TW201322066A - 控制觸控面板的方法 - Google Patents

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Abstract

一種控制觸控面板的方法。觸控裝置具有控制電路及觸控面板。控制電路先偵測觸控面板上的全域偵測區域內的觸碰點，直到在全域區域內偵測出第一觸碰點。當偵測到第一觸碰點後，控制電路縮小在觸控面板上偵測觸碰點的範圍，以在觸控面板上的局部偵測區域內偵測觸碰點。其中上述的全域偵測區域包括且大於上述的局部偵測區域。藉此，可減少偵測觸碰點的時間，進而提升偵測觸碰點的速度。

Description

控制觸控面板的方法
本發明是有關於一種控制觸控面板的方法，且特別是有關於一種可提升偵測觸碰點之效率的觸控面板的控制方法。
在現今資訊時代中，人類對於電子產品之依賴性與日俱增。筆記型電腦、行動電話、個人數位助理器(personal digital assistant,PDA)、數位隨身聽等電子產品均已成為現代人生活中不可或缺之應用工具。上述之電子產品均具有一輸入介面，用以供使用者輸入指令，以使電子產品之內部系統自動執行此項指令。
為了提供更人性化的操作模式，廠商開始在電子裝置上配置一個例如是觸控板(touch pad)或觸控面板(touch panel)等輸入介面，以讓使用者能透過觸控板或觸控面板來輸入指令。一般來說，市面上的觸控裝置例如有電阻式觸控裝置及電容式觸控裝置。觸控裝置上的感測單元以矩陣方式排列於二維平面上，並根據掃瞄訊號來偵測碰觸點。然而，因習知的偵測碰觸點的方式係利用觸控面板的所有掃瞄通道來找出碰觸點，故當掃瞄通道過多時，其掃瞄出碰觸點的效率也會相對地降低。
本發明提供一種可提升偵測觸碰點之效率的觸控面板的控制方法。
本發明提出一種控制觸控面板的方法。上述方法包括偵測觸控面板上的全域偵測區域內的觸碰點，直到在全域區域內偵測出第一觸碰點。上述方法更包括：當偵測到第一觸碰點後，縮小在觸控面板上偵測觸碰點的範圍，以在觸控面板上的局部偵測區域內偵測觸碰點。其中全域偵測區域包括且大於局部偵測區域。
本發明提出一種控制觸控面板的方法。上述方法包括偵測觸控面板上的全域偵測區域內的觸碰點，直到在全域區域內偵測出第一觸碰點及第二觸碰點。上述方法更包括：當偵測到第一觸碰點及第二觸碰點後，縮小在上述觸控面板上偵測觸碰點的範圍，以在觸控面板上的第一局部偵測區域及第二局部偵測區域內偵測觸碰點。其中全域偵測區域包括且大於第一局部偵測區域及第二局部偵測區域。
在本發明之一實施例中，上述的觸控面板具有多個第一通道及多個第二通道，上述的多個第一通道與多個第二通道相互交錯。其中當偵測全域偵測區域內的觸碰點時，係藉由所有的第一通道及所有的第二通道，偵測第一觸碰點。其中當偵測局部偵測區域內的觸碰點時，係藉由鄰近第一觸碰點的部分第一通道及部分第二通道，偵測觸控面板上的觸碰點。
在本發明之一實施例中，上述的觸控面板具有多個第一通道及多個第二通道，上述的多個第一通道與多個第二通道相互交錯。其中當偵測全域偵測區域內的觸碰點時，係先藉由所有的第一通道判斷觸控面板是否有被觸碰，再藉由所有的第二通道判斷觸控面板是否有被觸碰，以偵測第一觸碰點。其中當偵測局部偵測區域內的觸碰點時，係藉由鄰近第一觸碰點的部分第一通道及部分第二通道，偵測觸控面板上的觸碰點。
在本發明之一實施例中，上述的觸控面板具有多個第一通道及多個第二通道，上述的多個第一通道與多個第二通道相互交錯。其中當偵測全域偵測區域內的觸碰點時，係依序地藉由第一通道的第一群組、第一通道的第二群組以及所有的第二通道判斷觸控面板是否有被觸碰，以偵測第一觸碰點。其中第一群組中的第一通道與第二群組中的第一通道平行且相互交錯。其中當偵測局部偵測區域內的觸碰點時，係藉由鄰近第一觸碰點的部分第一通道及部分第二通道，偵測觸控面板上的觸碰點。
在本發明之一實施例中，上述的第一群組中的第一通道為第一通道中的偶數通道，而第二群組中的第一通道為第一通道中的奇數通道。
在本發明之一實施例中，上述的第一群組中的第一通道為第一通道中的奇數通道，而第二群組中的第一通道為第一通道中的偶數通道。
在本發明之一實施例中，上述的第一觸碰點係位於上述的局部偵測區域內。
在本發明之一實施例中，上述的觸控面板具有多個第一通道及多個第二通道，上述的多個第一通道與多個第二通道相互交錯，而第一通道及第二通道在全域偵測區域內的被使用密度小於第一通道及第二通道在局部偵測區域內的被使用密度。
在本發明之一實施例中，上述的第一觸碰點係位於第一局部偵測區域內，而第二觸碰點係位於第二局部偵測區域內。
在本發明之一實施例中，上述的觸控面板具有多個第一通道及多個第二通道，而上述多個第一通道與上述多個第二通道相互交錯。上述多個第一通道及多個第二通道在全域偵測區域內的被使用密度小於上述多個第一通道及多個第二通道在第一局部偵測區域及第二局部偵測區域內的被使用密度。
在本發明之一實施例中，當偵測第一局部偵測區域及第二局部偵測區域內的觸碰點時，係藉由鄰近第一觸碰點及第二觸碰點的部分第一通道及部分第二通道，偵測觸控面板上的觸碰點。
在本發明之一實施例中，上述的方法更包括：當偵測第一局部偵測區域及第二局部偵測區域內的觸碰點的累計次數等於一預設次數時，藉由偵測整個該全域區域以確認在該全域偵測區域內是否有新的觸碰點。
基於上述，本發明當偵測到第一觸碰點後，會縮小在觸控面板上偵測觸碰點的範圍，以在觸控面板上的局部偵測區域內偵測觸碰點。藉此，在以區域偵測方式偵測觸控面板上的觸碰點時，可減少被使用的通道之數目，進而可提升偵測觸碰點的效率。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
請參考圖1，圖1為本發明一實施例之觸控裝置100的功能方塊圖。觸控裝置100具有觸控面板110及控制電路120。觸控面板110可為電阻式觸控面板或電容式觸控面板，而當觸控面板110為電容式觸控面板時，觸控面板110又可為自容式(self capacitance)觸控面板或互容式(mutual capacitance)觸控面板。觸控面板110會因其本身被觸碰的狀況而產生並輸出對應的訊號。一般而言，觸控面板110所輸出的訊號可反應其被觸碰的位置、力道...等資訊。控制電路120耦接至觸控面板110，用以依據觸控面板110所輸出的訊號，判斷觸控面板110所被觸碰的位置，進而產生對應的座標訊號及/或控制訊號。
請參考圖2～圖4。圖2為圖1之觸控面板110的示意圖，圖3為圖2之觸控面板110的第一通道X1～X10之示意圖，圖4為圖2之觸控面板110的第二通道Y1～Y16之示意圖。觸控面板110具有多個第一通道X1～X10及多個第二通道Y1～Y16。第一通道X1～X10與多個第二通道Y1～Y16相互交錯，第一通道X1～X10彼此平行，而第二通道Y1～Y16彼此平行。必須瞭解的，雖然在本實施例中觸控面板110的第一通道及第二通道的數目分別為10及16，但本發明並不以此為限，本領域中具有通常知識者應明白觸控面板的第一通道及第二通道可為其他數目。
第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16係用以決定觸控面板110上的觸碰點。詳言之，當觸控面板110被觸碰時，其被觸碰點的相關電子特性(如：電阻或電容)會隨著改變，而藉由第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16即可決定碰觸點在觸控面板110上的二維座標。在本發明一實施例中，控制電路120會依序地開啟第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16，以偵測各通道的電子特性。當第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16中的任一通道被開啟時，控制電路120會藉由偵測被開啟的通道所產生的訊號，計算被開啟的通道之電子特性(如：電阻或電容)，並依據所計算的電子特性，判斷觸控面板110的觸控點是否座落於上述被開啟的通道上。如此一來，控制電路120即可藉由開啟第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16，判斷觸控面板110上的觸碰點。
在本發明一實施例中，控制電路120會先以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點，直到在觸控面板110上偵測出第一觸碰點。而當控制電路120偵測到上述的第一觸碰點後，控制電路120則改以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點。請參考圖1及圖5，圖5用以說明本發明一實施例之控制觸控面板110的方法。首先，當控制電路120以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，控制電路120會利用第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16來判斷觸控面板110上的觸碰點。換言之，此時控制電路120會依序地開啟第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16，直到偵測出觸控面板110上的第一觸碰點512為止。當控制電路120偵測到第一觸碰點512之後，控制電路120則改以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點，亦即控制電路120僅利用部分的第一通道及部分的第二通道來偵測觸控面板110上的觸碰點。在本實施例中，當控制電路120以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，控制電路120係在全域偵測區域510內偵測觸控面板110上的觸碰點；而當控制電路120以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，控制電路120係在第一局部偵測區域520內偵測觸控面板110上的觸碰點，且第一觸碰點512係位於上述的第一局部偵測區域520內，而全域偵測區域510包括且大於第一局部偵測區域520。換言之，當偵測到第一觸碰點512後，控制電路120會縮小在觸控面板110上偵測觸碰點的範圍，而使得其偵測區域由原先的全域偵測區域510變成後來的第一局部偵測區域520。
在本發明一實施例中，第一局部偵測區域520的範圍可依據第一觸碰點512來決定。以圖5為例，第一觸碰點512的位置在第一通道X5與第二通道Y6的交會處附近，而第一局部偵測區域520則以第一觸碰點512為中心，且其範圍為第一通道X3～X7與第二通道Y4～Y8所界定之區域。進一步地說，當控制電路120偵測到第一觸碰點512後，控制電路120藉由第一通道X3～X7與第二通道Y4～Y8局部性地在第一局部偵測區域520內偵測觸控面板110上的觸碰點。
由上述說明可知，在本發明中，控制電路120會先偵測觸控面板110上的全域偵測區域510內的觸碰點，直到在全域區域內510偵測出第一觸碰點512。當偵測到第一觸碰點512後，控制電路120縮小在觸控面板110上偵測觸碰點的範圍，以在觸控面板110上的第一局部偵測區域520內偵測觸碰點。由於控制電路120在第一局部偵測區域520內偵測觸碰點時不需依序地開啟所有的第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16，而只需開啟部分的第一通道及第二通道，故偵測觸控面板110上的觸碰點的效率可因而提升。
請參考圖6及圖1和圖5，圖6為本發明一實施例之控制觸控面板110之方法的流程圖。在步驟S610中，控制電路120以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點，亦即在全域偵測區域510內偵測觸控面板110上的觸碰點。在步驟S620中，控制電路120判斷觸控面板110是否有被觸碰。如果在步驟S620中觸控面板110並未被觸碰，則回到步驟S610；反之，如果控制電路120判斷出觸控面板110有被觸碰(例如：其觸碰點為第一觸碰點512)，則進行步驟S630。在步驟630中，控制電路120則改以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點。此時，控制電路120係在第一局部偵測區域520內偵測觸控面板110上的觸碰點。在步驟S640中，控制電路120判斷觸控面板110是否有被觸碰。如果在步驟S640中觸控面板110並未被觸碰，則回到步驟S610；反之，如果控制電路120判斷出觸控面板110有被觸碰，則進行步驟S650，以計算碰觸點的座標並送出資料。
在本發明一實施例中，步驟S650的動作亦可額外地在步驟S620和S630之間被執行，而使得控制電路120在將偵測方式由全域偵測方式切換至區域偵測方式的過程中，即先執行一次步驟S650，以計算第一碰觸點512的座標並送出相關的資料。
請參考圖7及圖1和圖5，圖7為本發明另一實施例之控制觸控面板110之方法的流程圖。圖7的流程與圖6的流程的差異在於控制電路120所進行的全域偵測方式。在圖7的流程中，控制電路120藉由步驟S710～S740完成上述以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點。在步驟S710中，控制電路120會先進行X全域偵測，亦即控制電路120依序地偵測第一通道X1～X10的訊號。之後，在步驟S720中，控制電路120依據第一通道X1～X10的訊號，判斷觸控面板110是否有被觸碰。接著，在步驟S730中，控制電路120會進行Y全域偵測，亦即控制電路120依序地偵測第二通道Y1～Y16的訊號。之後，在步驟S740中，控制電路120依據第二通道Y1～Y16的訊號，判斷觸控面板110是否有被觸碰。換言之，在本實施例中，當控制電路120以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，控制電路120先藉由所有的第一通道X1～X10判斷觸控面板110是否有被觸碰，之後再藉由所有的第二通道Y1～Y16判斷觸控面板110是否有被觸碰，以偵測第一觸碰點512。之後，控制電路120藉由步驟S630～S650完成上述以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點。在本實施例中，當控制電路120以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，控制電路120係藉由鄰近第一觸碰點512的部分第一通道(例如：第一通道X3～X7)及鄰近第一觸碰點512的部分第二通道(例如：第二通道Y4～Y8)，偵測觸控面板110上的觸碰點。
請參考圖8及圖1和圖5，圖8為本發明另一實施例之控制觸控面板110之方法的流程圖。圖8的流程與圖6的流程的差異亦在於控制電路120所進行的全域偵測方式。在圖8的流程中，控制電路120藉由步驟S810～S860完成上述以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點。在步驟S810中，控制電路120會先進行X偶數全域偵測，亦即控制電路120依序地偵測第一通道X2、X4、X6、X8、X10的訊號。之後，在步驟S820中，控制電路120依據第一通道X2、X4、X6、X8、X10的訊號，判斷觸控面板110是否有被觸碰。接著，在步驟S830中，控制電路120會進行X奇數全域偵測，亦即控制電路120依序地偵測第一通道X1、X3、X5、X7、X9的訊號。之後，在步驟S840中，控制電路120依據第一通道X1、X3、X5、X7、X9的訊號，判斷觸控面板110是否有被觸碰。之後，在步驟S850中，控制電路120會進行Y全域偵測，亦即控制電路120依序地偵測第二通道Y1～Y16的訊號。之後，在步驟S860中，控制電路120依據第二通道Y1～Y16的訊號，判斷觸控面板110是否有被觸碰。換言之，在本實施例中，當控制電路120以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，係依序地藉由第一通道X1～X10的第一群組(例如：第一通道X2、X4、X6、X8、X10)、第一通道X1～X10的第二群組(例如：第一通道X1、X3、X5、X7、X9)以及所有的第二通道Y1～Y16判斷觸控面板110是否有被觸碰，以偵測第一觸碰點512。其中第一群組(X2、X4、X6、X8、X10)中的第一通道與第二群組(X1、X3、X5、X7、X9)中的第一通道平行且相互交錯。之後，控制電路120藉由步驟S630～S650完成上述以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點。在本實施例中，當控制電路120以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，控制電路120係藉由鄰近第一觸碰點512的部分第一通道(例如：第一通道X3～X7)及鄰近第一觸碰點512的部分第二通道(例如：第二通道Y4～Y8)，偵測觸控面板110上的觸碰點。
在圖8的流程中中，係先執行步驟S810、S820，再執行步驟S830、S840，而第一群組中的第一通道為偶數通道(X2、X4、X6、X8、X10)，且第二群組中的第一通道為奇數通道(X1、X3、X5、X7、X9)。在本發明另一實施例中，則先執行步驟S830、S840，再執行步驟S810、S820，而第一群組中的第一通道為奇數通道(X1、X3、X5、X7、X9)，且第二群組中的第一通道為偶數通道(X2、X4、X6、X8、X10)。換言之，在此實施例中，當控制電路120以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，係依序地藉由第一通道X1～X10的第一群組(例如：奇數通道X1、X3、X5、X7、X9)、第一通道X1～X10的第二群組(例如：偶數通道X2、X4、X6、X8、X10)以及所有的第二通道Y1～Y16判斷觸控面板110是否有被觸碰，以偵測第一觸碰點512。
本發明除了可用於偵測單一個觸碰點之外，亦適用於偵測多個觸碰點。請參考圖1及圖9，圖9用以說明本發明一實施例之控制觸控面板110的方法。首先，控制電路120會先以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點，亦即控制電路120會先偵測觸控面板110上的全域偵測區域510內的觸碰點，直到在全域區域內510偵測出第一觸碰點912及第二觸碰點914。當控制電路120偵測到第一觸碰點912及第二觸碰點914之後，控制電路120縮小在觸控面板110上偵測觸碰點的範圍，而改以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點，以在觸控面板110上的第一局部偵測區域920及第二局部偵測區域930內偵測觸碰點。其中全域偵測區域510包括且大於第一局部偵測區域920及第二局部偵測區域930。
詳言之，在本發明一實施例中，當控制電路120以全域偵測方式偵測觸控面板110上的多個觸碰點時，控制電路120會依序地開啟第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16，直到偵測出觸控面板110上的第一觸碰點912及第二觸碰點914為止。當控制電路120偵測到第一觸碰點912及第二觸碰點914之後，控制電路120則改以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點，亦即控制電路120僅利用部分的第一通道及部分的第二通道來偵測觸控面板110上的觸碰點。在本實施例中，當控制電路120以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，控制電路120係在第一局部偵測區域920及第二局部偵測區域930內偵測觸控面板110上的觸碰點，而第一觸碰點912係位於上述的第一局部偵測區域920內，第二觸碰點914係位於上述的第二局部偵測區域930內。
在本發明一實施例中，第一局部偵測區域920的範圍可依據第一觸碰點912來決定，而第二局部偵測區域930的範圍可依據第二觸碰點914來決定。以圖5為例，第一觸碰點912的位置在第一通道X5與第二通道Y6的交會處附近，而第一局部偵測區域920以第一觸碰點912為中心，而其範圍則為第一通道X3～X7與第二通道Y4～Y8所界定之區域。第二觸碰點914的位置在第一通道X7與第二通道Y12的交會處附近，而第二局部偵測區域930以第二觸碰點914為中心，而其範圍則為第一通道X5～X9與第二通道Y10～Y14所界定之區域。進一步地說，當控制電路120偵測到第一觸碰點912及第二觸碰點914後，控制電路120藉由第一通道X3～X9與第二通道Y4～Y8、Y10～Y14局部性地在第一局部偵測區域920及第二局部偵測區域930內偵測觸控面板110上的多個觸碰點。
請參考圖10及圖1和圖9，圖10為本發明一實施例之控制觸控面板110之方法的流程圖。在步驟S1010中，控制電路120以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點並令累計區域偵測次數N等於0，此時控制電路120利用第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16來判斷觸控面板110上的觸碰點。在步驟S1020中，控制電路120依據步驟S1010的偵測結果，更新觸碰點的資訊。進一步地說，倘若控制電路120在步驟S1010中偵測出有新的偵測點或原先的偵測點已消失，則記錄最新的觸碰點資訊。接著，在步驟S1030中，控制電路120判斷觸控面板110是否有被觸碰。如果在步驟S1030中判斷出觸控面板110並未被觸碰，則回到步驟S1010；反之，如果控制電路120判斷出觸控面板110有被觸碰，則進行步驟S1040。在步驟1040中，控制電路120則改以區域偵測方式偵測觸控面板110上的多個觸碰點。例如，控制電路120藉由第一通道X3～X7與第二通道Y4～Y8局部性地在第一局部偵測區域920內偵測第一觸碰點912的動向，並藉由第一通道X5～X9與第二通道Y10～Y14局部性地在第二局部偵測區域930內偵測第二觸碰點914的動向。在步驟S1050中，控制電路120判斷觸控面板110是否有被觸碰。如果在步驟S1050中觸控面板110並未被觸碰，則回到步驟S1010；反之，如果控制電路120判斷出觸控面板110有被觸碰，則進行步驟S1060，以計算碰觸點的座標並送出資料。之後，控制電路120執行步驟S1070，以累加1至累計區域偵測次數N。接著，控制電路120執行步驟S1080，以判斷累計區域偵測次數N是否大於或等於預設次數。上述的預設次數例如是5，但本發明並不以此為限。當累計區域偵測次數N等於上述預設次數時，表示控制電路120以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點的累計次數已經等於預設次數。在此情況下，控制電路120會執行步驟S1010，以再次以全域偵測方式偵測觸控面板1010上的觸碰點，亦即控制電路120藉由偵測整個的全域區域510以確認在全域偵測區域510內是否有新的觸碰點。如此，藉由步驟S1080的判斷，控制電路120即可再次地執行步驟S1010，以偵測是否有新的碰觸點。
請參考圖11及圖1，圖11用以說明本發明一實施例之控制觸控面板110的方法。在本實施例中，控制電路120可偵測多個觸碰點。首先，控制電路120會先以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點，直到偵測出觸控面板上110的第一觸碰點1112及第二觸碰點1114。而當控制電路120偵測到第一觸碰點1112及第二觸碰點1114之後，控制電路120改以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點。在本實施例中，第一觸碰點1112為第一局部偵測區域1120的中心點，而第二觸碰點1114為第二局部偵測區域1130的中心點，其中第一局部偵測區域1120與第二局部偵測區域1130部分地重疊。當控制電路120以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，控制電路120係以第三局部偵測區域1140為其偵測範圍，來偵測觸控面板110上的多個觸碰點。其中，第三局部偵測區域1140小於觸控面板110的全域偵測區域510，而第三局部偵測區域1140涵蓋了第一局部偵測區域1120及第二局部偵測區域1130，且第一觸碰點1112及第二觸碰點1114位於第三局部偵測區域1140內。
在本發明一實施例中，第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16在上述全域偵測區域內的被使用密度會小於第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16在上述局部偵測區域內的被使用密度。其中，上述的被使用密度係定義為第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16在單位面積內有被使用到的通道數。換言之，當控制電路120以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16被使用到的通道所對應的被使用密度較低；而當控制電路120以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16被使用到的通道所對應的被使用密度較高。以圖5來說明。在本發明一實施例中，當控制電路120以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，控制電路120係在全域偵測區域510內偵測觸碰點，而其使用的通道為第一通道X1、X3、X5、X7、X9以及第二通道Y1、Y3、Y5、Y7、Y9、Y11、Y13、Y15。當控制電路120以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，控制電路120係在第一局部偵測區域520內偵測觸碰點，而其使用的通道為第一通道X3～X7以及第二通道Y4～Y8。因此，在第一局部偵測區域520內第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16的被使用密度等於在全域偵測區域510內第一通道及第二通道的被使用密度的四倍。換言之，在本實施例中，控制電路120是以較低的被使用密度進行全域偵測，而以較高的被使用密度進行區域偵測。
值得注意地，上述通道被使用密度的情形亦可適用於多點觸控的狀況。以圖9為例，第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16在全域偵測區域510內的被使用密度會小於第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16在第一局部偵測區域920及第二局部偵測區域930內的被使用密度。詳言之，當控制電路120以全域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，控制電路120係在全域偵測區域510內偵測觸碰點，而其使用的通道為第一通道X1、X3、X5、X7、X9以及第二通道Y1、Y3、Y5、Y7、Y9、Y11、Y13、Y15。當控制電路120以區域偵測方式偵測觸控面板110上的觸碰點時，控制電路120係在第一局部偵測區域920及第二局部偵測區域930內偵測觸碰點，而其使用的通道為第一通道X3～X9以及第二通道Y4～Y8和Y10～Y14。因此，在第一局部偵測區域920及第二局部偵測區域930內第一通道X1～X10及第二通道Y1～Y16的被使用密度等於在全域偵測區域510內第一通道及第二通道的被使用密度的四倍。
綜上所述，上述實施例的控制觸控面板的方法於偵測到第一觸碰點後，會縮小在觸控面板上偵測觸碰點的範圍，以在觸控面板上的局部偵測區域內偵測觸碰點。藉此，在以區域偵測方式偵測觸控面板上的觸碰點時，可減少被使用的通道之數目，進而可提升偵測觸碰點的效率。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100．．．觸控裝置
110．．．觸控面板
120．．．控制電路
510．．．全域偵測區域
512、912、1112．．．第一觸碰點
520、920、1120．．．第一局部偵測區域
914、1114．．．第二觸碰點
930、1130．．．第二局部偵測區域
1140．．．第三局部偵測區域
X1～X10．．．第一通道
Y1～Y16．．．第二通道
S610～S650、S710～S740、S810～S860、S1010～S1080．．．流程步驟
圖1是本發明一實施例之觸控裝置的功能方塊圖。
圖2為圖1之觸控面板的示意圖。
圖3為圖2之觸控面板的第一通道之示意圖。
圖4為圖2之觸控面板的第二通道之示意圖。
圖5用以說明本發明一實施例之控制觸控面板的方法。
圖6為本發明一實施例之控制觸控面板之方法的流程圖。
圖7為本發明一實施例之控制觸控面板之方法的流程圖。
圖8為本發明一實施例之控制觸控面板之方法的流程圖。
圖9用以說明本發明一實施例之控制觸控面板的方法。
圖10為本發明一實施例之控制觸控面板之方法的流程圖。
圖11為本發明一實施例之控制觸控面板之方法的示意圖。
S610～S650．．．流程步驟

Claims (13)

  1. 一種控制觸控面板的方法，包括：偵測該觸控面板上的一全域偵測區域內的觸碰點，直到在該全域區域內偵測出一第一觸碰點；以及當偵測到該第一觸碰點後，縮小在該觸控面板上偵測觸碰點的範圍，以在該觸控面板上的一局部偵測區域內偵測觸碰點；其中該全域偵測區域包括且大於該局部偵測區域。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之控制觸控面板的方法，其中該觸控面板具有多個第一通道及多個第二通道，該些第一通道與該些第二通道相互交錯；其中當偵測該全域偵測區域內的觸碰點時，係藉由所有的該些第一通道及所有的該些第二通道，偵測該第一觸碰點；其中當偵測該局部偵測區域內的觸碰點時，係藉由鄰近該第一觸碰點的部分該些第一通道及部分該些第二通道，偵測該觸控面板上的觸碰點。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之控制觸控面板的方法，其中該觸控面板具有多個第一通道及多個第二通道，該些第一通道與該些第二通道相互交錯；其中當偵測該全域偵測區域內的觸碰點時，係先藉由所有的該些第一通道判斷該觸控面板是否有被觸碰，再藉由所有的該些第二通道判斷該觸控面板是否有被觸碰，以偵測該第一觸碰點；其中當偵測該局部偵測區域內的觸碰點時，係藉由鄰近該第一觸碰點的部分該些第一通道及部分該些第二通道，偵測該觸控面板上的觸碰點。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之控制觸控面板的方法，其中該觸控面板具有多個第一通道及多個第二通道，該些第一通道與該些第二通道相互交錯；其中當偵測該全域偵測區域內的觸碰點時，係依序地藉由該些第一通道的第一群組、該些第一通道的第二群組以及所有的該些第二通道判斷該觸控面板是否有被觸碰，以偵測該第一觸碰點，其中該第一群組中的第一通道與該第二群組中的第一通道平行且相互交錯；其中當偵測該局部偵測區域內的觸碰點時，係藉由鄰近該第一觸碰點的部分該些第一通道及部分該些第二通道，偵測該觸控面板上的觸碰點。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之控制觸控面板的方法，其中該第一群組中的第一通道為該些第一通道的偶數通道，而該第二群組中的第一通道為該些第一通道的奇數通道。
  6. 如申請專利範圍第4項所述之控制觸控面板的方法，其中該第一群組中的第一通道為該些第一通道的奇數通道，而該第二群組中的第一通道為該些第一通道的偶數通道。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之控制觸控面板的方法，其中該第一觸碰點係位於該局部偵測區域內。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之控制觸控面板的方法，其中該觸控面板具有多個第一通道及多個第二通道，該些第一通道與該些第二通道相互交錯，而該些第一通道及該些第二通道在該全域偵測區域內的被使用密度小於該些第一通道及該些第二通道在該局部偵測區域內的被使用密度。
  9. 一種控制觸控面板的方法，包括：偵測該觸控面板上的一全域偵測區域內的觸碰點，直到在該全域區域內偵測出一第一觸碰點及一第二觸碰點；以及當偵測到該第一觸碰點及該第二觸碰點後，縮小在該觸控面板上偵測觸碰點的範圍，以在該觸控面板上的一第一局部偵測區域及一第二局部偵測區域內偵測觸碰點；其中該全域偵測區域包括且大於該第一局部偵測區域及該第二局部偵測區域。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之控制觸控面板的方法，其中該第一觸碰點係位於該第一局部偵測區域內，而該第二觸碰點係位於該第二局部偵測區域內。
  11. 如申請專利範圍第9項所述之控制觸控面板的方法，其中該觸控面板具有多個第一通道及多個第二通道，該些第一通道與該些第二通道相互交錯，而該些第一通道及該些第二通道在該全域偵測區域內的被使用密度小於該些第一通道及該些第二通道在該第一局部偵測區域及該第二局部偵測區域內的被使用密度。
  12. 如申請專利範圍第9項所述之控制觸控面板的方法，其中當偵測該第一局部偵測區域及該第二局部偵測區域內的觸碰點時，係藉由鄰近該第一觸碰點及該第二觸碰點的部分該些第一通道及部分該些第二通道，偵測該觸控面板上的觸碰點。
  13. 如申請專利範圍第9項所述之控制觸控面板的方法，更包括：當偵測該第一局部偵測區域及該第二局部偵測區域內的觸碰點的累計次數等於一預設次數時，藉由偵測整個該全域區域以確認在該全域偵測區域內是否有新的觸碰點。
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