TW201842013A - 液晶顯示裝置、偏光板及偏光鏡保護薄膜 - Google Patents

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Abstract

一個課題在於提供即使是在因液晶顯示裝置的廣色域化所產生的背光光源的波長光譜的多樣化、或將偏光鏡保護薄膜薄膜化的情況下，也可以抑制虹斑產生的液晶顯示裝置、偏光板及偏光鏡保護薄膜。
一種偏光鏡保護薄膜，其包含聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜，其特徵為前述聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜滿足下述的(1)~(2)。(1)聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜具有3000~30000nm的延遲量，(2)剛性非晶分率(rigid amorphous fraction)為33wt%以上。

Description

液晶顯示裝置、偏光板及偏光鏡保護薄膜
本發明係關於液晶顯示裝置、偏光板及偏光鏡保護薄膜。
液晶顯示裝置(LCD)中所使用的偏光板通常為用2片偏光鏡保護薄膜挾持使聚乙烯醇(PVA)等染附碘的偏光鏡的構成，作為偏光鏡保護薄膜，通常使用三醋酸纖維素(TAC)薄膜。近年來，隨著LCD的薄型化而要求偏光板薄層化。然而，若為此而減薄用作保護薄膜的TAC薄膜的厚度，便產生無法獲得足夠的機械強度，還有透濕性惡化這樣的問題。此外，TAC薄膜非常昂貴而有人提出了聚酯薄膜作為廉價的替代材料(專利文獻1~3)，但有觀察到彩虹狀色斑這樣的問題。
在在偏光鏡的單側配置具有雙折射性的配向聚酯薄膜的情況下，從背光單元或者偏光鏡射出的直線偏光在通過聚酯薄膜之際偏光狀態會改變。透射的光顯示出配向聚酯薄膜的雙折射與厚度的積的延遲量(retardation)所特有的干涉色。因此，若使用冷陰極管或熱陰極管等不連續的發光光譜作為光源，則依波長而顯示不同的透射光強度，成為彩虹狀色斑(參見：第15次 微光學會議論文集，第30~31項)。
作為解決上述問題的手段，有人提出了使用具有如白色發光二極體的連續且寬廣的發光光譜的白色光源作為背光光源，還使用具有一定延遲量的配向聚酯薄膜作為偏光鏡保護薄膜(專利文獻4)。白色發光二極體在可見光區域中具有連續且寬廣的發光光譜。因此，若著眼於由透過雙折射體的透射光所產生的干涉色光譜的包絡線形狀，便可藉由控制配向聚酯薄膜的延遲量來得到與光源的發光光譜相似的光譜，藉此可以抑制虹斑。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2002-116320號公報
[專利文獻2]日本特開2004-219620號公報
[專利文獻3]日本特開2004-205773號公報
[專利文獻4]WO2011/162198
作為液晶顯示裝置的背光光源，過去以來廣泛使用包含組合藍色發光二極體和釔‧鋁‧石榴石系黃色螢光體(YAG系黃色螢光體)的發光元件的白色發光二極體(白色LED)。此白色光源的發光光譜，在可見光區域具有寬廣的光譜，並且發光效率也優異，因此廣泛用作背光光源。然而，將此白色LED作為背光光源的液晶顯示裝置僅能再現人眼可辨識的光譜的20%左右的顏 色。
另一方面，近年來的擴大色域的要求升高，因此開發了白色光源的發光光譜在R(紅)、G(綠)、B(藍)的各波長區域分別具有明確的波峰形狀的支援廣色域化的液晶顯示裝置。例如，開發了使用利用了量子點技術的白色光源、使用了藉由激發光在R(紅)、G(綠)的區域具有明確的發光波峰的螢光體和藍色LED的螢光體方式的白色LED光源、3波長方式的白色LED光源、使用實驗式為K2SiF6：Mn4+的氟化物螢光體(也稱為「KSF」)等和藍色LED的白色LED光源等各式各樣種類的光源的支援廣色域化的液晶顯示裝置。在這樣的支援廣色域化的液晶顯示裝置的情況下，可說是可以再現人眼可辨識的光譜的60%以上的顏色。
新近知道了：與包含目前使用了YAG系黃色螢光體的白色發光二極體的光源相比，這些白色光源皆是波峰的半值寬度，在使用具有延遲量的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜作為偏光板的構成構件的偏光鏡保護薄膜的情況下，有依光源的種類而產生虹斑的情況。
此外，偏光鏡保護薄膜的進一步薄膜化的期待變強，在這樣的情況下，也要求能夠更加控制在從斜向觀察顯示畫面的情況下的虹斑的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜(偏光鏡保護薄膜)。
即，本發明的課題在於提供即使是於在對應廣色域化的液晶顯示裝置中使用聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜作為偏光板的構成構件的偏光鏡保護薄膜的情 況、或薄膜化的情況下，也能夠抑制虹斑的產生，改善可視性的液晶顯示裝置、偏光板、偏光鏡保護薄膜。
本發明人等專心檢討，結果發現除了聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜具有特定範圍的延遲量外，還將剛性非晶分率控制在一定程度以上，從而可解決上述課題。
代表性的本發明如下。
第1項.
一種偏光鏡保護薄膜，其係包含滿足下述的(1)及(2)的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜。
(1)延遲量為3000nm以上30000nm以下
(2)用下式所表示的剛性非晶分率(rigid amorphous fraction)為33wt%以上
(剛性非晶分率(wt%))=100-(可動非晶分率(mobile amorphous fraction)(wt%))-(質量分率結晶化度(wt%))
第2項.
如第1項的偏光鏡保護薄膜，其中前述聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜進一步滿足下述(3)。
(3)用X射線繞射測定的(100)面之相對於薄膜面的配向度為0.7以下。
第3項.
一種偏光板，其在偏光鏡的至少一面積層如第1項或第2項的偏光鏡保護薄膜。
第4項.
一種液晶顯示裝置，其係具有背光光源、2個偏光板、及配置在前述2個偏光板之間的液晶單元的液晶顯示裝置，前述2個偏光板當中，至少一者為如第3項的偏光板。
根據本發明的話，便能夠提供即使是於在對應廣色域化的液晶顯示裝置中使用聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜作為偏光板的構成構件的偏光鏡保護薄膜的情況、或薄膜化的情況下，也能夠抑制虹斑的產生，改善可視性的液晶顯示裝置、偏光板、偏光鏡保護薄膜。
[實施發明之形態]
1.偏光鏡保護薄膜
本發明的偏光鏡保護薄膜所使用的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜較佳為具有3000nm以上30000nm以下的延遲量。在延遲量小於3000nm方面，在用作偏光鏡保護薄膜的情況下，在從斜向觀察時呈現強烈的干涉色，不能確保良好的可視性。較佳的延遲量的下限值為4000nm，次佳的下限值為5000nm。
另一方面，延遲量的上限較佳為30000nm。即使使用具有30000nm以上的延遲量的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜，也實質上得不到進一步的可視性改善 效果，薄膜的厚度也變得相當厚，作為工業材料的處理性降低。較佳的上限值為10000nm，更佳的上限值為9000nm，再更佳的上限值為8000nm。
延遲量，能夠測定薄膜面內的2軸方向的折射率和薄膜厚度來求出，也能夠使用KOBRA-21ADH(王子計測機器股份有限公司)這樣的市售的自動雙折射測定裝置來求出。折射率的測定波長為589nm進行測定。
聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜的薄膜面內的折射率差(慢軸方向的折射率-快軸方向的折射率)較佳為0.08以上，更佳為0.09以上，再更佳為0.10以上。前述折射率差的上限較佳為0.15以下。在單方向上予以強力拉伸而薄膜面內的折射率差大，從進一步抑制虹斑的觀點來看是較佳的。又，慢軸方向的折射率及快軸方向的折射率係利用阿貝折射率計(Atago公司製，NAR-4T，測定波長589nm)求出。
本發明的偏光鏡保護薄膜中使用的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜，除了具有特定範圍的延遲量外，剛性非晶分率為33wt%以上，從抑制從斜向所觀察到的虹斑的觀點來看是較佳的。聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜的剛性非晶分率較佳為33wt%以上，更佳為34wt%以上，更佳為35wt%以上，再更佳為36wt%以上。上限較佳為60wt%，但50wt%或者45wt%左右便足夠。此處，剛性非晶分率係用下述的(1)式表示。
(剛性非晶分率(wt%))=100-(可動非晶分率(wt%))-(質量分率結晶化度(wt%))…(1)
又，在本說明書中，wt%係與質量%同義。
過去以來，一向認為高分子的高階構造(higher-order structure)係分為結晶和非晶。然而，近年來報導了：非晶區域可以依其分子運動的溫度依存性而進一步加以區別，可分為在玻璃轉移點(Tg)下分子運動被解放的可動非晶、和即使在Tg以上的溫度下分子運動仍被凍結的剛性非晶。已知：此剛性非晶，在聚對苯二甲酸乙二酯的情況下，到200℃附近的溫度為止仍保持非晶的狀態。由此，認為：剛性非晶分率越大，伴隨薄膜的拉伸或熱處理而來的結晶化越難進行。聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜，在厚度或延遲量相同的情況下，其苯環越是圍繞分子鏈軸隨機配向，越能抑制在用於偏光鏡保護薄膜之際從斜向所觀察到的虹斑。另一方面，已知：聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜係隨著結晶化，苯環相對於薄膜面平行地配向。藉由已知的方法所製膜的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜，若加大前述的薄膜面內的折射率差，則苯環相對於薄膜面的配向度也同時變大，有無法得到充分的抑制虹斑的效果的情況。本發明人等進行檢討後，發現藉由將剛性非晶分率控制在上述範圍內，即使在加大薄膜面內的折射率差之際，也可以有效地抑制伴隨結晶化而來的苯環的配向，抑制從斜向所觀察到的虹斑。
在上述(1)式中，剛性非晶分率係使用可動非晶分率及質量分率結晶化度的值而間接地求出。可動非晶分率係由用使用微差掃描熱卡計(TA Instrument公司 製，Q100)的溫度調變DSC測定所得到的可逆熱容量曲線的Tg的可逆熱容量差△Cp求出。另一方面，質量分率結晶化度係由按照JIS K7112使用密度梯度管所得到的密度的值算出。細節在實施例中後述。
聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜中的苯環之相對於薄膜面的配向度，能夠將與苯環幾乎平行的(100)面之相對於薄膜面的配向度作為指標來進行評價。從抑制從斜向所觀察到的虹斑的觀點來看，本發明的偏光鏡保護薄膜中使用的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜較佳為除了具有特定範圍的延遲量外，用X射線繞射測定的(100)面之相對於薄膜面的配向度為0.7以下。聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜的(100)面之相對於薄膜面的配向度較佳為0.7以下，更佳為0.68以下，更佳為0.66以下，再更佳為0.64以下。下限較佳為0.40，(100)面之相對於薄膜面的配向度係表示聚對苯二甲酸乙二酯的結晶圍繞分子鏈軸的配向的指標，此值越低，表示圍繞分子鏈軸的配向越隨機。此圍繞分子鏈軸的配向越隨機，越能抑制從斜向所觀察到的虹斑。
在高分子的X射線繞射測定中，主要是測定被結晶散射的X射線的強度，但被進行配向而成為具有規則性的非晶(配向非晶)散射的X射線的強度也包含在測定值內。一般而言，(100)面係指結晶晶格中的特定結晶面，前述(100)面之相對於薄膜面的配向度係相當於結晶及配向非晶中的苯環之相對於薄膜面的配向度的指標。
(100)面之相對於薄膜面的配向度，係使用X射線繞射裝置(Rigaku股份有限公司製，RINT2100PC)，使用由廣角X射線繞射測定所得到的(100)面的繞射強度曲線圖(profile)的半值寬度，用下述的公式所定義的參數。細節在實施例中後述。
(100)面之相對於薄膜面的配向度=(180-半值寬度)/180
本發明的保護薄膜的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜能夠利用一般的聚酯薄膜的製造方法製造。例如，可舉出如下方法：將聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂熔融，將擠出成形為片狀的無配向聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂在玻璃轉移溫度以上的溫度下，利用輥的速度差在縱向上拉伸後，利用拉幅機在橫向上拉伸，實施熱處理。
若具體說明聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜的製膜條件，則縱向拉伸溫度、橫向拉伸溫度較佳為100~130℃，特佳為110~125℃。
在製造在薄膜寬度方向(TD方向)上具有慢軸的薄膜的情況下，縱向拉伸倍率較佳為0.7~1.5倍，特佳為0.7倍~1.0倍。此外，從抑制拉伸中的非晶分子鏈的鬆弛而提高剛性非晶分率的觀點來看，較佳為提高橫向拉伸倍率。橫向拉伸倍率的下限較佳為4.5倍，更佳為4.7倍，特佳為5.0倍。另一方面，若橫向拉伸倍率超過7.0倍，則薄膜變得容易在橫向上裂開而生產性降低。由此，橫向拉伸倍率的上限較佳為7.0倍，更佳為6.5倍，特佳為6.0倍，最佳為5.5倍。
另一方面，在製造在薄膜縱向(MD方向)上具有慢軸的薄膜的情況下，橫向拉伸倍率較佳為1.0~3.0倍，更佳為2.0~3.0倍。從抑制拉伸中的非晶分子鏈的鬆弛而提高剛性非晶分率的觀點來看，較佳為提高縱向拉伸倍率。縱向拉伸倍率的下限較佳為4.5倍，更佳為4.7倍，特佳為5.0倍。若縱向拉伸倍率超過7.0倍，則薄膜變得容易在縱向上裂開而生產性降低，因此縱向拉伸倍率的上限較佳為7.0倍，更佳為6.5倍，特佳為6.0倍。
為了將延遲量控制在上述範圍內，較佳為控制縱向拉伸倍率與橫向拉伸倍率的比率、或拉伸溫度、薄膜的厚度。若縱橫的拉伸倍率的差過小，則變得很難提高延遲量，因而不佳。
為了抑制伴隨熱處理時的結晶化而來的苯環之相對於薄膜面的配向，較佳為使剛性非晶分率增大。具體而言，較佳為抑制拉伸中的非晶分子鏈的鬆弛，較佳為加大薄膜的朝慢軸方向拉伸的應變速度(strain rate)。應變速度較佳為13%/sec以上，更佳為15%/sec以上，特佳為17%/sec以上。從製膜性的觀點來看，應變速度的上限較佳為60%/sec以上。此處，應變速度係用(朝慢軸方向拉伸的公稱應變(%))/(朝慢軸方向拉伸的所需時間(sec))所表示的量，公稱應變(%)可由((變形量(mm))/(初期長度(mm)))×100求出。
在後續的熱處理中，從促進配向結晶化而提高延遲量的觀點來看，熱處理溫度的下限較佳為150℃， 更佳為160℃，特佳為170℃，最佳為180℃。另一方面，從防止剛性非晶的結晶化，降低結晶的(100)面之相對於薄膜面的配向度的觀點來看，熱處理溫度的上限較佳為220℃，更佳為210℃，特佳為200℃。
構成聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂，較佳為單體單元的85莫耳%以上為對苯二甲酸乙二酯。對苯二甲酸乙二酯單元較佳為90莫耳%以上，更佳為95莫耳%以上。又，作為共聚成分，可以包含公知的酸成分、二元醇成分。作為聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂，特佳者為均聚物的聚對苯二甲酸乙二酯。
這些樹脂係透明性優異，同時熱特性、機械特性也優異，能夠藉由拉伸加工容易地控制延遲量。聚對苯二甲酸乙二酯係固有雙折射大，即使膜厚薄，也能夠比較容易地得到大的延遲量，是最合適的材料。
此外，基於抑制碘色素等的光學功能性色素的劣化的目的，本發明的保護薄膜理想的是波長380nm的光線透射率為20%以下。380nm的光線透射率更佳為15%以下，再更佳為10%以下，特佳為5%以下。若前述光線透射率為20%以下的話，便能夠抑制光學功能性色素因紫外線而變質。又，本發明中的透射率係在相對於薄膜平面垂直的方向上測定者，能使用分光光度計(例如，日立U-3500型)測定。
為了將本發明的保護薄膜的波長380nm的透射率設為20%以下，理想的是適宜調節紫外線吸收劑的 種類、濃度、及薄膜的厚度。本發明中所使用的紫外線吸收劑係公知的物質。作為紫外線吸收劑，可舉出有機系紫外線吸收劑和無機系紫外線吸收劑，從透明性的觀點來看，較佳為有機系紫外線吸收劑。作為有機系紫外線吸收劑，可舉出：苯并三唑系、二苯甲酮系、環狀亞胺基酯系等、及其組合，若在本發明規定的吸光度的範圍內的話，則沒有特別的限定。然而，從耐久性的觀點來看，特佳為苯并三唑系、環狀亞胺基酯系。在併用2種以上的紫外線吸收劑的情況下，因為能夠同時吸收各自的波長的紫外線，因此能夠進一步改善紫外線吸收效果。
作為二苯甲酮系紫外線吸收劑、苯并三唑系紫外線吸收劑、丙烯腈系紫外線吸收劑，例如，可舉出：2-[2’-羥基-5’-(甲基丙烯醯氧基甲基)苯基]-2H-苯并三唑、2-[2’-羥基-5’-(甲基丙烯醯氧基乙基)苯基]-2H-苯并三唑、2-[2’-羥基-5’-(甲基丙烯醯氧基丙基)苯基]-2H-苯并三唑、2,2’-二羥基-4,4’-二甲氧基二苯甲酮、2,2’,4,4’-四羥基二苯甲酮、2,4-二-三級丁基-6-(5-氯苯并三唑-2-基)酚、2-(2’-羥基-3’-三級丁基-5’-甲基苯基)-5-氯苯并三唑、2-(5-氯(2H)-苯并三唑-2-基)-4-甲基-6-(三級丁基)酚、2,2’-亞甲基雙(4-(1,1,3,3-四甲基丁基)-6-(2H-苯并三唑-2-基)酚等。作為環狀亞胺基酯系紫外線吸收劑，例如，可舉出：2,2’-(1,4-伸苯基)雙(4H-3,1-苯并-4-酮)、2-甲基-3,1-苯并-4-酮、2-丁基-3,1-苯并-4-酮、2-苯基-3,1-苯并-4-酮等。然而，不特別限於它 們。
此外，除了紫外線吸收劑以外，在不妨礙本發明的效果的範圍內，含有觸媒以外的各種添加劑也是較佳的態樣。作為添加劑，例如，可舉出：無機粒子、耐熱性高分子粒子、鹼金屬化合物、鹼土金屬化合物、磷化合物、抗靜電劑、耐光劑、阻燃劑、熱穩定劑、抗氧化劑、抗凝膠化劑、界面活性劑等。此外，為了發揮高透明性，亦較佳為聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜中實質上不含有粒子。所謂的「實質上不含有粒子」意指例如在無機粒子的情況下，在用螢光X射線分析將無機元素進行定量的情況下為50ppm以下，較佳為10ppm以下，特佳為成為檢測極限以下的含量。
此外，作為在本發明的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜中摻合紫外線吸收劑的方法，可以採用公知方法的組合，例如能夠藉由下述方法等來進行摻合：預先使用混練擠出機將經乾燥的紫外線吸收劑與聚合物原料混合(blend)以製作母料(master batch)，在薄膜製膜時將既定的該母料與聚合物原料混合。
此時，為了使紫外線吸收劑均勻分散且經濟地進行摻合，母料的紫外線吸收劑濃度較佳為設為5~30質量%的濃度。作為製作母料的條件，較佳為使用混練擠出機，擠出溫度為聚對苯二甲酸乙二酯系原料的熔點以上、290℃以下的溫度，用1~15分鐘擠出。就290℃以上而言，紫外線吸收劑的減量為大的，此外，母料的黏度降低變大。就擠出時間1分鐘以下而言，紫外線吸 收劑的均勻混合變得困難。此時，可以根據需要而添加穩定劑、色調調整劑、抗靜電劑。
此外，在本發明中，較佳為將薄膜製成至少3層以上的多層構造，在薄膜的中間層中添加紫外線吸收劑。中間層中包含紫外線吸收劑的3層構造的薄膜，具體而言能夠依以下方式製作。作為外層用，將聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂的粒料單獨供給至公知的熔融積層用擠出機，作為中間層用，將含有紫外線吸收劑的母料和聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂的粒料按既定比例混合、乾燥之後，供給至公知的熔融積層用擠出機，自狹縫狀的模(die)擠出成片狀，在澆鑄輥上冷卻固化來製作未拉伸膜。即，使用2台以上的擠出機、3層的歧管或合流塊(例如具有方型合流部的合流塊)，積層構成兩外層的薄膜層、構成中間層的薄膜層，自擠出嘴擠出3層的片，用澆鑄輥冷卻來製作未拉伸薄膜。又，在本發明中，較佳為為了除去成為光學缺點之原料的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂中所包含的異物，而在熔融擠出之際進行高精度過濾。熔融樹脂的高精度過濾所使用的濾材的過濾粒子尺寸(初期過濾效率95%)較佳為15μm以下。若濾材的過濾粒子尺寸超過15μm，則20μm以上的異物的除去容易變得不充分。
另外，為了改良與偏光鏡的接著性，也可以對本發明的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜施加電暈處理、塗布處理或火焰處理等。
在本發明中，為了改良與偏光鏡的接著性， 較佳為在本發明的薄膜的至少單面具有以聚酯樹脂、聚胺基甲酸酯樹脂或聚丙烯酸樹脂中至少1種為主要成分的易接著層。此處，「主要成分」係指在構成易接著層的固體成分中為50質量%以上的成分。用於形成本發明的易接著層的塗布液較佳為包含水溶性或水分散性的共聚聚酯樹脂、丙烯酸樹脂及聚胺基甲酸酯樹脂內的至少1種的水性塗布液。作為這些塗布液，例如，可舉出：日本專利第3567927號公報、日本專利第3589232號公報、日本專利第3589233號公報、日本專利第3900191號公報、日本專利第4150982號公報等所公開的水溶性或水分散性共聚聚酯樹脂溶液、丙烯酸樹脂溶液、聚胺基甲酸酯樹脂溶液等。
易接著層，能夠在將前述塗布液塗布在縱向的單軸拉伸薄膜的單面或兩面後，在100~150℃下乾燥，進一步在橫向上拉伸而得到。最終的易接著層的塗布量較佳為管理成0.05~0.2g/m2。若塗布量明顯小於0.05g/m2，便有與所得到的偏光鏡的接著性變得不充分的情況。另一方面，若塗布量明顯超過0.2g/m2，便有耐沾黏性降低的情況。於在聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜的兩面設置易接著層的情況下，兩面的易接著層的塗布量可以相同也可以不同，能夠各自獨立地在上述範圍內進行設定。
為了賦予易滑性，較佳為於易接著層中添加粒子。較佳為使用微粒子的平均粒徑為2μm以下的粒子。若粒子的平均粒徑明顯超過2μm，則粒子變得容易 從被覆層脫落。作為易接著層中含有的粒子，例如，可舉出：氧化鈦、硫酸鋇、碳酸鈣、硫酸鈣、矽石、礬土、滑石、高嶺土、黏土、磷酸鈣、雲母、鋰膨潤石、氧化鋯、氧化鎢、氟化鋰、氟化鈣等無機粒子，或苯乙烯系、丙烯酸系、三聚氰胺系、苯并胍胺系、矽酮系等有機聚合物系粒子等。它們可以單獨添加到易接著層中，也能夠組合2種以上添加。
此外，作為塗布塗布液的方法，能夠使用公知的方法。例如，可舉出：逆轉輥塗布法、凹版塗布法、吻合式塗布法、輥刷法、噴霧塗布法、氣刀塗布法、繞線棒塗布法、管式刮刀(pipe doctor)法等，這些方法能夠單獨或者組合來進行。
又，上述粒子的平均粒徑的測定係按照下述方法進行。用掃描型電子顯微鏡(SEM)將粒子拍照，在最小的粒子1個的大小成為2~5mm的倍率下測定300~500個粒子的最大直徑(最遠的2點間的距離)，以其平均值作為平均粒徑。
本發明的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜的厚度是任意的，較佳為在30~300μm的範圍內，更佳為在40~200μm的範圍內。即使是厚度小於30μm的薄膜，在原理上也可以獲得3000nm以上的延遲量。然而，在該情況下薄膜的力學特性的異向性變得明顯，變得容易發生裂開、破損等，作為工業材料的實用性明顯降低。特佳的厚度下限為45μm。另一方面，若偏光鏡保護薄膜的厚度的上限超過300μm，則偏光板的厚度會變得過 厚，因而不佳。從作為偏光鏡保護薄膜的實用性的觀點來看，厚度的上限較佳為120μm，更佳為100μm以下，再更佳為80μm以下，再更佳為65μm以下，再更佳為60μm以下，再更佳為55μm以下。一般而言，從薄膜化的觀點來看，偏光鏡保護薄膜的厚度較佳為設在30~65μm的範圍內。
為了抑制延遲量的變動，較佳為薄膜的厚度不均小。由於拉伸溫度、拉伸倍率會對薄膜的厚度不均產生巨大的影響，因此從厚度不均的觀點來看，必須進行製膜條件的最適化。特別是，若為了提高延遲量而降低縱向拉伸倍率，則有縱向厚度不均變差的情形。由於縱向厚度不均在拉伸倍率的某一特定範圍內有變得非常差的區域，因此理想的是在偏離該範圍的情況下設定製膜條件。
本發明的薄膜的厚度不均較佳為5.0%以下，更佳為4.5%以下，再更佳為4.0%以下，特佳為3.0%以下。
偏光鏡保護薄膜中使用的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜較佳為用|ny-nz|/|ny-nx|所表示的Nz係數為1.7以下。Nz係數能夠依以下方式求出。使用分子配向計(王子計測器股份有限公司製，MOA-6004型分子配向計)求出薄膜的配向軸方向，利用阿貝折射率計(Atago公司製，NAR-4T，測定波長589nm)求出配向軸方向和與其正交的方向的雙軸的折射率(ny、nx，其中ny>nx)、及厚度方向的折射率(nz)。能夠將這樣操作所求出的 nx、ny、nz代入用|ny-nz|/|ny-nx|所表示的公式，求出Nz係數。Nz係數更佳為1.65以下，再更佳為1.63以下。Nz係數的下限值為1.2。此外，為了保持薄膜的機械性強度，Nz係數的下限值較佳為1.3以上，更佳為1.4以上，再更佳為1.45以上。
聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜，係其延遲量(Re)和厚度方向延遲量(Rth)的比(Re/Rth)較佳為0.2以上，更佳為0.5以上，再更佳為0.6以上。上述比(Re/Rth)越大越好。上限較佳為2.0以下，更佳為1.8以下。又，厚度方向延遲量係指表示將從薄膜厚度方向剖面觀看時的2個雙折射△Nxz(=| nx-nz |)、△Nyz(=| ny-nz |)分別乘以薄膜厚度d所得到的延遲量的平均的參數。能夠求出nx、ny、nz和薄膜厚度d(nm)，算出(△Nxz×d)和(△Nyz×d)的平均值來求出厚度方向延遲量(Rth)。又，nx、ny、nz係藉由阿貝折射計(Atago公司製，NAR-4T，測定波長589nm)求出。
2.偏光板
本發明的偏光板，具有在使聚乙烯醇(PVA)等染附碘的偏光鏡的至少一面貼合偏光鏡保護薄膜的構造，任一偏光鏡保護薄膜較佳為前述的本發明的偏光鏡保護薄膜。另一偏光鏡保護薄膜，較佳為使用如TAC薄膜或丙烯酸薄膜、降莰烯系薄膜所代表的沒有雙折射的薄膜。或者是，未必有另一偏光鏡保護薄膜存在。就本發明所使用的偏光板而言，基於防疊影或抑制眩光、抑制刮傷 等的目的，將各種硬塗劑(hard coat)塗布在表面也是較佳的態樣。
3.液晶顯示裝置
一般而言，液晶面板係以從與背光光源對向的側向顯示影像的側(觀看側)的順序，由後面模組、液晶單元及前面模組構成。後面模組及前面模組一般是由透明基板、形成在該液晶單元側表面的透明導電膜、和配置在其相反側的偏光板構成。此處，偏光板係在後面模組中配置在與背光光源對向的側，在前面模組中配置在顯示影像的側(觀看側)。
本發明的液晶顯示裝置係至少以背光光源、和配置在2個偏光板之間的液晶單元為構成構件。此外，可以適宜具有它們之外的其他構成，例如彩色濾光片、透鏡薄膜、擴射片、抗反射薄膜等。較佳為前述2個偏光板當中至少一個偏光板為前述的本發明的偏光板。
作為背光的構成，可以是以導光板或反射板等為構成構件的側光方式，也可以是正下方型方式。
作為液晶顯示裝置的背光光源，沒有特別的限定，較佳為螢光體方式的白色LED。即，藉由組合使用化合物半導體的發出藍色光、或者紫外光的發光二極體和螢光體來發出白色的元件。作為螢光體，有釔‧鋁‧石榴石系黃色螢光體或鋱‧鋁‧石榴石系黃色螢光體等。
此外，作為背光光源，亦較佳為在400nm以 上小於495nm、495nm以上小於600nm、及600nm以上780nm以下的各波長區域分別具有發光光譜的峰頂的白色光源。例如，可舉出：利用量子點技術的白色光源、使用了藉由激發光在R(紅)、G(綠)的區域分別具有發光波峰的螢光體和藍色LED的螢光體方式的白色LED光源、3波長方式的白色LED光源、組合紅色雷射的白色LED光源，除此之外，使用例如實驗式為K2SiF6：Mn4+的氟化物螢光體(也稱為「KSF」)等和藍色LED的白色LED光源等。這些白色光源係作為對應廣色域的液晶顯示裝置的背光光源而受到關注者。
具有該特定的延遲量的本發明的偏光鏡保護薄膜在液晶顯示裝置內的配置沒有特別的限定，在配置了配置在入射光側(光源側)的偏光板、液晶單元、和配置在出射光側(可視側)的偏光板的液晶顯示裝置的情況下，配置在入射光側的偏光板的入射光側的偏光鏡保護薄膜、及/或配置在出射光側的偏光板的射出光側的偏光鏡保護薄膜較佳為包含具有該特定的延遲量的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜的偏光鏡保護薄膜。特佳的態樣，係將配置在出射光側的偏光板的射出光側的偏光鏡保護薄膜設為具有該特定的延遲量的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜的態樣。在將聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜配置在上述以外的位置的情況下，有使液晶單元的偏光特性改變的情況。在需要偏光特性的地方使用本發明的高分子薄膜是不佳的，因此較佳為用作這樣的特定位置的偏光板的保護薄膜。
[實施例]
以下，舉出實施例來更具體地說明本發明，但本發明並不受下述實施例限制，也可以在能符合本發明的主旨的範圍內加以適宜變更來實施，那些實施方式也都包括在本發明的技術範圍內。又，以下的實施例中的物性的評價方法如下。
(1)延遲量(Re)
延遲量係指定義為薄膜上的正交的雙軸的折射率的異向性(△Nxy=|nx-ny|)與薄膜厚度d(nm)的積(△Nxy×d)的參數，表示光學的等向性、異向性的尺度。雙軸的折射率的異向性(△Nxy)係利用以下的方法求出。使用分子配向計(王子計測器股份有限公司製，MOA-6004型分子配向計)求出薄膜的慢軸方向，以慢軸方向成為與測定用樣品長邊平行的方式切出4cm×2cm的長方形，作為測定用樣品。對於此樣品，利用阿貝折射率計(Atago公司製，NAR-4T，測定波長589nm)求出正交的雙軸的折射率(慢軸方向的折射率：ny、與慢軸方向正交的方向的折射率：nx)、及厚度方向的折射率(nz)，將前述雙軸的折射率差的絕對值(|nx-ny|)設為折射率的異向性(△Nxy)。薄膜的厚度d(nm)係使用電測微計(Feinpruf公司製，Millitron 1245D)進行測定，將單位換算成nm。根據折射率的異向性(△Nxy)與薄膜的厚度d(nm)的積(△Nxy×d)求出延遲量(Re)。
(2)剛性非晶分率
剛性非晶分率係用前述(1)式表示，由可動非晶分率及質量分率結晶化度的值間接地求出。
可動非晶分率係使用由使用微差掃描熱卡計(TA Instrument公司製，Q100)的溫度調變DSC測定所得到的可逆熱容量曲線的Tg的可逆熱容量差△Cp(J/(g‧K))而由下述式所定義的參數。
可動非晶分率=((試料的△Cp)/(完全非晶的△Cp))×100(wt%)
在聚對苯二甲酸乙二酯的情況下，完全非晶的△Cp=0.4052(J/(g‧K))。試料係在鋁秤盤內秤量2.0±0.2mg，用MDSC(註冊商標)Heat-Only-Mode，在平均升溫速度5.0℃/min，調變周期60sec下進行測定。測定資料係以5Hz的取樣頻率收集。此外，溫度及熱量的校正使用銦，比熱的校正使用藍寶石。
以下，顯示Tg及△Cp的算出方法。首先，描繪可逆熱容量曲線F(T)的溫度T的1次微分函數F’(T)，取得每2401點的移動平均而進行平滑化處理後，讀取峰頂的溫度的值，從而求出Tg。接著，求出通過點A(Tg-15,F(Tg-15))及點B(Tg+15,F(Tg+15))兩點的直線G(T)。然後，在Tg-15≦T≦Tg+15的範圍內將F(T)-G(T)成為最小的溫度設為T1，將成為最大的溫度設為T2。此處，T1相當於玻璃轉移的開始溫度，T2相當於玻璃轉移的結束溫度，因此由△Cp=F(T2)-F(T1)得到△Cp的值。
質量分率結晶化度χ係按照JIS K7112使用 水/硝酸鈣系的密度梯度管所得到的密度的值d(g/cm3)，由下式算出。
χ=(dc/d)×((d-da)/(d-dc))×100(wt%)
其中，dc：完全結晶的密度，da：完全非晶的密度
在聚對苯二甲酸乙二酯的情況下，dc=1.498(g/cm3)，da=1.335(g/cm3)。
(3)(100)面之相對於薄膜面的配向度
(100)面之相對於薄膜面的配向度係使用X射線繞射裝置(Rigaku股份有限公司製，RINT2100PC)，使用由廣角X射線繞射測定所得到的(100)面的繞射強度曲線圖的半值寬度，用下述的公式所定義的參數。
(100)面之相對於薄膜面的配向度=(180-半值寬度)/180
測定，係安裝能夠裝配在RINT2100PC的RINT2000測角計(Goniometer)和極點用多目的試料台，依照舒爾茨(Schulz)反射法進行。樣品係切出成直徑5cm的圓狀，以慢軸方向與β=90及270度方向一致的方式安裝在試料台。測定條件的細節係管電壓=40kV、管電流=40mA、2θ固定角度=25.830度、發散縱向限制=1.2mm、發散狹縫=1度、散射狹縫1度、受光狹縫0.30mm，在使其分別移動至β=0及180度的狀態下，將控制對象設為反射α，設為測定方法=FT、開始位置=15.000度、結束位置=90.000度、步進寬度=0.500度、計數時間=2.0sec進行測定。
以下，顯示(100)面之相對於薄膜面的配向度的算出方法。首先，針對β=0及β=180度的繞射強度曲線圖I(α)(15≦α≦90)，利用下式進行相對於入射X射線的吸收的補正，得到各個β的繞射強度曲線圖J(α)(15≦α≦90)。
J(α)=I(α)×(1-exp(-2μt/sinθ))/(1-exp(-2μt/(sinθcos(90-α))))
此處，μ係CuKα線的線吸收係數，在聚對苯二甲酸乙二酯的情況下μ=9.02(/cm)，t係樣品厚度(cm)，θ係相當於測定時的2θ固定角度的一半的12.915度。針對所得到的J(α)(15≦α≦90)，將橫軸設為α’(β=0度時α’=α，β=180度時α’=180-α)，將縱軸設為各α’的繞射強度，從而連接β=0及180度的繞射強度曲線圖，得到繞射強度曲線圖J(α’)(15≦α’≦165)。但是，α’=90度的繞射強度係使用β=0度的值和β=180度的值的平均值。然後，用擬Voigt函數(Pseudo Voigt Function)將J(α’)(15≦α’≦165)進行配適(fitting)，從而得到相對於全部的α’的繞射強度曲線圖K(α’)。將連結α’=0及180度處的繞射強度的直線作為底線而從K(α’)扣除，使用所得到的繞射強度曲線圖L(α’)的半值寬度，由(180-半值寬度)/180算出(100)面之相對於薄膜面的配向度。
(4)虹斑觀察
以偏光鏡的吸收軸和薄膜的配向主軸成為垂直的方式，在包含PVA和碘的偏光鏡的單側貼附用後述的方法 作成的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜，在其相反的面貼附市售的TAC薄膜而作成偏光板。以所得到的偏光板取代原本存在於市售的液晶顯示裝置(東芝公司製的REGZA 43J10X)的出射光側的偏光板。又，以偏光板的吸收軸與原本貼附在液晶顯示裝置的偏光板的吸收軸方向一致的方式，以聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜成為可視側的方式取代偏光板。前述液晶顯示裝置具有包含射出激發光的光源和KSF螢光體的背光光源。使用濱松Photonics製的多頻道分光器PMA-12測定此液晶顯示裝置的背光光源的發光光譜，結果觀察到在448nm、533nm、630nm附近具有峰頂的發光光譜，各峰頂的半值寬度為2nm~49nm。又，測定光譜之際的曝光時間設為20msec。使依此方式操作所製作的液晶顯示裝置顯示白影像，從顯示器的正面、及斜向進行目視觀察，對於虹斑的產生，依以下方式進行判定。又，觀察角度係設為從顯示器的畫面中心在法線方向(垂直)上拉出的線、和連結顯示器中心與觀察時的眼睛的位置的線的夾角。
◎：在觀察角度0~60度的範圍內，未觀察到虹斑。
○：在觀察角度0~60度的範圍內，觀察到部分淡淡的虹斑。
×：在觀察角度0~60度的範圍內，明確地觀察到虹斑。
(製造例1-聚酯A)
升溫酯化反應釜，在達到200℃時，投入對苯二甲 酸86.4質量份及乙二醇64.6質量份，一邊攪拌一邊投入作為觸媒的三氧化銻0.017質量份、醋酸鎂四水合物0.064質量份、三乙胺0.16質量份。接著，進行加壓升溫在表壓0.34MPa、240℃的條件下進行加壓酯化反應後，將酯化反應釜恢復至常壓，添加磷酸0.014質量份。進一步花15分鐘升溫至260℃，添加磷酸三甲酯0.012質量份。接著，在15分鐘後，用高壓分散機進行分散處理，15分鐘後，將所得到的酯化反應產物轉移至縮聚反應釜，在280℃、減壓下進行縮聚反應。
縮聚反應結束後，用95%截留直徑為5μm的納斯綸(naslon)製過濾器進行過濾處理，從噴嘴擠出成股線(strand)狀，使用預先進行了過濾處理(孔徑：1μm以下)的冷卻水進行冷卻、固化，切成粒料狀。所得到的聚對苯二甲酸乙二酯樹脂(A)的固有黏度為0.62dl/g，實質上不含有非活性粒子及內部析出粒子。(以下簡記為PET(A)。)
(製造例2-聚酯B)
將經乾燥的紫外線吸收劑(2,2’-(1,4-伸苯基)雙(4H-3,1-苯并-4-酮)10質量份、不含有粒子的PET(A)(固有黏度為0.62dl/g)90質量份混合，使用混練擠出機，得到含有紫外線吸收劑的聚對苯二甲酸乙二酯樹脂(B)。(以下簡記為PET(B)。)
(製造例3-接著性改質塗布液的調製)
利用常用方法進行酯交換反應和縮聚反應，調製作為二元酸成分的(相對於二元酸成分整體)對苯二甲酸46莫耳%、間苯二甲酸46莫耳%及間苯二甲酸-5-磺酸鈉8莫耳%、作為二元醇成分的(相對於二元醇成分整體)乙二醇50莫耳%及新戊二醇50莫耳%的組成的水分散性含有磺酸金屬鹽基共聚聚酯樹脂。接著，將水51.4質量份、異丙醇38質量份、正丁基溶纖劑5質量份、非離子系界面活性劑0.06質量份混合後，加熱攪拌，一旦達到77℃，加入上述水分散性含有磺酸金屬鹽基共聚聚酯樹脂5質量份，持續攪拌直至沒有樹脂的結塊後，將樹脂水分散液冷卻至常溫，得到固體成分濃度5.0質量%的均勻的水分散性共聚聚酯樹脂液。進一步將凝聚體矽石粒子(Fuji Silysia(股)公司製，Sylysia310)3質量份分散於水50質量份後，對上述水分散性共聚聚酯樹脂液99.46質量份加入Sylysia310的水分散液0.54質量份，一邊攪拌一邊加入水20質量份，得到接著性改質塗布液。
(實施例1)
將作為基材薄膜中間層用原料的不含有粒子的PET(A)樹脂粒料90質量份和含有紫外線吸收劑的PET(B)樹脂粒料10質量份在135℃下減壓乾燥(1Torr)6小時後，供給至擠出機2(中間層II層用)，此外，藉由常用方法乾燥PET(A)並分別供給至擠出機1(外層I層及外層III用)，在285℃下熔解。將這2種聚合物分別用不銹鋼燒結體的濾材(公稱過濾精度10μm粒子95%截留) 過濾，在2種3層合流塊中積層，由擠出口擠出成片狀後，使用靜電施加澆鑄法捲繞在表面溫度30℃的澆鑄鼓輪上冷卻固化，製作未拉伸薄膜。此時，以I層、II層、III層的厚度的比成為10：80：10的方式調整各擠出機的吐出量。
接著，藉由逆轉輥法在此未拉伸PET薄膜的兩面，以乾燥後的塗布量成為0.08g/m2的方式塗布上述接著性改質塗布液，然後在80℃下乾燥20秒鐘。
將形成了此塗布層的未拉伸薄膜引導至拉幅拉伸機，一邊用夾具夾住薄膜的端部，一邊引導至溫度130℃的熱風區，以在寬度方向上成為5.5倍的方式，在應變速度13.8%/sec下進行拉伸。接著，在保持在寬度方向上所拉伸好的寬度的狀態下，在溫度180℃的熱風區中進行熱處理，進一步在寬度方向上進行3%的鬆弛處理，得到薄膜厚度約60μm的單軸配向PET薄膜。
(實施例2)
將用與實施例1相同的方法所製作的未拉伸薄膜引導至拉幅拉伸機，一邊用夾具夾住薄膜的端部，一邊引導至溫度120℃的熱風區，以在寬度方向上成為5.5倍的方式，在應變速度13.8%/sec下進行拉伸。接著，在保持在寬度方向上所拉伸好的寬度的狀態下，在溫度180℃的熱風區中進行熱處理，進一步在寬度方向上進行3%的鬆弛處理，得到薄膜厚度約60μm的單軸配向PET薄膜。
(實施例3)
將用與實施例1相同的方法所製作的未拉伸薄膜引導至拉幅拉伸機，一邊用夾具夾住薄膜的端部，一邊引導至溫度118℃的熱風區，以在寬度方向上成為5.0倍的方式，在應變速度34.6%/sec下進行拉伸。接著，在保持在寬度方向上所拉伸好的寬度的狀態下，在溫度180℃的熱風區中進行熱處理，進一步在寬度方向上進行3%的鬆弛處理，得到薄膜厚度約60μm的單軸配向PET薄膜。
(實施例4)
將用與實施例1相同的方法所製作的未拉伸薄膜引導至拉幅拉伸機，一邊用夾具夾住薄膜的端部，一邊引導至溫度107℃的熱風區，以在寬度方向上成為5.0倍的方式，在應變速度34.6%/sec下進行拉伸。接著，在保持在寬度方向上所拉伸好的寬度的狀態下，在溫度180℃的熱風區中進行熱處理，進一步在寬度方向上進行3%的鬆弛處理，得到薄膜厚度約60μm的單軸配向PET薄膜。
(實施例5)
將用除了改變厚度外與實施例1相同的方法所製作的未拉伸薄膜引導至拉幅拉伸機，一邊用夾具夾住薄膜的端部，一邊引導至溫度125℃的熱風區，以在寬度方向上成為5.5倍的方式，在應變速度18.3%/sec下進行拉伸。接著，在保持在寬度方向上所拉伸好的寬度的狀態下，在溫度180℃的熱風區中進行熱處理，進一步在寬 度方向上進行3%的鬆弛處理，得到薄膜厚度約50μm的單軸配向PET薄膜。
(實施例6)
將用與實施例1相同的方法所製作的未拉伸薄膜引導至拉幅拉伸機，一邊用夾具夾住薄膜的端部，一邊引導至溫度130℃的熱風區，以在寬度方向上成為5.5倍的方式，在應變速度13.8%/sec下進行拉伸。接著，在保持在寬度方向上所拉伸好的寬度的狀態下，在溫度200℃的熱風區中進行熱處理，進一步在寬度方向上進行3%的鬆弛處理，得到薄膜厚度約60μm的單軸配向PET薄膜。
(實施例7)
將用與實施例1相同的方法所製作的未拉伸薄膜引導至拉幅拉伸機，一邊用夾具夾住薄膜的端部，一邊引導至溫度120℃的熱風區，以在寬度方向上成為6.0倍的方式，在應變速度20.8%/sec下進行拉伸。接著，在保持在寬度方向上所拉伸好的寬度的狀態下，在溫度180℃的熱風區中進行熱處理，進一步在寬度方向上進行3%的鬆弛處理，得到薄膜厚度約50μm的單軸配向PET薄膜。
(比較例1)
將用與實施例1相同的方法所製作的未拉伸薄膜引導至拉幅拉伸機，一邊用夾具夾住薄膜的端部，一邊引導至溫度90℃的熱風區，以在寬度方向上成為4.0倍的 方式，在應變速度12.5%/sec下進行拉伸。接著，在保持在寬度方向上所拉伸好的寬度的狀態下，在溫度180℃的熱風區中進行熱處理，進一步在寬度方向上進行3%的鬆弛處理，得到薄膜厚度約60μm的單軸配向PET薄膜。
(比較例2)
將用與實施例1相同的方法所製作的未拉伸薄膜引導至拉幅拉伸機，一邊用夾具夾住薄膜的端部，一邊引導至溫度130℃的熱風區，以在寬度方向上成為5.5倍的方式，在應變速度13.8%/sec下進行拉伸。接著，在保持在寬度方向上所拉伸好的寬度的狀態下，在溫度240℃的熱風區中進行熱處理，進一步在寬度方向上進行3%的鬆弛處理，得到薄膜厚度約60μm的單軸配向PET薄膜。
將針對在實施例、比較例所得到的PET薄膜進行測定的結果顯示在表1。
[產業上之可利用性]
若為本發明的液晶顯示裝置、偏光板及偏光鏡保護薄膜的話，則即使是在因液晶顯示裝置的廣色域化所產生的背光光源的波長光譜的多樣化、或將偏光鏡保護薄膜薄膜化的情況下，也能夠抑制虹斑。

Claims (4)

  1. 一種偏光鏡保護薄膜，其係包含滿足下述的(1)及(2)的聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜，(1)延遲量為3000nm以上30000nm以下，(2)用下式所表示的剛性非晶分率(rigid amorphous fraction)為33wt%以上，(剛性非晶分率(wt%))=100-(可動非晶分率(mobile amorphous fraction)(wt%))-(質量分率結晶化度(wt%))。
  2. 如請求項1的偏光鏡保護薄膜，其中該聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂薄膜進一步滿足下述(3)：(3)用X射線繞射測定的(100)面之相對於薄膜面的配向度為0.7以下。
  3. 一種偏光板，其在偏光鏡的至少一面積層如請求項1或2的偏光鏡保護薄膜。
  4. 一種液晶顯示裝置，其係具有背光光源、2個偏光板、及配置在該2個偏光板之間的液晶單元的液晶顯示裝置，該2個偏光板當中，至少一者為如請求項3的偏光板。
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