TW201734450A - 鑄砂之砂污染度評價方法及砂污染度評價裝置 - Google Patents

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Abstract

提供能測定鑄砂之導電率，根據測定後之導電率評價砂污染度之鑄砂之砂污染度評價方法及砂污染度評價裝置。一種鑄砂之砂污染度評價方法，係藉由測定鑄砂之導電率，來評價該鑄砂之砂污染度，其特徵在於，具有：準備前述鑄砂之基準試料(1,101)與比較試料(201)之步驟；在對前述基準試料與前述比較試料進行加濕處理後，測定前述基準試料與前述比較試料之前述導電率之步驟；以及根據該測定之前述基準試料與前述比較試料之前述導電率評價前述砂污染度之步驟。

Description

鑄砂之砂污染度評價方法及砂污染度評價裝置
本發明係關於使用導電率(EC)作為鑄砂之砂污染度評價指標之鑄砂之砂污染度評價方法及砂污染度評價裝置。
以往，在農業領域，有一種使電極直接接觸於土壤中以測定該土壤中之導電率的方法，已為公知(參照例如專利文獻1)。
然而，專利文獻1所示之方式，係以於土壤包含一定程度之水分為前提。因此，無法將專利文獻1所示之技術適用於通常為乾燥狀態之鑄砂。又，由於鑄砂通常為乾燥狀態且幾乎為絕緣體，因此原本即無測定導電率之技術思想本身，而評價砂污染度極為困難。
本發明係有鑑於上述問題而完成者，其目的在於，提供能測定鑄砂之導電率且能根據所測定之導電率評價砂污染度之鑄砂之砂污染度評價方法及砂污染度評價裝置。
[先行技術文獻]
【專利文獻1】日本特開2001-215203號公報
為了達成上述目的，本發明之鑄砂之砂污染度評價方法，係藉由測定鑄砂之導電率，來評價該鑄砂之砂污染度，其特徵在於，具有：準備前述鑄砂之基準試料與比較試料之步驟；在對前述基準試料與前述比 較試料進行加濕處理後，測定前述基準試料與前述比較試料之前述導電率之步驟；以及根據該測定之前述基準試料與前述比較試料之前述導電率評價前述砂污染度之步驟。
又，本發明之鑄砂之砂污染度評價方法，係在對前述基準試料與前述比較試料進行乾燥處理後進行前述加濕處理，其後測定前述基準試料與前述比較試料之前述導電率。
再者，本發明之鑄砂之砂污染度評價方法，係在交互反覆前述乾燥處理及前述加濕處理複數次後，測定前述基準試料與前述比較試料之前述導電率。
再者，本發明之鑄砂之砂污染度評價方法，進一步具有測定前述基準試料與前述比較試料之溫度之步驟。
再者，本發明之鑄砂之砂污染度評價方法，進一步具有：算出前述基準試料與前述比較試料之溫度差之步驟；以及將相當於該溫度差之導電率增減於前述測定之前述基準試料與前述比較試料之前述導電率來修正該測定之導電率之步驟。
再者，本發明之鑄砂之砂污染度評價方法，將前述評價後之砂污染度之評價資料提供給用以控制鑄砂再生裝置之滾筒之加壓力之基準用。
再者，本發明之鑄砂之砂污染度評價方法，係使用複數個前述基準試料。
又，為了達成上述目的，本發明之鑄砂之砂污染度評價裝置，係藉由測定鑄砂之導電率，評價該鑄砂之砂污染度，其特徵在於，具 備：基準試料容器，係收容前述鑄砂之基準試料；基準試料導電率測定手段，係測定收容於該基準試料容器之前述基準試料之前述導電率；基準試料加濕手段，係對收容於前述基準試料容器之前述基準試料進行加濕；比較試料容器，係收容前述鑄砂之比較試料；比較試料導電率測定手段，係測定收容於該比較試料容器之前述比較試料之前述導電率；以及比較試料加濕手段，係對收容於前述比較試料容器之前述比較試料進行加濕。
又，本發明之鑄砂之砂污染度評價裝置，進一步具備：基準試料乾燥手段，係使收容於前述基準試料容器之前述基準試料乾燥；以及比較試料乾燥手段，係使收容於前述比較試料容器之前述比較試料乾燥。
再者，本發明之鑄砂之砂污染度評價裝置，進一步具備：基準試料溫度測定手段，係測定收容於前述基準試料容器之前述基準試料之溫度；以及比較試料溫度測定手段，係測定收容於前述比較試料容器之前述比較試料之溫度。
本發明，由於係藉由測定鑄砂之導電率，來評價該鑄砂之砂污染度之方法，其具有：準備前述鑄砂之基準試料與比較試料之步驟；在對前述基準試料與前述比較試料進行加濕處理後，測定前述基準試料與前述比較試料之前述導電率之步驟；以及根據該測定之前述基準試料與前述比較試料之前述導電率評價前述砂污染度之步驟，因此有能測定鑄砂之導電率請能根據所測定之導電率評價砂污染度等各種効果。
本申請係基於日本2016年3月22日所提申之日本特願2016-056568號，其內容作為本申請之內容而形成其一部。
又，本發明應可透過以下之詳細說明進一步完全地理解。然而，其詳 細說明及特定之實施例為本發明之較佳實施形態，僅係供說明之目的而記載。對於本發明所屬技術領域中具有通常知識者而言，應可清楚理解可從此詳細說明進行各種變更、改變。
而且，本發明應可藉由以下之詳細說明而更全面地理解。然而，詳細說明及特定之實施例為本發明之理想之實施形態，僅為了說明之目的而記載。其原因在於，對於業者而言，根據該詳細說明而知曉各種變更、改變。
申請人並無意圖將所記載之實施形態中之任一者貢獻給大眾，所揭示之改變、替代案中，申請專利範圍內文義上可能未包含者亦為均等論下之發明之一部分。
本說明書或申請專利範圍之記載中，關於名詞及相同之指示語之使用，若無特別指示、或並非可根據上下文明顯否定者，皆應解釋為包含單數及複數兩方。本說明書中所提供之任一例示或例示性用語(例如「等」)之使用，其意圖僅是使本發明容易說明，只要未於申請專利範圍中特別記載，則並非為對本發明之範圍加以限制者。
1‧‧‧第1基準試料
2‧‧‧第1基準試料容器
3‧‧‧第1基準試料導電率測定手段
4‧‧‧第1基準試料溫度測定手段
5‧‧‧充氣器
6‧‧‧中間容器
7‧‧‧配管
8‧‧‧第1基準試料乾燥手段
9‧‧‧配管
10‧‧‧充氣器
11‧‧‧空氣泵
12‧‧‧配管
13‧‧‧粒狀之矽膠
14‧‧‧第1基準試料加濕手段
15‧‧‧配管
16‧‧‧充氣器
17‧‧‧空氣泵
18‧‧‧配管
19‧‧‧水
20‧‧‧切換電路
21‧‧‧導電率測定電路
21a‧‧‧電壓計
21b‧‧‧電阻
21c‧‧‧交流電源
22‧‧‧控制手段
23‧‧‧切換電路
24‧‧‧溫度測定電路
101‧‧‧第2基準試料
102‧‧‧第2基準試料容器
103‧‧‧第2基準試料導電率測定手段
104‧‧‧第2基準試料溫度測定手段
105‧‧‧充氣器
106‧‧‧中間容器
107‧‧‧配管
108‧‧‧第2基準試料乾燥手段
109‧‧‧配管
110‧‧‧充氣器
111‧‧‧空氣泵
112‧‧‧配管
113‧‧‧粒狀之矽膠
114‧‧‧第2基準試料加濕手段
115‧‧‧配管
116‧‧‧充氣器
117‧‧‧空氣泵
118‧‧‧配管
119‧‧‧水
201‧‧‧比較試料
202‧‧‧比較試料容器
203‧‧‧比較試料導電率測定手段
204‧‧‧比較試料溫度測定手段
205‧‧‧充氣器
206‧‧‧中間容器
207‧‧‧配管
208‧‧‧比較試料乾燥手段
209‧‧‧配管
210‧‧‧充氣器
211‧‧‧空氣泵
212‧‧‧配管
213‧‧‧粒狀之矽膠
214‧‧‧比較試料加濕手段
215‧‧‧配管
216‧‧‧充氣器
217‧‧‧空氣泵
218‧‧‧配管
219‧‧‧水
A、B、C‧‧‧工作站
圖1係顯示本發明之實施形態之概要構成圖。
以下，根據圖式詳細說明本發明之實施形態。此外，本實施形態中，係使用2種類之基準試料與1種類之比較試料。基準試料，係用以評價砂污染度之特性為已知之鑄砂(試料)。比較試料，係相對基準試料作為比較對象之鑄砂(試料)，將欲評價砂污染度之試料作為此比較試料。 此外，所謂砂污染度，係表示包含例如添加於鑄砂之樹脂、硬化劑、助劑或者鑄物屑等的程度。例如，作為樹脂，雖有鹼性酚、呋喃樹脂、酚樹脂、聚醇樹脂等，作為硬化劑雖有有機酸、異氰酸酯、有機酯等，作為助劑雖有金屬皂類、界面活性劑等，但並不特別限定。
在圖1所示之第1基準試料1用之工作站A中，第1基準試料1收容於第1基準試料容器2。又，於第1基準試料容器2內，作為測定第1基準試料1之導電率之第1基準試料導電率測定手段的電極3係設置成從兩側插入。
又，於第1基準試料容器2內，從上方插入作為測定第1基準試料1之溫度之第1基準試料溫度測定手段的溫度感測器4。又，在第1基準試料容器2內之電極3及溫度感測器4下方配設有充氣器5。
又，在從第1基準試料容器2分離之位置配設有中間容器6，充氣器5與中間容器6以配管7連通相接。又，在與中間容器6分離之位置，配設有使收容於第1基準試料容器2之第1基準試料1乾燥之第1基準試料乾燥手段8，中間容器6與第1基準試料乾燥手段8係以配管9連通相接。
又，於第1基準試料乾燥手段8內配設有充氣器10，在與第1基準試料乾燥手段8分離之位置配設有空氣泵11。又，充氣器10與空氣泵11係以配管12連通相接。又，於第1基準試料乾燥手段8內收容有既定量之粒狀矽膠13。
又，在從第1基準試料乾燥手段8分離之位置配設有對收容於第1基準試料容器2之第1基準試料1進行加濕之第1基準試料加濕手段14，中間容器6與第1基準試料加濕手段14係以配管15連通相接。又，於 第1基準試料加濕手段14內配設有充氣器16，在與第1基準試料加濕手段14分離之位置配設有空氣泵17。又，充氣器16與空氣泵17係以配管18連通相接。又，於第1基準試料加濕手段14內收容有既定量之水19。
至此為止，說明了第1基準試料1用之工作站A之裝置構成，由於第2基準試料101用之工作站B及比較試料201用之工作站C，其裝置構成均與該第1基準試料1用之工作站A相同，因此省略說明。此外，在第2基準試料101用之工作站B係賦予編號100之符號，在比較試料201用之工作站C則賦予編號200之符號。
又，工作站A、B、C各自之電極3,103,203中之一方接地，另一方透過切換電路20電性連接於導電率測定電路21。切換電路20及導電率測定電路21組裝於控制手段22內。切換電路20，係用來切換要測定電極3,103,203中之哪一個。導電率測定電路21中，21a為電壓計，21b為電阻，21c為交流電源。
又，工作站A、B、C各自之溫度感測器4,104,204係透過切換電路23電性連接於溫度測定電路24。切換電路23及溫度測定電路24組裝於控制手段22內。切換電路23，係用來切換要測定溫度感測器4,104,204中之哪一個。又，工作站A、B、C各自之空氣泵11,17,111,117,211,217電性連接於控制手段22。
以下，說明以此方式構成之砂污染度評價裝置之作動。首先，準備自硬性鑄砂之2種類之基準試料與1種類之比較試料。
<試料>
‧鑄砂骨材：產品名「Luna Moth」(花王Quaker股份有限公司製。人工砂)
‧添加樹脂(自硬性製程)：鹼性酚(水溶性)
※準備LOI(強熱減量)不同之3種類之試料
‧第1基準試料1：LOI為0.64%(高品質)
‧第2基準試料101：LOI為1.06%(低品質)
‧比較試料201：LOI為0.88%(中品質)
其後，對工作站A之第1基準試料容器2內供給既定量之第1基準試料1。接著，對工作站B之第2基準試料容器102內供給既定量之第2基準試料101。接著，對工作站C之比較試料容器202內供給既定量之比較試料201。此外，此等試料之供給不論以手工作業進行或以機械方式自動進行均可。
其後，由於在工作站A、B、C進行相同作動，因此代表性地僅說明在工作站A之作動。在工作站A，首先，加上步驟計數器(未圖示)。於此步驟計數器，設定有交互反覆後述第1基準試料1之乾燥處理與加濕處理之次數。在進行該乾燥處理與加濕處理兩者一次後，即於步驟計數器加算1。其次，開始經過計時器(未圖示)之計數。於此經過計時器設定有一次之乾燥處理時間及加濕處理時間。
其次，開始透過電極3對第1基準試料1之導電率測定。此外，導電率係以導電率測定電路21測定之電阻之逆數。接著，開始透過溫度感測器4測定第1基準試料1之溫度。此外，此導電率及溫度之測定，係每於既定時間持續進行。
其次，進行第1基準試料1之乾燥處理與加濕處理。以下詳述此點。首先，使空氣泵11作動，從充氣器10噴出空氣。該噴出之空氣， 藉由通過收容於第1基準試料乾燥手段8內之粒狀矽膠13之間隙而成為乾燥空氣，透過配管9供給至中間容器6。供給至中間容器6之乾燥空氣透過配管7供給至充氣器5，藉由從充氣器5噴出之乾燥空氣進行第1基準試料1之乾燥處理。此乾燥處理係進行既定時間(經過計時器之設定時間)。
其後，使空氣泵11停止，從乾燥處理切換成加濕處理。在加濕處理中，首先使空氣泵17作動，從充氣器16噴出空氣。該噴出之空氣，藉由通過收容於第1基準試料加濕手段14內之水19成為濕潤空氣，透過配管15供給至中間容器6。供給至中間容器6之濕潤空氣經由配管7供給至充氣器5，藉由從充氣器5噴出之濕潤空氣進行第1基準試料1之加濕處理。此加濕處理係進行既定時間(經過計時器之設定時間)。
至此為止說明了在工作站A之作動，在工作站B及C亦進行相同作動。此外，第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201個別被溫度感測器4,104,204測定溫度。接著在(1)步驟計數器為設定值以上、(2)經過計時器之乾燥處理及加濕處理之計數時間為設定值以上、(3)第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201之各試料之溫度差為設定值以下、此(1)~(3)條件中只要有一個未被滿足時，即返回至上述加算步驟計數器之步驟，並反覆之後之步驟。亦即，第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201各自進行至少一次乾燥處理與加濕處理，並視情形交互反覆既定次數(複數次)。
又，在此(1)~(3)之條件均被滿足時，即於該時點確定 第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201各自之導電率之資料。又，第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201各自之乾燥處理或加濕處理在此處停止。
其次，根據經確定之第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201各自之導電率資料評價砂污染度。關於此點，將在後述之實施例中詳述之。
<實施例>
以下，說明本發明之實施之一例。第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201係使用上述<試料>所示之物。工作站A、B、C均同樣地，步驟計數器交互反覆乾燥處理與加濕處理之次數設定為三次。經過計時器，將一次之乾燥處理時間設定為6分鐘，將加濕處理時間設定為4分鐘。
在工作站A、B、C，導電率及溫度之測定均係每隔12秒即持續進行。第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201之各試料之溫度差之設定值設為1℃。接著，由於如下述(1)步驟計數器之值成為三次、(2)經過計時器之乾燥處理之計數時間成為6分鐘、加濕處理之計數時間成為4分鐘、(3)第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201之各試料之溫度差成為0.6℃，由於(1)~(3)之條件均滿足，因此即在該時點確定了第1基準試料、第2基準試料101、比較試料201各自之導電率之資料。經確定之導電率之資料中，第1基準試料1為158μS(導電度)，第2基準試料101為737 μS，比較試料201為343μS。此等為下述Ea~Ec之值。
根據該確定之各導電率之資料評價了砂污染度。以下詳述此點。
<評價係數計算>
KEc=(Kb-Ka)/(Eb-Ea)×(Ec-Ea)+Ka‧‧‧式1
※Ea：第1基準試料之導電率
Eb：第2基準試料之導電率
Ec：比較試料之導電率
Ka：第1基準試料評價係數
Kb：第2基準試料評價係數
KEc：比較試料之導電率評價係數
使用式1，將Ka設為0，將Kb設為1，算出KEc。
KEc=(1-0)/(737-158)×(343-158)+0=0.32
由於將高品質之第1基準試料之Ka設為0，將低品質之第2基準試料之Kb設為1，因此能藉由式1，透過0~1間之一次函數算出比較試料之導電率評價係數。
<砂汙染度評價>
Pc=KEc×(LOIb-LOIa)+LOIa‧‧‧式2
※LOIa：第1基準試料之LOI值
LOIb：第2基準試料之LOI值
KEc：比較試料之導電率評價係數
Pc：比較試料之評價點
使用式2，以第1基準試料及第2基準試料之LOI值將比較試料之導電率評分。
Pc=0.32×(1.06-0.64)+0.64=0.774
透過式2，能從第1基準試料與第2基準試料之已知之LOI值算出比較試料之評價點。
將第1基準試料之評價點Pa設為LOIa之值，將第2基準試料之評價點Pb設為LOIb之值。
其結果，各試料之評價點為Pa=0.64，Pb=1.06，Pc=0.774。
比較試料之評價點Pc雖為0.774，但此值接近比較試料之實際LOI值之0.88。
藉由此方式，比較試料之評價點，能作為LOI值之近似值評價砂污染度。此外，本發明中所謂評價，係指定量地認定砂污染度為何種程度。
本發明中，能將上述實施形態所示之砂污染度之評價資料，用為用以控制鑄砂再生裝置之滾筒之加壓力之基準。此處所稱之鑄砂再生裝置，例如，係連續投入藉由馬達驅動之旋轉圓筒內之鑄砂受到離心力作用，而藉由滾筒加壓於旋轉圓筒內周壁形成砂層之處，藉此將鑄砂表面之附著物剝離之方式之裝置。
在評價資料顯示砂污染度較既定值(在鑄砂再生裝置欲再生至何種程度之品質之目標值)高之情形時，係加強滾筒之加壓力以提升鑄砂之再生力。在評價資料顯示砂污染度較既定值低之情形時，係減弱滾筒之加壓力以降低鑄砂之再生力。在評價資料顯示接近既定值之砂污染度之情形時，鑄砂之再生力則保持原樣。以此方式，能以評價資料為基準控制 鑄砂再生裝置之滾筒之加壓力。
此外，本發明中，係在將第1、第2基準試料1,101與比較試料201乾燥處理後進行加濕處理，其後，測定第1、第2基準試料1,101與比較試料201之導電率。根據本構成，與僅進行加濕處理之情形相較，有能縮小附著於砂粒之污染物質之表層部與下層部之水分之差的優點。
又，本發明中，係在交互反覆上述乾燥處理及加濕處理複數次後，測定第1、第2基準試料1,101與比較試料201之導電率。根據本構成，有能縮小附著於砂粒之污染物質之表層部與下層部之水分之差的優點。
進而，本發明中，具有測定第1、第2基準試料1,101與比較試料201之溫度之步驟。根據本構成，能測定第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201之各試料之溫度而算出溫度差，有使各試料之溫度差以盡可能地小之狀態測定各試料之導電率的優點。
此外，本發明之實施形態中，係將第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201之各試料以相同條件予以乾燥處理及加濕處理。又，亦使各試料之溫度差盡可能地小。由於以此種狀態(測定環境氣氛)測定各試料之導電率，因此能將各試料之導電率盡可能地在相同條件下測定。
又，在本發明之實施形態中，作為可確定第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201各自之導電率之資料之條件，能舉出各試料之溫度差成為設定值以下。然而，有時會有各試料之溫度差達到設定值以下時耗費過多時間之情形，此時，亦可增大各試料之溫度差之設定值，進行透過溫度進行之導電率之修正。
所謂透過溫度進行之導電率之修正，係指算出導電率確定時之各試料之溫度差，並將相當於該溫度差之導電率，增減於已確定之導電率之測定值，藉以修正該導電率之資料。若以此方式進行透過溫度進行之導電率之修正，則即使各試料之溫度差較大時亦可修正各試料之導電率之資料，因此有能增大各試料之溫度差之設定值、縮短至確定該導電率之資料為止之時間的優點。
再者，本發明之實施形態中雖使用了2種類之基準試料(第1基準試料1及第2基準試料101)，但並不限定於此，亦可僅使用一個基準試料。不過，由於若使用複數個基準試料，則與比較試料相較之基準變多，較容易進行砂污染度之評價(易於理解)，因此較佳。
再者，本發明之實施形態中，雖係以LOI(強熱減量)之多寡為基準來區別第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201，但並不限定於此，亦可以酸消耗量之多寡為基準區別第1基準試料1、第2基準試料101、比較試料201。
再者，本發明之實施形態中，係交互反覆各試料之乾燥處理與加濕處理既定次數。藉由進行加濕處理，使附著於砂粒之污染物質吸收某程度之水分，而使電氣容易流通。然而，若僅有加濕處理，則附著於砂粒之污染物質之表層部與下層部會產生濕度梯度，當層厚之差較大時，薄層之水分會先飽和，而會有無法正確測定導電率之情形。因此，藉由交互反覆乾燥處理與加濕處理，來減小附著於砂粒之污染物質之表層部與下層部之水分之差。
此外本發明之實施形態中，雖將用於鹼性酚(水溶性)之自 硬性製程之自硬性鑄砂作為試料(基準試料及比較試料)，但能適用於本發明之試料並不限定於此。其他例如亦可將使用水剝離、水泥或鹽類任一者之無機自硬性製程之自硬性鑄砂作為試料。又，不限於自硬性鑄砂，亦可將用於無機中子造型製程之鑄砂(中子砂)或濕砂(green sand)作為試料。
以下，將本說明書及圖式所使用之主要符號彙整顯示。
1‧‧‧第1基準試料
2‧‧‧第1基準試料容器
3‧‧‧第1基準試料導電率測定手段
4‧‧‧第1基準試料溫度測定手段
5‧‧‧充氣器
6‧‧‧中間容器
7‧‧‧配管
8‧‧‧第1基準試料乾燥手段
9‧‧‧配管
10‧‧‧充氣器
11‧‧‧空氣泵
12‧‧‧配管
13‧‧‧粒狀之矽膠
14‧‧‧第1基準試料加濕手段
15‧‧‧配管
16‧‧‧充氣器
17‧‧‧空氣泵
18‧‧‧配管
19‧‧‧水
20‧‧‧切換電路
21‧‧‧導電率測定電路
21a‧‧‧電壓計
21b‧‧‧電阻
21c‧‧‧交流電源
22‧‧‧控制手段
23‧‧‧切換電路
24‧‧‧溫度測定電路
101‧‧‧第2基準試料
102‧‧‧第2基準試料容器
103‧‧‧第2基準試料導電率測定手段
104‧‧‧第2基準試料溫度測定手段
105‧‧‧充氣器
106‧‧‧中間容器
107‧‧‧配管
108‧‧‧第2基準試料乾燥手段
109‧‧‧配管
110‧‧‧充氣器
111‧‧‧空氣泵
112‧‧‧配管
113‧‧‧粒狀之矽膠
114‧‧‧第2基準試料加濕手段
115‧‧‧配管
116‧‧‧充氣器
117‧‧‧空氣泵
118‧‧‧配管
119‧‧‧水
201‧‧‧比較試料
202‧‧‧比較試料容器
203‧‧‧比較試料導電率測定手段
204‧‧‧比較試料溫度測定手段
205‧‧‧充氣器
206‧‧‧中間容器
207‧‧‧配管
208‧‧‧比較試料乾燥手段
209‧‧‧配管
210‧‧‧充氣器
211‧‧‧空氣泵
212‧‧‧配管
213‧‧‧粒狀之矽膠
214‧‧‧比較試料加濕手段
215‧‧‧配管
216‧‧‧充氣器
217‧‧‧空氣泵
218‧‧‧配管
219‧‧‧水
A、B、C‧‧‧工作站

Claims (10)

  1. 一種鑄砂之砂污染度評價方法，係藉由測定鑄砂之導電率，來評價該鑄砂之砂污染度，其特徵在於，具有：準備前述鑄砂之基準試料與比較試料之步驟；在對前述基準試料與前述比較試料進行加濕處理後，測定前述基準試料與前述比較試料之前述導電率之步驟；以及根據該測定之前述基準試料與前述比較試料之前述導電率評價前述砂汚染度之步驟。
  2. 如申請專利範圍第1項之鑄砂之砂污染度評價方法，其中，係在對前述基準試料與前述比較試料進行乾燥處理後進行前述加濕處理，其後測定前述基準試料與前述比較試料之前述導電率。
  3. 如申請專利範圍第2項之鑄砂之砂污染度評價方法，其中，在交互反覆前述乾燥處理及前述加濕處理複數次後，測定前述基準試料與前述比較試料之前述導電率。
  4. 如申請專利範圍第1至3項中任一項之鑄砂之砂污染度評價方法，其進一步具有測定前述基準試料與前述比較試料之溫度之步驟。
  5. 如申請專利範圍第4項之鑄砂之砂污染度評價方法，其進一步具有：算出前述基準試料與前述比較試料之溫度差之步驟；以及將相當於該溫度差之導電率增減於前述測定之前述基準試料與前述比較試料之前述導電率，以修正該測定之導電率之步驟。
  6. 如申請專利範圍第1至3項中任一項之鑄砂之砂污染度評價方法，其中，將前述經評價之砂污染度之評價資料提供給用以控制鑄砂再生裝置之 滾筒之加壓力之基準用。
  7. 如申請專利範圍第1至3項中任一項之鑄砂之砂污染度評價方法，其中，係使用複數個前述基準試料。
  8. 一種鑄砂之砂污染度評價裝置，係藉由測定鑄砂之導電率，評價該鑄砂之砂污染度，其特徵在於，具備：基準試料容器，係收容前述鑄砂之基準試料；基準試料導電率測定手段，係測定收容於該基準試料容器之前述基準試料之前述導電率；基準試料加濕手段，係對收容於前述基準試料容器之前述基準試料進行加濕；比較試料容器，係收容前述鑄砂之比較試料；比較試料導電率測定手段，係測定收容於該比較試料容器之前述比較試料之前述導電率；以及比較試料加濕手段，係對收容於前述比較試料容器之前述比較試料進行加濕。
  9. 如申請專利範圍第8項之鑄砂之砂污染度評價裝置，其進一步具備：基準試料乾燥手段，係使收容於前述基準試料容器之前述基準試料乾燥；以及比較試料乾燥手段，係使收容於前述比較試料容器之前述比較試料乾燥。
  10. 如申請專利範圍第8或9項之鑄砂之砂污染度評價裝置，其進一步具備：基準試料溫度測定手段，係測定收容於前述基準試料容器之前述基 準試料之溫度；以及比較試料溫度測定手段，係測定收容於前述比較試料容器之前述比較試料之溫度。
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