TW201337279A - 電容偵測裝置及應用該電容偵測裝置之電容式觸控系統 - Google Patents

電容偵測裝置及應用該電容偵測裝置之電容式觸控系統 Download PDF

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Abstract

本發明所提供之電容偵測裝置連接於一待測電容，包含第一電容、第二電容、控制模組及判斷模組。該第一電容和該第二電容透過一輸入節點連接至該待測電容。該控制模組係用以提供該第一電容一第一跨壓變化，並提供該待測電容一第二跨壓變化，藉此使該第二電容產生一第三跨壓變化。該第一跨壓變化與該第二跨壓變化使自該第一電容流向該輸入節點之電荷與自該輸入節點流入該待測電容之電荷正負相同。該判斷模組係用以根據該第一電容之電容量、該第二電容之電容量、該第一跨壓變化、該第二跨壓變化及該第三跨壓變化，判斷該待測電容之電容量。

Description

電容偵測裝置及應用該電容偵測裝置之電容式觸控系統
本發明與量測技術相關，並且尤其與量測電容值的電路改良相關。
隨著科技日益進步，近年來各種電子產品的操作介面都愈來愈人性化。舉例而言，透過觸控螢幕，使用者可直接以手指或觸控筆在螢幕上操作程式、輸入訊息/文字/圖樣，省去使用鍵盤或按鍵等輸入裝置的麻煩。實際上，觸控螢幕通常是由感應面板及設置於感應面板後方的顯示器組成。電子裝置可根據使用者在感應面板上所觸碰的位置，以及當時顯示器所呈現的畫面，來判斷該次觸碰的意涵並執行相對應的操作結果。
就電容式觸控裝置而言，使用者的觸碰會影響被觸碰點的電場，進而造成相對應的電容值變化。量測電容值變化的電路之靈敏度和正確性因此至關重要。圖一(A)中的區塊100為一電容偵測電路範例。此偵測電路包含運算放大器12、焊墊(pad)14、回授電容Cfb、兩個第一開關SW1和一個第二開關SW2。焊墊14係用以將位在偵測電路100外部的待測電容Cx連接至運算放大器12。待測電容Cx位在感應面板中，會隨著使用者是否觸碰而變化。
在偵測過程的第一階段，兩個第一開關SW1被設定為通路，第二開關SW2被設定為斷路；圖一(A)中的電路等同於圖一(B)所示之電路。在這個情況下，運算放大器12的輸出端(Vout)和正負輸入端之電壓都會等於參考電壓VL。回授電容Cfb因此被放電至不存有電荷，待測電容Cx則是被充電至存有電荷Cx*VL。隨後，在偵測過程的第二階段，兩個第一開關SW1被切換為斷路，第二開關SW2被切換為通路；圖一(A)中的電路等同於圖一(C)所示者。在這個情況下，運算放大器12的正負輸入端之電壓都會變為參考電壓VH。電荷經重新分配後，輸出端的電壓可表示如下：
由於參考電壓VL、VH和回授電容Cfb的數值皆為已知，根據輸出電壓Vout即可推算出待測電容Cx的大小。若將待測電容Cx進一步拆解為未受使用者影響前即存在的背景電容Cbg及因使用者碰觸產生的電容變化量Csig之總和，式(1)可被改寫為：
實際上背景電容Cbg大致為定值。因此，主要的量測對象是電容變化量Csig。為了避免輸出電壓Vout飽和，回授電容Cfb不能被設計得太小。然而，由式(2)的最後一項可看出，回授電容Cfb愈大，量測電容變化量Csig的解析度就愈差。
為解決上述問題，本發明數個實施例提出一種新的電容偵測裝置及應用該電容偵測裝置之電容式觸控系統。藉由在回授電容之外新增一個電容來適當供應待測電容在電荷重新分配過程中需要的電荷量，根據本發明數個實施例之電容偵測裝置可克服先前技術中難以兼顧量測解析度和避免輸出電壓飽和的問題。值得注意的是，可採用原電路板上連接線與屏蔽層之間的寄生電容做為該新增電容，藉此達到節省晶片面積的效果。
根據本發明之一具體實施例為一種電容偵測裝置，連接於一待測電容，該電容偵測裝置包含一第一電容、一第二電容、一控制模組及一判斷模組。該第一電容和該第二電容透過一輸入節點連接至該待測電容。該控制模組係用以提供該第一電容一第一跨壓變化，並提供該待測電容一第二跨壓變化，藉此使該第二電容產生一第三跨壓變化。該第一跨壓變化與該第二跨壓變化使自該第一電容流向該輸入節點之電荷與自該輸入節點流入該待測電容之電荷正負相同。該判斷模組係用以根據該第一電容之電容量、該第二電容之電容量、該第一跨壓變化、該第二跨壓變化及該第三跨壓變化，判斷該待測電容之電容量。
根據本發明之另一具體實施例為一種電容式觸控系統，其中包含一顯示器、複數個感應電容、一第一電容、一第二電容、一控制模組及一判斷模組。該複數個感應電容各自對應於該顯示器上之一實體位置。該第一電容和該第二電容透過一輸入節點連接至該複數個感應電容其中之一作為一待測電容。該控制模組係用以提供該第一電容一第一跨壓變化，並提供該待測電容一第二跨壓變化，藉此使該第二電容產生一第三跨壓變化。該第一跨壓變化與該第二跨壓變化使自該第一電容流向該輸入節點之電荷與自該輸入節點流入該待測電容之電荷正負相同。該判斷模組係用以根據該第一電容之電容量、該第二電容之電容量、該第一跨壓變化、該第二跨壓變化及該第三跨壓變化，判斷該待測電容之電容量。
關於本發明數個實施例的優點與精神可以藉由以下發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。
根據本發明之一實施例為如圖二(A)所示之電容偵測裝置200，其中包含兩個電容C1~C2、五個開關SW1~SW5、運算放大器22、輸入節點24及判斷模組26。待測電容Cx透過輸入節點24連接至電容偵測裝置200。若電容偵測裝置200和待測電容Cx係位於不同封裝晶片中，輸入節點24可為一焊墊，但不以此為限。實務上，電容偵測裝置200可獨立存在，亦可被整合於其他有偵測電容量需求的系統中。
開關SW1~SW5的狀態可由一控制模組(未顯示)決定。在偵測過程的第一階段，開關SW1、SW3、SW4首先被設定為通路，而開關SW2、SW5被設定為斷路；圖二(A)中的電路等同於圖二(B)所示之電路(暫忽略判斷模組26)。在此設定下，運算放大器22的輸出端(Vout)和正負輸入端之電壓都會等於參考電壓VL。電容C2被放電至不存有電荷，電容C1被充電至存有電荷C1*VL，待測電容Cx則是被充電至存有電荷Cx*VL。
隨後，在偵測過程的第二階段，開關SW1、SW3、SW4被切換為斷路，開關SW2、SW5被切換為通路；圖二(A)中的電路等同於圖二(C)所示之電路(暫忽略判斷模組26)。在此設定下，運算放大器22的正負輸入端之電壓皆為參考電壓VH，電容C1一側的控制節點X被改接至控制電壓VS。
上述兩階段間的開關切換會導致各電容的跨壓改變，進而造成電荷在電容C1、C2、Cx間重新分配。對應於輸入節點24的電荷平衡關係可被表示為：
(VS+VL-VH)*C1+(Vout-VH)*C2=(VH-VL)*Cx。(3)
此實施例中的參考電壓VH高於VL，且控制電壓VS被設計為高於(VH-VL)。據此，由式(3)可看出，在第二階段電流係自輸入節點24流入待測電容Cx以及由自電容C1流向輸入節點24，換言之，自輸入節點24流入待測電容Cx的正電荷至少有一部分是由自電容C1流向輸入節點24的正電荷所貢獻。至於自電容C2影響所及之部分，若Vout大於VH，電流係自自電容C2流向輸入節點24，即由自電容C2流向輸入節點24的是正電荷；若Vout小於VH，電流係自輸入節點24流向自電容C2，即由自電容C2流向輸入節點24的是負電荷。不同於圖一(C)中待測電容Cx之電荷改變完全由回授電容Cfb貢獻的情況，在本實施例中，待測電容Cx之電荷改變是由電容C1、C2共同貢獻。
式(3)可被進一步改寫為：
由於電壓VL、VH、VS和電容C1、C2的數值皆為已知，根據輸出電壓Vout或者是電容C2兩端的跨壓變化(由零變為Vout-VH)，判斷模組26即可推算出待測電容Cx的大小。若將待測電容Cx進一步拆解為未受使用者影響前即存在的背景電容Cbg及電容變化量Csig之總和，式(4)可被改寫為：
由式(5)可看出，由於參考電壓VH高於VL，且控制電壓VS被設計為高於(VH-VL)，電容C1貢獻的電荷可抵消背景電容Cbg貢獻的電荷，使電壓Vout較不易達到飽和狀態。因此，即使選擇較小的電容C2來提高電容變化量Csig的解析度，也不會使電壓Vout很容易就因過高而飽和。易言之，只要選擇大小適當的電容C1，電容偵測裝置200即可提供良好的量測解析度，並且不存在輸出電壓易飽和的問題。
從電荷分配的觀點來看，電容偵測裝置200的特徵為利用自電容C1流向輸入節點24的電荷做為自輸入節點24流入背景電容Cbg的電荷，達到電荷抵銷效果，使電壓Vout較不易達到飽和狀態。在參考電壓VH高於VL的情況下，將控制電壓VS設計為高於(VH-VL)可令自電容C1流向輸入節點24的電荷為正電荷(等同於電流自自電容C1流向輸入節點24)、自輸入節點24流入背景電容Cbg的電荷也是正電荷(等同於電流自輸入節點24流入背景電容Cbg)。在參考電壓VH低於VL的情況下，將控制電壓VS設計為低於(VH-VL)可令自電容C1流向輸入節點24的電荷為負電荷(等同於電流自輸入節點24流向自電容C1)、自輸入節點24流入背景電容Cbg的電荷也是負電荷(等同於電流自背景電容Cbg流入輸入節點24)，同樣能達到前述電荷抵銷效果。綜上所述，只要藉由適當設計該等電容的跨壓變化，使得自電容C1流向輸入節點24之電荷與自輸入節點24流入待測電容Cx之電荷正負相同，即可克服先前技術中難以兼顧量測解析度和避免輸出電壓飽和的問題。
根據本發明之另一實施例為如圖三(A)所示之電容偵測裝置。於此實施例中，電容C1被設置在運算放大器22所在的晶片500之外。事實上，無論電容C1是否與運算放大器22等元件被包含在同一個晶片內，都可以達到前述效果。值得注意的是，此實施例中的電容C1係利用連接線400的寄生電容來實現。以電容式觸控裝置的情況為例，待測電容Cx通常是形成於一感應面板(例如圖中繪示的區塊600)上，並且係透過軟性電路板或印刷電路板上的連線線400與晶片500相連。
於此實施例中，連接線400所在的電路板具有一屏蔽(shielding)層，存在於連接線400與該屏蔽層間的寄生電容即作為電容C1。連接線400所在的電路板具有一可調整之接地端準位Vact，如圖三(A)所示，該接地端透過焊墊28連接至晶片500中的開關SW4、SW5。藉由控制開關SW4、SW5的啟閉，根據本發明之電容偵測裝置中的控制模組(未顯示)即可達成改變電容C1之跨壓的效果。換句話說，電容C1上的跨壓變化可藉由控制該屏蔽層之接地端準位Vact實現。須說明的是，只要適當規劃連接線400的形狀、長度、厚度等特性，寄生電容(電容C1)的大小即為可精確估計、控制的。換言之，透過設計控制該連接線400與該屏蔽層，即可靈活調整接地端準位Vact及寄生電容(電容C1)，以實現控制電容C1上的跨壓變化之效果。於另一實施例中，透過主動屏蔽(active shielding)或減耗(subtraction)等手段，亦可等效找出可藉由控制該屏蔽層之接地端準位Vact改變之電容C1。這種做法的好處在於可省去在晶片500中設置電容C1所佔據的空間，同時有效利用原本被視為冗贅或負面因素的寄生電容。
如圖三(B)所示，於另一實施例中，電容C1也可被拆解為兩個部份：設置於晶片500外的電容C1A和設置於晶片500內的電容C1B。電容C1B可被設計為主要用以補償因製程變異造成的電容C1A大小誤差，因此不需要太大。舉例而言，電容C1B的等級可在1~2微微法拉(pF)，但不以此為限。
如圖三(C)所示，於另一實施例中，電容C1A和電容C1B可以被設計為各自受不同的控制電壓影響。於此範例中，當開關SW5為通路，電容C1B會被連接至提供控制電壓VS的電壓源，但電容C1A的電壓變化受到控制模組29的控制。同樣地，只要使得自電容C1A、C1B流向輸入節點24之電荷與自輸入節點24流入待測電容Cx之電荷正負相同，即可克服先前技術中難以兼顧量測解析度和避免輸出電壓飽和的問題。
前述幾個實施例都是以輸入節點24之電壓會變動的情況為例。實際上，輸入節點24的電壓亦可被設計為固定不變，例如圖四(A)所示之實施例。請參閱圖四(A)，開關SW1~SW5的狀態可由一控制模組(未顯示)決定，而待測電容Cx的兩端分別透過輸入節點44和驅動節點48連接至此電容偵測裝置。
在偵測過程的第一階段，開關SW1、SW2、SW4首先被設定為通路，而開關SW3、SW5被設定為斷路；圖四(A)中的電路等同於圖四(B)所示者(暫忽略判斷模組46)。在這個情況下，運算放大器22的輸出端(Vout)和正負輸入端之電壓都會等於參考電壓Vref。電容C2被放電至不存有電荷，電容C1被充電至存有電荷C1*(VL-Vref)，待測電容Cx則是被充電至存有電荷Cx*(VH-Vref)。
隨後，在偵測過程的第二階段，開關SW1、SW2、SW4首先被設定為斷路，而開關SW3、SW5被設定為通路；圖四(A)中的電路等同於圖四(C)所示者(暫忽略判斷模組46)。在這個情況下，運算放大器22的正負輸入端之電壓仍維持在等於參考電壓Vref，電容C1一側的控制節點被改接至提供控制電壓VH的電源供應器，驅動節點48則是被轉接至提供控制電壓VL的電源供應器。
上述兩階段間的開關切換會導致各電容的跨壓改變，進而造成電荷在電容C1、C2、Cx間重新分配。對應於輸入節點44的電荷平衡關係可被表示為：
(VH-VL)*C1+(Vout-Vref)*C2=(VH-VL)*Cx。(6)
此實施例中的參考電壓VH高於VL。據此，由式(6)可看出，在第二階段電流係自輸入節點44流入待測電容Cx以及由自電容C1流向輸入節點44，換言之，自輸入節點44流入待測電容Cx的正電荷至少有一部分是由自電容C1流向輸入節點44的正電荷所貢獻。至於自電容C2影響所及之部分，若Vout大於Vref，電流係自自電容C2流向輸入節點44，即由自電容C2流向輸入節點44的是正電荷；若Vout小於Vref，電流係自輸入節點44流向自電容C2，即由自電容C2流向輸入節點44的是負電荷。待測電容Cx之電荷改變是由電容C1、C2共同貢獻。
式(6)可被進一步改寫為：
由於電壓VL、VH、Vref和電容C1、C2的數值皆為已知，根據輸出電壓Vout或者是電容C2兩端的跨壓變化(由零變為Vout-Vref)，判斷模組46即可推算出待測電容Cx的大小。若將待測電容Cx進一步拆解為未受使用者影響前即存在的背景電容Cbg及電容變化量Csig之總和，式(7)可被再改寫為：
由式(8)可看出，電容C1貢獻的電荷可抵消背景電容Cbg貢獻的電荷，使電壓Vout較不易達到飽和狀態。因此，即使選擇較小的電容C2來提高電容變化量Csig的解析度，也不會使電壓Vout很容易就因過高而飽和。易言之，只要選擇大小適當的電容C1，此電容偵測裝置即可提供良好的量測解析度，並且不存在輸出電壓易飽和的問題。
圖四(A)所示之電容偵測裝置可用以配合例如互容式觸控系統。更明確地說，輸入節點44可被連接至互容式觸控系統中的感應電極，驅動節點48可被連接至互容式觸控系統中的驅動電極，而待測電容Cx就是該感應電極與該驅動電極間的互容(mutual capacitance)；切換提供給驅動節點48的電壓即為供應驅動信號。此外，與前述幾個實施例相同的是，圖四(A)中的電容C1也可包含或完全是屏蔽層與連接線間的寄生電容。
綜上所述，根據本發明之電容偵測裝置所運用的概念為：提供電容C1一第一跨壓變化，並提供待測電容Cx一第二跨壓變化，藉此使電容C2出現一第三跨壓變化，再根據電容C1、C2之電容量及該等跨壓變化來判斷待測電容Cx之電容量。只要將第一跨壓變化與第二跨壓變化設計為使得自電容C1流向輸入節點之電荷與自輸入節點流入待測電容Cx之電荷正負相同，就可克服先前技術中難以兼顧量測解析度和避免輸出電壓飽和的問題。
根據本發明之另一實施例為一電容式觸控系統，其中包含一顯示器、複數個感應電容及一個或多個如圖二(A)、圖三(A)、圖三(B)、圖三(C)或圖四(A)所示之電容偵測裝置。該複數個感應電容各自對應於該顯示器上之一實體位置，其大小變化可受該一個或多個電容偵測裝置的偵測。關於電容偵測裝置的運作方式可參考前述實施例的相關說明，不再贅述。
如上所述，本發明以上具體實施例提出一種新的電容偵測裝置及應用該電容偵測裝置之電容式觸控系統。藉由在回授電容之外新增一個電容來適當供應待測電容在電荷重新分配過程中需要的電荷量，根據本發明以上具體實施例之電容偵測裝置可克服先前技術中難以兼顧量測解析度和避免輸出電壓飽和的問題。除了配合電容式觸控系統之外，根據本發明以上具體實施例的電容偵測裝置也可廣泛應用在其他各種需要量測電容值的場合。
藉由以上具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。
100．．．電容偵測電路
12．．．運算放大器
14、28．．．焊墊
Cfb．．．回授電容
SW1~SW5．．．開關
Cx．．．待測電容
200．．．電容偵測裝置
22、42．．．運算放大器
24、44．．．輸入節點
26、46．．．判斷模組
29．．．控制模組
400．．．連接線
500．．．晶片
600．．．感應面板
48．．．驅動節點
C1、C2、C1A、C1B．．．電容
圖一(A)~圖一(C)係繪示先前技術中的電容偵測電路。
圖二(A)~圖二(C)為根據本發明之一實施例中的電容偵測裝置及其狀態變化示意圖。
圖三(A)~圖三(C)係繪示根據本發明之電容偵測裝置利用外部電容的範例。
圖四(A)~圖四(C)係繪示根據本發明之另一實施例中的電容偵測裝置其狀態變化示意圖。
200．．．電容偵測裝置
22．．．運算放大器
24．．．輸入節點
26．．．判斷模組
SW1~SW5．．．開關
Cx．．．待測電容
C1、C2．．．電容

Claims (14)

  1. 一種電容偵測裝置，連接於一待測電容，該電容偵測裝置包含：一第一電容及一第二電容，透過一輸入節點連接至該待測電容；一控制模組，用以提供該第一電容一第一跨壓變化，並提供該待測電容一第二跨壓變化，藉此使該第二電容產生一第三跨壓變化，其中該第一跨壓變化與該第二跨壓變化使自該第一電容流向該輸入節點之電荷與自該輸入節點流入該待測電容之電荷正負相同；以及一判斷模組，用以根據該第一電容之電容量、該第二電容之電容量、該第一跨壓變化、該第二跨壓變化及該第三跨壓變化，判斷該待測電容之電容量。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之電容偵測裝置，該電容偵測裝置與該待測電容係透過形成於一電路板上之一連接線相接，該電路板具有一屏蔽層，其中該第一電容包含該連接線與該屏蔽層間之一寄生電容，且該控制模組控制該屏蔽層以提供該第一電容該第一跨壓變化。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之電容偵測裝置，其中該電路板為一軟性電路板或一印刷電路板。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之電容偵測裝置，其中該第一電容係連接於該輸入節點與一控制節點間，該第二電容係連接於該輸入節點與一輸出節點間；該控制模組於一第一時間供應該輸入節點及該輸出節點一第一輸入電壓並供應該控制節點一第一控制電壓；該控制模組於一第二時間供應該輸入節點一第二輸入電壓並供應該控制節點一第二控制電壓；該第一輸入電壓與該第二輸入電壓之差異小於該第一控制電壓與該第二控制電壓之差異。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之電容偵測裝置，其中該控制模組包含：一運算放大器，具有一第一輸入端、第二輸入端及一輸出端，該第一輸入端為該輸入節點，該輸出端為該輸出節點；一第一開關，連接於第一輸入端與該輸出端間，於該第一時間為通路，於該第二時間為斷路；一第二開關，連接於該第二輸入端與一第二輸入電壓供應器間，於該第一時間為斷路，於該第二時間為通路；一第三開關，連接於該第二輸入端與一第一輸入電壓供應器間，於該第一時間為通路，於該第二時間為斷路；一第四開關，連接於該控制節點與一接地端間，於該第一時間為通路，於該第二時間為斷路；以及一第五開關，連接於該控制節點與一第一控制電壓供應器間，於該第一時間為斷路，於該第二時間為通路。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之電容偵測裝置，其中該待測電容係連接於該輸入節點與一驅動節點間，該第一電容係連接於該輸入節點與一控制節點間，該第二電容係連接於該輸入節點與一輸出節點間；該控制模組於一第一時間供應該輸入節點及該輸出節點一參考電壓、供應該控制節點一第一電壓、供應該驅動節點一第二電壓；該控制模組於一第二時間供應該輸入節點該參考電壓、供應該控制節點該第二電壓、供應該驅動節點該第一電壓；該第一電壓不同於該第二電壓。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之電容偵測裝置，其中該控制模組包含：一運算放大器，具有一第一輸入端、第二輸入端及一輸出端，該第一輸入端為該輸入節點，該輸出端為該輸出節點，該第二輸入端連接至一參考電壓供應器；一第一開關，連接於第一輸入端與該輸出端間，於該第一時間為通路，於該第二時間為斷路；一第二開關，連接於該驅動節點與一第二電壓供應器間，於該第一時間為通路，於該第二時間為斷路；一第三開關，連接於該驅動節點與一第一電壓供應器間，於該第一時間為斷路，於該第二時間為通路；一第四開關，連接於該控制節點與該第一電壓供應器間，於該第一時間為通路，於該第二時間為斷路；以及一第五開關，連接於該控制節點與該第二電壓供應器間，於該第一時間為斷路，於該第二時間為通路。
  8. 一種電容式觸控系統，包含：一顯示器；複數個感應電容，各自對應於該顯示器上之一實體位置；一第一電容及一第二電容，透過一輸入節點連接至該複數個感應電容其中之一作為一待測電容；一控制模組，用以提供該第一電容一第一跨壓變化，並提供該待測電容一第二跨壓變化，藉此使該第二電容產生一第三跨壓變化，其中該第一跨壓變化與該第二跨壓變化使自該第一電容流向該輸入節點之電荷與自該輸入節點流入該待測電容之電荷正負相同；以及一判斷模組，用以根據該第一電容之電容量、該第二電容之電容量、該第一跨壓變化、該第二跨壓變化及該第三跨壓變化，判斷該待測電容之電容量。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之電容式觸控系統，該電容偵測裝置與該待測電容係透過形成於一電路板上之一連接線相接，該電路板具有一屏蔽層，其中該第一電容包含該連接線與該屏蔽層間之一寄生電容，且該控制模組控制該屏蔽層以提供該第一電容該第一跨壓變化。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之電容式觸控系統，其中該電路板為一軟性電路板或一印刷電路板。
  11. 如申請專利範圍第8項所述之電容式觸控系統，其中該第一電容係連接於該輸入節點與一控制節點間，該第二電容係連接於該輸入節點與一輸出節點間；該控制模組於一第一時間供應該輸入節點及該輸出節點一第一輸入電壓並供應該控制節點一第一控制電壓；該控制模組於一第二時間供應該輸入節點一第二輸入電壓並供應該控制節點一第二控制電壓；該第一輸入電壓與該第二輸入電壓之差異小於該第一控制電壓與該第二控制電壓之差異。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之電容式觸控系統，其中該控制模組包含：一運算放大器，具有一第一輸入端、第二輸入端及一輸出端，該第一輸入端為該輸入節點，該輸出端為該輸出節點；一第一開關，連接於第一輸入端與該輸出端間，於該第一時間為通路，於該第二時間為斷路；一第二開關，連接於該第二輸入端與一第二輸入電壓供應器間，於該第一時間為斷路，於該第二時間為通路；一第三開關，連接於該第二輸入端與一第一輸入電壓供應器間，於該第一時間為通路，於該第二時間為斷路；一第四開關，連接於該控制節點與一接地端間，於該第一時間為通路，於該第二時間為斷路；以及一第五開關，連接於該控制節點與一第一控制電壓供應器間，於該第一時間為斷路，於該第二時間為通路。
  13. 如申請專利範圍第8項所述之電容式觸控系統，其中該待測電容係連接於該輸入節點與一驅動節點間，該第一電容係連接於該輸入節點與一控制節點間，該第二電容係連接於該輸入節點與一輸出節點間；該控制模組於一第一時間供應該輸入節點及該輸出節點一參考電壓、供應該控制節點一第一電壓、供應該驅動節點一第二電壓；該控制模組於一第二時間供應該輸入節點該參考電壓、供應該控制節點該第二電壓、供應該驅動節點該第一電壓；該第一電壓不同於該第二電壓。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之電容式觸控系統，其中該控制模組包含：一運算放大器，具有一第一輸入端、第二輸入端及一輸出端，該第一輸入端為該輸入節點，該輸出端為該輸出節點，該第二輸入端連接至一參考電壓供應器；一第一開關，連接於第一輸入端與該輸出端間，於該第一時間為通路，於該第二時間為斷路；一第二開關，連接於該驅動節點與一第二電壓供應器間，於該第一時間為通路，於該第二時間為斷路；一第三開關，連接於該驅動節點與一第一電壓供應器間，於該第一時間為通路，於該第二時間為短路；一第四開關，連接於該控制節點與該第一電壓供應器間，於該第一時間為通路，於該第二時間為斷路；以及一第五開關，連接於該控制節點與該第二電壓供應器間，於該第一時間為斷路，於該第二時間為通路。
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