TW201912261A

TW201912261A - 具清潔單元之輸送裝置及其應用之測試分類設備

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Publication number: TW201912261A
Application number: TW106129799A
Authority: TW
Inventors: 巫吉生
Original assignee: 鴻勁精密股份有限公司
Priority date: 2017-08-31
Filing date: 2017-08-31
Publication date: 2019-04-01
Also published as: TWI648106B

Abstract

一種具清潔單元之輸送裝置，其係設置至少一下壓電子元件之壓接具，以及設置一由驅動器驅動位移且移載電子元件之移載具，該清潔單元係設有至少一清潔該壓接具之清潔具，並由一驅動該移載具位移之驅動器驅動該清潔具作往復位移，於清潔該壓接具時，可使清潔具與壓接具作相對位移，令清潔具位於壓接具之下方，驅動器即驅動清潔具作往復水平位移，使清潔具清潔壓接具底面之髒污；藉此，不僅利用驅動器驅動移載具執行移載作業外，並可利用同一驅動器驅動清潔具自動化執行清潔作業，以縮減驅動用元件及其配置空間，達到節省成本及利於空間配置之實用效益。

Description

具清潔單元之輸送裝置及其應用之測試分類設備

本發明係提供一種利用驅動器驅動移載具執行移載作業外，並可利用同一驅動器驅動清潔具自動化執行清潔作業，以縮減驅動用元件及其配置空間，進而節省成本及利於空間配置的具清潔單元之輸送裝置。

在現今，電子元件之製作係歷經封膠、剪切、印字等多道製程，為確保電子元件之出廠品質，業者係以測試設備對電子元件進行檢測作業；請參閱第1、2圖，係為測試設備之測試裝置11及輸送裝置12之示意圖，該測試裝置11係於機台13上設有電性連接之電路板111及測試座112，並以測試座112承置及測試電子元件14，該輸送裝置12係於測試裝置11之一側配置二由第一動力源121驅動同步作X方向位移之入料載台122及出料載台123，以分別載送待測電子元件及已測電子元件，另於測試裝置11之上方配置有一由第二動力源124驅動作Y-Z方向位移之壓接具125，該壓接具125係用以將入料載台122上之待測電子元件14移載至測試裝置11之測試座112，且下壓待測電子元件14與測試座112之探針確實接觸而執行測試作業，於完成測試作業後，壓接具125將已測之電子元件14由測試座112移載至出料載台123，由出料載台123載送出料。

請參閱第1、3圖，由於電子元件14歷經剪切、印字等多道製程，其頂面會沾有粉塵或具黏性之雜質等，當壓接具125執行多次壓接電子元件14之作業後，因壓接具125 之底面會接觸電子元件14之具粉塵的頂面，即導致壓接具125之底面亦沾附有粉塵或具黏性之雜質等，使得壓接具125原本應將已測之電子元件14移載置放於出料載台123，卻易因壓接具125底面之具黏性的雜質而黏附已測之電子元件14，以致已測之電子元件14無法脫離壓接具125，當入料載台122載送下一待測之電子元件14A至壓接具125之下方時，壓接具125即會因底面已黏附上一已測之電子元件14，不僅無法取出下一待測之電子元件14A，更會使下一待測之電子元件14A承受過當之下壓力而損壞；故業者於壓接具125使用一段時間後，即以人工方式清潔壓接具125底面之粉塵或具黏性之雜質等，而避免壓接具125黏附已測之電子元件14，惟人工清潔方式相當耗時費力，但若於機台13上獨立配置一刷具專用之動力源(圖未示出)驅動刷具(圖未示出)清潔壓接具125，該刷具專用動力源不僅佔用機台13空間而不利空間配置，亦增加設備成本，尤其當機台13上配置複數個測試裝置11及複數個壓接具125時，業者必需於複數個測試裝置11處之壓接具125相對配置複數個刷具專用動力源，更會大幅增加設備成本；因此，如何設計一種不佔機台空間及節省成本，並可自動化清潔壓接具之設計，即為業者研發之標的。

本發明之目的一，係提供一種具清潔單元之輸送裝置，其係設置一下壓電子元件之壓接具，以及設置一由驅動器驅動位移且移載電子元件之移載具，該清潔單元係設有至少一清潔該壓接具之清潔具，並由一驅動移載具位移之該驅動器驅動清潔具作往復位移，於清潔壓接具時，可使清潔具與壓接具作相對位移，令清潔具位於壓接具之下方，驅動器即驅動清潔具作往復水平位移，使清潔具清潔壓接具底面之髒污；藉此，不僅利用驅動器驅動移載具執行移載作業外，並可利用同一驅動器驅動清潔具自動化執行清潔作業，以縮減驅動用元件，達到提升清潔便利性及節省成本之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種具清潔單元之輸送裝置，其中，該清潔單元係利用可驅動移載具位移之同一驅動器驅動清潔具，使清潔具與移載具同步位移，毋須於機台上獨立配置另一驅動器，達到利於機台空間配置之實用效益

本發明之目的三，係提供一種應用具清潔單元之輸送裝置的測試分類設備，其包含機台、供料裝置、收料裝置、測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置，該供料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器，該收料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器，該測試裝置係配置於機台上，並設有至少一對電子元件執行測試作業之測試器，該輸送裝置係配置於機台上，並設置至少一下壓電子元件之壓接具，以及設置至少一由驅動器驅動移載電子元件之移載具，另設置至少一具有清潔具之清潔單元，並以驅動該移載具之同一該驅動器驅動該清潔單元之清潔具位移，使清潔具自動化清潔該壓接具，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

〔習知〕

11‧‧‧測試裝置

111‧‧‧電路板

112‧‧‧測試座

12‧‧‧輸送裝置

121‧‧‧第一動力源

122‧‧‧入料載台

123‧‧‧出料載台

124‧‧‧第二動力源

125‧‧‧壓接具

13‧‧‧機台

14、14A‧‧‧電子元件

〔本發明〕

20‧‧‧測試裝置

21‧‧‧電路板

22‧‧‧測試座

30‧‧‧輸送裝置

31、31A‧‧‧第一驅動器

32、32A‧‧‧入料載台

33、33A‧‧‧出料載台

34、34A‧‧‧壓接具

35‧‧‧第二驅動器

36、36A‧‧‧清潔具

37、37A‧‧‧承架

381‧‧‧第三驅動器

382‧‧‧第一拾取具

383‧‧‧第四驅動器

384‧‧‧第二拾取具

40‧‧‧機台

51、52、53‧‧‧電子元件

60‧‧‧供料裝置

61‧‧‧供料承置器

70‧‧‧收料裝置

71‧‧‧收料承置器

80‧‧‧測試裝置

81‧‧‧電路板

82‧‧‧測試座

90‧‧‧輸送裝置

91‧‧‧第一驅動器

911‧‧‧承架

921‧‧‧第三拾取具

922‧‧‧第四拾取具

93‧‧‧壓接具

94‧‧‧第二驅動器

95‧‧‧第五驅動器

96‧‧‧轉運載台

97‧‧‧清潔具

981‧‧‧第六驅動器

982‧‧‧第五拾取具

983‧‧‧第六拾取具

100‧‧‧機台

110‧‧‧供料裝置

1101‧‧‧供料承置器

120‧‧‧收料裝置

1201‧‧‧收料承置器

第1圖：習知電子元件測試裝置及輸送裝置的配置示意圖。

第2圖：習知壓接具移載及下壓電子元件之使用示意圖。

第3圖：習知壓接具黏附電子元件之示意圖。

第4圖：本發明輸送裝置第一實施例及測試裝置之配置圖。

第5圖：本發明輸送裝置第一實施例之局部示意圖。

第6圖：本發明輸送裝置第一實施例之使用示意圖(一)。

第7圖：本發明輸送裝置第一實施例之使用示意圖(二)。

第8圖：本發明輸送裝置第一實施例之使用示意圖(三)。

第9圖：係第一實施例清潔單元清潔壓接具之使用示意圖(一)。

第10圖：係第一實施例清潔單元清潔壓接具之使用示意圖(二)。

第11圖：係輸送裝置第一實施例應用於測試分類設備之配置圖。

第12圖：係本發明輸送裝置第二實施例及測試裝置之配置圖。

第13圖：本發明輸送裝置第二實施例之局部示意圖。

第14圖：本發明輸送裝置第二實施例之使用示意圖(一)。

第15圖：本發明輸送裝置第二實施例之使用示意圖(二)。

第16圖：本發明輸送裝置第二實施例之使用示意圖(三)。

第17圖：係第二實施例清潔單元清潔壓接具之使用示意圖(一)。

第18圖：係第二實施例清潔單元清潔壓接具之使用示意圖(二)。

第19圖：係輸送裝置第二實施例應用於測試分類設備之配置圖。

為使貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第4、5圖，係為測試裝置20及本發明具清潔單元之輸送裝置30第一實施例的配置圖，該測試裝置20係裝配於機台40，並設有電性連接之電路板21及測試座22，該測試座22係承置及測試電子元件；該輸送裝置30係配置於機台40，並設置至少一由驅動器驅動位移之移載具，該移載具可為載送電子元件用之載台，或為取放電子元件用之拾取具等，於本實施例中，該驅動器係為第一驅動器31，並配置於測試裝置20之一側，以驅動二為入料載台32及出料載台33之移載具作X方向往復位移，該入料載台32及出料載台33分別載送待測電子元件及已測電子元件，該輸送裝置30另於測試裝置20之上方配置至少一壓接電子元件之壓接具34，更進一步，該壓接具34可作至少一方向位移，壓接具34可為單純壓接電子元件用之壓接具，或為移載及壓接電子元件用之壓移具，於本實施例中，該壓接具34係用以移載及壓接電子元件，並由第二驅動器35驅動作Y-Z方向位移，以於入料載台32取出待測之電子元件，並將待測電子元件移入且壓抵於測試裝置20之測試座22內而執行測試作業，以及將測試座22內之已測電子元件移載至出料載台33而出料，又該輸送裝置30之清潔單元係設有至少一清潔壓接具34底面之清潔具36，該清潔具36可為刷具或噴嘴等，清潔單元並以驅動該移載具之同一該驅動器驅動清潔具36位移，更進一步，該清潔具36可直接裝配於驅動器之承架上，亦或獨立配置一連結移載具之承架，而由驅動器驅動作往復位移，於本實施例中，該清潔單元之清潔具係為軟質毛刷之刷具，並以陣列排置裝配於一獨立之承架37上，該承架37之兩側連結入料載台32及出料載台33，以於第一驅動器31驅動入料載台32及出料載台33作X方向位移時，而可由入料載台32及出料載台33帶動具有清潔具36之承架37同步作X方向往復位移。

請參閱第6、7、8圖，於輸送裝置30之入料載台32承置待測之電子元件51後，第一驅動器31係驅動入料載台32及出料載台33作X方向位移，由於該清潔單元之承架37連結入料載台32及出料載台33，而可由入料載台32及出料載台33帶動具清潔具36之承架37同步作X方向位移，該入料載台32係將待測之電子元件51載送至測試座22之側方，該第二驅動器35係驅動壓接具34作Y-Z方向位移，以於入料載台32取出待測之電子元件51；接著該輸送裝置30之第二驅動器35係驅動壓接具34將待測電子元件51移入測試裝置20之測試座22，且下壓待測之電子元件51於測試座22內執行測試作業，此時，第一驅動器31係驅動入料載台32及出料載台33作X方向反向位移，入料載台32及出料載台33並帶動具有清潔具36之承架37同步作X方向反向位移；於測試作業完畢後，由於輸送裝置30之出料載台33已位於測試裝置20之測試座22側方，該第二驅動器35係帶動壓接具34作Y-Z方向位移，將測試座22內之已測電子元件51移載置入於出料載台33，由出料載台33載送出料。

請參閱第9、10圖，由於輸送裝置30之壓接具 34於使用一段時間後，會因不斷壓抵接觸複數個電子元件，而使壓接具34之底面沾附有粉塵或具黏性之雜質等，為避免壓接具34於卸料過程中因底面之黏性雜質而令已測電子元件無法脫離，業者可利用輸送裝置30之清潔單元執行壓接具34清潔作業，由於清潔單元之具有清潔具36的承座37係連結入料載台32及出料載台33，該入料載台32及出料載台33又由第一驅動器31驅動作X方向位移，因此，該清潔單元可利用同一第一驅動器31驅動清潔具36及入、出料載台32、33作X方向往復位移，毋須另外於機台40上獨立配置一清潔具36專用之驅動器，不僅有效節省成本，並可避免清潔單元佔用機台40空間，而利於機台40之空間配置，於執行清潔壓接具34作業時，輸送裝置30之第二驅動器35可帶動壓接具34朝清潔具36作Y方向相對位移，令壓接具34位移至清潔具36之移動路徑上方(即為入料載台32及出料載台33之移動路徑上方)，並使壓接具34作Z方向向下位移至預設清潔高度，該預設清潔高度即為清潔具36可接觸到壓接具34底面之高度，以及可使壓接具34迴避入料載台32及出料載台33之高度，輸送裝置30之第一驅動器31即驅動入料載台32及出料載台33作X方向往復位移，令入料載台32及出料載台33帶動具清潔具36之承架37同步作X方向往復位移，使承架37上之清潔具36於往復位移過程中自動化刷除壓接具34底面之灰塵髒污，以確保壓接具34之清潔，而可有效節省人工及清潔作業時間，達到自動化清潔壓接具之實用效益。

請參閱第4、5、11圖，係本發明具清潔單元之輸送裝置30第一實施例應用於測試分類設備之配置圖，該測試分類設備係於機台40上配置有供料裝置60、收料裝置70、測試裝置20、至少一本發明輸送裝置30及中央控制裝置(圖未示出)；該供料裝置60係裝配於機台40，並設有至少一為供料盤之供料承置器61，用以容納至少一待測之電子元件；該收料裝置70係裝配於機台40，並設有至少一為收料盤之收料承置器71，用以容納至少一已測之電子元件；該測試裝置20係裝配於機台40上，並設有至少一測試器，以對電子元件執行測試作業，於本實施例中，該測試器係具有電性連接之電路板21及測試座22，以對電子元件執行測試作業；該輸送裝置30係裝配於機台40上，並設置至少一下壓電子元件之壓接具，以及設置至少一由驅動器驅動移載電子元件之移載具，另設置至少一具有清潔具之清潔單元，並以驅動該移載具之同一該驅動器驅動該清潔單元之清潔具位移，使清潔具自動化清潔該壓接具，於本實施例中，係設有一由第三驅動器381驅動作X-Y-Z方向位移且為第一拾取具382之移載具，以於供料裝置60之供料承置器61取出待測之電子元件，並分別依序移載至入料載台32及另一入料載台32A，二入料載台32、32A將待測之電子元件載送至測試裝置20之側方，該輸送裝置30係以壓接具34及另一壓接具34A將二入料載台32、32A上之待測電子元件依序移入且下壓於測試裝置20之測試座22而執行測試作業，該輸送裝置30之壓接具34及另一壓接具34A再依序將測試裝置20處之已測電子元件移載至出料載台33及另一出料載台33A，二出料載台33、33A則載出已測之電子元件，該輸送裝置30另設有一由第四驅動器383驅動作X-Y-Z方向位移且為第二拾取具384之移載具，以依序於二出料載台33、33A上取出已測之電子元件，並依據測試結果，將已測之電子元件輸送至收料裝置70之收料承置器71處而分類收置，另該輸送裝置30之清潔單元係於入料載台32及出料載台33之間連結一具有清潔具36之承架37，而可由第一驅動器31驅動入料載台32、出料載台33及清潔具36作往復位移，以利用清潔具36清潔壓接具34，又該清潔單元並於另一入料載台32A及另一出料載台33A之間連結另一具有清潔具36A之承架37A，而可由另一第一驅動器31A驅動另一入料載台32A、另一出料載台33A及另一清潔具36A作往復位移，以利用另一清潔具36A清潔另一壓接具34A；該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

請參閱第12、13圖，係為測試裝置80及本發明具清潔單元之輸送裝置90第二實施例的配置圖，係於機台100之後段部配置複數個測試裝置80，各測試裝置80係設有電性連接之電路板81及測試座82，該測試座82係承置及測試電子元件；該輸送裝置90係配置於機台100，並設有一由第一驅動器91驅動位移之移載具，該移載具係為取放電子元件用之拾取具，於本實施例中，該第一驅動器91係以承架911之底面裝配第三拾取具921及第四拾取具922，以帶動第三拾取具921及第四拾取具922作X-Y-Z方向位移，而分別取放待測電子元件及已測電子元件，該輸送裝置90另於各測試裝置80之上方配置一壓接電子元件之壓接具93，該壓接具93係為單純壓接電子元件用，並由第二驅動器94驅動作Z方向位移，以下壓測試座82內之待測電子元件執行測試作業，又該輸送裝置90係於機台100上配置一由第五驅動器95驅動作Y方向位移之轉運載台96，以轉運待測電子元件及已測電子元件，該輸送裝置90之清潔單元係於該第一驅動器91之承架911頂面以陣列排置複數個為刷具之清潔具97，以於第一驅動器91驅動第三拾取具921及第四拾取具922作X-Y方向位移時，可帶動清潔具97同步位移。

請參閱第13、14、15、16圖，該輸送裝置90之第五驅動器95係驅動一承載待測電子元件52之轉運載台96作Y方向位移至第三拾取具921之側方，第一驅動器91係驅動第三拾取具921及第四拾取具922作X-Y方向位移至轉運載台96之上方，並令第三拾取具921作Z方向位移而於轉運載台96取出待測電子元件52；接著第一驅動器91 係驅動第三拾取具921及第四拾取具922作X-Y方向位移至測試裝置80處，並令第四拾取具922作Z方向位移而於測試座82取出已測電子元件53，再令第三拾取具921作Y-Z方向位移將待測電子元件52移入測試座82內，由於該清潔單元之清潔具97係裝配於第一驅動器91之承架911上，而可由第一驅動器91驅動同步作X-Y方向位移至測試裝置80處；於測試裝置80之測試座82承置待測電子元件52後，該輸送裝置90之第二驅動器94係驅動壓接具93作Z方向位移而下壓電子元件52執行測試作業，該第一驅動器91則驅動第三拾取具921、第四拾取具922及清潔具97作X-Y方向位移至轉運載台96之上方，並令第四拾取具922作Z方向位移將已測電子元件53移入轉運載台96，由轉運載台96載出出料。

請參閱第17、18圖，由於清潔單元之清潔具97係裝配於第一驅動器91之具有第三、四拾取具921、922的承架911上，而可由同一第一驅動器91驅動作X-Y方向位移，毋須另外於機台100上之複數個測試裝置80處獨立配置複數個清潔具97專用之驅動器，不僅有效節省成本，並可避免清潔單元佔用機台100空間，而利於機台100之空間配置，於執行清潔壓接具93作業時，輸送裝置90之第一驅動器91可利用承架911帶動清潔具97及第三、四拾取具921、922同步作X-Y方向位移至測試裝置80處，並令清潔具97位於可接觸壓接具93底面之預設清潔作業高度，由於第三、四拾取具921、922係配置於承架911之底面，並不會影響清潔具97之作動，輸送裝置90之第一驅動器91即經由承架911帶動清潔具97作Y方向往復位移，使清潔具97於往復位移之過程中自動化刷除壓接具93底面之灰塵髒污等，以確保壓接具93之清潔，而可有效節省人工及清潔作業時間，達到自動化清潔壓接具之實用效益。

請參閱第12、13、19圖，係本發明具清潔單元之輸送裝置90第二實施例應用於另一測試分類設備之配置圖，該測試分類設備係於機台100上配置有供料裝置110、收料裝置120、測試裝置80、至少一本發明具清潔單元之輸送裝置90及中央控制裝置(圖未示出)；該供料裝置110係裝配於機台100，並設有至少一為供料盤之供料承置器1101，用以容納至少一待測之電子元件；該收料裝置120係裝配於機台100，並設有至少一為收料盤之收料承置器1201，用以容納至少一已測之電子元件；該測試裝置80係裝配於機台100上，並設有至少一測試器，以對電子元件執行測試作業，於本實施例中，複數個測試裝置80係配置於機台100之後段部，各測試器係具有電性連接之電路板81及測試座82，以對電子元件執行測試作業；該輸送裝置90係裝配於機台100上，並設置至少一下壓電子元件之壓接具，以及設置至少一由驅動器驅動移載電子元件之移載具，另設置至少一具有清潔具之清潔單元，並以驅動該移載具之同一該驅動器驅動該清潔單元之清潔具位移，使清潔具自動化清潔該壓接具，於本實施例中，該輸送裝置90係於機台100之前段部利用一第六驅動器981驅動二為第五、六拾取具982、983之移載具作X-Y方向位移至供料裝置110處，並令第五拾取具982作Z方向位移於供料裝置110之供料承置器1101取出待測之電子元件，第六驅動器981再驅動第五拾取具982將待測之電子元件移入轉運載台96，該第五驅動器95驅動轉運載台96作Y方向位移將待測之電子元件由機台100之前段部載送至後段部，本發明輸送裝置90係於第一驅動器91之承架911底面裝配取放電子元件之第三、四拾取具921、922，並於承架911之頂面裝設該清潔單元之清潔具97，該第一驅動器91係利用承架911驅動第三、四拾取具921、922及清潔具97同步作X-Y方向位移至轉運載台96處，令第三拾取具921作Z 方向位移取出待測之電子元件，第一驅動器91再驅動第三、四拾取具921、922作X-Y方向位移至測試裝置80處，令第四拾取具922作Z方向位移取出測試座82內已測之電子元件，並令第三拾取具921作Y-Z方向位移將待測電子元件移入測試座82，於第一驅動器91驅動第三、四拾取具921、922作X-Y方向位移至轉運載台96後，輸送裝置90之第二驅動器94即帶動壓接具93作Z方向位移下壓待測之電子元件於測試座82內執行測試作業，第四拾取具922則作Z方向位移將已測之電子元件移入轉運載台96，該第五驅動器95即驅動轉運載台96將已測之電子元件載送至機台100之前段部，第六驅動器981驅動第六拾取具983作X-Y-Z方向位移於轉運載台96取出已測之電子元件，並依據測試結果，將已測之電子元件輸送至收料裝置120之收料承置器1201處而分類收置；另於輸送裝置90執行清潔壓接具93作業時，係以第一驅動器91驅動第三、四拾取具921、922及清潔具97同步作X-Y方向位移至壓接具93之下方，並帶動清潔具97作Y方向往復位移，以利用清潔具97清潔壓接具93；該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

Claims

一種具清潔單元之輸送裝置，包含：壓接具：係下壓電子元件；驅動器；移載具：係由該驅動器驅動作至少一方向位移，以移載電子元件；清潔單元：係設有至少一清潔該壓接具之清潔具，並由驅動該移載具之同一該驅動器驅動該清潔具位移，以清潔該壓接具。
依申請專利範圍第1項所述之具清潔單元之輸送裝置，其中，該驅動器係為第一驅動器，該清潔單元係設有至少一承架供裝配該清潔具，該承架並由該第一驅動器驅動位移。
依申請專利範圍第2項所述之具清潔單元之輸送裝置，其中，該清潔單元之承架係連結該移載具。
依申請專利範圍第1項所述之具清潔單元之輸送裝置，其中，該清潔具係位於該移載具之側方或上方。
依申請專利範圍第1項所述之具清潔單元之輸送裝置，其中，該清潔具係為刷具或噴嘴。
依申請專利範圍第1項所述之具清潔單元之輸送裝置，其中，該驅動器係驅動該清潔具作往復位移。
依申請專利範圍第1項所述之具清潔單元之輸送裝置，其中，該移載具係為載台或拾取具。
依申請專利範圍第1項所述之具清潔單元之輸送裝置，其中，該壓接具係由第二驅動器驅動作Z方向位移。
依申請專利範圍第1項所述之具清潔單元之輸送裝置，其中，該壓接具可為單純壓接電子元件用之壓接具，或為移載及壓接電子元件用之壓移具。
一種應用具清潔單元之輸送裝置的測試分類設備，包含：機台；供料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一供料承置器，以容納至少一待測之電子元件；收料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一收料承置器，以容納至少一已測之電子元件；測試裝置：係配置於該機台上，並設有至少一測試器，以對電子元件執行測試作業；至少一依申請專利範圍第1項所述之具清潔單元之輸送裝置：係配置於該機台上，以移載電子元件；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。