TW201535189A - 指定位置檢測裝置 - Google Patents

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Yasushi Sekizawa
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Abstract

簡便地檢測對於XY座標形成部之觸碰座標位置。 對於互相交叉之分別由複數個線體所構成之XY座標形成部(11)，設置驅動訊號輸入部(21)及位置檢測訊號輸出部(31)，並對單體構造之XY座標形成部(11)從驅動訊號輸入部(21)輸入驅動訊號，且設計成當對單體構造的XY座標形成部(11)藉由位置指定手段(5、6)指定了位置時，會從位置檢測訊號輸出部(31)得到指定位置檢測訊號，且設計成藉由模式切換部(12、13)來將XY座標形成部(11)的指定位置檢測模式切換成靜電耦合方式或電磁感應方式，藉此能夠實現簡易構造之指定位置檢測裝置。

Description

指定位置檢測裝置
本發明係有關指定位置檢測裝置，例如適合運用於具有平板(tablet)顯示面之資訊處理裝置。
具有平板顯示面之資訊處理裝置，常被用來作為下述手段，即，藉由使用者指定操作顯示面上的特定顯示位置，來簡便地執行和該顯示位置相對應之資訊的處理。
針對這類資訊處理裝置，作為檢測使用者已指定了操作顯示面上的位置之檢測手段，有人提出一種電磁方式之構造者，係使內建有並聯共振電路(resonant circuit)或磁性體等之筆形式的位置指定構件，接近設於操作顯示面之多數個環形線圈(loop coil)，藉此檢測出該接近之座標位置作為使用者的指定位置(參照專利文獻1、2)。
又，除此之外，作為指定位置檢測手段，有人提出一種靜電容量方式之構造者，係使指尖對於複數個X電極及與其交叉之複數個Y電極做靜電容量耦合，藉此 檢測出觸控面板的觸碰處的二維座標(參照專利文獻3、4)。
先前技術文獻 專利文獻
專利文獻1：日本特開平7-44304號公報
專利文獻2：日本特開2010-85378號公報
專利文獻3：日本特開2010-176571號公報
專利文獻4：日本特開2013-131079號公報
具有平板顯示面之資訊處理裝置中，可以認為，藉由儘可能簡便的構成來檢測使用者於操作顯示面上的指定位置，以儘可能維持高檢測精度，是有效提升資訊處理裝置的實用性之手段，同時若將指尖所致之資訊輸入操作以及筆形式的位置指定構件所致之資訊輸入操作予以組合，便能從操作顯示面簡便地輸入多樣的資訊。
本發明係考量以上問題點而研發，欲提出一種設計成能夠以高位置檢測精度簡便地輸入多樣的資訊之位置檢測裝置。
為解決此問題，請求項1之發明中，係設 置：XY座標形成部11，具有使由複數個線體所構成之X軸線體X1~XN及由複數個線體所構成之Y軸線體Y1~YM互相交叉之構造；驅動訊號輸入部21，設於X軸線體X1~XN及Y軸線體Y1~YM的其中一方Y1~YM的一端側，輸入驅動輸入訊號；位置檢測訊號輸出部31，設於X軸線體X1~XN及Y軸線體Y1~YM的其中另一方X1~XN的另一端側，當位置指定手段5、6指定了XY座標形成部11的XY座標位置時，輸出和該指定的座標位置相對應之位置檢測訊號；及模式切換部12、13，將XY座標形成部11的指定位置檢測模式切換成靜電耦合方式或電磁感應方式；XY座標形成部11，具有配設X軸線體X1~XN而構成之X軸線板部3C、及配設Y軸線體Y1~YM而構成之Y軸線板部3D，而具有將X軸線板部3C及Y軸線板部3D夾著絕緣層材3B予以層積之構造，針對上述其中一方Y1~YM的軸線板部3D，該複數個線體Y1~YM的一端係透過和各者相對應而設於驅動訊號輸入部21之複數個訊號輸入開關22Y1~22YM，而連接至與輸入驅動脈衝發生電路24A連接之共通訊號線23、25，且在該複數個線體Y1~YM的另一端間，連接著模式切換部12、13的第1模式選擇開關SY1~SY(N-5)，且，針對上述其中另一方X1~XN的軸線板部3C，該複數個線體X1~XN的一端係透過和各者相對應而設於位置檢測訊號輸出部31之複數個訊號輸出開關32X1~32XN，而連接至與檢測訊號輸出電路34、36連接之共通線33、35，且 在該複數個線體X1~XN的另一端間，連接著模式切換部12、13的第2模式選擇開關SX1~SX(N-5)，模式切換部12、13，當將XY座標形成部11切換成靜電耦合方式時，使第1模式選擇開關SY1~SY(N-5)、及第2模式選擇開關SX1~SX(N-5)做OFF動作，且，當將XY座標形成部11切換成電磁耦合方式時，使第1模式選擇開關SY1~SY(N-5)及第2模式選擇開關SX1~SX(N-5)做ON動作。
此外，請求項3~6之發明中，係具備：XY座標形成部11，具有使由複數個線體所構成之X軸線體X1~XN及由複數個線體所構成之Y軸線體Y1~YM互相交叉之構造；驅動訊號輸入部21，設於X軸線體X1~XN及Y軸線體Y1~YM的其中一方Y1~YM的一端側，輸入驅動輸入訊號；位置檢測訊號輸出部31，設於X軸線體X1~XN及Y軸線體Y1~YM的其中另一方X1~XN的另一端側，當位置指定手段5、6指定了XY座標形成部11的XY座標位置時，輸出和該指定的座標位置相對應之位置檢測訊號；第1模式切換部12，設於上述其中一方Y1~YM的未連接驅動訊號輸入部21之另一端側；及第2模式切換部21，設於上述其中另一方的軸線體的未連接位置檢測訊號輸出部31之另一端側；XY座標形成部11，具有配設X軸線體X1~XN而構成之X軸線板部3C、及配設Y軸線體Y1~YM而構成之Y軸線板部3D，而具有將X軸線板部3C及Y軸線板部3D夾著絕緣層材 3B予以層積之構造，針對上述其中一方的軸線板部3D，該複數個線體Y1~YM的一端係透過和各者相對應而設於驅動訊號輸入部21之複數個訊號輸入開關22Y1~22YM，而連接至與輸入驅動脈衝發生電路24A連接之共通訊號線23、25，且在該複數個線體Y1~YM的另一端間，連接著第1模式切換部13的第1模式選擇開關SY1~SY(N-5)，且，針對上述其中另一方的軸線板部3C，該複數個線體X1~XN的一端係透過和各者相對應而設於位置檢測訊號輸出部31之複數個訊號輸出開關32X1~32XN，而連接至與檢測訊號輸出電路34、36連接之共通線33、35，且在該複數個線體X1~XN的另一端間，連接著第2模式切換部12的第2模式選擇開關SX1~SX(N-5)，第1及第2模式切換部13、12，當將XY座標形成部11切換成靜電耦合方式時，使第1模式選擇開關SY1~SY(N-5)、及第2模式選擇開關SX1~SX(N-5)做OFF動作，且，當將XY座標形成部11切換成電磁耦合方式時，使第1模式選擇開關SY1~SY(N-5)及第2模式選擇開關SX1~SX(N-5)做ON動作。
除此之外，請求項3~6之發明當中，特別是請求項3之發明中，驅動訊號輸入部21，從連接之線體的一端當中依序選擇2條來輸入驅動輸入訊號，且第1模式切換部12將該被依序選擇之2條線體的另一端間分別予以連接，藉此分別以該2條線體來形成輸入訊號輸入用的環形線圈LI1~LIK，位置檢測訊號輸出部31，從連接之線體 當中依序選擇2條來輸出位置檢測訊號，且第2模式切換部13將該被選擇之2條線體的另一端予以連接，藉此以該2條線體來形成位置檢測訊號輸出用的環形線圈LO1~LOJ，當筆觸碰型的位置指定手段6指定了XY座標形成部11的XY座標位置時，將從形成之輸入訊號輸入用的環形線圈LI1~LIK輸入的輸入訊號，透過位置指定手段6傳遞給位置檢測訊號輸出用的環形線圈LO1~LOJ，藉此從位置檢測訊號輸出部31輸出成為電磁感應檢測模式的筆觸碰動作檢測輸出。
此外，請求項3~6之發明當中，特別是請求項4之發明中，在上述第1及第2模式選擇開關SY1~SY(N-5)及SX1~SX(N-5)將XY座標形成部11切換成靜電耦合方式之狀態下，驅動訊號輸入部21對連接之線體Y1~YM的一端依序輸入驅動輸入訊號，且當使用者的指尖作為位置指定手段5、6而指定了XY座標形成部11的XY座標位置時，將從驅動訊號輸入部21輸入並藉由使用者的指尖而一面受到在線體Y1~YM、X1~XN間的雜散電容(stray capacitance)產生的變化一面被傳遞之驅動輸入訊號，從位置檢測訊號輸出部31輸出成為靜電耦合檢測模式的指觸控動作檢測輸出。
又，請求項3~6之發明當中，特別是請求項5之發明中，驅動訊號輸入部21、位置檢測訊號輸出部31、第1模式切換部13及第2模式切換部12，係使XY座標形成部11經常維持靜電耦合檢測模式之動作狀態，藉此設 計成能讓使用者對XY座標形成部11經常做指觸碰輸入操作。
又，請求項3~6之發明當中，特別是請求項6之發明中，驅動訊號輸入部21、位置檢測訊號輸出部31、第1模式切換部13及第2模式切換部12，係使經常維持電磁感應檢測模式之動作狀態，藉此設計成能對XY座標形成部11經常做筆觸碰輸入操作。
又，請求項7~9之發明中，係具備：XY座標形成部11，具有使由複數個線體所構成之X軸線體X1~XN及由複數個線體所構成之Y軸線體Y1~YM互相交叉之構造；驅動訊號輸入部21，設於X軸線體X1~XN及Y軸線體Y1~YM的其中一方的一端側，輸入驅動輸入訊號；位置檢測訊號輸出部31，設於X軸線體X1~XN及Y軸線體Y1~YM的其中另一方的另一端側，當位置指定手段5指定了XY座標形成部11的XY座標位置時，輸出和該指定的座標位置相對應之位置檢測訊號；第1模式切換部13，設於其中一方的軸線體的未設有驅動訊號輸入部21之另一端側；及第2模式切換部12，設於其中另一方的軸線體的未設有位置檢測訊號輸出部31之另一端側。
除此之外，請求項7~9之發明當中，特別是請求項7之發明中，驅動訊號輸入部21、位置檢測訊號輸出部31、第1模式切換部13及第2模式切換部12，針對XY座標形成部11令其做靜電耦合優先檢測動作，藉此，對 於做指定位置檢測動作所必要之每個單位時間，使被設定成能夠在靜電耦合檢測模式下做指觸碰輸入操作之動作狀態的期間的比例，相對於以電磁感應檢測模式做筆觸碰輸入操作而言更大。
此外，請求項7~9之發明當中，特別是請求項8之發明中，驅動訊號輸入部21、位置檢測訊號輸出部31、第1模式切換部13及第2模式切換部12，係針對XY座標形成部11令其做電磁感應優先動作，藉此，對於做指定位置檢測動作所必要之每個單位時間，使被設定成能夠在電磁感應檢測模式下做筆觸碰輸入操作之動作狀態的期間的比例，相對於以靜電耦合檢測模式做指觸碰輸入操作而言更大。
又，請求項7~9之發明當中，特別是請求項9之發明中，驅動訊號輸入部21、位置檢測訊號輸出部31、第1模式切換部13及第2模式切換部12，在開始指定位置檢測動作時，會執行待機動作，該待機動作係檢測並確認使用者是做有關靜電耦合檢測之指定輸入還是有關電磁感應檢測之指定輸入，該待機動作後，因應該確認結果來執行靜電耦合優先檢測動作或電磁感應優先檢測動作。
按照本發明，係對於互相交叉之分別由複數個線體所構成之XY座標形成部，設置驅動訊號輸入部及位置檢測訊號輸出部，並對單體構造之XY座標形成部從 驅動訊號輸入部輸入驅動訊號，且設計成當對單體構造的XY座標形成部藉由位置指定手段指定了位置時，會從位置檢測訊號輸出部得到指定位置檢測訊號，且設計成藉由模式切換部來將XY座標形成部的指定位置檢測模式切換成靜電耦合方式或電磁感應方式，其中，係設計成，將XY座標形成部做成為X軸線板部、絕緣層材及Y軸線板部之3層構造，且針對X軸線板部及Y軸線板部的其中一方，將複數個線體的一端透過複數個訊號輸入開關而連接至與輸入驅動脈衝發生電路連接之共通訊號線，且在另一端間連接模式切換部的第1模式選擇開關，且，針對其中另一方，將複數個線體的另一端透過複數個訊號輸出開關而連接至與檢測訊號輸出電路連接之共通訊號線，且在另一端間連接模式切換部的第2模式選擇開關，藉此，便能實現一種讓驅動訊號輸入動作、及指定位置檢測動作、以及靜電耦合方式及電磁感應方式的切換動作，分配給薄型的XY座標形成部的X軸線板部及Y軸線板部這樣簡易構造的指定位置檢測裝置。
1‧‧‧資訊處理裝置
2‧‧‧中央處理單元
3‧‧‧平板顯示板部
3A‧‧‧資訊顯示板部
3B‧‧‧絕緣層材
3C‧‧‧X軸線板部
3D‧‧‧Y軸線板部
3E‧‧‧透明保護玻璃板構件
4‧‧‧指定位置檢測部
5‧‧‧指尖
6‧‧‧位置指定具
11‧‧‧XY座標形成部
12‧‧‧X線模式切換部
13‧‧‧Y軸線模式切換部
14‧‧‧模式切換處理部
21‧‧‧驅動訊號輸入部
22Y1~22YM‧‧‧訊號輸入開關
23‧‧‧共通訊號線
24‧‧‧輸入驅動脈衝發生電路
25‧‧‧共通訊號線
31‧‧‧位置檢測訊號輸出部
32X1~32XN‧‧‧訊號輸出開關
33‧‧‧共通訊號線
34‧‧‧電磁感應訊號輸出電路
36‧‧‧靜電耦合訊號輸出電路
37‧‧‧同步檢波電路
X1~XN‧‧‧X軸線體
Y1~YM‧‧‧Y軸線體
LI1~LIK‧‧‧輸入用環形線圈
LO1~LIJ‧‧‧輸出用環形線圈
[圖1]運用了本發明之指定位置檢測裝置的資訊處理裝置全體構成示意方塊圖。
[圖2]圖1之平板顯示板部3的詳細構成示意概略線圖。
[圖3]圖1之指定位置檢測部4的詳細構成示意電性連接圖。
[圖4]圖3之XY座標形成部11的構成示意電性連接圖。
[圖5]藉由圖4之XY座標形成部11而形成之電磁感應方式的XY座標系說明用概略線圖。
[圖6]圖3之同步檢波電路37的詳細構成示意電性方塊圖。
[圖7]藉由XY座標形成部11而形成之靜電耦合方式的XY座標系說明用概略線圖。
[圖8]對於圖7之靜電耦合方式的XY座標系以指尖做觸碰操作的說明用概略線圖。
[圖9]指定位置檢測模式切換處理手續示意流程圖。
[圖10]圖9之待命檢測動作模式處理SP1的說明用訊號波形圖。
[圖11]圖9之固定檢測模式處理手續SP3的詳細構成示意流程圖。
[圖12]圖11之靜電耦合固定檢測處理手續SP12的說明用訊號波形圖。
[圖13]圖11之電磁感應固定檢測處理手續SP14的說明用訊號波形圖。
[圖14]圖19之優先檢測模式處理手續SP5的詳細構成示意流程圖。
[圖15]圖14之待機動作處理手續SP21的說明用訊號 波形圖。
[圖16]從待機動作轉為靜電耦合優先動作的說明用訊號波形圖。
[圖17]從待機動作轉為電磁感應優先動作的動作說明用訊號波形圖。
[圖18]圖14之靜電耦合優先處理手續SP23的詳細構成示意流程圖。
[圖19]靜電耦合優先檢測動作的說明用訊號波形圖。
[圖20]圖14之電磁感應優先處理手續SP24的詳細構成示意流程圖。
[圖21]從靜電耦合優先控制轉為電磁感應優先動作的動作說明用訊號波形圖。
[圖22]圖20之靜電優先切換查核處理手續SP47的詳細構成示意流程圖。
[圖23]靜電優先切換查核處理動作的說明用訊號波形圖。
(1)資訊處理裝置的全體構成
圖1中，1全體而言表示第1實施形態中的資訊處理裝置，其設計成，中央處理單元2係與平板顯示板部3之間做資訊顯示訊號S1的交換，且於包括平板顯示板部3在內之指定位置檢測部4，當使用者進行對平板顯示板部 3的顯示面使指尖5做接觸或接近的動作(將其稱為「指觸碰動作」)、或使具有筆形狀的位置指定具6做接觸或接近的動作(將其稱為「筆觸碰動作」)，藉此指定該平板顯示板部3的XY顯示面上的特定位置時，將表示該指定位置之指定位置檢測訊號S2從指定位置檢測控制部7輸出至中央處理單元2，中央處理單元2執行多樣的資訊處理。
本實施形態的情形下，平板顯示板部3，如圖2所示，具有下述構成，即，在顯示從中央處理單元2給予之資訊顯示訊號S1的資訊顯示板部3A上，使中間隔著絕緣層材3B而疊合之X軸線板部3C及Y軸線板部3D堆疊，再將如此堆疊成為單體構成之X軸線板部3C及Y軸線板部3D藉由透明保護玻璃板構件3E予以保護，該透明保護玻璃板構件3E形成操作顯示面。
如此，平板顯示板部3便被設計成，使用者從透明保護玻璃板構件3E側閱讀映照於資訊顯示板部3A上之資訊顯示，並能夠藉由使用者的指尖5或具有筆形狀的位置指定具6來指定特定的資訊顯示素材。
(2)座標位置指定輸入手段
本實施形態的情形下，平板顯示板部3係被設計成，藉由X軸線板部3C、絕緣層材3B及Y軸線板部3D來構成XY座標形成部11而作為座標位置指定輸入手段，並藉由從指定位置檢測控制部7給予X軸線模式切換部12 及Y軸線模式切換部13之動作模式切換訊號S3，而能夠對該XY座標形成部11切換自如地執行電磁感應方式的指定位置檢測動作模式、及靜電耦合方式的指定位置檢測動作模式。
構成平板顯示板部3的XY座標形成部11之X軸線板部3C，如圖3及圖4所示，具有朝Y軸方向直線狀地延伸，且於X軸方向以等間隔互相平行地配設之複數N條(例如32條)直線狀的X軸線體X1、X2......XN。
另一方面，Y軸線板部3D，具有朝X軸方向直線狀地延伸，且於Y軸方向以等間隔互相平行地配設之複數M條(例如20條)直線狀的Y軸線體Y1、Y2......YM。
如此，夾著絕緣層材3B，使X軸線體X1、X2......XN及Y軸線體Y1、Y2......YM以互相正交的方式交叉，而具有堆積之X軸線板部3C及Y軸線板部3D的XY座標形成部11，便被設計成能夠藉由X軸線體X1、X2......XN及Y軸線體Y1、Y2......YM的交點，來將座標位置特定成為平板顯示板部3的顯示面亦即透明保護玻璃板構件3E的操作顯示面上的XY座標位置。
Y軸線板部3D的Y軸線體Y1、Y2......Y(M-3)、Y(M-2)、Y(M-1)、YM(圖4)的一端，如圖3所示，連接有在驅動訊號輸入部21中相對應地設置之由半導體開關所構成的訊號輸入開關22Y1、22Y2......22Y (M-3)、22Y(M-2)、22Y(M-1)、22YM。
訊號輸入開關22Y1、22Y2......22YM當中，每隔一個的訊號輸入開關22Y1、22Y3、22Y5......22Y(M-5)的另一端連接至共通訊號線23，該共通訊號線23透過模式切換開關ST1連接至輸入驅動脈衝發生電路24，藉此將在輸入驅動脈衝發生電路24的驅動脈衝發生電路24A中發生之驅動脈衝訊號S4透過放大電路24B供給至共通訊號線23。
訊號輸入開關22Y1、22Y2......22YM的其餘的訊號輸入開關22Y2、22Y4......22Y(M-4)、22Y(M-3)、22Y(M-2)、22Y(M-1)、22YM連接至共通訊號線25，該共通訊號線25透過模式切換開關ST2連接至輸入驅動脈衝發生電路24的放大電路24B的輸出端，且透過模式切換開關ST3連接至接地。
如此，如後述般，於電磁感應方式的指定位置檢測動作模式時，當模式切換開關ST1及ST3依據從指定位置檢測控制部7給予之控制訊號S6而做ON動作時，會從共通訊號線23供給驅動脈衝訊號S4至Y軸線體，且該驅動脈衝訊號S4從共通訊號線25被導出而流至接地，藉此，便使Y軸線體動作成為電磁感應方式的指定位置檢測動作模式中之電磁驅動輸入手段亦即Y軸環形線圈。
另一方面，於靜電耦合方式的指定位置檢測動作模式時，當模式切換開關ST1及ST2做ON動作時， 將從輸入驅動脈衝發生電路24送出之驅動脈衝訊號S4透過共通訊號線23及25供給至全部的Y軸線體Y1、Y2......YM，藉此，便使Y軸線體動作成為靜電耦合方式的指定位置檢測模式時中之靜電驅動輸入手段。
X軸線板部3C的X軸線體X1、X2......XN的一端，連接有在位置檢測訊號輸出部31中相對應地設置之訊號輸出開關32X1、32X2......32XN。
該訊號輸出開關32X1、32X2......32XN當中，每隔一個的訊號輸出開關32X1、32X3、32X5......32X(N-5)連接至共通訊號線33，該共通訊號線33透過模式切換開關SR1連接至差動放大電路構造之電磁感應訊號輸出電路34的非反轉輸入端。
又，訊號輸出開關32X1、32X2......32XN的其餘的訊號輸出開關32X2、32X4......32X(N-4)、32X(N-3)、32X(N-2)、32X(N-1)、32XN連接至共通訊號線35，該共通訊號線35透過模式切換開關SR2和接地線一起連接至電磁感應訊號輸出電路34的反轉輸入端。
如此，如後述般，於電磁感應方式的指定位置檢測動作模式時，當模式切換開關SR1及SR2做ON動作時，會透過共通訊號線33及35而有指定位置檢測訊號流通，藉此，便使X軸線體動作成為電磁感應方式的指定位置檢測動作模式中之X軸環形線圈。
如此一來，在電磁感應訊號輸出電路34的輸 出端得到之電磁感應檢測訊號S11，便透過輸出切換開關SC1輸出成為指定位置檢測輸出訊號S12。
另一方面，共通訊號線33及35分別透過模式切換開關SR3及SR4連接至靜電耦合訊號輸出電路36的輸入端，在其輸出端得到之靜電耦合檢測訊號S13透過輸出切換開關SC2輸出成為指定位置檢測輸出訊號S12，如此一來，便使X軸線體動作成為靜電耦合方式的指定位置檢測模式時中之靜電驅動輸出手段。
該指定位置檢測輸出訊號S12，是在同步檢波電路37經同步檢波處理後，被送出至指定位置檢測控制部7以作為位置檢測訊號輸出部31的指定位置檢測訊號S14。
(3)模式切換部14
模式切換部14，由圖3的X軸線模式切換部12與Y軸線模式切換部13所構成，係設計成，利用配設於X軸線板部3C上之X軸線體X1~XN、及在Y軸線板部3D上設置成和X軸線體X1~XN交叉之Y軸線體Y1~YM，而能夠以一片單板構造之XY座標形成部11來執行電磁感應方式的指定位置檢測動作模式、及靜電耦合方式的指定位置檢測動作模式。
本實施形態的情形下，X軸線模式切換部12中，於X軸方向配設之N條(N=32條)的X軸線體當中，在中間隔著4條X軸線體之2條線體X1及X6、X3 及X8、X5及X10......X(N-5)及XN的一端間，分別設置模式選擇開關SX1、SX3、SX5......SX(N-5)。
如此，X軸線模式切換部12，針對X軸線體X1~XN，當模式選擇開關SX1、SX3、SX5......SX(N-5)做ON動作時，將X軸線體X1及X6、X3及X8、X5及X10......X(N-5)及XN予以連接，藉此便如圖5所示，形成朝Y軸方向縱長地延伸之輸出用環形線圈LO1、LO2......LOJ。
同樣地，Y軸線模式切換部13，針對Y軸線體Y1~YM，在Y軸線體Y1及Y6、Y3及Y8、Y5及Y10......Y(M-5)及YM的另一端間設置模式選擇開關SY1、SY3、SY5......SY(M-5)，當該些模式選擇開關做ON動作時，將該些Y軸線體互相連接，藉此便藉由該一對的Y軸線體Y1及Y6、Y3及Y8、Y5及Y10......Y(M-5)及YM形成朝X軸方向縱長之輸入用環形線圈LI1、LI2、LI3......LIK，而和藉由X軸線板部3C形成之輸出用環形線圈LO1、LO2......LOJ正交。
如此，在X軸線板部3C及Y軸線板部3D，藉由分別將X軸線模式切換部12的模式選擇開關SX1、SX3、SX5......SX(N-5)予以閉路，同在Y軸線模式切換部13將模式選擇開關SY1、SY3、SY5......SY(M-5)予以閉路，便會在XY座標形成部11上形成XY座標系，藉此，便能設定下述這樣的電磁感應方式指定位置檢測動作模式，即，當基於電磁感應方式而使用者藉由筆型的位置 指定具6指定座標位置時，能從位置檢測訊號輸出部31送出電磁感應方式的指定位置檢測訊號S14。
(4)依電磁感應方式之指定位置檢測動作模式的構成
中央處理單元2，當使用者指定了依電磁感應方式之指定位置檢測動作模式時，會透過指定位置檢測控制部7控制模式切換部14的X軸線模式切換部12及Y軸線模式切換部13，藉此使輸入用環形線圈LI1、LI2......LIK及輸出用環形線圈LO1、LO2......LOJ(圖5)形成，且將驅動訊號輸入部21及位置檢測訊號輸出部31切換成電磁感應檢測動作模式(圖3)。
此時的XY座標形成部11的指定位置檢測動作稱為「電磁感應檢測動作」。
此時，驅動訊號輸入部21使模式切換開關ST1及ST3做ON動作，且使訊號輸入開關22Y1及22Y6、22Y3及22Y8......22Y(M-5)及22YM以基準檢測周期依序做ON動作，藉此對輸入用環形線圈LI1、LI2......LIK依序流通驅動輸入電流，以便在Y軸線板部3D發生感應電磁場。
此狀態下，使用者係將筆型的位置指定具6在XY座標形成部11的XY座標面上做「筆觸碰操作」，藉此指定座標位置。
本實施形態的情形下，位置指定具6具有由感應線圈6A及共振電容6B所構成之共振電路，藉由位 於使用者做「筆觸碰操作」的位置之輸入用環形線圈LI1、LI2......LIK而發生之電磁場，使感應線圈6A及共振電容6B產生調諧共振電流，且依據基於該調諧共振電流而在感應線圈6A發生之感應電磁場，使感應電壓感應於位於做「筆觸碰操作」的位置之輸出用環形線圈LO1、LO2......LOJ。
此時，位置檢測訊號輸出部31，從連接至輸出用環形線圈LO1、LO2......LOJ之訊號輸出開關32X1及32X6、32X3及32X8......32X(N-5)及32XN，將基於該感應電壓之檢測電壓，透過模式切換開關SR1及SR2承接至電磁感應訊號輸出電路34，再將其透過輸出切換開關SC1輸出成為指定位置檢測輸出訊號S12。
本實施形態的情形下，位置檢測訊號輸出部31的訊號輸出開關32X1及32X6、32X3及32X8......32X(N-5)及32XN之ON動作期間，係被選定為，在驅動訊號輸入部21的訊號輸入開關22Y1及22Y6、22Y3及22Y8......22Y(M-5)及22YM的各ON動作期間之間會完成一輪之時間，藉此，在輸入用環形線圈LI1、LI2......LIK中分別流通驅動輸入脈衝電流的各驅動期間之間，便能夠從所有的輸出用環形線圈LO1、LO2......LOJ(包括被做「筆觸碰動作」之輸出用環形線圈)得到位置檢測輸出。
本實施形態的情形下，位置指定具6的共振電容6B的值，係構成為因應使用者為了指定位置而將筆 尖下壓至XY座標形成部11的透明保護玻璃板構件3E(圖2)的操作顯示面時之筆壓而變化，藉此，在位置指定具6產生之調諧共振電流的相位會變化，依此輸出用環形線圈LO1、LO2......LOJ的感應電壓的相位會變化，利用這一點，在同步檢波電路37檢測從位置檢測訊號輸出部31的電磁感應訊號輸出電路34得到之電磁感應檢測訊號S11，依此檢測指定位置檢測輸出訊號S12的相位，藉此檢測筆壓。
同步檢波電路37，如圖6所示，將基於從電磁感應訊號輸出電路34得到的電磁感應檢測訊號S11之指定位置檢測輸出訊號S12，透過由陷波濾波器(notch filter)及低通濾波器(low pass filter)所構成之濾波器電路41及可程式增益放大(programmable gain amplifier)電路42變換成含有0〔°〕相位基準訊號成分及+90〔°〕相位訊號成分之相位訊號S13後，在0°基準相位檢測電路43A及+90°相位檢測電路43B將相位成分分離並給予積分電路44A及44B，將該積分輸出在抽樣保持電路(sample-hold circuit)45A及45B予以抽樣且保持該抽樣值，將該抽樣保持值在AD轉換器(Analog-Digital converter)46A及46B變換成數位值。
如此，便從0°基準相位側的AD轉換器46A獲得從被做筆觸碰動作的座標位置得到之代表指定位置檢測輸出訊號S12的基準相位成分之0°相位檢測訊號S21A，且從90°相位側的AD轉換器46B獲得指定位置檢 測輸出訊號S12之90°相位檢測訊號S21B，其被送出成為指定位置檢測訊號S14的一部分。
本實施形態的情形下，在差動放大電路構造之電磁感應訊號輸出電路34(圖3)的非反轉輸入端，係透過衰減電路50連接著驅動訊號輸入部21的驅動脈衝發生電路24A的驅動脈衝訊號S4，藉此，透過訊號輸入開關22Y1、22Y3......22Y(M-5)而給予至輸入用環形線圈LI1、LI2......LIK之驅動脈衝訊號S4的相位，會被給予至差動輸入端的一方以作為基準相位資訊，如此一來同步檢波電路37便能簡便地求出作為基準相位之0°相位檢測訊號S21A、及+90°相位檢測訊號S21B。
(5)依靜電耦合方式之位置檢測動作模式的構成
圖3的XY座標形成部11的X軸線板部3C及Y軸線板部3D的構成中，中央處理單元2，當使X軸線模式切換部12的模式選擇開關SX1、SX3、SX5......SX(N-5)做OFF動作，且使Y軸線板部3D的模式選擇開關SY1、SY3、SY5......SY(M-5)使OFF動作時，指定位置檢測部4會執行靜電耦合式位置檢測動作模式的處理。
此時的XY座標形成部11的指定位置檢測動作稱為「靜電耦合檢測動作」。
此時，X軸線體X1~XN及Y軸線體Y1~YM分別於X軸線板部3C及Y軸線板部3D上，形成互相正交之XY座標系，藉此便如圖7所示，以X軸線體 X1~XN及Y軸線體Y1~YM的交叉位置為中心而形成雜散靜電容量CZ所致之靜電場。
該靜電場，於圖7中，當從透明保護玻璃板構件3E的板表面觀看相互層積之X軸線板部3C及Y軸線板部3D時，於XY座標系的各格子空間中，以1個交點的座標(Xn、Ym)為中心，在互相相向地相鄰之2條X軸線體X(n-1)及X(n+1)以及2條Y軸線部Y(m-1)及Y(m+1)間形成的雜散靜電容量CZ，於XY座標系中會幾乎均一地產生。
在這樣的XY座標系的靜電場中，如圖8所示，若使用者以指尖5觸碰座標(Xn、Ym)，則會分布有該指定位置與位於其周圍之X軸線體X(n-1)、Xn、X(n+1)及Y軸線體Y(m-1)、Ym、Y(m+1)之間的雜散電容值Cf的合計電容值。
在此狀態下，若驅動脈衝電壓被輸入至Y軸線Ym，則和該雜散電容值Cf相對應之電壓輸出會被傳遞至X軸線Xn。
如此一來，針對XY座標形成部11，當中央處理單元2使驅動訊號輸入部21的訊號輸入開關22Y1、22Y2......22YM依序做ON動作，同時使位置檢測訊號輸出部31的訊號輸出開關32X1、32X2......32XN依序做ON動作時(這一輪的ON動作稱為檢測掃描)，在訊號輸入開關22YM的ON動作狀態下，於訊號輸出開關32Xn的ON動作時會得到檢測輸出，其會從靜電耦合訊號輸出電 路36被輸出成為當座標(Xn、Ym)位置被指尖5觸碰操作時之靜電耦合檢測訊號S13，最終會被送出成為位置檢測訊號輸出部31的指定位置檢測訊號S14。
如此，當使用者以指尖5對於和XY座標形成部11的任意位置相對應之透明保護玻璃板構件3E的操作輸入面做指觸碰操作時，能夠使該被指定之位置中的靜電場變更為和使用者的手指相對應之靜電值，藉此，其會在位置檢測訊號輸出部31的靜電耦合訊號輸出電路36的輸出端產生代表該靜電容量變化之變化，如此一來便能得到靜電容量方式的位置檢測動作模式中之指定位置檢測訊號S14。
如此，本實施形態之XY座標形成部11，具有中間夾著絕緣層材3B而使X軸線板部3C及Y軸線板部3D層積而成之單體構成構造，同時受到由X軸線模式切換部12及Y軸線模式切換部13所構成之模式切換部14做切換控制，而能夠進行依電磁感應方式之筆觸碰操作的指定位置檢測動作，還能夠進行依靜電耦合方式之指觸碰操作的指定位置檢測動作。
(6)指定位置檢測模式切換處理手續
(6-1)待命檢測動作模式
圖1中，當使用者對中央處理單元2指定了指定位置檢測模式時，中央處理單元2會對指定位置檢測控制部7執行圖9所示之指定位置檢測模式切換處理手續RT1，藉 此，指定位置檢測控制部7對驅動訊號輸入部21及位置檢測訊號輸出部31給予以位置檢測模式的切換動作為內容之指定位置檢測模式指令訊號S18及S19，藉此先於步驟SP1中執行待命檢測動作模式處理。
當進入指定位置檢測模式切換處理手續RT1時，中央處理單元2對XY座標形成部11所做的動作，基本上例如是依據圖10(A)~(G)這樣表示成為待命檢測動作模式時的訊號波形之動作條件，來執行各檢測動作模式。
藉由執行該待命檢測動作模式處理，中央處理單元2會整備好指定位置檢測部4能夠對其後使用者進行之檢測模式做反應動作之動作條件。
亦即，中央處理單元2，如圖10(A)所示，會設定用來執行被指定之檢測模式的檢測模式期間(此情形下是準備好開始檢測動作之待命檢測模式期間T1)，針對該檢測模式期間，將基準時脈訊號CL(圖10(D))的1周期份，規定成為僅執行1次被指定之檢測動作(圖10(C))的基準動作期間t1，並將切換訊號S21(圖10(E))切換成靜電耦合切換位準L1或電磁感應切換位準L2(因應使用者指定之檢測模式)，且因應從位置檢測訊號輸出部31實際得到的指定位置檢測訊號S14來生成指觸碰檢測輸出S23(圖10(F))(於靜電耦合檢測模式時獲得)或筆觸碰檢測輸出S24(圖10(G))(於電磁感應檢測模式時獲得)。
藉此，中央處理單元2，在圖10(A)~(F)所示條件下，將XY座標形成部11逐一控制使其依圖5以上述電磁感應方式動作成為XY座標系，或依圖7及圖8以上述靜電耦合方式動作成為XY座標系(圖10(C))。
圖10(A)~(G)的動作條件，係表示有關待命檢測動作模式處理SP1的情形下的控制，中央處理單元2，在待命檢測模式期間T1(圖10(A))之間，於基準時脈訊號CL(圖10(D))的每1周期份的基準動作期間t1(圖10(B))，使XY座標形成部11做待命動作(圖10(C))。
在此待命動作時，切換訊號S21是被設定為靜電耦合切換位準L1，但XY座標形成部11並非以靜電耦合方式的XY座標系也非以電磁感應方式的XY座標系來動作，故指觸碰檢測輸出S23(圖10(F))及筆觸碰檢測輸出S24(圖10(G))任一者均未揚升(rise)至有效的訊號位準。
圖9的待命檢測動作模式處理SP1中，若使用者對中央處理單元2指定動作模式，則中央處理單元2會判斷處理步驟SP2中被指定之動作模式為何。
本實施形態的情形下，中央處理單元2所能夠控制XY座標形成部11之動作模式，係設定有作為固定檢測模式之「靜電耦合固定檢測模式」及「電磁感應固定檢測模式」、作為優先檢測模式之「待機動作模式」、 「靜電耦合優先檢測動作模式」及「電磁感應優先檢測動作模式」、以及「無優先檢測模式」、以及「其他檢測模式」。
(6-2)固定檢測模式
中央處理單元2，若判斷圖9的處理步驟SP2中指定了固定檢測模式，則進入固定檢測模式處理手續SP3，如圖11所示，首先於步驟SP11，判斷被指定之固定檢測模式是否為靜電耦合固定檢測模式，當獲得肯定結果時則移至步驟SP12執行靜電耦合固定檢測處理手續後，回到圖9的主程序(main routine)的步驟SP3，結束該指定位置檢測模式切換處理手續RT1。
該靜電耦合固定檢測處理手續SP12，如圖12(A)所示，係於靜電耦合固定檢測動作模式期間T2中，於圖12(D)所示基準時脈訊號CL的每1周期份的基準動作期間t1(圖12(B))，連續性地(將其稱為固定檢測動作)執行圖12(C)所示之靜電耦合檢測動作。
該靜電耦合檢測動作，依圖7及圖8如上述般，針對靜電耦合方式的XY座標系的X軸線體X1~XN及Y軸線體Y1~YM間之雜散靜電容量CZ，當使用者的指尖5對座標位置(Xn、Ym)做觸碰動作時，便如圖12(F)所示，進行獲得基於靜電耦合檢測訊號S13之指觸碰檢測輸出S23這樣的檢測動作。
該靜電耦合固定檢測動作模式期間T2中，中央處理單元2如圖12(E)所示，因應使用者的動作模式 指定來生成被設定為靜電耦合切換位準L1或電磁感應切換位準L2其中一者之切換訊號S21，當切換訊號S21位於靜電耦合切換位準L1時使XY座標形成部11做靜電耦合檢測動作，藉此，當使用者以指尖5做指尖觸碰動作時，依據從靜電耦合訊號輸出電路36送出之靜電耦合檢測訊號S13，來形成圖12(F)所示般之指觸碰檢測輸出S23。
此時，XY座標形成部11不做電磁感應檢測動作，藉此，中央處理單元2如圖12(G)所示，成為無法從電磁感應訊號輸出電路34獲得電磁感應檢測訊號S11之狀態，故筆觸碰檢測輸出S24不會形成。
如此，藉由中央處理單元2執行靜電耦合固定檢測處理手續SP12，當使用者對XY座標形成部11做指尖觸碰動作時能夠獲得基於靜電耦合檢測訊號S13之指觸碰檢測輸出S23，反之，當未做該指尖觸碰時，則無法獲得有效訊號位準的指觸碰檢測輸出S23。
像這樣，中央處理單元2，在使用者未中止靜電耦合固定檢測模式的指定操作之前會持續形成指觸碰檢測輸出S23，反之，當中止操作時則回到步驟SP4結束該指定位置檢測模式切換處理手續RT1。
另一方面，若在圖11的步驟SP11獲得否定結果，則此情況意指使用者對中央處理單元2進行之固定檢測模式的固定動作係為電磁感應固定檢測模式，此時中央處理單元2會移至步驟SP14執行電磁感應固定檢測處 理手續。
該電磁感應固定檢測處理手續，如和圖12的相對應部分標記同一符號之圖13所示，於電磁感應固定檢測動作模式期間T3(圖13(A))的每個基準動作期間t1(圖13(B))，會連續性地(將其稱為固定檢測動作)針對圖5的電磁感應方式的XY座標系如上述般，對XY座標形成部11執行藉由位置指定具6進行的筆觸碰動作所致之電磁感應檢測動作(圖13(C))。
在該電磁感應固定檢測動作時，切換訊號S21會被切換為電磁感應切換位準L2，且一旦有使用者對XY座標形成部11所做之筆觸碰動作，則如圖13(G)所示，會形成基於電磁感應檢測訊號S11之筆觸碰檢測輸出S24，反之如圖13(F)所示，不會形成基於靜電耦合檢測訊號S13之指觸碰檢測輸出S23。
該電磁感應固定檢測動作，在使用者對中央處理單元2中止電磁感應固定檢測模式的指定之前均會持續，當使用者中止該操作時，中央處理單元2會從步驟SP4返回圖9的主程序，結束該指定位置檢測模式切換處理手續RT1。
(6-3)待機動作處理動作
中央處理單元2，於圖9的指定位置檢測模式切換處理手續RT1的步驟SP2中，當判斷使用者指定了優先檢測模式時，會進入圖14所示之優先檢測模式處理手續SP5。
此時，中央處理單元2，首先於待機動作處理手續SP21，針對圖15(A)之待機動作模式期間T4，於圖15(B)的每個基準動作期間t1，如圖15(C)所示，連續性地反覆執行規定次數q次之待機動作，且於與下一q次的待機動作1~q之間之靜電耦合動作期間T21及電磁感應動作期間T22，依序各執行1次靜電耦合檢測動作及電磁感應檢測動作。
該q次之待機動作時，中央處理單元2，會將切換訊號S41設定為靜電耦合切換位準L1(圖15(E))、同時使XY座標形成部11非以靜電耦合方式的XY座標系也非以電磁感應方式的XY座標系動作。
此處，使用者指定了優先檢測模式，意指下述兩者的其中一者，即，使用者欲以指觸碰操作模式來使用XY座標形成部11，或欲以筆觸碰操作模式使用。
一般而言，運用觸控面板之輸入操作機器中，指觸碰操作的機會較多，設想藉此能夠簡便地做資訊輸入操作，故希望使XY座標形成部11作為靜電耦合方式的XY座標系來檢測指定位置之檢測頻率，是選定為隨時均能檢測之狀態。
另一方面，一般而言，使用電子筆等位置指定具做筆觸碰操作的情形，係加入手寫筆記或繪畫這樣的特殊機會下運用的情形較多，此時需講求響應性良好。
是故，使XY座標形成部11做筆觸碰操作時之指定位置的檢測頻率，需講求在近乎被操作之時間點的 時間點轉移至檢測動作，且當位置指定具6離開觸控操作面的情形下，希望一定時間內以電磁感應方式的XY座標系持續做檢測動作。
為了適當地應對這些條件，本實施形態中，是設計成對於使XY座標形成部11以靜電耦合方式及以電磁感應方式動作之檢測頻率，分別賦予優先度(其頻率比率選定為1對10~1對100左右)，且當使用者指定了優先檢測模式的情形下，在不進行靜電耦合優先處理及電磁感應優先處理之待機動作1~q的相互之間，各執行1次靜電耦合檢測動作及電磁感應檢測動作，藉此確認使用者是指定哪一種檢測動作(圖15(B))。
此時，切換訊號S41如圖15(E)所示，於電磁感應動作期間T22係切換為電磁感應切換位準L2側，反之，於靜電耦合動作期間T21及q次的待機動作期間之間則維持為靜電耦合檢測位準L1側。
在此狀態下，中央處理單元2，會執行圖14的檢測輸出的確認處理步驟SP22，藉此於電磁感應動作期間T22及靜電耦合動作期間T21(圖15(A))，確認是否獲得圖15(G)及(F)所示之筆觸碰檢測輸出S24或指觸碰檢測輸出S23。
該步驟SP22中若獲得否定結果，則中央處理單元2回到上述步驟SP21反覆執行待機動作處理手續(圖15(C))。
在這樣的待機動作模式期間T4中，於圖16 (A)所示之靜電耦合動作期間T31若得到如圖16(F)所示之指觸碰檢測輸出S23，則中央處理單元2會從步驟SP22移至步驟SP23，執行靜電耦合優先處理手續，藉此移轉至靜電耦合優先檢測模式期間T5(圖16(A))。
另一方面，於圖17(A)所示之電磁感應動作期間T42，若得到圖17(G)所示之筆觸碰檢測輸出S24，則中央處理單元2會從步驟SP22移至步驟SP24執行電磁感應優先處理手續，藉此移轉至電磁感應優先檢測模式期間T6(圖17(A))。
像這樣，中央處理單元2，在使XY座標形成部11做待機動作的狀態下，當使用者對XY座標形成部11做指觸碰操作或筆觸碰操作時，便因應此而使XY座標形成部11移轉至靜電耦合優先檢測動作狀態或電磁感應優先檢測動作狀態。
(6-4)靜電耦合優先處理手續
中央處理單元2若進入靜電耦合優先處理手續SP23，則如圖18所示，首先於步驟SP31中將XY座標形成部11切換成依圖7及圖8成為上述靜電耦合方式的XY座標系之動作模式後，於接下來的靜電耦合優先檢測模式期間T5(圖19(A))，於步驟SP32中執行1次座標檢測掃描後，於步驟SP33中判斷掃描次數是否完成規定之次數q次，當獲得否定結果時回到上述步驟SP32，反覆步驟SP32~SP33的掃描動作直到掃描次數完成規定次數q次(圖19(C))。
直到圖19(A)的電磁感應動作期間T53，當於步驟SP33中獲得肯定結果時，中央處理單元2於下一步驟SP34中切換至電磁感應檢測模式後(圖19(C))，於步驟SP35中執行1次電磁感應檢測模式下的座標檢測掃描。
接下來，中央處理單元2於下一步驟SP36中判斷是否有筆觸碰檢測輸出，當獲得否定結果時則回到上述步驟SP31。
如此，中央處理單元2便如圖19(C)所示，於靜電耦合優先檢測模式期間T5，持續q次的靜電耦合檢測動作後(圖19(C))，於電磁感應動作期間T53進行電磁感應檢測動作(圖19(E))，判斷是否得到筆觸碰檢測輸出S24(圖19(G))。
圖19的情形中，於電磁感應動作期間T53有指觸碰檢測輸出S23輸出(圖19(F))，但沒有筆觸碰檢測輸出S24(圖19(G))輸出，故步驟SP36中獲得否定結果，藉此，中央處理單元2會從步驟SP36回到上述步驟SP31，如此再度反覆q次的靜電耦合檢測處理。
如此，中央處理單元2每做q次的靜電耦合檢測動作才做1次的電磁感應耦合動作，藉此讓q次的靜電供電檢測頻率優先於1次的電磁感應檢測頻率，如此一來便如同操作通常的觸控面板的情形般，當必須優先地進行指觸碰檢測動作的情形下，能夠進行與之相符的檢測動作。
另一方面，於步驟SP36中若獲得肯定結果，則此情況意指，在靜電耦合優先檢測模式期間T5(圖19(A))，在接續q次的靜電檢測動作之後的電磁感應動作期間T53中，並非如圖19(G)般未得到筆觸碰檢測輸出S24，而是得到了筆觸碰檢測輸出S24，此時，中央處理單元2會從步驟SP36移至主程序(圖14)的步驟SP25，判斷是否結束該優先檢測模式處理手續SP5，當獲得否定結果時，便移至步驟SP24執行電磁感應優先處理手續。
另一方面，中央處理單元2於步驟SP25中當獲得肯定結果時，則結束該優先檢測模式處理手續SP5，於圖9的主程序的步驟SP6中結束該指定位置檢測模式切換處理手續RT1。
(6-5)電磁感應優先處理手續
中央處理單元2，於圖14中，若從步驟SP22或步驟SP25進入電磁感應優先處理手續SP24，則首先移至圖20的步驟SP41，將筆旗標(FLG)(亦稱之為「筆FLG」)設定成無效。
此處，筆旗標(FLG)，為中央處理單元2用來判斷於電磁感應檢測動作時使用者進行之筆觸碰動作的有效性之旗標，表示中央處理單元2於該筆觸碰動作時筆觸碰檢測輸出S24(圖21(G))是否有效。
鑑此，當進入電磁感應優先處理手續SP24時，中央處理單元2於步驟SP41中首先將該筆FLG設定 成無效，藉此，中央處理單元2當進入電磁感應優先處理手續SP24時，會藉由筆旗標(FLG)來表示在此之前沒有筆觸碰動作。
接下來，中央處理單元2於步驟SP42中，將XY座標形成部11切換成依圖5使其動作成為上述電磁感應方式的XY座標系之狀態，於下一步驟SP43中執行座標檢測掃描。
此時的中央處理單元2的動作，如圖21(A)所示，於前次的靜電耦合優先檢測模式期間T5的電磁感應動作期間T62，當切換訊號S41從靜電耦合切換位準L1切換成電磁感應切換位準L2時，表示使用者處於未做指觸碰操作(圖21(F))而是做了筆觸碰操作之狀態，是故中央處理單元2於電磁感應動作期間T62，會成為藉由步驟SP43的處理來形成筆觸碰檢測輸出S24(圖21(G))之狀態。
藉此，當對於XY座標形成部11藉由位置指定具6做筆觸碰動作時，會變為筆觸碰檢測輸出S24(圖21(G))從位置檢測訊號輸出部31被送出至中央處理單元2之狀態。
接下來，中央處理單元2於步驟SP44中判斷是否有筆觸碰檢測輸出。
中央處理單元2，於該步驟SP44中當獲得肯定結果時，則移至步驟SP45將筆旗標(FLG)設定成有效位準並移至步驟SP46，反之，當獲得否定結果時，則 於步驟SP45X中將筆旗標(FLG)設定成無效位準後移至步驟SP46。
此處，中央處理單元2在進行步驟SP46的處理時，當實際得到依據電磁感應檢測訊號S11而生成之筆觸碰檢測輸出S24(圖21(G))時，會將筆旗標(FLG)設定成有效位準，反之，當沒有筆觸碰檢測輸出S24時，會將筆旗標(FLG)設定成無效位準。
像這樣利用筆旗標(FLG)來表示筆觸碰狀態的理由在於，筆觸碰狀態現實上並不穩定，位置指定具6也可能從XY座標形成部11的操作顯示面跳躍離開，對此，即使在這樣的狀況下，仍能讓使用者正在做筆觸碰操作這件事適當地反映在筆旗標(FLG)的有效或無效上。
中央處理單元2，於步驟SP46中判斷電磁感應檢測動作次數亦即掃描次數是否已成為規定值r次，當獲得否定結果時回到上述步驟SP43反覆座標檢測的掃描動作。
如此，中央處理單元2便如圖21所示，於電磁感應優先檢測模式期間T6(圖21(A))，在電磁感應動作期間T62當得到筆觸碰檢測輸出S24(圖21(G))時，便於步驟SP45中將筆旗標(FLG)設定成有效，藉此透過步驟SP46-SP43的迴圈來反覆座標檢測掃描動作，以執行規定次數r次之電磁檢測動作(圖21(C))。
於步驟SP46中若獲得肯定結果，則中央處理 單元2移至下一步驟SP47執行靜電優先切換查核處理。
該靜電優先切換查核處理手續SP47，為於電磁感應優先檢測模式期間T6切換至靜電耦合檢測模式時，確認其合適性之處理，中央處理單元2如圖22所示，首先於步驟SP61中將XY座標形成部11切換至電磁感應檢測模式。
接下來，中央處理單元2於步驟SP62中執行座標檢測掃描後，於步驟SP63中判斷是否有筆觸碰檢測輸出S24。
此處當獲得肯定結果時，中央處理單元2於步驟SP64中將筆旗標(FLG)設定成有效後，於步驟SP65中判斷掃描次數是否完成s次。
另一方面，於步驟SP63中當獲得否定結果時，中央處理單元2於步驟SP64X中將筆旗標(FLG)設定成無效。
如此，中央處理單元2便於步驟SP64及SP64X中將筆旗標(FLG)重新設定，以表示實際上有無依據電磁感應檢測訊號S11而生成之筆觸碰檢測輸出S24。
於步驟SP65中若獲得否定結果，則中央處理單元2回到上述步驟SP62反覆步驟SP62~SP65之處理。
如此，中央處理單元2便於圖23所示，在靜電耦合優先切換查核動作期間T7(圖23(A))，執行s 次的電磁感應檢測動作(圖23(C))。
該靜電耦合優先切換查核動作期間T7中，切換訊號S41切換至電磁感應切換位準L2側(圖23(E))，是故指觸碰檢測輸出S23(圖23(F))處於沒有檢測輸出之狀態，另一方面，筆觸碰檢測輸出S24(圖23(G))，於s次的電磁感應檢測動作之間可能也會無法得到檢測輸出。
這樣的狀態，藉由中央處理單元2於下一步驟SP67中將XY座標形成部11的檢測動作切換成靜電耦合檢測模式後，再於步驟SP68中執行座標檢測掃描，便能檢測靜電耦合檢測模式中有無實際的指觸碰動作。
該檢測結果，係藉由中央處理單元2於步驟SP69中判斷是否有指觸碰檢測輸出且筆旗標(FLG)為無效來予以確認。
於該步驟SP69的判斷中若中央處理單元2獲得肯定結果，則此一狀況代表實際上正在進行指觸碰動作，同時筆觸碰檢測輸出為無效之狀態(是故筆觸碰動作並未進行)，此時，中央處理單元2會從處理動作節點「2」移至電磁感應優先處理手續SP24(圖20)的處理步驟SP49，進行將XY座標形成部11切換成靜電耦合動作模式之處理。
該處理接下來會於步驟SP50中執行座標檢測掃描，藉此做檢測動作，該檢測動作係用來確認使用者是否針對XY座標形成部11正在進行指觸碰動作，中央處 理單元2於下一步驟SP51中，判斷是否有觸碰檢測輸出且筆旗標(FLG)為無效。
此處若獲得肯定結果，則此一狀況意指實際上使用者正在對XY座標形成部11於靜電耦合動作模式下做指觸碰動作，此時，中央處理單元2會返回優先檢測模式處理手續SP5(圖14)的處理步驟SP26。
該處理步驟SP26中，中央處理單元2會判斷使用者是否已指定結束該優先檢測處理模式，當獲得否定結果時，則移至上述靜電耦合優先處理手續SP23，將XY座標形成部11從電磁感應優先處理動作狀態切換成靜電耦合優先處理手續動作狀態。
另一方面，於步驟SP51中當獲得否定結果時，則表示沒有指觸碰檢測輸出，或是筆旗標(FLG)並非位於無效位準，是故使用者實際上正在對XY座標形成部11進行筆觸碰動作，此時，中央處理單元2會回到上述處理步驟SP42再度依處理步驟SP42~SP46移轉至使XY座標形成部11以電磁感應檢測模式動作之狀態。
像這樣，中央處理單元2執行電磁感應優先處理手續SP24的步驟SP42~SP46之處理後，再執行從靜電優先切換查核處理手續SP47至步驟SP51之處理，藉此確認靜電耦合優先檢測動作是否必要，若為必要則移轉至靜電耦合優先處理，反之若不必要則反覆電磁感應優先處理。
其結果，能夠確切地應對使用者對於XY座標 形成部11之觸控操作是指觸碰操作還是筆觸碰操作，而使XY座標形成部11以靜電耦合方式的XY座標系或以電磁感應方式的XY座標系之操作輸入手段來作用。
(6-6)無優先處理手續
中央處理單元2，於圖9的處理步驟SP2中，若檢測出指定了無優先檢測模式，則於步驟SP7中執行無優先檢測模式處理手續，於步驟SP8中結束該指定位置檢測模式切換處理手續RT1。
此時，中央處理單元2會於每個單位處理時間，交互地執行靜電耦合處理手續及電磁感應處理手續，各單位處理時間的檢測頻率則訂為針對各處理手續事先決定好的值。
單位處理時間的檢測頻率，例如針對靜電耦合處理手續訂為10〔次/秒〕，且針對電磁感應處理手續訂為50〔次/秒〕。
如此，按照無優先檢測模式處理手續，例如當使用者對於XY座標形成部11的顯示操作面一面以手抵著一面以電子筆做輸入操作的情形下，能夠以規定之優先度確實地得到依靜電耦合方式之指定位置檢測動作結果、及依電磁感應方式之指定位置檢測動作結果。
(6-7)其他檢測模式處理手續
當使用者指定了圖9的「固定檢測」動作模式、「優先檢測」動作模式及「無優先檢測」動作模式以外之檢測動作模式的情形下，中央處理單元2會於處理步驟SP9中 該其他檢測模式處理手續後，於步驟SP10中結束該指定位置檢測模式切換處理手續RT1。
如此一來，針對使用者對於XY座標形成部11進行之輸入操作，便能不多不少地得到指定位置檢測動作結果。
(6-8)按照上述指定位置檢測模式切換處理手續，係將對於XY座標形成部11之靜電耦合檢測動作及電磁感應檢測動作，訂為靜電耦合固定檢測動作、電磁感應固定檢測動作、待機動作處理動作、靜電耦合優先處理動作及電磁感應優先處理動作，並能夠藉由X軸線模式切換部12及Y軸線模式切換部13的切換動作，來因應使用者對中央處理單元2的指定輸入方法而執行，藉此，便能夠實現下述這樣的指定位置檢測裝置，即，藉由中間夾著絕緣層材3B而層積X軸線板部3C及Y軸線板部3D而成之簡易構造，能讓使用者的指觸碰操作或筆觸碰操作確切地進行符合使用者要求之對應動作。
(7)其他實施形態
(7-1)上述實施形態中，係設計成對於XY座標形成部11的Y軸線板部3D設置驅動訊號輸入部21，且對於X軸線板部3C設置位置檢測訊號輸出部31，但即使將其相互交換，而設計成對於Y軸線板部3D設置位置檢測訊號輸出部31，且對於X軸線板部3C設置驅動訊號輸入部21，仍能獲得和上述情形同樣之作用效果。
(7-2)上述實施形態中，係敍述了在X軸線板部3C及Y軸線板部3D使用線狀的線體之情形，但作為線體，即使運用帶狀之物，仍能獲得和上述情形同樣之效果。此外，作為線體，即使運用將細線以格子狀予以組合成之帶狀物，仍能獲得和上述情形同樣之效果。
(7-3)上述實施形態中，作為筆觸碰型的位置指定具6，係敍述了使用感應線圈6A及共振電容6B的串聯共振電路之情形，但作為位置指定具6亦可運用各種構造之物，總而言之，凡是運用當對輸入用環形線圈LI1~LIK供給輸入發訊號時，使該輸入訊號透過位置指定具6而在和輸入用環形線圈LI1~LIK交叉之輸出用環形線圈LO1~LOJ發生感應電壓這樣的構造者均可，即使像這樣，仍能獲得和上述情形同樣之作用效果。
(7-4)上述實施形態之情形中，作為構成圖5的電磁感應方式的XY座標系之XY座標形成部11，係設計成在N條的X軸線體X1~XN及M條的Y軸線體Y1~YM當中，藉由中間隔著4條線體之2條線體，來形成輸出用環形線圈LO1~LOJ及輸入用環形線圈LI1~LIK，但中間相隔的線體的條數並不限於4條，即使為0條~3條、或5條以上，仍能獲得和上述情形同樣之效果。
產業利用性
本發明能夠利用於對具有平板顯示面之資訊 處理裝置輸入觸碰輸入訊號之情形。
3C‧‧‧X軸線板部
3D‧‧‧Y軸線板部
5‧‧‧指尖
6‧‧‧位置指定具
6A‧‧‧感應線圈
6B‧‧‧共振電容
11‧‧‧XY座標形成部
12‧‧‧X線模式切換部
13‧‧‧Y軸線模式切換部
21‧‧‧驅動訊號輸入部
22Y1~22YM‧‧‧訊號輸入開關
23‧‧‧共通訊號線
24‧‧‧輸入驅動脈衝發生電路
24A‧‧‧驅動脈衝發生電路
24B‧‧‧放大電路
25‧‧‧共通訊號線
31‧‧‧位置檢測訊號輸出部
32X(N-5)‧‧‧訊號輸入開關
32X1~32XN‧‧‧訊號輸出開關
33‧‧‧共通訊號線
34‧‧‧電磁感應訊號輸出電路
35‧‧‧共通訊號線
36‧‧‧靜電耦合訊號輸出電路
37‧‧‧同步檢波電路
50‧‧‧衰減電路
S4‧‧‧驅動脈衝訊號
S11‧‧‧電磁感應檢測訊號
S12‧‧‧指定位置檢測輸出訊號
S13‧‧‧相位訊號
S14‧‧‧指定位置檢測訊號
SC1~SC2‧‧‧輸出切換開關
SR1~SR4、ST1~ST3‧‧‧模式切換開關
SX1~SX(N-5)、SY1~SY(N-5)‧‧‧模式選擇開關
X1~XN‧‧‧X軸線體
Y1~YM‧‧‧Y軸線體

Claims (12)

  1. 一種指定位置檢測裝置，其特徵為，具備：XY座標形成部，具有使由複數個線體所構成之X軸線體及由複數個線體所構成之Y軸線體互相交叉之構造；驅動訊號輸入部，設於上述X軸線體及上述Y軸線體的其中一方的一端側，輸入驅動輸入訊號；位置檢測訊號輸出部，設於上述X軸線體及上述Y軸線體的其中另一方的另一端側，當位置指定手段指定了上述XY座標形成部的XY座標位置時，輸出和該指定的座標位置相對應之位置檢測訊號；第1模式切換部，設於上述X軸線體及上述Y軸線體的其中一方的未設置上述驅動訊號輸入部之另一端側；及第2模式切換部，設於上述X軸線體及上述Y軸線體的其中另一方的未設置上述位置檢測訊號輸出部之另一端側；上述驅動訊號輸入部、上述位置檢測訊號輸出部、上述第1模式切換部及上述第2模式切換部，係針對上述XY座標形成部令其做靜電耦合優先檢測動作，藉此，對於做指定位置檢測動作所必要之每個單位時間，使被設定成能夠在靜電耦合檢測模式下做指觸碰輸入操作之動作狀態的期間的比例，相對於以電磁感應檢測模式做筆觸碰輸入操作而言更大。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之指定位置檢測裝置， 其中，上述XY座標形成部，具有配設上述X軸線體而成之X軸線板部；及配設上述Y軸線體而成之Y軸線板部；而具有將上述X軸線板部及上述Y軸線板部夾著絕緣層材予以層積之構造。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之指定位置檢測裝置，其中，上述驅動訊號輸入部，從連接之線體的一端當中依序選擇2條來輸入上述驅動輸入訊號，且上述第1模式切換部將該被依序選擇之上述2條線體的另一端間分別予以連接，藉此分別以該2條線體來形成輸入訊號輸入用的環形線圈，上述位置檢測訊號輸出部從連接之線體當中依序選擇2條來輸出上述位置檢測訊號，且上述第2模式切換部將該被選擇之上述2條線體的另一端予以連接，藉此以該2條線體來形成位置檢測訊號輸出用的環形線圈，當筆觸碰型的上述位置指定手段指定了上述XY座標形成部的XY座標位置時，將從上述形成之輸入訊號輸入用的環形線圈輸入的輸入訊號，透過上述位置指定手段傳遞給上述位置檢測訊號輸出用的環形線圈，藉此從上述位置檢測訊號輸出部輸出成為電磁感應檢測模式的筆觸碰動作檢測輸出。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之指定位置檢測裝置， 其中，在上述第1及第2模式切換部不將上述線體間予以連接之動作狀態下，上述驅動訊號輸入部對上述連接之線體的一端依序輸入上述驅動輸入訊號，且當使用者的指尖作為上述位置指定手段而指定了上述XY座標形成部的XY座標位置時，將從上述驅動訊號輸入部輸入並藉由上述使用者的指尖而一面受到在上述線體間的雜散電容產生的變化一面被傳遞之上述驅動輸入訊號，從上述位置檢測訊號輸出部輸出成為靜電耦合檢測模式的指觸碰動作檢測輸出。
  5. 一種指定位置檢測裝置，其特徵為，具備：XY座標形成部，具有使由複數個線體所構成之X軸線體及由複數個線體所構成之Y軸線體互相交叉之構造；驅動訊號輸入部，設於上述X軸線體及上述Y軸線體的其中一方的一端側，輸入驅動輸入訊號；位置檢測訊號輸出部，設於上述X軸線體及上述Y軸線體的其中另一方的另一端側，當位置指定手段指定了上述XY座標形成部的XY座標位置時，輸出和該指定的座標位置相對應之位置檢測訊號；第1模式切換部，設於上述X軸線體及上述Y軸線體的其中一方的未設置上述驅動訊號輸入部之另一端側；及第2模式切換部，設於上述X軸線體及上述Y軸線體的其中另一方的未設置上述位置檢測訊號輸出部之另一 端側；上述驅動訊號輸入部、上述位置檢測訊號輸出部、上述第1模式切換部及上述第2模式切換部，係針對上述XY座標形成部令其做電磁感應優先動作，藉此，對於做指定位置檢測動作所必要之每個單位時間，使被設定成能夠在電磁感應檢測模式下做筆觸碰輸入操作之動作狀態的期間的比例，相對於以靜電耦合檢測模式做指觸碰輸入操作而言更大。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之指定位置檢測裝置，其中，上述XY座標形成部，具有配設上述X軸線體而成之X軸線板部；及配設上述Y軸線體而成之Y軸線板部；而具有將上述X軸線板部及上述Y軸線板部夾著絕緣層材予以層積之構造。
  7. 如申請專利範圍第5項所述之指定位置檢測裝置，其中，上述驅動訊號輸入部，從連接之線體的一端當中依序選擇2條來輸入上述驅動輸入訊號，且上述第1模式切換部將該被依序選擇之上述2條線體的另一端間分別予以連接，藉此分別以該2條線體來形成輸入訊號輸入用的環形線圈，上述位置檢測訊號輸出部從連接之線體當中依序選擇2條來輸出上述位置檢測訊號，且上述第2模式切換部將 該被選擇之上述2條線體的另一端予以連接，藉此以該2條線體來形成位置檢測訊號輸出用的環形線圈，當筆觸碰型的上述位置指定手段指定了上述XY座標形成部的XY座標位置時，將從上述形成之輸入訊號輸入用的環形線圈輸入的輸入訊號，透過上述位置指定手段傳遞給上述位置檢測訊號輸出用的環形線圈，藉此從上述位置檢測訊號輸出部輸出成為電磁感應檢測模式的筆觸碰動作檢測輸出。
  8. 如申請專利範圍第5項所述之指定位置檢測裝置，其中，在上述第1及第2模式切換部不將上述線體間予以連接之動作狀態下，上述驅動訊號輸入部對上述連接之線體的一端依序輸入上述驅動輸入訊號，且當使用者的指尖作為上述位置指定手段而指定了上述XY座標形成部的XY座標位置時，將從上述驅動訊號輸入部輸入並藉由上述使用者的指尖而一面受到在上述線體間的雜散電容產生的變化一面被傳遞之上述驅動輸入訊號，從上述位置檢測訊號輸出部輸出成為靜電耦合檢測模式的指觸碰動作檢測輸出。
  9. 一種指定位置檢測裝置，其特徵為，具備：XY座標形成部，具有使由複數個線體所構成之X軸線體及由複數個線體所構成之Y軸線體互相交叉之構造；驅動訊號輸入部，設於上述X軸線體及上述Y軸線體的其中一方的一端側，輸入驅動輸入訊號； 位置檢測訊號輸出部，設於上述X軸線體及上述Y軸線體的其中另一方的另一端側，當位置指定手段指定了上述XY座標形成部的XY座標位置時，輸出和該指定的座標位置相對應之位置檢測訊號；第1模式切換部，設於上述X軸線體及上述Y軸線體的其中一方的未設置上述驅動訊號輸入部之另一端側；及第2模式切換部，設於上述X軸線體及上述Y軸線體的其中另一方的未設置上述位置檢測訊號輸出部之另一端側；上述驅動訊號輸入部、上述位置檢測訊號輸出部、上述第1模式切換部及上述第2模式切換部，在開始指定位置檢測動作時，會執行待機動作，該待機動作係檢測並確認使用者是做有關靜電耦合檢測之指定輸入還是有關電磁感應檢測之指定輸入，該待機動作後，因應該確認結果來執行靜電耦合優先檢測動作或電磁感應優先檢測動作。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之指定位置檢測裝置，其中，上述XY座標形成部，具有配設上述X軸線體而成之X軸線板部；及配設上述Y軸線體而成之Y軸線板部；而具有將上述X軸線板部及上述Y軸線板部夾著絕緣層材予以層積之構造。
  11. 如申請專利範圍第9項所述之指定位置檢測裝 置，其中，上述驅動訊號輸入部，從連接之線體的一端當中依序選擇2條來輸入上述驅動輸入訊號，且上述第1模式切換部將該被依序選擇之上述2條線體的另一端間分別予以連接，藉此分別以該2條線體來形成輸入訊號輸入用的環形線圈，上述位置檢測訊號輸出部從連接之線體當中依序選擇2條來輸出上述位置檢測訊號，且上述第2模式切換部將該被選擇之上述2條線體的另一端予以連接，藉此以該2條線體來形成位置檢測訊號輸出用的環形線圈，當筆觸碰型的上述位置指定手段指定了上述XY座標形成部的XY座標位置時，將從上述形成之輸入訊號輸入用的環形線圈輸入的輸入訊號，透過上述位置指定手段傳遞給上述位置檢測訊號輸出用的環形線圈，藉此從上述位置檢測訊號輸出部輸出成為電磁感應檢測模式的筆觸碰動作檢測輸出。
  12. 如申請專利範圍第9項所述之指定位置檢測裝置，其中，在上述第1及第2模式切換部不將上述線體間予以連接之動作狀態下，上述驅動訊號輸入部對上述連接之線體的一端依序輸入上述驅動輸入訊號，且當使用者的指尖作為上述位置指定手段而指定了上述XY座標形成部的XY座標位置時，將從上述驅動訊號輸入部輸入並藉由上述使用者的指尖而一面受到在上述線體間的雜散電容產生的變 化一面被傳遞之上述驅動輸入訊號，從上述位置檢測訊號輸出部輸出成為靜電耦合檢測模式的指觸碰動作檢測輸出。
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