TW202100983A - 濃度測定裝置 - Google Patents
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Abstract
濃度測定裝置(100)，具備：具有光源(22)及光檢測器(24)之電氣單元(20)，具有測定胞(1)之流體單元(10)，及連接電氣單元(20)與流體單元(10)之光纖(11,12)；藉由使從光源(22)射入測定胞而由測定胞射出的光以光檢測器(24)檢測出而測定測定胞內的流體濃度的方式構成；於電氣單元(20)，被連接光纖(11,12)的光接續部(32,34)，及光源(22)或光檢測器(24)係一體地設置。
Description
本發明係關於濃度測定裝置，特別是關於根據透過測定胞內的流體的光的強度而測定測定流體的濃度之濃度測定裝置。
從前，以被組裝進把由有機金屬(MO)等液體材料或固體材料所形成的原料氣體往半導體製造裝置供給之氣體供給管線，測定流通於氣體供給線的氣體濃度的方式構成的濃度測定裝置(所謂的沿線(in-line)式濃度測定裝置)係屬已知。
在這種濃度測定裝置，於測定氣體流通的測定胞，透過光射入窗使來自光源的特定波長的光射入，使通過測定胞內的透過光在受光元件受光而測定吸光度。此外，由測定的吸光度，可以依照比爾-朗伯定律(Beer-Lambert law)求出測定氣體的濃度(例如參照專利文獻1～3)。
又，於本說明書，把供檢測流體的濃度之用的種種透過光檢測構造統稱為測定胞。於測定胞，不僅包含由流體供給管線分歧而個別配置的測定胞，也包含如專利文獻1～3所示的設在流體供給管線途中的沿線(in-line)式透過光檢測構造。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2014-219294號公報
[專利文獻2]國際公開第2017/029792號公報
[專利文獻3]國際公開第2018/021311號公報
[發明所欲解決之課題]
沿線式濃度測定裝置，由被組入流體供給線的測定胞，與被配置在與測定胞隔開的場所之電氣單元所構成。測定胞被加熱至高溫(例如150℃)的場合，高溫耐性低的光學元件或電路元件，以被設置在離開測定胞的電氣單元為較佳。
在專利文獻3記載的反射型濃度測定裝置，在離開測定胞的電氣單元，設有發生往測定胞的入射光之光源，與接受透過測定胞的光之光檢測器。於此裝置，在光源與測定胞之間，以及光檢測器與測定胞之間，使用光纖光學地連接著。
此外，在根據本案申請人的比較例之濃度測定裝置，在由測定胞延伸的光纖纜線的端部設有FC連接器等光連接器，此光連接器，被連接於安裝在電氣單元的筐體之轉接器的一方側(筐體外側)。此外，由筐體內的光源或光檢測器延伸的光纖纜線也設有FC連接器等光連接器，此光連接器，被連接於轉接器的另一方側(筐體內側)。在FC連接器用的轉接器，覆蓋光纖及此端部的套管之端面彼此，在被配置於貫通孔內的對接套管內抵靠而精度佳的被光學連接。套管及對接套管，典型是採用氧化鋯(ZrO2
)製的。
圖7(a)～(c)顯示根據比較例之使用FC連接器的測定胞與光檢測器之連接型態。如圖7(a)所示，由光檢測器90延伸的光纖纜線91，在被安裝於電氣單元的筐體92的轉接器93，藉由FC連接器94固定。此時，轉接器93的貫通孔內部(更詳細地說，為未圖示的對接套管的內側)，光纖97a及套管97b的端面露出。
此外，由測定胞(未圖示)延伸的光纖纜線95的端部也被安裝FC連接器96，此FC連接器96，如圖7(b)所示，在轉接器93的相反側，亦即在電氣單元的筐體92的外側被安裝於轉接器93。此時，於轉接器93的貫通孔內部，光纖98a及套管98b被插入。接著，這些的端面，被連接於光檢測器90的光纖纜線91的光纖97a及套管97b的端面對接。
進而，如圖7(c)所示，藉由鎖緊FC連接器96的連接螺母，轉接器93內的光纖97a,98a的端面彼此被壓接連接，同時光纖纜線95被堅固地固定於轉接器93。
然而，使用如前述那樣的光連接器用的轉接器在光纖的端面彼此進行連接的話，會有無法避免端面之連接損失或反射衰減的發生之問題。把光纖與套管的端面研磨為球面狀，藉由壓接端面彼此的PC(物理接觸, Physical Contact)連接等而減低反射衰減量的技術也被開發出來，但是在濃度測定裝置，因光纖彼此的連接而產生的光訊號的損失，會對測定精度造成無法忽視的影響。
此外，濃度測定裝置，為了信賴性試驗的實施等會有取下電氣單元而移動的場合，會有進行FC連接器的插拔的狀況。接著，在進行FC連接器的插拔的場合，於光纖的端面間會有塵芥等侵入的情形，再度使用轉接器進行光學連接時，在光纖的端面之反射成分有變多的情形。此外，隨著反覆進行光纖的端面彼此之壓接也會增加反射成分。亦即，在使用轉接器之光纖彼此的連接，濃度測定裝置的測定誤差會增加。
本發明係有鑑於上述課題而完成之發明，主要目的在於提供確保便利性，同時可以提高測定精度之濃度測定裝置。
[供解決課題之手段]
根據本發明的實施型態之濃度測定裝置，具備：具有光源及光檢測器之電氣單元，具有測定胞之流體單元，及連接前述電氣單元與前述流體單元之光纖；藉由使從前述光源射入前述測定胞而由前述測定胞射出的光以前述光檢測器檢測出而測定前述測定胞內的流體濃度的方式構成；於前述電氣單元，被連接前述光纖的光接續部，及前述光源或前述光檢測器係一體地設置。於此構成，在光接續部與光源或光檢測器之間沒有必要設光纖，可以避免由測定胞延伸的光纖與光接續部，以及由光源或光檢測器延伸的光纖之端面彼此的連接。
於某個實施型態，前述電氣單元，具有收容前述光源及前述光檢測器的筐體，前述光接續部，被配置於前述筐體的外側面，前述光源或前述光檢測器，於前述筐體的內側面與前述光接續部鄰接配置。
於某個實施型態，包含連接前述光源與前述測定胞之第1光纖，與連接前述光檢測器與前述測定胞之第2光纖；於前述電氣單元，在與前述光源一體地形成之第1光接續部被連接前述第1光纖，在與前述光檢測器一體地形成之第2光接續部被連接前述第2光纖。
於某個實施型態，前述第1光纖及前述第2光纖均設有FC連接器之光纖，於前述第1光接續部之外周螺紋可裝拆地螺合轉緊固定前述第1光纖的FC連接器，於前述第2光接續部之外周螺紋可裝拆地螺合轉緊固定前述第2光纖之FC連接器。
於某個實施型態，前述光源，具有：複數發光二極體、被來自前述複數發光二極體的光照射的半反射鏡、及接受來自前述半反射鏡的光之第1聚光手段；被連接於前述第1光接續部的前述第1光纖的端面，面對於前述第1聚光手段，前述光檢測器，具有光電二極體，及被配置於前述光電二極體之前的第2聚光手段；被連接於前述第2光接續部的前述第2光纖的端面，面對於前述第2聚光手段。
於某個實施型態，前述流體為氣體，進而具有：測定流通於前述測定胞的氣體的壓力之壓力感測器，測定流通於前述測定胞的氣體的溫度之溫度感測器，以及被連接於前述光檢測器、前述壓力感測器及前述溫度感測器的處理部：前述處理部，以使用被關連於測定氣體的吸光係數αa
，根據下列式求出混合氣體中的測定氣體的體積濃度Cv的方式構成，於下列式，I0
為入射至前述測定胞的入射光的強度，I為通過前述測定胞的光的強度，R為氣體常數，T為前述測定胞內的氣體溫度，L為前述測定胞的光徑長，Pt為前述測定胞內的氣體壓力；Cv=(RT/αa
LPt)･ln(I0
/I)。
[發明之效果]
根據本發明之實施型態，提供可以消除成為測定誤差原因之光纖的端面彼此接觸之連接，能夠以提高的精度進行濃度測定的光學式濃度測定裝置。
以下，參照圖式同時說明本發明之實施型態，但本發明並不以下列實施型態為限。此外，於以下說明測定對象為氣體的濃度測定裝置，但於其他實施型態，測定對象亦可為液體等氣體以外的流體。
圖1顯示在本發明的實施型態所用的濃度測定裝置100的全體構成之圖。濃度測定裝置100，係具備：具有被組入氣體供給管線的測定胞1之流體單元10，與流體單元10隔開配置的電氣單元20。流體單元10與電氣單元20，藉由包含光纖作為芯線的入射用光纖纜線11(第1光纖)、包含光纖作為芯線的射出用光纖纜線12(第2光纖)、及感測器纜線(未圖示)，而光學及電氣地連接著。
流體單元10，隨著測定氣體的種類不同，例如有被加熱至100℃～150℃程度的可能性。但是，流體單元10使用常溫(室溫)或常溫以下的氣體的場合，亦有在不使成為高溫的狀態下使用的場合。此外，與流體單元10隔開的電氣單元20，通常為維持在室溫。於電氣單元20，被連接著供對濃度測定裝置100送出動作控制訊號，或者由濃度測定裝置100接收測定濃度訊號之用的外部控制裝置亦可。
於流體單元10，設置著具有測定氣體的流入口，流出口以及被連接該等的延伸於長邊方向的流道之測定胞1。於測定胞1的一方端部，設置接於流道的透光性窗部2(在此為透光性板)，於測定胞1之另一方端部設置反射構件4。不同於圖示的態樣，於窗部2的附近配置流入口、於反射構件4的附近配置流出口亦可，延伸於長邊方向的流道不延伸於對氣體G全體流動方向直交的方向亦可。此外，於本說明書，光不限於可見光，至少還包含紅外線、紫外線，可包含任意波長之電磁波。此外，透光性，意味著對於射入測定胞的前述的光之內部透過率足夠高，為可以進行濃度測定的程度。
於測定胞1的窗部2附近，安裝著被連接2根光纖電纜11、12之準直儀(collimator)3。準直儀3，具有準直儀透鏡，使來自光源的光作為平行光射入測定胞1、同時接受來自反射構件4的反射光之方式被構成。反射構件4的反射面，係與入射光的行進方向或流道的中心軸成為垂直的方式被設置。測定胞1的流道，也利用作為測定光的光徑。
窗部2，對於紫外光等的濃度測定使用之檢測光具有耐受性以及高透過率，適宜使用機械上化學上安定的藍寶石，使用其他安定的素材，例如石英玻璃亦可。測定胞1的本體(流道形成部)係例如SUS316L製。此外，反射構件4，可以是例如於藍寶石板的背面設置作為反射層的鋁層或介電質多層膜。使用介電質多層膜作為反射層的話，則可以選擇性地反射特定波長範圍的光(例如近紫外線)。介電質多層膜，係藉由折射率不同的複數光學被膜的層積體(高折射率薄膜與低折射率薄膜之層積體)而構成者，藉由適當選擇各層的厚度或折射率，可以使特定波長的光或反射或透過。此外，介電質多層膜能以任意的比例反射光，因而，可以藉使用設置於反射構件4的下部之光檢測器使一部分光(例如10%)透過，並利用透過反射構件4的光作為參照光。
再者，流體單元10，係具備供檢測出流通於測定胞1內的測定氣體的壓力之用的壓力感測器5，以及供測定測定氣體的溫度之用的溫度感測器6。壓力感測器5以及溫度感測器6之輸出，係透過未圖示的感測器纜線而被送至電氣單元20。壓力感測器5以及溫度感測器6之輸出，如後述，可以用於測定氣體濃度。
又，流體單元10之構成，可以採用種種態樣的構成。於前述，說明了使用反射構件以使測定光在胞內往返之反射型流體單元，但並不以此為限，也可以使用如專利文獻2等記載那樣的透過型流體單元。透過型流體單元，係使測定光由配置於測定胞的一方側之入射窗射入，由取代反射構件而配置的射出窗使通過胞內的透過光射出。入射光與透過光，係使用被連接於測定胞兩端之獨立的光纖纜線而被傳送。
此外，於本實施型態的濃度測定裝置100，電氣單元20係具備產生入射至測定胞1內的光之光源22，接受由測定胞1射出的光之光檢測器24，根據光檢測器24輸出的檢測訊號(因應接受的光的強度之檢測訊號)演算測定氣體的濃度之處理部28。光源22、光檢測器24及處理部28，被收容於箱型的筐體26內。
光源22，係使用發出波長互異的紫外光之2個發光元件(在此為LED)23a、23b而被構成。於發光元件23a、23b，係可以藉由使用振盪電路使不同頻率的驅動電流流動、進行頻率解析(例如，快速傅立葉變換或小波變換)，而由光檢測器24檢測出的檢測訊號，測定各波長成分所對應之光的強度。發光元件23a、23b，LED以外，還可以使用LD(雷射二極體)。此外，取代將複數不同波長的合波光用於光源，而利用單一波長的光源亦可，此場合，可以省略合波器或頻率解析電路。又，紫外光(例如波長200nm～400nm)，適宜被使用於例如三甲基鎵等的有機金屬氣體的濃度測定。
發光元件23a、23b，均被配置成對半反射鏡23c以45°的角度照射光。此外，夾著半反射鏡23c並與一方的發光元件23b面對之方式，設置著參照光檢測器25。來自光源22的光的一部分，將入射至參照光檢測器25，被用於檢查光學元件的劣化等。其餘的光，藉由球面鏡23d而被聚光之後，入射至入射光用的光纖電纜11。作為構成光檢測器24及參照光檢測器25之受光元件，使用例如光二極體或光電晶體。
處理部28，例如，藉由被設在電路基板上的處理器或記憶體等而被構成，包含基於輸入訊號實行特定的演算之電腦程式，可以藉由硬體與軟體之組合而實現。又，圖示的態樣中，處理部28被內藏於電氣單元20，但其構成要素的一部分(CPU等)或全部當然也可以設置於電氣單元20外側的裝置。
在本實施型態的電氣單元20，光源22與光檢測器24均被配置接近於電氣單元20的筐體26的內側面。此外，與光源22一體地設置的光接續部(在此為FC連接器用的接續部)，中介著設於筐體26的開口部而被配置於外側，同樣地，與光檢測器24一體地設置的光接續部(FC連接器用的接續部)，也是中介著設於筐體26的開口部而被配置於外側。
又，上述的「一體地」意味光接續部與光源22(或光檢測器24)鄰接並被固定的狀態，並不限於不能裝拆地相互連接，也可以是藉由螺紋固定等可裝拆地相互連接。此外，也可以於光接續部與光源22(或光檢測器24)之界面夾著筐體26等的薄板構件。
接著，設置在由流體單元10的測定胞1延伸的入射用光纖電纜11的端部之光連接器(在此為FC連接器13)，被連接在與光源22一體地設置的光接續部，同樣地，設置在由測定胞1延伸的出射用光纖電纜12的端部之光連接器(FC連接器14)，被連接在與光檢測器24一體地設置的光接續部。以下，說明電氣單元20之詳細內容。
圖2係顯示電氣單元20的內部之平面圖。此外，圖3(a)係由左方所見電氣單元20的內部之側面圖，圖3(b)係由右方所見的側面圖，圖3(c)係由下方所見的側面圖。又，圖2係顯示使圖1所示的電氣單元20逆時針旋轉90°的狀態，於圖式的上側，配置著與圖1所示的由測定胞1延伸的光纖纜線11、12(更具體而言為FC連接器13、14)之光接續部。
由圖2及圖3(a)～(c)可知，於電氣單元20，進行與FC連接器13的連接之光接續部32(第1光接續部)與光源22為一體地設置，光接續部32被配置於筐體26的外側面，光源22則於筐體26的內側面與光接續部32鄰接配置著。本實施型態中，光接續部32與光源22被強固地相互連接著，光接續部32，通過設於筐體26的開口部42(參照圖5)，被配置於筐體26的外側。此外，於光接續部32設置著外周螺紋32S，藉由將FC連接器13的連接螺母螺合轉緊，光纖電纜11被強固地固定於光接續部32。
同樣地，進行與FC連接器14的連接之光接續部34(第2光接續部)與光檢測器24為一體地設置，光接續部34被配置於筐體26的外側面，光檢測器24則於筐體26的內側面與光接續部34鄰接配置著。本實施型態中，光接續部34與光檢測器24被強固地相互連接著，光接續部34，通過設於筐體26的開口部44(參照圖5)，被配置於筐體26的外側。此外，於光接續部34設置著外周螺紋34S，藉由將FC連接器14的連接螺母螺合轉緊，光纖電纜12被強固地固定於光接續部34。
如圖3(a)～(c)所示，光源22及光檢測器24，在本實施型態被配置於台26a上，僅接近筐體26的前面板之方式被配置著。於台26a之下的空間，可收容未圖示的電路基板，且可以於此電路基板設置圖1所示的處理部28。
由以上的說明可知，於電氣單元20，FC連接器13與光源22為直接地連接，且於光接續部32與光源22之間不設光纖。此外，FC連接器14與光檢測器24為直接地連接，且於光接續部34與光檢測器24之間不設光纖。如此，本實施型態係如圖7所示的比較例，並不使用轉接器來進行光纖彼此的端面連接，而是對具有光接續部32及光接續部34之光源22以及光檢測器24的光學元件連接，以使光纖的端面彼此面對。
圖4(a)係顯示光源22之剖面圖。如圖4(a)所示，於光源22，設置發光元件23a、23b、半反射鏡23c、球面鏡23d、構成參照光檢測器的光二極體25a。球面鏡23d，也可以是平凸透鏡等其他的聚光手段(第1聚光手段)。由發光元件23a、23b、光二極體25a的背面延伸的配線，連接到處理部28(參照圖1)。此外，於光接續部32，設置著向半反射鏡23c延伸的貫通孔32H。於貫通孔32H被插入FC連接器13的先端部。在本實施型態，光源22，係包含WDM方式的合波器，藉由在被形成光徑用穴的SUS316製或SUS304製的金屬方塊安裝各元件而被構成。
於此構成，光纖的端面成為面對於球面鏡23d，來自半反射鏡23c的光，將在球面鏡23d被聚光，並入射至FC連接器13的先端部露出之光纖的端面。又，於FC連接器13，光纖的先端，與通常的連接器同樣地，可以被由氧化鋯等所形成的套管覆蓋。
圖4(b)係顯示光檢測器24之剖面圖。如圖4(b)所示，於光檢測器24，設置光二極體27、以及配置於光二極體27前的兩凸透鏡29。兩凸透鏡29，也可以是平凸透鏡等其他的聚光手段(第2聚光手段)。由光二極體27的背面延伸的配線，連接到處理部28(參照圖1)。此外，於光接續部34，設置著向兩凸透鏡29延伸的貫通孔34H。於貫通孔34H被插入FC連接器14的先端部。光檢測器24，也是藉由在被形成光徑用穴的SUS316製或SUS304製的金屬方塊安裝各元件而被構成。
於此構成，光纖的端面成為面對於兩凸透鏡29，透過光纖電纜12而由測定胞1被傳送的光，將由FC連接器14的先端部露出之光纖的端面向兩凸透鏡29被射出。又，於FC連接器13，光纖的先端，與通常的FC連接器同樣地，可以被由氧化鋯等所形成的套管覆蓋。
於前述的構成，光纖的端面，係面對著光源22或光檢測器24具備的光學元件(本實施型態為球面鏡23d及兩凸透鏡29)，但為了提高測定精度，光學系配置以使測定光的光量為最大的方式較佳。為此，確認光檢測器24的輸出，同時針對X軸、Y軸、Z軸等3軸微調整光源22及光檢測器24的姿勢，在光檢測器24的輸出達最大時將姿勢固定即可。
圖5係顯示電氣單元20的筐體26的構成之圖。本實施型態的筐體26，係藉由具備前面及底面的剖面略L字型的第1構件261、與具備兩側面、上面及後面的第2構件262而被構成。將第1構件261與第2構件262組合起來，形成內部設有收容空間的箱型筐體。第1構件261與第2構件262，藉由設在各處的螺紋等而相互被固定。於電氣單元20的製作，於設在第1構件261的底面之台上，固定光源22或光檢測器24等，之後，像蓋子一樣將第2構件262蓋上後固定於第1構件261即可。
於第1構件261的前面，設置供將光源22的光接續部32放在外側用之開口部42，與供將光檢測器24的光接續部34放在外側用之開口部44。藉由這些，可以容易地將光接續部32及光接續部34配置於筐體26之外，可以簡單地連接FC連接器13、14。
在以上說明的本實施型態之濃度測定裝置100，使光纖電纜11及12的端面面對於光源22及光檢測器24的光學元件的方式連接，所以能消除光纖端面彼此的連接並抑制雜散光的發生。此外，光纖電纜11及12，係藉使用FC連接器13及14以可裝拆地螺合轉緊被固定於光源22及光檢測器24，所以可在需要時取下此而分離電氣單元20。因此，也能容易地實施電氣單元20的信賴性試驗。此外，即使再連接時，光纖的端面也不會彼此接觸，並且不會發生刮擦等的損壞，此外，不會發生塵芥等侵入端面間之類的情形，所以能防止因此引起的測定誤差發生。
圖6(a)及(b)，係顯示於光檢測器24的光接續部34、連接光纖電纜12的態樣之圖。又，於光源22的光接續部32連接光纖電纜11的態樣也是相同的。
如圖6(a)所示，光檢測器24的光接續部34被配置於筐體26的外側，被設於光接續部34的貫通孔34H係通到光二極體27之前的兩凸透鏡29。接著，設置FC連接器14的光纖電纜12的先端部被插入光接續部34的貫通孔34H。在FC連接器14的先端有光纖15及覆蓋此的套管16棒狀地延伸著。此外，連接螺母17，係於內側具有螺紋，以光纖電纜12為軸中心可以旋轉。
其次，如圖6(b)所示，光纖15及套管16通過光接續部34的貫通孔，插入直到面對於兩凸透鏡29的位置，進而，藉由將連接螺母17對外周螺紋34S轉緊，光纖電纜12強固地被固定於光檢測器24。
以下，說明濃度測定裝置100之濃度測定方法。於測定胞1，往復於測定胞1內的光的光徑長L，可依照窗部2與反射構件4之距離的2倍來規定。於濃度測定裝置100，入射至測定胞1，之後，藉由反射構件4而被反射的波長λ的光，係取決於氣體的濃度而被吸收。接著，處理部28，係可以藉由將來自光檢測器24的檢測訊號予以頻率解析，測定在該波長λ下的吸光度Aλ，進而，可以根據下列式(1)所示的比爾-朗伯定律，由吸光度Aλ算出莫耳濃度CM
。
於上述式(1)，I0
為射入測定胞的入射光強度、I為通過測定胞內氣體中之光強度、α’為莫耳吸光係數(m2
/mol)、L為測定胞的光徑長(m)、CM
為莫耳濃度(mol/m3
)。莫耳吸光係數α’係取決於物質的係數。I/I0
一般上稱為透過率，透過率I/I0
為100%時吸光度Aλ為0，透過率I/I0
為0%時吸光度Aλ為無限大。又，於上列式之入射光強度I0
，在測定胞1內不存在吸光性的氣體時(例如，充滿著不吸收紫外光的氣體時，或被抽真空時)，藉由光檢測器24被檢測出的光強度可視為入射光強度I0
。
此外，濃度測定裝置100，也考慮流通於測定胞1的氣體之壓力及溫度而求出氣體的濃度之方式被構成亦可。以下，說明具體例。上述的比爾-朗伯的式(1)成立，但上述的莫耳濃度CM
係指每單位體積的氣體物質量，因而可以表示為CM
=n/V。在此，n為氣體物質量(mol)亦即莫耳數，V為體積(m3
)。接著，測定對象為氣體，所以由理想氣體狀態方程式PV=nRT，導出莫耳濃度CM
=n/V= P/RT，將此代入比爾-朗伯的式子，此外，適用-ln(I/I0
)= ln(I0
/I)的話，可導出下列式(2)。
於式(2)，R為氣體常數=0.0623(Torr･m3
/K/mol)，P為壓力(Torr)，T為溫度(K)。此外，式(2)的莫耳吸光係數，相對於透過率的自然對數為α，且對於式(1)的α’，滿足α’=0.434α的關係。
在此，壓力感測器可以檢測的壓力，係包含測定氣體與運載氣體之混合氣體的全壓Pt(Torr)。另一方面，與吸收有關係的氣體僅測定氣體，上列式(2)之壓力P係與測定氣體的分壓Pa相對應。於是，使用測定氣體的分壓Pa藉由氣體全體中的測定氣體濃度Cv(體積%)與全壓Pt以表示的式子之Pa=Pt･Cv來表示式(2)時，考慮了壓力及溫度之測定氣體的濃度(體積%)與吸光度之關係，可以使用測定氣體的吸光係數αa
，藉由下列式(3)來表示。
此外，將式(3)變形的話，可得到下列式(4)。
從而，根據式(4)，可以基於各測定值(氣體溫度T、全壓Pt、以及透過光強度I)，而藉由演算求出測定光波長的測定氣體濃度(體積%)。如果這樣做，就可以也考慮氣體溫度或氣體壓力而求出混合氣體中之吸光氣體的濃度。又，測定氣體的吸光係數αa
，係可以由流通既知濃度(例如100%濃度)的測定氣體時的測定值(T、Pt、I)、依照式(3)或(4)而預先求出。以此作法求出的吸光係數αa
將被收納於記憶體，當要基於式(4)進行未知濃度的測定氣體的濃度演算時，可以由記憶體讀出吸光係數αa
來使用。
以上具體說明了根據本發明的實施型態之濃度測定裝置，但本發明並不以前述實施型態為限，在不逸脫本發明的要旨的範圍可以進行種種變更。例如，作為被用於測定的光，因應不同氣體種類，也可以利用紫外區域以外的波長區域的光(例如可見光或近紅外線)。
此外，於上述，說明了在光源22及光檢測器24之雙方設置一體的光接續部之態樣，但僅在其中一方亦可。再者，於反射式濃度測定裝置，在以一根共用的光纖電纜連接入射光與出射光之場合，也是在被安裝光檢測器的分波模組設置一體的光接續部，且將此配置於電氣單元的外側即可。該場合，也可以省略分波模組及光檢測器與光接續部之間的光纖，可以抑制由於光纖端面的彼此連接造成雜散光的發生。再者，來自測定胞的光纖，將FC連接器以外的其他光連接器、連接至相對應的光接續部亦可。
[產業上利用可能性]
相關於本發明的實施型態之濃度測定裝置，可適切地利用在半導體製造裝置等，測定種種的流體濃度。
1:測定胞
2:窗部
3:準直儀(collimator)
4:反射構件
5:壓力感測器
6:溫度感測器
10:流體單元
11:光纖纜線(入射用)
12:光纖纜線(射出用)
13,14:FC連接器
15:光纖
20:電氣單元
22:光源
24:光檢測器
25:參照光檢測器
26:筐體
28:處理部
32,34:光接續部
100:濃度測定裝置
[圖1]係顯示相關於本發明的實施型態之濃度測定裝置的全體構成之模式圖。
[圖2]係顯示相關於本發明的實施型態之濃度測定裝置具備的電氣單元的內部之平面圖。
[圖3](a)係由圖2的左方所見的側面圖，(b)係由圖2的右方所見的側面圖，(c)係由圖2的下方所見的側面圖。
[圖4](a)係電氣單元具備的附有光接續部的光源之縱剖面圖，(b)係電氣單元具備的附有光接續部的光檢測器之縱剖面圖。
[圖5]係顯示電氣單元具備的筐體之分解立體圖。
[圖6]係顯示於相關於本發明的實施型態之電氣單元所具備的光檢測器，連接來自測定胞的光纖的模樣之圖，(a)為連接前的狀態，(b)為連接後的狀態。
[圖7]係顯示於比較例的電氣單元所具備的光檢測器，連接來自測定胞的光纖的模樣之圖，(a)為連接前的狀態，(b)為連接時的狀態，(c)為連接後的狀態。
1:測定胞
2:窗部
3:準直儀(collimator)
4:反射構件
5:壓力感測器
6:溫度感測器
10:流體單元
11:光纖纜線(入射用)
12:光纖纜線(射出用)
13,14:FC連接器
20:電氣單元
22:光源
23a,23b:發光元件
23c:半反射鏡
23d:球面鏡
24:光檢測器
25:參照光檢測器
26:筐體
28:處理部
100:濃度測定裝置
Claims (6)
- 一種濃度測定裝置，係具備：具有光源及光檢測器之電氣單元，具有測定胞之流體單元，及連接前述電氣單元與前述流體單元之光纖；藉由從前述光源射入前述測定胞而由前述測定胞射出的光以前述光檢測器檢測出且以測定前述測定胞內的流體濃度的方式構成之濃度測定裝置；於前述電氣單元，被連接前述光纖的光接續部，及前述光源或前述光檢測器係一體地設置。
- 如請求項1之濃度測定裝置，其中前述電氣單元，具有收容前述光源及前述光檢測器的筐體，前述光接續部，被配置於前述筐體的外側面，前述光源或前述光檢測器，於前述筐體的內側面與前述光接續部鄰接配置。
- 如請求項1或2之濃度測定裝置，其中包含連接前述光源與前述測定胞之第1光纖，與連接前述光檢測器與前述測定胞之第2光纖；於前述電氣單元，在與前述光源一體地形成之第1光接續部被連接前述第1光纖，在與前述光檢測器一體地形成之第2光接續部被連接前述第2光纖。
- 如請求項3之濃度測定裝置，其中前述第1光纖及前述第2光纖，均為設有FC連接器之光纖，於前述第1光接續部之外周螺紋可裝拆地螺合轉緊固定前述第1光纖的FC連接器，於前述第2光接續部之外周螺紋可裝拆地螺合轉緊固定前述第2光纖之FC連接器。
- 如請求項3之濃度測定裝置，其中前述光源，具有：複數發光二極體、被來自前述複數發光二極體的光照射的半反射鏡、及接受來自前述半反射鏡的光之第1聚光手段；被連接於前述第1光接續部的前述第1光纖的端面，面對於前述第1聚光手段，前述光檢測器，具有光電二極體，及被配置於前述光電二極體之前的第2聚光手段；被連接於前述第2光接續部的前述第2光纖的端面，面對於前述第2聚光手段。
- 如請求項1或2之濃度測定裝置，其中前述流體為氣體，進而具有：測定流通於前述測定胞的氣體的壓力之壓力感測器，測定流通於前述測定胞的氣體的溫度之溫度感測器，以及被連接於前述光檢測器、前述壓力感測器及前述溫度感測器的處理部：前述處理部，以使用被關連於測定氣體的吸光係數αa ，根據下列式求出混合氣體中的測定氣體的體積濃度Cv的方式構成，於下列式，I0 為入射至前述測定胞的入射光的強度，I為通過前述測定胞的光的強度，R為氣體常數，T為前述測定胞內的氣體溫度，L為前述測定胞的光徑長，Pt為前述測定胞內的氣體壓力；Cv=(RT/αa LPt)･ln(I0 /I)。
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2020
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