TW201405146A - 絕緣檢查方法及絕緣檢查裝置 - Google Patents

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Jun Kasai
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards

Abstract

本發明的課題是在於提供一種不受介於接頭與配線圖案之間的接觸電阻的影響,可檢測出正確的瞬間放電不良之絕緣檢查方法及絕緣檢查裝置。其解決手段,係經由被壓接在預先被設定於配線圖案上的檢查點之導電性的接頭來進行電氣訊號的發送/接收,進行形成有複數的配線圖案之基板的絕緣檢查的絕緣檢查方法,其特徵為:從複數的配線圖案選出成為檢查對象的一個配線圖案作為第一檢查部,且以成為該第一檢查部以外的檢查對象的所有配線圖案作為第二檢查部選出,為了在第一檢查部與第二檢查部之間供給用以進行絕緣檢查的電力,而經由與第一檢查部連接的接頭來供給該電力,為了檢測出第一檢查部與第二檢查部之間的電壓,而與第一檢查部連接,且經由與用以供給電力的接頭不同的接頭來檢測出該電壓,根據電力的檢測結果來判定第一檢查部與第二檢查部間的絕緣狀態。

Description

絕緣檢查方法及絕緣檢查裝置
本發明是有關形成有複數的配線之基板的絕緣檢查方法及其絕緣檢查裝置,特別是不受介於接頭與配線圖案之間的接觸電阻的影響,可檢測出正確的瞬間放電不良之絕緣檢查方法及絕緣檢查裝置。
以往,具有複數的配線圖案之基板的絕緣檢查是藉由進行配線圖案間的絕緣狀態的良否(是否確保充分的絕緣性)的判定,來判定此基板是否為良品或不良品。
如此的絕緣檢查裝置是在成為檢查對象的2個配線圖案間施加比較高的電壓(例如200V),藉此算出配線圖案間的電阻值,根據此電阻值來判定絕緣狀態的良否。
本發明者是例如提案引證1所記載的絕緣檢查裝置,作為如此的絕緣檢查裝置。此絕緣檢查裝置是在絕緣檢查中即使在配線圖案間發生瞬間放電(spark)時,還是可檢測出此瞬間放電來正確地檢測出配線圖案間 的不良。
然而,隨著基板微細化及複雜化,配線圖案本身的微細化或複雜化跟進,變得難以進行配線圖案間的絕緣狀態的良否的判定。例如,引證1的絕緣檢查方法是使供給用以實施絕緣檢查的電壓施加的電壓源2與用以檢測出瞬間放電的電壓計3經由共通的探針來進行配線圖案的導通接觸。因此,會產生探針與配線圖案的接觸電阻,因為此接觸電阻而發生無法正確地檢測出配線圖案間的電壓之情況。
更具體而言,如上述般,配線圖案間的檢查電壓會經由探針來供給,但在檢查電壓被供給的過程中在接觸電阻也被施加此檢查電壓,接觸電阻值會受此影響而變化。因此,接觸電阻值會形成檢查電壓供給前與檢查電壓供給時不同,電壓計測定其變化,特別是接觸電阻值變小時,檢測出與瞬間放電同樣的電壓變化,而有判斷成擬似不良的問題。
[專利文獻1]日本特許第3546046號
被要求提案一種如上述般,在配線圖案間的絕緣檢查時,無檢測出擬似瞬間放電,來正確地檢測出瞬間放電不良之基板檢查方法及基板檢查裝置。
請求項1記載的發明,係經由被壓接在預先被設定於配線圖案上的檢查點之導電性的接頭來進行電氣訊號的發送/接收,進行具有複數的配線圖案之基板的絕緣檢查的絕緣檢查裝置,其特徵係具備:選出手段,其係從前述複數的配線圖案選出成為檢查對象的一個配線圖案作為第一檢查部,且將成為該第一檢查部以外的檢查對象的所有配線圖案並列配置作為第二檢查部選出;電源手段,其係為了在前述第一檢查部與前述第二檢查部之間設定既定的電位差,而一方端子經由接頭來與前述第一檢查部導通連接,且另一方端子經由接頭來與前述第二檢查部導通連接;電壓檢測手段,其係為了測定前述第一檢查部與前述第二檢查部之間的電壓值,而一方端子經由接頭來與前述第一檢查部導通連接,且另一方端子經由接頭來與前述第二檢查部導通連接;及判定手段,其係根據前述電壓檢測手段的檢測結果來判定前述第一檢查部與前述第二檢查部之間的絕緣狀態的良否,與前述電源手段的一方端子導通連接的接頭、及與前述電壓檢測手段的一方端子導通連接的接頭為不同的接頭。
請求項2記載的發明,係於請求項1記載的絕緣檢查裝置中,利用與前述電源手段的一方端子導通連接的接頭、及與前述電壓檢測手段的一方端子導通連接的接頭,來實施前述第一檢查部的導通檢查。
請求項3記載的發明,係經由被壓接在預先被設定於配線圖案上的檢查點之導電性的接頭來進行電氣訊號的發送/接收,進行形成有複數的配線圖案之基板的絕緣檢查的絕緣檢查方法,其特徵為:從前述複數的配線圖案選出成為檢查對象的一個配線圖案作為第一檢查部,且以成為該第一檢查部以外的檢查對象的所有配線圖案作為第二檢查部選出,為了在前述第一檢查部與前述第二檢查部之間供給用以進行絕緣檢查的電力,而經由與前述第一檢查部連接的接頭來供給該電力,為了檢測出前述第一檢查部與前述第二檢查部之間的電壓,而與前述第一檢查部連接,且經由與用以供給前述電力的接頭不同的接頭來檢測出該電壓,根據前述電力的檢測結果來判定前述第一檢查部與前述第二檢查部間的絕緣狀態。
若根據請求項1及3所記載的發明,則由於利用被使用在第一檢查部與第二檢查部之間的絕緣檢查的電源供給用的接頭、及與電壓測定用的接頭不同的接頭來 實施第一檢查部及第二檢查部的絕緣狀態的檢查,因此可不受配線圖案與接頭的接觸電阻的影響來實施絕緣檢查。所以,即使為了進行絕緣檢查,在檢查對象間施加檢查電壓,接觸電阻值按照此檢查電壓的變化而變化時,還是可不影響測定系的電壓檢測手段來正確地檢測出電壓的變化。
若根據請求項2所記載的發明,則由於使第一檢查部形成分別使用實施導通檢查的二個接頭,因此可在導通檢查良好的狀態下實施絕緣檢查,可更正確地實施絕緣檢查。
1‧‧‧絕緣檢查裝置
2‧‧‧電源手段
3‧‧‧電壓檢測手段
4‧‧‧電流檢測手段
61‧‧‧選出手段
CP‧‧‧配線圖案
圖1是表示本發明的絕緣檢查裝置之一實施形態的概略構成圖。
圖2是表示本發明的絕緣檢查裝置的動作狀態之一實施形態。
圖3是表示本發明的絕緣檢查裝置的動作狀態的其他的實施形態。
一面參照附圖一面說明有關本發明的絕緣檢查裝置及絕緣檢查方法。在此申請資料中所被記載的用語「基板」並非限於印刷配線基板,例如還包括可撓性基 板、多層配線基板、零件內藏基板、液晶顯示器或電漿顯示器用的電極板及半導體封裝用的封裝基板或載膜等被施以各種配線的基板。亦即,基板包括可成為絕緣檢查對象的所有基板。
圖1是本發明的絕緣檢查裝置之一實施形態的概略構成圖。
本發明的絕緣檢查裝置1是具備電源手段2、電壓檢測手段3、電流檢測手段4、控制手段6、切換手段7、電流供給端子8、電壓檢測端子9、顯示手段10。
在圖1所示的實施形態中是顯示有本發明的絕緣檢查裝置1、及成為檢查對象之形成有配線圖案的基板CB、以及電性連接絕緣檢查裝置1與基板CB的接頭CP。接頭CP是被壓接可與預先設定的配線圖案P的檢查點導通連接,對於複數的檢查點配置有各個的接頭CP。該等接頭CP是可電性導通地連接絕緣檢查裝置1及基板CB。
圖1所示的基板CB是具有3個的配線圖案P1~P3。另外,此基板CB所具有的配線圖案是按照所被設計的基板CB來適當設定其數量及形狀。
圖1的基板CB的3個配線圖案是顯示1字狀的配線圖案P1、T字狀的配線圖案P2、及一字狀的配線圖案P3。在此圖1中是顯示有電性接觸於各配線圖案P1~P3的7個接頭CP。在圖1的實施形態中是顯示將配線圖案P1的兩端設為檢查點,將配線圖案P2的3個端點設為檢查點,且將配線圖案P3的兩端設為檢查點的狀態。另 外,在配線圖案P2及P3中,方便說明,僅顯示一個接頭CP連接至絕緣檢查裝置的狀態,其他接頭CP的連接則省略。並且,各接頭CP皆具有連接至後述的上游側電流供給端子81、下游側電流供給端子82及上游側電壓檢測端子91的構成。
電源手段2是使用以進行絕緣檢查的既定的電壓施加於成為檢查對象的配線圖案與其他的配線圖案之間(以下稱為檢查對象間)。此電源手段2例如可使用電流.控制器(Current Controller),但不是特別加以限定者,只要可使既定的電壓施加於檢查對象間者即可。使用電流.控制器時,是藉由電流.控制器的電源手段2來對既定的配線圖案供給電流,而於檢查對象間施加既定的電壓。此電源手段2所施加的電壓是例如設定於200~250V。
此電源手段2是藉由後述的開關元件SW1及開關元件SW3的動作來使既定的電壓施加於檢查對象間。在圖1中,電源手段2的上游側(正側)的一方端子(正側的端子)會藉由開關元件SW1的ON/OFF動作,經由指定的接頭CP來與指定的配線圖案導通連接。並且,電源手段2的下游側(負側)的另一方端子(負端子)會藉由開關元件SW3的ON/OFF動作,經由指定的接頭CP來與指定的配線圖案導通連接。另外,在圖1中,電源手段2的另一方端子會被接地而經由電流檢測手段4來連接至開關元件SW3,但亦可直接連接至開關元件 SW3。
電壓檢測手段3是檢測出檢查對象間的電壓。此電壓檢測手段3是例如可使用電壓計,但不是特別加以限定者,只要可檢測出檢查對象間的電壓者即可。可利用此電壓檢測手段3所檢測出的電壓值、及藉由電源手段2所供給的電流值來算出檢查對象間的電阻值。而且,可利用此電阻值來檢查檢查對象間的絕緣性。另外,依此電壓檢測手段3所檢測出的電壓值,來設定成可進行電源手段2的動作的控制。
此電壓檢測手段3是可藉由開關元件SW2及開關元件SW3的動作來測定檢查對象間的電壓值。在圖1中,電壓檢測手段3的上游側(正側)的一方端子(正側端子)會藉由開關元件SW2的ON/OFF動作,經由指定的接頭CP來與指定的配線圖案導通連接。又,電壓檢測手段3的下游側(負側)的另一方端子(負側端子)會藉由開關元件SW3的ON/OFF動作,經由指定的接頭CP來與指定的配線圖案導通連接。另外,在圖1中,電壓檢測手段3的另一方端子會被接地而經由電流檢測手段4來連接至開關元件SW3,但亦可直接連接至開關元件SW3。
選出一個的配線圖案作為第一檢查部時,對於此配線圖案,電源手段2的一方端子(正側端子)與電壓檢測手段3的一方端子(正側端子)會經由接頭來導通連接。此情況,電源手段2的一方端子是開關元件SW1會成為ON,與作為第一檢查部選出的配線圖案導通連 接。並且,電壓檢測手段3的一方端子是開關元件SW2會成為ON,與作為第一檢查部選出的配線圖案導通連接,但此時,不利用與電源手段2的一方端子導通連接的接頭,經由別的接頭來與此配線圖案導通連接。
電流檢測手段4是檢測出檢查對象間的電流。此電流檢測手段4是例如可使用電流計,但不是特別加以限定者,只要可檢測出流動於檢查對象間的電流值即可。另外,亦可依電源手段2來決定所被供給的電流值,但利用該電流檢測手段4也可檢測出檢查對象間的電流值。根據此電流檢測手段4所檢測出的電流值來算出檢查對象間的電阻值。另外,根據此被檢測出的電阻值,判定檢查對象間的絕緣狀態的良否。
電壓檢測手段3及電流檢測手段4所檢測出的電壓值或電流值是被送往後述的控制手段6。另外,此時,除了此電壓值或電流值資訊,還被賦予經過時間資訊等(作為時間序列的資訊)傳送。
電流供給端子8為了供給檢查對象間的電流,而經由接頭CP來與各配線圖案P連接。此電流供給端子8是具有:連接電源手段2的一方端子與配線圖案之上游側電流供給端子81、及連接電源手段2的另一方端子或電流檢測手段4與配線圖案P之下游側電流供給端子82。如在圖1所示般,此電流供給端子8的上游側電流供給端子81及下游側電流供給端子82是對於各個的配線圖案P設置。該等的上游側電流供給端子81及下游側電流 供給端子82是分別具有切換手段7的開關元件SW,藉由此切換手段7的開關元件SW的ON/OFF動作來設定連接狀態/未連接狀態。
另外,在圖1中,此電流供給端子8是具有靜電氣放電(electro-static discharge)保護用的電阻而配置。
電壓檢測端子9為了檢測出檢查對象間的電壓,而經由接頭CP來與各配線圖案P連接。此電壓檢測端子9是具有連接電壓檢測手段3的一方端子與配線圖案P之上游側電壓檢測端子91。另外,在圖1中雖未圖示,但實際亦可具有將電壓檢測手段3的另一方端子與配線圖案P連接之下游側電壓檢測端子。在圖1中,此電壓檢測端子9的上游側電壓檢測端子91是對於各個的配線圖案P設置。此上游側電壓檢測端子91及未圖示的下游側電壓檢測端子是與電流供給端子8同樣,分別具有切換手段7的開關元件SW,藉由此切換手段7的開關元件SW的ON/OFF動作來設定連接狀態/未連接狀態。
電流供給端子8及電壓檢測端子9是如在圖1所示般,對於導通接觸於配線圖案P的一個接頭CP配置有3個的端子,且具備有進行各端子的ON/OFF控制之3個的開關元件SW。另外,在圖1中是將控制上游側電流供給端子81的動作之開關元件設為符號SW1,將控制上游側電壓檢測端子91的動作之開關元件設為符號SW2,將控制下游側電流供給端子82的動作之開關元件設為符號SW3來顯示。
切換手段7是由導通連接至上述各接頭CP的複數個開關元件SW所構成。此切換手段7是依照來自後述的控制手段6的動作訊號,控制ON/OFF的動作。
控制手段6是選擇成為檢查對象的配線圖案P,或根據來自電源手段2之電壓檢測手段3所檢測的電壓值來檢測出瞬間放電,傳送切換手段7的動作的指示訊號。
此控制手段6是如在圖1所示般,具備選出手段61、判定手段62、記憶手段63。
記憶手段63是記憶有關於基板CB的配線圖案P的資訊、關於此配線圖案P的檢查點的資訊、所被檢測出的檢測值的資訊。在此記憶手段63中儲存有絕緣檢查所必要的資訊,利用該等的資訊,進行絕緣檢查,且儲存所被檢測出的各檢測值。
選出手段61是從基板CB的複數的配線圖案P選擇成為檢查對象的配線圖案P,特定檢查對象的配線圖案P。此選出手段61會特定檢查對象的配線圖案P,藉此依序選出進行絕緣檢查的配線圖案。
此選出手段61所進行的檢查對象的配線圖案的選出方法是可例如預先在記憶手段63中設定有成為檢查對象的配線圖案的順序,按照此順序來選出檢查對象的配線圖案之方法。此選出方法是可採用上述那樣的方法,但只要是成為檢查對象的配線圖案可順序良好地被選出的方法即可,並無特別加以限定。
此選出手段61所進行的具體的配線圖案的選出是利用切換手段7來實施。例如,進行切換手段7的各開關元件SW的ON/OFF控制,藉此可選出成為檢查對象的配線圖案。此絕緣檢查裝置是以成為檢查對象的配線圖案能夠與上游側電流供給端子81(其係用以和電源手段2連接)連接的方式使開關元件SW1形成開啟(ON)。並且,同時,與此開關元件SW1所導通連接的接頭CP不同,而且,以能夠與和此配線圖案導通連接的其他接頭CP的上游側電壓檢測端子91連接的方式使開關元件SW91形成開啟(ON)。為此,第一檢查部的配線圖案是電源手段2的一方端子與電壓檢測手段3的一方端子會成為導通連接的狀態,但分別經由不同的接頭CP來導通連接。
另外,此時,選出手段61是選出成為第二檢查部的配線圖案群,作為此第二檢查部選出的配線圖案是開關元件SW3會被開啟(ON),電源手段2的另一方端(及電壓檢測手段3的另一方端)與電流檢測手段4串連。
例如,在圖1所示的實施形態是將配線圖案P1設為檢查對象時,選出手段61會選出連接至配線圖案P1的上游側電流供給端子81、及未與此上游側電流供給端子81導通連接的接頭及導通連接的上游側電壓檢測端子91,以使該等端子81、91的開關元件SW1及開關元件SW2能夠開啟(ON)的方式傳送促使的訊號。切換手段7會接受此訊號,藉此開關元件SW1及開關元件SW2會 動作。並且,此情況,以對應於檢查對象的配線圖案以外的配線圖案(剩下的配線圖案)之開關SW3能夠被開啟(ON)的方式傳送促使的訊號。
如上述的說明般,藉由選出手段61來從基板CB的複數個配線圖案P選出成為檢查對象的配線圖案P。在此實施形態所示的絕緣檢查裝置1的選出手段61所選出的配線圖案P是從形成於基板CB上的複數個配線圖案來選出1個的配線圖案P。亦即,在藉由選出手段61所選出的1個配線圖案P與剩下的所有配線圖案P之間實施絕緣檢查。如此,可藉由選出配線圖案P來有效率地處理絕緣檢查。
判定手段62是接受來自電壓檢測手段3的電壓值資訊,根據此電壓值資訊來判定瞬間放電的發生。此判定手段62所進行的瞬間放電的判定方法是從藉由電源手段2來施加電壓開始到既定的時序之間,檢測出電壓值,可根據此電壓值有無因為瞬間放電而發生電壓下降來判定。
判定手段62是亦可設定成進行檢查對象間的絕緣狀態的判定。此情況,判定手段62是根據被儲存於記憶手段63之檢查對象間所被檢測出的電流值資訊及被施加的電壓值資訊來算出檢查對象間的電阻值,根據此算出結果來進行判定。此情況,判定手段62是例如先將既定的基準值資訊記憶於記憶手段63,藉由比較上述的算出結果資訊及該基準值資訊來進行檢查對象間的絕緣狀態 的判定。另外,此判定結果是被儲存於記憶手段63。
顯示手段10是顯示絕緣檢查的狀態。此顯示手段10是瞬間放電的發現會被顯示出。
以上為本發明的第一實施形態的絕緣檢查裝置1的構成的說明。
以下說明此第一實施形態的絕緣檢查裝置1的動作。
首先,成為檢查對象的基板CB的配線圖案P的資訊等會被儲存於記憶手段63。其次,基板CB會被配置於既定的檢查位置,在基板CB上所形成的配線圖案P上的檢查點配置有接頭CP。
在此,基板CB通常是實施配線圖案P的導通檢查。所謂配線圖案P的導通檢查是算出預先被設定於配線圖案P上的檢查點間的電阻值,根據此算出結果來判定此檢查點間的導通狀態的良否。基板CB是在實施預先設定的導通檢查的複數個配線圖案的檢查全部終了後,實施絕緣檢查。
一旦全部的配線圖案P的導通檢查終了,則其次開始基板CB的絕緣檢查。此情況,選出手段61會選出成為檢查對象的第一檢查部的配線圖案P。一旦選出手段61選出成為檢查對象的第一檢查部的配線圖案P,則此選出手段61會對切換手段7特定作為此檢查對象而被選出的配線圖案P的上游側電流供給端子81。並且,同時,特定未與此配線圖案P的該上游側電流供給端子 81導通連接且與此配線圖案P導通的接頭CP,特定可與此接頭CP連接的上游側電壓檢測端子91。然後,以用以使此被特定的上游側電流供給端子81及上游側電壓檢測端子91成為連接狀態的開關元件SW1、SW2能夠被開啟(ON)的方式,從選出手段61往切換手段7傳送動作訊號。此時,選出第一檢查部的配線圖案P以外的配線圖案P,作為第二檢查部,特定該等配線圖案P的開關元件SW3。然後,以該等開關元件SW3能夠被開啟(ON)的方式,從選出手段61往切換手段7傳送動作訊號。
切換手段7是一旦接受有關來自選出手段61的開關元件的ON/OFF動作的訊號,則會按照此訊號來進行開關元件SW的ON/OFF控制。
例如,配線圖案P1成為檢查對象的第一檢查部的配線圖案時,以和接頭CP(其係與對應於配線圖案P1的一端的檢查點導通連接)連接的上游側電流供給端子81能夠與配線圖案P1導通的方式選出開關元件SW1,且以和對應於配線圖案P1的另一端的檢查點導通連接的接頭CP(與上游側電流供給端子81所導通連接的接頭CP不同的接頭CP)的上游側電壓檢測端子91能夠與配線圖案P1導通的方式選出開關元件SW2。然後,此被選出的開關元件SW1及開關元件SW2會成為開啟(ON)。
並且,此時,同時被接觸於此配線圖案P1以外的配線圖案P2乃至配線圖案P3的接頭CP為了分別成為與下游側電流供給端子82連接狀態,而以各個下游側 電流供給端子82的開關元件SW3能夠成為開啟(ON)的方式選出,進行動作控制(參照圖2)。另外,在圖2中,對應於上述的配線圖案P2及配線圖案P3以外的檢查點之接頭CP皆是開關元件SW會形成關閉(OFF)。
一旦配線圖案P1被選出作為在圖2所示的第一檢查部時的絕緣檢查被實施,則其次的配線圖案P2會被選出作為第一檢查部,實施其次的絕緣檢查。此情況,配線圖案P2會被選出作為第一檢查部,配線圖案P1及配線圖案P3會被選出作為第二檢查部。
此時,因為配線圖案P2被選出作為第一檢查部,所以例如對應於被導通連接至T字狀的配線圖案P2的左端的檢查點的接頭CP之開關元件SW1會被開啟(ON),與電源手段2的一方端子導通連接。又,對應於被導通連接至T字狀的配線圖案P2的右端的檢查點的接頭CP之開關元件SW2會被開啟(ON),與電壓檢測手段3的一方端子導通連接。此情況也是電源手段2與電壓檢測手段3會分別經由不同的接頭CP來導通連接。另外,只要符合如此的條件,對應於被導通連接至T字狀的配線圖案P2的下端的檢查點的接頭CP之開關元件SW亦可被開啟(ON)控制。
一旦配線圖案P2被選出作為第一檢查部,則配線圖案P1及配線圖案P3會被選出作為第二檢查部。此時,配線圖案P1與配線圖案P3是開關元件SW3會被開啟(ON),而使對應於分別被設定的檢查點的接頭CP的 至少一個能夠與下游側電流供給端子82連接。在圖3是被連接至對應於配線圖案P1的上端的檢查點的接頭CP之開關元件SW3會被開啟(ON),被連接對應於配線圖案P3的左端的檢查點的接頭CP之開關元件SW3會被開啟(ON)。如此,第一檢查部及第二檢查部會依序被設定,全部的配線圖案P會在第一檢查部被選出而完成檢查。
若根據本發明,則一旦形成檢查對象間的第一檢查部及第二檢查部被選出,開關元件SW被設定,則絕緣檢查會被實施。此時,在接頭CP與配線圖案P是存在接觸電阻,但像本發明那樣,電源手段2的一方端子及電壓檢測手段3的一方端子被連接至成為第一檢查部的配線圖案P時,因為經由不同的接頭CP來導通連接,所以電力會從電源手段2的一方端子供給,即使接觸電阻變化時,也不會有對電壓檢測手段3造成影響的情形。因此,所欲在絕緣檢查中觀測電壓的變化來檢測出瞬間放電時,電壓檢測手段3可不受電流供給所產生的接觸電阻的影響來正確地進行電壓測定。
1‧‧‧絕緣檢查裝置
2‧‧‧電源手段
3‧‧‧電壓檢測手段
4‧‧‧電流檢測手段
6‧‧‧控制手段
7‧‧‧切換手段
8‧‧‧電流供給端子
9‧‧‧電壓檢測端子
10‧‧‧顯示手段
61‧‧‧選出手段
62‧‧‧判定手段
63‧‧‧記憶手段
81‧‧‧上游側電流供給端子
82‧‧‧下游側電流供給端子
91‧‧‧上游側電壓檢測端子
P1-P3‧‧‧配線圖案
SW1-SW3‧‧‧開關元件
CB‧‧‧基板
CP‧‧‧配線圖案

Claims (3)

  1. 一種絕緣檢查裝置,係經由被壓接在預先被設定於配線圖案上的檢查點之導電性的接頭來進行電氣訊號的發送/接收,進行具有複數的配線圖案之基板的絕緣檢查的絕緣檢查裝置,其特徵係具備:選出手段,其係從前述複數的配線圖案選出成為檢查對象的一個配線圖案作為第一檢查部,且將成為該第一檢查部以外的檢查對象的所有配線圖案並列配置作為第二檢查部選出;電源手段,其係為了在前述第一檢查部與前述第二檢查部之間設定既定的電位差,而一方端子經由接頭來與前述第一檢查部導通連接,且另一方端子經由接頭來與前述第二檢查部導通連接;電壓檢測手段,其係為了測定前述第一檢查部與前述第二檢查部之間的電壓值,而一方端子經由接頭來與前述第一檢查部導通連接,且另一方端子經由接頭來與前述第二檢查部導通連接;及判定手段,其係根據前述電壓檢測手段的檢測結果來判定前述第一檢查部與前述第二檢查部之間的絕緣狀態的良否,與前述電源手段的一方端子導通連接的接頭、及與前述電壓檢測手段的一方端子導通連接的接頭為不同的接頭。
  2. 如申請專利範圍第1項之絕緣檢查裝置,其中, 利用與前述電源手段的一方端子導通連接的接頭、及與前述電壓檢測手段的一方端子導通連接的接頭,來實施前述第一檢查部的導通檢查。
  3. 一種絕緣檢查方法,係經由被壓接在預先被設定於配線圖案上的檢查點之導電性的接頭來進行電氣訊號的發送/接收,進行形成有複數的配線圖案之基板的絕緣檢查的絕緣檢查方法,其特徵為:從前述複數的配線圖案選出成為檢查對象的一個配線圖案作為第一檢查部,且以成為該第一檢查部以外的檢查對象的所有配線圖案作為第二檢查部選出,為了在前述第一檢查部與前述第二檢查部之間供給用以進行絕緣檢查的電力,而經由與前述第一檢查部連接的接頭來供給該電力,為了檢測出前述第一檢查部與前述第二檢查部之間的電壓,而與前述第一檢查部連接,且經由與用以供給前述電力的接頭不同的接頭來檢測出該電壓,根據前述電力的檢測結果來判定前述第一檢查部與前述第二檢查部間的絕緣狀態。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6421463B2 (ja) * 2014-06-02 2018-11-14 日本電産リード株式会社 基板検査装置、及び基板検査方法
JP6592885B2 (ja) * 2014-10-08 2019-10-23 日本電産リード株式会社 基板検査方法及び基板検査装置
KR102362283B1 (ko) * 2017-12-27 2022-02-14 주식회사 경동원 디스플레이를 구비한 전자기기 및 이의 검사방법
JP2021169952A (ja) * 2020-04-15 2021-10-28 ヤマハファインテック株式会社 検査装置、及び検査方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2829296Y (zh) * 2005-09-02 2006-10-18 上海环达计算机科技有限公司 具有测试结构的电路板
JP4925042B2 (ja) * 2006-11-14 2012-04-25 日本電産リード株式会社 絶縁検査装置
JP2009264736A (ja) * 2008-04-21 2009-11-12 Nidec-Read Corp 基板検査装置
JP5496620B2 (ja) * 2009-11-25 2014-05-21 日置電機株式会社 絶縁検査装置および絶縁検査方法
CN202256446U (zh) * 2011-09-06 2012-05-30 汉柏科技有限公司 一种电子元件测试装置

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