TW201738028A - 雷射加工裝置及雷射輸出裝置 - Google Patents

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Mitsuhiro Nagao
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Abstract

雷射加工裝置係具備：裝置框架、支承部、雷射輸出部、以及雷射聚光部，該支承部，係被安裝於裝置框架，且用來支承加工對象物；該雷射輸出部係被安裝於裝置框架；該雷射聚光部，係以可相對於雷射輸出部進行移動的方式被安裝於裝置框架。雷射輸出部係具有用來射出雷射光的雷射光源，雷射聚光部係具有：反射型空間光調變器、聚光光學系統、以及成像光學系統，該反射型空間光調變器，係用來將雷射光一面進行調變一面進行反射；該聚光光學系統，係用來將雷射光聚光於加光對象物；該成像光學系統，係用來構成使反射型空間光調變器之反射面與聚光光學系統之入射瞳面具有成像關係的兩側遠心光學系統。

Description

雷射加工裝置及雷射輸出裝置
本發明係關於雷射加工裝置及雷射輸出裝置。
於專利文獻1中係記載有一種雷射加工裝置，係具備用來保持工件的保持機構、及用來對保持機構所保持的工件照射雷射光的雷射照射機構。於此雷射加工裝置之雷射照射機構中，被配置於從雷射振盪器到達聚光透鏡之雷射光的光路徑上之各構造係被配置於1個殼體內，該殼體被固定在立設於雷射加工裝置之基座的壁部。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利第5456510號公報
於上述般之雷射加工裝置中，有時會使用來 將雷射光進行聚光之聚光光學系統側的構造相對於加工對象物進行移動。另一方面，在這樣的情況下，抑制裝置的大型化一事係極為重要。
本發明之第1形態，係目的在於，提供可一面抑制裝置的大型化，一面使聚光光學系統側之構造相對於加工對象物進行移動的雷射加工裝置。
此外，於上述般之雷射加工裝置中，有時適於加工的雷射光之波長會因應於加工對象物的規格、加工條件等而不同。
本發明之第2形態，係目的在於，提供可使用雷射光之波長彼此不同的複數個雷射光源之雷射加工裝置。
此外，於上述般之雷射加工裝置中，有時會設置用來將雷射光一面進行調變一面進行反射的反射型空間光調變器。在這樣的情況下，將在反射型空間光調變器之反射面的雷射光之影像(於反射型空間光調變器中調變後的雷射光之影像)精度佳地傳像(成像)至聚光光學系統的入射瞳面一事係極為重要。
本發明之第3形態，係目的在於，提供可將在反射型空間光調變器之反射面的雷射光之影像容易且精度佳地傳像至聚光光學系統的入射瞳面之雷射加工裝置。
此外，於上述般之雷射加工裝置中，有時會設置用來將雷射光一面進行調變一面進行反射的反射型空間光調變器。在這樣的情況下，將在反射型空間光調變器 之反射面的雷射光之影像(於反射型空間光調變器中調變後的雷射光之影像)精度佳地傳像(成像)至聚光光學系統的入射瞳面一事係極為重要。
本發明之第4形態，係目的在於，提供可將在反射型空間光調變器之反射面的雷射光之影像精度佳地傳像至聚光光學系統的入射瞳面之雷射加工裝置。
此外，於上述般之雷射加工裝置中，有時會使用感測器，來取得加工對象物之雷射光入射面的位移資料，該感測器，係被設置於與用來將雷射光聚光於加工對象物的聚光光學系統不同軸上。另一方面，在這樣的情況下，抑制裝置的大型化一事係極為重要。
本發明之第5形態，係目的在於，提供可一面抑制裝置的大型化，一面取得加工對象物之雷射光入射面的位移資料之雷射加工裝置。
此外，於上述般之雷射加工裝置中，有時適於加工的雷射光之波長會因應於加工對象物的規格、加工條件等而不同。在這種的情況下，若可將包含雷射光源的部分相對於雷射加工裝置容易地進行裝卸，則極為有效。
本發明之一形態，係目的在於，提供可相對於雷射加工裝置容易地進行裝卸的雷射輸出裝置。
本發明之第1形態之雷射加工裝置係具備：裝置框架、支承部、雷射輸出部、以及雷射聚光部，該支 承部，係被安裝於裝置框架，且用來支承加工對象物；該雷射輸出部係被安裝於裝置框架；該雷射聚光部，係以可相對於雷射輸出部進行移動的方式被安裝於裝置框架，雷射輸出部，係具有用來射出雷射光的雷射光源，雷射聚光部係具有：反射型空間光調變器、聚光光學系統、以及成像光學系統，該反射型空間光調變器，係用來將雷射光一面進行調變一面進行反射；該聚光光學系統，係用來將雷射光聚光於加工對象物；該成像光學系統，係用來構成使反射型空間光調變器之反射面與聚光光學系統之入射瞳面具有成像關係的兩側遠心光學系統。
於此雷射加工裝置中，具有反射型空間光調變器、聚光光學系統及成像光學系統之雷射聚光部，係可相對於具有雷射光源的雷射輸出部進行移動。因而，例如，相較於使被配置於從雷射光源到達聚光光學系統之雷射光的光路徑上之各構造全體進行移動的情況，可使成為移動對象之雷射聚光部輕量化，而可使用來移動雷射聚光部的機構小型化。並且，由於反射型空間光調變器、聚光光學系統及成像光學系統係作為一體進行移動，彼此的位置關係被維持，因此可將在反射型空間光調變器之反射面的雷射光之影像(於反射型空間光調變器中調變後的雷射光之影像)精度佳地傳像(成像)至聚光光學系統的入射瞳面。因而，依據此雷射加工裝置，可一面抑制裝置的大型化，一面使聚光光學系統側之構造相對於加工對象物進行移動。
於本發明之第1形態之雷射加工裝置中，來自雷射輸出部之雷射光的射出方向亦可與雷射聚光部的移動方向一致。藉此，即使雷射聚光部相對於雷射輸出部進行移動，亦可抑制射入雷射聚光部之雷射光的位置變化。
於本發明之第1形態之雷射加工裝置中，雷射輸出部亦可進一步具有用來使雷射光平行化的雷射光平行化部。藉此，即使雷射聚光部相對於雷射輸出部進行移動，亦可抑制射入雷射聚光部之雷射光的直徑變化。另外，即使藉由雷射光平行化部雷射光並非成為完全的平行光，例如，多少存在有雷射光之張角，亦可於反射型空間光調變器中使雷射光進行平行化。
於本發明之第1形態之雷射加工裝置中，雷射聚光部亦可進一步具有殼體，該殼體係內部設定有從反射型空間光調變器透過成像光學系統到達聚光光學系統之雷射光的光路徑，於殼體中，係設置有使從雷射輸出部所射出的雷射光射入殼體內的光入射部。藉此，可一面將從反射型空間光調變器透過成像光學系統到達聚光光學系統之雷射光的光路徑之狀態維持一定，一面使雷射聚光部相對於雷射輸出部進行移動。
於本發明之第1形態之雷射加工裝置中，雷射聚光部亦可進一步具有反射鏡，該反射鏡，係以在雷射聚光部的移動方向與光入射部相對向的方式配置於殼體內，反射鏡，係用來將從光入射部射入殼體內的雷射光朝向反射型空間光調變器進行反射。藉此，可使從雷射輸出 部射入雷射聚光部的雷射光以既定的角度射入反射型空間光調變器。
於本發明之第1形態之雷射加工裝置中，支承部亦可以可沿著與雷射聚光部之移動方向垂直的平面進行移動的方式被安裝於裝置框架。藉此，除了使雷射光之聚光點相對於加工對象物位於所期望的位置之外，亦可在與雷射聚光部之移動方向垂直的平面平行之方向，對於加工對象物掃描雷射光。
於本發明之第1形態之雷射加工裝置中，支承部亦可透過第1移動機構被安裝於裝置框架，而雷射聚光部透過第2移動機構被安裝於裝置框架。藉此，可確實地實施支承部及雷射聚光部之各自的移動。
本發明之第2形態之雷射加工裝置係具備：裝置框架、支承部、雷射輸出部、以及雷射聚光部，該支承部，係被安裝於裝置框架，且用來支承加工對象物；該雷射輸出部係可相對於裝置框架進行裝卸；該雷射聚光部係被安裝於裝置框架，雷射輸出部係具有：雷射光源及輸出調整部，該雷射光源係用來射出雷射光；該輸出調整部係用來調整雷射光之輸出，雷射聚光部係具有：反射型空間光調變器、聚光光學系統、以及成像光學系統，該反射型空間光調變器，係用來將雷射光一面進行調變一面進行反射；該聚光光學系統，係用來將雷射光聚光於加工對象物；該成像光學系統，係用來構成使反射型空間光調變器之反射面與聚光光學系統之入射瞳面具有成像關係的兩側 遠心光學系統。
於此雷射加工裝置中，與具有反射型空間光調變器、聚光光學系統及成像光學系統之雷射聚光部為不同個體，且具有雷射光源及輸出調整部的雷射輸出部，係可相對於裝置框架進行裝卸。因而，在適於加工的雷射光之波長因應於加工對象物之規格、加工條件等而不同的情況，可將用來射出具有所期望之波長的雷射光之雷射光源、及具有波長依存性之輸出調整部整批交換。因而，依據此雷射加工裝置，可使用雷射光之波長彼此不同的複數個雷射光源。
於本發明之第2形態之雷射加工裝置中，雷射輸出部亦可進一步具有安裝基座，該安裝基座，係用來支承雷射光源及輸出調整部且可相對於裝置框架進行裝卸，雷射輸出部，係透過安裝基座被安裝於裝置框架。藉此，可相對於裝置框架將雷射輸出部容易地進行裝卸。
於本發明之第2形態之雷射加工裝置中，雷射輸出部亦可進一步具有用來調整從雷射輸出部所射出的雷射光之光軸的反射鏡。藉此，例如當將雷射輸出部安裝於裝置框架時，可調整射入雷射聚光部之雷射光的光軸之位置及角度。
於本發明之第2形態之雷射加工裝置中，輸出調整部亦可用來調整雷射光的偏光方向。藉此，例如當將雷射輸出部安裝於裝置框架時，可調整射入雷射聚光部之雷射光的偏光方向，甚至從雷射聚光部所射出之雷射光 的偏光方向。
於本發明之第2形態之雷射加工裝置中，輸出調整部亦可包含λ/2波長板及偏光板。藉此，可將具有波長依存性之λ/2波長板及偏光板與雷射光源整批交換。
於本發明之第2形態之雷射加工裝置中，雷射輸出部亦可進一步具有用來一面調整雷射光的直徑一面使雷射光平行化之雷射光平行化部。藉此，即使在例如雷射聚光部相對於雷射輸出部進行移動的情況，亦可將射入雷射聚光部之雷射光的狀態維持一定。
於本發明之第2形態之雷射加工裝置中，反射型空間光調變器、聚光光學系統及成像光學系統，亦可對應於500~550nm、1000~1150nm及1300~1400nm之波長範圍。藉此，可將用來射出各波長範圍的雷射光之雷射輸出部安裝於雷射加工裝置。另外，500~550nm之波長範圍的雷射光L，係適於對由例如藍寶石所構成之基板的內部吸收型雷射加工。1000~1150nm及1300~1400nm之各波長範圍的雷射光L，係適於對由例如矽所構成之基板的內部吸收型雷射加工。
本發明之第3形態之雷射加工裝置係具備：支承部、雷射光源、反射型空間光調變器、聚光光學系統、以及成像光學系統，該支承部係用來支承加工對象物；該雷射光源係用來射出雷射光；該反射型空間光調變器，係用來將雷射光一面進行調變一面進行反射；該聚光光學系統，係用來將雷射光聚光於加工對象物；該成像光 學系統，係用來構成使反射型空間光調變器之反射面與聚光光學系統之入射瞳面具有成像關係的兩側遠心光學系統，從反射型空間光調變器到達聚光光學系統之雷射光的光路徑中，至少通過成像光學系統之雷射光的光路徑為一直線，兩側遠心光學系統的倍率M，係滿足0.5<M<1或1<M<2。
於此雷射加工裝置中，兩側遠心光學系統的倍率M並非為1。藉此，若成像光學系統沿著光軸進行移動，則聚光光學系統側之共軛點會移動。具體而言，在倍率M<1(縮小系統)的情況，若成像光學系統沿著光軸移動到聚光光學系統側，則聚光光學系統側之共軛點會移動到反射型空間光調變器的相反側。另一方面，在倍率M>1(擴大系統)的情況，若成像光學系統沿著光軸移動到反射型空間光調變器側，則聚光光學系統側之共軛點會移動到反射型空間光調變器的相反側。因而，例如在聚光光學系統的安裝位置產生位移的情況，可將聚光光學系統側之共軛點定位在聚光光學系統之入射瞳面。並且，由於至少通過成像光學系統的雷射光之光路徑為一直線，因此可使成像光學系統沿著光軸容易地進行移動。因而，依據此雷射加工裝置，可將在反射型空間光調變器之反射面的雷射光之影像容易且精度佳地傳像至聚光光學系統的入射瞳面。另外，(兩側遠心光學系統的倍率M)=(在聚光光學系統之入射瞳面的影像之大小)/(在反射型空間光調變器之反射面的影像之大小)。
另外，藉由設為0.5<M<1，而可將在反射型空間光調變器之反射面的雷射光之有效直徑增大，且可在高精細的相位圖案將雷射光進行調變。另一方面，藉由設為1<M<2，而可將在反射型空間光調變器之反射面的雷射光之有效直徑縮小，且可將射入反射型空間光調變器的雷射光之光軸、與從反射型空間光調變器所射出的雷射光之光軸所成的角度縮小。抑制相對於反射型空間光調變器之雷射光的入射角及反射角一事在抑制折射效率之降低而使反射型空間光調變器之性能充分發揮上係為重要。
於本發明之第3形態之雷射加工裝置中，成像光學系統係包含反射型空間光調變器側之第1透鏡系統及聚光光學系統側之第2透鏡系統，倍率M、第1透鏡系統之第1焦點距離f1及第2透鏡系統之第2焦點距離f2係滿足M=f2/f1。
於本發明之第3形態之雷射加工裝置中，倍率M亦可滿足0.6≦M≦0.95。藉此，可一面維持在上述之0.5<M<1的情況所發揮的效果，一面更確實地抑制從反射型空間光調變器到達聚光光學系統的雷射光之光路徑增長一事。
於本發明之第3形態之雷射加工裝置中，倍率M亦可滿足1.05≦M≦1.7。藉此，可一面維持在上述之1<M<2的情況所發揮的效果，一面更確實地抑制從反射型空間光調變器到達聚光光學系統的雷射光之光路徑增長一事。
於本發明之第3形態之雷射加工裝置中，第1透鏡系統及第2透鏡系統係被保持在保持具，保持具，係將沿著雷射光之光軸的方向之第1透鏡系統及第2透鏡系統彼此的位置關係維持一定，沿著雷射光之光軸的方向之第1透鏡系統及第2透鏡系統的位置調整，亦可藉由保持具的位置調整來實施。藉此，可一面將第1透鏡系統及第2透鏡系統彼此的位置關係維持一定，一面容易且確實地實施第1透鏡系統及第2透鏡系統的位置調整(甚至共軛點的位置調整)。
本發明之第4形態之雷射加工裝置係具備：支承部、雷射光源、反射型空間光調變器、聚光光學系統、成像光學系統、以及反射鏡，該支承部係用來支承加工對象物；該雷射光源係用來射出雷射光；該反射型空間光調變器，係用來將雷射光一面進行調變一面進行反射；該聚光光學系統，係用來將雷射光聚光於加工對象物；該成像光學系統，係用來構成使反射型空間光調變器之反射面與聚光光學系統之入射瞳面具有成像關係的兩側遠心光學系統；該反射鏡，係將通過成像光學系統的雷射光朝向聚光光學系統進行反射，反射型空間光調變器，係將雷射光沿著既定的平面以銳角進行反射，從反射型空間光調變器透過成像光學系統到達反射鏡之雷射光的光路徑，係被設定成沿著平面，從反射鏡到達聚光光學系統之雷射光的光路徑，係被設定成沿著與平面交叉的方向。
於此雷射加工裝置中，從反射型空間光調變 器透過成像光學系統到達反射鏡之雷射光的光路徑，係被設定成沿著既定的平面(包含對於反射型空間光調變器所射入射出之雷射光的光路徑之平面)，從反射鏡到達聚光光學系統之雷射光的光路徑，係被設定成沿著與該平面交叉的方向。藉此，例如，可將雷射光以P偏光的形式反射至反射型空間光調變器，且將雷射光以S偏光的形式反射至反射鏡。其係在將在反射型空間光調變器之反射面的雷射光之影像精度佳地傳像至聚光光學系統的入射瞳面上係為重要。進而，反射型空間光調變器係將雷射光以銳角進行反射。抑制相對於反射型空間光調變器之雷射光的入射角及反射角一事在抑制折射效率之降低而使反射型空間光調變器之性能充分發揮上係為重要。由以上內容，依據此雷射加工裝置，可將在反射型空間光調變器之反射面的雷射光之影像精度佳地傳像至聚光光學系統的入射瞳面。
於本發明之第4形態之雷射加工裝置中，從反射鏡到達聚光光學系統之雷射光的光路徑，係被設定成沿著與平面正交的方向，反射鏡，亦可將雷射光以直角進行反射。藉此，可將從反射型空間光調變器到達聚光光學系統之雷射光的光路徑以直角進行處理。
於本發明之第4形態之雷射加工裝置中，反射鏡亦可為分光鏡。藉此，可將透過分光鏡之雷射光的一部分利用於各種的用途中。
於本發明之第4形態之雷射加工裝置中，反射型空間光調變器，係將雷射光以P偏光的形式進行反 射，反射鏡，係將雷射光以S偏光的形式進行反射亦可。藉此，可將在反射型空間光調變器之反射面的雷射光之影像精度佳地傳像至聚光光學系統的入射瞳面。
本發明之第4形態之雷射加工裝置，亦可進一步具備偏光方向調整部，該偏光方向調整部，係被配置於從雷射光源到達反射型空間光調變器之雷射光的光路徑上，用來調整雷射光的偏光方向。藉此，由於反射型空間光調變器被設置成將雷射光以銳角進行反射而可調整雷射光的偏光方向，因此可將從雷射光源到達反射型空間光調變器之雷射光的光路徑處理成直角。
本發明之第5形態之雷射加工裝置係具備：支承部、雷射光源、反射型空間光調變器、聚光光學系統、成像光學系統、反射鏡、以及第1感測器，該支承部係用來支承加工對象物；該雷射光源係用來射出雷射光；該反射型空間光調變器，係用來將雷射光一面進行調變一面進行反射；該聚光光學系統，係用來將雷射光聚光於加工對象物；該成像光學系統，係用來構成使反射型空間光調變器之反射面與聚光光學系統之入射瞳面具有成像關係的兩側遠心光學系統，該反射鏡，係用來將通過成像光學系統的雷射光朝向聚光光學系統進行反射；該第1感測器，係用來取得加工對象物之雷射光入射面的位移資料，從反射鏡到達聚光光學系統之雷射光的光路徑，係被設定成沿著第1方向，從反射型空間光調變器透過成像光學系統到達反射鏡之雷射光的光路徑，係被設定成沿著與第1 方向垂直的第2方向，第1感測器，係於與第1方向及第2方向垂直的第3方向被配置於聚光光學系統的一側。
於此雷射加工裝置中，係藉由以相對於聚光光學系統而使第1感測器相對地先行的方式，來對於加工對象物掃描雷射光，而可在對於該部位照射雷射光之前取得在加工對象物之任意部位的雷射光入射面之位移資料。藉此，例如，可以使加工對象物之雷射光入射面與雷射光之聚光點的距離維持一定的方式，來對於加工對象物掃描雷射光。進而，第1感測器，係相對於從反射型空間光調變器到達聚光光學系統的雷射光之光路徑所配置的平面而被配置於一側。也就是說，相對於配置於從反射型空間光調變器到達聚光光學系統的雷射光之光路徑上的各構造，第1感測器被有效地配置。因而，依據此雷射加工裝置，可一面抑制裝置的大型化，一面取得加工對象物之雷射光入射面的位移資料。
於本發明之第5形態之雷射加工裝置中，反射鏡亦可為分光鏡。藉此，可將透過分光鏡之雷射光的一部分利用於各種的用途中。
於本發明之第5形態之雷射加工裝置中，反射鏡，亦可將雷射光以S偏光的方式進行反射。藉此，藉由沿著第3方向來對於加工對象物掃描雷射光，而可使雷射光之掃描方向與雷射光之偏光方向彼此一致。
本發明之第5形態之雷射加工裝置，亦可進一步具備殼體及移動機構，該殼體，係用來至少支承反射 型空間光調變器、聚光光學系統、成像光學系統、反射鏡、及第1感測器；該移動機構係使殼體沿著第1方向進行移動，聚光光學系統及第1感測器，係被安裝於第2方向之殼體的一端部側，移動機構，係被安裝於第3方向之殼體的一側面。藉此，可一面抑制裝置的大型化，一面使反射型空間光調變器、聚光光學系統、成像光學系統、反射鏡及第1感測器作為一體而進行移動。
本發明之第5形態之雷射加工裝置，亦可進一步具備用來使聚光光學系統沿著第1方向進行移動的驅動機構，聚光光學系統，係透過驅動機構被安裝於第2方向之殼體的一端部側。藉此，例如，可以使加工對象物之雷射光入射面與雷射光之聚光點的距離維持一定的方式，來使聚光光學系統進行移動。
於本發明之第5形態之雷射加工裝置中，反射型空間光調變器，亦可被安裝於第2方向之殼體的另一端部側。藉此，可將各構造有效率地配置於殼體。
本發明之第5形態之雷射加工裝置，亦可進一步具備用來取得加工對象物之雷射光入射面的位移資料之第2感測器，第2感測器，係於第3方向被配置於聚光光學系統的另一側。藉此，當以相對於聚光光學系統使第1感測器相對地先行的方式，來對於加工對象物掃描雷射光時，係可使用第1感測器來取得雷射光入射面之位移資料。另一方面，當以相對於聚光光學系統使第2感測器相對地先行的方式，來對於加工對象物掃描雷射光時，係可 使用第2感測器來取得雷射光入射面之位移資料。進而，第1感測器，係相對於從反射型空間光調變器到達聚光光學系統的雷射光之光路徑所配置的平面而被配置於一側，第2感測器，係相對於從反射型空間光調變器到達聚光光學系統的雷射光之光路徑所配置的平面而被配置於另一側。藉此，相對於配置於從反射型空間光調變器到達聚光光學系統的雷射光之光路徑上的各構造，可將第1感測器及第2感測器有效率地配置。
本發明之一形態之雷射輸出裝置係具備：雷射光源、輸出調整部、反射鏡單元、以及安裝基座，該雷射光源係用來射出雷射光；該輸出調整部，係用來調整從雷射光源所射出的雷射光之輸出；該反射鏡單元，係用來將通過輸出調整部的雷射光射出至外部；該安裝基座，係具有配置有雷射光源、輸出調整部及反射鏡單元的主面，從雷射光源透過輸出調整部到達反射鏡單元的雷射光之光路徑，係被設定成沿著與主面平行的平面，反射鏡單元，係具有用來調整雷射光之光軸的反射鏡，且用來沿著與平面交叉的方向將雷射光射出至外部。
於此雷射輸出裝置中，雷射光源、輸出調整部及反射鏡單元係被配置於安裝基座的主面。藉此，例如藉由相對於雷射加工裝置之裝置框架將安裝基座進行裝卸，而可相對於雷射加工裝置將雷射輸出裝置容易地進行裝卸。此外，從雷射光源透過輸出調整部到達反射鏡單元的雷射光之光路徑，係被設定成沿著與安裝基座之主面平 行的平面，反射鏡單元係沿著與該平面交叉的方向將雷射光射出至外部。藉此，例如在雷射光的射出方向為沿著垂直方向的情況，由於雷射輸出裝置被低高度化，因此可相對於雷射加工裝置將雷射輸出裝置容易地進行裝卸。進而，反射鏡單元係具有用來調整雷射光之光軸的反射鏡。藉此，例如當將雷射輸出裝置安裝於雷射加工裝置之裝置框架時，可調整射入設置於雷射加工裝置側的雷射聚光部(至少具備用來將雷射光聚光於加工對象物的構造)之雷射光的光軸之位置及角度。藉由以上方式，此雷射輸出裝置，係可相對於雷射加工裝置容易地進行裝卸。
於本發明之一形態之雷射輸出裝置中，反射鏡單元，亦可沿著與平面正交的方向來將雷射光射出至外部。藉此，可使反射鏡單元之雷射光的光軸之調整容易化。
於本發明之一形態之雷射輸出裝置中，輸出調整部，亦可用來調整從雷射光源所射出之雷射光的偏光方向。藉此，例如當將雷射輸出裝置安裝於雷射加工裝置之裝置框架時，可調整射入設置於雷射加工裝置側的雷射聚光部之雷射光的偏光方向，甚至從雷射聚光部所射出之雷射光的偏光方向。
於本發明之一形態之雷射輸出裝置中，輸出調整部，亦可具有：λ/2波長板、第1保持具、偏光構件、以及第2保持具，該λ/2波長板，係用來使從雷射光源所射出的雷射光沿著與平面平行的第1軸線進行入射； 該第1保持具，係用來將λ/2波長板保持成使λ/2波長板可以第1軸線作為中心線進行旋轉；該偏光構件，係用來使通過λ/2波長板的雷射光沿著與平面平行的第2軸線進行入射；該第2保持具，係用來將偏光構件保持成使偏光構件可以第2軸線作為中心線進行旋轉。藉此，可以簡易的構造調整從雷射光源所射出的雷射光之輸出及偏光方向。進而，藉由使雷射輸出裝置具備如此之輸出調整部，而可使用對應於從雷射光源所射出的雷射光之波長的λ/2波長板及偏光構件。
本發明之一形態之雷射輸出裝置，亦可進一步具備光路徑校正構件，該光路徑校正構件，係以可以第2軸線為中心線與偏光構件一體進行旋轉的方式被保持於前述第2保持具，並用於使透過偏光構件而偏離第2軸線上之雷射光的光軸返回第2軸線上。藉此，可校正因透過偏光構件導致之雷射光的光路徑之偏離。
於本發明之一形態之雷射輸出裝置中，第1軸線與第2軸線亦可彼此一致。藉此，可謀求裝置的簡易化及小型化。
於本發明之一形態之雷射輸出裝置中，反射鏡單元亦可具有支承基座、以及作為反射鏡之第1反射鏡及第2反射鏡，支承基座，係以成為可調整位置的方式被安裝於安裝基座，第1反射鏡，係以可調整角度的方式被安裝於支承基座，且將通過輸出調整部的雷射光沿著與平面平行的方向進行反射；第2反射鏡，係以可調整角度的 方式被安裝於支承基座，且將藉由第1反射鏡所反射的雷射光沿著與平面交叉的方向進行反射。藉此，例如當將雷射輸出裝置安裝於雷射加工裝置之裝置框架時，可精度更佳地調整射入設置於雷射加工裝置側的雷射聚光部之雷射光的光軸之位置及角度。並且，藉由將支承基座相對於安裝基座進行位置調整，而可將第1反射鏡及第2反射鏡一體容易地進行位置調整。
本發明之一形態之雷射輸出裝置，亦可進一步具備雷射光平行化部，該雷射光平行化部，係被配置於從輸出調整部到達反射鏡單元之雷射光的光路徑上，且用來一面調整雷射光的直徑一面使雷射光平行化。藉此，例如即使在設置於雷射加工裝置側的雷射聚光部相對於雷射輸出裝置進行移動的情況，亦可將射入雷射聚光部之雷射光的狀態維持一定。
本發明之一形態之雷射輸出裝置，亦可進一步具備開閉器，該開閉器，係被配置於從雷射光源到達輸出調整部之雷射光的光路徑上，且用來將雷射光的光路徑進行開閉，雷射光源，係具有將雷射光之輸出的開關(ON/OFF)進行切換的功能。藉此，可藉由在雷射光源的雷射光之輸出的開關(ON/OFF)之切換來實施來自雷射輸出裝置的雷射光之輸出的開關(ON/OFF)之切換。除此之外，藉由開閉器，亦可防止例如從雷射輸出裝置雷射光無預期地射出。
依據本發明之第1形態，可提供可一面抑制裝置的大型化，一面使聚光光學系統側之構造相對於加工對象物進行移動之雷射加工裝置。
依據本發明之第2形態，可提供可使用雷射光之波長彼此不同的複數個雷射光源之雷射加工裝置。
依據本發明之第3形態，可提供可將在反射型空間光調變器之反射面的雷射光之影像容易且精度佳地傳像至聚光光學系統的入射瞳面之雷射加工裝置。
依據本發明之第4形態，可提供可將在反射型空間光調變器之反射面的雷射光之影像精度佳地傳像至聚光光學系統的入射瞳面之雷射加工裝置。
依據本發明之第5形態，可提供可一面抑制裝置的大型化，一面取得加工對象物之雷射光入射面的位移資料之雷射加工裝置。
依據本發明之一形態，可提供可相對於雷射加工裝置容易地進行裝卸的雷射輸出裝置。
1‧‧‧加工對象物
200‧‧‧雷射加工裝置
210‧‧‧裝置框架
220‧‧‧第1移動機構
230‧‧‧支承台(支承部)
240‧‧‧第2移動機構
300‧‧‧雷射輸出部(雷射輸出裝置)
301‧‧‧安裝基座
310‧‧‧雷射振盪器(雷射光源)
320‧‧‧開閉器
330‧‧‧λ/2波長板單元(輸出調整部、偏光方向調整部)
331‧‧‧保持具(第1保持具)
332‧‧‧λ/2波長板
340‧‧‧偏光板單元(輸出調整部、偏光方向調整部)
341‧‧‧保持具(第2保持具)
342‧‧‧偏光板(偏光構件)
343‧‧‧光路徑校正板(光路徑校正構件)
350‧‧‧擴束器(雷射光平行化部)
360‧‧‧反射鏡單元
362‧‧‧反射鏡(第1反射鏡)
363‧‧‧反射鏡(第2反射鏡)
400‧‧‧雷射聚光部
401‧‧‧殼體
401a‧‧‧光入射部
401c‧‧‧端部
401d‧‧‧端部
401e‧‧‧側面
402‧‧‧反射鏡
403‧‧‧分光鏡(反射鏡)
410‧‧‧反射型空間光調變器
410a‧‧‧反射面
421‧‧‧保持具
422‧‧‧透鏡(第1透鏡系統、成像光學系統)
423‧‧‧透鏡(第2透鏡系統、成像光學系統)
430‧‧‧聚光透鏡單元(聚光光學系統)
440‧‧‧驅動機構
450‧‧‧測距感測器(第1感測器、第2感測器)
XL‧‧‧軸線
L‧‧‧雷射光
[第1圖]第1圖係改質區域之形成所使用的雷射加工裝置之概略構造圖。
[第2圖]第2圖係成為改質區域之形成的對象之加工對象物之俯視圖。
[第3圖]第3圖係沿著第2圖之加工對象物的III-III線之剖面圖。
[第4圖]第4圖係雷射加工後的加工對象物之俯視圖。
[第5圖]第5圖係沿著第4圖之加工對象物的V-V線之剖面圖。
[第6圖]第6圖係沿著第4圖之加工對象物的VI-VI線之剖面圖。
[第7圖]第7圖係實施形態的雷射加工裝置之立體圖。
[第8圖]第8圖係安裝於第7圖之雷射加工裝置的支承台之加工對象物之立體圖。
[第9圖]第9圖係沿著第7圖之ZX平面的雷射輸出部之剖面圖。
[第10圖]第10圖係第7圖之雷射加工裝置之雷射輸出部及雷射聚光部的一部分之立體圖。
[第11圖]第11圖係沿著第7圖之XY平面的雷射聚光部之剖面圖。
[第12圖]第12圖係沿著第11圖之XII-XII線的雷射聚光部之剖面圖。
[第13圖]第13圖係沿著第12圖之XIII-XIII線的雷射聚光部之剖面圖。
[第14圖]第14圖係顯示第9圖之雷射輸出部的λ/2波長板單元及偏光板單元的光學配置關係之圖。
[第15圖]第15圖(a)，係顯示第9圖之雷射輸出部之λ/2波長板單元的偏光方向之圖，第15圖(b)，係顯示第9圖之雷射輸出部之偏光板單元的偏光方向之圖。
[第16圖]第16圖係顯示第11圖之雷射聚光部的反射型空間光調變器、4f透鏡單元及聚光透鏡單元的光學配置關係之圖。
[第17圖]第17圖係顯示第16圖之4f透鏡單元的移動導致共軛點的移動之圖。
[第18圖]第18圖係一體化之λ/2波長板單元及偏光板單元之立體圖。
[第19圖]第19圖係沿著第18圖之ZX平面的λ/2波長板單元及偏光板單元之剖面圖。
以下，針對本發明之實施形態，參照附圖詳細地進行說明。另外，於各圖中，對於相同或相當部分係賦予相同符號，並省略重複的說明。
於實施形態之雷射加工裝置(後述)中，係藉由將雷射光聚光於加工對象物，而沿著切斷預定線於加工對象物形成改質區域。因此，首先，針對改質區域之形成，參照第1圖~第6圖來進行說明。
如第1圖所示般，雷射加工裝置100係具備有：雷射光源101、分光鏡103、以及聚光用透鏡105，該雷射光源101，係將雷射光L進行脈衝振盪；該分光鏡 103，係以使雷射光L之光軸(光路徑)的方向能90°轉變的方式配置；該聚光用透鏡105，係用來將雷射光L聚光。此外，雷射加工裝置100係具備有：支承台107、載置台111、雷射光源控制部102、以及載置台控制部115，該支承台107，係用來支承藉由聚光用透鏡105聚光後的雷射光L所照射的加工對象物1；該載置台111，係用來使支承台107進行移動；該雷射光源控制部102，係用來控制雷射光源101，以調節雷射光L之輸出或脈衝寬、脈衝波形等；該載置台控制部115，係用來控制載置台111的移動。
於雷射加工裝置100中，從雷射光源101所射出的雷射光L，係藉由分光鏡103而能將該光軸的方向90°轉變，並藉由聚光用透鏡105而聚光於載置於支承台107上之加工對象物1的內部。並且，使載置台111移動，而使加工對象物1相對於雷射光L而沿著切斷預定線5進行相對移動。藉此，於加工對象物1形成沿著切斷預定線5的改質區域。另外，在此，雖為了使雷射光L相對地移動，而使載置台111移動，但亦可移動聚光用透鏡105，或者移動該等雙方。
作為加工對象物1，係可使用包含以半導體材料所形成的半導體基板或以壓電材料所形成的壓電基板等之板狀的構件(例如，基板、晶圓等)。如第2圖所示般，於加工對象物1，係設定有用來將加工對象1切斷的切斷預定線5。切斷預定線5係呈直線狀延伸的假想線。 於在加工對象物1之內部形成改質區域的情況，如第3圖所示般，在使聚光點(聚光位置)P對準加工對象物1之內部的狀態下，使雷射光L沿著切斷預定線5(亦即，於第2圖之箭頭A方向)相對地進行移動。藉此，如第4圖、第5圖及第6圖所示般，將改質區域7沿著切斷預定線5形成於加工對象物1，使沿著切斷預定線5所形成的改質區域7成為切斷起點區域8。
聚光點P係指雷射光L聚光的部位。切斷預定線5，並不限於直線狀，可為曲線狀，亦可為將該等組合而成之3維狀，或座標指定者。切斷預定線5，並不限於假想線，亦可為在加工對象物1之表面3實際畫出的線。改質區域7，有時會連續地形成，有時會斷續地形成。改質區域7，係可為列狀亦可為點狀，重點在於，只要改質區域7至少形成在加工對象物1的內部即可。此外，有時以改質區域7作為起點而形成龜裂，龜裂及改質區域7，亦可露出於加工對象物1的外表面(表面3、背面、或者外周面)。形成改質區域7時之雷射光入射面，並不限定於加工對象1的表面3，亦可為加工對象物1的背面。
順帶一提，於在加工對象物1的內部形成改質區域7的情況，雷射光L，係透過加工對象物1並且特別被吸收在加工對象物1之內部的聚光點P附近。藉此，於加工對象物1形成改質區域7(亦即，內部吸收型雷射加工)。於此情況中，由於在加工對象物1的表面3幾乎 不吸收雷射光L，因此加工對象物1的表面3並不會熔融。另一方面，於在加工對象物1的表面3形成改質區域7的情況，雷射光L，特別被吸收在表面3的聚光點P附近，從表面3進行熔融、去除，而形成孔或溝槽等之去除部(表面吸收型雷射加工)。
改質區域7，係指密度、折射率、機械性強度或其他的物理特性成為與周圍不同狀態的區域。作為改質區域7，例如，有熔融處理區域(意味著：暫時熔融後再固化而成的區域、熔融狀態中的區域及從熔融再固化之狀態中的區域當中至少任一者)、裂縫區域、絕緣破壞區域、折射率變化區域等，亦有該等混合存在的區域。進而，作為改質區域7，係有於加工對象物1之材料中改質區域7之密度為與非改質區域之密度進行比較產生了變化的區域，或形成有晶格缺陷的區域。在加工對象物1的材料為單結晶矽的情況，改質區域7，亦可稱為高轉位密度區域。
熔融處理區域、折射率變化區域、改質區域7之密度為與非改質區域之密度進行比較產生了變化的區域、以及形成有晶格缺陷的區域，有時會進一步在該等區域的內部或改質區域7與非改質區域的界面內含龜裂(破裂、微裂縫)。所內含的龜裂，係有跨改質區域7之全面的情況或僅形成於一部分或複數部分的情況。加工對象物1，係包含由具有結晶構造之結晶材料所構成的基板。例如，加工對象物1，係包含以氮化鎵(GaN)、矽 (Si)、碳化矽(SiC)、LiTaO3、及藍寶石(Al2O3)之至少任一者所形成的基板。若換言之，則加工對象物1，係包含例如氮化鎵基板、矽基板、SiC基板、LiTaO3基板、或者藍寶石基板。結晶材料，亦可為異向性結晶及等向性結晶之任一者。此外，加工對象物1，係可包含由具有非結晶構造(非晶質構造)之非結晶材料所構成的基板，例如，亦可包含玻璃基板。
於實施形態中，係可藉由沿著切斷預定線5來形成複數個改質點(加工痕)，而形成改質區域7。於此情況中，藉由使複數個改質點聚集而成為改質區域7。改質點，係指藉由脈衝雷射光之1脈衝的射擊(也就是說1脈衝之雷射照射：雷射射擊)所形成的改質部分。作為改質點，係可列舉：裂縫點、熔融處理點或折射率變化點，或者該等之至少1個混合存在者等。針對改質點，係可考慮所要求的切斷精度、所要求的切斷面之平坦性、加工對象物1之厚度、種類、結晶方位等，而適當控制其大小或產生之龜裂的長度。此外，於實施形態中，係可沿著切斷預定線5，來形成改質點作為改質區域7。
[實施形態之雷射加工裝置]
接著，針對實施形態之雷射加工裝置進行說明。於以下說明中，將水平面內彼此正交的方向設為X軸方向及Y軸方向，將垂直方向設為Z軸方向。
[雷射加工裝置之整體構造]
如第7圖所示般，雷射加工裝置200係具備有：裝置框架210、第1移動機構220、支承台(支承部)230、以及第2移動機構240。進而，雷射加工裝置200係具備有：雷射輸出部(雷射輸出裝置)300、雷射聚光部400、以及控制部500。
第1移動機構220係被安裝於裝置框架210。第1移動機構220係具有：第1軌道單元221、第2軌道單元222、以及可動基座223。第1軌道單元221係被安裝於裝置框架210。於第1軌道單元221，係設置有沿著Y軸方向延伸的一對軌道221a、221b。第2軌道單元222，係以可沿著Y軸方向進行移動的方式被安裝於第1軌道單元221的一對軌道221a、221b。於第2軌道單元222，係設置有沿著X軸方向延伸的一對軌道222a、222b。可動基座223，係以可沿著X軸方向進行移動的方式被安裝於第2軌道單元222的一對軌道222a、222b。可動基座223，係可以與Z軸方向平行的軸線為中心線進行旋轉。
支承台230係被安裝於可動基座223。支承台230係用來支承加工對象物1。加工對象物1，係例如在由矽等之半導體材料所構成的基板之表面側，以矩陣狀形成有複數個功能元件(光二極體等之受光元件、雷射二極體等之發光元件、或者作為電路形成的電路元件等)者。當加工對象物1被支承於支承台230時，係如第8圖所示 般，於貼在環狀之框架11的薄膜12上貼附例如加工對象物1之表面1a(複數個功能元件側之面)。支承台230，係藉由夾器來保持框架11，並且藉由真空吸盤來吸附薄膜12，藉此而支承加工對象物1。於支承台230上，彼此平行的複數條切斷預定線5a、及彼此平行的複數條切斷預定線5b係以通過相鄰接的功能元件之間的方式呈格子狀設定於加工對象物1。
如第7圖所示般，支承台230，係藉由於第1移動機構220中第2軌道222進行動作，而沿著Y軸方向進行移動。此外，支承台230，係藉由於第1移動機構220中可動基座223進行動作，而沿著X軸方向進行移動。進而，支承台230，係藉由於第1移動機構220中可動基座223進行動作，而以與Z軸方向平行的軸線為中心線進行旋轉。如此般，支承台230，係以可沿著X軸方向及Y軸方向進行移動且可以與Z軸方向平行的軸線為中心線進行旋轉的方式，被安裝於裝置框架210。
雷射輸出部300係被安裝於裝置框架210。雷射聚光部400係透過第2移動機構240被安裝於裝置框架210。雷射聚光部400，係藉由第2移動機構240進行動作，而沿著Z軸方向進行移動。如此般，雷射聚光部400，係以可相對於雷射輸出部300而沿著Z軸方向進行移動的方式，被安裝於裝置框架210。
控制部500，係藉由CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)及RAM(Random Access Memory)等所構成。控制部500，係用來控制雷射加工裝置200之各部的動作。
作為一例子，於雷射加工裝置200中，係如下述般，沿著各切斷預定線5a、5b(參照第8圖)而於加工對象物1的內部形成改質區域。
首先，以使加工對象物1的背面1b(參照第8圖)成為雷射光入射面的方式，來將加工對象物1支承於支承台230，使加工對象物1之各切斷預定線5a合致於與X軸方向平行的方向。接著，以使雷射光L之聚光點位於加工對象物1的內部從加工對象物1之雷射光入射面分離既定距離的位置的方式，藉由第2移動機構240使雷射聚光部400進行移動。接著，一面將加工對象物1之雷射光入射面與雷射光L之聚光點的距離維持一定，一面使雷射光L之聚光點沿著各切斷預定線5a相對地移動。藉此，沿著各切斷預定線5a於加工對象物1的內部形成改質區域。
若沿著各切斷預定線5a之改質區域的形成結束，則藉由第1移動機構220使支承台230進行旋轉，而使加工對象物1之各切斷預定線5b合致於與X軸方向平行的方向。接著，以使雷射光L之聚光點位於加工對象物1的內部從加工對象物1之雷射光入射面分離既定距離的位置的方式，藉由第2移動機構240來使雷射聚光部400移動。接著，一面將加工對象物1之雷射光入射面與雷射光L之聚光點的距離維持一定，一面使雷射光L之聚光點 沿著各切斷預定線5b相對地移動。藉此，沿著各切斷預定線5b於加工對象物1的內部形成改質區域。
如此般，於雷射加工裝置200中，與X軸方向平行的方向係作為加工方向(雷射光L的掃描方向)。另外，沿著各切斷預定線5a之雷射光L的聚光點之相對的移動、及沿著各切斷預定線5b之雷射光L的聚光點之相對的移動，係藉由第1移動機構220使支承台230沿著X軸方向進行移動而實施。此外，各切斷預定線5a間之雷射光L的聚光點之相對的移動、及各切斷預定線5b間之雷射光L的聚光點之相對的移動，係藉由第1移動機構220使支承台230沿著Y軸方向移動而實施。
如第9圖所示般，雷射輸出部300係具有：安裝基座301、蓋302、以及複數個反射鏡303、304。進而，雷射輸出部300係具有：雷射振盪器(雷射光源)310、開閉器320、λ/2波長板單元(輸出調整部、偏光方向調整部)330、偏光板單元(輸出調整部、偏光方向調整部)340、擴束器(雷射光平行化部)350、以及反射鏡單元360。
安裝基座301，係用來支承複數個反射鏡303、304、雷射振盪器310、開閉器320、λ/2波長板單元330、偏光板單元340、擴束器350及反射鏡單元360。複數個反射鏡303、304、雷射振盪器310、開閉器320、λ/2波長板單元330、偏光板單元340、擴束器350及反射鏡單元360，係被安裝於安裝基座301的主面301a。安裝基 座301係板狀的構件，其係可相對於裝置框架210(參照第7圖)進行裝卸。雷射輸出部300，係透過安裝基座301被安裝於裝置框架210。也就是說，雷射輸出部300係可相對於裝置框架210進行裝卸。
蓋302，係於安裝基座301的主面301a上，將複數個反射鏡303、304、雷射振盪器310、開閉器320、λ/2波長板單元330、偏光板單元340、擴束器350及反射鏡單元360覆蓋。蓋302，係可相對於安裝基座301進行裝卸。
雷射振盪器310，係將直線偏光之雷射光L沿著X軸方向進行脈衝振盪。從雷射振盪器310所射出的雷射光L之波長，係包含於500~550nm、1000~1150nm或1300~1400nm之任一波長範圍內。500~550nm之波長範圍的雷射光L，係適於對例如由藍寶石所構成之基板的內部吸收型雷射加工。1000~1150nm及1300~1400nm之各波長範圍的雷射光L，係適於對例如由矽所構成之基板的內部吸收型雷射加工。從雷射振盪器310所射出的雷射光L之偏光方向，係例如與Y軸方向平行的方向。從雷射振盪器310所射出的雷射光L，係藉由反射鏡303被反射，沿著Y軸方向而射入開閉器320。
於雷射振盪器310中，係如以下般，將雷射光L的輸出之開關(ON/OFF)進行切換。在雷射振盪器310是以固體雷射所構成的情況，藉由將設置於共振器內的Q開關(AOM(音響光學調變器)、EOM(電光學調 變器)等)之開關(ON/OFF)進行切換，而將雷射光L的輸出之開關(ON/OFF)進行高速切換。在雷射振盪器310是以光纖雷射所構成的情況，藉由將構成種子雷射、擴大(激發用)雷射之半導體雷射的輸出之開關(ON/OFF)進行切換，而將雷射光L的輸出之開關(ON/OFF)進行高速切換。在雷射振盪器310是使用外部調變元件的情況，藉由將設置於共振器外的外部調變元件(AOM、EOM等)之開關(ON/OFF)進行切換，而將雷射光L的輸出之開關(ON/OFF)進行高速切換。
開閉器320，係藉由機械式的機構來將雷射光L之光路徑進行開閉。來自雷射輸出部300之雷射光L的輸出之開關(ON/OFF)的切換，雖如上述般，藉由雷射振盪器310之雷射光L的輸出之開關(ON/OFF)的切換來實施，但藉由設置有開閉器320，而可防止例如從雷射輸出部300雷射光L無預期地射出。通過開閉器320的雷射光L，係藉由反射鏡304被反射，並沿著X軸方向依序射入λ/2波長板單元330及偏光板單元340。
λ/2波長板單元330及偏光板單元340，係發揮作為用來調整雷射光L之輸出(光強度)的輸出調整部的功能。此外，λ/2波長板單元330及偏光板單元340，係發揮作為用來調整雷射光L之偏光方向的偏光方向調整部的功能。針對該等之詳細內容係後述。依序通過λ/2波長板單元330及偏光板單元340的雷射光L，係沿著X軸方向射入擴束器350。
擴束器350，係用來一面調整雷射光L的直徑，一面使雷射光L平行化。通過擴束器350的雷射光L，係沿著X軸方向射入反射鏡單元360。
反射鏡單元360係具有：支承基座361、及複數個反射鏡362、363。支承基座361係用來支承複數個反射鏡362、363。支承基座361，係以可沿著X軸方向及Y軸方向來調整位置的方式被安裝於安裝基座301。反射鏡(第1反射鏡)362，係將通過擴束器350的雷射光L反射至Y軸方向。反射鏡362，係以使其反射面成為在例如與Z軸平行的軸線周圍進行角度調整的方式被安裝於支承基座361。反射鏡(第2反射鏡)363，係將藉由反射鏡362所反射的雷射光L反射至Z軸方向。反射鏡363，係以使其反射面成為可在例如與X軸平行的軸線周圍進行角度調整且可沿著Y軸方向進行位置調整的方式被安裝於支承基座361。藉由反射鏡363所反射的雷射光L，係通過形成於支承基座361的開口361a，並沿著Z軸方向射入雷射聚光部400(參照第7圖)。也就是說，藉由雷射輸出部300所致之雷射光L的射出方向，係與雷射聚光部400的移動方向一致。如上述般，各反射鏡362、363，係具有用來調整反射面之角度的機構。於反射鏡單元360中，係藉由實施相對於安裝基座301之支承基座361的位置調整、相對於支承基座361之反射鏡363的位置調整、及各反射鏡362、363之反射面的角度調整，而使從雷射輸出部300所射出的雷射光L之光軸的位置及角度與雷射 聚光部400相配合。也就是說，複數個反射鏡362、363，係用來調整從雷射輸出部300所射出之雷射光L的光軸之構造。
如第10圖所示般，雷射聚光部400係具有殼體401。殼體401，係呈現以Y軸方向作為長度方向之直方體狀的形狀。於殼體401之一側面401e，係安裝有第2移動機構240(參照第11圖及第13圖)。於殼體401，係以與反射鏡單元360之開口361a在Z軸方向上相對向的方式，設置有圓筒狀之光入射部401a。光入射部401a，係使從雷射輸出部300所射出的雷射光L射入殼體401內。反射鏡單元360與光入射部401a，係以當藉由第2移動機構240使雷射聚光部400沿著Z軸方向移動時彼此不會接觸的距離彼此相分離。
如第11圖及第12圖所示般，雷射聚光部400係具有反射鏡402及分光鏡403。進而，雷射聚光部400係具有：反射型空間光調變器410、4f透鏡單元420、聚光透鏡單元(聚光光學系統)430、驅動機構440、以及一對測距感測器(第1感測器及第2感測器)450。
反射鏡402，係以與光入射部401a在Z軸方向相對向的方式被安裝於殼體401的底面401b。反射鏡402，係將透過光入射部401a來射入殼體401內的雷射光L反射至與XY平面平行的方向。藉由雷射輸出部300之擴束器350平行化後的雷射光L係沿著Z軸方向射入反射鏡402。也就是說，雷射光L作為平行光來沿著Z軸方向 射入反射鏡402。因此，即使藉由第2移動機構240使雷射聚光部400沿著Z軸方向進行移動，沿著Z軸方向射入反射鏡402之雷射光L的狀態係可維持一定。藉由反射鏡402所反射的雷射光L係射入反射型空間光調變器410。
反射型空間光調變器410，係以反射面410a面臨殼體401內的狀態被安裝於Y軸方向之殼體401的端部401c。反射型空間光調變器410，係例如反射型液晶(LCOS：Liquid Crystal on Silicon)之空間光調變器(SLM：Spatial Light Modulator)，用來一面將雷射光L進行調變，一面將雷射光L反射至Y軸方向。藉由反射型空間光調變器410被調變並且反射的雷射光L，係沿著Y軸方向來射入4f透鏡單元420。在此，於與XY平面平行的平面內，射入反射型空間光調變器410的雷射光L之光軸、與從反射型空間光調變器410所射出的雷射光L之光軸所成的角度α，係設為銳角(例如，10~60°)。也就是說，雷射光L，係於反射型空間光調變器410中沿著XY平面以銳角進行反射。其原因在於，抑制雷射光L的入射角及反射角來抑制折射效率的降低，使反射型空間光調變器410的性能充分發揮。另外，於反射型空間光調變器410中，例如，由於使用有液晶的光調變層之厚度為數μm~數十μm左右而為極薄，因此反射面410a，係可與光調變層的光射入射出面實質上相同地捕捉。
4f透鏡單元420係具有：保持具421、反射型空間光調變器410側之透鏡(第1透鏡系統、成像光學系 統)422、聚光透鏡單元430側之透鏡(第2透鏡系統、成像光學系統)423、以及狹縫構件424。保持具421，係用來保持一對透鏡422、423及狹縫構件424。保持具421，係將沿著雷射光L之光軸的方向之一對的透鏡422、423及狹縫構件424之彼此的位置關係維持一定。一對的透鏡422、423，係用來構成使反射型空間光調變器410之反射面410a與聚光透鏡單元430之入射瞳面430a具有成像關係的兩側遠心光學系統。藉此，在反射型空間光調變器410之反射面410a的雷射光L之影像(於反射型空間光調變器410中調變後的雷射光L之影像)，係被傳像(成像)至聚光透鏡單元430之入射瞳面430a。於狹縫構件424係形成有狹縫424a。狹縫424a，係於透鏡422與透鏡423之間位於透鏡422之焦點面附近。藉由反射型空間光調變器410所調變並且反射的雷射光L中之不要的部分，係藉由狹縫構件424被遮斷。通過4f透鏡單元420的雷射光L，係沿著Y軸方向射入分光鏡403。
分光鏡403，係將雷射光L的大部分(例如，95~99.5%)反射至Z軸方向，並使雷射光L的一部分(例如，0.5~5%)沿著Y軸方向透過。雷射光L的大部分，係於分光鏡403沿著ZX平面以直角進行反射。藉由分光鏡403所反射的雷射光L，係沿著Z軸方向射入聚光透鏡單元430。
聚光透鏡單元430，係透過驅動機構440被安 裝於Y軸方向之殼體401的端部401d(端部401c之相反側的端部)。聚光透鏡單元430係具有保持具431及複數個反射鏡432。保持具431係用來保持複數個透鏡432。複數個透鏡432，係將雷射光L聚光於支承台230所支承的加工對象物1(參照第7圖)。驅動機構440，係藉由壓電元件的驅動力，使聚光透鏡單元430沿著Z軸方向移動。
一對的測距感測器450，係以於X軸方向位於聚光透鏡單元430之兩側的方式，被安裝於殼體401的端部401d。各測距感測器450，係藉由對於支承台230所支承的加工對象1(參照第7圖)的雷射光入射面射出測距用的光(例如，雷射光)，並檢測藉由該雷射光入射面所反射之測距用的光，而取得加工對象物1之雷射光入射面的位移資料。另外，於測距感測器450，係可利用三角測距方式、雷射共焦點方式、白色共焦點方式、分光干擾方式、非點像差方式等之感測器。
於雷射加工裝置200中，係如上述般，與X軸方向平行的方向係設為加工方向(雷射光L的掃描方向)。因此，當雷射光L之聚光點沿著各切斷預定線5a、5b相對地移動時，一對的測距感測器450中，相對於聚光透鏡單元430而相對地先行的測距感測器450會取得沿著各切斷預定線5a、5b的加工對象物1之雷射光入射面的位移資料。接著，為了使加工對象物1之雷射光入射面與雷射光L之聚光點的距離維持一定，驅動機構 440，係根據藉由測距感測器450所取得之位移資料使聚光透鏡單元430沿著Z軸方向進行移動。
雷射聚光部400係具有：射束分離器461、一對的透鏡462、463、以及雷射光L之強度分布監測用的攝像機464。射束分離器461，係將透過分光鏡403的雷射光L區分成反射成分與透過成分。藉由射束分離器461所反射的雷射光L，係沿著Z軸方向依序射入一對的透鏡462、463及攝像機464。一對的透鏡462、463，係構成使聚光透鏡單元430之入射瞳面430a與攝像機464之攝像面具有成像關係的兩側遠心光學系統。藉此，在聚光透鏡單元430之入射瞳面430a的雷射光L之影像被傳像(成像)至攝像機464的攝像面。如上述般，在聚光透鏡單元430之入射瞳面430a的雷射光L之影像，係於反射型空間光調變器410中調變後的雷射光L之影像。因而，於雷射加工裝置200中，係藉由監視攝像機464所產生之攝像結果，而可掌握反射型空間光調變器410之動作狀態。
進而，雷射聚光部400係具有：射束分離器471、透鏡472、以及雷射光L之光軸位置監測用的攝像機473。射束分離器471，係將透過射束分離器461的雷射光L區分成反射成分與透過成分。藉由射束分離器471所反射的雷射光L，係沿著Z軸方向依序射入透鏡472及攝像機473。透鏡472，係將所射入的雷射光L聚光於攝像機473的攝像面上。於雷射加工裝置200中，係藉由一 面監視攝像機464及攝像機473所分別產生的攝像結果，一面於反射鏡單元360中，實施相對於安裝基座301之支承基座361的位置調整、相對於支承基座361之反射鏡363的位置調整、及各反射鏡362、363之反射面的角度調整(參照第9圖及第10圖)，而可將射入聚光透鏡單元430的雷射光L之光軸的偏離(相對於聚光透鏡單元430之雷射光的強度分布的位置偏離、及相對於聚光透鏡單元430之雷射光L之光軸的角度偏離)進行校正。
複數個射束分離器461、471，係被配置於從殼體401之端部401d沿著Y軸方向延伸的筒體404內。一對的透鏡462、463，係被配置於沿著Z軸方向立設於筒體404上的筒體405內，攝像機464係被配置於筒體405的端部。透鏡472，係被配置於沿著Z軸方向立設於筒體404上的筒體406內，攝像機473係被配置於筒體406的端部。筒體405與筒體406，係於Y軸方向彼此並列設置。另外，透過射束分離器471的雷射光L，係可設為會被設置於筒體404之端部的擋板等吸收，或者，亦可設為會被利用在適當的用途。
如第12圖及第13圖所示般，雷射聚光部400係具有：可見光源481、複數個透鏡482、標線483、反射鏡484、半反射鏡485、射束分離器486、透鏡487、以及觀察攝像機488。可見光源481，係沿著Z軸方向將可見光V射出。複數個透鏡482，係使從可見光源481所射出的可見光V平行化。標線483係於可見光V賦予刻度 線。反射鏡484，係將藉由複數個透鏡482所平行化的可見光V反射至X軸方向。半反射鏡485，係將藉由反射鏡484所反射的可見光V區分成反射成分與透過成分。藉由半反射鏡485所反射的可見光V，係沿著Z軸方向依序透過射束分離器486及分光鏡403，透過聚光透鏡單元430，而照射於支承台230所支承的加工對象物1(參照第7圖)。
照射於加工對象物1的可見光V，係藉由加工對象物1之雷射光入射面所反射，透過聚光透鏡單元430來射入分光鏡403，沿著Z軸方向透過分光鏡403。射束分離器486，係將透過分光鏡403的可見光V區分成反射成分與透過成分。透過射束分離器486的可見光V，係透過半反射鏡485，沿著Z軸方向依序射入透鏡487及觀察攝像機488。透鏡487，係將所射入的可見光V聚光於觀察攝像機488的攝像面上。於雷射加工裝置200中，係藉由觀察觀察攝像機488所產生之攝像結果，而可掌握加工對象物1之狀態。
反射鏡484、半反射鏡485及射束分離器486，係被配置於安裝於殼體401之端部401d上的保持具407內。複數個透鏡482及標線483，係被配置於沿著Z軸方向立設於保持具407上的筒體408內，可見光源481係被配置於筒體408的端部。透鏡487，係被配置於沿著Z軸方向立設於保持具407上的筒體409內，觀察攝像機488係被配置於筒體409的端部。筒體408與筒體409， 係於X軸方向彼此並列設置。另外，沿著X軸方向透過半反射鏡485的可見光V、及藉由射束分離器486被反射至X軸方向的可見光V，係可分別設為會被設置於保持具407之壁部的擋板等吸收，或者，亦可設為會被利用在適當的用途。
於雷射加工裝置200中，係想定有雷射輸出部300之交換。其原因在於，因應於加工對象物1的規格、加工條件等，適於加工的雷射光L之波長係不同。因而，可準備所射出之雷射光L的波長彼此不同的複數個雷射輸出部300。在此，準備所射出之雷射光L的波長包含於500~550nm之波長範圍內的雷射輸出部300、所射出之雷射光L的波長包含於1000~1150nm之波長範圍內的雷射輸出部300、及所射出之雷射光L的波長包含於1300~1400nm之波長範圍內的雷射輸出部300。
另一方面，於雷射加工裝置200中，並未想定雷射聚光部400之交換。其原因在於，雷射聚光部400係對應於多波長(對應於彼此不連續之複數個波長範圍)。具體而言，反射鏡402、反射型空間光調變器410、4f透鏡單元420之一對的透鏡422、423、分光鏡403、及聚光透鏡單元430的透鏡432等係對應於多波長。在此，雷射聚光部400，係對應於500~550nm、1000~1150nm及1300~1400nm之波長範圍。其係藉由將既定的介電體多層膜塗覆於雷射聚光部400之各構造上等以滿足所期望之光學性能的方式來設計雷射聚光部400之 各構造而實現。另外，於雷射輸出部300中，λ/2波長板單元330係具有λ/2波長板，偏光板單元340係具有偏光板。λ/2波長板及偏光板係波長依存性為高的光學元件。因此，λ/2波長板單元330及偏光板單元340，係作為每個波長範圍不同的構造被設置於雷射輸出部300。
[雷射加工裝置之雷射光的光路徑及偏光方向]
於雷射加工裝置200中，聚光於支承台230所支承的加工對象物1之雷射光L的偏光方向，係如第11圖所示般，與X軸方向平行的方向，且與加工方向(雷射光L之掃描方向)一致。在此，於反射型空間光調變器410中，雷射光L係以P偏光的方式進行反射。其原因在於，於反射型空間光調變器410的光調變層使用有液晶的情況，以在與包含對於反射型空間光調變器410進行射入射出的雷射光L之光軸的平面平行之面內使液晶分子傾斜的方式，當該液晶被配向時，係以偏光面之旋轉被抑制的狀態對雷射光L施以相位調變(例如，參照日本專利第3878758號公報)。另一方面，於分光鏡403中，雷射光L係以S偏光的方式進行反射。其原因在於，相較於使雷射光L以P偏光的方式進行反射，使雷射光L以S偏光的方式進行反射者係減少用以使分光鏡403對應於多波長之介電體多層膜的塗覆數等之分光鏡403的設計較容易。
因而，於雷射聚光部400中，從反射鏡402 透過反射型空間光調變器410及4f透鏡單元420到達分光鏡403的光路徑，係被設定成沿著XY平面，從分光鏡403到達聚光透鏡單元430的光路徑，係被設定成沿著Z軸方向。
如第9圖所示般，於雷射輸出部300中，雷射光L的光路徑，係被設定成沿著X軸方向或Y軸方向(與主面301a平行的平面)。具體而言，從雷射振盪器310到達反射鏡303的光路徑，以及從反射鏡304到達λ/2波長板單元330、透過偏光板單元340及擴束器350到達反射鏡單元360的光路徑，係被設定成沿著X軸方向，從反射鏡303透過開閉器320到達反射鏡304的光路徑，以及於反射鏡單元360中從反射鏡362到達反射鏡363的光路徑，係被設定成沿著Y軸方向。
在此，沿著Z軸方向從雷射輸出部300行進至雷射聚光部400的雷射光L，係如第11圖所示般，藉由反射鏡402被反射至與XY平面平行的方向，而射入反射型空間光調變器410。此時，於與XY平面平行的平面內，射入反射型空間光調變器410的雷射光L之光軸、與從反射型空間光調變器410所射出的雷射光L之光軸，係形成作為銳角之角度α。另一方面，如上述般，於雷射輸出部300中，雷射光L的光路徑，係被設定成沿著X軸方向或Y軸方向。
因而，於雷射輸出部300中，λ/2波長板單元330及偏光板單元340，不僅發揮作為用來調整雷射光L 之輸出的輸出調整部的功能，也必須發揮作為用來調整雷射光L之偏光方向的偏光方向調整部的功能。
[λ/2波長板單元及偏光板單元]
如第14圖所示般，λ/2波長板單元330係具有：保持具(第1保持具)331及λ/2波長板332。保持具331，係將λ/2波長板332保持成使λ/2波長板332可以與X軸方向平行的軸線(第1軸線)XL為中心線進行旋轉。λ/2波長板332，係在相對於該光學軸(例如，fast軸)使偏光方向傾斜角度θ來射入雷射光L的情況，以軸線XL為中心線使偏光方向旋轉角度2θ來射出雷射光L(參照第15圖(a))。
偏光板單元340係具有：保持具(第2保持具)341、偏光板(偏光構件)342、以及光路徑校正板(光路徑校正構件)343。保持具341，係將偏光板342及光路徑校正板343保持成使偏光板342及光路徑校正板343可以軸線(第2軸線)XL為中心線一體旋轉。偏光板342之光入射面及光射出面，係傾斜既定角度(例如，布魯斯特角(Brewster angle))。偏光板342，係在雷射光L射入的情況，使與偏光板342之偏光軸一致的雷射光L之P偏光成分透過，並將雷射光L之S偏光成分反射或吸收(參照第15圖(b))。光路徑校正板343之光入射面及光射出面，係朝向與偏光板342之光入射面及光射出面相反側傾斜。光路徑校正板343，係使透過偏光板342 而偏離軸線XL上的雷射光L之光軸返回軸線XL上。
如上述般，於雷射聚光部400中，在與XY平面平行的平面內，射入反射型空間光調變器410的雷射光L之光軸、與從反射型空間光調變器410所射出的雷射光L之光軸，係形成作為銳角之角度α(參照第11圖)。另一方面，於雷射輸出部300中，雷射光L的光路徑，係被設定成沿著X軸方向或Y軸方向(參照第9圖)。
因此，於偏光板單元340中，係使偏光板342及光路徑校正板343以軸線XL為中心線一體旋轉，如第15圖(b)所示般，相對於與Y軸方向平行的方向使偏光板342之偏光軸傾斜角度α。藉此，從偏光板單元340所射出之雷射光L的偏光方向，相對於與Y軸方向平行的方向而傾斜角度α。其結果，於反射型空間光調變器410中雷射光L以P偏光的形式反射，並且於分光鏡403中雷射光L以S偏光的形式反射，使聚光於支承台230所支承的加工對象物1的雷射光L之偏光方向成為與X軸方向平行的方向。
此外，如第15圖(b)所示般，可調整射入偏光板單元340之雷射光L的偏光方向，且可調整從偏光板單元340所射出之雷射光L的光強度。射入偏光板單元340之雷射光L的偏光方向之調整，係藉由於λ/2波長板單元330中使λ/2波長板332以軸線XL為中心線進行旋轉，並如第15圖(a)所示般，調整相對於射入λ/2波長板332之雷射光L的偏光方向(例如，與Y軸方向平行 的方向)之λ/2波長板332之光學軸的角度而實施。
如上述般，於雷射輸出部300中，λ/2波長板單元330及偏光板單元340，不僅發揮作為用來調整雷射光L之輸出的輸出調整部(於上述之例中係輸出衰減部)的功能，亦發揮作為用來調整雷射光L之偏光方向的偏光方向調整部的功能。
[4f透鏡單元]
如上述般，4f透鏡單元420之一對的透鏡422、423，係構成使反射型空間光調變器410之反射面410a與聚光透鏡單元430之入射瞳面430a具有成像關係的兩側遠心光學系統。具體而言，如第16圖所示般，使反射型空間光調變器410側之透鏡422與反射型空間光調變器410之反射面410a之間的光路徑之距離成為透鏡422之第1焦點距離f1，使聚光透鏡單元430側之透鏡423與聚光透鏡單元430之入射瞳面430a之間的光路徑之距離成為透鏡423之第2焦點距離f2，並使透鏡422與透鏡423之間的光路徑之距離成為第1焦點距離f1與第2焦點距離f2之和(亦即，f1+f2)。從反射型空間光調變器410到達聚光透鏡單元430之光路徑中之一對的透鏡422、423間之光路徑為一直線。
於雷射加工裝置200中，就將在反射型空間光調變器410之反射面410a的雷射光L之有效直徑增大的觀點而言，兩側遠心光學系統的倍率M係滿足 0.5<M<1(縮小系統)。在反射型空間光調變器410之反射面410a的雷射光L之有效直徑越大，越可在高精細的相位圖案將雷射光L進行調變。就抑制使從反射型空間光調變器410到達聚光透鏡單元430之雷射光L的光路徑增長之觀點而言，更佳為0.6≦M≦0.95。在此，(兩側遠心光學系統的倍率M)=(在聚光透鏡單元430之入射瞳面430a的影像之大小)/(在反射型空間光調變器410之反射面410a的物體之大小)。在雷射加工裝置200的情況，兩側遠心光學系統之倍率M、透鏡422之第1焦點距離f1及透鏡423之第2焦點距離f2，係滿足M=f2/f1。
另外，就將在反射型空間光調變器410之反射面410a的雷射光L之有效直徑縮小的觀點而言，兩側遠心光學系統的倍率M亦可滿足1<M<2(擴大系統)。在反射型空間光調變器410之反射面410a的雷射光L之有效直徑越小，擴束器350(參照第9圖)的倍率較小即可，於與XY平面平行的平面內，射入反射型空間光調變器410之雷射光L的光軸、與從反射型空間光調變器410所射出之雷射光L的光軸所成的角度α(參照第11圖)會變小。就抑制使從反射型空間光調變器410到達聚光透鏡單元430之雷射光L的光路徑增長之觀點而言，更佳為1.05≦M≦1.7。
於4f透鏡單元420中，由於兩側遠心光學系統的倍率M並非為1，因此，如第17圖所示般，若一對的透鏡422、423沿著光軸進行移動，則聚光透鏡單元 430側之共軛點會移動。具體而言，在倍率M<1(縮小系統)的情況，若一對的透鏡422、423沿著光軸移動到聚光透鏡單元430側，則聚光透鏡單元430側之共軛點會移動到反射型空間光調變器410的相反側。另一方面，在倍率M>1(擴大系統)的情況，若一對的透鏡422、423沿著光軸移動至反射型空間光調變器410側，則聚光透鏡單元430側之共軛點會移動到反射型空間光調變器410的相反側。藉此，例如在聚光透鏡單元430之安裝位置產生偏離的情況，聚光透鏡單元430側之共軛點會被定位於聚光透鏡單元430之入射瞳面430a。於4f透鏡單元420中，係如第11圖所示般，沿著Y軸方向延伸的複數個長孔421a被形成於保持具421的底壁，藉由透過各長孔421a的螺栓，保持具421被固定於殼體401的底面401b。藉此，沿著光軸的方向之一對的透鏡422、423之位置調整，係藉由相對於殼體401的底面401b之保持具421的固定位置沿著Y軸方向作調整而實施。
[作用及效果]
雷射加工裝置200係具備：裝置框架210、支承台230、雷射輸出部300、以及雷射聚光部400，該支承台230，係被安裝於裝置框架210，且用來支承加工對象物1；該雷射輸出部300係被安裝於裝置框架210；該雷射聚光部400，係以可相對於雷射輸出部300進行移動的方式被安裝於裝置框架210。雷射輸出部300，係具有用來射出雷射光L的雷射振盪器310。雷射聚光部400係 具有：反射型空間光調變器410、聚光透鏡單元430、以及一對的透鏡422、423，該反射型空間光調變器410，係用來將雷射光L一面進行調變一面進行反射；該聚光透鏡單元430，係用來將雷射光L聚光於加工對象物1；該透鏡422、423，係用來構成使反射型空間光調變器410之反射面410a與聚光透鏡單元430之入射瞳面430a具有成像關係的兩側遠心光學系統。
於雷射加工裝置200中，具有反射型空間光調變器410、聚光透鏡單元430及一對的透鏡422、423的雷射聚光部400，係可相對於具有雷射振盪器310之雷射輸出部300進行移動。因而，例如，相較於使被配置於從雷射振盪器310到達聚光透鏡單元430之雷射光L的光路徑上之各構造全體進行移動的情況，可使成為移動對象之雷射聚光部400輕量化，而可使用來移動雷射聚光部400的第2移動機構240小型化。並且，由於反射型空間光調變器410、聚光透鏡單元430及一對的透鏡422、423，係作為一體進行移動，彼此的位置關係被維持，因此可將在反射型空間光調變器410之反射面410a的雷射光L之影像精度佳地傳像至聚光透鏡單元430之入射瞳面430a。因而，依據雷射加工裝置200，可一面抑制裝置的大型化，一面使聚光透鏡單元430側之構造相對於加工對象物1進行移動。
於雷射加工裝置200中，來自雷射輸出部300之雷射光L的射出方向(Z軸方向)，係與雷射聚光部 400的移動方向(Z軸方向)一致。藉此，即使雷射聚光部400相對於雷射輸出部300進行移動，亦可抑制射入雷射聚光部400之雷射光L的位置變化。
於雷射加工裝置200中，雷射輸出部300係進一步具有用來使雷射光L平行化的擴束器350。藉此，即使雷射聚光部400相對於雷射輸出部300進行移動，亦可抑制射入雷射聚光部400之雷射光L的直徑變化。另外，即使藉由擴束器350雷射光L並非成為完全的平行光，例如，多少存在有雷射光L之張角，亦可於反射型空間光調變器410中使雷射光L平行化。
於雷射加工裝置200中，雷射聚光部400亦可進一步具有殼體401，該殼體401，係內部設定有從反射型空間光調變器410透過一對的透鏡422、423到達聚光透鏡單元430之雷射光L的光路徑，於殼體401中，係設置有使從雷射輸出部300所射出的雷射光L射入殼體401內的光入射部401a。藉此，可一面將從反射型空間光調變器410透過一對的透鏡422、423到達聚光透鏡單元430之雷射光L的光路徑之狀態維持一定，一面使雷射聚光部400相對於雷射輸出部300進行移動。
於雷射加工裝置200中，雷射聚光部400亦可進一步具有反射鏡402，該反射鏡402，係以在雷射聚光部400的移動方向(Z軸方向)與光入射部401a相對向的方式配置於殼體401內，反射鏡402，係將從光入射部401a射入殼體401內的雷射光L朝向反射型空間光調 變器410進行反射。藉此，可使從雷射輸出部300射入雷射聚光部400的雷射光L以既定的角度射入反射型空間光調變器410。
於雷射加工裝置200中，支承台230，係以可沿著與雷射聚光部400的移動方向(Z軸方向)垂直的平面(XY平面)進行移動的方式被安裝於裝置框架210。藉此，除了使雷射光L之聚光點相對於加工對象物1而位於所期望的位置之外，亦可於與雷射聚光部400之移動方向垂直的平面平行之方向，對於加工對象物1掃描雷射光L。
於雷射加工裝置200中，支承台230，係透過第1移動機構220被安裝於裝置框架210，而雷射聚光部400，係透過第2移動機構240被安裝於裝置框架210。藉此，可確實地實施支承台230及雷射聚光部400之各自的移動。
此外，雷射加工裝置200係具備：裝置框架210、支承台230、雷射輸出部300、以及雷射聚光部400，該支承台230，係被安裝於裝置框架210，且用來支承加工對象物1；該雷射輸出部300，係可相對於裝置框架210進行裝卸；該雷射聚光部400係被安裝於裝置框架210。雷射輸出部300係具有：用來射出雷射光L的雷射振盪器310、用來調整雷射光L之輸出的λ/2波長板單元330及偏光板單元340。雷射聚光部400係具有：反射型空間光調變器410、聚光透鏡單元430、以及一對的透鏡 422、423，該反射型空間光調變器410，係用來將雷射光L一面進行調變一面進行反射；該聚光透鏡單元430，係用來將雷射光L聚光於加工對象物1；該透鏡422、423，係用來構成使反射型空間光調變器410之反射面410a與聚光透鏡單元430之入射瞳面430a具有成像關係的兩側遠心光學系統。於此情況中，雷射聚光部400亦可被固定於裝置框架210。並且，支承台230，係以不僅可沿著X軸方向及Y軸方向亦可沿著Z軸方向進行移動的方式被安裝於裝置框架210。
於雷射加工裝置200中，具有雷射振盪器310以及λ/2波長板單元330及偏光板單元340的雷射輸出部300，係可相對於裝置框架210進行裝卸，且與具有反射型空間光調變器410、聚光透鏡單元430及一對的透鏡422、423的雷射聚光部400為相互獨立個體。因而，在因應於加工對象物1之規格、加工條件等，而適於加工的雷射光L之波長係不同的情況，可將用來射出具有所期望之波長的雷射光L之雷射振盪器310、以及具有波長依存性之λ/2波長板單元330及偏光板單元340整批交換。因而，依據此雷射加工裝置200，可使用雷射光L之波長彼此不同的複數個雷射振盪器310。
於雷射加工裝置200中，雷射輸出部300可進一步具有安裝基座301，該安裝基座301，係用來支承雷射振盪器310以及λ/2波長板單元330及偏光板單元340且可相對於裝置框架210進行裝卸，雷射輸出部 300，係透過安裝基座301而被安裝於裝置框架210。藉此，可相對於裝置框架210將雷射輸出部300容易地裝卸。
於雷射加工裝置200中，雷射輸出部300係進一步具有用來調整從雷射輸出部300所射出的雷射光L之光軸的反射鏡362、363。藉此，例如當將雷射輸出部300安裝於裝置框架210時，可調整射入雷射聚光部400之雷射光L的光軸之位置及角度。
於雷射加工裝置200中，λ/2波長板單元330及偏光板單元340，係用來調整雷射光L之偏光方向。藉此，例如當將雷射輸出部300安裝於裝置框架210時，可調整射入雷射聚光部400之雷射光L的偏光方向，甚至從雷射聚光部400所射出之雷射光L的偏光方向。
於雷射加工裝置200中，λ/2波長板單元330及偏光板單元340，係包含λ/2波長板332及偏光板342。藉此，可將具有波長依存性之λ/2波長板332及偏光板342與雷射振盪器310整批交換。
於雷射加工裝置200中，雷射輸出部300係進一步具有用來一面調整雷射光L之直徑一面使雷射光L平行化的擴束器350。藉此，即使在例如雷射聚光部400相對於雷射輸出部300進行移動的情況，亦可將射入雷射聚光部400之雷射光L的狀態維持一定。
於雷射加工裝置200中，反射型空間光調變器410、聚光透鏡單元430及一對的透鏡422、423，係對 應於500~550nm、1000~1150nm及1300~1400nm之波長範圍。藉此，可將用來射出各波長範圍的雷射光L之雷射輸出部300安裝於雷射加工裝置200。另外，500~550nm之波長範圍的雷射光L，係適於對由例如藍寶石所構成之基板的內部吸收型雷射加工。1000~1150nm及1300~1400nm之各波長範圍的雷射光L，係適於對例如由矽所構成之基板的內部吸收型雷射加工。
此外，雷射加工裝置200係具備：支承台230、雷射振盪器310、反射型空間光調變器410、聚光透鏡單元430、以及一對的透鏡422、423，該支承台230係用來支承加工對象物1；該雷射振盪器310係用來射出雷射光L；該反射型空間光調變器410，係用來將雷射光L一面進行調變一面進行反射；該聚光透鏡單元430，係用來將雷射光L聚光於加工對象物1；該透鏡422、423，係用來構成使反射型空間光調變器410之反射面410a與聚光透鏡單元430之入射瞳面430a具有成像關係的兩側遠心光學系統。從反射型空間光調變器410到達聚光透鏡單元430之雷射光L的光路徑中，至少通過一對的透鏡422、423(亦即，從反射型空間光調變器410側之透鏡422到達聚光透鏡單元430側之透鏡423)之雷射光L的光路徑為一直線。兩側遠心光學系統的倍率M係滿足0.5<M<1或1<M<2。另外，於雷射加工裝置200中，兩側遠心光學系統之倍率M、透鏡422之第1焦點距離f1及透鏡423之第2焦點距離f2，係滿足M=f2/f1。於此情 況中，雷射聚光部400亦可被固定於裝置框架210。並且，支承台230，係以不僅可沿著X軸方向及Y軸方向亦可沿著Z軸方向進行移動的方式被安裝於裝置框架210。
於雷射加工裝置200中，兩側遠心光學系統的倍率M並非為1。藉此，若一對的透鏡422、423沿著光軸進行移動，則聚光透鏡單元430側之共軛點會移動。具體而言，在倍率M<1(縮小系統)的情況，若一對的透鏡422、423沿著光軸移動到聚光透鏡單元430側，則聚光透鏡單元430側之共軛點會移動到反射型空間光調變器410的相反側。另一方面，在倍率M>1(擴大系統)的情況，若一對的透鏡422、423沿著光軸移動到反射型空間光調變器410側，則聚光透鏡單元430側之共軛點會移動到反射型空間光調變器410的相反側。因而，例如在聚光透鏡單元430之安裝位置產生偏離的情況，聚光透鏡單元430側之共軛點會被定位於聚光透鏡單元430之入射瞳面430a。並且，由於至少從反射型空間光調變器410側之透鏡422到達聚光透鏡單元430側之透鏡423的雷射光L之光路徑為一直線，因此可使一對的透鏡422、透鏡423沿著光軸容易地進行移動。因而，依據雷射加工裝置200，可將在反射型空間光調變器410之反射面410a的雷射光L之影像容易且精度佳地傳像至聚光透鏡單元430的入射瞳面430a。
另外，藉由設為0.5<M<1，而可將在反射型空間光調變器410之反射面410a的雷射光L之有效直徑 增大，且可在高精細的相位圖案將雷射光L進行調變。另一方面，藉由設為1<M<2，而可將在反射型空間光調變器410之反射面410a的雷射光L之有效直徑縮小，且可將射入反射型空間光調變器410的雷射光L之光軸、與從反射型空間光調變器410所射出的雷射光L之光軸所成的角度α縮小。抑制相對於反射型空間光調變器410之雷射光L的入射角及反射角一事在抑制折射效率之降低使反射型空間光調變器410之性能充分發揮上係為重要。
於雷射加工裝置200中，倍率M亦可滿足0.6≦M≦0.95。藉此，可一面維持在上述之0.5<M<1的情況所發揮的效果，一面更確實地抑制從反射型空間光調變器410到達聚光透鏡單元430的雷射光L之光路徑增長一事。
於雷射加工裝置200中，倍率M亦可滿足1.05≦M≦1.7。藉此，可一面維持在上述之1<M<2的情況所發揮的效果，一面更確實地抑制從反射型空間光調變器410到達聚光透鏡單元430的雷射光L之光路徑增長一事。
於雷射加工裝置200中，一對的透鏡422、423係被保持於保持具421，保持具421，係將沿著雷射光L之光軸的方向之一對的透鏡422、423彼此的位置關係維持一定，沿著雷射光L之光軸的方向(Y軸方向)之一對的透鏡422、423的位置調整，係可藉由保持具421的位置調整來實施。藉此，可一面將一對的透鏡422、 423彼此的位置關係維持一定，一面容易且確實地實施一對的透鏡422、423的位置調整(甚至是共軛點的位置調整)。
此外，雷射加工裝置200係具有：支承台230、雷射振盪器310、反射型空間光調變器410、聚光透鏡單元430、一對的透鏡422、423、以及分光鏡403，該支承台230係用來支承加工對象物1；該雷射振盪器310係用來射出雷射光L；該反射型空間光調變器410，係用來將雷射光L一面進行調變一面進行反射；該聚光透鏡單元430，係用來將雷射光L聚光於加工對象物1；該透鏡422、423，係用來構成使反射型空間光調變器410之反射面410a與聚光透鏡單元430之入射瞳面430a具有成像關係的兩側遠心光學系統；該分光鏡403，係用來將通過一對的透鏡422、423之雷射光L朝向聚光透鏡單元430進行反射。反射型空間光調變器410，係將雷射光L沿著既定的平面(包含對於反射型空間光調變器410進行射入射出的雷射光L之光路徑的平面，與XY平面平行的平面)以銳角進行反射。從反射型空間光調變器410透過一對的透鏡422、423到達分光鏡403之雷射光L的光路徑，係被設定成沿著該平面。從分光鏡403到達聚光透鏡單元430之雷射光L的光路徑，係被設定成沿著與該平面交叉的方向(Z軸方向)。於此情況中，雷射聚光部400亦可被固定於裝置框架210。並且，支承台230，係以不僅可沿著X軸方向及Y軸方向亦可沿著Z軸方向進行移動的 方式被安裝於裝置框架210。
於雷射加工裝置200中，從反射型空間光調變器410透過一對的反射鏡422、423到達分光透403之雷射光L的光路徑，係被設定成沿著既定的平面，從分光鏡403到達聚光透鏡單元430之雷射光L的光路徑，係被設定成沿著與該平面交叉的方向。藉此，例如，可使雷射光L以P偏光的形式反射至反射型空間光調變器410，且使雷射光L以S偏光的形式反射至反射鏡。其係在將在反射型空間光調變器410之反射面410a的雷射光L之影像精度佳地傳像至聚光透鏡單元430的入射瞳面430a上係為重要。進而，反射型空間光調變器410係將雷射光L以銳角進行反射。抑制相對於反射型空間光調變器410之雷射光L的入射角及反射角一事在抑制折射效率之降低使反射型空間光調變器410之性能充分發揮上係為重要。藉由以上方式，依據雷射加工裝置200，可將在反射型空間光調變器410之反射面410a的雷射光L之影像容易且精度佳地傳像至聚光透鏡單元430的入射瞳面430a。
於雷射加工裝置200中，從分光鏡403到達聚光透鏡單元430之雷射光L的光路徑，係被設定成沿著與上述之平面(與XY平面平行的平面)正交的方向，分光鏡403係將雷射光L以直角進行反射。藉此，可將從反射型空間光調變器410到達聚光透鏡單元430之雷射光L的光路徑處理成直角。
於雷射加工裝置200中，將通過一對的透鏡 422、423的雷射光L朝向聚光透鏡單元430進行反射的反射鏡係分光鏡403。藉此，可將透過分光鏡403之雷射光L的一部分利用於各種的用途中。
於雷射加工裝置200中，反射型空間光調變器410，係將雷射光L以P偏光的形式進行反射，分光鏡403，係將雷射光L以S偏光的形式進行反射。藉此，可將在反射型空間光調變器410之反射面410a的雷射光L之影像精度佳地傳像至聚光透鏡單元430的入射瞳面430a。
雷射加工裝置200係進一步具備λ/2波長板單元330及偏光板單元340，該λ/2波長板單元330及偏光板單元340，係被配置於從雷射振盪器310到達反射型空間光調變器410之雷射光L的光路徑上，且用來調整雷射光L的偏光方向。藉此，由於反射型空間光調變器410設置成將雷射光L以銳角進行反射而可調整雷射光L的偏光方向，因此可將從雷射振盪器310到達反射型空間光調變器410之雷射光L的光路徑處理成直角。
此外，雷射加工裝置200係具有：支承台230、雷射振盪器310、反射型空間光調變器410、聚光透鏡單元430、一對的透鏡422、423、分光鏡403、以及一方之測距感測器450，該支承台230係用來支承加工對象物1；該雷射振盪器310係用來射出雷射光L；該反射型空間光調變器410，係用來將雷射光L一面進行調變一面進行反射；該聚光透鏡單元430，係用來將雷射光L聚光 於加工對象物1；該透鏡422、423，係用來構成使反射型空間光調變器410之反射面410a與聚光透鏡單元430之入射瞳面430a具有成像關係的兩側遠心光學系統；該分光鏡403，係用來將通過一對的透鏡422、423之雷射光L朝向聚光透鏡單元430進行反射；該測距感測器450，係用來取得加工對象物1之雷射光入射面的位移資料。從分光鏡403到達聚光透鏡單元430之雷射光L的光路徑，係被設定成沿著第1方向(Z軸方向)。從反射型空間光調變器410透過一對的透鏡422、423到達分光鏡403之雷射光L的光路徑，係被設定成沿著與第1方向垂直的第2方向(Y軸方向)。一方之測距感測器450，係於與第1方向及第2方向垂直的第3方向(X軸方向)，被配置於聚光透鏡單元430的一側。於此情況中，雷射聚光部400亦可被固定於裝置框架210。並且，支承台230，係以不僅可沿著X軸方向及Y軸方向亦可沿著Z軸方向進行移動的方式被安裝於裝置框架210。
於雷射加工裝置200中，係藉由以相對於聚光透鏡單元430而使一方之測距感測器450相對地先行的方式，來對於加工對象物1掃描雷射光L，而可在雷射光L照射於該部位之前取得在加工對象物1之任意部位的雷射光入射面之位移資料。藉此，例如，可以使加工對象物1之雷射光入射面與雷射光L之聚光點的距離維持一定的方式，來對於加工對象物1掃描雷射光L。進而，一方之測距感測器450，係相對於從反射型空間光調變器410到 達聚光透鏡單元430的雷射光L之光路徑所配置的平面(與YZ平面平行的面)而被配置於一側。也就是說，相對於配置於從反射型空間光調變器410到達聚光透鏡單元430的雷射光L之光路徑上的各構造，一方之測距感測器450被有效地配置。因而，依據雷射加工裝置200，可一面抑制裝置的大型化，一面取得加工對象物1之雷射光入射面的位移資料。
於雷射加工裝置200中，將通過一對的透鏡422、423的雷射光L朝向聚光透鏡單元430進行反射的反射鏡係分光鏡403。藉此，可將透過分光鏡403之雷射光L的一部分利用於各種的用途中。
於雷射加工裝置200中，分光鏡403，係將雷射光L以S偏光的形式進行反射。藉此，藉由沿著第3方向(X軸方向)對於加工對象物1掃描雷射光L，而可使雷射光L之掃描方向與雷射光L之偏光方向彼此一致。例如，在沿著切斷預定線於加工對象物1的內部形成改質區域的情況，係藉由使雷射光L之掃描方向與雷射光L之偏光方向彼此一致，而可有效率地形成改質區域。
雷射加工裝置200係進一步具備殼體401及第2移動機構240，該殼體401，係用來至少支承反射型空間光調變器410、聚光透鏡單元430、一對的透鏡422、423、分光鏡403及一方之測距感測器450；該第2移動機構240，係用來使殼體401沿著第1方向(Z軸方向)進行移動。聚光透鏡單元430及一方之測距感測器 450，係被安裝於第2方向(Y軸方向)之殼體401的端部401d。第2移動機構240，係被安裝於第3方向(X軸方向)之殼體401的一側面401e。藉此，可一面抑制裝置的大型化，一面使反射型空間光調變器410、聚光透鏡單元430、一對的透鏡422、423、分光鏡403及一方之測距感測器450作為一體而進行移動。
雷射加工裝置200係進一步具備驅動機構440，該驅動機構440，係用來使聚光透鏡單元430沿著第1方向(Z軸方向)進行移動。聚光透鏡單元430，係透過驅動機構440被安裝於第2方向(Y軸方向)之殼體401的端部401d。藉此，例如，可以使加工對象物1之雷射光入射面與雷射光L之聚光點的距離維持一定的方式，來使聚光透鏡單元430進行移動。
於雷射加工裝置200中，反射型空間光調變器410，係被安裝於第2方向(Y軸方向)之殼體401的端部401c。藉此，可將各構造有效率地配置於殼體401。
雷射加工裝置200，係進一步具備另一方之測距感測器450，該另一方之測距感測器450，係用來取得加工對象物1之雷射光入射面的位移資料。另一方之測距感測器450，係於第3方向(X軸方向)被配置於聚光透鏡單元430的另一側。藉此，當以相對於聚光透鏡單元430使一方之測距感測器450相對地先行的方式，來對於加工對象物1掃描雷射光L時，係可使用一方之測距感測器450來取得雷射光入射面之位移資料。另一方面，當以 相對於聚光透鏡單元430使另一方之測距感測器450相對地先行的方式，來對於加工對象物1掃描雷射光L時，係可使用另一方之測距感測器450來取得雷射光入射面之位移資料。進而，一方之測距感測器450，係相對於從反射型空間光調變器410到達聚光透鏡單元430的雷射光L之光路徑所配置的平面(與YZ平面平行的面)而被配置於一側，另一方之測距感測器450，係相對於該平面而被配置於另一側。藉此，可相對於配置於從反射型空間光調變器410到達聚光透鏡單元430的雷射光L之光路徑上的各構造，將一對的測距感測器450有效地配置。
此外，雷射輸出部300係具備：雷射振盪器310、λ/2波長板單元330及偏光板單元340、反射鏡單元360、以及安裝基座301，該雷射振盪器310係用來射出雷射光L；該λ/2波長板單元330及偏光板單元340，係用來調整從雷射振盪器310所射出的雷射光L之輸出；該反射鏡單元360，係用來將通過λ/2波長板單元330及偏光板單元340的雷射光L射出至外部；該安裝基座301，係具有配置有雷射振盪器310、λ/2波長板單元330及偏光板單元340以及反射鏡單元360的主面301a。從雷射振盪器310透過λ/2波長板單元330及偏光板單元340到達反射鏡單元360之雷射光L的光路徑，係被設定成沿著與主面301a平行的平面。反射鏡單元360，係具有用來調整雷射光L之光軸的反射鏡362、363，且沿著與該平面交叉的方向(Z軸方向)來將雷射光L射出至外部。於 此情況中，雷射聚光部400亦可被固定於裝置框架210。並且，支承台230，係以不僅可沿著X軸方向及Y軸方向亦可沿著Z軸方向進行移動的方式被安裝於裝置框架210。
於雷射輸出部300中，雷射振盪器310、λ/2波長板單元330及偏光板單元340、以及反射鏡單元360，係被配置於安裝基座301的主面301a。藉此，藉由相對於雷射加工裝置200之裝置框架210將安裝基座301進行裝卸，而可相對於雷射加工裝置200將雷射輸出部300容易地進行裝卸。此外，從雷射振盪器310透過λ/2波長板單元330及偏光板單元340到達反射鏡單元360之雷射光L的光路徑，係被設定成沿著與安裝基座301之主面301a平行的平面，反射鏡單元360，係沿著與該平面交叉的方向將雷射光L射出至外部。藉此，例如在雷射光L的射出方向沿著垂直方向的情況，由於雷射輸出部300被低高度化，因此可相對於雷射加工裝置200將雷射輸出部300容易地進行裝卸。進而，反射鏡單元360係具有用來調整雷射光L之光軸的反射鏡362、363。藉此，當將雷射輸出部300安裝於雷射加工裝置200之裝置框架210時，可調整射入雷射聚光部400之雷射光L的光軸之位置及角度。藉由以上方式，雷射輸出部300，係可相對於雷射加工裝置200容易地進行裝卸。
於雷射輸出部300中，反射鏡單元360，係沿著與主面301a平行的平面正交的方向將雷射光L射出至 外部。藉此，可使反射鏡單元360之雷射光L的光軸之調整容易化。
於雷射輸出部300中，λ/2波長板單元330及偏光板單元340，係用來調整從雷射振盪器310所射出之雷射光L的偏光方向。藉此，當將雷射輸出部300安裝於雷射加工裝置200之裝置框架210時，可調整射入雷射聚光部400之雷射光L的偏光方向，甚至從雷射聚光部400所射出之雷射光L的偏光方向。
於雷射輸出部300中，λ/2波長板單元330及偏光板單元340係具有：λ/2波長板332、保持具331、偏光板342、以及保持具341，該λ/2波長板332，係用來將從雷射振盪器310所射出的雷射光L沿著軸線XL(與主面301a平行的軸線)進行入射；該保持具331，係將λ/2波長板332保持成使λ/2波長板332可以軸線XL為中心線進行旋轉；該偏光板342，係用來將通過λ/2波長板332的雷射光L沿著軸線XL進行入射；該保持具341，係將以偏光板342保持成使偏光板342可以軸線XL為中心線進行旋轉。藉此，可以簡易的構造調整從雷射振盪器310所射出的雷射光L之輸出及偏光方向。進而，藉由雷射輸出部300具備如此之λ/2波長板單元330及偏光板單元340，而可使用對應於從雷射振盪器310所射出的雷射光L之波長的λ/2波長板332及偏光板342。
雷射輸出部300係進一步具備光路徑校正板343，該光路徑校正板343，係以可以軸線XL為中心線與 偏光板342一體旋轉的方式被保持於保持具341，並用來使透過偏光板342而偏離軸線XL上之雷射光L的光軸返回軸線XL上。藉此，可將因透過偏光板342導致之雷射光L的光路徑之偏離進行校正。
於雷射輸出部300中，λ/2波長板332進行旋轉的軸線、與偏光板342進行旋轉的軸線，係軸線XL，且彼此一致。也就是說，λ/2波長板332及偏光板342係可以同一個軸線XL為中心線進行旋轉。藉此，可謀求雷射輸出部300的簡易化及小型化。
於雷射輸出部300中，反射鏡單元360亦可具有支承基座361、以及反射鏡362、363，支承基座361，係以可調整位置的方式被安裝於安裝基座301，反射鏡362，係以可調整角度的方式被安裝於支承基座361，將通過λ/2波長板單元330及偏光板單元340的雷射光L沿著與主面301a平行的方向進行反射，反射鏡363，係以可調整角度的方式被安裝於支承基座361，將藉由反射鏡362所反射的雷射光L沿著與主面301a交叉的方向進行反射。藉此，當將雷射輸出部300安裝於雷射加工裝置200之裝置框架210時，可精度更佳地調整射入雷射聚光部400之雷射光L的光軸之位置及角度。並且，藉由將支承基座361相對於安裝基座301進行位置調整，而可將反射鏡362、363一體容易地進行位置調整。
雷射輸出部300係進一步具備擴束器350，該擴束器350，係被配置於從λ/2波長板單元330及偏光板 單元340到達反射鏡單元360之雷射光L的光路徑上，且用來一面調整雷射光L的直徑一面使雷射光L平行化。藉此，即使在雷射聚光部400相對於雷射輸出部300進行移動的情況，亦可將射入雷射聚光部400之雷射光L的狀態維持一定。
雷射輸出部300係進一步具備開閉器320，該開閉器320，係被配置於從雷射振盪器310到達λ/2波長板單元330及偏光板單元340之雷射光L的光路徑上，且用來將雷射光L的光路徑進行開閉。藉此，可藉由在雷射振盪器310的雷射光L之輸出的開關(ON/OFF)之切換來實施來自雷射輸出部300的雷射光L之輸出的開關(ON/OFF)之切換。除此之外，藉由開閉器320，可防止例如從雷射輸出部300雷射光L無預期地射出。
[變形例]
以上，雖針對本發明之實施形態進行說明，但本發明並不限定於上述之實施形態。
例如，如第18圖及第19圖所示般，λ/2波長板單元330及偏光板單元340亦可被一體化。於此情況中，用來保持λ/2波長板332的保持具331，係以可以軸線XL為中心線進行旋轉的方式被安裝於框架370之一方的端面。用來保持偏光板342及光路徑校正板343的保持具341，係以可以軸線XL為中心線進行旋轉的方式被安裝於框架370之另一方的端面。框架370係被安裝於安裝 基座301的主面301a。另外，於保持具341係設置有擋板344，該擋板344，係用來吸收藉由偏光板342所反射之雷射光L的S偏光成分。
此外，亦可於偏光板單元340設置偏光板342以外的偏光構件。作為一例，亦可取代偏光板342及光路徑校正板343，而使用立方狀之偏光構件。立方狀之偏光構件，係指呈現直方體狀之形狀的構件，於該構件中彼此相對向的側面係設為光入射面及光射出面，且於其之間設置有具有偏光板的功能之層的構件。
此外，λ/2波長板332進行旋轉的軸線、與偏光板342進行旋轉的軸線，亦可彼此不一致。
此外，雷射輸出部300，雖具有用來調整從雷射輸出部300所射出之雷射光L的光軸之反射鏡362、363，但只要至少具有1個用來調整從雷射輸出部300所射出之雷射光L的光軸之反射鏡即可。
此外，用來構成使反射型空間光調變器410之反射面410a與聚光透鏡單元430之入射瞳面430a具有成像關係的兩側遠心光學系統之成像光學系統，並不限定於一對的透鏡422、423，亦可為包含反射型空間光調變器410側之第1透鏡系統(例如，接合透鏡、3個以上之透鏡等)及聚光透鏡單元430側之第2透鏡系統(例如，接合透鏡、3個以上之透鏡等)者等。
此外，於雷射聚光部400中，將通過一對的透鏡422、423的雷射光L朝向聚光透鏡單元430進行反 射的反射鏡雖為分光鏡403，但該反射鏡亦可為全反射鏡。
此外，聚光透鏡單元430及一對的測距感測器450，雖被安裝於Y軸方向之殼體401的端部401d，但只要被安裝於比Y軸方向之殼體401的中心位置更偏向端部401d側即可。反射型空間光調變器410，雖被安裝於Y軸方向之殼體401的端部401c，但只要被安裝於比Y軸方向之殼體401的中心位置更偏向端部401c側即可。此外，測距感測器450，亦可於X軸方向僅被配置於聚光透鏡單元430的單側。
此外，本發明之雷射加工裝置，並不限定於在加工對象物1的內部形成改質區域者，亦可為實施消融(ablation)等之其他雷射加工者。
1‧‧‧加工對象物
200‧‧‧雷射加工裝置
210‧‧‧裝置框架
220‧‧‧第1移動機構
221‧‧‧第1軌道單元
221a‧‧‧軌道
221b‧‧‧軌道
222‧‧‧第2軌道單元
222a‧‧‧軌道
222b‧‧‧軌道
223‧‧‧可動基座
230‧‧‧支承台(支承部)
240‧‧‧第2移動機構
300‧‧‧雷射輸出部(雷射輸出裝置)
400‧‧‧雷射聚光部
500‧‧‧控制部

Claims (40)

  1. 一種雷射加工裝置，係具備：裝置框架、支承部、雷射輸出部、以及雷射聚光部，該支承部，係被安裝於前述裝置框架，用來支承加工對象物；該雷射輸出部，係被安裝於前述裝置框架；該雷射聚光部，係以可相對於前述雷射輸出部進行移動的方式被安裝於前述裝置框架，前述雷射輸出部，係具有用來射出雷射光的雷射光源，前述雷射聚光部係具有：反射型空間光調變器、聚光光學系統、以及成像光學系統，該反射型空間光調變器，係用來將前述雷射光一面進行調變一面進行反射；該聚光光學系統，係用來將前述雷射光聚光於前述加工對象物，該成像光學系統，係用來構成使前述反射型空間光調變器的反射面與前述聚光光學系統的入射瞳面具有成像關係的兩側遠心光學系統。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之雷射加工裝置，其中，來自前述雷射輸出部之前述雷射光的射出方向，係與前述雷射聚光部的移動方向一致。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之雷射加工裝置，其中，前述雷射輸出部，係進一步具有用來使前述雷射光平 行化的雷射光平行化部。
  4. 如申請專利範圍第1項~第3項中任一項所述之雷射加工裝置，其中，前述雷射聚光部，係進一步具有殼體，該殼體，係於內部設定有從前述反射型空間光調變器透過前述成像光學系統到達前述聚光光學系統之前述雷射光的光路徑，於前述殼體係設置有光入射部，該光入射部，係使從前述雷射輸出部所射出的前述雷射光射入前述殼體內。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之雷射加工裝置，其中，前述雷射聚光部，係進一步具有反射鏡，該反射鏡，係以在前述雷射聚光部的移動方向與前述光入射部相對向的方式配置於前述殼體內，前述反射鏡，係用來將從前述光入射部射入前述殼體內的前述雷射光朝向前述反射型空間光調變器進行反射。
  6. 如申請專利範圍第1項~第5項中任一項所述之雷射加工裝置，其中，前述支承部，係以可沿著與前述雷射聚光部之移動方向垂直的平面進行移動的方式被安裝於前述裝置框架。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之雷射加工裝置，其中，前述支承部，係透過第1移動機構被安裝於前述裝置框架，前述雷射聚光部，係透過第2移動機構被安裝於前述裝置框架。
  8. 一種雷射加工裝置，係具備：裝置框架、支承部、 雷射輸出部、以及雷射聚光部，該支承部，係被安裝於前述裝置框架，用來支承加工對象物；該雷射輸出部，係可相對於前述裝置框架進行裝卸；該雷射聚光部，係被安裝於前述裝置框架，前述雷射輸出部，係具有雷射光源及輸出調整部，該雷射光源係用來射出雷射光；該輸出調整部，係用來調整前述雷射光之輸出，前述雷射聚光部係具有：反射型空間光調變器、聚光光學系統、以及成像光學系統，該反射型空間光調變器，係用來將前述雷射光一面進行調變一面進行反射；該聚光光學系統，係用來將前述雷射光聚光於前述加工對象物，該成像光學系統，係用來構成使前述反射型空間光調變器之反射面與前述聚光光學系統之入射瞳面具有成像關係的兩側遠心光學系統。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之雷射加工裝置，其中，前述雷射輸出部，係進一步具有安裝基座，該安裝基座，係用來支承前述雷射光源及前述輸出調整部，且可相對於前述裝置框架進行裝卸，前述雷射輸出部，係透過前述安裝基座被安裝於前述裝置框架。
  10. 如申請專利範圍第8項或第9項所述之雷射加工 裝置，其中，前述雷射輸出部，係進一步具有反射鏡，該反射鏡，係用來調整從前述雷射輸出部所射出之前述雷射光的光軸。
  11. 如申請專利範圍第8項~第10項中任一項所述之雷射加工裝置，其中，前述輸出調整部，係用來調整前述雷射光的偏光方向。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之雷射加工裝置，其中，前述輸出調整部係包含λ/2波長板及偏光板。
  13. 如申請專利範圍第8項~第12項中任一項所述之雷射加工裝置，其中，前述雷射輸出部，係進一步具有雷射光平行化部，該雷射光平行化部，係用來一面調整前述雷射光的直徑一面使前述雷射光平行化。
  14. 如申請專利範圍第8項~第13項中任一項所述之雷射加工裝置，其中，前述反射型空間光調變器、前述聚光光學系統及前述成像光學系統，係對應於500~550nm、1000~1150nm及1300~1400nm之波長範圍。
  15. 一種雷射加工裝置，係具備：支承部、雷射光源、反射型空間光調變器、聚光光學系統、以及成像光學系統，該支承部係用來支承加工對象物；該雷射光源係用來射出雷射光；該反射型空間光調變器，係用來將前述雷射光一面進行調變一面進行反射；該聚光光學系統，係用來將前述雷射光聚光於前述加 工對象物；該成像光學系統，係用來構成使前述反射型空間光調變器之反射面與前述聚光光學系統之入射瞳面具有成像關係的兩側遠心光學系統，從前述反射型空間光調變器到達前述聚光光學系統之前述雷射光的光路徑中，至少通過前述成像光學系統之前述雷射光的光路徑為一直線，前述兩側遠心光學系統的倍率M，係滿足0.5<M<1或1<M<2。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之雷射加工裝置，其中，前述成像光學系統，係包含前述反射型空間光調變器側的第1透鏡系統及前述聚光光學系統側的第2透鏡系統，前述倍率M、前述第1透鏡系統的第1焦點距離f1及前述第2透鏡系統的第2焦點距離f2，係滿足M=f2/f1。
  17. 如申請專利範圍第15項或第16項所述之雷射加工裝置，其中，前述倍率M係滿足0.6≦M≦0.95。
  18. 如申請專利範圍第15項或第16項所述之雷射加工裝置，其中，前述倍率M係滿足1.05≦M≦1.7。
  19. 如申請專利範圍第16項所述之雷射加工裝置，其中，前述第1透鏡系統及前述第2透鏡系統被保持於保持具，前述保持具，係將沿著前述雷射光之光軸的方向之前 述第1透鏡系統及前述第2透鏡系統彼此的位置關係維持為一定，沿著前述雷射光之光軸的方向之前述第1透鏡系統及前述第2透鏡系統的位置調整，係藉由前述保持具之位置調整來實施。
  20. 一種雷射加工裝置，係具備：支承部、雷射光源、反射型空間光調變器、聚光光學系統、成像光學系統、以及反射鏡，該支承部係用來支承加工對象物；該雷射光源係用來射出雷射光；該反射型空間光調變器，係用來將前述雷射光一面進行調變一面進行反射；該聚光光學系統，係用來將前述雷射光聚光於前述加工對象物；該成像光學系統，係用來構成使前述反射型空間光調變器之反射面與前述聚光光學系統之入射瞳面具有成像關係的兩側遠心光學系統；該反射鏡，係用來將通過前述成像光學系統的前述雷射光朝向前述聚光光學系統進行反射，前述反射型空間光調變器，係用來將前述雷射光沿著既定的平面以銳角進行反射，從前述反射型空間光調變器透過前述成像光學系統到達前述反射鏡之前述雷射光的光路徑，係被設定成沿著前述平面， 從前述反射鏡到達前述聚光光學系統之前述雷射光的光路徑，係被設定成沿著與前述平面交叉的方向。
  21. 如申請專利範圍第20項所述之雷射加工裝置，其中，從前述反射鏡到達前述聚光光學系統之前述雷射光的光路徑，係被設定成沿著與前述平面正交的方向，前述反射鏡，係用來將前述雷射光以直角進行反射。
  22. 如申請專利範圍第20項或第21項所述之雷射加工裝置，其中，前述反射鏡係分光鏡。
  23. 如申請專利範圍第20項~第22項中任一項所述之雷射加工裝置，其中，前述反射型空間光調變器，係將前述雷射光以P偏光的形式進行反射，前述反射鏡，係將前述雷射光以S偏光的形式進行反射。
  24. 如申請專利範圍第20項~第23項中任一項所述之雷射加工裝置，係進一步具備偏光方向調整部，該偏光方向調整部，係被配置於從前述雷射光源到達前述反射型空間光調變器之前述雷射光的光路徑上，用來調整前述雷射光的偏光方向。
  25. 一種雷射加工裝置，係具備：支承部、雷射光源、反射型空間光調變器、聚光光學系統、成像光學系統、反射鏡、以及第1感測器，該支承部係用來支承加工對象物；該雷射光源係用來射出雷射光；該反射型空間光調變器，係用來將前述雷射光一面進 行調變一面進行反射；該聚光光學系統，係用來將前述雷射光聚光於前述加工對象物；該成像光學系統，係用來構成使前述反射型空間光調變器之反射面與前述聚光光學系統之入射瞳面具有成像關係的兩側遠心光學系統；該反射鏡，係用來將通過前述成像光學系統的前述雷射光朝向前述聚光光學系統進行反射；該第1感測器，係用來取得前述加工對象物之雷射光入射面的位移資料，從前述反射鏡到達前述聚光光學系統之前述雷射光的光路徑，係被設定成沿著第1方向，從前述反射型空間光調變器透過前述成像光學系統到達前述反射鏡之前述雷射光的光路徑，係被設定成沿著與前述第1方向垂直的第2方向，前述第1感測器，係於與前述第1方向及前述第2方向垂直的第3方向被配置於前述聚光光學系統的一側。
  26. 如申請專利範圍第25項所述之雷射加工裝置，其中，前述反射鏡係分光鏡。
  27. 如申請專利範圍第25項或第26項所述之雷射加工裝置，其中，前述反射鏡，係將前述雷射光以S偏光的形式進行反射。
  28. 如申請專利範圍第25項~第27項中任一項所述之雷射加工裝置，係進一步具備殼體及移動機構， 該殼體，係用來至少支承前述反射型空間光調變器、前述聚光光學系統、前述成像光學系統、前述反射鏡、及前述第1感測器；該移動機構，係用來使前述殼體沿著前述第1方向進行移動，前述聚光光學系統及前述第1感測器，係被安裝於前述第2方向之前述殼體的一端部側，前述移動機構，係被安裝於前述第3方向之前述殼體的一側面。
  29. 如申請專利範圍第28項所述之雷射加工裝置，係進一步具備驅動機構，該驅動機構，係用來使前述聚光光學系統沿著前述第1方向進行移動，前述聚光光學系統，係透過前述驅動機構被安裝於前述第2方向之前述殼體的一前述端部側。
  30. 如申請專利範圍第29項所述之雷射加工裝置，其中，前述反射型空間光調變器，係被安裝於前述第2方向之前述殼體的另一端部側。
  31. 如申請專利範圍第25項~第30項中任一項所述之雷射加工裝置，係進一步具備第2感測器，該第2感測器，係用來取得前述加工對象物之前述雷射光入射面的位移資料，前述第2感測器，係於前述第3方向被配置於前述聚光光學系統的另一側。
  32. 一種雷射輸出裝置，係具備：雷射光源、輸出調 整部、反射鏡單元、以及安裝基座，該雷射光源係用來射出雷射光；該輸出調整部，係用來調整從前述雷射光源所射出的前述雷射光之輸出；該反射鏡單元，係用來將通過前述輸出調整部的前述雷射光射出至外部；該安裝基座，係具有配置有前述雷射光源、前述輸出調整部及前述反射鏡單元的主面，從前述雷射光源透過前述輸出調整部到達前述反射鏡單元之前述雷射光的光路徑，係被設定成沿著與前述主面平行的平面，前述反射鏡單元，係具有用來調整前述雷射光的光軸的反射鏡，將前述雷射光沿著與前述平面交叉的方向射出至外部。
  33. 如申請專利範圍第32項所述之雷射輸出裝置，其中，前述反射鏡單元，係用來將前述雷射光沿著與前述平面正交的方向射出至外部。
  34. 如申請專利範圍第32項或第33項所述之雷射輸出裝置，其中，前述輸出調整部，係用來調整從前述雷射光源所射出之前述雷射光的偏光方向。
  35. 如申請專利範圍第34項所述之雷射輸出裝置，其中，前述輸出調整部係具有：λ/2波長板、第1保持具、偏光構件、以及第2保持具，該λ/2波長板，係用來將從前述雷射光源所射出的前 述雷射光沿著與前述平面平行的第1軸線進行入射；該第1保持具，係用來將前述λ/2波長板保持成使前述λ/2波長板可以前述第1軸線為中心線進行旋轉；該偏光構件，係用來將通過前述λ/2波長板的前述雷射光沿著與前述平面平行的第2軸線進行入射；該第2保持具，係用來將前述偏光構件保持成使前述偏光構件可以前述第2軸線為中心線進行旋轉。
  36. 如申請專利範圍第35項所述之雷射輸出裝置，係進一步具備光路徑校正構件，該光路徑校正構件，係以可以前述第2軸線為中心線與前述偏光構件一體旋轉的方式被保持於前述第2保持具，並用於使透過前述偏光構件而偏離前述第2軸線上之前述雷射光的光軸返回前述第2軸線上。
  37. 如申請專利範圍第35項或第36項所述之雷射輸出裝置，其中，前述第1軸線與前述第2軸線係彼此一致。
  38. 如申請專利範圍第32項~第37項中任一項所述之雷射輸出裝置，其中，前述反射鏡單元，係具有支承基座、及作為前述反射鏡之第1反射鏡及第2反射鏡，前述支承基座，係以可調整位置的方式被安裝於前述安裝基座，前述第1反射鏡，係以可調整角度的方式被安裝於前述支承基座，且將通過前述輸出調整部的前述雷射光沿著與前述平面平行的方向進行反射， 前述第2反射鏡，係以可調整角度的方式被安裝於前述支承基座，且將藉由前述第1反射鏡所反射的前述雷射光沿著與前述平面交叉的前述方向進行反射。
  39. 如申請專利範圍第32項~第38項中任一項所述之雷射輸出裝置，係進一步具備雷射光平行化部，該雷射光平行化部，係被配置於從前述輸出調整部到達前述反射鏡單元之前述雷射光的光路徑上，且用來一面調整前述雷射光的直徑一面使前述雷射光平行化。
  40. 如申請專利範圍第32項~第39項中任一項所述之雷射輸出裝置，係進一步具備開閉器，該開閉器，係被配置於從前述雷射光源到達前述輸出調整部之前述雷射光的光路徑上，且用來將前述雷射光的光路徑進行開閉，前述雷射光源，係具有將前述雷射光之輸出的開關(ON/OFF)進行切換的功能。
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