TW201816584A - 調整手寫輸入之呈現效果的方法與電子裝置 - Google Patents
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Abstract
一種調整手寫輸入之呈現效果的方法與電子裝置。依據觸碰點於筆劃軌跡上的分佈密度,將手寫輸入操作的多個觸碰點分群為包括第一觸碰點群組的多個觸碰點群組。若第一觸碰點群組中的第一觸碰點的密度特性屬於低密度,判斷是否修正第一觸碰點群組之第一觸碰點所對應的筆劃軌跡。若第一觸碰點群組中的第一觸碰點的密度特性屬於高密度,依據字型設定調整第一觸碰點群組所對應的筆法樣式。依據修正後的筆劃軌跡與調整後的筆法樣式,顯示所述筆劃於顯示模組。
Description
本發明是有關於一種電子裝置的手寫輸入應用,且特別是有關於一種調整手寫輸入之呈現效果的方法與以及使用此方法的電子裝置。
隨著資訊技術、無線通訊及資訊家電的快速發展與廣泛應用,使用者不僅能透過觸控螢幕觀看操作畫面,也能利用觸控螢幕輸入文字或指令來對產品進行操作。手寫輸入便是基於觸控螢幕所產生的一種輸入方式。由於觸控螢幕的顯示速度以及產品之處理器的速度越來越快,因此使用者可使用觸控筆或直接用手指在觸控螢幕上輸入各種文字。然而,基於觸控螢幕的設計與成本考量,低成本的觸控螢幕會因為觸控感測元件的密度較低而導致筆劃軌跡的感測精準度下降。一旦筆劃軌跡的感測精準度下降,也會導致觸控螢幕所顯示的手寫文字呈現難看的鋸齒狀或單一筆劃不連續的現象。此外,在使用者利用手指或被動式觸控筆進行書寫的過程當中,觸控螢幕僅會直接顯示符合於輸入軌跡的線條,並無法對手寫輸入的文字外觀進行調整。
有鑑於此,本發明提供一種調整手寫輸入之呈現效果的方法與電子裝置,能在使用者進行手寫輸入時對顯示文字之外觀進行修正,以呈現優美之字體。
本發明提出一種調整手寫輸入之呈現效果的方法,適用於具有觸控輸入模組與顯示模組的電子裝置。所述方法包括下列步驟。利用觸控輸入模組接收對應於至少一筆劃的手寫輸入操作,並取得手寫輸入操作的多個觸碰點。依據觸碰點於筆劃軌跡上的分佈密度,將這些觸碰點分群為對應於至少一筆劃的多個觸碰點群組。這些觸碰點群組包括第一觸碰點群組,而第一觸碰點群組包括所述觸碰點中的多個第一觸碰點。若第一觸碰點群組中的第一觸碰點的密度特性屬於低密度,判斷是否修正第一觸碰點群組之第一觸碰點所對應的筆劃軌跡。若第一觸碰點群組中的第一觸碰點的密度特性屬於高密度,依據字型設定調整第一觸碰點群組所對應的筆法樣式。依據修正後的筆劃軌跡與調整後的筆法樣式,顯示至少一筆劃於顯示模組。
從另一觀點來看,本發明提出一種電子裝置,其包括儲存模組、觸控輸入模組、顯示模組,以及一或多個處理器。儲存模組儲存有多個指令,而所述處理器耦接儲存模組、觸控控制器與顯示控制器,其中所述處理器經配置而執行所述指令以執行下列步驟。當觸控輸入模組接收對應於至少一筆劃的手寫輸入操作,取得手寫輸入操作的多個觸碰點。依據觸碰點於筆劃軌跡上的分佈密度,將觸碰點分群為對應於至少一筆劃的多個觸碰點群組。這些觸碰點群組包括第一觸碰點群組,而此第一觸碰點群組包括觸碰點中的多個第一觸碰點。若第一觸碰點群組中的第一觸碰點的密度特性屬於低密度,判斷是否修正第一觸碰點群組之第一觸碰點所對應的筆劃軌跡。若第一觸碰點群組中的第一觸碰點的密度特性屬於高密度,依據一字型設定調整第一觸碰點群組所對應的筆法樣式。依據修正後的筆劃軌跡與調整後的筆法樣式,控制顯示模組顯示所述筆劃。
基於上述,在本發明的一實施例中,依據各個觸碰點群組所對應的密度特性,可逐一地針對各個觸碰點群組決定進行筆劃軌跡的修正或筆法樣式的調整,並將修正與調整後的結果呈現於顯示面板。如此一來,使用者能在進行輸入的同時欣賞經過美化的字體,而提昇使用電子裝置的樂趣。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1是依照本發明之一實施例所繪示之電子裝置的方塊圖。請參閱圖1,電子裝置100包括觸控輸入模組110、顯示模組120、一或多個處理器(以下以處理器130為例進行說明),以及儲存模組140。本實施例之電子裝置100可以是手機、個人數位助理、智慧型手機、電子書、遊戲機,或平板電腦等各式電子裝置,在此並不限制其種類。
觸控輸入模組110包括相互耦接的觸控面板113以及觸控控制器115,且觸控控制器115耦接至處理器130。其中,觸控面板113可以是電阻式(resistive)觸控面板、電容式(capacitive)觸控面板、光學式(optical)觸控面板、聲波式(acoustic wave)觸控面板、電磁式(electromagnetic)觸控面板等,在此並不限制其種類。觸控面板113用以接收使用者的觸碰操作,而觸控控制器115會將相應於觸碰操作的位置資訊(例如,觸碰座標)傳送至處理器130,以由處理器130產生相對應的操作結果。所述的觸碰操作包括一手寫輸入操作,即使用者可利用手指或觸控輸入裝置於觸控面板寫下任意文字以達到輸入文字的目的。
顯示模組120包括相互耦接的顯示面板123與顯示控制器125,且顯示控制器125耦接至處理單元130。顯示面板123例如是液晶顯示面板(liquid crystal display,LCD),而顯示控制器125可以是(Visual Processing Unit,VPU)。詳言之,處理器130會根據使用者的操作或系統的運作需求將需要輸出的畫面內容資料(例如,顯示面板123之各像素的顏色)寫入一暫存區,顯示控制器125則會因應處理器130的控制去讀取暫存區中的資料,並將其顯現於顯示面板123。在一實施例中,觸控面板113係附著於顯示面板123之表面以構成一觸控螢幕。觸控螢幕將同時具有接收觸碰輸入以及顯示畫面的功能。
處理器130例如是中央處理器(Central Processing Unit,CPU),負責控管電子裝置100的整體運作。詳言之,處理器130會執行被載入至儲存模組140的作業系統或其他指令,讓使用者能透過作業系統與電子裝置100互動,也可讓使用者透過各式應用軟體程式而控制電子裝置100提供特殊功能。
儲存模組140包括記憶體,如動態隨機存取記憶體(Dynamic Random Access Memory,DRAM)或靜態隨機存取記憶體(Static Random Access Memory,SRAM)等等,儲存模組140另可包括硬碟、光碟,或外接式儲存裝置(如記憶卡、隨身碟等)。在此並不對儲存模組140的種類加以限制。儲存模組140可載入各種程式(例如,作業系統、驅動程式、各種指令等)與資料以供處理器130執行和運用。在本實施例中,儲存模組140還儲存有多種字型設定,可讓使用者在進行手寫輸入時選擇需要的字型。而各種字型所對應的筆法資訊也記錄於儲存模組140。
此外,於一實施例中,電子裝置100可選擇地包括壓力感測器150。壓力感測器150耦接處理器130,可感測使用者施加於觸控面板113上的力量。
在本實施例中,當使用者透過觸控輸入模組110進行手寫輸入操作時,處理器130可先修正筆劃軌跡再根據預先選擇的字型設定對應地將手寫輸入之外觀加以美化,再由顯示模組120呈現美化後的結果。為了進一步說明電子裝置100的運作方式,以下特舉另一實施例來對本發明進行說明。圖2是依照本發明之一實施例所繪示之手寫輸入之筆劃呈現方法的流程圖,請同時參閱圖1與圖2。
於步驟S210,當觸控輸入模組110接收對應於至少一筆劃的手寫輸入操作,處理器130取得手寫輸入操作的多個觸碰點。進一步來說,透過觸控輸入模組110的觸控偵測,觸控控制器115可將所有觸碰點的報點資訊提供給處理器130。上述的報點資訊可包括各個觸碰點的水平座標、垂直座標、觸碰時間,以及用以表示觸碰點與其下一觸碰點是否為連續輸入的識別資訊。於此,所述之連續輸入代表手指或觸控輸入裝置持續碰觸觸控面板113而進的輸入。
於步驟S220,處理器130依據觸碰點於筆劃軌跡上的分佈密度,將這些觸碰點分群為對應於至少一筆劃的多個觸碰點群組。需先說明的是,筆劃軌跡可依據軌跡形狀與輸入順序而區分多種軌跡類型,其包括起點軌跡、轉折點軌跡、終點軌跡,以及延伸軌跡。基於使用者書寫文字的書寫慣性,當使用者書寫到每一個筆劃的起點軌跡、終點軌跡,以及轉折點軌跡時,手指或觸控入裝置的移動速度會下降。也就是說,位於筆劃的起點軌跡、終點軌跡,以及轉折點軌跡處之觸碰點的分佈密度高於位於筆劃的延伸軌跡處之觸碰點的分佈密度。基此,藉由分析觸碰點的報點資訊,處理器130可以得知觸碰點的分佈密度,並據以將觸碰點編組分群成多個觸碰點群組。於一實施例中,所述分佈密度可基於觸碰點的座標資訊或/與觸碰時間而取得。
圖3是依照本發明之一實施例所繪示之對應至多個筆劃的多個觸碰點的示意圖。請參照圖3,當使用者於觸控面板113上寫下「永」一字時,觸控輸入模組110接收手寫輸入操作30,而處理器130可取得對應至5筆筆劃31~35的多個觸碰點。筆劃31起始於位置a且結束於位置b。筆劃32起始於位置c且經過兩個轉折而結束於位置d。筆劃33起始於位置e且經過一個轉折而結束於位置f。筆劃34起始於位置g且結束於位置h。筆劃35起始於位置i且結束於位置j。
以筆劃34為例,處理器130可依據觸碰點於筆劃34之筆劃軌跡上的分佈密度,而將筆劃34之筆劃軌跡上的觸碰點分群成對應至筆劃34的多個觸碰點群組G1~G3。相似的,處理器130可依據觸碰點於筆劃35之筆劃軌跡上的分佈密度,而將筆劃35之筆劃軌跡上的觸碰點分群成對應至筆劃35的多個觸碰點群組G1~G3。換言之,處理器130可將觸碰點的報點資訊分群成對應至不同觸碰點群組的多筆資料,並可針對上述之各筆資料進行筆劃軌跡的調整與筆法樣式的調整。
之後,以觸碰點群組中的第一觸碰點群組為例進行說明,而第一觸碰點群組可以為這些觸碰點群組其中之任一。於步驟S230,若第一觸碰點群組中的第一觸碰點的密度特性屬於低密度,代表第一觸碰點群組對應至筆劃裡的延伸軌跡,處理器130判斷是否修正第一觸碰點群組之第一觸碰點所對應的筆劃軌跡。另一方面,於步驟S240,若第一觸碰點群組中的第一觸碰點的密度特性屬於高密度,代表第一觸碰點群組對應至筆劃裡的起點軌跡、終點軌跡、轉折點軌跡,處理器130將依據字型設定調整第一觸碰點群組所對應的筆法樣式。
於步驟S250,依據修正後的筆劃軌跡與調整後的筆法樣式,處理器130控制顯示模組120顯示所述筆劃的最終筆劃圖形。詳言之,處理器130可先依據修正後的筆劃軌跡產生一初步筆劃圖形,並再依據字型設定來產生對應至起點軌跡、終點軌跡,以及轉折點軌跡的修正區域。如此,處理器130可結合初步筆劃圖形與修正區域而產生所述筆劃的最終筆劃圖形。更具體來說,處理器130會將最終筆劃圖形的位置與顏色等資訊寫入視訊記憶體(未繪示)中的一塊圖框暫存區(framebuffer),此圖框暫存區的大小對應於顯示面板123的像素個數。而顯示控制器125會讀取圖框暫存區中的資料並將其顯示於顯示面板123。
然而,本發明的實現方式不限於上述說明,可以對於實際的需求而酌予變更上述實施例的內容。例如,在本發明之一實施例中,觸碰點的分佈密度可基於兩相鄰觸碰點之間的距離參數而決定。此外,藉由對每一筆劃之每一觸碰點群組排序編號,觸碰點群組對應至具有高密度的筆跡軌跡還是對應至具有低密度的筆跡軌跡是可依據觸碰點群組的群組編號是奇數或偶數而判定。圖4是依照本發明之一實施例所繪示之調整手寫輸入之呈現效果的方法的詳細流程圖,請同時參閱圖1與圖4。
於步驟S401,處理器130利用觸控輸入模組110接收對應於至少一筆劃的手寫輸入操作,並取得手寫輸入操作的多個觸碰點。於步驟S402,處理器130取得每一觸碰點對應的水平差異量,並且取得每一觸碰點對應的垂直差異量。進一步來說,處理器130取得每一觸碰點的水平座標與相互相鄰的觸碰點的水平座標之間的水平差異量,並且取得每一觸碰點的垂直座標與相互相鄰的觸碰點的垂直座標之間的垂直差異量。
於步驟S403,根據水平差異量與垂直差異量,處理器130取得每一觸碰點與相互相鄰的觸碰點其中之一之間的距離參數。
於步驟S404,透過依序比對觸碰點各自的距離參數與距離臨界值,處理器130可決定將觸碰點其中之一分群至第一觸碰點群組或將觸碰點其中之一分群至第二觸碰點群組。於一實施例中,若第一觸碰點群組裡的第一觸碰點各自對應的距離參數大於距離臨界值,處理器130判定第一觸碰點群組的密度特性屬於低密度。若第一觸碰點群組裡的第一觸碰點各自對應的距離參數小於距離臨界值,處理器130判定第一觸碰點群組的密度特性屬於高密度。表1為圖3中筆劃34、35上觸碰點的報點資訊與計算資訊的範例。
表1
如表1所示,觸碰點的水平差異量為當前觸碰點與下一觸碰點個別的水平座標的差值。觸碰點的垂直差異量為當前觸碰點與下一觸碰點個別的垂直座標的差值。觸碰點的距離參數為水平差異量的平方加上垂直差異量的平方。因此,透過比較觸碰點的距離參數與一距離臨界值,筆劃34的所有觸碰點被分群成三個分別編號為’1’、’2’、’3’的觸碰點群組。相似的,透過比較觸碰點的距離參數與一距離臨界值,筆劃35的所有觸碰點也被分群成三個分別編號為’1’、’2’、’3’的觸碰點群組。此外,從表1中連續標示的欄位可知,該欄位裡的識別資料可讓處理器130將觸碰點分別對應至不同的筆劃。換言之,對應於連續標示為’FALSE’的觸碰點理當視為一筆劃的觸碰終點。然而,連續標示的欄位內的資訊可能因為觸控面本的品質不佳或觸碰感測元件的密度低而發生錯誤。依據觸碰點群組的數量,本實施例之處理器130更可進一步判斷理應為歸屬為同一筆劃的觸碰點是否被區分為不同的筆劃,而此現象視為異常斷筆。
於是,於步驟S405,依據筆劃個別的觸碰點群組的數量,處理器130判斷第一筆劃與第二筆劃之間是否發生異常斷筆。若步驟S405判斷為是,於步驟S406,處理器130將第二筆劃與第一筆劃銜接為同一筆劃,並對第一筆劃所對應的觸碰點與第二筆劃所對應的觸碰點進行重新分群。換言之,本來被區分為對應至相異筆劃的觸碰點群組會被整合成對應至單一筆劃且編號連續的觸碰點群組。
舉例而言,圖5是依照本發明之一實施例所繪示之修正異常斷筆的示意圖。請參照圖5,當使用者於觸控面板113手寫輸入’ㄇ’字時,基於觸碰點的報點資訊的錯誤,理應屬於同一筆劃的觸碰點卻被識別為筆劃51與筆劃52,而導致筆劃51與筆劃52之間發生異常斷筆。然而,在此情況下,在各觸碰點的距離參數並沒有發生錯誤的條件下,筆劃51上的觸碰點會基於距離參數而被區分為兩個觸碰點群組G1~G2,而筆劃52上的觸碰點會基於距離參數而被區分為兩個觸碰點群組G1’~G2’。基於使用者的書寫慣性,單一筆劃上的觸碰點被分群成偶數個觸碰點群組是不合理的,因此處理器130基於筆劃51與筆劃52的觸碰點群組的個數為偶數而判定筆劃51與筆劃52發生異常斷筆。於是,處理器130可銜接筆劃51的觸碰終點與筆劃52的觸碰起點,並將原本對應至筆劃51的觸碰點與對應至筆劃52的觸碰點重新編組為筆劃51’的觸碰點群組G1~G3。因此,於顯示面板123顯示’ㄇ’字時,不會有筆跡斷裂的現象出現。
回到圖4的流程,於步驟S407,處理器130判斷觸碰點群組的群組編號是否為奇數。可知的,假設對應至一筆劃之起點軌跡的觸碰點群組被編號為’1’時,基於起點軌跡、轉折軌跡與終點軌跡兩兩之間存在延伸軌跡的規則下,群組編號為偶數的觸碰點群組會對應至筆劃的延伸軌跡。因此,若步驟S407判斷為否,處理器130之後將對群組編號為奇數的觸碰點群組進行筆劃軌跡的修正。於步驟S408,將第一觸碰點群組內的第一觸碰點區分為多個區段,並取得區段各自對應的軌跡走向參數。所述的軌跡走向參數例如是斜率或曲率。透過比較相鄰的兩區段個別的軌跡走向參數,於步驟S409,處理器130判斷區段各自對應的軌跡走向參數是否出現異常。若相鄰的兩區段個別的軌跡走向參數之間差異過大,可判定上列兩個區段其中之一出現異常。若步驟S409判斷為是,於步驟S410,處理器130修正軌跡走向參數被判定出現異常的區段內的第一觸碰點。
舉例而言,圖6A與圖6B是依照本發明之一實施例所繪示之修正觸碰點群組的筆劃軌跡的示意圖。請先參照圖6A,以軌跡走向參數為斜率為例,直線筆劃60的觸碰點可以分群為3個觸碰點群組G1~G3,且觸碰點群組G1~G3可依據下筆順序而被編號為’1’、'2’、’3’。群組編號為偶數的觸碰點群組G2將被判斷是否需要進行筆劃軌跡的修正。觸碰點群組G2裡的觸碰點被區分為多個區段(未繪示),例如可切成20、30、或40個區段等等。各個區段對應的斜率可由各區段內的觸碰點的座標而計算出來。例如,包括觸碰點P1、P2的區段所對應的斜率可依據觸碰點P1、P2的座標而取得。對於直線筆劃60的走向來說,觸碰點群組G2的各個區段的斜率理應差別不大。於是,一實施例的電子裝置可透過檢查各個區段的斜率而檢測直線筆劃60是否出現抖動的狀況。於圖6A所示的範例中,區段S1的斜率因為與其他區段的斜率差異過大而被判定出現異常。因此,斜率被判定出現異常的區段S1內的第一觸碰點的座標將被修正,像是區段S1內的觸碰點P7可被修正為觸碰點P7’。
請再參照圖6B,以軌跡走向參數為曲率為例,曲線筆劃61的觸碰點可以分群為3個觸碰點群組G1~G3,且觸碰點群組G1~G3可依據下筆順序而被編號為’1’、'2’、’3’。群組編號為偶數的觸碰點群組G2將被判斷是否需要進行筆劃軌跡的修正。曲線筆劃61的觸碰點群組G2裡的觸碰點被區分為多個區段。各個區段對應的曲率可由各區段內的觸碰點的座標而計算出來。例如,包括觸碰點P3、P4、P5的區段所對應的曲率可依據觸碰點P1、P2的座標與二次方程式而取得。對於直線筆劃60的走向來說,觸碰點群組G2的各個區段的斜率理應差別不大。於是,一實施例的電子裝置可透過檢查各個區段的曲率而檢測曲線筆劃60是否出現抖動的狀況。於圖6B所示的範例中,區段S2的斜率因為與其他區段的斜率差異過大而被判定出現異常,因此,斜率被判定出現異常的區段S2內的第一觸碰點的座標將被修正,像是區段21內的觸碰點P6可被修正為觸碰點P6’。
另一方面,回到圖4的流程,若步驟S407判斷為是,處理器130之後將對群組編號為偶數的觸碰點群組進行筆法樣式的調整。於步驟S411,依據第一觸碰點群組對應至筆劃的起點軌跡、終點或轉折點,以及依據筆劃的移動方向,處理器130決定第一觸碰點群組的修正區域。於步驟S412,處理器130依據修正區域調整第一觸碰點群組所對應的筆法樣式。最後,於步驟S413,依據修正後的筆劃軌跡與調整後的筆法樣式,處理器130控制顯示模組110顯示所述筆劃於顯示模組110。
以下將近一步說明調整筆法樣式的實施範例。圖7是依照本發明之一實施例所繪示之依據字型設定調整觸碰點群組所對應的該筆法樣式的部份流程圖,請參照圖7。於步驟S701,判斷是否為筆劃的起點軌跡。於步驟S702,依據筆劃的移動方向與預設起點軌跡調整樣式,決定第一觸碰點群組的修正區域。舉例而言,圖8是依照本發明之一實施例所繪示之當觸碰點群組對應至筆劃的起點軌跡時的修正區域示意圖。請參照圖8,當依據群組編號判定第一觸碰點群組為對應至筆劃80的起點軌跡,且判定筆劃80的移動方向D1為水平方向時,類似梯形的修正區域Z1的邊長參數Ma1、Mb1、Mc1、Mh1可依據預先儲存的預設起點軌跡調整樣式而計算取得。換言之,所述之預設起點軌跡調整樣式可視為一種預設的演算函式。當確認手寫輸入之字體的尺寸,預設的演算函式可輸出修正區域Z1的邊長參數Ma1、Mb1、Mc1、Mh1。如此,藉結合修正區域Z1與第一觸碰點群組原先對應的未調整區域,筆劃80的起點軌跡的筆法樣式可以被調整。基於類似的方式,當依據群組編號判定第一觸碰點群組為對應至筆劃81的起點軌跡,且判定筆劃81的移動方向D2為垂直方向時,類似梯形的修正區域Z1、Z2的邊長參數可依據預先儲存的預設起點軌跡調整樣式而計算取得,並使用修正區域Z1、Z2調整筆劃81的起點軌跡的筆法樣式。
之後,於步驟S703,判斷是否為筆劃的轉折點軌跡。於步驟S704,依據預設轉折點調整樣式決定第一觸碰點群組的修正區域。舉例而言,圖9是依照本發明之一實施例所繪示之當觸碰點群組對應至筆劃的轉折點軌跡時的修正區域示意圖。請參照圖9,當依據群組編號判定第一觸碰點群組為對應至筆劃90的轉折點軌跡,類似梯形的修正區域Z4、Z5的邊長參數可依據預先儲存的預設轉折點軌跡調整樣式而計算取得。如此,藉結合修正區域Z4、Z5與第一觸碰點群組原先對應的未調整區域,筆劃90的轉折點軌跡的筆法樣式可以被調整。
之後,於步驟S705,透過壓力感測器取得第一觸碰點群組內每一第一觸碰點的壓力參數。於步驟S706,依據第一觸碰點群組內各第一觸碰點的壓力參數,判斷第一觸碰點群組是否為特定筆法的終點軌跡。須說明的是,當使用者書寫某些特定筆法的終點軌跡時,施加於觸控面板的力量會逐漸減輕。例如,當使用者書寫永字八法中的筆法(掠)的終點軌跡以及筆法(磔)的終點軌跡時,使用者施加於觸控面板的壓力會明顯下降。基此,藉由判斷一觸碰點群組內的觸碰點的壓力參數,可判定所述觸碰點群組對應的一終點軌跡是否要依據特定筆法的終點調整樣式進行調整。於是,於步驟S707,依據筆劃的移動方向與特定筆法的終點調整樣式,決定第一觸碰點群組的修正區域。於步驟S708,依據筆劃的移動方向與預設終點調整樣式,決定第一觸碰點群組的修正區域。
舉例而言,圖10是依照本發明之一實施例所繪示之當觸碰點群組對應至筆劃的終點軌跡時的修正區域示意圖。請參照圖10,當依據群組編號判定第一觸碰點群組為對應至筆劃91的終點軌跡,且判定筆劃91的移動方向D1為水平方向時,類似梯形的修正區域Z6、Z7的邊長參數可依據預先儲存的預設終點軌跡調整樣式而計算取得。如此,藉結合修正區域Z1與第一觸碰點群組原先對應的未調整區域,筆劃91的終點軌跡的筆法樣式可以被調整。基於類似的方式,當依據群組編號判定第一觸碰點群組為對應至筆劃92的終點軌跡,且判定筆劃81的移動方向D2為垂直方向時,類似梯形的修正區域Z8的邊長參數可依據預先儲存的預設終點軌跡調整樣式而計算取得,並使用修正區域Z8調整筆劃92的起點軌跡的筆法樣式。
另外,當依據群組編號判定第一觸碰點群組為對應至筆劃93的終點軌跡,且判定第一觸碰點群組內的第一觸碰點的壓力參數隨時間遞減時,以及判定筆劃93的移動方向為左上至右下時,修正區域Z9、Z10的形狀與大小可依據特定筆法的終點調整樣式而計算取得。如此,藉由從第一觸碰點群組原先對應的未調整區域移除修正區域Z9、Z10,筆劃93的起點軌跡的筆法樣式可以被調整。相似的,當依據群組編號判定第一觸碰點群組為對應至筆劃94的終點軌跡,且判定第一觸碰點群組內的第一觸碰點的壓力參數隨時間遞減時,以及判定筆劃94的移動方向為右上至左下時,修正區域Z11的形狀與大小可依據特定筆法的終點調整樣式而計算取得。如此,藉由從第一觸碰點群組原先對應的未調整區域移除修正區域Z11,筆劃94的起點軌跡的筆法樣式可以被調整。
綜上所述,為讓使用者在觸控螢幕上進行書寫時可據以顯示優美的文字,本發明實施例提出一種用以調整手寫輸入之呈現效果的方法。基於使用者輸入文字時的書寫速度慣性,可將需要平滑處理的筆跡處進行修正,並調整各個筆劃的起點、終點以及轉折點的外觀呈現方式。藉此,不僅可有效地改善以往觸控面板因為觸控元件密度低而導致筆跡顯示出現抖動或不平滑的現象,更可以對顯示文字的外觀進行修正。
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明的精神和範圍內,當可作些許的更動與潤飾,故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧電子裝置
110‧‧‧觸控輸入模組
113‧‧‧觸控面板
115‧‧‧觸控控制器
120‧‧‧顯示模組
123‧‧‧顯示面板
125‧‧‧顯示控制器
130‧‧‧處理器
140‧‧‧儲存模組
30‧‧‧手寫輸入操作
a~j‧‧‧觸碰位置
S1、S2‧‧‧區段
D1、D2‧‧‧移動方向
Z1~Z11‧‧‧修正區域
G1~G3、G’1、G’2‧‧‧觸碰點群組
31~35、51~53、51’、60、61、80、81、90~94‧‧‧筆劃
P1、P2、P3、P4、P5、P6、P6’、P7、P7’‧‧‧觸碰點
S210~S250、S401~S431、S701~S708‧‧‧步驟
圖1是依照本發明之一實施例所繪示之電子裝置的方塊圖。 圖2是依照本發明之一實施例所繪示之調整手寫輸入之呈現效果的方法的流程圖。 圖3是依照本發明之一實施例所繪示之對應至多個筆劃的多個觸碰點的示意圖。 圖4是依照本發明之一實施例所繪示之調整手寫輸入之呈現效果的方法的詳細流程圖。 圖5是依照本發明之一實施例所繪示之修正異常斷筆的示意圖。 圖6A與圖6B是依照本發明之一實施例所繪示之修正觸碰點群組的筆劃軌跡的示意圖。 圖7是依照本發明之一實施例所繪示之依據字型設定調整觸碰點群組所對應的該筆法樣式的部份流程圖。 圖8是依照本發明之一實施例所繪示之當觸碰點群組對應至筆劃的起點軌跡時的修正區域示意圖。 圖9是依照本發明之一實施例所繪示之當觸碰點群組對應至筆劃的轉折點軌跡時的修正區域示意圖。 圖10是依照本發明之一實施例所繪示之當觸碰點群組對應至筆劃的終點軌跡時的修正區域示意圖。
Claims (10)
- 一種調整手寫輸入之呈現效果的方法,適用於具有一觸控輸入模組與一顯示模組的一電子裝置,包括: 利用該觸控輸入模組接收對應於至少一筆劃的一手寫輸入操作,並取得該手寫輸入操作的多個觸碰點; 依據該些觸碰點於一筆劃軌跡上的分佈密度,將該些觸碰點分群為對應於該至少一筆劃的多個觸碰點群組,其中該些觸碰點群組包括一第一觸碰點群組,而該第一觸碰點群組包括該些觸碰點中的多個第一觸碰點; 若該第一觸碰點群組中的該些第一觸碰點的一密度特性屬於低密度,判斷是否修正該第一觸碰點群組之該些第一觸碰點所對應的該筆劃軌跡; 若該第一觸碰點群組中的該些第一觸碰點的該密度特性屬於高密度,依據一字型設定調整該第一觸碰點群組所對應的一筆法樣式;以及 依據修正後的該筆劃軌跡與調整後的該筆法樣式,顯示該至少一筆劃於該顯示模組。
- 如申請專利範圍第1項所述的調整手寫輸入之呈現效果的方法,其中該些觸碰點各自包括一水平座標與一垂直座標,而依據該些觸碰點於該筆劃軌跡上的該分佈密度,將該些觸碰點分群為對應於該至少一筆劃的該些觸碰點群組的步驟包括: 取得每一該些觸碰點的該水平座標與相互相鄰的該些觸碰點其中之一的該水平座標之間的一水平差異量,並且取得每一該些觸碰點的該垂直座標與相互相鄰的該些觸碰點其中之一的該垂直座標之間的一垂直差異量; 根據該水平差異量與該垂直差異量,取得每一該些觸碰點與相互相鄰的該些觸碰點其中之一之間的一距離參數;以及 透過依序比對該些觸碰點各自對應的該距離參數與一距離臨界值,而決定將該些觸碰點其中之一分群至該第一觸碰點群組或該些觸碰點群組的一第二觸碰點群組。
- 如申請專利範圍第2項所述的調整手寫輸入之呈現效果的方法,所述方法更包括: 若該第一觸碰點群組裡的該些第一觸碰點各自對應的該距離參數大於該距離臨界值,判定該第一觸碰點群組的密度特性屬於低密度;以及 若該第一觸碰點群組裡的該些第一觸碰點各自對應的該距離參數小於該距離臨界值,判定該第一觸碰點群組的密度特性屬於高密度。
- 如申請專利範圍第1項所述的調整手寫輸入之呈現效果的方法,其中判斷是否修正該第一觸碰點群組的該筆劃軌跡的步驟包括: 將該第一觸碰點群組內的該些第一觸碰點區分為多個區段,並依據該些第一觸碰點的該水平座標與該垂直座標取得該些區段各自對應的一軌跡走向參數; 判斷該些區段各自對應的該軌跡走向參數是否出現異常;以及 修正該軌跡走向參數被判定出現異常的該些區段其中之一內的該些第一觸碰點。
- 如申請專利範圍第1項所述的調整手寫輸入之呈現效果的方法,其中依據該字型設定調整該第一觸碰點群組所對應的該筆法樣式的步驟包括: 依據該第一觸碰點群組為對應至該至少一筆劃的一起點軌跡、一終點軌跡或一轉折點軌跡,以及依據該至少一筆劃的一移動方向,決定該第一觸碰點群組的一修正區域;以及 依據該修正區域調整該第一觸碰點群組所對應的該筆法樣式。
- 如申請專利範圍第1項所述的調整手寫輸入之呈現效果的方法,其中依據該字型設定調整該第一觸碰點群組所對應的該筆法樣式的步驟包括: 透過一壓力感測器取得該第一觸碰點群組內每一該些第一觸碰點的一壓力參數; 依據該第一觸碰點群組內每一該些第一觸碰點的該壓力參數,判斷該第一觸碰點群組是否對應至一特定筆法的終點軌跡; 若是,依據該特定筆法與該至少一筆劃的一移動方向決定該第一觸碰點群組的一修正區域;以及 依據該修正區域調整該第一觸碰點群組所對應的該筆法樣式。
- 如申請專利範圍第1項所述的調整手寫輸入之呈現效果的方法,其中該至少一筆劃的數量大於1,且該些筆劃依據該些觸碰點的一報點資訊而區分,所述方法更包括: 依據該些筆劃個別的該些觸碰點群組的數量,判斷該些筆劃中一第一筆劃與一第二筆劃之間是否發生一異常斷筆;以及 若是,將該第二筆劃與該第一筆劃銜接為同一筆劃,並對該第一筆劃所對應的該些觸碰點與該第二筆劃所對應的該些觸碰點進行重新分群。
- 一種電子裝置,包括: 一儲存模組,儲存有多個指令; 一觸控輸入模組; 一顯示模組;以及 一或多個處理器,耦接該儲存模組、該觸控控制器與該顯示控制器,其中所述處理器經配置而執行所述指令以: 當該觸控輸入模組接收對應於至少一筆劃的一手寫輸入操作,取得該手寫輸入操作的多個觸碰點; 依據該些觸碰點於一筆劃軌跡上的分佈密度,將該些觸碰點分群為對應於該至少一筆劃的多個觸碰點群組,其中該些觸碰點群組包括一第一觸碰點群組,而該第一觸碰點群組包括該些觸碰點中的多個第一觸碰點; 若該第一觸碰點群組中的該些第一觸碰點的一密度特性屬於低密度,判斷是否修正該第一觸碰點群組之該些第一觸碰點所對應的該筆劃軌跡; 若該第一觸碰點群組中的該些第一觸碰點的該密度特性屬於高密度,依據一字型設定調整該第一觸碰點群組所對應的一筆法樣式;以及 依據修正後的該筆劃軌跡與調整後的該筆法樣式,控制該顯示模組顯示該至少一筆劃。
- 如申請專利範圍第8項所述的電子裝置,其中該些觸碰點各自包括一水平座標與一垂直座標,而所述處理器經配置執行該些指令以: 取得每一該些觸碰點的該水平座標與相互相鄰的該些觸碰點其中之一的該水平座標之間的一水平差異量,並且取得每一該些觸碰點的該垂直座標與相互相鄰的該些觸碰點其中之一的該垂直座標之間的一垂直差異量; 根據該水平差異量與該垂直差異量,取得每一該些觸碰點與相互相鄰的該些觸碰點其中之一之間的一距離參數;以及 透過依序比對該些觸碰點對應各自的該距離參數與一距離臨界值,而決定將該些觸碰點其中之一分群至該第一觸碰點群組或該些觸碰點群組的一第二觸碰點群組。
- 如申請專利範圍第8項所述的電子裝置,其中該電子裝置更包括一壓力感測器,且所述處理器更經配置以執行該些指令以: 透過該壓力感測器取得該第一觸碰點群組內每一該些第一觸碰點的一壓力參數; 依據該第一觸碰點群組內每一該些第一觸碰點的該壓力參數,判斷該第一觸碰點群組是否對應至一特定筆法的終點軌跡; 若是,依據該特定筆法與該至少一筆劃的一移動方向決定該第一觸碰點群組的一修正區域;以及 依據該修正區域調整該第一觸碰點群組所對應的該筆法樣式。
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TWI712920B (zh) * | 2019-12-10 | 2020-12-11 | 大陸商北京集創北方科技股份有限公司 | 字符識別方法及利用其之觸控模組 |
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