CN106443393A - 一种绝缘子模拟rtv涂层脱落的污闪试验方法 - Google Patents
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Abstract
本发明属于输电线路外绝缘试验研究领域，特涉及绝缘子模拟RTV涂层脱落的污闪试验方法。本发明首先在绝缘子表面采用喷枪均匀涂覆RTV涂料，静置48h至72h。然后在表面选取模拟脱落点，采用小刀轻轻地将脱落点涂覆的RTV涂层表面划出小圆，并将该RTV小圆片去除，使该部位陶瓷(或玻璃)材质暴露在外，通过控制小圆的面积以及小圆之间间隔，模拟不同的脱落程度。最后将经以上处理完成的绝缘子在人工雾室中进行人工污秽试验。本发明能够模拟在网运行的绝缘子的老化程度与污耐压程度，准确的判断其耐压水平和寿命，及时更换已经达到寿命极限的绝缘子，防止污闪现象的发生。
Description
技术领域
本发明属于输电线路外绝缘试验研究领域，特涉及绝缘子模拟RTV涂层脱落的污闪试验方法。
背景技术
室温硫化硅橡胶(room temperature vulcanized silicone rubber，简称RTV)具有优异的憎水性和憎水迁移性，能显著提高瓷和玻璃绝缘子的污闪电压。目前绝缘子RTV涂层在我国输电线路和电气设备上运用广泛，但由于RTV属于有机材料，在复杂的大气、电磁场环境下容易发生老化，性能会劣化，可能不能再发挥其应有的提高外绝缘污闪电压的作用，进而直接威胁电力系统的安全运行。因此，模拟RTV老化的试验研究具有重要意义。
模拟RTV涂层老化的研究很多，包括采用电晕、紫外辐射、酸雨等对RTV涂层进行老化，并取得了具有重要理论意义和工程价值的研究成果。但在实际运行的RTV涂层中，还存在RTV起皮、脱落现象，局部RTV的残缺对于RTV涂层提高绝缘子耐污闪能力的影响应当引起重视。
如中国发明专利《绝缘子表面老化RTV涂层评估方法》（申请号 201610179799 .4）公开了一种绝缘子表面老化RTV涂层评估方法，该评估方法包括：确定绝缘子表面RTV涂层缺陷位置和泄露距离；根据绝缘子表面RTV涂层缺陷位置和泄露距离确定RTV局部缺损对污闪特性影响系数；利用喷水法测量绝缘子串每个绝缘子上下表面的憎水性，根据上下表面憎水性确定绝缘串表面老化RTV的憎水性；根据RTV局部缺损对污闪特性影响系数和绝缘串表面老化RTV的憎水性确定绝缘子表面RTV老化程度。本发明综合考虑了RTV脱落面积、位置的影响以及老化RTV憎水性，评估更加全面和准确。但是在该发明中，涂层缺陷位置和泄露距离难以确认，其计算和测量的难度较大，进而影响其评估的准确性。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明提供了一种用于模拟绝缘子表面RTV涂层脱落的污闪试验方法。本发明首先在绝缘子表面采用喷枪均匀涂覆RTV涂料，静置48h至72h。然后在表面选取模拟脱落点，采用小刀轻轻地将脱落点涂覆的RTV涂层表面划出小圆，并将该RTV小圆片去除，使该部位陶瓷(或玻璃)材质暴露在外，通过控制小圆的面积以及小圆之间间隔，模拟不同的脱落程度。最后将经以上处理完成的绝缘子在人工雾室中进行人工污秽试验。本发明能够模拟在网运行的绝缘子的老化程度与污耐压程度，准确的判断其耐压水平和寿命，及时更换已经达到寿命极限的绝缘子，防止污闪现象的发生。
本发明的技术解决方案是：一种绝缘子模拟RTV涂层脱落的污闪试验方法，其特征在于：包括以下步骤：
步骤一：在绝缘子表面RTV喷涂：将绝缘子表面清理洁净，在绝缘子表面采用喷枪均匀涂覆RTV涂料，并置于洁净的常温环境下静置48h至72h；
步骤二：脱落点选取：分为绝缘子上表面脱落点的选取和绝缘子下表面脱落点的选取；
绝缘子上表面脱落点的选取方法为：采用辅助圆的方法取点，将绝缘子正放，在绝缘子下沿选定一个基准脱落点，无伸缩细绳一端固定于基准脱落点，另一端在绝缘子表面划虚拟圆，选取圆上正上、正左、正右三个点作为脱落点；然后再将新形成的脱落点作为基准点，以相同半径相同方法取其他脱落点；
绝缘子下表面脱落点的选取方法为：在绝缘子伞棱各内侧面和外侧面作垂直于钢脚轴线的辅助圆，在圆上任意选取一个基准点，用无伸缩细绳依次选取其他脱落点；
步骤三：脱落点去涂层，脱落点选取完成之后，在不破坏绝缘子材质的前提下，采用小刀轻轻地在脱落点处将已经完全固化的RTV涂层表面划出小圆，并将该RTV涂层的小圆片去掉，使该部位的绝缘子材质暴露在外；
步骤四：污闪试验，将经以上处理完成的绝缘子在人工雾室中进行人工污秽试验。
根据如上所述的绝缘子模拟RTV涂层脱落的污闪试验方法，其特征在于：所述的污闪试验具体方法为：采用固体层法对绝缘子进行涂污，待污层表面充分获得憎水性后，将其置于人工雾室中，采用均匀升压法，待绝缘子在雾室中充分受潮后，将施加电压均匀升高直至闪络，获取其平均闪络电压。
根据如上所述的绝缘子模拟RTV涂层脱落的污闪试验方法，其特征在于：所述的步骤二中无伸缩细绳长度范围为3cm至5cm。
根据如上所述的绝缘子模拟RTV涂层脱落的污闪试验方法，其特征在于：所述步骤三中去掉涂层的小圆片直径一般在0.5cm至1.5cm。
本发明的有益效果是：一是能够模拟在网运行的绝缘子的老化程度与污耐压程度，可以更加准确的判断其耐压水平和寿命，并及时更换已经达到寿命极限的绝缘子，防止污闪现象的发生；二是便于准确测量或计算涂层缺陷位置和泄露距离，可提高模拟测试的准确性。
附图说明
图1为涂覆RTV的绝缘子示意图。整体结构为绝缘子，暗灰色所示为RTV涂层。
图2为绝缘子上表面模拟脱落点位置选取方法示意图，白色原点为模拟脱落点，圆形虚线为脱落点选取过程中虚拟的辅助线。
图3为绝缘子下表面模拟脱落点位置选取方法示意图，为了更直接反应下表面取点情况，此图为剖面图。白色原点为模拟脱落点，圆形虚线为脱落点选取过程中虚拟的辅助线。
图4为在上表面处理后的涂覆RTV的绝缘子示意图，暗灰色区域间白色小圆即为划除小圆后暴露出的区域。
图5为在下表面处理后的涂覆RTV的绝缘子示意图。
图6为污闪试验主要设备及布置图。
图7为整体流程图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的技术方案作进一步的说明。
如图1至图7所述，本发明的绝缘子模拟RTV涂层脱落的污闪试验方法具体包括如下步骤：
（1）绝缘子表面RTV喷涂：将绝缘子表面清理洁净，在绝缘子表面采用喷枪均匀涂覆RTV涂料，并置于洁净的常温环境下静置48h至72h，如图1所示。
（2）脱落点选取：分为绝缘子上表面脱落点的选取和绝缘子下表面脱落点的选取。
对于上表面，如图2所示，采用辅助圆的方法取点，将绝缘子正放，在绝缘子下沿选定一个基准脱落点，用一定长度的无伸缩细绳，如用3cm或5cm的无伸缩细绳，一端固定于该基准点，另一端在绝缘子表面划虚拟圆，选取圆上正上、正左、正右三个点作为脱落点。然后再将新形成的脱落点作为基准点，以相同半径相同方法取其他脱落点。
对于下表面，由于可操作取点空间有限，在绝缘子伞棱内侧面和外侧面采用以绝缘子钢脚作为轴对称的脱落点分布，如图3所示，在绝缘子伞棱各内侧面和外侧面作垂直于钢脚轴线的辅助圆，在圆上任意选取一个基准点，用一定长度的无伸缩细绳依次选取其他脱落点，如用3cm或5cm的无伸缩细绳。根据需要，通过改变细绳的长度可以控制脱落点在绝缘子表面的分布。
本发明的脱落点分布均匀，较为符合实际脱落点的分布规则，使本发明污闪试验的结果较为客观准确。同时，本发明还可以通过改变细绳的长度，模拟不同的涂层脱落对污闪结果的影响。
（3）脱落点去涂层：脱落点选取完成之后，在不破坏绝缘子陶瓷(或玻璃)材质的前提下，采用小刀轻轻地在脱落点处将已经完全固化的RTV涂层表面划出小圆，并将该RTV涂层的小圆片去掉，使该部位陶瓷(或玻璃)材质暴露在外，如图4和图5，去掉涂层的小圆片直径一般在0.5cm至1.5cm。根据需要，通过改变小圆的面积也可以控制脱落点的脱落严重程度。
（4）污闪试验：将经以上处理完成的绝缘子在人工雾室中进行人工污秽试验。采用固体层法对绝缘子进行涂污，待污层表面充分获得憎水性后，将其置于人工雾室中，采用均匀升压法，待绝缘子在雾室中充分受潮后，将施加电压均匀升高直至闪络，获取其平均闪络电压，如图6所示。
Claims (4)
1.一种绝缘子模拟RTV涂层脱落的污闪试验方法，其特征在于：包括以下步骤：
步骤一：在绝缘子表面RTV喷涂：将绝缘子表面清理洁净，在绝缘子表面采用喷枪均匀涂覆RTV涂料，并置于洁净的常温环境下静置48h至72h；
步骤二：脱落点选取：分为绝缘子上表面脱落点的选取和绝缘子下表面脱落点的选取；
绝缘子上表面脱落点的选取方法为：采用辅助圆的方法取点，将绝缘子正放，在绝缘子下沿选定一个基准脱落点，无伸缩细绳一端固定于基准脱落点，另一端在绝缘子表面划虚拟圆，选取圆上正上、正左、正右三个点作为脱落点；然后再将新形成的脱落点作为基准点，以相同半径相同方法取其他脱落点；
绝缘子下表面脱落点的选取方法为：在绝缘子伞棱各内侧面和外侧面作垂直于钢脚轴线的辅助圆，在圆上任意选取一个基准点，用无伸缩细绳依次选取其他脱落点；
步骤三：脱落点去涂层，脱落点选取完成之后，在不破坏绝缘子材质的前提下，采用小刀轻轻地在脱落点处将已经完全固化的RTV涂层表面划出小圆，并将该RTV涂层的小圆片去掉，使该部位的绝缘子材质暴露在外；
步骤四：污闪试验，将经以上处理完成的绝缘子在人工雾室中进行人工污秽试验。
2.根据权利要求1所述的绝缘子模拟RTV涂层脱落的污闪试验方法，其特征在于：所述的污闪试验具体方法为：采用固体层法对绝缘子进行涂污，待污层表面充分获得憎水性后，将其置于人工雾室中，采用均匀升压法，待绝缘子在雾室中充分受潮后，将施加电压均匀升高直至闪络，获取其平均闪络电压。
3.根据权利要求1所述的绝缘子模拟RTV涂层脱落的污闪试验方法，其特征在于：所述的步骤二中无伸缩细绳长度范围为3cm至5cm。
4.根据权利要求1所述的绝缘子模拟RTV涂层脱落的污闪试验方法，其特征在于：所述步骤三中去掉涂层的小圆片直径一般在0.5cm至1.5cm。
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