TW201718929A - 時間多工化化學傳輸系統 - Google Patents

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Abstract

一種氣體傳輸系統在複數特定時間處傳輸複數不同的製程氣體組成予一共用供給線。複數儲槽係流體連接至該共用供給線，每一該儲槽具有其自己的進料控制閥以控制該儲槽至該共用供給線的連接。該複數儲槽的每一者具有對應之經連接的質量流量控制器與傳輸控制閥以控制在複數特定時間處自該儲槽內流至一製程模組之製程氣體的氣流。該共用供給線以時間分割的方式操作以利用複數不同的製程氣體組成填充該複數儲槽。該該複數儲槽的該複數質量流量控制器與該複數傳輸控制閥根據預定的調度操作以時間精準地將一或多種製程氣體組成傳輸至該製程模組。該複數儲槽係依需要受到填充以滿足該預定調度。

Description

時間多工化化學傳輸系統
本發明係關於半導體裝置製造。
某些現代的半導體裝置製造程序使用複數製程氣體組成，在製程中必須要能快速且精準地於複數不同的製程氣體組成之間變換。快速的製程氣體組成切換為半導體裝置製造程序期間所進行的一種操作，其中流入製程模組如電漿製程室中的複數製程氣體組成以高時序精準度變化。快速的製程氣體切換可能需要在少於約1秒的時間期間內有時甚至少於約0.1秒的時間期間內變化傳輸至製程模組的製程氣體組成。製程氣體組成的切換時間應比時脈更精準，在某些情況中製程氣體組成的切換時間係根據製程配方所為。例如，若製程配方指示一特定的製程氣體組成轉換應發生在該製程配方內的20秒處(或在一標稱步驟轉換時間處)，製程氣體組成的轉換應在該製程配方內的19.9秒至20.1秒之間發生。大多數半導體裝置製造系統對於製程氣體組成之轉換無法達到此種程度的時間精準度。是以本發明係於此背景下產生。
在一例示性實施例中，揭露一種製程模組用的氣體供給系統。氣體傳輸系統係用以在複數特定時間處傳輸複數不同的製程氣體組成。一共用供給線係流體連接至該氣體傳輸系統俾使該氣體傳輸系統在一特定時間處所傳輸之一特定製程氣體組成流經該共用供給線。複數儲槽的每一者係流體連接至該共用供給線。複數進料控制閥分別對應至該複數儲槽。該複數進料控制閥的每一者係連接以控制來自該共用供給線之氣體開始流向其對應儲槽及停止流向其對應儲槽。複數質量流量控制器分別對應至該複數儲槽。該複數質量流量控制器的每一者係連接以控制自其對應儲槽之一出口所傳輸之氣體的一流率。複數傳輸控制閥件係分別對應至該複數質量流量控制器。該複數傳輸控制閥件的每一者係連接以控制來自其對應質量流量控制器之一出口的氣體開始流向該製程模組及停止流向該製程模組。
在一例示性實施例中，揭露一種供給複數製程氣體組成至製程模組的方法。該方法包含傳輸一第一製程氣體組成予一共用供給線。該方法包含將一第一儲槽連接至該共用供給線俾使該第一製程氣體組成自該共用供給線流入該第一儲槽中。該方法包含經由一第一質量流量控制器自該第一儲槽傳輸該第一製程氣體組成予該製程模組。該方法包含使該第一儲槽與該共用供給線隔絕並同時持續經由該第一質量流量控制器自該第一儲槽傳輸該第一製程氣體組成予該製程模組。該方法包含傳輸一第二製程氣體組成予該共用供給線並同時經由該第一質量流量控制器自該第一儲槽傳輸該第一製程氣體組成予該製程模組。該方法包含將一第二儲槽連接至該共用供給線俾使該第二製程氣體組成自該共用供給線流至該第二儲槽中並同時持續經由該第一質量流量控制器自該第一儲槽傳輸該第一製程氣體組成予該製程模組。該方法包含停止該第一製程氣體組成經由該第一質量流量控制器自該第一儲槽傳輸至該製程模組。該方法包含經由一第二質量流量控制器自該第二儲槽傳輸該第二製程氣體組成予該製程模組。
在一例示性實施例中，揭露一種氣體供給系統的校正方法。該方法包含判斷一製程氣體組成流至一共用供給線中的一實際總流率，其中該製程氣體組成經由該共用供給線流至一儲槽。該方法包含利用一質量流量計量測該共用供給線內之該製程氣體組成的總流率，該質量流量計具有等於經連接以控制自該儲槽傳輸至一製程模組之製程氣體之傳輸之一質量流量控制器內所存在之質量流量量測技術的質量流量量測技術。該質量流量計及該質量流量控制器皆未針對該製程氣體組成之流率的精準量測而受到校正。該方法包含藉著比較該質量流量計量測到之該共用供給線內之該製程氣體組成的該總流率與該製程氣體組成流至該共用供給線中的實際總流率，以決定該質量流量控制器用的一校正調整因子。該方法包含操作該質量流量控制器以量測流經該質量流量控制器之該製程氣體組成的一流率。該方法包含將針對該製程氣體組成所決定之該質量流量控制器所用的該校正調整因子應用至該質量流量控制器所量測到之該製程氣體組成的流率，以獲得流經該質量流量控制器之該製程氣體組成之流率的一精準量測值並使用該質量流量控制器精準地控制流至該製程模組之該製程氣體組成的流率。
自下列的詳細說明協同例示本發明實例的附圖將可更明白本發明的其他態樣與優點。
在下面的說明中列舉許多特定細節以提供對本發明的全面瞭解。但熟知此項技藝者當明白，在缺乏部分或全面此些特定細節的情況下亦可實施本發明。在其他情況中，不詳細說明習知的製程操作以免不必要地模糊本發明。
文中所揭露的系統及方法可對流至半導體裝置製造中所用之製程模組的複數製程氣體組成提供快速切換，製程模組尤其例如是電漿系的蝕刻及/或沉積製程模組。文中所揭露的系統及方法提供自氣體傳輸系統傳輸至製程模組之任何製程氣體組成與可自相同氣體傳輸系統傳輸之另一製程氣體組成的實質立即切換及/或交替。來自氣體傳輸系統的單一傳輸線即共用供給線係受到時間共享/分時分割，以實質立即切換及/或交替傳輸至製程模組的製程氣體組成。文中所揭露的系統及方法亦提供流至製程模組之複數製程氣體組成的精準控制，甚至在傳輸製程氣體/氣體混合物的組成根據傳輸至製程模組之製程氣體組成的實質立即切換及/或交替而變化時提供精準控制。
圖1顯示根據本發明之某些實施例之可用以對製程模組供給複數製程氣體組成的氣體傳輸系統100。氣體傳輸系統100包含複數氣體傳輸棒101A-101L。應瞭解，圖1中所示之複數氣體傳輸棒101A-101L為例示性。在其他實施例中，氣體傳輸系統100可包含不同數目之氣體傳輸棒。氣體傳輸棒101A-101L每一者分別包含一安全鎖/安全吊牌(LOTO)閥105A-105L、一主要截止閥107A-107L、一質量流量控制器109A-109L、及一次要截止閥111A-111L。可針對質量流量控制器109A-109L每一者給予其各自的流動設定點。LOTO閥105A-105L每一者分別具有連通至氣體供給件103A-103L的一輸入側。雖然圖1的實例顯示每一氣體傳輸棒101A-101L係連通至不同的氣體供給件103A-103L，但應瞭解，在其他實施例中氣體傳輸棒101A-101L中的某些者可連通以共享氣體供給件103A-103L中的一或多者。次要閥111A-111L每一者具有連通至一共用歧管113的一輸出側。共用歧管113係連接至傳輸線123，傳輸線123係連通以自氣體傳輸系統100供給製程氣體組成予製程模組。
又，氣體傳輸系統100包含吹淨閥115，吹淨閥115具有連通至吹淨氣體供給件117的一輸入側及連通至共用歧管113的一輸出側。依此配置，可操作吹淨閥115使吹淨氣體流經共用歧管113、傳輸線123及/或氣體傳輸棒101A-101L。吹淨閥115與吹淨氣體供給件117提供共用歧管113及氣體傳輸棒101A-101L週期吹淨，使其能安全操作。又，氣體傳輸系統100包含排放閥119，排放閥119具有連通至共用歧管113的一輸入側及連通至真空源121的一輸出側。依此配置，可操作排放閥119以排放共用歧管113、傳輸線123及/或氣體傳輸棒101A-101L。此外，由於某些複數製程氣體組成的毒性及可燃性，可將氣體傳輸系統100的元件容納於受到吹淨的殼件內，自外部汲取空氣導入殼件中並將通過殼件的空氣排放至廢氣管道，讓使用者不暴露至滲漏的氣體。又，可使用壓力開關及其他裝置以提供安全互鎖，確保氣體傳輸系統100在異常條件發生時切換至安全狀態。可使用氣體傳輸系統100將複數製程氣體組成供給至許多不同類型的半導體裝置製造製程模組，此些模組包含但不限於電漿感應/輔助蝕刻及/或沉積製程用之電漿製程模組。
由於與質量流量控制器及氣體傳輸棒101A-101L之閥件之操作相關的延遲以及製程氣體組成需要時間下流傳輸線(複數傳輸線)123而達製程模組，氣體傳輸系統100受限地在製程模組處於指定製程氣體組成轉換時間後提供數秒數量級的製程氣體組成的變化。因此，氣體傳輸系統100獨自可能無法依半導體裝置製造程序期間快速製程氣體切換操作所要求之1秒或更少之數量級的高時間精準度傳輸特定複數製程氣體組成。又，利用圖1之氣體傳輸系統100，在需要變化製程參數時，可關閉射頻(RF)功率然後初始化與穩定傳輸線123內的新製程氣體組成然後再將RF功率重新開啟。這被稱為穩定化步驟且可能需要數秒。許多使用圖1之氣體傳輸系統100之電漿製程中的穩定化步驟可累積成大量的時間，拉長了電漿製程的整體持續期間並不利地影響製造產能。
在電漿系的蝕刻領域中，快速交替製程(RAP)仰賴少於0.5秒的製程步驟期間。在電漿系的沉積領域中，原子層沉積(ALD)製程包含少於0.5秒的步驟期間。圖2顯示可被使用兩種特定製程氣體組成之特定RAP或ALD製程所用的氣體傳輸系統200。氣體傳輸系統200為針對圖1所述之氣體傳輸系統100的變化版本。氣體傳輸系統200包含兩組質量流量控制器，一組質量流量控制器係連接至一對出口歧管中的一者，達製程模組的兩傳輸線係被閥件所終止而使來自每一歧管的製程氣體組成流接續地被傳輸。尤其，在氣體傳輸系統200中，複數氣體傳輸棒被區分為兩群組，氣體傳輸棒的第一群組201係專用於傳輸第一製程氣體組成而氣體傳輸棒的第二群組203係專用於傳輸第二製程氣體組成。在圖2的實例中，氣體傳輸棒的第一群組201包含氣體傳輸棒101A-101D而氣體傳輸棒的第二群組203包含氣體傳輸棒101E-101G。氣體傳輸棒101A-101G每一者分別包含一LOTO閥105A-105G、一主要截止閥107A-107G、一質量流量控制器109A-109G、及一次要截止閥111A-111G。LOTO閥每一者105A-105G具有分別連通至一氣體供給件103A-103G的一輸入側。雖然圖2的實例顯示氣體傳輸棒101A-101G每一者係連通至不同的一氣體供給件103A-103G，但應瞭解，在其他實施例中不同的氣體傳輸棒101A-101G可連通以共享氣體供給件103A-103G中的一或多者。
氣體傳輸棒的第一群組201之次要閥111A-111D的每一者連通至一第一共用歧管113A的一輸出側。因此第一共用歧管113A係連通至一第一傳輸線123A而第一傳輸線123A係連通至第一控制閥205A的一入口側。第一控制閥205A的一出口側係連通至製程模組211的一供給線209。第一控制閥205A尤其係針對第一製程氣體組成而受到校正。因此，相較於第一製程氣體組成，第一控制閥205A無法被輕易地用以控制不同製程氣體組成的流動。第一控制閥205A的操作控制第一製程氣體組成自第一傳輸線123A流至製程模組211。類似地，氣體傳輸棒之第二群組203之次要閥111E-111G的每一者具有連通至一第二共用歧管113B的一輸出側。因此第二共用歧管113B係連通至第二傳輸線123B而第二傳輸線123B係連通至第二控制閥205B的一入口側。第二控制閥205B尤其係針對第二製程氣體組成而受到校正。因此，相較於第二製程氣體組成，第二控制閥205B無法被輕易地用以控制不同製程氣體組成的流動。第二控制閥205B的一出口側係連通至製程模組211的供給線209。第二控制閥205B的操作控制第一製程氣體組成自第二傳輸線123B流至製程模組211。控制閥205A與205B靠近製程模組211設置以提供自供給第一製程氣體組成至供給第二製程氣體組成的快速變換，以及自供給第二製程氣體組成至供給第一製程氣體組成的快速變換。
氣體傳輸系統200亦包含第一吹淨閥115A，第一吹淨閥115A具有連通至吹淨氣體供給件117的一輸入側及連通至第一共用歧管113A的一輸出側。利用此配置，可操作第一吹淨閥115A使吹淨氣體流經第一共用歧管113A、第一傳輸線123A及/或氣體傳輸棒的第一群組101A-101D。第一吹淨閥115A及吹淨氣體供給件117提供第一共用歧管113A與氣體傳輸棒101A-101D週期吹淨，俾使其可安全操作。又，氣體傳輸系統200包含第一排放閥119A，第一排放閥119A具有連通至第一共用歧管113A的一輸入側及連通至真空源121的一輸出側。利用此配置，可操作第一排放閥119A以排放第一共用歧管113A、第一傳輸線123A及/或氣體傳輸棒的第一群組101A-101D。
氣體傳輸系統200亦包含第二吹淨閥115B，第二吹淨閥115B具有連通至吹淨氣體供給件117的一輸入側及連通至第二共用歧管113B的一輸出側。利用此配置，可操作第二吹淨閥115B使吹淨氣體流經第二共用歧管113B、第二傳輸線123B及/或氣體傳輸棒的第二群組101E-101G。第二吹淨閥115B及吹淨氣體供給件117提供第二共用歧管113B與氣體傳輸棒101E-101G週期吹淨，俾使其可安全操作。又，氣體傳輸系統200包含第二排放閥119B，第二排放閥119B具有連通至第二共用歧管113B的一輸入側及連通至真空源121的一輸出側。利用此配置，可操作第二排放閥119B以排放第二共用歧管113B、第二傳輸線123B及/或氣體傳輸棒的第二群組101E-101G。
此外，由於某些製程氣體的毒性與可燃性，可將氣體傳輸系統200的元件容納於受到吹淨的殼件內，自外部汲取空氣導入殼件中並將通過殼件的空氣排放至廢氣管道，讓使用者不暴露至滲漏的氣體。又，可使用壓力開關及其他裝置以提供安全互鎖，確保氣體傳輸系統200在異常條件發生時切換至安全狀態。可使用氣體傳輸系統200將複數製程氣體組成供給至許多不同類型的半導體裝置製造製程模組，此些模組包含但不限於電漿感應/輔助蝕刻及/或沉積製程用之電漿製程模組。
在RAP與ALD製程中，使用有限數目的製程氣體組成。因此，圖2的氣體傳輸系統200對於RAP與ALD製程而言為可行的選擇。例如，在某些RAP及/或ALD製程中，藉著使用傳輸第一製程氣體組成用之氣體傳輸棒的第一群組101A-101D及使用傳輸第二製程氣體組成用之氣體傳輸棒的第二群組101E-101G，可讓使用第一製程氣體組成 A的製程步驟與使用第二製程氣體組成 B的製程步驟交替。在此情況中，電漿製程系統係針對操作特定電漿系製程而高度特殊化，且在設計製程模組與支援系統時已實質上可預見第一與第二複數製程氣體組成 A與B，這致能了電漿製程系統的特殊化設計。
如圖2中所示，藉由分離的路徑113A/123A與113B/123B將第一與第二製程氣體組成 A與B傳輸至位置接近製程模組211的控制閥205A與205B。氣體傳輸系統200中的製程氣體組成處理元件特別具有針對狀態轉換將時間效能緊密控制在小於10毫秒之數量級的能力。此外，可設計與安裝氣體傳輸系統200俾使自氣體傳輸系統200至製程模組之製程氣體組成轉換延遲為小。
在半導體裝置製造用之電漿系蝕刻領域中，可能會涉及極大量的製程氣體組成即化學品。一般期望電漿製程模組能操作大量的製程而非只針對任何特定製程特殊化。因此，現代的電漿系蝕刻製程模組可連接至能供給約20種或甚至更多不同製程氣體組成的氣體傳輸系統。又，在電漿系蝕刻製程中對完善控制的短製程步驟的需求日益增加。製程時間已自20秒或更長(在約2008年以前)縮減至2015年的5秒或更短，且一般期望製程時間能達1-2秒且在不遠的未來能更短。不幸地，類似於RAP或ALD製程所用之技術的方案如圖2所示之氣體傳輸系統200並不適合用於更複雜的電漿系蝕刻製程及相關設備，因為：(a)製程氣體組成傳輸/處理系統的尺寸使其位置無法靠近製程模組入口處；及(b)無法依傳統方式將製程氣體組成化學品分割為第一製程氣體組成 A與第二製程氣體組成 B。例如，若在第一製程氣體組成 A與第二製程氣體組成 B中皆存在一特定的製程氣體，則氣體傳輸系統針對此特定製程氣體需要兩個質量流量控制器。且，由於難以預測哪一製程氣體會存在於複數製程氣體組成中，需要複製許多質量流量控制器，因此使得氣體傳輸系統更大更貴。且，對於大多數的操作時間而言，冗餘的質量流量控制器會閒置/未使用，導致昂貴技術的極差使用效率。因此，需要一種比圖1與2所示之實例更先進的氣體供給系統，以對快速製程氣體組成切換及通用操作行為用之製程模組提供製程氣體組成傳輸。
先進氣體供給系統應能在毋需無效能地複製質量流量控制器的情況下對特定製程模組提供複數不同製程氣體組成。又，先進氣體供給系統應能依據複數質量流量控制器之固定校正本質緊密控制傳輸至製程模組之複數不同製程氣體組成的傳輸流率與時序，複數質量流量控制器之固定校正本質係指每一質量流量控制器限於針對製程氣體/氣體混合物的特定組成的精確流動控制而受到直接校正而未針對製程氣體/氣體混合物之其他組成的精確流動控制受到直接校正。
文中揭露先進氣體供給系統的例示性實施例，其中複數製程氣體組成係以預混合的形式被儲存在靠近製程模組之複數(至少兩個)分離的儲槽中。分離儲槽的每一者係連通以在特定時間處藉由對應的質量流量控制器 及一或多個傳輸控制閥將其所容納的製程氣體組成傳輸至製程模組。氣體傳輸系統受到配置而用以依需要以指定的製程氣體組成填充分離儲槽，俾使適當的儲槽內有充分量的指定製程氣體組成能在電漿製程期間的所需時間處傳輸至製程模組。氣體傳輸系統受到配置而使用一共用供給線依需要填充複數分離儲槽，確保在一特定儲槽內每一指定的製程氣體組成能在需要時於電漿製程操作期間被適當地供給傳輸至製程模組。換言之，一氣體傳輸系統係受到配置以供給複數種不同的製程氣體組成，填充/補給靠近製程模組的兩或更多分離儲槽。
藉著在作為目前傳輸之製程氣體組成之氣體源的兩或更多儲槽之間切換，以達成傳輸至製程模組之製程氣體組成的變化/切換。一分離的質量流量控制器係設置在每一儲槽的出口與製程模組之間以精準控制自儲槽流至製程模組之製程氣體組成的流動。設置在特定儲槽之出口與製程模組之間之每一分離的質量流量控制器的操作方式考慮到在一特定時間處流經質量流量控制器之製程氣體組成與原來用以校正質量流量控制器之製程氣體組成之間之任何差異所造成的任何校正偏差。又，利用設置在氣體傳輸系統之共用供給線內的質量流量計即時判斷考慮每一質量流量控制器之校正偏差。由於一特定儲槽可被清空而充填一新的製程氣體組成同時另一儲槽正被用以將一不同的製程氣體組成供給予製程模組，藉著使用複數分離儲槽的方式可有效地不限制可被供給予製程模組之不同製程氣體組成的數目。
圖3顯示根據本發明之某些實施例之先進氣體供給系統300的概圖。先進氣體供給系統300包含用以將複數複數製程氣體組成及/或吹淨氣體中的任一者供給至一共用供給線303的氣體傳輸系統301。在某些實施例中，氣體傳輸系統301的配置係類似於圖1所述之氣體傳輸系統100。氣體傳輸系統301係連接至複數氣體供給件103。可配置氣體傳輸系統301藉著真空源121在共用供給線303或氣體傳輸系統301之複數氣體傳輸棒的任何一者上汲取真空。亦可配置氣體傳輸系統301藉由吹淨氣體供給件117使吹淨氣體直接流經共用供給線303或氣體傳輸系統301內之複數氣體傳輸棒的任何一者。又，質量流量計302 係流體連接至共用供給線303以經由共用供給線303提供一些氣體流率。
共用供給線303係連通至兩或更多進料控制閥305、307的入口及排放控制閥309的入口。如連接線310所示，排放控制閥309具有連通至排放模組331的一出口。排放模組331係配置具有低壓源的功能，以汲取棄置及/或回收用之待處理的氣體。進料控制閥305、307每一者具有分別連通至分離儲槽311、313的一出口。在圖3的實例中，進料控制閥305具有經由線連接件306而連通至儲槽311的出口。而進料控制閥307具有經由線連接件308而連通至儲槽313的出口。在某些例示性實施例中，儲槽311、313每一者具有範圍介於約100 cc(立方公分)至約500 cc之間的內部體積。在某些實施例中，儲槽311、313每一者可具有約300 cc的內部體積。然而應瞭解，可依需求設計儲槽311、313每一者的尺寸以匹配氣體供給系統300的所需操作參數並合於安裝儲槽311、313之位置處之製造場所的空間限制。在某些實施例中，儲槽311、313係安裝於製程模組325附近或製程模組325之處以將複數製程氣體組成供給至製程模組325。進料控制閥305、307及儲槽311、313及排放控制閥309皆被包含於氣體供給系統300的氣體進料模組350內作為其部件。
儲槽311、313每一者具有分別連通至質量流量控制器315、317的一出口。具體而言，儲槽311具有經由連接線312而連通至質量流量控制器315之入口的出口。而儲槽313具有經由連接線314而連通至質量流量控制器317的出口。質量流量控制器311、313每一者係被配置為對壓力不敏感的質量流量控制器，能夠將壓降(質量流量控制器之入口壓力與出口壓力之間的差)操作在低於約1/3 atm(大氣壓)且在某些實施例中甚至低於約0.1 atm。當對應儲槽311、313中的壓力變化時，流經質量流量控制器311、313每一者的流率會經歷最小的變化。
又，如連接線334所示，排放控制閥333設有連通至連接線312的入口及連通至排放模組331的出口。類似地，如連接線340所示，排放控制閥339設有連通至連接線314的入口及連通至排放模組331的出口。可操作排放控制閥333與339以分別將儲槽311與313排空至排放模組331。又，在某些實施例中，可將流動限制模組335與341分別沿著連接線334與340安裝，以在快速排放儲槽311、313期間分別控制流經連接線334、340之氣體的氣流。可配置流動限制模組335與341以在毋需過度操作排放模組331的情況下對儲槽311與313提供快速泵抽。質量流量控制器315、317及排放控制閥333、339及流動限制模組335、341皆被包含於氣體供給系統300的流動控制模組360內作為其部件。
質量流量控制器315、317每一者具有分別連通至傳輸控制閥319、321的一出口。具體而言，質量流量控制器315具有經由連接線316而連通至傳輸控制閥319之入口的出口。而質量流量控制器317具有經由連接線318而連通至傳輸控制閥321之一入口的出口。在某些實施例中，傳輸控制閥319與321為氣動閥，配置用以提供傳輸至製程模組325之複數製程氣體組成之起始與停止流動的精確時序。然而應瞭解，只要傳輸控制閥319與321係配置用以以製程模組325內欲進行之製程可暫時接受的方式回應操作控制訊號，其他實施例可使用其他類型的傳輸控制閥319與321。
如連接線338所示，排放控制閥337設有連通至連接線316的入口及連通至排放模組331的出口。類似地，如連接線344所示，排放控制閥343設有連通至連接線318的入口及連通至排放模組331的出口。可操作排放控制閥337與343分別將來自質量流量控制器315與317的氣體流導向排放模組331。又，在某些實施例中，可使流動限制模組(如335與341)分別與排放控制閥337與343串聯，以不將連至製程室325之連接線內的壓力降為零，俾以將連至製程室325之連接線內的壓力維持在接近製程氣體應被傳輸至製程室325之處的壓力。因此，當流動路徑經由連接線(複數連接線)達製程模組325並經由製程模組325達排放模組331時，與排放控制閥337與343串聯安裝的流動限制模組應具有與排放模組331約相同的傳導。又，在某些實施例中，流動限制模組(包含335與341)中的任一者可為一可變流動限制模組以控制正在排放之氣體的壓力。在某些實施例中，可變流動限制模組可包含一排具有各種尺寸之可被選擇的複數孔口及/或可為一可連續調整之限制件如壓電閥。傳輸控制閥319、321及排放控制閥337、343皆被包含於氣體供給系統300的氣體傳輸切換模組370作為其部件。
在某些實施例中，傳輸控制閥319與321每一者具有連通至氣體分離模組323的一出口。如圖3之實例中所示，傳輸控制閥319具有經由連接線320而連通至氣體分離模組323的出口。而傳輸控制閥321具有經由連接線322而連通至氣體分離模組323的出口。氣體分離模組323係配置用以例如經由連接線327A、327B、327C將製程氣體組成(複數製程氣體組成)的進入流/複數進入流導向製程模組325的各種不同傳輸接口。因此，可定義氣體分離模組323以空間分割製程氣體組成(複數製程氣體組成)的進入流/複數進入流，使得製程氣體組成(複數製程氣體組成)能被傳輸至製程模組325內的複數不同位置。
雖然圖3之例示性實施例顯示氣體分離模組323的實施，但亦應瞭解，在其他的例示性實施例中，傳輸控制閥319與321之一或多者的出口毋需連至氣體分離模組的中介流體連接便可直接連通至製程模組325的一或多個氣體傳輸接口。又，如連接線329所示，製程模組325具有連通至排放模組331的排放出口。
在某些實施例中，可操作氣體供給系統300以將兩或更多種的製程氣體組成的交替流傳輸至製程模組325上的單一傳輸接口/區域。例如，在此些實施例中，分別來自傳輸控制閥319與321的連接線320與322在通往製程模組325的路徑中(可能在氣體分離模組323內)可結合在一起。又，在某些實施例中，可操作氣體供給系統300以將不同的製程氣體組成傳輸至製程模組325的不同傳輸接口/區域。例如，在此些實施例中，來自傳輸控制閥319的連接線320可連接至製程模組325的第一傳輸接口/區域，來自傳輸控制閥321的連接線322可連接至製程模組325的第二傳輸接口/區域。在某些製程模組325如電漿系蝕刻模組中，藉由注射器或噴淋頭將製程氣體的主流提供至反應區域的中央位置即第一傳輸接口/區域，同時將側調整氣體提供至製程模組325之周邊壁處的傳輸接口(注射器)即第二傳輸接口/區域。應明白，藉著將不同的程氣體組成自氣體傳輸系統301傳輸至複數儲槽311、313，氣體供給系統300能夠將不同的製程氣體組成傳輸至不同的傳輸接口/區域。又，應瞭解，使用更多儲槽即比兩個更多的儲槽能快速地切換傳輸至製程模組325之不同傳輸接口/區域的複數製程氣體組成。
製程模組325實質上可以是在半導體裝置製造時所用之實質上任何類型的製程模組，其中一或多製程氣體組成(複數製程氣體組成)被供給至製程模組325以影響製程模組325中的製程操作。在某些例示性的實施例中，製程模組325為電漿製程室，其能將射頻功率(RF)施加至製程室內的製程氣體組成以產生暴露至欲處理之基板的電漿，藉此電的反應性組成如離子及/或自由基操作而修改基板的暴露部分。例如，在圖3中將製程模組325顯示為具有位於頂窗382上方的線圈天線380、形成在頂窗382下方的電漿製程區域388A。將欲於製程模組325內受到電漿處理的基板386放置到電漿製程區域388A下的基板支撐件384上。在各種實施例中，基板支撐件384可為靜電夾頭或其他類型的基板支撐件。又，在各種實施例中，可配置基板支撐件384以包含各種冷卻機構、加熱機構、夾持機構、偏壓電極及/或感測器，其中感測器可提供參數尤其是溫度、壓力、電壓及/或電流的量測。製程模組325包含繞著電漿製程區域388A形成的外部結構，外部結構協同頂窗382圍繞電漿製程區域388A及基板支撐件384。。製程模組325的外部結構可由導電材料所形成且可具有連接至參考接地電位的電連接件。
在操作期間，製程模組325藉由一或多個傳輸接口如圖3之連接線327A、327B、327C所例示者接收一或多種製程氣體組成(複數製程氣體組成)且RF功率被施加至線圈天線380，俾使RF功率在電漿製程區域388A內產生電磁場將電漿製程區域388A內的一或多種製程氣體組成(複數製程氣體組成)轉換為電漿388。接著，電漿388的反應性成分如離子及/或自由基與基板386之暴露表面之複數部分交互作用。在一例示性實施例中，文中所用之基板386一詞係指半導體晶圓。然而應瞭解， 在其他實施例中，文中所用的基板386一詞可代表由藍寶石、GaN、GaAs、或SiC、或其他基板材料所形成的基板且可包含玻璃面板/基板、金屬箔、金屬薄片、聚合物材料等。又，在各種實施例中，文中所指的基板386可變化其形式、形狀、及/或尺寸。例如，在某些實施例中，文中所指的基板386可對應至200 mm(毫米)半導體晶圓、300 mm半導體晶圓、或450 mm半導體晶圓。又，在某些實施例中，文中所指之基板386可對應至非圓形的基板，在眾多形狀中例如是平面顯示器所用的矩形基板等。
圖3中所示之製程模組325為感應耦合電漿(ICP)製程模組的一實例。在其他實施例中，製程模組325可為不同類型的電漿製程模組。例如，在某些實施例中，製程模組325可為類似ICP製程模組的變壓器耦合電漿(TCP)製程模組。又，在某些實施例中，製程模組325可為電容耦合電漿(CCP)製程模組，其中CCP製程模組並非使用ICP製程模組中所用之線圈天線380而是包含設置在製程室內的一或多個電極，RF功率係傳輸至此一或多個電極。在CCP製程模組中，該一或多個電極可包含上電極(例如尤其是噴淋頭電極、或固態電極)、下電極(例如尤其是靜電夾頭、或基板支撐件)、及側電極(例如尤其是外緣環形電極)中的一或多者，其中上電極、下電極、側電極係配置於電漿製程區域388A四週。傳輸至CCP製程模組之一或多個電極的RF功率會自一或多電極傳輸經過存在於電漿製程區域388A內的一或多種製程氣體組成(複數製程氣體組成)而達接地參考電位，如此將電漿製程區域388A內的一或多種製程氣體組成(複數製程氣體組成)轉換為電漿388。
應瞭解，為了方便說明，係以簡化方式討論上述ICP、TCP及CCP 製程模組325實例。實際上，不論是ICP、TCP、CCP或其他類型的製程模組325皆為包含了許多文中未述之元件的複雜系統。然而，對於目前討論應瞭解的是，無論製程模組325的類型為何，其係連接以接收仔細控制條件下之一或多種製程氣體組成(複數製程氣體組成)的受控制流，以處理基板386而獲得特定的結果。可被製程模組325所施行的電漿製程操作尤其包含蝕刻操作、沉積操作、及灰化操作。
圖4顯示根據本發明之某些實施例之與氣體供給控制模組400交界的氣體供給系統300。可配置氣體供給控制模組400以自氣體供給系統300內的每一元件接收狀態輸入，其中狀態輸入尤其指示每一元件的現行操作條件及每一元件處之溫度、壓力、及流率的量測值。又，可配置氣體供給控制模組400以產生控制訊號及傳輸控制訊號予氣體供給系統300內的每一元件，俾使氣體供給系統300的整體操作可與氣體供給控制模組400同步。
例如，可配置氣體供給控制模組400使其連接至複數氣體供給件103內之每一氣體供給件的控制操作，以使特定氣體供給件單元上線及/或使特定氣體供給件單元下線並監測每一已安裝之氣體供給件單元的填充位準。亦配置氣體供給控制模組400使其連接至氣體傳輸系統301內之每一氣體傳輸棒的控制操作。更具體而言，配置氣體供給控制模組400使其連接至氣體傳輸系統301內之每一氣體傳輸棒內的每一LOTO閥、主要閥件、質量流量控制器、次要閥件的控制操作。亦配置氣體供給控制模組400使其連接以自氣體傳輸系統301內之每一氣體傳輸棒內的每一LOTO閥、主要閥件、質量流量控制器、次要閥件接收狀態輸入，狀態輸入包含每一質量流量控制器所量測到的流率量測數據。
此外，配置氣體供給控制模組400使其連接至氣體傳輸系統301之吹淨閥與排放閥的控制操作並自吹淨閥與排放閥接收狀態輸入。亦配置氣體供給控制模組400使其連接至吹淨氣體供給件117與真空源121的控制操作並自吹淨氣體供給件117與真空源121接收狀態輸入。亦配置氣體供給控制模組400使其連接以自質量流量計302接收流率量測數據，流率量測數據指示質量流量計302所量測到之共用供給線303內的流率。
亦配置氣體供給控制模組400使其連接至氣體進料模組350內之進料控制閥305、307與排放閥309的控制操作並監測其狀態。又，配置氣體供給控制模組400使其連接至氣體進料模組350內之儲槽311、313的控制操作並監控其狀態，監控其狀態包含但不限於監控儲槽311與313內的溫度與壓力與填充位準。亦配置氣體供給控制模組400使其連接至流動控制模組360內之質量流量控制器315、317與排放閥333、339與流動限制模組335、341(若存在)的控制操作並監控其狀態。亦配置氣體供給控制模組400使其連接至氣體傳輸切換模組370內之傳輸控制閥319、321與排放閥337、343的控制操作並監控其狀態。
亦配置氣體供給控制模組400使其連接至氣體分離模組323的控制操作並監控其狀態。例如，在某些實施例中，可配置氣體分離模組323以動態地控制有多少製程氣體經由不同的流動路徑而被導至製程模組325，氣體分離模組323所進行的此動態控制可由氣體供給控制模組400所指示。又，可連接氣體供給控制模組400以接收各種感測器量測數據，量測數據指示有多少製程氣流經氣體分離模組323內的特定流動路徑或流出氣體分離模組323。又，可配置氣體供給控制模組400使其連接至排放模組331的控制操作並監控其狀態，監控其狀態包含但不限於監控流經排放模組的氣流及調整用以吸取氣體至排放模組的壓力。
亦配置氣體供給控制模組400使其連接以自調度模組401接收關於氣體供給系統300及/或RF電源系統410之操作控制的輸入。例如，調度模組401可提供輸入至氣體供給控制模組400，具體指出操作氣體供給系統300內之每一元件所用的時序調度及/或時序規格，以在製程模組325內的基板上進行特定製程。又，在某些實施例中，可配置調度模組401使其具有計算能力以建立並施行操作氣體供給系統300內之每一元件所用的時序調度及/或時序規格，以基於在調度模組401處所接收到之來自製程輸入模組403的需求而在製程模組325內的基板上進行特定製程。
例如，在某些實施例中，在調度模組401處接收到之來自製程輸入模組403的需求可包含在製程模組325內的基板上進行特定製程所用的配方。在此實例中，調度模組401為將指定的配方視為輸入並針對氣體供給系統300內的各種元件建立特定的控制程序，以根據指定的配方處理基板。在各種實施例中，配方包含當製程模組325被設定至特定狀態下之製程步驟的規格。例如，每一製程步驟用之配方規格的一部分可包含欲使用之一或多種製程氣體組成(複數製程氣體組成)及對應的流率(複數流率)。
氣體供給控制模組400執行調度程序。調度模組401將調度程序提供予氣體供給控制模組400以指示氣體供給系統300(包含質量流量控制器315與317)依照製程輸入模組403所提供之配方設定中所指出的特定流率對製程模組325提供特定製程氣體組成的氣流。於是，氣體供給控制系統400指示氣體供給系統300操作以確保正確的製程氣體組成在適當的時間處以充分的壓力存在於儲槽311、313的一者內，使得對應的質量流量控制器315、317以精準的方式操作。在某些實施例中，調度模組401以狀態機器的方式操作，但其他製程(可能其他狀態機器)操作以監控氣體供給系統300內的儲槽311、313、質量流量控制器315、317、及其他元件的條件/狀態。亦可定義此些監控製程以傳送和氣體供給系統300內的條件相關的訊息至調度模組401。例如，訊息可指示儲槽311、313為滿載或真空狀態。
訊息亦可指示基於儲槽311、313之狀態之儲槽311、313每一者的已決定優先順序。儲槽311、313每一者的優先順序可被調度模組401使用以決定何種製程氣體組成應被傳輸及應傳輸至哪一儲槽311、313。例如，偵測到一特定儲槽311或313內之壓力下降的一監控製程可發送訊息至調度模組401，指示當該特定儲槽311或313的壓力變得接近應被重填的低壓閾值時可增加該特定儲槽311或313的優先順序。相反地，偵測到一特定儲槽311或313內之壓力上升的一監控製程可發送訊息至調度模組401，指示當該特定儲槽311或313的壓力變得接近被視為全滿的滿壓閾值時可減少該特定儲槽311或313的優先順序。當儲槽311、313中之一者如分配/放空儲槽的優先順序超過儲槽311、313中之另一者如進料/填充儲槽的優先順序時，調度模組401可指示氣體供給控制模組400執行一系列的操作，將適當的製程氣體組成傳輸至儲槽311、313中具有最高優先順序的一者。
在某些實施例中，調度模組401亦可接收訊息，此些訊息包含了可啟動來自質量流量控制器315、317之一或多者之特定出口流的傳輸的訊息、可啟動氣體供給系統300之初始化的訊息、及可啟動在特定時間處以特定製程氣體組成預進料/預充填儲槽311、313以使特定製程氣體組成準備好在後續的特定時間處可被傳輸至製程模組325的訊息。在某些實施例中，定義調度模組401具有展望未來的能力俾以操作氣體供給系統300使氣體供給系統300為了接續的製程步驟做準備。調度模組401之展望未來的能力能判斷何種製程氣體組成應在何時被置入哪一儲槽311、313。例如，考慮到需要製程氣體組成 A與B快速交替如ABABABAB的一製程。在此實例中，當自儲槽311傳輸製程氣體組成 A時，調度模組401指示氣體供給控制模組400操作氣體供給系統300以為利用製程氣體組成 B進料儲槽313的接續轉換做準備。接著，在轉換至自儲槽313傳輸製程氣體組成 B時，調度模組401體認到下一製程步驟需要製程氣體組成 A，於是指示氣體供給控制模組400操作氣體供給系統300以利用製程氣體組成 A重填儲槽311，若有必要，則繼續。
如前所述，氣體供給系統300及相關的氣體供給控制模組400與調度模組401提供在不同製程氣體組成之間的快速交替。又，可經由氣體供給系統300所傳輸之不同製程氣體組成的數目是基本上無限的。例如，在傳輸三種製程氣體組成 A、B、C如ABCABC的情況中，, 調度模組401將指示氣體供給控制模組400操作氣體供給系統300自儲槽311傳輸製程氣體組成 A、自儲槽313傳輸製程氣體組成 B並同時排放儲槽311且利用製程氣體組成 C重填儲槽311、接著自儲槽311傳輸製程氣體組成 C並同時排放儲槽313且利用製程氣體組成 A重填儲槽313、接著自儲槽313傳輸製程氣體組成 A並同時排放儲槽311且利用製程氣體組成 B重填儲槽311等。
當存在著複數儲槽時可定義調度模組401使其能展望儘可能多的製程步驟，以針對接續的製程步驟最佳化進料與準備儲槽的時間。應瞭解， 提供上述的調度模組401操作作為實例，但其不代表調度模組401可操作的所有可能方法。應瞭解，可定義調度模組401以根據許多不同的演算法來操作。例如，在某些實施例中，可藉由製程輸入模組403利用期望的製程氣體組成的氣流來程式化調度模組401，且可操作調度模組401以判斷何種製程氣體組成在何時應被傳輸至哪一/哪些儲槽。然後，調度模組401可指示氣體供給控制模組400根據預決定的調度進行操作。
此外，調度模組401可連接至RF電源系統410內的RF控制模組405。配置RF控制模組405使其連接至控制RF 功率產生模組407的控制操作。配置RF功率產生模組407以產生RF訊號形式的RF功率以傳輸至製程模組325。RF功率產生模組407所產生RF訊號係經由匹配模組409傳輸。匹配模組409係用以匹配阻抗俾使RF功率產生模組407所產生的 RF訊號可有效地傳輸至製程模組325內的電漿388負載。一般而言，匹配模組409為電容器與電感的網路，其可被調整以調變RF訊號在傳輸至製程模組325的途中所遇到的阻抗。
在各種實施例中，RF功率產生模組407可包含在一或多個頻率下操作的一或多個RF功率源。可在相同時間下將複數RF頻率供給至相同的製程模組325。在某些實施例中，將RF功率訊號的複數頻率設定在自1 kHz(千赫茲)至100 MHz(兆赫)的範圍。在某些實施例中，將RF功率訊號的複數頻率設定在自400 kHz至60 MHz的範圍內。在某些實施例中，利用約13.56 MHz 的頻率來產生RF功率訊號。在某些實施例中，設定RF功率產生模組407以產生2 MHz、27 MHz、60 MHz頻率的RF訊號。在某些實施例中，設定RF 功率產生模組407以產生頻率自約1 MHz至約60 MHz的複數高頻RF訊號並產生頻率範圍自約100 kHz至約1 MHz的一或多個低頻RF訊號。應瞭解，提供上述RF頻率範圍作為例示。實際上， 可配置RF功率產生模組407以產生具有適當操作製程模組325所需之實質上任何頻率的實質上任何RF訊號。此外，RF電源系統410可包含基於頻率的濾波即高通濾波及/或低通濾波，以確保特定RF訊號的頻率被傳輸至製程模組325。
自RF電源系統410供給RF功率予製程模組325可與特定製程氣體組成供給予製程模組325相互協調。例如，在某些製程操作中，使脈動式的RF功率供給予製程模組325與脈動式的特定製程氣體組成傳輸予製程模組325相互協調。又，在某些製程操作中，可在特定時間處變化傳輸至製程模組325之複數製程氣體組成的類型協同傳輸至製程模組325之RF功率之特性的相關變化。應瞭解，可配置調度模組401以管理氣體供給控制模組400及RF電源系統410的操作，以在傳輸予製程模組325之製程氣體組成(複數製程氣體組成)與RF功率之間達到期望的協調。又，可定義調度模組401以監控氣體供給控制模組400及/或RF控制模組405回報的即時製程條件，然後產生控制氣體供給系統300及/或RF電源系統410內之各種元件用之時序所需的調整，藉此在時間上達到比手動遠遠更快速的氣體供給系統300及RF電源系統410的自動操作。
參考回圖3，以時間分割的方式操作氣體供給系統300以經由共用供給線303將複數製程氣體組成供給至儲槽311與313，俾使當所需的製程氣體組成需要被傳輸至製程模組325時儲槽311、313的至少一者包含足夠的所需製程氣體組成。為了填充儲槽311 與313，自氣體傳輸系統301經由共用供給線303以高流率傳輸複數製程氣體組成，此高流率係高於自儲槽311、313將複數製程氣體組成傳輸予製程模組325的流率。在某些實施例中，以類似圖1之氣體傳輸系統100的方式配置氣體傳輸系統301，但將質量流量控制器109A-109L定義為高流率質量流量控制器。又，在某些實施例中，配置氣體傳輸系統301內的高流率質量流量控制器以使流至共用供給線303之複數製程氣體組成被控制在1000 sccm(標準立方公分)與更高的流率。又，配置氣體傳輸系統301內的質量流量控制器以在高出口壓力條件下操作。
為了填充儲槽311、313的一者，藉著初始化來自氣體傳輸系統301之經過共用供給線303之期望製程氣體組成的氣流以在共用供給線303內建立期望製程氣體組成的氣流，同時藉著開啟排放閥309將共用供給線303的內容物排放至排放模組331俾以在共用供給線303內建立期望製程氣體組成的相對純氣流。接著，關閉排放閥309並開啟欲填充之儲槽311、313用的進料控制閥305、307，使製程氣體組成自共用供給線303流入儲槽311、313中將儲槽311、313填充至期望位準。在某些實施例中，在使期望製程氣體組成流經共用供給線303之前，使吹淨氣體自氣體傳輸系統301經由共用供給線303流至排放模組331以清理共用供給線303。在某些實施例中，可藉由氣體供給控制模組400基於在儲槽311、313內量測到的壓力監控並控制儲槽311、313的填充。目前正被用以供給製程氣體組成予製程模組325的儲槽311、313可受到填充並準備好被用於接下來的製程步驟，故當應切換至接下來的製程步驟時，所需的製程氣體組成可立即自已被填充且已備妥的儲槽311、313傳輸。
在某些實施例中，儲槽311、313的填充係基於針對欲在製程模組325中進行的特定製程操作所建立的調度。又，在某些實施例中，儲槽311、313的填充可基於在儲槽311、313內所量測到的壓力，俾使特定儲槽311、313內的壓力到達一設定點壓力時，氣體傳輸系統301操作依所需填充特定的儲槽311、313。經由操作氣體供給控制模組400監控儲槽313、313內的條件並指示氣體傳輸系統301 與氣體進料模組350依所需操作可有效地自動基於受到監控的條件如儲槽313、313內的壓力依所需操作氣體傳輸系統301以填充儲槽313、313。
只要儲槽311、313內的壓力維持在質量流量控制器正確操作所需的最小壓力之上，質量流量控制器315與317分別自其儲槽311與313傳輸製程氣體組成且在相同的時間處儲槽311、313正在受到填充。又，質量流量控制器315與317每一者係用以在其輸入處壓力變化存在的情況下操作，同時連續地將製程氣體組成的特定穩定流傳輸至製程模組325。又，在某些製程步驟中，複數儲槽311與313及其對應的質量流量控制器315與317可同時使用/操作以將複數製程氣體組成傳輸至製程模組325。
質量流量控制器315與317的位置係足夠接近製程模組325俾使自質量流量控制器315、317傳輸複數製程氣體組成至製程模組325所需的時間是最少的。在某些實施例中，質量流量控制器315與317係相對於製程模組325設置，俾使自質量流量控制器315、317傳輸製程氣體組成至製程模組325所需的時間少於1秒。在某些實施例中，質量流量控制器315與317係相對於製程模組325設置，俾使自質量流量控制器315、317傳輸製程氣體組成至製程模組325所需的時間少於0.5秒。在某些實施例中，質量流量控制器315與317和製程模組325之間的距離係少於2英尺。在某些實施例中，製程模組325和質量流量控制器315與317之每一出口之間的連通距離係實質上相等。在某些實施例中，可定義質量流量控制器315與317的操作調度如開啟時間、開啟期間、關閉時間等以解決製程模組325和質量流量控制器315與317之每一輸出之連通距離之間的差異。
質量流量控制器315與317係基於特定製程氣體或氣體混合物的組成而受到校正。質量流量控制器315與317所進行的流率量測對於其校正所基於的特定製程氣體組成而言之精準的。然而，對於不同於其校正所基於之特定製程氣體組成的製程氣體組成而言，質量流量控制器315與317所提供的流率量測及對應的流率控制將會超出校正範圍且不精準。因此，由於氣體供給系統300係藉由質量流量控制器315與317來傳輸實質上任何組成之製程氣體/氣體混合物至製程模組325，為了自質量流量控制器315與317傳輸正確流率的製程氣體組成至製程模組325，必須要決定適當的校正調整因子並將其應用至質量流量控制器315與317所回報的流率。文中揭露對於經由共用供給線303所傳輸之每一製程氣體組成所用之質量流量控制器315與317的原位校正方法。
在某些實施例中，共用供給線303上的質量流量計302係用以決定校正調整因子，此校正調整因子可被應用至質量流量控制器315與317針對經由共用供給線303傳輸至儲槽311、313最終經過質量流量控制器315、317的每一不同的製程氣體組成。質量流量控制器315、317可包含和質量流量計302相同的流率量測技術。然而，質量流量控制器315、317將包含流動控制閥及不存在於質量流量計302內的額外控制電路。當質量流量計302及質量流量控制器315、317係來自於相同家族即相同製造商與相同的流率技術(基於熱、基於壓力等)，則質量流量計302針對特定製程氣體組成所決定的校正調整因子將可被相等地應用至質量流量控制器315、317針對特定的製程氣體組成。基於此考量，應刻意將共用供給線303上的質量流量計302選自和質量流量控制器315、317相同的家族，使得校正調整因子可針對質量流量計302及流經共用供給線303的每一不同類型的製程氣體組成所決定，因此校正調整因子可被用於校正調整質量流量控制器315與317。
當自氣體傳輸系統301將特定的製程氣體組成供給至共用供給線303時，氣體傳輸系統301內的流動控制器可用以獲得流至共用供給線303中之製程氣體組成流率的實際量測。更具體而言，例如參考圖1之氣體傳輸系統100，正在操作以將氣體傳輸至共用歧管113最終傳輸至共用供給線303(在圖3之氣體供給系統300中)的每一質量流量控制器109A-109L將會受到校正以提供其正在傳輸之特定氣體組成之流率的精準量測值。因此，藉著加總在特定時間處氣體傳輸系統301內主動傳輸氣體至共用供給線303之質量流量控制器109A-109L所回報的複數流率，可決定在該特定時間處流經共用供給線303之特定製程氣體組成之流率(Q1)的精準量測值。又，在該特定時間處流經共用供給線303之特定製程氣體組成之流率(Q1)的此精準量測值可用以決定針對該特定製程氣體組成對於質量流量計302的校正調整因子(k)。
例如，可比較共用供給線303內質量流量計302針對該特定製程氣體組成所回報的流率(Q2)與基於氣體傳輸系統301內之質量流量控制器109A-109L之流至共用供給線303中之該特定製程氣體組成之流率(Q1)的實際量測值，以決定該特定製程氣體組成用的校正調整因子(k)例如乘法常數校正調整因子(1/k，其中k=Q2/Q1)，當乘法常數校正調整因子乘以質量流量計302所回報的流率(Q2)時會得到共用供給線303內該特定製程氣體組成的正確流率(Q1)。
接著，由於質量流量控制器315、317使用和質量流量計302相同的流率量測技術，當該特定製程氣體組成正流經質量流量控制器315、317時，針對質量流量計302及針對該特定製程氣體組成所決定的校正調整因子(1/k)可被應用至質量流量控制器315、317。以此方式，藉著使在該特定時間處質量流量控制器315、317所量測到/回報的流率乘以針對質量流量計302及針對該特定製程氣體組成所決定的校正調整因子(1/k)，可決定在特定時間處流經質量流量控制器315、317之該特定製程氣體組成的實際流率。因此，即便質量流量控制器315、317並非直接針對該特定製程氣體組成受到校正，仍可操作質量流量控制器315、317以精準地控制該特定製程氣體組成的氣流。應瞭解，針對該特定製程氣體組成的校正調整因子(1/k)可在質量流量控制器315、317操作傳輸該特定製程氣體組成之前決定，俾以立即自質量流量控制器315、317獲得該特定製程氣體組成的精準氣流。
除了(或或者)使用質量流量計302決定質量流量控制器315、317用之校正調整因子外，當儲槽311、313的輸入是隔絕/封閉時，於特定製程氣體/氣體混合物係自儲槽311、313傳輸的情況下可基於對儲槽311、313內之壓降率的分析來決定該特定製程氣體組成的流率。用以決定來自儲槽311、313之製程氣體組成之流率的此壓降率技術需要對儲槽311、313之內部體積及儲槽311、313之溫度精準量測。儲槽311、313之質量流量控制器315、317被設定為一標稱值，使用壓力計來決定儲槽311、313中的壓降率。假設來自儲槽311、313之出口流率為Q(大氣壓-升)/秒，則壓降率等於Q/V(大氣壓/秒)，其中V為儲槽311、313的體積(單位為升)。流出儲槽311、313的流率量測值Q可用以推導對應質量流量控制器315、317用的校正因子，俾以程式化期望的流率。
又，此壓降率技術是回溯的：自儲槽311、313流至製程模組325之製程氣體組成的流率必須要已經在進行以獲得儲槽311、313內的壓降數據進而獲得來自儲槽311、313的流率。然而，在某些實施例中，可針對各種製程氣體組成及條件如溫度進行學習程序，以在製程氣體組成自儲槽311、313流至製程模組325的初始傳輸時得到可接受的流率量測。換言之，基於壓降率所得到的校正因子可藉著進行實際製程之前的學習程序所決定。或者，可使用閉迴路演算法基於對應儲槽311、313中的壓降率來控制流經質量流量控制器315、317的輸出氣流。
圖5顯示根據本發明之某些實施例的一時序圖，其例示氣體供給系統300可如何操作以將來自共用供給線303的兩不同製程氣體組成的控制流提供予製程模組325。應瞭解，圖5所示之例示性時序只是簡化的實例，其並非限制性的實例，在實際的製程應用中氣體供給系統300的操作可進行遠遠更複雜的時序。在時間t0處，共用供給線303內無任何製程氣流，進料控制閥305與307為關閉狀且排放控制閥309亦為關閉狀態。又，在時間t0處，氣體供給控制模組400指示兩質量流量控制器315與317操作以使複數製程氣體組成分別自儲槽311與313傳輸至製程模組325。因此，時間自時間t0繼續行進，儲槽313與313每一者隨著製程氣體組成 A與B經由質量流量控制器315與317汲取而經歷壓力減少。
在時間t1處，氣體供給控制模組400判斷儲槽311需要重填並指示氣體傳輸系統301開始使製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。對於自時間t1至時間t2的時間期間而言，由於氣體傳輸系統301傳輸製程氣體組成 A之操作的可能延遲以及與沿著共用供給線303建立製程氣體組成 A之均勻流動相關的其他延遲，共用供給線303中的製程氣體組成並非確定的。然而，由於在某些實施例中自氣體傳輸系統301下流共用供給線303的流率是大的如1000 sccm或更大，因此自時間t1至時間t2的時間期間是短的。共用供給線303係受到配置以具有高傳導以容納來自氣體傳輸系統301的高流率。自時間t1至時間t2的時間期間內，藉著開啟排放控制閥309並使進料控制閥305與307維持關閉，氣體供給控制模組400控制製程氣體流經共用供給線303而被改道至排放模組331。
在時間t2處，以製程氣體組成 A填充共用供給線303且氣體供給控制模組400指示排放控制閥309關閉並指示進料控制閥305開啟，以使製程氣體組成 A自共用供給線303傳輸至儲槽311。因此，在時間t2處開始，由於藉由質量流量控制器315使製程氣體組成 A進入儲槽311中的流率大於製程氣體組成 A自儲槽311傳輸至製程模組325的流率，因此儲槽311中的壓力開始增加。
在時間t3處，儲槽311已被填充至一可接受的壓力位準且氣體供給控制模組400操作以關閉進料控制閥305俾使製程氣體組成 A不再自共用供給線303傳輸至儲槽311。接著氣體供給控制模組400操作以指示氣體傳輸系統301停止將製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303並操作以開啟排放控制閥309及排放共用供給線303。又，選擇性地，在某些實施例中，氣體供給控制模組400可指示氣體傳輸系統301開始將吹淨氣體傳輸至共用供給線303以自共用供給線303沖洗製程氣體組成A。在某些實施例中，吹淨氣體所具有之組成在以小濃度存在時不會不利地影響製程模組325內的製程。
在時間t4處，氣體供給控制模組400判斷儲槽313需要重填。因此，在時間t4處，氣體供給控制模組400指示氣體傳輸系統301開始將製程氣體組成 B傳輸至共用供給線303。對於自時間t4至時間t5的時間期間而言，共用供給線303中的製程氣體組成並非確定的。因此，自時間t4至時間t5，氣體供給控制模組400指示排放控制閥309開啟並使進料控制閥305與307兩者關閉，以使共用供給線303內的氣流改道至排放模組331，沿著共用供給線303建立製程氣體組成B之均勻流動。
在時間t5處，以製程氣體組成 B填充共用供給線303且氣體供給控制模組400指示排放控制閥309關閉並指示進料控制閥307開啟，以使製程氣體組成 B自共用供給線303傳輸至儲槽313。因此，在時間t5處開始，由於藉由質量流量控制器317使製程氣體組成B進入儲槽313中的流率大於製程氣體組成 B自儲槽313傳輸至製程模組325的流率，因此儲槽313中的壓力開始增加。
在時間t6處，儲槽313已被填充至一可接受的壓力位準且氣體供給控制模組400操作以關閉進料控制閥307俾使製程氣體組成 B不再自共用供給線303傳輸至儲槽313。接著氣體供給控制模組400操作以指示氣體傳輸系統301停止將製程氣體組成B傳輸至共用供給線303並操作以開啟排放控制閥309及排放共用供給線303。又，選擇性地，在某些實施例中，氣體供給控制模組400可指示氣體傳輸系統301開始將吹淨氣體傳輸至共用供給線303以自共用供給線303沖洗製程氣體組成B。
在時間t7處，氣體供給控制模組400判斷儲槽311需要重填。因此在時間t7處，氣體供給控制模組400開始進行前述與時間t1相同的操作。又，自時間t7至時間t8，氣體供給控制模組400進行前述與時間期間自時間t2至時間t3相同的操作。又，在時間 t9處，氣體供給控制模組400進行前述在時間t3處所進行的相同操作。
應瞭解，在圖5之實例所示的程序期間，分別來自質量流量控制器315與317經傳輸控制閥319與321流至製程模組325之製程氣體組成 A與B的流動不會受到中斷或改變。因此，圖5的程序展示了氣體供給系統300自相同氣體傳輸系統301將不同製程氣體組成傳輸至相同製程模組325的能力。又，利用快速作用的傳輸控制閥319與321，氣體供給系統300可以控制在0.1秒數量級或較佳地介於製程氣體組成轉換之間的時間將交替的製程氣體組成提供至製程模組325。又，可操作排放控制閥337與343，以藉著改道製程模組325現行不需要的氣流，分別經由質量流量控制器315與317維持不同製程氣體組成的流動，藉此更進一步地最小化供給不同製程氣體組成予製程模組325之間的轉換時間。又，可以遠遠較慢的時間等級重填儲槽311與313，此時間等級係與在共用供給線303內建立及穩定來自之氣體傳輸系統301之製程氣體的時間相匹配。
可配置氣體供給控制模組400以執行調度演算法(可由調度模組401提供)以判斷在特定時間處什麼製程氣體組成應被傳輸至共用供給線303俾以維持來自儲槽311、313的輸出流。又，在某些實施例中，可定義調度演算法以最佳化氣體供給系統300的操作，在其他最佳化考量點中尤其例如藉著最小化儲槽311與313內的壓力擾動及/或最小化被改道至排放模組331的製程氣體組成的量，以達到改善氣體供給系統300的操作、延長其壽命、及降低其整體成本。
圖6顯示根據本發明之某些實施例的另一時序圖，其例示氣體供給系統300可如何操作以將來自共用供給線303的兩不同製程氣體組成的控制流提供予製程模組325。在時間t0處，傳輸控制閥319為開啟狀態且質量流量控制器315操作以使製程氣體組成 A自儲槽311傳輸至製程模組325。又，在時間t0處，傳輸控制閥321為關閉狀態俾使製程氣體組成 B不會自儲槽313傳輸至製程模組325。又，在時間t0處，進料控制閥305與307為關閉狀態。
自時間t1至時間t2，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以在共用供給線303內建立製程氣體組成 A的氣流。在時間t2’處(等於時間t2時或緊接著時間 t2後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥305利用來自共用供給線303的製程氣體組成 A填充儲槽311。自時間t2’至時間t3，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A填充儲槽311而上升。在時間t3處，關閉進料控制閥305。接著，在時間t3’處(等於時間t3時或緊接著時間 t3後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。在時間 t3後，藉著質量流量控制器315與傳輸控制閥319，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A持續地自儲槽311被傳輸至製程模組325而下降。
自時間t4至時間t5，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成 A的氣流。在時間t5’處(等於時間t5時或緊接著時間 t5後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥305利用來自共用供給線303的製程氣體組成 A填充儲槽311。自時間t5’至時間t6，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A填充儲槽311而上升。在時間t6處，關閉進料控制閥305。接著，在時間t6’處(等於時間t6時或緊接著時間 t6後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。在時間t6後，藉著質量流量控制器315與傳輸控制閥319，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A持續地自儲槽311被傳輸至製程模組325而下降。
自時間t7至時間t8，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成 A的氣流。在時間t8’處(等於時間t8時或緊接著時間 t8後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥305利用來自共用供給線303的製程氣體組成 A填充儲槽311。自時間t8’至時間t9，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A填充儲槽311而上升。在時間t9處，關閉進料控制閥305。接著，在時間t9’處(等於時間t9時或緊接著時間 t9後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。在時間 t9後，藉著質量流量控制器315與傳輸控制閥319，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A持續地自儲槽311被傳輸至製程模組325而下降。
自時間t10至時間t11，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成 A的氣流。在時間t11’處(等於時間t11時或緊接著時間 t11後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥305利用來自共用供給線303的製程氣體組成 A填充儲槽311。自時間t11’至時間t12，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A填充儲槽311而上升。在時間t12處，關閉進料控制閥305。接著，在時間t12’處(等於時間t12時或緊接著時間 t12後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。在時間 t12後，藉著質量流量控制器315與傳輸控制閥319，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A持續地自儲槽311被傳輸至製程模組325而下降。
自時間t13至時間t14，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成 A的氣流。在時間t14’處(等於時間t14時或緊接著時間 t14後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥305利用來自共用供給線303的製程氣體組成 A填充儲槽311。自時間t14’至時間t15，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A填充儲槽311而上升。在時間t15處，關閉進料控制閥305。接著，在時間t15’處(等於時間t15時或緊接著時間 t15後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。在時間 t15後，藉著質量流量控制器315與傳輸控制閥319，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A持續地自儲槽311被傳輸至製程模組325而下降。
在時間t16處，操作氣體供給系統300以準備將儲槽313用於接續的製程步驟。具體而言，在時間t16處，開啟排放控制閥339以將儲槽313的內容物排空至排放模組331。自時間t17至時間t18，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以在共用供給線303內建立製程氣體組成B的氣流。自時間t16，儲槽313內的壓力隨著儲槽313被排空以準備供使用而下降。在時間t18’處(等於時間t18時或緊接著時間 t18後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥307利用來自共用供給線303的製程氣體組成 B填充儲槽313。自時間t18’至時間t19，儲槽313內的壓力隨著製程氣體組成 B填充儲槽313而上升。在時間t19處，關閉進料控制閥307。接著，在時間t19’處(等於時間t19時或緊接著時間 t19後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 B傳輸至共用供給線303。在時間 t19後，儲槽313內的壓力隨著儲槽313處於能用以將製程氣體組成 B傳輸至製程模組325的待用模式而持穩。
自時間t20至時間t21，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成 A的氣流。在時間t21’處(等於時間t21時或緊接著時間 t21後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥305利用來自共用供給線303的製程氣體組成 A填充儲槽311。自時間t21’至時間t22，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A填充儲槽311而上升。在時間t22處，關閉進料控制閥305。接著，在時間t22’處(等於時間t22時或緊接著時間 t22後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。在時間 t22後，藉著質量流量控制器315與傳輸控制閥319，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A持續地自儲槽311被傳輸至製程模組325而下降。
應瞭解， 自時間t0至時間t23，即便在儲槽311的複數充填週期期間及儲槽313的準備期間，製程氣體組成 A係以穩定的流率及不中斷的方式自儲槽311經由質量流量控制器315與傳輸控制閥319而傳輸至製程模組325。接著，在時間t23處，關閉傳輸控制閥319並開啟傳輸控制閥321以造成自傳輸製程氣體組成 A予製程模組325至傳輸製程氣體組成 B予製程模組325的步驟改變。在某些實施例中，製程氣體組成的此步驟改變可以不滿一秒、以0.5秒或0.1秒或甚至更少的數量級加以完成。自時間t23，藉著質量流量控制器317與傳輸控制閥321，儲槽313內的壓力隨著製程氣體組成B自儲槽313被傳輸至製程模組325而下降。又，自時間t23，儲槽311中的壓力隨著無製程氣體自儲槽311傳輸而持穩。
在某些實施例中，在時間t23之前，可開啟排放控制閥343並操作質量流量控制器317以在自儲槽313經由質量流量控制器317延伸至傳輸控制閥321之連接線內建立製程氣體組成 B的均勻穩定流。又，在此些實施例中，在時間t23處或剛好在時間t23之前，可關閉排放控制閥343。以此方式，當傳輸控制閥321在時間t23處開啟時可儘快地自傳輸控制閥321傳輸製程氣體組成 B的均勻穩定流。
自時間t24至時間t25，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成B的氣流。在時間t25’處(等於時間t25時或緊接著時間 t25後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥307利用來自共用供給線303的製程氣體組成 B填充儲槽313。自時間t25’至時間t26，儲槽313內的壓力隨著製程氣體組成 B填充儲槽313而上升。在時間t26處，關閉進料控制閥307。接著，在時間t26’處(等於時間t22時或緊接著時間 t22後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 B傳輸至共用供給線303。在時間 t26後，藉著質量流量控制器317與傳輸控制閥321，儲槽313內的壓力隨著製程氣體組成B持續地自儲槽313被傳輸至製程模組325而下降。應瞭解， 自時間t23，即便在儲槽313的重填期間，製程氣體組成 B係以穩定的流率及不中斷的方式自儲槽313經由質量流量控制器317與傳輸控制閥321而傳輸至製程模組325。
如圖6中所示，當製程氣體組成 A的脈動被提供予儲槽311時儲槽311正同時用以將製程氣體組成 A的氣流傳輸至製程模組325。又，當儲槽311未受到填充時以製程氣體組成 B 填充儲槽313，俾使共用供給線303為兩儲槽311與313所共用。當製程氣體組成 B 的期望流率低時，自傳輸製程氣體組成 A 予製程模組325至傳輸製程氣體組成 B 予製程模組325的快速步驟變化轉換是極有利的。不若傳統的氣體供給系統，使用已預先填充之儲槽311、313的氣體供給系統300能在不產生不利共流效應的情況下進行自傳輸製程氣體組成 A 予製程模組325至傳輸製程氣體組成 B 予製程模組325的快速步驟變化轉換。又，應注意，進行填充儲槽313、313的流率可遠高於自儲槽313、313傳輸至製程模組325的流率。
圖7顯示根據本發明之某些實施例之一時序圖，其例示可如何操作氣體供給系統300以自共用供給線提供三種不同製程氣體組成之受控制流予製程模組325。圖7之實例顯示如何通過複數製程步驟操作氣體供給系統300，圖7亦顯示儲槽313、313內的壓力如何根據不同製程氣體組成之氣流出入儲槽313、313而變化。
在時間t0處，傳輸控制閥319為開啟狀態且質量流量控制器315操作以使製程氣體組成 A自儲槽311傳輸至製程模組325。又，在時間t0處，傳輸控制閥321為開啟狀態且質量流量控制器317操作以使製程氣體組成 B自儲槽313傳輸至製程模組325。又，在時間t0處，進料控制閥305與307為關閉狀態。因此，在時間t0處，氣體供給系統300開啟傳輸分別來自儲槽311與313的兩製程氣體組成 A與B。又，在時間t0處，如儲槽311中之壓力的減少率高於儲槽313中之壓力的減少率所示，來自儲槽311之製程氣體組成 A的流率係高於來自儲槽313之製程氣體組成 B的流率。
自時間t1至時間t2，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以在共用供給線303內建立製程氣體組成 A的氣流。在時間t2’處(等於時間t2時或緊接著時間 t2後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥305利用來自共用供給線303的製程氣體組成 A填充儲槽311。自時間t2’至時間t3，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A填充儲槽311而上升。在時間t3處，關閉進料控制閥305。接著，在時間t3’處(等於時間t3時或緊接著時間 t3後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。在時間 t3後，藉著質量流量控制器315與傳輸控制閥319，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A持續地自儲槽311被傳輸至製程模組325而下降。
自時間t4至時間t5，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成 A的氣流。在時間t5’處(等於時間t5時或緊接著時間 t5後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥305利用來自共用供給線303的製程氣體組成 A填充儲槽311。自時間t5’至時間t6，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A填充儲槽311而上升。在時間t6處，關閉進料控制閥305。接著，在時間t6’(等於時間t6時或緊接著時間 t6後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。在時間 t6後，藉著質量流量控制器315與傳輸控制閥319，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A持續地自儲槽311被傳輸至製程模組325而下降。
自時間t0至時間t7，隨著製程氣體組成 B自儲槽313藉著質量流量控制器317與傳輸控制閥321以穩定流率與不中斷方式傳輸至製程模組325，儲槽313內的壓力下降。自時間t0至時間t7，儲槽311被重填兩次。 又，自時間t0至時間t7，儲槽313未被重填。接著，在時間t7處，關閉傳輸控制閥321，俾以立即停止製程氣體組成 B傳輸至製程模組325。在某些實施例中，傳輸製程氣體組成可以不滿一秒、以0.5秒或0.1秒或甚至更少的數量級加以停止。在時間 t7後，氣體供給控制模組400體認到接續的製程步驟需要使用儲槽313傳輸製程氣體組成 C。因此，在時間t7’處，操作氣體供給系統300以準備將儲槽313用於接續的製程步驟。具體而言，在時間t7’處，開啟排放控制閥339以將儲槽313的內容物排空至排放模組331。自時間t7’，儲槽313內的壓力隨著儲槽313被排空以準備供使用而下降。經過t7與t7’，製程氣體組成 A自儲槽311藉由質量流量控制器315與傳輸控制閥319以穩定流率及不中斷的方式持續地被傳輸至製程模組325，儲槽311內的壓力持續下降。
自時間t8至時間t9，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成 A的氣流。在時間t9’處(等於時間t9時或緊接著時間 t9後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥305利用來自共用供給線303的製程氣體組成 A填充儲槽311。自時間t9’至時間t10，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A填充儲槽311而上升。在時間t10處，關閉進料控制閥305。接著，在時間t10’處(等於時間t10時或緊接著時間 t10後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。在時間 t10後，藉著質量流量控制器315與傳輸控制閥319，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A持續地自儲槽311被傳輸至製程模組325而下降。
自時間t11至時間t12，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以在共用供給線303內建立製程氣體組成 C的氣流。在時間t12’處(等於時間t12時或緊接著時間 t12後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥307利用來自共用供給線303的製程氣體組成 C填充儲槽313。自時間t12’至時間t13，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 C填充儲槽313而上升。在時間t13處，關閉進料控制閥307。 接著，在時間t13’處(等於時間t13時或緊接著時間 t13後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成C傳輸至共用供給線303以允許共用供給線303被用來以製程氣體組成 A填充儲槽311。在時間 t13後，儲槽313內的壓力隨著儲槽313處於能用以將製程氣體組成 C傳輸至製程模組325的待用模式而持穩。在某些實施例中，可定義一設定點壓力以啟動儲槽311的重填，藉此讓氣體供給控制模組400能體認到儲槽311內已到達設定點壓力並停止目前對儲槽313的填充而能夠立即依所需填充儲槽311作為回應。
自時間t14至時間t15，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成 A的氣流。在時間t15’處(等於時間t15時或緊接著時間 t15後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥305利用來自共用供給線303的製程氣體組成 A填充儲槽311。自時間t15’至時間t16，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A填充儲槽311而上升。在時間t16處，關閉進料控制閥305。接著，在時間t16’處(等於時間t16時或緊接著時間 t16後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。在時間 t16後，藉著質量流量控制器315與傳輸控制閥319，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A持續地自儲槽311被傳輸至製程模組325而下降。
在完成儲槽311的整個填充週期後，在時間t16處，共用供給線303可再次用以利用製程氣體組成 C填充儲槽313。因此，自時間t17至時間t18，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成C的氣流。在時間t18’處(等於時間t18時或緊接著時間 t18後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥307利用來自共用供給線303的製程氣體組成C填充儲槽313。自時間t18’至時間t19，儲槽313內的壓力隨著製程氣體組成C填充儲槽313而上升。在時間t19處，關閉進料控制閥307。接著，在時間t19’ 處(等於時間t19時或緊接著時間 t19後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成C傳輸至共用供給線303。在時間 t19後，儲槽313內的壓力隨著儲槽311處於能立即被用以傳輸製程氣體組成C至製程模組325的待用模式而維持穩定。
自時間t20至時間t21，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成 A的氣流。在時間t21’處(等於時間t21時或緊接著時間 t21後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥305利用來自共用供給線303的製程氣體組成 A填充儲槽311。自時間t21’至時間t22，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A填充儲槽311而上升。在時間t22處，關閉進料控制閥305。接著，在時間t22’(等於時間t22時或緊接著時間 t22後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。
應瞭解， 自時間t0至時間t22，即便在儲槽311的複數充填週期期間及儲槽313的準備與填充期間，製程氣體組成 A係以穩定的流率及不中斷的方式自儲槽311經由質量流量控制器315與傳輸控制閥319而傳輸至製程模組325。接著，在時間t22處，關閉傳輸控制閥319並開啟傳輸控制閥321以造成自傳輸製程氣體組成 A予製程模組325至傳輸製程氣體組成 C予製程模組325的步驟改變。在某些實施例中，製程氣體組成的此步驟改變可以不滿一秒、以0.5秒或0.1秒或甚至更少的數量級加以完成。自時間t22，藉著質量流量控制器317與傳輸控制閥321，儲槽313內的壓力隨著製程氣體組成C自儲槽313被傳輸至製程模組325而下降。在時間t22處，氣體供給控制模組400體認到接下來的製程步驟將使用製程氣體組成 A。因此，在時間t22處，氣體供給控制模組400操作藉著將儲槽311中的壓力維持穩定以維持儲槽311內的製程氣體組成 A。
在某些實施例中，在時間t22之前，可開啟排放控制閥343並操作質量流量控制器317以在自儲槽313經由質量流量控制器317延伸至傳輸控制閥321的連接線內建立製程氣體組成 C的均勻穩定流。又，在此些實施例中，在時間t22處或剛好在時間t22之前，可關閉排放控制閥343。以此方式，當傳輸控制閥321在時間t22處開啟時可儘快地自傳輸控制閥321傳輸製程氣體組成C的均勻穩定流。
自時間t23至時間t24，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成C的氣流。在時間t24’處(等於時間t24時或緊接著時間 t24後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥307利用來自共用供給線303的製程氣體組成C填充儲槽313。自時間t24’至時間t25，儲槽313內的壓力隨著製程氣體組成C填充儲槽313而上升。在時間t25處，關閉進料控制閥307。接著，在時間t25’處(等於時間t25時或緊接著時間 t25後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成C傳輸至共用供給線303。在時間 t25後，藉著質量流量控制器317與傳輸控制閥321，儲槽313內的壓力隨著製程氣體組成C持續地自儲槽313被傳輸至製程模組325而下降。
在時間t26處，關閉傳輸控制閥321並開啟傳輸控制閥319以造成自傳輸製程氣體組成 C予製程模組325至傳輸製程氣體組成A予製程模組325的步驟改變。在某些實施例中，製程氣體組成的此步驟改變可以不滿一秒、以0.5秒或0.1秒或甚至更少的數量級加以完成。自時間t26，藉著質量流量控制器315與傳輸控制閥319，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成A自儲槽311被傳輸至製程模組325而下降。又，自時間t26，儲槽313中的壓力隨著無製程氣體自儲槽313傳輸而持穩。應瞭解， 自時間t22至時間t26，即便在儲槽313的重填週期期間，製程氣體組成 C係以穩定的流率及不中斷的方式自儲槽313經由質量流量控制器317與傳輸控制閥321而傳輸至製程模組325。
在某些實施例中，在時間t26之前，可開啟排放控制閥337並操作質量流量控制器315以在自儲槽313經由質量流量控制器315延伸至傳輸控制閥319之連接線內建立製程氣體組成A的均勻穩定流。又，在此些實施例中，在時間t26處或剛好在時間t26之前，可關閉排放控制閥337。以此方式，當傳輸控制閥321在時間t26處開啟時可儘快地自傳輸控制閥319傳輸製程氣體組成A的均勻穩定流。
自時間t27至時間t28，操作氣體傳輸系統301(可能以及排放控制閥309)以再次在共用供給線303內建立製程氣體組成 A的氣流。在時間t28’處(等於時間t28時或緊接著時間 t28後)，若排放控制閥309為開啟狀態則關閉之，然後開啟進料控制閥305利用來自共用供給線303的製程氣體組成 A填充儲槽311。自時間t28’至時間t29，儲槽311內的壓力隨著製程氣體組成 A填充儲槽311而上升。在時間t29處，關閉進料控制閥305。接著，在時間t29’處(等於時間t29時或緊接著時間 t29後)，停止將來自氣體傳輸系統301的製程氣體組成 A傳輸至共用供給線303。
應瞭解，圖3中所揭露的氣體供給系統300僅提供一實例。在其他實施例中，可延伸氣體供給系統300以包含比三個更多的儲槽且每一儲槽具有其自己的進料控制閥(如305、307)、質量流量控制器(如315、317)、傳輸控制閥(如319、321)、及排放控制閥(如333、337、339、343)。例如，若延伸氣體供給系統300以包含三個儲槽，則經延伸的氣體供給系統能在毋需不排放儲槽以接收不同製程氣體組成之饋入的情況下在傳輸至製程模組325之三種不同製程氣體組成之間快速交替，這可以改善經延伸之氣體供給系統的操作的調度排程。又，如前所討論的，除了在傳輸至製程模組325之相同傳輸接口/區域的不同製程氣體組成之間切換之外，尚可使用氣體供給系統300以將不同製程氣體組成傳輸至製程模組325的複數傳輸接口/區域。
此外，應瞭解，可修改氣體供給系統300及氣體供給控制模組400 與調度模組401與製程輸入模組403以將液體傳輸至製程模組325。例如，操作氣體供給系統300以處理液體的方法可能類似於文中所揭露之操作氣體供給系統300以處理氣體的方法，但並非改變固定體積儲槽內的壓力而是可使用處於實質上固定壓力的儲槽。以此方式，可使用類似於氣體傳輸系統300的液體傳輸系統將製程液體傳輸至製程模組325。
圖8A顯示根據本發明之某些實施例之利用氣體供給系統300將複數製程氣體組成供給至製程模組之方法的流程圖。該方法包含操作801，傳輸第一製程氣體組成予共用供給線(303)。在某些實施例中，第一製程氣體組成係以約1000 sccm或更高的流率傳輸至共用供給線(303)。該方法亦包含操作803，將第一儲槽(311)連接至共用供給線(303)俾使第一製程氣體組成自共用供給線(303)流至第一儲槽(311)中。該方法亦包含操作805，使第一製程氣體組成自第一儲槽(311)經由第一質量流量控制器(315)而傳輸至製程模組(325)。該方法亦包含操作807，使第一儲槽(311)與共用供給線(303)隔絕同時持續使第一製程氣體組成自第一儲槽(311)經由第一質量流量控制器(315)傳輸至製程模組(325)。該方法亦包含操作809，傳輸第二製程氣體組成予共用供給線(303)同時持續使第一製程氣體組成自第一儲槽(311)經由第一質量流量控制器(315)傳輸至製程模組(325)。在某些實施例中，第二製程氣體組成係以約1000 sccm或更高的流率傳輸至共用供給線(303)。該方法亦包含操作811，將第二儲槽(313)連接至共用供給線(303)俾使第二製程氣體組成自共用供給線(303)流至第二儲槽(313)中同時持續使第一製程氣體組成自第一儲槽(311)經由第一質量流量控制器(315)傳輸至製程模組(325)。
該方法亦包含操作813，停止第一製程氣體組成自第一儲槽(311)經由第一質量流量控制器(315)傳輸至製程模組(325)。該方法亦包含操作815，使第二製程氣體組成自第二儲槽(313)經由第二質量流量控制器(317)傳輸至製程模組(325)。在某些實施例中，操作813中停止第一製程氣體組成自第一儲槽(311)經由第一質量流量控制器(315)傳輸至製程模組(325)與操作815中使第二製程氣體組成自第二儲槽(313)經由第二質量流量控制器(317)傳輸至製程模組(325)係於實質上相同的時間處進行。在某些實施例中，該方法可包含下列操作來取代操作813：使第一製程氣體組成自第一儲槽(311)經由第一質量流量控制器(315)傳輸至製程模組(325)同時亦使第二製程氣體組成自第二儲槽(313)經由第二質量流量控制器(317)傳輸至製程模組(325)。
在某些實施例中，該方法亦可包含校正流經第一質量流量控制器(315)之第一製程氣體組成之氣流的操作。例如，該方法可包含判斷第一製程氣體組成流至共用供給線(303)中之實際總流率的操作。該方法亦可包含利用質量流量計(302)量測共用供給線(303)內之第一製程氣體組成之總流率的操作，質量流量計(302)配置具有和存在於第一與第二質量流量控制器(315與317)每一者中之質量流量量測技術相同的質量流量量測技術。又，應瞭解，質量流量計(302)及第一質量流量控制器(315)皆未針對第一製程氣體組成之流率的精準量測受到校正。該方法亦可包含藉著比較共用供給線(303)內之第一製程氣體組成的總流率與流入共用供給線(303)中之第一製程氣體組成的實際總流率，而決定針對質量流量計(302)並針對第一製程氣體組成用之校正調整因子的操作。又，該方法可包含下列操作：將針對質量流量計(302)並針對第一製程氣體組成所決定的校正調整因子應用至第一質量流量控制器(315)所量測到之第一製程氣體組成之流率，以獲得流經第一質量流量控制器(315)之第一製程氣體組成之流率的精準量測值並能使用第一質量流量控制器(315)精準地控制流至製程模組(325)之第一製程氣體組成的流率。
在某些實施例中，該方法亦可包含校正流經第二質量流量控制器(317)之第二製程氣體組成之氣流的操作。例如，該方法可包含判斷流至共用供給線(303)中之第二製程氣體組成之實際總流率的操作。該方法亦可包含利用質量流量計(302)量測共用供給線(303)內之第二製程氣體組成之總流率的操作，質量流量計(302)配置具有和存在於第一與第二質量流量控制器(315與317)每一者中之質量流量量測技術相同的質量流量量測技術。應瞭解，質量流量計(302)及第二質量流量控制器(317)皆未針對第二製程氣體組成之流率的精準量測受到校正。該方法亦可包含藉著比較共用供給線(303)內之第二製程氣體組成的總流率與流入共用供給線(303)中之第二製程氣體組成的實際總流率，而決定針對質量流量計(302)並針對第二製程氣體組成用之校正調整因子的操作。該方法亦可包含下列操作：將針對質量流量計(302)並針對第二製程氣體組成所決定的校正調整因子應用至第二質量流量控制器(315)所量測到之第二製程氣體組成之流率，以獲得流經第二質量流量控制器(317)之第二製程氣體組成之流率的精準量測值並能使用第二質量流量控制器(317)精準地控制流至製程模組(325)之第二製程氣體組成的流率。
圖8B顯示根據本發明之某些實施例之圖8A 之方法的接續流程圖。該方法包含操作817，排放第一儲槽(311)。該方法亦包含操作819，使第二儲槽(313)與共用供給線(303)隔絕同時持續使第二製程氣體組成自第二儲槽(313)經由第二質量流量控制器(317)傳輸至製程模組(325)。該方法亦包含操作821，傳輸第三製程氣體組成予共用供給線(303)。在某些實施例中，第三製程氣體組成係以約1000 sccm或更高的流率傳輸至共用供給線(303)。該方法亦包含操作823，將第一儲槽(311)連接至共用供給線(303)俾使第三製程氣體組成自共用供給線(303)流至第一儲槽(311)中。該方法亦包含操作825，停止第二製程氣體組成自第二儲槽(313)經由第二質量流量控制器(317)傳輸至製程模組(325)。該方法亦包含操作827，使第三製程氣體組成自第一儲槽(311)經由第一質量流量控制器(315)傳輸至製程模組(325)。在某些實施例中，操作825中停止第二製程氣體組成自第二儲槽(313)經由第二質量流量控制器(317)傳輸至製程模組(325)與操作827中使第三製程氣體組成自第一儲槽(311)經由第一質量流量控制器(319)傳輸至製程模組(325)係於實質上相同的時間處進行。
在某些實施例中，該方法亦可包含校正流經第一質量流量控制器(315)之第三製程氣體組成之氣流的操作。例如，該方法可包含判斷第三製程氣體組成流至共用供給線(303)中之實際總流率的操作。該方法亦包含利用質量流量計(302)量測共用供給線(303)內之第三製程氣體組成之總流率的操作，質量流量計(302)配置具有和存在於第一與第二質量流量控制器(315與317)每一者中之質量流量量測技術相同的質量流量量測技術。應瞭解，質量流量計(302)及第一質量流量控制器(315)皆未針對第三製程氣體組成之流率的精準量測受到校正。該方法亦包含藉著比較共用供給線(303)內之第三製程氣體組成的總流率與流入共用供給線(303)中之第三製程氣體組成的實際總流率，而決定針對質量流量計(302)並針對第三製程氣體組成用之校正調整因子的操作。該方法亦包含下列操作：將針對質量流量計(302)並針對第三製程氣體組成所決定的校正調整因子應用至第一質量流量控制器(315)所量測到之第三製程氣體組成之流率，以獲得流經第一質量流量控制器(315)之第三製程氣體組成之流率的精準量測值並能使用第一質量流量控制器(315)精準地控制流至製程模組(325)之第三製程氣體組成的流率。
圖9顯示根據本發明之某些實施例之氣體供給系統如氣體供給系統300之校正方法的流程圖。該方法包含操作901，判斷流入共用供給線(300)之一製程氣體組成的實際總流率。製程氣體組成流經共用供給線(303)而流至儲槽(311、313)。該方法亦包含操作903，利用質量流量計(302)量測共用供給線(303)內之該製程氣體組成的總流率，質量流量計(302)配置具有和存在於第一與第二質量流量控制器(315與317)每一者中之質量流量量測技術相同的質量流量量測技術，第一與第二質量流量控制器(315與317)係連接以控制自儲槽(311、313)流至製程模組(325)之製程氣體的傳輸。應瞭解，質量流量計(302)及質量流量控制器(315、317)皆未針對該製程氣體組成之流率的精準量測受到校正。該方法亦包含操作905，藉著比較共用供給線(303)內之該製程氣體組成的總流率與流入共用供給線(303)中之該製程氣體組成的實際總流率，而決定針對質量流量計(302)並針對該製程氣體組成用之校正調整因子。該方法亦包含操作907，操作質量流量控制器(315、317)以量測流經質量流量控制器(315、317)之該製程氣體組成的流率。該方法亦包含操作909，將針對質量流量計(302)並針對該製程氣體組成所決定的校正調整因子應用至質量流量控制器(315、317)所量測到之該製程氣體組成之流率，以獲得流經質量流量控制器(315、317)之該製程氣體組成之流率的精準量測值並能使用質量流量控制器(315、317)精準地控制流至製程模組(325)之該製程氣體組成的流率。在某些實施例中，該校正調整因子係基於下列兩者的比值：利用質量流量計(302)量測到之共用供給線(303)內之該製程氣體組成的總流率、流入共用供給線(303)中之該製程氣體組成的實際總流率。
使用來自單一氣體傳輸系統之製程氣體單一傳輸線即共用供給線的時間共享/時間分段(time-sharing/time-division)功能使單一氣體傳輸系統能將不同製程氣體組成的複數不同氣流供給予製程模組，在流至製程模組之製程氣流的變化之間存在著少於0.1秒的時間精準度。應瞭解，文中所揭露的系統與方法尤其能避免對下列者的需要：自氣體傳輸系統至製程模組的複數離開歧管及/或複數傳輸線、對相同的製程氣體組成使用複數質量流量控制器，上述者會降低製程彈性並增加製程設備的成本。
又，藉著文中所揭露之系統與方法之一部分的調度模組，可判斷何時應自氣體傳輸系統傳輸特定的製程氣體組成至區域儲槽，俾以維持流至製程模組之期望的製程氣體組成流率。此外，應明白，文中所揭露之用以在傳輸至製程模組的點處校正質量流量控制器的系統與方法能自區域儲槽精準地分配製程氣體的任意混合物。又，因此，可使用製程模組如可能需針對各種製程步驟提供15種或更多種製程氣體組成的蝕刻系統在少於0.5秒、在某些情況中少於0.1秒的時間內切換製程氣體組成，這類似於ALD 製程中可提供的製程氣體組成切換時間。
雖然為了清楚瞭解，上面只詳細說明了本發明的特定實施例，但熟知此項技藝者當瞭解，在隨附申請專利範圍的範疇內可對本發明實施例進行許多變化與修改。因此，本發明的實施例應被視為是例示性而非限制性的。本發明不限於文中所述之細節，在所述實施例的範疇與等效物內可修改本發明。
100‧‧‧氣體傳輸系統
101A-101L‧‧‧氣體傳輸棒
103‧‧‧氣體供給件
103A-103L‧‧‧氣體供給件
105A-105L‧‧‧LOTO閥
107A-107L‧‧‧主要截止閥
109A-109L‧‧‧質量流量控制器
111A-111L‧‧‧次要截止閥
113‧‧‧共用歧管
113A‧‧‧第一共用歧管
113B‧‧‧第二共用歧管
115‧‧‧吹淨閥
115A‧‧‧第一吹淨閥
115B‧‧‧第二吹淨閥
117‧‧‧吹淨氣體供給件
119‧‧‧排放閥
119A‧‧‧第一排放閥
119B‧‧‧第一排放閥
121‧‧‧真空源
123‧‧‧傳輸線
123A‧‧‧第一傳輸線
123B‧‧‧第二傳輸線
200‧‧‧氣體傳輸系統
201‧‧‧第一群組
203‧‧‧第二群組
205A‧‧‧第一控制閥
205B‧‧‧第二控制閥
209‧‧‧供給線
211‧‧‧製程模組
300‧‧‧先進氣體供給系統
301‧‧‧氣體傳輸系統
302‧‧‧質量流量計
303‧‧‧共用供給線
305‧‧‧進料控制閥
306‧‧‧線連接件
307‧‧‧進料控制閥
308‧‧‧線連接件
309‧‧‧排放控制閥
310‧‧‧連接線
311‧‧‧儲槽
312‧‧‧連接線
313‧‧‧儲槽
314‧‧‧連接線
315‧‧‧質量流量控制器
316‧‧‧連接線
317‧‧‧質量流量控制器
318‧‧‧連接線
319‧‧‧傳輸控制閥
320‧‧‧連接線
321‧‧‧傳輸控制閥
322‧‧‧連接線
323‧‧‧氣體分離模組
325‧‧‧製程模組
327A‧‧‧連接線
327B‧‧‧連接線
327C‧‧‧連接線
329‧‧‧連接線
331‧‧‧排放模組
333‧‧‧排放控制閥
334‧‧‧連接線
335‧‧‧流動限制模組
337‧‧‧排放控制閥
338‧‧‧連接線
339‧‧‧排放控制閥
340‧‧‧連接線
341‧‧‧流動限制模組
343‧‧‧排放控制閥
344‧‧‧連接線
350‧‧‧氣體進料模組
360‧‧‧流動控制模組
370‧‧‧氣體傳輸切換模組
380‧‧‧線圈天線
382‧‧‧頂窗
384‧‧‧基板支撐件
386‧‧‧基板
388‧‧‧電漿
388A‧‧‧電漿製程區域
400‧‧‧氣體供給控制模組
401‧‧‧調度模組
403‧‧‧製程輸入模組
405‧‧‧RF控制模組
407‧‧‧RF 功率產生模組
409‧‧‧匹配模組
410‧‧‧RF電源系統
801‧‧‧操作
803‧‧‧操作
805‧‧‧操作
807‧‧‧操作
809‧‧‧操作
811‧‧‧操作
813‧‧‧操作
815‧‧‧操作
817‧‧‧操作
819‧‧‧操作
821‧‧‧操作
823‧‧‧操作
825‧‧‧操作
827‧‧‧操作
901‧‧‧操作
903‧‧‧操作
905‧‧‧操作
907‧‧‧操作
909‧‧‧操作
圖1顯示根據本發明之某些實施例之可用以將複數製程氣體組成供給至製程模組的一氣體傳輸系統。
圖2顯示可用於使用兩種特定製程氣體組成之特定RAP或ALD製程的一氣體傳輸系統。
圖3顯示根據本發明之某些實施例之一先進氣體供給系統的概圖。
圖4顯示根據本發明之某些實施例之與氣體供給控制模組交界的氣體供給系統。
圖5顯示根據本發明之某些實施例之時序圖，其例示可如何操作氣體供給系統以自共用供給線提供兩種不同製程氣體組成之受控制流予製程模組。
圖6顯示根據本發明之某些實施例之另一時序圖，其例示可如何操作氣體供給系統以自共用供給線提供兩種不同製程氣體組成之受控制流予製程模組。
圖7顯示根據本發明之某些實施例之時序圖，其例示可如何操作氣體供給系統以自共用供給線提供三種不同製程氣體組成之受控制流予製程模組。
圖8A顯示根據本發明之某些實施例之方法流程圖，此方法係使用氣體供給系統將複數製程氣體組成供給予製程模組。
圖8B顯示根據本發明之某些實施例之圖8A之方法的續行流程圖。
圖9顯示根據本發明之某些實施例之氣體供給系統之校正方法的流程圖。
103‧‧‧氣體供給件
117‧‧‧吹淨氣體供給件
121‧‧‧真空源
300‧‧‧先進氣體供給系統
301‧‧‧氣體傳輸系統
302‧‧‧質量流量計
303‧‧‧共用供給線
305‧‧‧進料控制閥
306‧‧‧線連接件
307‧‧‧進料控制閥
308‧‧‧線連接件
309‧‧‧排放控制閥
310‧‧‧連接線
311‧‧‧儲槽
312‧‧‧連接線
313‧‧‧儲槽
314‧‧‧連接線
315‧‧‧質量流量控制器
316‧‧‧連接線
317‧‧‧質量流量控制器
318‧‧‧連接線
319‧‧‧傳輸控制閥
320‧‧‧連接線
321‧‧‧傳輸控制閥
322‧‧‧連接線
323‧‧‧氣體分離模組
325‧‧‧製程模組
327A‧‧‧連接線
327B‧‧‧連接線
327C‧‧‧連接線
329‧‧‧連接線
331‧‧‧排放模組
333‧‧‧排放控制閥
334‧‧‧連接線
335‧‧‧流動限制模組
337‧‧‧排放控制閥
338‧‧‧連接線
339‧‧‧排放控制閥
340‧‧‧連接線
341‧‧‧流動限制模組
343‧‧‧排放控制閥
344‧‧‧連接線
350‧‧‧氣體進料模組
360‧‧‧流動控制模組
370‧‧‧氣體傳輸切換模組
380‧‧‧線圈天線
382‧‧‧頂窗
384‧‧‧基板支撐件
386‧‧‧基板
388‧‧‧電漿
388A‧‧‧電漿製程區域

Claims (25)

  1. 一種製程模組用的氣體供給系統，包含： 一氣體傳輸系統，建構成在複數特定時間處傳輸複數不同的製程氣體組成； 一共用供給線，流體連接至該氣體傳輸系統俾使該氣體傳輸系統在一特定時間處所傳輸之一特定製程氣體組成流經該共用供給線； 複數儲槽，流體連接至該共用供給線； 複數進料控制閥，分別對應至該複數儲槽，該複數進料控制閥的每一者係連接以控制來自該共用供給線之氣體開始流向其對應儲槽及停止流向其對應儲槽； 複數質量流量控制器，分別對應至該複數儲槽，該複數質量流量控制器的每一者係連接以控制自其對應儲槽之一出口所傳輸之氣體的一流率；及 複數傳輸控制閥件，分別對應至該複數質量流量控制器，該複數傳輸控制閥件的每一者係連接以控制來自其對應質量流量控制器之一出口的氣體開始流向該製程模組及停止流向該製程模組。
  2. 如申請專利範圍第1項之製程模組用的氣體供給系統，其中該複數進料控制閥的每一者係可獨立控制，且其中該複數質量流量控制器的每一者係可獨立操作，且其中該複數傳輸控制閥件中的每一者係可獨立控制。
  3. 如申請專利範圍第1項之製程模組用的氣體供給系統，其中該複數傳輸控制閥件的每一者分別具有一出口，該出口係流體連接至該製程模組之至少一製程氣體傳輸接口。
  4. 如申請專利範圍第1項之製程模組用的氣體供給系統，其中該複數傳輸控制閥件的一第一部分各自具有一對應的出口，該對應的出口係流體連接至該製程模組之一或多個製程氣體傳輸接口的一第一組；且其中該複數傳輸控制閥件的一第二部分各自具有一對應的出口，該對應的出口係流體連接至該製程模組之一或多個製程氣體傳輸接口的一第二組。
  5. 如申請專利範圍第1項之製程模組用的氣體供給系統，其中該複數質量流量控制器中的每一者係用以在低於約1/3大氣壓之入口壓力與出口壓力之間的壓差下操作。
  6. 如申請專利範圍第1項之製程模組用的氣體供給系統，其中該氣體傳輸系統係用以經由該共用供給線以約1000 sccm(標準立方公分)或更高的流率傳輸該複數不同的製程氣體組成。
  7. 如申請專利範圍第1項之製程模組用的氣體供給系統，更包含： 一質量流量計，係連接以量測該共用供給線內的一製程氣體流率。
  8. 如申請專利範圍第7項之製程模組用的氣體供給系統，其中該質量流量計及該複數質量流量控制器的每一者係使用相同的質量流量量測技術。
  9. 如申請專利範圍第8項之製程模組用的氣體供給系統，其中該質量流量計及該複數質量流量控制器皆未基於欲自該氣體傳輸系統傳輸至該共用供給線的製程氣體組成加以校正。
  10. 如申請專利範圍第9項之製程模組用的氣體供給系統，其中該氣體傳輸系統包含一或多個質量流量控制器，該一或多個質量流量控制器中的每一者係用以以約1000 sccm(標準立方公分)或更高的流率傳輸一受控制流率的一特定製程氣體，該氣體傳輸系統之該一或多個質量流量控制器中的每一者係針對其傳輸的該特定製程氣體加以校正。
  11. 如申請專利範圍第1項之製程模組用的氣體供給系統，更包含： 一排放模組； 一第一排放控制閥，係連接以控制來自該共用供給線的氣體開始流向該排放模組及停止流向該排放模組； 一第一複數排放控制閥，係分別對應至該複數儲槽，該第一複數排放控制閥中的每一者係連接以控制來自其對應儲槽之該出口的氣體開始流向該排放模組及停止流向該排放模組；及 一第二複數排放控制閥，係分別對應至該複數質量流量控制器，該第二複數排放控制閥中的每一者係連接以控制來自其對應質量流量控制器之該出口的氣體開始流向該排放模組及停止流向該排放模組。
  12. 如申請專利範圍第11項之製程模組用的氣體供給系統，更包含： 一氣體供給控制模組，用以控制該氣體傳輸系統、該複數進料控制閥、該複數質量流量控制器、該複數傳輸控制閥件、該排放模組、該第一排放控制閥、該第一複數排放控制閥、及該第二複數排放控制閥的操作。
  13. 如申請專利範圍第12項之製程模組用的氣體供給系統，更包含： 一調度模組，用以指示該氣體供給控制模組的操作，該調度模組係用以對該氣體供給控制模組提供與該氣體供給系統內之複數元件之操作時序相關的輸入。
  14. 一種供給複數製程氣體組成至製程模組的方法，包含： 將一第一製程氣體組成傳輸予一共用供給線； 將一第一儲槽連接至該共用供給線俾使該第一製程氣體組成自該共用供給線流入該第一儲槽中； 使該第一製程氣體組成自該第一儲槽經由一第一質量流量控制器傳輸至該製程模組； 使該第一儲槽與該共用供給線隔絕並同時使該第一製程氣體組成持續自該第一儲槽經由該第一質量流量控制器傳輸至該製程模組； 使一第二製程氣體組成傳輸至該共用供給線並同時使該第一製程氣體組成自該第一儲槽經由該第一質量流量控制器傳輸至該製程模組； 將一第二儲槽連接至該共用供給線俾使該第二製程氣體組成自該共用供給線流至該第二儲槽中並同時使該第一製程氣體組成持續自該第一儲槽經由該第一質量流量控制器傳輸至該製程模組； 停止該第一製程氣體組成自該第一儲槽經由該第一質量流量控制器傳輸至該製程模組；及 使該第二製程氣體組成自該第二儲槽經由一第二質量流量控制器傳輸至該製程模組。
  15. 如申請專利範圍第14項之供給複數製程氣體組成至製程模組的方法，其中停止該第一製程氣體組成自該第一儲槽經由該第一質量流量控制器傳輸至該製程模組的步驟以及使該第二製程氣體組成自該第二儲槽經由該第二質量流量控制器傳輸至該製程模組的步驟係於實質上相同的時間處進行。
  16. 如申請專利範圍第14項之供給複數製程氣體組成至製程模組的方法，其中該第一製程氣體組成與該第二製程氣體組成中的每一者係以約1000 sccm(標準立方公分)或更高的流率傳輸至該共用供給線。
  17. 如申請專利範圍第14項之供給複數製程氣體組成至製程模組的方法，更包含： 判斷流入該共用供給線之該第一製程氣體組成的一實際總流率； 利用一質量流量計量測該共用供給線內之該第一製程氣體組成的一總流率，該質量流量計係使用和存在於該第一與第二質量流量控制器每一者內之質量流量量測技術相同的質量流量量測技術，其中該質量流量計及該第一質量流量控制器皆未針對該第一製程氣體組成之流率的精準量測受到校正； 藉著比較該共用供給線內之該第一製程氣體組成的該總流率與流入該共用供給線中之該第一製程氣體組成的該實際總流率，決定針對該第一製程氣體組成對於該質量流量計的一校正調整因子；及 將針對該第一製程氣體組成對於該質量流量計所決定的該校正調整因子應用至該第一質量流量控制器所量測到之該第一製程氣體組成的一流率，以獲得流經該第一質量流量控制器之該第一製程氣體組成之流率的一精準量測值並允許使用該第一質量流量控制器精準地控制流至該製程模組之該第一製程氣體組成的流率。
  18. 如申請專利範圍第17項之供給複數製程氣體組成至製程模組的方法，更包含： 判斷流至該共用供給線中之該第二製程氣體組成的一實際總流率； 利用該質量流量計量測該共用供給線內之該第二製程氣體組成的一總流率，該質量流量計係使用和存在於該第一與第二質量流量控制器每一者內之質量流量量測技術相同的質量流量量測技術，其中該質量流量計及該第二質量流量控制器皆未針對該第二製程氣體組成之流率的精準量測受到校正； 藉著比較該共用供給線內之該第二製程氣體組成的該總流率與流入該共用供給線中之該第二製程氣體組成的該實際總流率，決定針對該第二製程氣體組成對於該質量流量計的一校正調整因子；及 將針對該第二製程氣體組成對於該質量流量計所決定的該校正調整因子應用至該第二質量流量控制器所量測到之該第二製程氣體組成的一流率，以獲得流經該第二質量流量控制器之該第二製程氣體組成之流率的一精準量測值並允許使用該第二質量流量控制器精準地控制流至該製程模組之該第二製程氣體組成的流率。
  19. 如申請專利範圍第14項之供給複數製程氣體組成至製程模組的方法，更包含： 排放該第一儲槽； 使該第二儲槽與該共用供給線隔絕同時持續使該第二製程氣體組成自該第二儲槽經由該第二質量流量控制器傳輸至該製程模組； 將一第三製程氣體組成傳輸予該共用供給線； 將該第一儲槽連接至該共用供給線俾使該第三製程氣體組成自該共用供給線流至該第一儲槽中； 停止該第二製程氣體組成自該第二儲槽經由該第二質量流量控制器傳輸至該製程模組；及 使該第三製程氣體組成自該第一儲槽經由該第一質量流量控制器傳輸至該製程模組。
  20. 如申請專利範圍第19項之供給複數製程氣體組成至製程模組的方法，其中停止該第一製程氣體組成自該第一儲槽經由該第一質量流量控制器傳輸至該製程模組的步驟以及使該第二製程氣體組成自該第二儲槽經由該第二質量流量控制器傳輸至該製程模組的步驟係於一第一實質上相同的時間處進行，且 其中停止該第二製程氣體組成自該第二儲槽經由該第二質量流量控制器傳輸至該製程模組的步驟以及使該第三製程氣體組成自該第一儲槽經由該第一質量流量控制器傳輸至該製程模組的步驟係於一第二實質上相同的時間處進行。
  21. 如申請專利範圍第19項之供給複數製程氣體組成至製程模組的方法，其中該第一製程氣體組成、該第二製程氣體組成、及該第三製程氣體組成中的每一者係以約1000 sccm(標準立方公分)或更高的流率傳輸至該共用供給線。
  22. 如申請專利範圍第19項之供給複數製程氣體組成至製程模組的方法，更包含： 判斷流入該共用供給線之該第三製程氣體組成的一實際總流率； 利用一質量流量計量測該共用供給線內之該第三製程氣體組成的一總流率，該質量流量計係使用和存在於該第一與第二質量流量控制器每一者內之質量流量量測技術相同的質量流量量測技術，其中該質量流量計及該第一質量流量控制器皆未針對該第三製程氣體組成之流率的精準量測受到校正； 藉著比較該共用供給線內之該第三製程氣體組成的該總流率與流入該共用供給線中之該第三製程氣體組成的該實際總流率，決定針對該第三製程氣體組成對於該質量流量計的一校正調整因子；及 將針對該第三製程氣體組成對於該質量流量計所決定的該校正調整因子應用至該第一質量流量控制器所量測到之該第三製程氣體組成的一流率，以獲得流經該第一質量流量控制器之該第三製程氣體組成之流率的一精準量測值並允許使用該第一質量流量控制器精準地控制流至該製程模組之該第三製程氣體組成的流率。
  23. 如申請專利範圍第14項之供給複數製程氣體組成至製程模組的方法，更包含： 使該第一製程氣體組成自該第一儲槽經由該第一質量流量控制器傳輸至該製程模組並同時亦使該第二製程氣體組成自該第二儲槽經由該第二質量流量控制器傳輸至該製程模組。
  24. 一種氣體供給系統的校正方法，包含： 判斷一製程氣體組成流至一共用供給線中的一實際總流率，其中該製程氣體組成經由該共用供給線流至一儲槽； 利用一質量流量計量測該共用供給線內之該製程氣體組成的一總流率，該質量流量計配置具有和存在於一質量流量控制器中之質量流量量測技術相同的質量流量量測技術，該質量流量控制器係連接以控制自該儲槽流至一製程模組之製程氣體的傳輸，其中該質量流量計及該質量流量控制器皆未針對該製程氣體組成之流率的精準量測受到校正； 藉著比較該質量流量計量測到之該共用供給線內之該製程氣體組成的該總流率與流入該共用供給線中之該製程氣體組成的該實際總流率，決定針對該製程氣體組成對於該質量流量計之一校正調整因子； 操作該質量流量控制器以量測流經該質量流量控制器之該製程氣體組成的一流率；及 將針對該製程氣體組成對於該質量流量計所決定的該校正調整因子應用至該質量流量控制器所量測到之該製程氣體組成之流率，以獲得流經該質量流量控制器之該製程氣體組成之流率的一精準量測值並允許使用該質量流量控制器精準地控制流至該製程模組之該製程氣體組成的流率。
  25. 如申請專利範圍第24項之氣體供給系統的校正方法，其中該校正調整因子係基於利用該質量流量計量測到之該共用供給線內之該製程氣體組成之該總流率與流入該共用供給線中之該製程氣體組成之該實際總流率的一比值。
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