TW201833586A

TW201833586A - 中子束檢測系統及中子束檢測系統的設定方法

Info

Publication number: TW201833586A
Application number: TW107104964A
Authority: TW
Inventors: 赤堀清崇
Original assignee: 日商住友重機械工業股份有限公司
Priority date: 2017-03-02
Filing date: 2018-02-12
Publication date: 2018-09-16
Also published as: US20180252826A1; CN108525139A; EP3370088B1; CN108525139B; TWI666464B; JP2018146298A; JP6742259B2; US10082587B1; EP3370088A1

Abstract

[課題]提供一種能夠將判定閾值設定為適當的值之中子束檢測系統及中子束檢測系統的設定方法。　　[解決手段]藉由獲取只有中子束(N)的中子束波高分布及只有包括在放射線中之伽馬射線的伽馬射線波高分布，能夠掌握在設定某種判定閾值Q_th 之情形下多少量的伽馬射線被檢測為干擾。亦即，能夠掌握判定閾值Q_th 與檢測精度之間的關係。又，中子束波高分布及伽馬射線波高分布係依據使用截止中子束(N)的濾波器(51)之情形和未使用該濾波器之情形下的兩次測量來獲取者，故此能夠準確地掌握判定閾值Q_th 與檢測精度之間的關係。故此，判定閾值調整部(43)能夠依據中子束波高分布及伽馬射線波高分布，配合所請求之檢測精度來調整適當的判定閾值Q_th 。

Description

中子束檢測系統及中子束檢測系統的設定方法

[0001] 本發明係有關一種中子束檢測系統及中子束檢測系統的設定方法。

[0002] 作為辨別中子束和伽瑪射線的技術，有專利文獻1中所記載的技術。在專利文獻1之系統中，依據檢測到之訊號的波形，辨別因中子束所致的訊號和因伽瑪射線所致的訊號。又，該系統設定既定的判定閾值，將檢測到之訊號中的波高超過判定閾值者作為與中子束有關之訊號。〔先前技術文獻〕 [專利文獻] 　　[0003] 　　〔專利文獻1〕國際公開第2014/192321號專利公報

〔發明欲解決之課題〕　　[0004] 依據判定閾值的設定，有時波高超過判定閾值之訊號中還包含伽瑪射線的訊號。亦即，依據判定閾值的設定，有時伽馬射線被檢測為干擾而無法獲得足夠的檢測精度。另一方面，若過度提高檢測精度，則存在中子束的檢測效率下降之情形。　　[0005] 故此，本發明的目的為提供一種能夠將判定閾值設定為適當的值之中子束檢測系統及中子束檢測系統的設定方法。〔解決課題之手段〕　　[0006] 有關本發明之檢測中子束之中子束檢測系統，具備：閃爍體，若射入放射線則產生光；光纖，傳輸由閃爍體產生之光；辨別部，接收藉由光纖傳輸之光，在與所接收之光有關之檢測訊號的波高超過判定閾值時，將檢測訊號辨別為與中子束有關之訊號；及判定閾值設定部，設定判定閾值；判定閾值設定部具備：檢測訊號獲取部，獲取第1檢測訊號及第2檢測訊號，該第1檢測訊號為經由截止中子束之濾波器而射入到閃爍體之放射線的檢測訊號，該第2檢測訊號為未經由濾波器而射入到閃爍體之放射線的檢測訊號；波高分布獲取部，依據基於第1檢測訊號的波高分布與基於第2檢測訊號的波高分布的差量，來獲取只有中子束的中子束波高分布及只有包括在放射線中之伽瑪射線的伽馬射線波高分布；及判定閾值調整部，依據中子束波高分布及伽馬射線波高分布，調整判定閾值。　　[0007] 在該中子束檢測系統中，與來自受光之閃爍體的光有關之檢測訊號的波高超過判定閾值時，辨別部將檢測訊號辨別為與中子束有關之訊號。設定這樣的判定閾值的判定閾值設定部具備檢測訊號獲取部，該檢測訊號獲取部獲取第1檢測訊號及第2檢測訊號，該第1檢測訊號為經由截止中子束之濾波器而射入到閃爍體之放射線的檢測訊號，該第2檢測訊號為未經由濾波器而射入到閃爍體之放射線的檢測訊號。又，判定閾值設定部具備波高分布獲取部，該波高分布獲取部依據基於第1檢測訊號的波高分布與基於第2檢測訊號的波高分布的差量，來獲取只有中子束的中子束波高分布及只有包括在放射線中之伽瑪射線的伽馬射線波高分布。如此，藉由獲取只有中子束的中子束波高分布和只有包括在放射線中之伽瑪射線的伽瑪射線波高分布，能夠掌握在設定某種判定閾值之情形下多少量的伽瑪射線被檢測為干擾。亦即，能夠掌握判定閾值與檢測精度之間的關係。又，中子束波高分布及伽馬射線波高分布係依據使用截止中子束之濾波器之情形和未使用該濾波器之情形下的兩次測量來獲取者，故此能夠準確地掌握判定閾值與檢測精度之間的關係。故此，判定閾值調整部能夠依據中子束波高分布及伽馬射線波高分布，配合所請求之檢測精度來調整適當的判定閾值。依據以上，能夠將判定閾值設定為適當的值。　　[0008] 在中子束檢測系統中，判定閾值設定部還具備獲取所請求之檢測精度之請求檢測精度獲取部，判定閾值調整部可以藉由比較波高超過判定閾值之伽馬射線的量與由請求檢測精度獲取部獲取之檢測精度，來調整判定閾值。藉此，判定閾值調整部能夠調整如與由使用者所請求之檢測精度相匹配般的判定閾值。　　[0009] 在中子束檢測系統中，波高分布獲取部可以考慮到獲取第1檢測訊號時的放射線的照射量與獲取第2檢測訊號時的放射線的照射量之差，來獲取中子束波高分布及伽馬射線波高分布。如此，藉由考慮使用截止中子束之濾波器之情形和未使用該濾波器之情形下的兩次測量之間的放射線的照射量的差異，能夠更準確地獲取中子束波高分布及伽馬射線波高分布。　　[0010] 中子束檢測系統中，還具備控制放射線的照射量之照射控制部，照射控制部可以使獲取第1檢測訊號時的放射線的照射量與獲取第2檢測訊號時的放射線的照射量相等。如此，藉由使使用截止中子束之濾波器之情形和未使用該濾波器之情形下的兩次測量之間的放射線的照射量相等，能夠更準確地獲取中子束波高分布和伽馬射線波高分布。　　[0011] 有關本發明之中子束檢測系統的設定方法為檢測中子束之中子束檢測系統的設定方法，中子束檢測系統具備：閃爍體，若射入放射線則產生光；光纖，傳輸由閃爍體產生之光；及辨別部，接收藉由光纖傳輸之光，在與所接收之光有關之檢測訊號的波高超過判定閾值時，將檢測訊號辨別為與中子束有關之訊號；設定方法具備：檢測訊號獲取程序，獲取第1檢測訊號及第2檢測訊號，該第1檢測訊號為經由截止中子束之濾波器而射入到閃爍體之放射線的檢測訊號，該第2檢測訊號為未經由濾波器而射入到閃爍體之放射線的檢測訊號；波高分布獲取程序，依據第1檢測訊號與第2檢測訊號的差量，來獲取只有中子束的中子束波高分布及只有包括在放射線中之伽馬射線的伽馬射線波高分布；及判定閾值調整程序，依據中子束波高分布及伽馬射線波高分布，來調整判定閾值。　　[0012] 依據該中子束檢測系統的設定方法，能夠獲得與上述中子束檢測系統相同之作用、效果。　　[0013] 有關本發明之中子束檢測系統為檢測中子束之中子束檢測系統，具備：閃爍體，若射入放射線則產生光；光纖，傳輸由閃爍體產生之光；辨別部，接收藉由光纖傳輸之光，在與所接收之光有關之檢測訊號的波高超過判定閾值時，將檢測訊號辨別為與中子束有關之訊號；顯示部，顯示資訊；及判定閾值設定部，設定判定閾值；顯示部顯示引導檢測精度的輸入之通知，並在判定閾值設定部依據所輸入之檢測精度設定判定閾值之後，顯示所設定之判定閾值。　　[0014] 依據中子束檢測系統，使用者若按照顯示部的顯示而輸入檢測精度，則能夠經由顯示部的顯示來知道由判定閾值設定部依據該檢測精度設定之判定閾值。藉此，使用者能夠藉由遵循所需的檢測精度之適當的判定閾值來檢測中子束。〔發明效果〕　　[0015] 依據本發明，能夠提供一種能夠將判定閾值設定為適當的值之中子束檢測系統及中子束檢測系統的設定方法。

[0017] 以下，參閱圖式詳細說明本發明之適合的實施形態。　　[0018] 圖1所示之中子捕捉療法裝置1為進行使用了硼中子捕捉療法(BNCT：Boron Neutron Capture Therapy)之癌症治療之裝置。在中子捕捉療法裝置1中，例如對被施用硼(¹⁰ B)之患者(被照射體)50的腫瘤照射中子束N。　　[0019] 中子捕捉療法裝置1具備迴旋加速器2。迴旋加速器2乃是加速陰離子等帶電粒子以生成帶電粒子束R之加速器。在本實施形態中，帶電粒子束R係從陰離子剝離電荷而生成之質子束。該迴旋加速器2例如具有生成束半徑為40mm、60kW(=30MeV×2mA)的帶電粒子束R之能力。另外，加速器不限於迴旋加速器，可以為同步加速器、同步迴旋加速器、直線加速器等。　　[0020] 從迴旋加速器2射出之帶電粒子束R被送到中子束生成部M。中子束生成部M包括射束導管3和靶7。從迴旋加速器2射出之帶電粒子束R通過射束導管3並朝向配置於射束導管3的端部之靶7行進。沿該射束導管3設有複數個四極電磁體4、電流監視器5及掃描電磁體6。複數個四極電磁體4為例如使用電磁體來調整帶電粒子束R的射束軸者。　　[0021] 電流監視器5係即時檢測照射到靶7之帶電粒子束R的電流值(亦即，電荷、照射劑量率)者。作為電流監視器5，使用不影響帶電粒子束R而能夠進行電流測量的非破壞型DCCT(直流比流器：DC Current Transformer)。電流監視器5將檢測結果輸出到後述之控制部20。另外，「劑量率」是指每單位時間的劑量。　　[0022] 具體而言，關於電流監測器5，為了精確地檢測照射到靶7之帶電粒子束R的電流值，應排除因四極電磁體4所致的影響，而設置在四極電磁體4的下游側(帶電粒子束R的下游側)且在掃描電磁體6的稍前處。亦即，掃描電磁體6對靶7進行掃描為了避免老是對相同的部位照射帶電粒子束R，所以在掃描電磁體6的下游側配設電流監視器5方面，需要大型的電流監視器5。相對於此，藉由在掃描電磁體6的上游側設置電流監視器5，能夠使電流監視器5小型化。　　[0023] 掃描電磁體6對帶電粒子束R進行掃描，且控制帶電粒子束R對靶7的照射。該掃描電磁體6控制帶電粒子束R對靶7的照射位置。　　[0024] 中子捕捉療法裝置1藉由對靶7照射帶電粒子束R來產生中子束N，向患者50射出中子束N。中子捕捉療法裝置1具備：靶7、屏蔽體9、減速材料8、準直器10及伽馬射線檢測部11。　　[0025] 又，中子捕捉療法裝置1具備控制部20(參閱圖2及圖3)。控制部20利用CPU[中央處理單元：Central Processing Unit]、ROM[唯讀記憶體：Read Only Memory]、RAM[隨機存取記憶體：Random Access Memory]等所構成，並且係綜合地控制中子捕捉療法裝置1之電子控制單元。關於控制部20的詳細構成，後述之。　　[0026] 靶7乃是接受帶電粒子束R的照射而生成中子束N者。在此，靶7例如利用鈹(Be)、鋰(Li)、鉭(Ta)、鎢(W)所形成，且例如呈直徑為160mm的圓板狀。另外，靶7不限於圓板狀，可以為其他形狀。又，靶7不限於固態狀，可以為液態狀。　　[0027] 減速材料8為使在靶7生成之中子束N的能量減速者。減速材料8具有積層構造，該積層構造包括主要使中子束N中所包含之高速中子減速之第1減速材料8A和主要使中子束N中所包含之超熱中子減速之第2減速材料8B。　　[0028] 屏蔽體9屏蔽所產生之中子束N及隨著該中子束N的產生而生成之伽馬射線等，以免其被放出到外部。屏蔽體9以包圍減速材料8之方式設置。屏蔽體9的上部及下部延伸到比減速材料8更靠帶電粒子束R的上游側，在該等延伸部設置有伽馬射線檢測部11。　　[0029] 準直器10乃是對中子束N的照射場進行整形者，並具有中子束N所通過之開口10a。準直器10為例如在中央具有開口部10a之塊狀構件。　　[0030] 伽瑪射線檢測部11藉由帶電粒子束R的照射，即時檢測從中子束生成部M產生之伽瑪射線。作為伽瑪射線檢測部11，能夠採用閃爍體或電離室、其他各種伽馬射線檢測設備。在本實施形態中，在靶7的周圍比減速材料8更靠帶電粒子束R的上游側設置伽馬射線檢測部11。　　[0031] 伽瑪射線檢測部11分別配置在向帶電粒子束R的上游側延伸之屏蔽體9的上部及下部的內側。另外，伽瑪射線檢測部11的數量沒有特別限定，可以為一個，亦可以為三個以上。當設置三個以上伽馬射線檢測部11時，能夠以包圍靶7的外周之方式，離既定間隔來設置。伽馬射線檢測部11將伽馬射線的檢測結果輸出到控制部20。亦可以為不具備該伽馬射線檢測部11之構成。　　[0032] 接著，參閱圖2及圖3，說明有關本實施形態之中子束檢測系統100的構成。　　[0033] 如圖2所示，中子束檢測系統100具備：中子束檢測器12、控制部20、顯示部31及輸入部32。　　[0034] 在準直器10中設置有中子束檢測器12，該中子束檢測器用於即時檢測通過準直器10的開口10a之中子束N。關於中子束檢測器12，係至少一部分設置在形成於準直器10的貫通孔10b(沿與開口10a正交之方向形成之貫通孔)中。中子束檢測器12具有：閃爍體13，光纖14及光檢測器15。　　[0035] 閃爍體13係將射入之放射線(中子束N、伽瑪射線)轉換成光之螢光體。閃爍體13係內部晶體依據射入之放射線的劑量而成為激發態，並產生閃爍光。閃爍體13設置在準直器10的貫通孔10b內，並在準直器10的開口10a露出。閃爍體13係藉由開口10a內的中子束N或伽瑪射線射入到閃爍體13而進行發光。閃爍體13方面，能夠採用⁶ Li玻璃閃爍體、LiCAF閃爍體、塗佈了⁶ LiF的塑膠閃爍體、⁶ LiF/ZnS閃爍體等。　　[0036] 光纖14乃是傳遞由閃爍體13產生之光的構件。光纖14例如由柔性光纖束等構成。光檢測器15係檢測通過光纖14而被傳遞的光。　　作為光檢測器15，例如能夠採用光電倍增管或光電管等各種光檢測器。光檢測器15在檢測光時向控制部20輸出電訊號(檢測訊號)。　　[0037] 顯示部31乃是對使用者顯示各種資訊之設備。作為顯示部31採用顯示器等。在存在欲使使用者輸入之資訊之情形下，顯示部31對使用者顯示引導資訊的輸入之通知。例如，顯示部31顯示引導使用者所請求之中子束的檢測精度的輸入之通知。又，顯示部31接受該輸入以顯示由控制部20運算出之結果。例如，在控制部20依據所輸入之檢測精度設定判定閾值之後，顯示部31顯示該判定閾值。輸入部32乃是由使用者進行各種輸入之設備。輸入部32利用鍵盤、滑鼠、觸控螢幕等來構成。　　[0038] 如圖3所示，控制部20具有：劑量計算部21，照射控制部22及判定閾值設定部40。控制部20，係與電流監視器5、掃描電磁體6、伽瑪射線檢測部11及光檢測器15(中子束檢測器12)、顯示部31及輸入部32電性連接。　　[0039] 劑量計算部21依據基於電流監視器5的帶電粒子束R的電流值的檢測結果，來即時測量(計算)照射到靶7的帶電粒子束R的劑量。劑量計算部21係對時間逐次積分所測量出之帶電粒子束R的電流值，並即時計算帶電粒子束R的劑量。　　[0040] 又，劑量計算部21依據基於伽馬射線檢測部11的伽瑪射線的檢測結果來即時測量(計算)伽馬射線的劑量。　　[0041] 另外，劑量計算部21依據基於中子束檢測器12的中子束N的檢測結果，測量(計算)通過準直器10的開口10a之中子束N的劑量。劑量計算部21從光檢測器15接收檢測訊號，並辨別與中子束有關之訊號和與伽馬射線有關之訊號(詳細內容後述之)。劑量計算部21與光檢測器15一起構成辨別部。　　[0042] 劑量計算部21依據計算出的帶電粒子束R的劑量、伽瑪射線的劑量及中子束N的劑量，綜合地即時計算靶7中所產生之中子束N的劑量。中子束N的劑量等基於劑量計算部21之計算結果，係例如顯示於顯示部31。　　[0043] 照射控制部22係依據藉由劑量計算部21計算出的中子束N的劑量，控制帶電粒子束R對靶7的照射。照射控制部22向迴旋加速器2及掃描電磁體6發送指令訊號並控制帶電粒子束R對靶7的照射，藉此控制由靶7生成之中子束N對患者的照射。照射控制部22以使由劑量計算部21計算之中子束N的劑量按照已設定之治療計劃之方式，進行中子束N的照射控制。　　[0044] 劑量計算部21判定與由光檢測器15接收之與光有關之檢測訊號的波高(光量)是否超過判定閾值Qth，並辨別因中子束N所致的檢測訊號與因伽馬射線所致的檢測訊號。在閃爍體13中，射入中子束N和伽馬射線作為放射線的緣故，所以依據光量的強度辨別中子束N和伽馬射線。　　[0045] 判定閾值設定部40係設定上述的判定閾值Q_th 。在此，用於求出判定閾值Q_th 之判定閾值計算公式表示為「Q_th =P_N -аσ」。「P_N 」表示因中子束N所致的峰值。「σ」表示由中子引起之分布的標準偏差。「а」表示相對於σ的係數。亦即，判定閾值Q_th 被設定為比起因中子束N所致的峰值P_N 僅低аσ的值。在此，在峰值P_N 附近且波高較高的區域包含大量的中子束N，隨著向波高較低的區域行進，伽瑪射線增加。故此，若將係數a設定為較大，則判定閾值Q_th 變低，故此波高高於該判定閾值Q_th 的伽瑪射線增加。藉此，由於伽瑪射線容易被錯誤地辨別為中子束N，所以檢測精度下降。但是，雖然檢測精度下降，但被檢測到的中子束N的事件數本身亦增加，故此檢測效率得到提高。另一方面，若將係數a設定為較小，則判定閾值Q_th 變高，所以波高高於該判定閾值Q_th 的伽瑪射線減少。藉此，被錯誤地辨別為中子束N之伽瑪射線減少，所以檢測精度得到提高。但是，雖然檢測精度得到提高，但被檢測之中子束N的事件數本身亦減少，故此檢測效率下降。經由以上，判定閾值設定部40依據由使用者請求之檢測精度，調整係數а，藉此設定最佳的判定閾值Q_th 。　　[0046] 具體而言，判定閾值設定部40具備：檢測訊號獲取部41、波高分布獲取部42、判定閾值調整部43及請求檢測精度獲取部44。　　[0047] 檢測訊號獲取部41獲取來自光檢測器15的檢測訊號。在此，在本實施形態中，設定判定閾值Q_th 時，進行兩次中子束的照射，藉此檢測訊號獲取部41獲取第1檢測訊號及第2檢測訊號這兩種的檢測訊號。在第一次照射中，在設置成截止中子束N的濾波器51覆蓋光纖13之狀態下進行中子束N的照射(參閱圖2(b))。藉此，檢測訊號獲取部41獲取作為經由濾波器51射入到閃爍體13之放射線的檢測訊號的第1檢測訊號。在第二次照射中，在去除了濾波器51之狀態下進行中子束N的照射(參閱圖2(a))。藉此，檢測訊號獲取部41獲取作為未經由濾波器51而射入到閃爍體13之放射線的檢測訊號的第2檢測訊號。　　[0048] 濾波器51的材料係六氟化鋰、氟化鋰等吸收中子束時不放出伽瑪射線者為佳。或者，濾光器51的材料可以為如鎘般放出伽馬射線的能量為低者。濾波器51的厚度設定為較薄以不強烈地吸收伽馬射線的程度者為佳。　　[0049] 波高分布獲取部42依據基於第1檢測訊號的波高分布與基於第2檢測訊號的波高分布的差量，來獲取只有中子束N的中子束波高分布及只有包括在放射線中之伽瑪射線的伽馬射線波高分布。波高分布獲取部42考慮到獲取第1檢測訊號時的放射線的照射量與獲取第2檢測訊號時的放射線的照射量之差，來獲取中子束波高分布及伽馬射線波高分布。關於中子束波高分布及伽馬射線波高分布的獲取方法的詳細內容，後述之。　　[0050] 判定閾值調整部43依據中子束波高分布及伽馬射線波高分布，來調整判定閾值Q_th 。判定閾值調整部43藉由比較波高超過判定閾值Q_th 之伽瑪射線的量與由請求檢測精度獲取部44獲取之檢測精度，來調整判定閾值Q_th 。關於判定閾值Q_th 的調整方法的詳細內容，後述之。　　[0051] 請求檢測精度獲取部44，係獲取所請求之檢測中子束時的檢測精度。請求檢測精度獲取部44獲取由使用者藉由輸入部32輸入之請求檢測精度。　　[0052] 接著，參閱圖4～圖7，說明有關判定閾值設定部40的判定閾值Q_th 的設定方法。但是，判定閾值Q_th 的設定方法不限定於以下內容，可以在不變更主旨的範圍內進行適當變更。　　[0053] 如圖4所示，請求檢測精度獲取部44係進行請求檢測精度的輸入引導，並且獲取所輸入之檢測精度(步驟S10)。在S10中，請求檢測精度獲取部44將訊號輸出到顯示部31，並在該顯示部31顯示引導所請求之檢測精度的輸入之通知。又，在由使用者經由輸入部32輸入請求檢測精度之情形下，請求檢測精度獲取部44獲取請求檢測精度。　　[0054] 接著，檢測訊號獲取部41為了獲取第1檢測訊號而引導使用者進行第一次測量(步驟S20)。在S20中，顯示部31顯示進行第一次測量之引導。藉此，如圖2(b)所示，使用者在由截止中子束N的濾波器51覆蓋閃爍體13之狀態下進行中子束N的照射。在經過既定時間後，檢測訊號獲取部41詢問第一次測量是否結束(步驟S30)。在S30中，顯示部31顯示詢問第一次測量是否結束的內容。在第一次測量結束之情形下，使用者對輸入部32輸入測量結束的內容。　　[0055] 接著，檢測訊號獲取部41為了獲取第2檢測訊號，引導使用者進行第二次測量(步驟S40)。在S40中，顯示部31顯示進行第二次測量之引導。藉此，如圖2(a)所示，使用者在從閃爍體13卸下濾波器51之狀態下進行中子束N的照射。在經過既定時間後，檢測訊號獲取部41詢問第二次測量是否結束(步驟S50)。在S50中，顯示部31顯示詢問第二次測量是否結束的內容。在第二次測量結束之情形下，使用者對輸入部32輸入測量結束的內容。另外，用於獲取第1檢測訊號之測量及用於獲取第2檢測訊號之測量中，可以優先進行任一測量。　　[0056] 接著，檢測訊號獲取部41檢測由在S20、S30之間進行之第一次測量獲得之第1檢測訊號，並獲取由在S40、S50之間進行之第二次測量獲得之第2檢測訊號(步驟S60：檢測訊號獲取程序)。藉此，檢測訊號獲取部41藉由計算中子束N被濾波器51截止之第1檢測訊號的波高，獲取例如圖5之由「f_LiF 」表示的波高分布的曲線。檢測訊號獲取部41藉由計算中子束N未被濾波器51截止之第2檢測訊號的波高，獲取例如圖5的由「f_normal 」表示之波高分布的曲線。　　[0057] 接著，波高分布獲取部42獲取中子束波高分布及伽馬射線波高分布(步驟S70：波高分布獲取程序)。在S70中，波高分布獲取部42依據在S60中獲取之基於第1檢測訊號的波高分布f_LiF 與基於第2檢測訊號的波高分布f_normal 的差量，來獲取中子束波高分布及伽瑪射線波高分布。又，在S70中，波高分布獲取部42考慮到獲取第1檢測訊號時的放射線的照射量與獲取第2檢測訊號時的放射線的照射量之差，來獲取中子束波高分布及伽馬射線波高分布。　　[0058] 具體而言，波高分布獲取部42在波高分布f_normal 中提取僅包含伽馬射線之區域，設定「x_{γ_min} ～x_{γ_max} 」作為該區域的波高的範圍(參閱圖5)。接著，波高分布獲取部42定義下述式(1)所示之公式，並藉由迭代求出如使dγ最小般的α(=α_opt )。在此，定義為「f_{LiF_scaled} =α_opt ·f_LiF 」。關於這樣的波高分布f_{LiF_scaled} ，係以獲取第1檢測訊號時的放射線的照射量與獲取第2檢測訊號時的放射線的照射量一致之方式，對波高分布f_LiF 進行處理而得者。故此，波高分布獲取部42藉由求出波高分布f_normal 與波高分布f_{LiF_scaled} 的差量，來獲取作為只有中子束的波高分布的中子束波高分布f_n (參閱圖5)。　　[0059][0060] 接著，波高分布獲取部42在波高分布f_normal 中提取僅包含中子束N之區域，設定「x_{n_min} ～x_{n_max} 」作為該區域的波高的範圍(參閱圖6)。接著，波高分布獲取部42定義下述式(2)所示之公式，並藉由迭代求出如使dn最小般的β(=β_opt )。在此，定義為「f_{n_scaled} =β_opt ·f_n 」。這樣的波高分布f_{n_scaled} ，係以獲取第1檢測訊號時的放射線的照射量與獲取第2檢測訊號時的放射線的照射量一致之方式，對波高分布f_n 進行處理而得者。故此，波高分布獲取部42藉由求出波高分布f_normal 與波高分布f_{n_scaled} 的差量，來獲取作為只有伽馬射線的波高分布的伽馬射線波高分布f_γ (參閱圖6)。　　[0061][0062] 接著，判定閾值調整部43進行判定閾值Q_th 的調整，以使判定閾值Q_th 成為與請求檢測精度相對應者(步驟S80：判定閾值調整程序)。首先，判定閾值調整部43在臨時將係數a設為任意的值之後，利用「Q_th =P_N -aσ」這樣的公式臨時計算判定閾值Q_th 。接著，判定閾值調整部43利用式(3)依據伽馬射線波高分布f_γ 計算具有臨時的判定閾值Q_th 以上的波高之事件的總數。藉此，計算出成為判定閾值Q_th 以上的波高之伽馬射線的事件數(稱為第1值)。判定閾值調整部43利用式(4)依據波高分布f_normal 計算具有臨時的判定閾值Q_th 以上的波高之事件的總數(稱為第2值)。又，判定閾值調整部43將第1值除以第2值而得之值設為檢測精度P。接著，判定閾值調整部43藉由比較請求檢測精度和計算出的檢測精度P，來確認判定閾值Q_th 是否滿足使用者的請求檢測精度。不滿足請求檢測精度時，將係數a的值設定為其他值，再次計算使用了上述式(3)及式(4)之檢測精度P。判定閾值調整部43持續進行這樣的處理，直至檢測精度P與使用者所請求之請求檢測精度一致。例如，如圖7所示，隨著使係數a的值減小而檢測精度P提高(%減少)，故此判定閾值調整部43選擇如與請求檢測精度一致般的係數a。　　[0063][0064] 接著，判定閾值調整部43藉由顯示部31顯示最佳化之判定閾值Q_th (步驟S90)。又，控制部20將最佳化之判定閾值Q_th 輸出到劑量計算部21(步驟S100)。依據以上，圖4所示之處理結束。　　[0065] 接著，說明有關對本實施形態之中子束檢測系統100及中子束檢測系統100的設定方法的作用、效果。　　[0066] 本實施形態之中子束檢測系統100中，與來自受光之閃爍體13的光有關之檢測訊號的波高超過判定閾值Q_th 時，辨別部也就是劑量計算部21係將檢測訊號辨別為與中子束N有關之訊號。設定這樣的判定閾值Q_th 的判定閾值設定部40具備檢測訊號獲取部41，該檢測訊號獲取部獲取作為經由截止中子束N的濾波器51而射入到閃爍體13之放射線的檢測訊號的第1檢測訊號、及作為未經由濾波器51而射入到閃爍體13之放射線的檢測訊號的第2檢測訊號。又，判定閾值設定部40具備波高分布獲取部42，該波高分布獲取部依據基於第1檢測訊號的波高分布與基於第2檢測訊號的波高分布的差量，來獲取只有中子束N的中子束波高分布及只有包括在放射線中之伽瑪射線的伽馬射線波高分布。如此，藉由獲取只有中子束N的中子束波高分布及只有包括在放射線中之伽瑪射線的伽馬射線波高分布，能夠掌握在設定某種判定閾值Q_th 之情形下多少量的伽瑪射線被檢測為干擾。亦即，能夠掌握判定閾值Q_th 與檢測精度之間的關係。又，中子束波高分布及伽馬射線波高分布係依據使用截止中子束N的濾波器51之情形和未使用該濾波器之情形下的兩次測量來獲取者，故此能夠準確地掌握判定閾值Q_th 與檢測精度之間的關係。故此，判定閾值調整部43能夠依據中子束波高分布及伽馬射線波高分布，配合所請求之檢測精度來調整適當的判定閾值Q_th 。依據以上，能夠將判定閾值Q_th 設定為適當的值。　　[0067] 在中子束檢測系統100中，判定閾值設定部40還具備獲取所請求之檢測精度之請求檢測精度獲取部44，判定閾值調整部43可以藉由比較波高超過判定閾值之伽馬射線的量與由請求檢測精度獲取部44獲取之檢測精度，來調整判定閾值。藉此，判定閾值調整部43能夠調整如與由使用者所請求之檢測精度相匹配般的判定閾值Q_th 。　　[0068] 在中子束檢測系統100中，波高分布獲取部42可以考慮到獲取第1檢測訊號時的放射線的照射量與獲取第2檢測訊號時的放射線的照射量之差，來獲取中子束波高分布及伽馬射線波高分布。如此，藉由考慮使用截止中子束N的濾波器51之情形和未使用該濾波器之情形下的兩次測量之間的放射線的照射量的差異，能夠更準確地獲取中子束波高分布和伽馬射線波高分布。　　[0069] 又，中子束檢測系統的設定方法係檢測中子束N之中子束檢測系統100的設定方法，前述設定方法中，中子束檢測系統100具備：閃爍體13，若射入放射線則產生光；光纖14，傳輸由閃爍體13產生之光；及辨別部，接收藉由光纖14傳輸之光，與所接收之光有關之檢測訊號的波高超過判定閾值Q_th 時，將檢測訊號辨別為與中子束N有關之訊號。設定方法具備：檢測訊號獲取程序，獲取第1檢測訊號及第2檢測訊號，前述第1檢測訊號為經由截止中子束之濾波器51而射入到閃爍體13之放射線的檢測訊號，前述第2檢測訊號為未經由濾波器51而射入到閃爍體13之放射線的檢測訊號；波高分布獲取程序，依據第1檢測訊號與第2檢測訊號的差量，來獲取只有中子束的中子束波高分布及只有包括在放射線中之伽馬射線的伽馬射線波高分布；及判定閾值調整程序，依據中子束波高分布及伽馬射線波高分布，來調整判定閾值。　　[0070] 依據該中子束檢測系統100的設定方法，能夠獲得與上述中子束檢測系統100相同之作用、效果。　　[0071] 又，中子束檢測系統100係檢測中子束之中子束檢測系統，前述中子束檢測系統具備：閃爍體13，若射入放射線則產生光；光纖14，傳輸由閃爍體13產生之光；辨別部，接收藉由光纖14傳輸之光，與所接收之光有關之檢測訊號的波高超過判定閾值Q_th 時，將檢測訊號辨別為與中子束有關之訊號；顯示部31，顯示資訊；及判定閾值設定部40，設定判定閾值Q_th 。顯示部31顯示引導檢測精度的輸入之通知，並顯示由判定閾值設定部40依據所輸入之檢測精度設定之判定閾值。　　[0072] 依據該中子束檢測系統100，使用者若按照顯示部31的顯示而輸入檢測精度，則能夠經由顯示部31的顯示來知道由判定閾值設定部40依據該檢測精度設定之判定閾值Q_th 。藉此，使用者能夠藉由遵循所需的檢測精度之適當的判定閾值來檢測中子束。　　[0073] 本發明並不限定於上述的實施形態。　　[0074] 例如，上述的實施形態中，使用者進行了用於獲取第1檢測訊號及第2檢測訊號的測量。取而代之，可以使各測量全部自動化。亦即，控制部20可以在測量準備完成之後自動進行放射線的照射。此時，可以由使用者進行濾波器51的更換。或者，可以在濾波器51設置驅動部而使濾波器51的更換亦自動進行。　　[0075] 又，上述的實施形態中，使用者進行用於獲取第1檢測訊號及第2檢測訊號的測量。亦即，各測量中的照射量中存在有差。故此，相對於依據檢測訊號獲得之波高分布，進行了與照射量對應之處理。取而代之，中子束檢測系統100中，還具備控制放射線的照射量之照射控制部22，照射控制部22可以使獲取第1檢測訊號時的放射線的照射量與獲取第2檢測訊號時的放射線的照射量相等。如此，藉由使使用截止中子束之濾波器51之情形和未使用該濾波器之情形下的兩次測量之間的放射線的照射量相等，能夠更準確地獲取中子束波高分布和伽馬射線波高分布。　　[0076] 又，上述實施形態中，將中子束檢測系統適用於中子捕捉療法裝置1，但並不限定中子束檢測系統的用途。例如，作為對核反應堆的運行狀態進行監控的監視器，可以應用本發明的中子束檢測系統。又，可以在測量物理實驗中使用之加速中子時使用本發明的中子束檢測系統。又，可以在非破壞檢查用中子照射裝置中使用本發明的中子束檢測系統。

[0077]

1‧‧‧中子捕捉療法裝置

13‧‧‧閃爍體

14‧‧‧光纖

15‧‧‧光檢測器

20‧‧‧控制部

21‧‧‧劑量計算部

22‧‧‧照射控制部

40‧‧‧判定閾值設定部

41‧‧‧檢測訊號獲取部

42‧‧‧波高分布獲取部

43‧‧‧判定閾值調整部

44‧‧‧請求檢測精度獲取部

100‧‧‧中子束檢測系統

N‧‧‧中子束

M‧‧‧中子束生成部

[0016] 　　[圖1]為表示具備本發明的一實施形態的中子束檢測系統之中子捕捉療法裝置之示意圖。　　[圖2]為表示設置在準直器之中子束檢測器之剖視圖。　　[圖3]為表示中子捕捉療法裝置的控制部之方塊圖。　　[圖4]為表示判定閾值的設定方法的處理內容之流程圖。　　[圖5]為表示用於調整判定閾值之波高分布與計數之間的關係之曲線圖。　　[圖6]為表示用於調整判定閾值之波高分布與計數之間的關係之曲線圖。　　[圖7]為表示判定閾值與檢測精度之間的關係的一例之表。

Claims

一種檢測中子束之中子束檢測系統，具備：　　閃爍體，若射入放射線則產生光；　　光纖，傳輸由前述閃爍體產生之前述光；　　辨別部，接收藉由前述光纖傳輸之前述光，在與接收之前述光有關之檢測訊號的波高超過判定閾值時，將前述檢測訊號辨別為與前述中子束有關之訊號；及　　判定閾值設定部，設定前述判定閾值；　　前述判定閾值設定部具備：　　檢測訊號獲取部，獲取第1檢測訊號及第2檢測訊號，該第1檢測訊號為經由截止前述中子束之濾波器而射入到前述閃爍體之放射線的前述檢測訊號，該第2檢測訊號為未經由前述濾波器而射入到前述閃爍體之放射線的前述檢測訊號；　　波高分布獲取部，依據基於前述第1檢測訊號的波高分布與基於前述第2檢測訊號的波高分布的差量，來獲取只有前述中子束的中子束波高分布及只有包括在前述放射線中之伽馬射線的伽馬射線波高分布；及　　判定閾值調整部，依據前述中子束波高分布及前述伽馬射線波高分布，調整前述判定閾值。
如請求項1之中子束檢測系統，其中，　　前述判定閾值設定部還具備獲取所請求之檢測精度之請求檢測精度獲取部；　　前述判定閾值調整部藉由比較波高超過前述判定閾值之前述伽馬射線的量與由前述請求檢測精度獲取部獲取之前述檢測精度，來調整前述判定閾值。
如請求項1或2之中子束檢測系統，其中，　　前述波高分布獲取部考慮到獲取前述第1檢測訊號時的前述放射線的照射量與獲取前述第2檢測訊號時的前述放射線的照射量之差，來獲取前述中子束波高分布及前述伽馬射線波高分布。
如請求項1或2之中子束檢測系統，其中，　　還具備控制前述放射線的照射量之照射控制部；　　前述照射控制部使獲取前述第1檢測訊號時的前述放射線的照射量與獲取前述第2檢測訊號時的前述放射線的照射量相等。
一種檢測中子束之中子束檢測系統的設定方法，前述中子束檢測系統具備：　　閃爍體，若射入放射線則產生光；　　光纖，傳輸由前述閃爍體產生之前述光；及　　辨別部，接收藉由前述光纖傳輸之前述光，在與接收之前述光有關之檢測訊號的波高超過判定閾值時，將前述檢測訊號辨別為與前述中子束有關之訊號；　　前述設定方法具備：　　檢測訊號獲取程序，獲取第1檢測訊號及第2檢測訊號，該第1檢測訊號為經由截止前述中子束之濾波器而射入到前述閃爍體之放射線的前述檢測訊號，該第2檢測訊號為未經由前述濾波器而射入到前述閃爍體之放射線的前述檢測訊號；　　波高分布獲取程序，依據第1檢測訊號與第2檢測訊號的差量，來獲取只有前述中子束的中子束波高分布及只有包括在前述放射線中之伽馬射線的伽馬射線波高分布；及　　判定閾值調整程序，依據前述中子束波高分布及前述伽馬射線波高分布，來調整前述判定閾值。
一種檢測中子束之中子束檢測系統，具備：　　閃爍體，若射入放射線則產生光；　　光纖，傳輸由前述閃爍體產生之前述光；　　辨別部，接收藉由前述光纖傳輸之前述光，在與接收之前述光有關之檢測訊號的波高超過判定閾值時，將前述檢測訊號辨別為與前述中子束有關之訊號；　　顯示部，顯示資訊；及　　判定閾值設定部，設定前述判定閾值；　　前述顯示部顯示引導檢測精度的輸入之通知，並在前述判定閾值設定部依據所輸入之前述檢測精度設定前述判定閾值之後，顯示所設定之前述判定閾值。