TW202139605A - 用於時鐘產生的裝置 - Google Patents

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Abstract

一種用於時鐘產生的裝置。所述裝置包括：第一電晶體對，電耦合到一對輸出節點；第二電晶體對，電耦合到所述一對輸出節點；以及電感單元，電耦合在一對輸出節點之間且電耦合在第一電晶體對的閘極之間。電感單元包括：第一電感元件，電耦合到第一電晶體對的一個閘極；以及第二電感元件，電耦合到一對輸出節點中的一者。第一電感元件與第二電感元件被配置成彼此磁耦合。

Description

用於時鐘產生的裝置
在本發明的實施例中闡述的技術大體來說涉及電子裝置，且更具體來說，涉及用於時鐘產生的裝置。
時鐘信號常常在電子器件中用於各種目的，包括電路操作、同步等。時鐘信號由時鐘產生器電路生成，所述時鐘產生器電路通常包括振盪器。
電壓控制振盪器（voltage controlled oscillator，VCO）是一種由輸入電壓來控制振盪頻率的電子振盪器。VCO可用作鎖相迴路（phase-locked loop，PLL）及頻率合成器中的精密波形產生器。傳統的VCO可具有交叉耦合的差分拓撲（differential topology）。由於振盪器中的電晶體的閘極與汲極之間的連接，呈此種拓撲的振盪器往往具有最差的電源抑制比（power supply rejection ratio，PSRR）。此外，電晶體的閘極偏壓中的直流（direct current，DC）操作點易於受到矽中失配（mismatch）的影響。
儘管傳統的基於變壓器的振盪器具有低的相位噪聲及低的頻率推移（frequency pushing），但是由於電壓在供電電源的DC位準周圍擺動，因而傳統的基於變壓器的振盪器存在可靠性問題。振盪擺動的峰值電壓可容易打破振盪器中汲極側及閘極側的限制。因此，現有的振盪器不能完全令人滿意地克服上述缺點。
本發明實施例提供一種用於時鐘產生的裝置，包括：第一電晶體對，電耦合到一對輸出節點；第二電晶體對，電耦合到所述一對輸出節點；以及電感單元，電耦合在所述一對輸出節點之間且電耦合在所述第一電晶體對的閘極之間，其中所述電感單元包括：第一電感元件，電耦合到所述第一電晶體對的一個閘極；以及第二電感元件，電耦合到所述一對輸出節點中的一者，其中所述第一電感元件與所述第二電感元件被配置成彼此磁耦合。
以下參照附圖對本公開的各種示例性實施例進行闡述，以使所屬領域中的普通技術人員能夠理解並使用本公開。如對所屬領域中的普通技術人員將顯而易見，在閱讀本公開之後，可在不背離本公開的範圍的條件下對本文中所述的實例作出各種改變或潤飾。因此，本公開並非僅限於本文中所闡述及所示出的示例性實施例及應用。另外，本文中所公開的方法中的步驟的具體次序和/或層級僅為示例性方法。可基於設計偏好而在本公開的範圍內對所公開的方法或程序的步驟的具體次序或層級進行重新排列。因此，所屬領域中的普通技術人員應理解，本文中所公開的方法及技術是以樣本次序呈現各種步驟或動作，且除非另外明確說明，否則本公開並非僅限於所呈現的具體次序或層級。
此外，為易於說明，本文中可能使用例如“在...之下（beneath）”、“在...下方（below）”、“下部的（lower）”、“在...上方（above）”、“上部的（upper）”等空間相對性用語來闡述圖中所示的一個元件或特徵與另一（其他）元件或特徵的關係。所述空間相對性用語旨在除圖中所繪示的取向外還囊括器件在使用或操作中的不同取向。裝置可具有其他取向（旋轉90度或處於其他取向），且本文中所使用的空間相對性描述語可同樣相應地進行解釋。除非另外明確闡述，否則例如“附接（attached）”、“固定（affixed）”、“連接（connected）”及“互連（interconnected）”等用語是指其中結構直接地或通過中間結構間接地彼此固定或附接的關係以及指可移動的或剛性的附接或關係兩者。
除非另有定義，否則本文使用的所有用語（包括技術及科學用語）具有與本公開所屬領域的普通技術人員通常理解的含義相同的含義。還應理解，用語（例如那些在常用詞典中定義的用語）應被解釋為具有與其在相關技術及本公開的上下文中的含義一致的含義，且除非在本文明確定義，否則不應以理想化或過於正式的意義來解釋。
現在將詳細參考本公開的當前實施例，這些實施例的實例在附圖中示出。在圖式及說明書中盡可能使用相同的參考編號來指代相同或相似的部件。
本公開提供用於產生具有良好相位噪聲及高可靠性的時鐘信號的電路及方法。在一個實施例中，所公開的振盪器具有互補拓撲及變壓器。所公開的振盪器可具有呈互補拓撲的兩對電晶體，以有助於保持對稱波形及低的閃爍噪聲拐角（flicker noise corner）。在一個實施例中，所述兩對電晶體可包括一對p型金屬氧化物半導體（p-type metal-oxide-semiconductor，PMOS）電晶體及一對n型金屬氧化物半導體（n-type metal-oxide-semiconductor，NMOS）電晶體。基於PMOS電晶體與NMOS電晶體的寬度對長度（width to length，W/L）比的設計，振盪擺動可位於約1/2供電電壓（VDD）的DC位準處。輸出電壓的峰值擺動低於VDD，以避免出現可靠性問題。
另外，所公開的振盪器在電晶體的汲極側到閘極側之間採用變壓器。在一個實施例中，變壓器從汲極側到閘極側具有1：2的電感比。這有助於在汲極側提供大的電壓增益及三次諧波頻調（harmonic tone）。如此一來，汲極側（即，基於變壓器的互補振盪器的輸出處）的電壓波形良好地近似於方波形狀，從而提供良好的相位噪聲性能及電源效率。由於可將閘極偏壓與汲極偏壓分開，因而頻率推移也遠好於傳統設計。
所公開的振盪器可應用於任何時鐘產生電路，例如，在具有鎖相迴路的數位電路設計中作為基於電感電容槽（LC tank）的電壓控制振盪器（VCO）或數位控制振盪器（DCO）。
圖1示出根據本公開的一些實施例的示例性振盪器100的電路圖。如圖1中所示，示例性振盪器100在由供電電壓VDD 160及參考電壓GND 170定義的電源域中運行。示例性振盪器100包括第一電晶體對110及第二電晶體對120。第一電晶體對110包括第一電晶體M1 111及第二電晶體M2 112。第二電晶體對120包括第三電晶體M3 121及第四電晶體M4 122。
在一個實施例中，第一電晶體M1 111、第二電晶體M2 112、第三電晶體M3 121及第四電晶體M4 122中的每一者包括金屬氧化物半導體（MOS）電晶體。在一個實施例中，第一電晶體M1 111及第二電晶體M2 112中的每一者包括n型金屬氧化物半導體（NMOS）電晶體，且第三電晶體M3 121及第四電晶體M4 122中的每一者包括p型金屬氧化物半導體（PMOS）電晶體。在其他實施例中，第一電晶體M1 111、第二電晶體M2 112、第三電晶體M3 121及第四電晶體M4 122中的每一者包括金屬氧化物半導體場效電晶體（metal-oxide-semiconductor field-effect transistor，MOSFET）。
振盪器100在耦合到第一電晶體M1 111的汲極及第三電晶體M3 121的汲極的輸出節點處產生振盪器輸出信號V+ out 191，且在耦合到第二電晶體M2 112的汲極及第四電晶體M4 122的汲極的輸出節點處產生振盪器輸出信號V- out 192。振盪器信號V+ out 191的電壓極性與振盪器信號V- out 192相反。
所述一對輸出節點V+ out 191及V- out 192電耦合在第一電晶體對110與第二電晶體對120之間。振盪器100還包括電感單元130，電感單元130電耦合在輸出節點V+ out 191與輸出節點V- out 192之間。如圖1中所示，電感單元130包括第一電感元件131，第一電感元件131電耦合到第二電晶體M2 112的閘極及第四電晶體M4 122的閘極，且電感單元130包括電耦合到輸出節點V+ out 191的第二電感元件133。第一電感元件131及第二電感元件133被配置成彼此磁耦合且產生可變電感。類似地，電感單元130還包括第三電感元件132，第三電感元件132電耦合到第一電晶體M1 111的閘極及第三電晶體M3 121的閘極，且電感單元130包括電耦合到輸出節點V- out 192的第四電感元件134。第三電感元件132及第四電感元件134被配置成彼此磁耦合且產生可變電感。第一電感元件的電感值大於或等於第二電感元件的電感值，且第三電感元件的電感值大於或等於第四電感元件的電感值。
在一個實施例中，電感單元130是包括電感器L1、L2、L3、L4的變壓器。也就是說，電感單元130中的電感元件中的每一者是電感器。由於第一電晶體M1 111的閘極經由變壓器130連接到第二電晶體M2 112的汲極且第二電晶體M2 112的閘極經由變壓器130連接到第一電晶體M1 111的汲極，因而第一電晶體M1 111與第二電晶體M2 112形成電感交叉耦合對（inductively cross-coupled pair）。類似地，由於第三電晶體M3 121的閘極經由變壓器130連接到第四電晶體M4 122的汲極且第四電晶體M4 122的閘極經由變壓器130連接到第三電晶體M3 121的汲極，因而第三電晶體M3 121與第四電晶體M4 122形成電感交叉耦合對。如上所述，每一對電晶體可為NMOS電晶體或PMOS電晶體，以為振盪提供負電阻。
在電感單元130的一個實施例中，第一電感器L1的極性與第四電感器L4相反。耦合在偏壓電壓VB 180與第二電晶體M2 112的閘極之間的第一電感器L1用於以小信號模式在第二電晶體M2 112的閘極處提供電壓擺動。類似地，由於第一電感器L1也耦合在偏壓電壓VB 180與第四電晶體M4 122的閘極之間，因而第一電感器L1也用於以小信號模式在第四電晶體M4 122的閘極處提供電壓擺動。磁耦合到第一電感器L1且電耦合到輸出節點V- out 192的第四電感器L4可在輸出節點V- out 192處（即，在第二電晶體M2 112的汲極及第四電晶體M4 122的汲極處）提供電壓擺動。第一電感器L1對第四電感器L4的電感比可為N：1，其中N是大於1的整數。在一個實施例中，第一電感器L1與第四電感器L4共享同一個芯或具有具有相同幾何形狀的芯。在此種情況下，兩個電感器之間的電感比等於這兩個電感器之間的匝數比。舉例來說，如圖1中所示，第一電感器L1與第四電感器L4的匝數比為2：1。
如圖1中所示，振盪器100的電路結構是對稱的。如此一來，電感單元130還包括第二電感器L2及第三電感器L3，其中第二電感器L2的極性與第三電感器L3相反。由於對稱的電路結構，第一電感器L1、第四電感器L4、第二電晶體M2 112與第四電晶體M4 122之間的操作與第二電感器L2、第三電感器L3、第一電晶體M1 111與第三電晶體M3 121之間的另一操作實質上相同。
在電感單元130的另一實施例中，第一電感器L1的極性與第三電感器L3相反，而第二電感器L2的極性與第四電感器L4相反。在電感單元130的任一實施例中，輸出節點V+ out 191及V- out 192處的擺動電壓被控制在供電電壓VDD 160以下，以避免可靠性問題。相依於程序的可靠性閾值Vmax通常被配置成高於供電電壓VDD 160。當振盪器100以高於可靠性閾值Vmax的電壓運行時，振盪器100的電路壽命將會受到影響和/或縮短，這使得振盪器100變得不可靠。由於輸出節點V+ out 191及V- out 192處的擺動電壓被控制在供電電壓VDD 160以下，因而擺動電壓也在可靠性閾值Vmax以下。如此一來，在振盪器100中不會引起可靠性問題。在電感單元130的任一實施例中，變壓器130從振盪器100中的電晶體的汲極側（在輸出節點V+ out 191及V- out 192處）到閘極側具有電感比M：N，其中M及N兩者均為整數，且M小於或等於N。
如圖1中所示，從汲極側到閘極側採用1：2變壓器130來提供無源電壓增益（passive voltage gain）。因此，可在汲極側獲得三次諧波信號，這有助於使波形在邊緣處更尖銳，並顯示出不受閃爍噪聲的影響。另外，由於閘極相對於偏壓的電容變動比汲極相對於偏壓的電容變動大（例如，大幾倍），因而汲極偏壓與閘極偏壓在振盪器100中被分開以降低電源推移（supply pushing）。
此外，如圖1中所示，振盪器100還包括用於頻率調諧的第一電容單元140及第二電容單元150。第一電容單元140電耦合在第一電晶體M1 111的閘極與第二電晶體M2 112的閘極之間，且與電感單元130並聯地電連接。第二電容單元150電耦合在輸出節點V+ out 191與輸出節點V- out 192之間，且與電感單元130並聯地電連接。第一電容單元140及第二電容單元150中的每一者包括以下中的至少一者：開關電容器，開關電容器的電阻相依於開關電容器的開關頻率；以及變容二極體，變容二極體的電容相依於施加在變容二極體兩端的偏壓電壓。
如圖1中所示，第一電晶體M1 111及第二電晶體M2 112中的每一者具有電連接到接地引腳GND 170的源極。如圖1中所示，第三電晶體M3 121及第四電晶體M4 122中的每一者具有電連接到電源供應引腳VDD 160的源極。由於振盪器100具有互補的與電感交叉耦合的差分拓撲且是基於變壓器的振盪器，因而振盪器100可實現良好的相位噪聲、低的頻率推移、對稱的波形及且不會出現可靠性問題。
根據各種實施例，變壓器130可以各種方式形成。在一個實施例中，變壓器130包括兩個電感器，所述兩個電感器形成在同一金屬層上且彼此水平地進行磁耦合。在一個實施例中，所述兩個電感器中的每一者具有至少一個匝及偶數個端口。在一個實例中，第一電感器具有：第一匝，位於第二電感器的所述至少一個匝內部；第二匝，位於第二電感器的所述至少一個匝外部；或同時具有第一匝及第二匝兩者。在另一實例中，第一電感器具有：第一端口，位於第二電感器的所述至少一個匝內部；第二端口，位於第二電感器的所述至少一個匝外部；或者同時具有第一端口及第二端口二者。在一個實施例中，所述兩個電感器中的每一者是具有對稱佈局的差分激勵電感器。在一個實施例中，所述兩個電感器中的每一者是基於兩個單端式螺旋電感器（single-ended spiral inductor）形成的。
圖2示出根據本公開一些實施例的圖1中所示的示例性振盪器的電壓波形。如圖2中所示，波形210表示振盪器100中的電晶體（例如第一電晶體M1 111）的汲極處的電壓，而波形220表示振盪器100中的電晶體（例如第一電晶體M1 111）的閘極處的電壓。由於振盪器100中從電晶體的汲極側到閘極側的變壓器130的電感比為1：2，因而閘極電壓220的峰對峰值（peak-to-peak value）約為汲極電壓210的峰對峰值的兩倍。
如圖2中所示，汲極電壓波形210及閘極電壓波形220兩者均在等於約1/2供電電壓VDD的DC位準周圍擺動，這可通過設置PMOS電晶體與NMOS電晶體的寬度對長度（W/L）比來進行配置。如此一來，汲極電壓波形210在供電電壓VDD與參考電壓GND之間擺動，這會確保對於汲極電壓而言不存在可靠性問題。儘管閘極電壓波形220擺動超過供電電壓VDD及參考電壓GND，但閘極電壓波形220在可靠性閾值Vmax以下擺動，這會確保對於閘極電壓而言不存在可靠性問題。
所示出的波形210、220的實施例只是振盪器100的一些組件處的波形的實例。因此，可添加來自其他組件或來自重複測量的波形，這仍處於本公開的範圍內。
圖3示出根據本公開一個實施例的示例性的基於變壓器的互補振盪器300，所述基於變壓器的互補振盪器300與圖1中的電路圖一致。如圖3中所示，基於變壓器的互補振盪器300類似於參照圖1闡述及示出的振盪器100，只是例如振盪器300包括第一電容單元140及第二電容單元150的詳細電路圖。如圖3中所示，振盪器300中的第一電容單元140包括由開關345連接的電容器C1 341與電容器C2 342；且振盪器300中的第二電容單元150包括由開關355連接的電容器C3 351與電容器C4 352。
根據各種實施例，電感電容槽振盪器（LC tank oscillator）300中的電容器C1到C4中的每一者可被金屬氧化物金屬（metal-oxide-metal，MOM）電容器、金屬絕緣體金屬（metal-insulator-metal，MIM）電容器、變容二極體、金屬氧化物半導體（MOS）電容器或任何其他提供電容的器件採用。根據各種實施例，電感器L1到L4中的每一者可由單端式螺旋電感器、差分螺旋電感器或任何其他提供電感的器件來實施。
如圖3中所示，第一電晶體M1 111的汲極與第三電晶體M3 121的汲極直接連接，且第二電晶體M2 112的汲極與第四電晶體M4 122的汲極直接連接。第一電晶體M1 111的閘極與第三電晶體M3 121的閘極連接在一起且短路連接到電感器L2 132及電容器C2 342；並且第二電晶體M2 112的閘極與第四電晶體M4 122的閘極連接在一起且短路連接到電感器L1 131及電容器C1 341。第一電晶體M1 111的汲極與第三電晶體M3 121的汲極連接在一起且短路連接到電感器L3 133及電容器C3 351；並且第二電晶體M2 112的汲極與第四電晶體M4 122的汲極連接在一起且短路連接到電感器L4 134及電容器C4 352。
電晶體M1到M4的功能如同兩個電感交叉耦合對，為振盪啟動提供足夠的負電阻。電晶體M1與電晶體M2的尺寸（包括寬度、長度等）是相同的以實現對稱的差分操作。電晶體M3與電晶體M4的尺寸（包括寬度、長度等）是相同的以實現對稱差分操作。電晶體M1、M2與電晶體M3、M4之間的尺寸比可被設計成在電晶體M1到M4的汲極側（即，在輸出節點V+ out 191及V- out 192處）提供等於約½ VDD的DC電壓。
開關345被置於電容器C1 341與電容器C2 342之間，以在開關345接通及斷開時提供不同的電容。類似地，開關355被置於電容器C3 351與電容器C4 352之間，以在開關355接通及斷開時提供不同的電容。開關345及開關355的開關設計可基於互補的互補金屬氧化物半導體（complementary metal oxide semiconductor，CMOS）開關、僅NMOS器件或僅PMOS器件、或任何可接通及斷開兩個電容器之間的連接的器件。
在一個實施例中，開關345及開關355的開關設計是差分設計，以產生對稱波形。根據各種實施例，電容器C1 341的電容值與電容器C3 351的電容值相同或不同；且電容器C2 342的電容值與電容器C4 352的電容值相同或不同。在一個實施例中，電容器C1到C4的所有電容均是相同的。
在一個實施例中，電感器L3及L4是形成變壓器的一次線圈的一次電感器，電感器L1及L2是形成變壓器的二次線圈的二次電感器。二次線圈磁耦合到一次線圈。舉例來說，二次電感器L1磁耦合到一次電感器L3；且二次電感器L2磁耦合到一次電感器L4。另外，二次電感器L1具有比一次電感器L3大的電感；且二次電感器L2具有比一次電感器L4大的電感。舉例來說，二次電感器L1與一次電感器L3之間的電感比為2；且二次電感器L2與一次電感器L4之間的電感比為2。1:2變壓器比使得閘極側的電壓擺動高於汲極側的電壓擺動。
一次線圈及二次線圈中的每一者具有中心抽頭（center tap）。如圖3中所示，包括二次電感器L1及L2的二次線圈具有電連接到偏壓電壓VB 180的中心抽頭188。
另外，此種變壓器的耦合係數可被設計成會將三次諧波注入到汲極側且使電壓波形在邊緣處更尖銳的值（例如約0.7）。尖銳的波形使得不會出現閃爍噪聲，從而使得相位噪聲較低。
圖4示出根據本公開一個實施例的另一示例性的基於變壓器的互補振盪器400，基於變壓器的互補振盪器400與圖1中的電路圖一致。如圖4中所示，基於變壓器的互補振盪器400類似於參照圖1闡述及示出的振盪器100，只是例如振盪器400包括第一電容單元140及第二電容單元150的詳細電路圖。如圖4中所示，振盪器400中的第一電容單元140包括開關電容器410、變容二極體D1 401及變容二極體D2 402；且振盪器400中的第二電容單元150包括開關電容器420、變容二極體D3 403及變容二極體D4 404。
此實例中的開關電容器410包括多個並聯連接的分支，其中每一分支包括經由開關415串聯連接的兩個電容器411、412。類似地，此實例中的開關電容器420包括多個並聯連接的分支，其中每一分支包括經由開關425串聯連接的兩個電容器421、422。在一個實施例中，開關電容器410中並聯連接的分支的數目與開關電容器420中並聯連接的分支的數目相同。在一個實施例中，開關電容器410的總電阻和/或電容與開關電容器420的總電阻和/或電容相同。
變容二極體D1 401及變容二極體D2 402通過變容二極體D1 401及變容二極體D2 402的陰極進行串聯連接以形成變容二極體分支。變容二極體分支並聯連接到開關電容器410，以防止諧振阻抗（resonant impedance）劣化。變容二極體分支具有耦合到受控電壓VCTRL 460的中心抽頭441。類似地，變容二極體D3 403及變容二極體D4 404通過變容二極體D3 403及變容二極體D4 404的陰極進行串聯連接以形成並聯連接到開關電容器420的分支。變容二極體分支並聯連接到開關電容器420以防止諧振阻抗劣化，且具有耦合到受控電壓VCTRL 460的中心抽頭451。變容二極體D1到D4中的每一者提供電壓相依電容（voltage-dependent capacitance）以進行頻率調諧。在一個實施例中，變容二極體D1到D4中的每一者可基於NMOS電容器或PMOS電容器、MOS變容二極體、或將源極、汲極與主體連接在一起的NMOS電晶體或PMOS電晶體來構成。在一個實施例中，受控電壓VCTRL 460可連接到鎖相迴路的迴路濾波器（loop filter）。在一個實施例中，對電路執行金屬屏蔽以防止噪聲耦合。儘管圖4在每一電容單元140、150中顯示三個並聯連接的開關電容器及兩個串聯連接的變容二極體，但是根據各種實施例，任何數目的並聯連接的開關電容器及任何數目的串聯連接的變容二極體均處於本公開的範圍內。根據客戶要求，電容單元可僅包括開關電容器或僅包括變容二極體。
圖5示出根據本公開一個實施例的具有受控電壓偏壓的示例性的基於變壓器的互補振盪器500。如圖5中所示，基於變壓器的互補振盪器500類似於參照圖4闡述及示出的振盪器400，只是例如振盪器500包括用於向二次電感器131、132的中心抽頭188提供偏壓電壓的詳細電路圖。如圖5中所示，中心抽頭188電連接到包括兩個部分510、520的可變電阻器Rsw 。可變電阻器Rsw 耦合在電源供應節點580與接地節點570之間，以提供對電晶體M1到M4的閘極偏壓的精細調諧。舉例來說，通過對這兩個部分510、520之間的電阻比進行控制，或通過在可變電阻器Rsw 處對中心抽頭188的連接點進行控制，可將期望的偏壓電壓施加到中心抽頭188，且因此將期望的偏壓電壓經由電感器131、132施加到電晶體M1到M4的閘極。
如圖5中所示，中心抽頭188也電連接到耦合在中心抽頭188與接地節點570之間的低通電容器CLPF 530。低通電容器是作為旁路進行耦合以用於低通濾波的電容器，並用作低通濾波器來濾除高頻信號。低通電容器CLPF 530被置於閘極偏壓路徑中，以提供低通濾波來防止高頻確定性噪聲注入到閘極側中，同時僅將低頻信號引導到閘極側（例如中心抽頭188）。
圖6示出根據本公開一個實施例的具有受控電壓偏壓的另一示例性的基於變壓器的互補振盪器600。如圖6中所示，基於變壓器的互補振盪器600類似於參照圖4闡述及示出的振盪器400，只是例如振盪器600包括用於向電晶體M1到M4的閘極提供偏壓電壓的詳細電路圖。如圖6中所示，在電感器L1 131、L2 132的中心抽頭640與電感器L3 133、L4 134的中心抽頭650之間存在短接線660。這樣一來，電晶體M1到M4的汲極側處及閘極側處的DC偏壓電壓是相同的。因此，振盪器600中的閘極偏壓是基於互補的與電感交叉耦合的拓撲進行自偏壓（self-biased）。圖5中設計的電壓控制振盪器500可提供較小的頻率推移，而圖6中設計的電壓控制振盪器600可提供較小的電路佔用面積。
圖7示出根據本公開一個實施例的用於操作電路（例如圖1或圖3到圖6中所示的基於變壓器的互補振盪器）的方法700的流程圖。在操作710處，對電路的變壓器的一次線圈的中心抽頭施加偏壓電壓。在操作720處，將電路的第一電晶體的第一閘極的第一輸入電壓放大到第一輸出電壓。在操作730處，通過電路的變壓器將第一輸出電壓磁耦合到電路的第二電晶體的第二閘極的第二輸入電壓。在操作740處，將第二電晶體的第二閘極的第二輸入電壓放大到第二輸出電壓。在操作750處，通過變壓器將第二輸出電壓磁耦合到第一閘極的第一輸入電壓。在操作755處，判斷第一輸入電壓是否達到穩定。如果第一輸入電壓達到穩定，則程序進行到操作760，在操作760中基於第一輸出電壓及第二輸出電壓而產生電路的輸出信號作為時鐘信號。如果第一輸入電壓未達到穩定，則程序返回到操作720，以進行操作720到750的另一次迭代。在一個實施例中，當在一次迭代（即，操作720到750的操作重複）之後第一輸入電壓的絕對變化小於預定閾值時，第一輸入電壓達到穩定。根據本教示的各種實施例，圖7中的操作的次序可進行改變。
在一些實施例中，公開一種用於時鐘產生的裝置。所述裝置包括：第一電晶體對，電耦合到一對輸出節點；第二電晶體對，電耦合到所述一對輸出節點；以及電感單元，電耦合在一對輸出節點之間且電耦合在第一電晶體對的閘極之間。電感單元包括：第一電感元件，電耦合到第一電晶體對的一個閘極；以及第二電感元件，電耦合到一對輸出節點中的一者。第一電感元件與第二電感元件被配置成彼此磁耦合。
在相關實施例中，所述第一電感元件及所述第二電感元件被配置成產生可變電感；以及所述第一電感元件具有大於或等於所述第二電感元件的電感值的電感值。
在相關實施例中，所述第一電感元件與所述第二電感元件形成在同一金屬層上且彼此具有水平耦合。
在相關實施例中，所述第一電感元件及所述第二電感元件中的每一者是具有至少一個匝且具有偶數個端口的電感器。
在相關實施例中，所述第一電感元件具有以下中的至少一者：第一匝，位於所述第二電感元件的所述至少一個匝內部；以及第二匝，位於所述第二電感元件的所述至少一個匝外部。
在相關實施例中，所述第一電感元件具有以下中的至少一者：第一端口，位於所述第二電感元件的所述至少一個匝內部；以及第二端口，位於所述第二電感元件的所述至少一個匝外部。
在相關實施例中，所述第一電感元件及所述第二電感元件中的每一者是具有對稱佈局的差分激勵電感器。
在相關實施例中，所述第一電感元件及所述第二電感元件中的每一者是基於兩個單端式螺旋電感器而形成的。
在相關實施例中，所述電感單元還包括：第三電感元件，電耦合在所述第一電感元件與所述第一電晶體對的另一閘極之間；以及第四電感元件，電耦合在所述第二電感元件與所述一對輸出節點中的另一輸出節點之間，其中所述第三電感元件與所述第四電感元件被配置成彼此磁耦合。
在相關實施例中，所述的裝置還包括以下中的至少一者：第一電容單元，電耦合在所述第一電晶體對的所述閘極之間且與所述電感單元並聯地電連接；以及第二電容單元，電耦合在所述一對輸出節點之間且與所述電感單元並聯地電連接。
在相關實施例中，所述第一電容單元及所述第二電容單元中的每一者包括以下中的至少一者：開關電容器，所述開關電容器的電阻相依於所述開關電容器的開關頻率；以及變容二極體，所述變容二極體的電容相依於施加在所述變容二極體兩端的偏壓電壓。
在一些實施例中，公開一種振盪器。所述振盪器包括：多個一次電感器；多個二次電感器，所述多個二次電感器中的每一者磁耦合到所述多個一次電感器中的對應的一者；第一對電晶體，包括第一電晶體及第二電晶體；以及第二對電晶體，包括第三電晶體及第四電晶體。第一電晶體、第二電晶體、第三電晶體及第四電晶體中的每一者具有電連接到所述多個一次電感器的汲極及電連接到所述多個二次電感器的閘極。
在相關實施例中，所述第一電晶體及所述第二電晶體是n型電晶體；以及所述第三電晶體及所述第四電晶體是p型電晶體。
在相關實施例中，所述多個二次電感器中的每一者具有比所述多個一次電感器中的所述對應的一者大的電感。
在相關實施例中，所述第一電晶體具有電連接到所述第二電晶體的汲極的閘極；所述第二電晶體具有電連接到所述第一電晶體的汲極的閘極；所述第三電晶體具有電連接到所述第四電晶體的汲極的閘極；以及所述第四電晶體具有電連接到所述第三電晶體的汲極的閘極。
在相關實施例中，所述第一電晶體具有電連接到所述第三電晶體的汲極的汲極；所述第二電晶體具有電連接到所述第四電晶體的汲極的汲極；所述第一電晶體具有電連接到所述第三電晶體的閘極的閘極；以及所述第二電晶體具有電連接到所述第四電晶體的閘極的閘極。
在相關實施例中，所述多個一次電感器具有第一中心抽頭；所述多個二次電感器具有第二中心抽頭；以及所述第一中心抽頭與所述第二中心抽頭通過短路連接而電連接到彼此。
在相關實施例中，所述多個二次電感器的中心抽頭電連接到用作低通濾波器的可變電阻器及電容器。
在一些實施例中，公開一種操作用於時鐘產生的電路的方法，包括：將所述電路的第一電晶體的第一閘極的第一輸入電壓放大到第一輸出電壓；通過所述電路的變壓器將所述第一輸出電壓磁耦合到所述電路的第二電晶體的第二閘極的第二輸入電壓；將所述第二電晶體的所述第二閘極的所述第二輸入電壓放大到第二輸出電壓；通過所述變壓器將所述第二輸出電壓磁耦合到所述第一閘極的所述第一輸入電壓；重複以上操作，直到所述第一輸入電壓達到穩定；以及基於所述第一輸出電壓及所述第二輸出電壓而產生所述電路的輸出信號作為時鐘信號。
在相關實施例中，所述的方法還包括：對所述變壓器的一次線圈的中心抽頭施加偏壓電壓，其中當在進行操作重複之後所述第一輸入電壓的絕對變化小於預定閾值時所述第一輸入電壓達到穩定。
在一些實施例中，公開一種振盪器。所述振盪器包括：第一對電晶體，包括第一n型電晶體及第二n型電晶體；第二對電晶體，包括第一p型電晶體及第二p型電晶體，其中第一n型電晶體及第一p型電晶體中的每一者具有電連接到第一輸出節點的汲極，且第二n型電晶體及第二p型電晶體中的每一者具有電連接到第二輸出節點的汲極；以及變壓器，電耦合在第一輸出節點與第二輸出節點之間。
儘管以上已闡述了本公開的各種實施例，然而應理解，所述實施例僅作為實例呈現而非用於進行限制。同樣，各個圖式可繪示示例性架構或配置，提供所述示例性架構或配置是為了使所屬領域中的普通技術人員能夠理解本公開的示例性特徵及功能。然而，所屬領域中的普通技術人員應理解，本公開並非僅限於所示出的示例性架構或配置，而是可使用各種替代架構及配置來實施。另外，如所屬領域中的普通技術人員應理解，一個實施例的一個或多個特徵可與本文中所述的另一實施例的一個或多個特徵進行組合。因此，本公開的廣度及範圍不應受上述示例性實施例中的任一示例性實施例限制。
還應理解，本文中每當使用例如“第一”、“第二”等稱謂來提及元件時均不是籠統地限制所述元件的數量或次序。而是，本文中使用這些稱謂作為區分兩個或更多個元件或區分元件的實例的便捷手段。因此，提及“第一元件”和“第二元件”並不意味著僅可採用兩個元件或者第一元件必須以某種方式在第二元件之前。
另外，所屬領域中的普通技術人員應理解，可使用各種不同的技術及技法中的任一種來表示信息及信號。舉例來說，數據、指令、命令、信息、信號、位元及符號（舉例來說，在以上說明中可能提及的）可由電壓、電流、電磁波、磁場或磁性粒子、光學場或光學粒子或其任意組合來表示。
所屬領域中的普通技術人員還應理解，結合本文所公開的各個方面闡述的各種例示性邏輯區塊、模塊、處理器、構件、電路、方法及功能中的任一者可由電子硬體（例如，數位實施形式、類比實施形式或兩者的組合）、韌體、包含指令的各種形式的程式或設計代碼（為方便起見，在本文中可被稱為“軟體”或“軟體模塊”）或這些技術的任意組合來實施。
為清楚地例示硬體、韌體及軟體的此種可互換性，以上已對各種例示性組件、區塊、模塊、電路及步驟在其功能方面進行了大體闡述。此種功能是被實施為硬體、韌體還是軟體、抑或被實施為這些技術的組合取決於具體應用及施加於整個系統的設計約束條件。所屬領域中的技術人員可針對每一具體應用以各種方式實施所闡述的功能，但此種實施決策不會導致脫離本公開的範圍。根據各種實施例，處理器、器件、組件、電路、結構、機器、模塊等可被配置成執行本文中所述的功能中的一個或多個功能。本文中針對規定操作或功能使用的用語“被配置成”或“被配置用於”是指處理器、器件、組件、電路、結構、機器、模塊、信號等被實體構造成、程式化成、排列成和/或格式化成執行規定操作或功能。
此外，所屬領域中的普通技術人員應理解，本文中所述的各種例示性邏輯區塊、模塊、器件、組件及電路可在積體電路（IC）內實施或由積體電路（IC）執行，所述積體電路可包括數位信號處理器（digital signal processor，DSP）、應用專用積體電路（application specific integrated circuit，ASIC）、現場可程式化閘陣列（field programmable gate array，FPGA）或其他可程式化邏輯器件、或其任意組合。邏輯區塊、模塊及電路還可包括天線和/或收發器，以與網路內或器件內的各種組件進行通信。被程式化成執行本文中的功能的處理器將變成專門程式化的或專用的處理器，且可被實施為計算器件的組合，例如DSP與微處理器的組合、多個微處理器、一個或多個微處理器與DSP核的結合、或者執行本文中所述的功能的任何其他合適的配置。
如果以軟體的形式實施，則所述功能可作為一個或多個指令或代碼儲存在電腦可讀媒體上。因此，本文中所公開的方法或算法的步驟可被實施為儲存在電腦可讀媒體上的軟體。電腦可讀媒體包括電腦儲存媒體及通信媒體二者，包括任何可能夠將電腦程式或代碼從一個地方傳遞到另一地方的任何媒體。儲存媒體可為可由電腦存取的任何可用媒體。作為示例而非限制，這種電腦可讀媒體可包括隨機存取記憶體（random access memory，RAM）、唯讀記憶體（read-only memory，ROM）、電可除程式化唯讀記憶體（electrically erasable programmable read-only memory，EEPROM）、唯讀光碟（compact disk- ROM，CD-ROM）或其他光碟儲存器器件、磁碟儲存器器件或其他磁性儲存器器件、或者可用於以指令或數據結構的形式儲存所期望的程式代碼且可由電腦存取的任何其他媒體。
在本文件中，本文使用的用語“模塊”是指用於執行本文中所述的相關功能的軟體、韌體、硬體以及這些元件的任意組合。另外，為便於論述，各種模塊被闡述為離散模塊；然而，對於所屬領域中的普通技術人員來說顯而易見的是，可將兩個或更多個模塊組合形成單個模塊，由所述單個模塊執行根據本公開的實施例的相關功能。
對本公開中所述的實施方式的各種修改對於所屬領域中的技術人員來說將顯而易見，且在不背離本公開的範圍的條件下，本文中所定義的一般原理也可應用於其他實施方式。因此，本公開並非旨在僅限於本文中所示的實施方式，而是符合與在以下發明申請專利範圍中所述的本文所公開新穎特徵及原理一致的最寬廣範圍。
100:振盪器 110:第一電晶體對 111:第一電晶體 112:第二電晶體 120:第二電晶體對 121:第三電晶體 122:第四電晶體 130:電感單元 131:第一電感元件/電感器/二次電感器 132:第三電感元件/電感器/二次電感器 133:第二電感元件 134:第四電感元件 140:第一電容單元/電容單元 150:第二電容單元/電容單元 160、VDD:供電電壓/電源供應引腳 170、GND:參考電壓/接地引腳 180、VB:偏壓電壓 188、441、451、640、650:中心抽頭 191、192、V+ out 、V- out :振盪器輸出信號/輸出節點 210:波形/汲極電壓/汲極電壓波形 220:波形/閘極電壓/閘極電壓波形 300:基於變壓器的互補振盪器/振盪器/電感電容槽振盪器 341、342、351、352、411、412、421、422、C1、C2、C3、C4:電容器 345、355、415、425:開關 400:基於變壓器的互補振盪器/振盪器 401、402、403、404、D1、D2、D3、D4:變容二極體 410、420:開關電容器 460、VCTRL :受控電壓 500、600:基於變壓器的互補振盪器/振盪器/電壓控制振盪器 510、520:部分 530、CLPF :低通電容器 570:接地節點 580:電源供應節點 660:短接線 700:方法 710、720、730、740、750、755、760:操作 L1:第一電感器/電感器/二次電感器 L2:第二電感器/電感器/二次電感器 L3:第三電感器/電感器/一次電感器 L4:第四電感器/電感器/一次電感器 M1:第一電晶體/電晶體 M2:第二電晶體/電晶體 M3:第三電晶體/電晶體 M4:第四電晶體/電晶體 Rsw :可變電阻器 Vmax:可靠性閾值
下面參照以下圖式詳細闡述本公開的各種示例性實施例。提供圖式僅是出於例示目的且這些圖式僅繪示本公開的示例性實施例以有助於讀者理解本公開。因此，圖式不應被視為限制本公開的廣度、範圍或適用性。應注意，為使例示清楚及容易起見，這些圖式並未按比例繪製。 圖1示出根據本公開的一些實施例的示例性振盪器的電路圖。 圖2示出根據本公開的一些實施例的圖1中所示的示例性振盪器的電壓波形。 圖3示出根據本公開的一個實施例的示例性的基於變壓器的互補振盪器，所述示例性的基於變壓器的互補振盪器與圖1中的電路圖一致。 圖4示出根據本公開的一個實施例的另一示例性的基於變壓器的互補振盪器，所述另一示例性的基於變壓器的互補振盪器與圖1中的電路圖一致。 圖5示出根據本公開的一個實施例的具有受控電壓偏壓（controlled voltage bias）的示例性的基於變壓器的互補振盪器。 圖6示出根據本公開的一個實施例的具有受控電壓偏壓的另一示例性的基於變壓器的互補振盪器。 圖7示出根據本公開的一個實施例的用於操作基於變壓器的互補振盪器的方法的流程圖。
100:振盪器
110:第一電晶體對
111:第一電晶體
112:第二電晶體
120:第二電晶體對
121:第三電晶體
122:第四電晶體
130:電感單元
131:第一電感元件/電感器/二次電感器
132:第三電感元件/電感器/二次電感器
133:第二電感元件
134:第四電感元件
140:第一電容單元/電容單元
150:第二電容單元/電容單元
160、VDD:供電電壓/電源供應引腳
170:參考電壓/接地引腳
180、VB:偏壓電壓
188:中心抽頭
191、192、V+ out 、V- out :振盪器輸出信號/輸出節點
L1:第一電感器/電感器/二次電感器
L2:第二電感器/電感器/二次電感器
L3:第三電感器/電感器/一次電感器
L4:第四電感器/電感器/一次電感器
M1:第一電晶體/電晶體
M2:第二電晶體/電晶體
M3:第三電晶體/電晶體
M4:第四電晶體/電晶體

Claims (1)

  1. 一種用於時鐘產生的裝置，包括： 第一電晶體對，電耦合到一對輸出節點； 第二電晶體對，電耦合到所述一對輸出節點；以及 電感單元，電耦合在所述一對輸出節點之間且電耦合在所述第一電晶體對的閘極之間，其中所述電感單元包括： 第一電感元件，電耦合到所述第一電晶體對的一個閘極；以及 第二電感元件，電耦合到所述一對輸出節點中的一者， 其中所述第一電感元件與所述第二電感元件被配置成彼此磁耦合。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11482924B2 (en) * 2018-07-26 2022-10-25 Analog Devices International Unlimited Company Power isolator exhibiting low electromagnetic interference
DE102021125084A1 (de) * 2021-09-28 2023-03-30 Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule (RWTH) Aachen, Körperschaft des öffentlichen Rechts Technik zur erweiterung des oszillatorabstimmbereichs

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009041868A1 (en) * 2007-09-25 2009-04-02 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) An improved hartley voltage controlled oscillator
US8736392B2 (en) * 2009-03-18 2014-05-27 Qualcomm Incorporated Transformer-based CMOS oscillators
US8957739B2 (en) * 2013-01-18 2015-02-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Ultra-low voltage-controlled oscillator with trifilar coupling
WO2014124690A1 (en) * 2013-02-15 2014-08-21 Huawei Technologies Co., Ltd. Lc oscillator with tail current source and transformer-based tank circuit
US9041477B2 (en) * 2013-06-14 2015-05-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Voltage-controlled oscillator
US9252717B2 (en) * 2014-06-04 2016-02-02 Globalfoundries Inc. Phase noise reduction in LC-VCO
US9455667B2 (en) * 2014-08-20 2016-09-27 Short Circuit Technologies Llc Fractional-N all digital phase locked loop incorporating look ahead time to digital converter
WO2016054612A1 (en) * 2014-10-03 2016-04-07 Zaretsky, Howard Switching current source radio frequency oscillator
US9356557B1 (en) * 2015-08-26 2016-05-31 Nxp B.V. Capacitor arrangement for oscillator
US20170126177A1 (en) * 2015-10-30 2017-05-04 Texas Instruments Incorporated Trifilar Voltage Controlled Oscillator
US10236824B2 (en) * 2016-10-19 2019-03-19 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Ultra-low power voltage controlled oscillator

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