TW201732277A - 照明系統及圖樣獲取系統 - Google Patents

照明系統及圖樣獲取系統 Download PDF

Info

Publication number
TW201732277A
TW201732277A TW105138913A TW105138913A TW201732277A TW 201732277 A TW201732277 A TW 201732277A TW 105138913 A TW105138913 A TW 105138913A TW 105138913 A TW105138913 A TW 105138913A TW 201732277 A TW201732277 A TW 201732277A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
tested
cover
light sources
pattern acquisition
pattern
Prior art date
Application number
TW105138913A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI614494B (zh
Inventor
馬錦錦
Original Assignee
英華達股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 英華達股份有限公司 filed Critical 英華達股份有限公司
Publication of TW201732277A publication Critical patent/TW201732277A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI614494B publication Critical patent/TWI614494B/zh

Links

Classifications

    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21—LIGHTING
    • F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V3/00—Globes; Bowls; Cover glasses
    • F21V3/02—Globes; Bowls; Cover glasses characterised by the shape
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21—LIGHTING
    • F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V19/00—Fastening of light sources or lamp holders
    • F21V19/001—Fastening of light sources or lamp holders the light sources being semiconductors devices, e.g. LEDs
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8812—Diffuse illumination, e.g. "sky"

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)

Abstract

本發明提供了一種照明系統及圖樣獲取系統，具有曲面的罩體的頂部具有一開口，複數個光源均勻分佈於所述罩體內，待測物位於所述照明系統的罩體內，所述照明系統的複數個光源為所述圖樣獲取裝置提供光源，所述複數個光源的光線在所述罩體內部進行均勻的漫反射後再照射到所述待測物上，所述待測物上不會出現反光，也不會出現陰影，所述圖樣獲取裝置在獲取所述待測物的圖樣時，即可準確的獲取所述待測物的中心點，從而降低了對待測物的中心點位置的誤判率。

Description

照明系統及圖樣獲取系統
本發明關於電子技術應用領域，尤其是一種照明系統及圖樣獲取系統。
通常，在生產線的自動化測試中，需要獲取生產線上的待測物的圖樣資訊，具體的，需要獲取待測物的圖樣資訊。
當前，是將CCD（Charge-coupled Device，電荷耦合元件）元件設置在所述生產線上的待測物的上方，利用所述生產線所在的生產廠房的日光燈為所述CCD提供光源。然而，這種提供光源的方式容易在所述待測物上產生陰影，導致對所述待測物的中心點位置的誤判率很高。
針對上述問題，業界曾嘗試採用其它方式來為CCD提供光源，例如同軸光源、背光以及環光源中的一種或者多種的組合，其中，所述環光源還包括低角度環光源和高角度環光源，但是，仍然存在問題，比如光線在待測物上形成反光或者在待測物上形成陰影，從而導致CCD無法準確的獲取待測物的中心點。
本發明的目的在於提供一種照明系統及圖樣獲取系統，以降低對待測物的中心點位置的誤判率。
為了達到上述目的，本發明提供了一種照明系統，包括：罩體以及複數個光源，所述罩體的頂部具有一開口，所述複數個光源均勻分佈於所述罩體內。
較佳者，在上述的照明系統中，所述罩體進一步包括一延伸部，所述延伸部由所述罩體的側壁底部向內延伸構成。
較佳者，在上述的照明系統中，所述罩體側壁的底部設置有凹槽，所述複數個光源均勻分佈於所述延伸部上。
較佳者，在上述的照明系統中，所述複數個光源均為線性光源。
較佳者，在上述的照明系統中，所述開口所在的平面與所述罩體的底部所在的平面平行。
本發明再提供了一種圖樣獲取系統，包括：圖樣獲取裝置；以及如上所述的照明系統；其中，待測物位於所述照明系統的罩體內，所述照明系統的複數個光源為所述圖樣獲取裝置提供光源。
較佳者，在上述的圖樣獲取系統中，所述圖樣獲取裝置的中心、開口的中心以及待測物的中心位於一條直線上。
較佳者，在上述的圖樣獲取系統中，所述圖樣獲取裝置的中心正對著所述待測物的中心。
較佳者，在上述的圖樣獲取系統中，所述待測物位於所述照明系統中的罩體底部的中心線上。
較佳者，在上述的圖樣獲取系統中，所述圖樣獲取裝置包括智慧型相機和工業相機。
在本發明提供的照明系統及圖樣獲取系統中，採用罩體，所述罩體的頂部具有一開口，複數個光源均勻分佈於罩體內，並且，圖樣獲取裝置的中心、所述開口的中心以及待測物的中心位於一條直線上，所述複數個光源的光線在所述罩體內部進行均勻的漫反射後再照射到所述待測物上，以確保所述待測物上不會出現反光，也不會出現陰影，所述圖樣獲取裝置在獲取所述待測物的圖樣時，即可準確的獲取所述待測物的中心點，從而降低了對待測物的中心點位置的誤判率。
下面將結合示意圖對本發明的具體實施方式進行更詳細的描述。根據下列描述和申請專利範圍，本發明的優點和特徵將更清楚。需說明的是，圖式均採用非常簡化的形式且均使用非精准的比例，僅用以方便、明晰地輔助說明本發明實施例的目的。
如圖1所示，本發明實施例提供了一種照明系統，包括具有曲面的罩體101以及複數個光源103，所述複數個光源103均勻分佈於所述罩體101內，所述複數個光源103的光線經過所述罩體101漫反射後照射到待測物上。由此，可確保待測物上不會出現反光或陰影，圖樣獲取裝置在獲取所述待測物的圖樣時，即可準確的獲取所述待測物的中心點，從而降低了對待測物的中心點位置的誤判率。
本實施例中，所述罩體101為一隧道式罩體，所述隧道式罩體的側壁即為所述曲面。由於生產線多數是管線，採用隧道式罩體放置於所述生產線上，使得所述隧道式罩體的底部分別放置於所述生產線的兩側，所述複數個光源均勻分佈於所述隧道式罩體內，所述複數個光源的光線在所述隧道式罩體內進行漫反射後照射到待測物上，由此，可確保待生產線上的待測物上不會出現反光或陰影，圖樣獲取裝置在獲取所述待測物的圖樣時，即可準確的獲取所述待測物的中心點，從而降低了對待測物的中心點位置的誤判率。
本實施例中，所述罩體101的頂部具有一開口106，所述複數個光源103均勻分佈於所述罩體側壁的底部。具體的，所述開口106所在的平面與所述罩體的底部所在的平面平行。進一步地，在本發明的其他實施例中，所述開口106還可以貫穿所述罩體101的頂部，將所述罩體均勻的分為兩部分。
所述罩體101進一步包括一延伸部107，所述延伸部107由罩體的側壁底部向內延伸構成，所述延伸部107為一平面結構，與所述罩體101的側壁共同限定一容納空間，用於容置光源。
在本實施例中，所述延伸部107為一凹槽結構，在所述罩體側壁的底部向內延伸構成一凹槽102，具體地，如圖1所示，在放置於所述生產線的兩側的所述罩體側壁的底部分別向內延伸構成第一凹槽102a和第二凹槽102b，所述複數個光源均勻分佈於所述凹槽102中。進一步的，所述複數個光源103均勻分佈於所述第一凹槽102a和第二凹槽102b中。
在本發明的其他實施例中，所述罩體101還可以包括複數個所述延伸部107，即所述複數個延伸部107均勻分佈於所述罩體側壁的底部。
進一步地，所述複數個光源103均為線性光源，罩體101設置為遮罩罩體，所述光源103的光線在所述罩體101內進行漫反射。在所述第一凹槽102a和第二凹槽102b中均勻分佈的所述複數個光源103的光線在所述罩體101內均勻的進行漫反射，從而使得所述罩體101內的光線分佈均勻，沒有陰影。
本發明實施例再提供了一種圖樣獲取系統，包括圖樣獲取裝置104和如上所述的照明系統，待測物105位於所述照明系統的罩體101內，所述照明系統的複數個光源103為所述圖樣獲取裝置104提供光源。
較佳地，所述圖樣獲取裝置104的中心、開口106的中心以及待測物105的中心位於一條直線上，使得所述複數個光源103能夠均勻的為所述圖樣獲取裝置104提供光源。
在本實施例中，所述圖樣獲取裝置104為設置有CCD的元件，例如為智慧型相機和工業相機。所述CCD的中心正對著所述待測物105的中心。
所述待測物105位於所述罩體101底部的中心線上，而所述開口106所在的平面與所述罩體101的底部所在的平面平行，所述複數個光源103均勻分佈於所述罩體101側壁底部向內延伸構成的第一凹槽102a和第二凹槽102b中，且所述複數個光源103均為線性光源，所述罩體101為遮罩罩體，所述複數個光源103的光線在所述罩體101內進行漫反射。在所述第一凹槽102a和第二凹槽102b中均勻分佈的所述複數個光源103的光線在所述罩體內101均勻的進行漫反射，從而使得所述罩體101內的光線均勻在所述待測物105上進行漫反射，進而使得所述待測物105上沒有反光或陰影。
當所述圖樣獲取裝置104在獲取所述待測物的圖樣時，會很準確的對準所述待測物105的中心點，降低了對所述待測物105的中心點位置的誤判率。
本發明實施例中的圖樣獲取系統可以安裝在生產線上，所述罩體101沿著所述生產線上設置，所述罩體101側壁的底部分別設置於所述生產線的兩側，所述複數個光源103均勻分佈於所述罩體101側壁底部向內延伸構成的第一凹槽102a和第二凹槽102b中，且所述複數個光源103為線性光源，也就是說所述複數個光源103均勻分佈於所述生產線的兩側，且位於所述第一凹槽102a和第二凹槽102b中，以免掉落到所述生產線上，提高了使用的安全性。
所述待測物105位於所述生產線上，所述圖樣獲取裝置104位於所述生產線上的所述待測物105的正上方，使得所述待測物105的中心正對著所述圖樣獲取裝置104的中心，且二者的連線與所述開口106的中心線垂直。
在本發明的其他實施例中，所述開口106還可以沿著所述生產線的方向貫穿所述罩體101。
當所述圖樣獲取裝置104需要獲取所述待測物的圖樣時，均勻分佈於所述生產線上的複數個線性光源103均勻地為所述生產線上的待測物105提供光源，且這些光線在所述罩體101中進行漫反射再照射到所述待測物105上，使得所述待測物105上沒有陰影，所述圖樣獲取裝置104可以準確的獲取其中心點的位置，從而達到降低對所述待測物105中心點位置的誤判率的目的。
在本發明另一實施例中，如圖3所示，所述罩體201也可以是半球形罩體，所述半球形罩體的側壁即為所述曲面，半球形罩體更加適應於圓盤式生產線，所述複數個光源203均勻分佈於所述半球形罩體201內，所述複數個光源的光線在所述半球形罩體201進行漫反射後照射到待測物205上，由此，可確保圓盤式生產線上的待測物上不會出現反光或陰影，圖樣獲取裝置204在獲取所述待測物的圖樣時，即可準確的獲取所述待測物205的中心點，從而降低了對待測物205的中心點位置的誤判率。
在本發明又一實施例中，如圖4所示，所述罩體301也可以是橢球形罩體，所述橢球形罩體的側壁即為所述曲面，橢球形罩體同樣可適應於圓盤式生產線，所述複數個光源303均勻分佈於所述橢球形罩體內，所述複數個光源的光線在所述橢球形罩體內進行漫反射後照射到待測物305上，由此，可確保圓盤式生產線上的待測物上不會出現反光或陰影，圖樣獲取裝置304在獲取所述待測物的圖樣時，即可準確的獲取所述待測物305的中心點，從而降低了對待測物305的中心點位置的誤判率。
綜上，在本發明實施例提供的照明系統及圖樣獲取系統中，罩體的頂部具有一開口，複數個光源均勻分佈於罩體內，圖樣獲取裝置的中心、所述開口的中心以及待測物的中心位於一條直線上，所述複數個光源的光線在所述罩體內部進行均勻的漫反射後再照射到所述待測物上，所述待測物上不會出現反光，也不會出現陰影，所述圖樣獲取裝置在獲取所述待測物的圖樣時，即可準確的獲取所述待測物的中心點，從而降低了對待測物的中心點位置的誤判率。
上述僅為本發明的較佳實施例而已，並不對本發明起到任何限制作用。任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的技術手段的範圍內，對本發明揭露的技術手段和技術內容做任何形式的等同替換或修改等變動，均屬未脫離本發明的技術手段的內容，仍屬於本發明的保護範圍之內。
101、201、301‧‧‧罩體
102‧‧‧凹槽
102a‧‧‧第一凹槽
102b‧‧‧第二凹槽
103、203、303‧‧‧光源
104、204、304‧‧‧圖樣獲取裝置
105、205、305‧‧‧待測物
106‧‧‧開口
107‧‧‧延伸部
圖1為本發明實施例中照明系統的結構示意圖。 圖2為本發明實施例中圖樣獲取系統的示意圖。 圖3為本發明另一實施例中圖樣獲取系統的示意圖。 圖4為本發明又一實施例中圖樣獲取系統的示意圖。
101‧‧‧罩體
102a‧‧‧第一凹槽
102b‧‧‧第二凹槽
103‧‧‧光源
104‧‧‧圖樣獲取裝置
105‧‧‧待測物
107‧‧‧延伸部

Claims (10)

  1. 一種照明系統，其包括： 一罩體，係具有曲面；以及 複數個光源； 其中，該罩體的頂部具有一開口，該複數個光源均勻分佈於該罩體內。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之照明系統，其中該罩體進一步包括一延伸部，該延伸部由該罩體的側壁底部向內延伸構成。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之照明系統，其中該複數個光源均勻分佈於該延伸部上。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之照明系統，其中該複數個光源均為線性光源。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之照明系統，其中該開口所在的平面與該罩體的底部所在的平面平行。
  6. 一種圖樣獲取系統，其包括： 一圖樣獲取裝置；以及 如申請專利範圍第1至5項中之任意一項所述之照明系統； 其中，一待測物位於該照明系統的罩體內，該照明系統的複數個光源為該圖樣獲取裝置提供光源。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之圖樣獲取系統，其中該圖樣獲取裝置的中心、該開口的中心以及該待測物的中心位於一條直線上。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之圖樣獲取系統，其中該圖樣獲取裝置的中心正對著該待測物的中心。
  9. 如申請專利範圍第7項所述之圖樣獲取系統，其中該待測物位於該照明系統中的該罩體底部的中心線上。
  10. 如申請專利範圍第7項所述之圖樣獲取系統，其中該圖樣獲取裝置包括一智慧型相機和一工業相機。
TW105138913A 2016-03-03 2016-11-25 照明系統及圖樣獲取系統 TWI614494B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
??201610120835.X 2016-03-03
CN201610120835.XA CN105757606A (zh) 2016-03-03 2016-03-03 照明系统及图像获取系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201732277A true TW201732277A (zh) 2017-09-16
TWI614494B TWI614494B (zh) 2018-02-11

Family

ID=56331717

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW105138913A TWI614494B (zh) 2016-03-03 2016-11-25 照明系統及圖樣獲取系統

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN105757606A (zh)
TW (1) TWI614494B (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109632812A (zh) * 2019-01-11 2019-04-16 英特尔产品（成都）有限公司 用于物体检查的光照设备
CN110596124A (zh) * 2019-10-18 2019-12-20 杭州云华视觉科技有限公司 一种用于瑕疵检测的图像获取装置以及瑕疵检测系统
CN111272769A (zh) * 2020-04-07 2020-06-12 深圳回收宝科技有限公司 一种电子产品的底壳检测装置
CN113466235A (zh) * 2021-03-19 2021-10-01 江苏立讯机器人有限公司 视觉检测模组、缺陷检测工作站及缺陷检测方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6425677B1 (en) * 2001-02-20 2002-07-30 Prokia Technology Co., Ltd. Illuminating apparatus using multiple light sources
DE102006044019B4 (de) * 2006-09-15 2011-12-29 Stiftung Alfred-Wegener-Institut für Polar- und Meeresforschung Stiftung des öffentlichen Rechts Reflektorstrahler
RU2010147670A (ru) * 2008-04-23 2012-05-27 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. (Nl) Осветительное устройство с усовершенствованным дистанционным управлением
CN201348611Y (zh) * 2009-01-12 2009-11-18 北京大恒图像视觉有限公司 一种镭射印刷品质量检测系统
US8000594B2 (en) * 2009-07-02 2011-08-16 Microscan Systems, Inc. Diffuse reflective illuminator
CN203616264U (zh) * 2013-11-27 2014-05-28 北京大恒图像视觉有限公司 用于质量检测系统的成像装置
CN103697422A (zh) * 2013-12-11 2014-04-02 江苏大学 一种同轴照明自动光学检测光源装置

Also Published As

Publication number Publication date
TWI614494B (zh) 2018-02-11
CN105757606A (zh) 2016-07-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201732277A (zh) 照明系統及圖樣獲取系統
US9752869B2 (en) Systems and methods for performing machine vision using diffuse structured light
US20200182801A1 (en) Lighting device and inspection apparatus
JP2000266681A (ja) ライン照明装置
TW201415077A (zh) 用於一顯微鏡之多方向照明及顯微鏡
KR20160004099A (ko) 결함 검사 장치
JP2021076423A (ja) 光学検査装置
JP6516918B2 (ja) 材質認識照明システム及びそれを用いた材質認識方法
TWM467872U (zh) 光學檢查設備的取像系統
CN109891219A (zh) 检查装置
JP6749084B2 (ja) Ｌｅｄ照明装置
CN103307973A (zh) 贴片机检测装置
CN102374968A (zh) 用于微透明装置的视觉照明仪器
JP6938093B2 (ja) 検査対象物の境界部を検査する方法及びその検査装置
TWI528018B (zh) 貼片機檢測裝置
CN210071694U (zh) 一种用于磁瓦表面全检的光学装置
TWI682557B (zh) 光學感測器
JP2014089090A (ja) 線状斜め照明装置
JP2012098131A (ja) 配光特性測定装置、配光特性検査装置、配光特性測定プログラム、配光特性測定方法および配光特性検査方法
CN207094239U (zh) 一种半球面全角度组合光源
JP2019168305A (ja) Ｏリング外観検査装置、物体外観検査装置、照明装置、外観検査方法、ｏリング製造方法及び物体製造方法
JP2006153580A (ja) レリーフ表面検査方式
TWI470211B (zh) A light-emitting diode-illuminated reflective imaging device
US11333492B2 (en) Optical device, information processing method, and computer program product
KR100776986B1 (ko) 반도체 패키지 검사장치용 조명수단