單體組成物之準備步驟， 使前述包含銀奈米線之單體組成物聚合之聚合步驟， 於前述準備步驟及前述聚合步驟之間包含使前述單體組成物靜置之靜置步驟， 前述聚合步驟之開始係以前述靜置步驟中前述單體組成物中之銀奈米線之垂直方向之配向狀態為指標而決定。
2. 如請求項1之高分子聚合物之製造方法，其中前述靜置步驟係於前述單體組成物中之銀奈米線於垂直方向配向後，開始前述聚合步驟。
3. 如請求項1或2之高分子聚合物之製造方法，其中前述高分子聚合物為薄片。
4. 如請求項1或2之高分子聚合物之製造方法，其中前述高分子聚合物為凝膠。
5. 如請求項1或2之高分子聚合物之製造方法，其中前述靜置步驟包含確認前述銀奈米線之配向的次步驟。
6. 如請求項5之高分子聚合物之製造方法，其中前述次步驟係將前述單體組成物配置於光源與偏光濾光片之間，以來自前述光源之光軸為軸，使前述偏光濾光片旋轉而進行觀察之步驟。
7. 如請求項5之高分子聚合物之製造方法，其中前述次步驟係於光源正前設置總是配置為正交偏光狀之2片偏光濾光片，將前述單體組成物配置於前述2片偏光濾光片之間，以來自前述光源之光軸為軸，使前述偏光濾光片旋轉而進行觀察之步驟。
8. 如請求項7之高分子聚合物之製造方法，其中前述次步驟係於前述2片偏光濾光片之任一者與前述單體組成物之間配置敏銳色板之步驟。

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