TW202014913A - 為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置及方法 - Google Patents

為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置及方法 Download PDF

Info

Publication number
TW202014913A
TW202014913A TW107135397A TW107135397A TW202014913A TW 202014913 A TW202014913 A TW 202014913A TW 107135397 A TW107135397 A TW 107135397A TW 107135397 A TW107135397 A TW 107135397A TW 202014913 A TW202014913 A TW 202014913A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
adjustment
control condition
candidate
historical
path
Prior art date
Application number
TW107135397A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI695280B (zh
Inventor
余承叡
吳怡欣
田銀錦
黃睿宇
陳麗蓉
Original Assignee
財團法人資訊工業策進會
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 財團法人資訊工業策進會 filed Critical 財團法人資訊工業策進會
Priority to TW107135397A priority Critical patent/TWI695280B/zh
Priority to CN201811240046.5A priority patent/CN111007807B/zh
Priority to US16/184,991 priority patent/US10671055B2/en
Publication of TW202014913A publication Critical patent/TW202014913A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI695280B publication Critical patent/TWI695280B/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
    • G05B19/41865—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by job scheduling, process planning, material flow
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
    • G05B19/41875—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by quality surveillance of production
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/416—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control of velocity, acceleration or deceleration
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/31—From computer integrated manufacturing till monitoring
    • G05B2219/31274—Convey products, move equipment according to production plan in memory
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/32—Operator till task planning
    • G05B2219/32015—Optimize, process management, optimize production line
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/32—Operator till task planning
    • G05B2219/32187—Correlation between controlling parameters for influence on quality parameters
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/32—Operator till task planning
    • G05B2219/32196—Store audit, history of inspection, control and workpiece data into database
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/32—Operator till task planning
    • G05B2219/32252—Scheduling production, machining, job shop
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
  • General Factory Administration (AREA)

Abstract

一種為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置及方法。該裝置根據多筆歷史控制條件組為該預設控制條件組建立至少一候選調整路徑，各該至少一候選調整路徑包含具一調整順序之至少一調整控制條件組，且各該至少一調整控制條件組為該等歷史控制條件組其中之一。同一候選調整路徑中之該等調整控制條件組所對應之該等歷史產值相關數據皆大於預設產值相關數據，且依該調整順序遞增。同一候選調整路徑中之該等調整集合所包含之調整控制條件依該調整順序遞增。該裝置選取該至少一候選調整路徑其中之一作為該目標調整路徑。

Description

為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置及方法
本發明係關於一種為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置及方法。具體而言，本發明係關於一種為一生產線之一預設控制條件組決定一步進式的目標調整路徑之裝置及方法。
對製造業而言，如何決定生產線之各控制因子(例如：溫度、壓力、溼度等)之實際的控制條件(例如：數值、範圍、選項等)以改善產值相關數據(例如：提高產值、提高良率)為一重要的議題。每當要製造新產品時，製造業者必須針對生產線之各控制因子設定適合的控制條件。在製造產品之過程，製造業者也需要適時地評估是否需要調整各控制因子當前的控制條件。一條生產線通常涉及多個控制因子，而各控制因子所對應之各種控制條件形成繁雜的控制組合，導致製造業者在設定時難以抉擇。
目前，許多製造業是由經驗豐富的從業人員依其經驗設定控制因子之控制條件，但此種作法極度仰賴經驗，未能客觀地且全面地考量各控制因子對生產線之產值相關數據所造成的實際影響，故往往需要多次調整才能改善產值相關數據。有些製造業則是設計一實驗方法(例如：透過田 口方法及反應曲面方法)，經過多次實驗後取得最佳的控制條件組(包含所有控制因子之控制條件)。然而，要將最佳的控制條件組應用於現場生產線，往往存在執行上的困難。舉例而言，現場生產線之各控制因子能被設定的控制條件往往具有範圍上之限制、變動量之限制或能否被調動之限制，因此，若最佳的控制條件組中之某一(或某些)控制因子所對應之控制條件不符合該限制，則無法於現場生產線上實作。
除了前述缺點外，習知技術在決定/調整生產線所要採用之控制條件組時，並未考量調整控制因子所需之成本及所帶來之效益，亦未考量一次調整過多的控制因子對生產線所造成之負荷。有鑑於此，如何在通盤考量前述各因素的情況下有效率地決定或/及校正能實際應用於生產線之控制條件組(亦即，決定/校正個控制因子之控制條件)且決定調整順序，以改善產值相關數據且逐步地達成生產目標，乃業界亟需努力之目標。
為解決前述為一生產線之複數個控制因子決定/調整適合之控制條件組之各種問題，本發明提供了一種為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置及方法。
本發明所提供之為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置包含一儲存器及一處理器，其中該儲存器電性連接至該處理器。該儲存器儲存一預設控制條件組及複數筆歷史控制條件組，其中該預設控制條件組包含一預設產值相關數據及複數個預設控制條件一對一地對應至複數個控制因子。各該歷史控制條件組包含一歷史產值相關數據及複數個歷史控制條件一對一地對應至該等控制因子。該處理器根據該等歷 史控制條件組為該預設控制條件組建立至少一候選調整路徑，其中各該至少一候選調整路徑包含具一調整順序之至少一調整控制條件組，且各該至少一調整控制條件組為該等歷史控制條件組其中之一。
此外，各該至少一候選調整路徑之第一個調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據大於該預設產值相關數據，且同一候選調整路徑中之該等調整控制條件組所對應之該等歷史產值相關數據依該調整順序遞增。各該至少一候選調整路徑之各該至少一調整控制條件組相對於該預設控制條件組具有一調整集合，各該調整集合所包含之該至少一歷史控制條件與所對應之該至少一預設控制條件相異。同一候選調整路徑中前一個調整控制條件組所具有之該調整集合為後一個調整控制條件組所具有之該調整集合之一真子集。該處理器還選取該至少一候選調整路徑其中之一作為該目標調整路徑。
本發明所提供之為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之方法適用於一電子裝置。該電子裝置儲存該預設控制條件組及複數筆歷史控制條件組，其中該預設控制條件組包含一預設產值相關數據及複數個預設控制條件一對一地對應至複數個控制因子，且各該歷史控制條件組包含一歷史產值相關數據及複數個歷史控制條件一對一地對應至該等控制因子。該方法包含下列步驟(a)及步驟(b)。
步驟(a)根據該等歷史控制條件組為該預設控制條件組建立至少一候選調整路徑，其中各該至少一候選調整路徑包含具一調整順序之至少一調整控制條件組，且各該至少一調整控制條件組為該等歷史控制條件組其中之一。各該至少一候選調整路徑之第一個調整控制條件組所對應 之該歷史產值相關數據大於該預設產值相關數據，且同一候選調整路徑中之該等調整控制條件組所對應之該等歷史產值相關數據依該調整順序遞增。此外，各該至少一候選調整路徑之各該至少一調整控制條件組相對於該預設控制條件組具有一調整集合，各該調整集合所包含之該至少一歷史控制條件與所對應之該至少一預設控制條件相異，且同一候選調整路徑中前一個調整控制條件組所具有之該調整集合為後一個調整控制條件組所具有之該調整子集之一真子集。步驟(b)選取該至少一候選調整路徑其中之一作為該目標調整路徑。
本發明係根據複數筆歷史控制條件組為一預設控制條件組建立符合二個條件之至少一候選調整路徑。第一個條件為：各該至少一候選調整路徑之第一個調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據大於該預設值相關數據，且同一候選調整路徑中之該等調整控制條件組所對應之該等歷史產值相關數據依據其調整順序遞增。第二個條件為：各該至少一候選調整路徑所包含之各該至少一調整控制條件組相對於該預設控制條件組具有一調整集合，各該調整集合所包含之該至少一歷史控制條件與所對應之該至少一預設控制條件相異，且同一候選調整路徑中前一個調整控制條件組所具有之該調整集合為後一個調整控制條件組所具有之該調整集合之真子集。在建立出符合前述條件之候選調整路徑後，本發明便可依據不同的策略選取候選調整路徑其中之一作為該目標調整路徑。
透過第一個條件，不論選擇哪一候選調整路徑，依該候選調整路徑所包含之該至少一調整控制條件所形成之該調整順序來逐步地調整控制因子，皆會逐步地提升生產線之產值相關數據。透過第二個條件，不論 選擇哪一候選調整路徑，生產線之控制因子可被逐步地調整，而每一步係多調整一或多個控制因子。透過前述機制，本發明能在考量到成本及效益的情況下，選取出用於調整生產線之預設控制條件組之目標調整路徑。根據該目標調整路徑所包含之該至少一調整控制條件所形成之一調整順序依序地調整該生產線之該等控制因子至對應之調整控制條件，將逐步地改善生產線之產值相關數據，亦能減少因一次調整過多的控制因子造成生產線無法負荷之情況。
以下結合圖式闡述本發明之詳細技術及實施方式，俾使本發明所屬技術領域中具有通常知識者能理解所請求保護之發明之技術特徵。
1‧‧‧決定裝置
11‧‧‧儲存器
13‧‧‧處理器
100‧‧‧預設控制條件組
10a、10b、……、10x‧‧‧歷史控制條件組
20a、20b、……、20c‧‧‧候選調整路徑
102a、102b、102c‧‧‧調整控制條件組
S1、S2、S3‧‧‧調整集合
2‧‧‧決定裝置
25‧‧‧收發介面
12a、12b、……、12x‧‧‧歷史控制條件組
22a、22b、……、22c‧‧‧候選調整路徑
S301~S303‧‧‧步驟
S311~S317‧‧‧步驟
S325~S331‧‧‧步驟
第1A圖係描繪本發明之第一實施方式之架構示意圖；第1B圖係描繪本發明之歷史控制條件組之一具體範例之示意圖；第1C圖係描繪本發明之預設控制條件組之一具體範例之示意圖；第1D圖係描繪本發明之候選調整路徑之一具體範例之示意圖；第2A圖係描繪本發明之第三實施方式之決定裝置2之架構示意圖；第2B圖係描繪本發明之選定調整控制條件組之候選調整路徑之示意圖；第3A圖係描繪本發明之第四實施方式之流程圖；第3B圖係描繪本發明之某些實施方式之流程圖；以及第3C圖係描繪本發明之某些實施方式之流程圖。
以下將透過實施方式來解釋本發明所提供之為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑(亦即，針對一生產線之複數個控制因子被設定之複數個預設控制條件，決定其調整順序及該調整至何控制條件)之裝置及方法。然而，該等實施方式並非用以限制本發明需在如該等實施方式所述之任何環境、應用或方式方能實施。因此，關於以下實施方式之說明僅為闡釋本發明之目的，而非用以限制本發明之範圍。應理解，在以下實施方式及圖式中，與本發明非直接相關之元件已省略而未繪示，且各元件之尺寸以及元件間之尺寸比例僅為例示而已，而非用以限制本發明之範圍。
本發明之第一實施方式為一種為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置(下稱「決定裝置」)1，其架構示意圖係描繪於第1A圖。決定裝置1包含一儲存器11及一處理器13，其中儲存器11與處理器13電性連接。儲存器11可為一硬碟(Hard Disk Drive；HDD)(例如：傳統硬碟、固態硬碟)、一通用串列匯流排(Universal Serial Bus；USB)碟、一光碟(Compact Disk；CD)或本發明所屬技術領域中具有通常知識者所知之任何其他具有相同功能之非暫態儲存媒體或裝置。處理器13可為各種處理單元、中央處理單元(Central Processing Unit；CPU)、微處理器(Microprocessor)、數位訊號處理器(Digital Signal Processor；DSP)或本發明所屬技術領域中具有通常知識者所知之任何其他具有相同功能之計算裝置。
一條生產線之產值相關數據(例如：產值、良率、生產速率，但不以此為限)可作為衡量該生產線優劣之標準，而一條生產線之產值相關數據會受到複數個控制因子(例如：溫度、濕度、壓力、機台數目、各種時 間參數，但不以此為限)被設定之控制條件(例如：數值、範圍、選項等，但不以此為限)之影響。為便於說明，於本案之說明書及申請專利範圍中，一條生產線製造一批產品時之該等控制條件可被稱之為一控制條件組。
於本實施方式中，儲存器11儲存複數筆歷史控制條件組10a、10b、……、10x，其中歷史控制條件組10a、10b、……、10x各自包含一歷史產值相關數據及複數個歷史控制條件一對一地對應至生產線之複數個控制因子。為便於理解，請參第1B圖所示之一具體範例。該具體範例將用於後續的說明，且應理解其非用以限制本發明之範圍。於該具體範例中，歷史控制條件組10a、10b、……、10x各自包含三個歷史控制條件一對一地對應至生產線之三個控制因子(亦即，溫度、濕度及壓力)以及一歷史產值相關數據。舉例而言，歷史控制條件組10a包含三個歷史控制條件(亦即，25℃、80帕及55%)一對一地對應至三個控制因子(亦即，溫度、濕度及壓力)以及一歷史產值相關數據(亦即，良率為0.9774)。需說明者，歷史控制條件組10a、10b、……、10x可為同一生產線先前製造產品時之數據，亦可為收集自外部其他生產線製造同一型產品時之數據。本發明未限制取得歷史控制條件組10a、10b、……、10x之方式，且如何取得歷史控制條件組10a、10b、……、10x亦非本發明之重點，故不贅言。
此外，儲存器11還儲存一預設控制條件組100，其係包含一預設產值相關數據及複數個預設控制條件一對一地對應至生產線之該等控制因子。需說明者，預設控制條件組100可為該生產線目前製造產品時所採用之控制條件組，亦可為該生產線即將要採用之控制條件組。請參第1C圖所示之一示例性之預設控制條件組100，其將用於後續之說明，且應理解其 非用以限制本發明之範圍。預設控制條件組100包含三個預設控制條件(亦即，25℃、100帕及55%)一對一地對應至三個控制因子(亦即，溫度、濕度及壓力)以及一預設產值相關數據(亦即，良率為0.9437)。
需說明者，於本發明中，各控制條件組之各控制條件可為一具體的數值(例如：25℃)、可為一範圍(例如：介於10℃及15℃之間)、亦可為多個選項其中之一(例如：當控制因子為一材質且其選項包含金屬、玻璃及塑膠時，控制條件可為金屬)。另需說明者，本發明未限制控制因子之數量及種類，且未限制各種控制條件之表示方式。
請一併參考第1D圖。於本實施方式中，在一生產線要製造某一型產品前或在製造某一型產品之過程，處理器13會根據歷史控制條件組10a、10b、……、10x為預設控制條件組100建立複數個候選調整路徑20a、20b、……、20c，再選取候選調整路徑20a、20b、……、20c其中之一作為預設控制條件組100之目標調整路徑。在某些實施方式中，處理器13選取出該目標調整路徑後，決定裝置1便根據該目標調整路徑所包含之調整控制條件組之一調整順序依序地調整該生產線之該等控制因子至對應之調整控制條件(例如：由處理器13產生一或多個指示訊號，再透過一收發介面傳送該一或多個指示訊號至對應之機台使之因應地調整)。在某些實施方式中，處理器13選取出該目標調整路徑後，決定裝置1便輸出該目標調整路徑(例如：於一顯示裝置上顯示)以供管理者進行前述調整。以下將以第1D圖所示之具體範例詳述本實施方式之運作，但應理解該具體範例並非用以限制本發明之範圍。
於本實施方式中，處理器13係根據歷史控制條件組10a、 10b、……、10x為預設控制條件組100建立所有可能的候選調整路徑20a、20b、……、20c。候選調整路徑20a、20b、……、20c各自包含具有一調整順序之至少一調整控制條件組，且各該至少一調整控制條件組為歷史控制條件組10a、10b、……、10x其中之一。一候選調整路徑所包含之該至少一調整控制條件組所具有之調整順序(亦可簡單地稱之為該候選調整路徑之調整順序)代表處理器13所建議的控制因子之調整順序。
舉例而言，候選調整路徑20b包含三個調整控制條件組102a、102b、102c，且調整控制條件組102a、102b、102c各自為歷史控制條件組10a、10b、……、10x其中之一。於候選調整路徑20b中，調整順序依序為調整控制條件組102a、調整控制條件組102b、調整控制條件組102c(如第1D圖中之箭號方向所示)，代表處理器13建議可依此調整順序調整預設控制條件組100；換言之，處理器13建議先將預設控制條件組100調整至與調整控制條件組102a一致(亦即，只調整控制因子「溫度」)，再調整至與控制條件組102b一致(亦即，再調整控制因子「濕度」)，再調整至與調整控制條件組102c一致(亦即，再調整控制因子「壓力」)。
需說明者，處理器13所建立的候選調整路徑20a、20b、……、20c必須滿足以下二個條件：第一個條件為：候選調整路徑20a、20b、……、20c各自的第一個調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據大於該預設值相關數據，且同一候選調整路徑中之該等調整控制條件組所對應之該等歷史產值相關數據依據其調整順序遞增。透過第一個條件，不論選擇哪一候選調整路徑作為目標調整路徑，依該候選調整路徑之該調整順序來調整控制因子，皆 會逐步地提升生產線之產值相關數據。
為便於理解，茲以第1D圖所示之候選調整路徑20b為例說明。候選調整路徑20b之第一個調整控制條件組102a所對應之該歷史產值相關數據(亦即，良率值為0.9750)大於該預設值相關數據(亦即，良率值為0.9437)。此外，候選調整路徑20b中之該等調整控制條件組102a、102b、102c所對應之該等歷史產值相關數據(良率值分別為0.9750、0.9880及0.9950)依據調整順序遞增。
第二個條件為：候選調整路徑20a、20b、……、20c各自所包含之各該至少一調整控制條件組相對於預設控制條件組100具有一調整集合，各該調整集合所包含之該至少一歷史控制條件與所對應之該至少一預設控制條件相異，且同一候選調整路徑中前一個調整控制條件組所具有之該調整集合為後一個調整控制條件組所具有之該調整集合之真子集。透過第二個條件，不論選擇哪一候選調整路徑作為目標調整路徑，將逐步地調整控制因子，而每一步係多調整一或多個控制因子。
為便於理解，茲以第1D圖所示之候選調整路徑20b為例說明。候選調整路徑20b所包含之調整控制條件組102a、102b、102c相對於預設控制條件組100分別具有調整集合S1、S2、S3。調整集合S1包含一個歷史控制條件(亦即，30℃)，其與所對應之預設控制條件(亦即，相同控制因子所對應之預設控制條件，為25℃)相異。調整集合S2包含二個歷史控制條件(亦即，30℃、50%)，其與所對應之預設控制條件(亦即，相同控制因子所對應之預設控制條件，為25℃、55%)相異。調整集合S1為調整集合S2之真子集，代表由調整控制條件組102a移動至調整控制條件組102b多調整 了至少一控制因子。調整集合S3包含三個歷史控制條件(亦即，30℃、50%、170帕)，其與所對應之預設控制條件(亦即，相同控制因子所對應之預設控制條件，為25℃、55%、100帕)相異。調整集合S2為調整集合S3之真子集，代表由調整控制條件組102b移動至調整控制條件組102c多調整了至少一控制因子。
於本實施方式中，在處理器13根據歷史控制條件組10a、10b、……、10x為預設控制條件組100建立符合上述二個條件之候選調整路徑20a、20b、……、20c後，處理器13便從中選取任意一個作為目標調整路徑。
於某些實施方式中，處理器13係依據一目標條件來從候選調整路徑20a、20b、……、20c中選取出目標調整路徑，俾選取出來之目標調整路徑之最後一個調整控制條件組所對應之歷史產值數據係符合該目標條件。
舉例而言，目標條件可為最大的歷史產值相關數據(代表要選取出能將預設產值相關數據最大化之目標調整路徑)，在此情況下，處理器13會從候選調整路徑20a、20b、……、20c中選取出最後一個調整控制條件組所對應之歷史產值相關數據為最大值者作為目標調整路徑。以第1D圖所示之具體範例為例，若目標條件為「最大的歷史產值相關數據」，處理器13便會選取候選調整路徑20b作為目標調整路徑。再舉例而言，目標條件可為特定數值或特定範圍的歷史產值相關數據，在此情況下，處理器13會從候選調整路徑20a、20b、……、20c中選取出最後一個調整控制條件組所對應之歷史產值相關數據為該特定數值或落於該特定範圍內者作為目標調整路 徑。
本發明所屬技術領域中具有通常知識者可依據生產線實際要達成之生產目標決定該目標條件。於某些實施方式中，預設/歷史產值相關數據可為生產線製造產品之良率或/及產值，因此目標條件可設定為生產線實際要達成之良率或/及產值。然而，應理解，本發明之預設/歷史產值相關數據不限於此。換言之，預設/歷史產值相關數據可為生產線製造產品時之其他衡量指標(例如：生產速率)，只要該衡量指標數值越大代表生產線越優良即可。
於某些實施方式中，處理器13可先計算候選調整路徑20a、20b、……、20c各自之調整效益，再依據一目標條件來從候選調整路徑20a、20b、……、20c中選取出調整效益符合該目標條件者作為目標調整路徑。
關於調整效益，於某些實施方式中，處理器13可根據預設產值相關數據、候選調整路徑20a、20b、……、20c各自之最後一個調整控制條件組所對應之歷史產值相關數據以及候選調整路徑20a、20b、……、20c各自之調整成本計算出候選調整路徑20a、20b、……、20c各自之調整效益。於某些實施方式中，處理器13可根據預設產值相關數據及候選調整路徑20a、20b、……、20c各自之最後一個調整控制條件組所對應之歷史產值相關數據計算出候選調整路徑20a、20b、……、20c各自之改善程度，並根據候選調整路徑20a、20b、……、20c各自之改善程度及調整成本計算出候選調整路徑20a、20b、……、20c各自之調整效益。於某些實施方式中，處理器13可根據候選調整路徑20a、20b、……、20c各自之最後一個調整控制條件組之調整集合之控制因子個數(亦即，調整集合所包含之歷史控制條件之 個數)計算調整成本。舉例而言，處理器13可依據以下公式(1)計算候選調整路徑20a、20b、……、20c各自之調整效益，但應理解公式(1)並非用以限制本發明之範圍：
Figure 107135397-A0101-12-0013-1
上述公式(1)中，參數B i 代表第i條候選調整路徑之調整效益，參數Y代表預設產值相關數據，參數Y i 代表第i條候選調整路徑之最後一個調整控制條件組所對應之歷史產值相關數據，參數N代表控制因子之個數，且參數N i 代表第i條候選調整路徑之最後一個調整控制條件組之調整集合之控 制因子個數。上述公式中，
Figure 107135397-A0101-12-0013-3
之值可視為第i條候選調整路徑之改善程度， 而
Figure 107135397-A0101-12-0013-2
之值可視為第i條候選調整路徑之調整成本。
關於調整效益，於某些實施方式中，處理器13於計算時係考慮到候選調整路徑20a、20b、……、20c各自所包含之所有調整控制條件組。具體而言，處理器13針對候選調整路徑20a、20b、……、20c個別地執行以下運作：(a)根據該候選調整路徑之各該至少一調整控制條件組計算一子調整效益，以及(b)加總該至少一子調整效益作為調整效益。以第1D圖所示之候選調整路徑20b為例，處理器13計算調整控制條件組102a之子調整效益(代表由預設控制條件組100調整為調整控制條件組102a之子調整效益)，計算調整控制條件組102b之子調整效益(代表由預設控制條件組102a調整為調整控制條件組102b之子調整效益)，計算調整控制條件組102c之子調整效益(代表由預設控制條件組102b調整為調整控制條件組102c之子調整效益)，再加總這些子調整效益作為候選調整路徑20b之調整效益。
於某些實施方式中，前述各子調整效益係與其所對應之該調 整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據及一調整成本其中之一或其組合相關。舉例而言，處理器13在計算各子調整效益時，可根據其所對應之該調整控制條件計算一改善程度，再根據該改善程度及所對應之該調整控制條件之調整成本計算出該子調整效益。以第1D圖所示之候選調整路徑20b中之調整控制條件組102b為例，處理器13計算由調整控制條件組102a調整至調整控制條件組102b之改善程度及調整成本，再據以計算出由調整控制條件組102a調整至調整控制條件組102b之子調整效益。需說明者，於某些實施方式中，一候選調整路徑中之各調整控制條件組之調整成本對應至一成本函數(亦即，依據一成本函數計算)，且該等成本函數不完全相同。換言之，處理器13在計算一候選調整路徑上不同調整控制條件組之調整成本時，可考量不同的成本因素。
由上述說明可知，決定裝置1係利用複數筆歷史控制條件組10a、10b、……、10x為一生產線之一預設控制條件組100決定一目標調整路徑。簡言之，決定裝置1根據歷史控制條件組10a、10b、……、10x為一預設控制條件組100建立複數條符合特殊條件之候選調整路徑20a、20b、……、20c，且候選調整路徑20a、20b、……、20c各自包含具一調整順序之至少一調整控制條件組。在建立出候選調整路徑20a、20b、……、20c後，決定裝置1便可依據不同的策略，選取候選調整路徑20a、20b、……、20c其中之一作為該目標調整路徑。
透過前述技術手段，本發明能在考量到調整控制因子所需之成本及所帶來之效益的情況下選取出用於調整生產線之預設控制條件組100之目標調整路徑，再根據該目標調整路徑之一調整順序依序地調整該生 產線之該等控制因子至對應之控制條件，逐步地改善生產線之產值相關數據，亦能減少因一次調整過多的控制因子造成生產線無法負荷之情況。
關於本發明之第二實施方式，請仍參考第1A~1D圖。第二實施方式與第一實施方式大致雷同，但在本實施方式中，處理器13每建立一條候選調整路徑便會判斷該候選調整路徑是否符合一目標條件。若該候選調整路徑符合該目標條件，處理器13便選取該候選調整路徑作為目標調整路徑。若該候選調整路徑不符合該目標條件，處理器13會再建立另一候選調整路徑，再判斷該另一候選調整路徑是否符合目標條件。處理器13會重複前述運作直到找出符合目標條件之候選調整路徑作為目標調整路徑為止。
舉例而言，若目標條件為「歷史產值相關數據大於0.96」，則處理器13在建立候選調整路徑20a後，便判斷候選調整路徑20a之最後一個控制條件組所對應之該歷史產值相關數據(亦即，0.9650)是否符合該目標條件。由於候選調整路徑20a之最後一個控制條件組所對應之該歷史產值相關數據(亦即，0.9650)大於該目標條件，處理器13便選取候選調整路徑20a作為目標調整路徑。在此情況下，處理器13不會再建立其他的候選調整路徑20b、……、20c。
依據上述說明，本發明所屬技術領域中具有通常知識者應能理解第二實施方式如何實現第一實施方式中所述之其他運作，以具有同樣之功能，並達到同樣之技術效果，故不贅述。
關於本發明之第三實施方式，請參第1B~1D圖及第2A~2B圖。第三實施方式可視為第一實施方式及第二實施方式之延伸。
第2A圖係描繪本實施方式所提供之一種為一生產線之一預 設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置(下稱「決定裝置」)2之架構示意圖。決定裝置2包含前述儲存器11與處理器13，以及一收發介面25。儲存器11與處理器13所執行之運作、所具有之功能及所能達成之效果與前述二實施方式雷同，故不贅言。收發介面25電性連接至處理器13，其中收發介面25可為一訊號收發器或其他能收發數位資料之介面。
於本實施方式中，收發介面25會持續地(例如：定期地)接收其他歷史控制條件組(例如：複數筆歷史控制條件組12a、12b、……、12x)，處理器13會指示將該等其他的歷史控制條件組加入儲存器11。
如前所述，本實施方式為第一實施方式及第二實施方式之延伸。茲假設處理器13已從候選調整路徑20a、20b、……、20c中選取候選調整路徑20b作為目標調整路徑。此外，茲假設處理器13已依據目標調整路徑(例如：目標調整路徑20b)之一選定調整控制條件組(例如：調整控制條件組102a)調整該生產線之控制因子，但尚未依據目標調整路徑之其他調整控制條件組(例如：調整控制條件組102b、102c)調整該生產線之其他控制因子。
於本實施方式中，處理器13在根據該選定調整控制條件組(例如：調整控制條件組102a)調整該生產線之控制因子後，判斷儲存器11之內容已被更新。因此，處理器13根據歷史控制條件組10a、10b、……、10x及歷史控制條件組12a、12b、……、12x為該選定調整控制條件組建立至少一候選調整路徑22a、22b、……、22c，且選取候選調整路徑22a、22b、……、22c其中之一作為該選定調整控制條件組之目標調整路徑。
需說明者，處理器13為該選定調整控制條件組所建立之候選 調整路徑22a、22b、……、22c亦需符合第一實施方式中所述的二個條件。此外，處理器13可採用第一實施方式中所述之各種機制/策略，從候選調整路徑22a、22b、……、22c中選取該選定調整控制條件組之目標調整路徑。另需說明者，本發明未限制更新生產線之目標調整路徑之次數。本發明所屬技術領域中具有通常知識者可直接瞭解如何基於上述運作以執行一或複數次生產線之目標調整路徑之更新，故不贅述。
本發明之第四實施方式為一種為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之方法(下稱「決定方法」)，其流程圖係描繪於第3A圖。該決定方法適用於一電子裝置，例如：第一及第二實施方式所述之決定裝置1、第三實施方式之決定裝置2。
於本實施方式中，該電子裝置儲存複數筆第一歷史控制條件組(例如：第1A圖所示之歷史控制條件組10a、10b、……、10x)，且各該第一歷史控制條件組包含一歷史產值相關數據及複數個歷史控制條件一對一地對應至該等控制因子。此外，該電子裝置還儲存一預設控制條件組(例如：第1A圖所示之預設控制條件組100)，且該預設控制條件組包含一預設產值相關數據及複數個預設控制條件一對一地對應至複數個控制因子。預設控制條件組可為該生產線目前製造產品時所採用之控制條件組，亦可為該生產線即將要採用之控制條件組。預設/歷史產值相關數據可為生產線製造產品之良率或/及產值，但不限於此。
首先，於步驟S301，由該電子裝置根據該等第一歷史控制條件組為該預設控制條件組建立複數條第一候選調整路徑(例如：第1D圖所示之一候選調整路徑20a、20b、……、20c)，其中各該第一候選調整路徑包 含具一調整順序之至少一調整控制條件組(例如：第1D圖所示之三個調整控制條件組102a、102b、102c)，且各該第一調整控制條件組為該等第一歷史控制條件組其中之一。需說明者，步驟S301為該預設控制條件組所建立之各該第一候選調整路徑必須滿足第一實施方式中所述的二個條件。之後，於步驟S303，由該電子裝置選取該等第一候選調整路徑其中之一作為該預設控制條件組之目標調整路徑。
於某些實施方式中，步驟S303係根據一目標條件來從該等第一候選調整路徑中選取出目標調整路徑，俾選取出來之目標調整路徑之最後一個調整控制條件組所對應之歷史產值數據係符合該目標條件。舉例而言，目標條件可為最大的歷史產值相關數據(代表要選取出能將預設產值相關數據最大化之目標調整路徑)，在此情況下，步驟S303會從該等第一候選調整路徑選取出最後一個調整控制條件組所對應之歷史產值相關數據為最大值者作為目標調整路徑。再舉例而言，目標條件可為特定數值或特定範圍的歷史產值相關數據，在此情況下，步驟S303會從該等第一候選調整路徑中選取出最後一個調整控制條件組所對應之歷史產值相關數據為該特定數值或落於該特定範圍內者作為目標調整路徑。
於某些實施方式中，決定方法在執行完步驟S301後，會另外計算各該第一候選調整路徑之一調整效益。舉例而言，決定方法可根據該預設產值相關數據、各該第一候選調整路徑之最後一個調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據以及一調整成本計算出各該調整效益。進一步言，各該調整成本可與其所對應之該第一候選調整路徑之最後一個調整控制條件組之該調整集合之一控制因子個數相關。之後，決定方法再執行步驟S303 以依據一目標條件來從該等第一候選調整路徑中選取出調整效益符合該目標條件者作為目標調整路徑。
於某些實施方式中，決定方法可執行如第3B圖所示之流程。於該等實施方式中，決定方法在執行步驟S301後，會考慮到第一候選調整路徑各自所包含之所有調整控制條件組以計算各該第一候選調整路徑之調整效益。具體而言，於步驟S311，由該電子裝置選取一尚未被計算調整效益之第一候選調整路徑。於步驟S313，由該電子裝置根據步驟S311所選取之該第一候選調整路徑之各該至少一調整控制條件組計算一子調整效益。接著，於步驟S315，由該電子裝置加總該等子調整效益作為步驟S311所選取之該第一候選調整路徑之調整效益。於步驟S317，由該電子裝置判斷是否尚有未被計算調整效益之第一候選調整路徑。若步驟S317之判斷結果為是，則該決定方法再次執行步驟S311~S317。若步驟S317之判斷結果為否，則執行步驟S303，由該電子裝置從該等第一候選調整路徑中選取符合調整效益符合該目標條件者作為預設控制條件組之目標調整路徑。
需說明者，於某些實施方式中，各該子調整效益係與其所對應之該調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據及一調整成本其中之一或其組合相關。此外，於某些實施方式中，各該調整成本對應至一成本函數，且該等成本函數不完全相同。
於某些實施方式中，決定方法每建立一條第一候選調整路徑便會判斷該第一候選調整路徑是否符合一目標條件。若該第一候選調整路徑符合該目標條件，決定方法便選取該第一候選調整路徑作為目標調整路徑。若該第一候選調整路徑不符合該目標條件，決定方法才會建立另一第一 候選調整路徑，再判斷該另一第一候選調整路徑是否符合目標條件。決定方法會重複前述運作直到找出符合目標條件之候選調整路徑作為目標調整路徑為止。
於某些實施方式中，決定方法可執行如第3C圖所示之流程。於該等實施方式中，在執行步驟S301及步驟S303後，決定方法執行步驟S325，由該電子裝置依據該目標調整路徑之該至少一調整控制條件組中之一選定調整控制條件組調整該生產線之控制因子。於步驟S327，將複數筆第二歷史控制條件組(例如：第2A圖所示之複數筆歷史控制條件組12a、12b、……、12x)加入該電子裝置，其中各該第二歷史控制條件組包含一歷史產值相關數據及複數個歷史控制條件一對一地對應至該等控制因子。接著，執行步驟S329，由該電子裝置根據該等第一歷史控制條件組及該等第二歷史控制條件組為該選定控制條件組建立至少一第二候選調整路徑(例如：第2B圖所示之一候選調整路徑22a、22b、……、22c)。需說明者，步驟S329為該選定調整控制條件組所建立之各第二候選調整路徑亦需符合第一實施方式中所述的二個條件。之後，執行步驟S331，由該電子裝置選取第二候選調整路徑其中之一作為該選定調整控制條件組之目標調整路徑。另需說明者，於執行步驟327後，該電子裝置判斷該等歷史控制條件已被更新。因此，該電子裝置根據該等第一歷史控制條件組及該等第二歷史控制條件組建立一候選調整路徑，且選取其中之一作為該選定調整控制條件組之目標調整路徑。簡言之，本發明可採用上述之步驟更新生產線之目標調整路徑，且未限制更新該目標調整路徑之次數。
除了上述步驟，第四實施方式能執行第一、第二及第三實施 方式所描述之決定裝置1及決定裝置2之所有運作及步驟，具有同樣之功能，且達到同樣之技術效果。本發明所屬技術領域中具有通常知識者可直接瞭解第四實施方式何基於上述第一、第二及第三實施方式以執行此等運作及步驟，具有同樣之功能，並達到同樣之技術效果，故不贅述。
需說明者，於本發明專利說明書及申請專利範圍中，第一歷史控制條件組及第二歷史控制條件組中之「第一」及「第二」僅用來表示該等歷史控制條件組係於不同階段所取得。此外，第一候選調整路徑及第二候選調整路徑中之「第一」及「第二」僅用來表示該等歷史控制條件組係於不同階段所建立。
綜上所述，本發明根據歷史控制條件組為一生產線之一預設控制條件組建立複數條符合特殊條件之候選調整路徑，再依據不同的策略選取候選調整路徑其中之一作為該目標調整路徑。透過該二個特殊條件，不論選擇哪一候選調整路徑，依該候選調整路徑所包含之該至少一調整控制條件所形成之該調整順序來逐步地調整控制因子，皆會逐步地提升生產線之產值相關數據。此外，不論選擇哪一候選調整路徑，生產線之控制因子可被逐步地調整，而每一步係多調整一或多個控制因子。
透過前述機制，本發明所提供之技術能在考量到成本及效益的情況下，選取出用於調整生產線之預設控制條件組之目標調整路徑，再根據該目標調整路徑之一調整順序依序地調整該生產線之該等控制因子至對應之控制條件。因此，本發明能逐步地改善生產線之產值相關數據，且能解決因一次調整過多的控制因子造成生產線無法負荷之情況。
上述實施方式僅用來例舉本發明之部分實施態樣，以及闡釋 本發明之技術特徵，而非用來限制本發明之保護範疇及範圍。任何本發明所屬技術領域中具有通常知識者可輕易完成之改變或均等性之安排均屬於本發明所主張之範圍，而本發明之權利保護範圍以申請專利範圍為準。
S301、S303、S311~S317‧‧‧步驟

Claims (20)

  1. 一種為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置，包含：一儲存器，儲存該預設控制條件組及複數筆第一歷史控制條件組，其中該預設控制條件組包含一預設產值相關數據及複數個預設控制條件一對一地對應至複數個控制因子，各該第一歷史控制條件組包含一歷史產值相關數據及複數個歷史控制條件一對一地對應至該等控制因子；以及一處理器，電性連接至該儲存器，根據該等第一歷史控制條件組為該預設控制條件組建立至少一第一候選調整路徑，其中各該至少一第一候選調整路徑包含具一調整順序之至少一調整控制條件組，且各該至少一調整控制條件組為該等第一歷史控制條件組其中之一，其中，各該至少一第一候選調整路徑之第一個調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據大於該預設產值相關數據，且同一第一候選調整路徑中之該等調整控制條件組所對應之該等歷史產值相關數據依該調整順序遞增，其中，各該至少一第一候選調整路徑之各該至少一調整控制條件組相對於該預設控制條件組具有一調整集合，各該調整集合所包含之該至少一歷史控制條件與所對應之該至少一預設控制條件相異，且同一第一候選調整路徑中前一個調整控制條件組所具有之該調整集合為後一個調整控制條件組所具有之該調整集合之一真子集，其中，該處理器還選取該至少一第一候選調整路徑其中之一作為該目標調整路徑。
  2. 如請求項1所述之裝置，其中該目標調整路徑之最後一個調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據符合一目標條件。
  3. 如請求項1所述之裝置，其中各該歷史產值相關數據為一良率及一產值其中之一或其組合。
  4. 如請求項1所述之裝置，其中該處理器還計算各該至少一第一候選調整路徑之一調整效益，且該目標調整路徑之該調整效益符合一目標條件。
  5. 如請求項4所述之裝置，其中該處理器係根據該預設產值相關數據、各該至少一第一候選調整路徑之最後一個調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據以及一調整成本計算出各該至少一調整效益。
  6. 如請求項5所述之裝置，其中各該至少一調整成本係與其所對應之該第一候選調整路徑之最後一個調整控制條件組之該調整集合之一控制因子個數相關。
  7. 如請求項1所述之裝置，其中該處理器還針對各該至少一第一候選調整路徑執行以下運作：針對該第一候選調整路徑之各該至少一調整控制條件組計算一子調整效益，以及加總該至少一子調整效益作為一調整效益，其中，該目標調整路徑之該調整效益符合一目標條件。
  8. 如請求項7所述之裝置，其中各該子調整效益係與其所對應之該調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據及一調整成本其中之一或其組合相關。
  9. 如請求項8所述之裝置，其中各該調整成本對應至一成本函數，且該等成 本函數不完全相同。
  10. 如請求項1所述之裝置，其中該處理器還依據該目標調整路徑之該至少一調整控制條件組中之一選定調整控制條件組調整該生產線，將複數筆第二歷史控制條件組加入該儲存器，根據該等第一歷史控制條件組及該等第二歷史控制條件組為該選定調整控制條件組建立至少一第二候選調整路徑，且選取該至少一第二候選調整路徑其中之一作為該選定調整控制條件組之一目標調整路徑。
  11. 一種為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之方法，適用於一電子裝置，該電子裝置儲存該預設控制條件組及複數筆第一歷史控制條件組，該預設控制條件組包含一預設產值相關數據及複數個預設控制條件一對一地對應至複數個控制因子，各該第一歷史控制條件組包含一歷史產值相關數據及複數個歷史控制條件一對一地對應至該等控制因子，該方法包含下列步驟：(a)根據該等第一歷史控制條件組為該預設控制條件組建立至少一第一候選調整路徑，其中，各該至少一第一候選調整路徑包含具一調整順序之至少一調整控制條件組，且各該至少一調整控制條件組為該等第一歷史控制條件組其中之一，各該至少一第一候選調整路徑之第一個調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據大於該預設產值相關數據，且同一第一候選調整路徑中之該等調整控制條件組所對應之該等歷史產值相關數據依該調整順序遞增， 各該至少一第一候選調整路徑之各該至少一調整控制條件組相對於該預設控制條件組具有一調整集合，各該調整集合所包含之該至少一歷史控制條件與所對應之該至少一預設控制條件相異，且同一第一候選調整路徑中前一個調整控制條件組所具有之該調整集合為後一個調整控制條件組所具有之該調整集合之一真子集；以及(b)選取該至少一第一候選調整路徑其中之一作為該目標調整路徑。
  12. 如請求項11所述之方法，其中該步驟(b)所選取之該目標調整路徑之最後一個調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據符合一目標條件。
  13. 如請求項11所述之方法，其中各該歷史產值相關數據為一良率及一產值其中之一或其組合。
  14. 如請求項11所述之方法，還包含下列步驟：(c)計算各該至少一第一候選調整路徑之一調整效益，其中，該目標調整路徑之該調整效益符合一目標條件。
  15. 如請求項14所述之方法，其中該步驟(c)係根據該預設產值相關數據、各該至少一第一候選調整路徑之最後一個調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據以及一調整成本計算出各該至少一調整效益。
  16. 如請求項15所述之方法，其中各該至少一調整成本係與其所對應之該第一候選調整路徑之最後一個調整控制條件組之該調整集合之一控制因子個數相關。
  17. 如請求項11所述之方法，還包括下列步驟：針對各該至少一第一候選調整路徑執行：針對該第一候選調整路徑之各該至少一調整控制條件組計算一 子調整效益；以及加總該至少一子調整效益作為一調整效益，其中，該目標調整路徑之該調整效益符合一目標條件。
  18. 如請求項17所述之方法，其中各該子調整效益係與其所對應之該調整控制條件組所對應之該歷史產值相關數據及一調整成本其中之一或其組合相關。
  19. 如請求項18所述之方法，其中各該調整成本對應至一成本函數，且該等成本函數不完全相同。
  20. 如請求項11所述之方法，還包含下列步驟：依據該目標調整路徑之該至少一調整控制條件組中之一選定調整控制條件組調整該生產線；將複數筆第二歷史控制條件組加入該電子裝置；根據該等第一歷史控制條件組及該等第二歷史控制條件組為該選定調整控制條件組建立至少一第二候選調整路徑；以及選取該至少一第二候選調整路徑至少其中之一作為該選定調整控制條件組之一目標調整路徑。
TW107135397A 2018-10-08 2018-10-08 為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置及方法 TWI695280B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW107135397A TWI695280B (zh) 2018-10-08 2018-10-08 為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置及方法
CN201811240046.5A CN111007807B (zh) 2018-10-08 2018-10-23 一种为一生产线的一预设控制条件组决定一目标调整路径的装置及方法
US16/184,991 US10671055B2 (en) 2018-10-08 2018-11-08 Apparatus and method for determining a target adjustment route for a preset control condition set of a production line

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW107135397A TWI695280B (zh) 2018-10-08 2018-10-08 為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW202014913A true TW202014913A (zh) 2020-04-16
TWI695280B TWI695280B (zh) 2020-06-01

Family

ID=70051961

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107135397A TWI695280B (zh) 2018-10-08 2018-10-08 為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置及方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10671055B2 (zh)
CN (1) CN111007807B (zh)
TW (1) TWI695280B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7438723B2 (ja) * 2019-11-15 2024-02-27 株式会社日立製作所 製造プロセスの適正化システムおよびその方法
EP4047431A1 (de) * 2021-02-19 2022-08-24 FactoryPal GmbH Verfahren und vorrichtung zum automatisierten bestimmen einer optimierten prozesskonfiguration eines prozesses zur herstellung oder bearbeitung von produkten

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6470229B1 (en) * 1999-12-08 2002-10-22 Yield Dynamics, Inc. Semiconductor yield management system and method
TW200502807A (en) * 2003-07-02 2005-01-16 Inventec Corp Overall control system and its method of computer production line
JP4407338B2 (ja) * 2004-03-25 2010-02-03 株式会社デンソー 電子制御装置
JP4868727B2 (ja) * 2004-09-27 2012-02-01 株式会社東芝 自動検査レシピ作成装置及び作成方法
CN100468237C (zh) * 2005-11-04 2009-03-11 同济大学 半导体封装生产线工序智能优化方法
CN100530225C (zh) * 2007-11-21 2009-08-19 西安交通大学 一种智能工业巡采仪、巡采系统以及智能巡采方法
CN102129242A (zh) * 2011-04-12 2011-07-20 上海大学 基于两层混合智能优化的批处理生产过程产品质量控制方法
EP2872955A4 (en) * 2012-07-10 2016-08-10 Matitiahu Tiano MODULAR SYSTEM FOR REAL-TIME EVALUATION AND MONITORING OF THE TOTAL PERFORMANCE OF A MACHINING PRODUCTION LINE CALCULATED FROM ALL INDIVIDUAL WORKPIECES, TOOLS AND MACHINES
CN103870883A (zh) * 2012-12-11 2014-06-18 富泰华工业（深圳）有限公司 产线排配控制系统及方法
JP6961886B2 (ja) * 2015-03-31 2021-11-05 エスゼット ディージェイアイ テクノロジー カンパニー リミテッドSz Dji Technology Co., Ltd 飛行制御ユニット
WO2016154940A1 (en) * 2015-03-31 2016-10-06 SZ DJI Technology Co., Ltd. Systems and methods for geo-fencing device identification and authentication
CN104977901B (zh) * 2015-07-10 2017-11-07 沈阳工业大学 三轴运动平台改进型交叉耦合控制装置及方法
US9934688B2 (en) * 2015-07-31 2018-04-03 Ford Global Technologies, Llc Vehicle trajectory determination
JP6650786B2 (ja) * 2016-03-03 2020-02-19 三菱日立パワーシステムズ株式会社 制御パラメータ自動調整装置、制御パラメータ自動調整方法、及び制御パラメータ自動調整装置ネットワーク
TWI611314B (zh) * 2016-11-17 2018-01-11 財團法人資訊工業策進會 為一紡織染色製程決定一目標控制數據組之裝置、方法及其電腦程式產品
CN108229820A (zh) * 2017-12-30 2018-06-29 苏州宏软信息技术有限公司 机加工车间零部件制造管理方法

Also Published As

Publication number Publication date
US10671055B2 (en) 2020-06-02
CN111007807A (zh) 2020-04-14
US20200110385A1 (en) 2020-04-09
TWI695280B (zh) 2020-06-01
CN111007807B (zh) 2021-02-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6583070B2 (ja) 設定支援装置、設定支援方法、情報処理プログラム、および記録媒体
TWI695280B (zh) 為一生產線之一預設控制條件組決定一目標調整路徑之裝置及方法
TW201418917A (zh) 目標導向數值控制自動調校系統與方法
JP2020032679A5 (zh)
JP6236890B2 (ja) 表示装置の設定装置、表示装置の設定方法およびプログラム
US20190163154A1 (en) Device recommendation system and method
JP2022119321A (ja) 情報処理装置、プログラム及びプロセス条件探索方法
JP2019134755A5 (zh)
TW201506570A (zh) 用於控制使用反饋的流量速率控制器的方法和系統
TWI726401B (zh) 資料處理方法、裝置與系統、以及電腦可讀取記錄媒體
US20200064785A1 (en) Processing device, control parameter determination method, and control parameter determination program
JP2010264499A (ja) 制御モデルのパラメータ最適化方法
JP2018201795A (ja) 医用画像表示装置、タッチ操作制御プログラム及びタッチ操作制御方法
JP2014013607A (ja) フィードフォワード量調整支援装置およびフィードフォワード量調整支援プログラム
JP2019134752A5 (zh)
JP5966984B2 (ja) 設定方法および設定装置
TWI659317B (zh) 為一生產線決定一控制條件組之裝置及其方法
WO2015163322A1 (ja) データ分析装置、データ分析方法およびプログラム
JP6338948B2 (ja) 電動機制御装置及びそれに用いる制御パラメータ自動調整方法
JPWO2018047255A1 (ja) 情報処理装置、情報処理方法及び情報処理プログラム
JP5977207B2 (ja) 状態推定装置、該方法及び該プログラム
CN113591276A (zh) 一种获取退火炉的带钢辐射系数的方法及系统
JP2008256615A (ja) 結晶粒解析装置、結晶粒解析方法、及びコンピュータプログラム
US20240177064A1 (en) Information processing apparatus, storage medium, and optimal solution search method
TWI754094B (zh) 根據製程變化之計量量測參數的快速調整